JPH0252216B2 - - Google Patents
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- JPH0252216B2 JPH0252216B2 JP55500568A JP50056880A JPH0252216B2 JP H0252216 B2 JPH0252216 B2 JP H0252216B2 JP 55500568 A JP55500568 A JP 55500568A JP 50056880 A JP50056880 A JP 50056880A JP H0252216 B2 JPH0252216 B2 JP H0252216B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
Landscapes
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Description
請求の範囲
1 パーフオレーシヨンを有する磁化できる金属
テープの一部を磁化する磁石と、 前記の金属テープの表面に近く配置され、金属
テープのパーフオレーシヨンと割れとから輻射さ
れる磁束を感知し、その感知した磁束を表す信号
を発生する第1のコイルと、 テープの表面から遠くに配置され、金属テープ
のパーフオレーシヨンから輻射される磁束だけを
感知し、その感知した磁束を表す信号を発生する
第2のコイルと、 これらのコイルの信号の一方を他方から差し引
いて各信号に共通の成分を除き、割れから輻射さ
れる磁束だけを表す差信号をつくるように逆相接
続した前記の第1と第2のコイルに入力で接続さ
れた第1の増幅器と、 この第1の増幅器の出力へ接続された整流器回
路と、 この整流器回路の出力に接続され、整流された
出力信号を平均化して直流信号を発生するフイル
タ回路と、 このフイルタ回路の出力に接続され、金属テー
プの速度変化に比例して前記の直流信号を減衰す
るスピード・バイアス制御回路と、 このスピード・バイアス制御回路の出力と前記
の整流器回路の出力とに入力で接続されている第
2の増幅器と、 この第2の増幅器の出力へ接続され、速度につ
いて調整された差信号を所定の基準信号と比較し
て、両信号の大きさが等しい時割れ信号を発生す
るコンパレータと、 このコンパレータの出力に接続され、コンパレ
ータからの割れ信号に応答して割れの存在を知ら
せる指示器と を備えることを特徴とした金属テープ検査装置。
テープの一部を磁化する磁石と、 前記の金属テープの表面に近く配置され、金属
テープのパーフオレーシヨンと割れとから輻射さ
れる磁束を感知し、その感知した磁束を表す信号
を発生する第1のコイルと、 テープの表面から遠くに配置され、金属テープ
のパーフオレーシヨンから輻射される磁束だけを
感知し、その感知した磁束を表す信号を発生する
第2のコイルと、 これらのコイルの信号の一方を他方から差し引
いて各信号に共通の成分を除き、割れから輻射さ
れる磁束だけを表す差信号をつくるように逆相接
続した前記の第1と第2のコイルに入力で接続さ
れた第1の増幅器と、 この第1の増幅器の出力へ接続された整流器回
路と、 この整流器回路の出力に接続され、整流された
出力信号を平均化して直流信号を発生するフイル
タ回路と、 このフイルタ回路の出力に接続され、金属テー
プの速度変化に比例して前記の直流信号を減衰す
るスピード・バイアス制御回路と、 このスピード・バイアス制御回路の出力と前記
の整流器回路の出力とに入力で接続されている第
2の増幅器と、 この第2の増幅器の出力へ接続され、速度につ
いて調整された差信号を所定の基準信号と比較し
て、両信号の大きさが等しい時割れ信号を発生す
るコンパレータと、 このコンパレータの出力に接続され、コンパレ
ータからの割れ信号に応答して割れの存在を知ら
せる指示器と を備えることを特徴とした金属テープ検査装置。
2 前記の第1と第2のコイルが空芯コイルであ
る請求項1に記載の金属テープ検査装置。
る請求項1に記載の金属テープ検査装置。
3 前記の磁石が、両端の脚に反対の磁極が対向
するよう永久磁石を取り付けたEの字の形の高透
磁率コアであり、前記の第1のコイルはこのコア
の中央脚の端の、前記の金属テープに面する表面
積を小さくした部分に設けられており、前記の第
2のコイルはコアの中央脚の後方の、前記の金属
テープに面する表面積を大きくした部分に設けら
れている請求項1に記載の金属テープ検査装置。
するよう永久磁石を取り付けたEの字の形の高透
磁率コアであり、前記の第1のコイルはこのコア
の中央脚の端の、前記の金属テープに面する表面
積を小さくした部分に設けられており、前記の第
2のコイルはコアの中央脚の後方の、前記の金属
テープに面する表面積を大きくした部分に設けら
れている請求項1に記載の金属テープ検査装置。
技術的分野
本発明は、鋼テープ及び、特に一般にセレク
タ・テープと呼ばれてエレベータ装置に用いられ
ているテープのような、穿孔駆動テープ内の割れ
及び破砕のような欠陥を検出し、それらの位置を
見出すための装置に係るものである。
タ・テープと呼ばれてエレベータ装置に用いられ
ているテープのような、穿孔駆動テープ内の割れ
及び破砕のような欠陥を検出し、それらの位置を
見出すための装置に係るものである。
背景技術
セレクタ・テープは多くのエレベータ設備内に
用いられている。このテープはしなやかな鋼で作
られており、連続したベルトとしてカーに接続さ
れている。即ちその一方の端はカーの頂部に取付
けられ、他方の端はカーの底に取付けられてい
る。カーが縦孔を昇降するとテープは機械的にエ
ンコーダを駆動し、エンコーダは縦孔内のカーの
位置及び運動に関する相対位置情報を発生する。
このエンコーダは一般にセレクタと呼ばれてい
る。一般にセレクタ・テープはスプロケツトとか
み合つている孔即ちパーフオレーシヨンを含んで
おり、カーが昇降するとこのスプロケツトが回転
してセレクタを駆動するようになつている。明ら
かに、これらのパーフオレーシヨンは、セレクタ
と信頼できる確実な機械的結合を行なつて正確で
再現性のよい位置情報をセレクタに与える。テー
プは、スプロケツトの周囲に滑らかにループを描
くのに必要な柔軟性を与えるためにやや薄くして
ある。
用いられている。このテープはしなやかな鋼で作
られており、連続したベルトとしてカーに接続さ
れている。即ちその一方の端はカーの頂部に取付
けられ、他方の端はカーの底に取付けられてい
る。カーが縦孔を昇降するとテープは機械的にエ
ンコーダを駆動し、エンコーダは縦孔内のカーの
位置及び運動に関する相対位置情報を発生する。
このエンコーダは一般にセレクタと呼ばれてい
る。一般にセレクタ・テープはスプロケツトとか
み合つている孔即ちパーフオレーシヨンを含んで
おり、カーが昇降するとこのスプロケツトが回転
してセレクタを駆動するようになつている。明ら
かに、これらのパーフオレーシヨンは、セレクタ
と信頼できる確実な機械的結合を行なつて正確で
再現性のよい位置情報をセレクタに与える。テー
プは、スプロケツトの周囲に滑らかにループを描
くのに必要な柔軟性を与えるためにやや薄くして
ある。
従つて、縦孔内をカーが移動すると、セレク
タ・テープは、セレクタを駆動するためにスプロ
ケツトの周囲を移動するので繰返して曲げられた
り、伸ばされたりすることになる。その結果、長
期に亘つて使用されるとテープに疲れを生じ、一
般には最初に小さい極細の割れ或は破砕となつて
現われる。これらを許しておくとテープを横切つ
て広がり、完全な破断を生ずるようになる。
タ・テープは、セレクタを駆動するためにスプロ
ケツトの周囲を移動するので繰返して曲げられた
り、伸ばされたりすることになる。その結果、長
期に亘つて使用されるとテープに疲れを生じ、一
般には最初に小さい極細の割れ或は破砕となつて
現われる。これらを許しておくとテープを横切つ
て広がり、完全な破断を生ずるようになる。
非常に高いビルデイングでは、セレクタ・テー
プの長さは数百メートルにも達するようになり、
従つて、特に振動を発生しやすくなつて縦孔内で
連続的に動揺するようになる。これはテープの疲
れを更に加速させる。更に高層ビルデイング内で
テープが動揺する傾向は、高層ビルデイングが風
によつて動揺する傾向によつて助長される。事
実、カーの運動とビルデイングの動きとが相俟つ
てこの動揺が激烈となり、テープがカーに接続さ
れているケーブルを叩くことさえもある。しかし
このようなことは稀にしか起らない。従つて高層
ビルデイングにおけるテープの疲れは、必然的に
テープが遥かに短かい低層ビルデイングにおける
よりもより急速に発展する。
プの長さは数百メートルにも達するようになり、
従つて、特に振動を発生しやすくなつて縦孔内で
連続的に動揺するようになる。これはテープの疲
れを更に加速させる。更に高層ビルデイング内で
テープが動揺する傾向は、高層ビルデイングが風
によつて動揺する傾向によつて助長される。事
実、カーの運動とビルデイングの動きとが相俟つ
てこの動揺が激烈となり、テープがカーに接続さ
れているケーブルを叩くことさえもある。しかし
このようなことは稀にしか起らない。従つて高層
ビルデイングにおけるテープの疲れは、必然的に
テープが遥かに短かい低層ビルデイングにおける
よりもより急速に発展する。
このまま放置すると、ある場合にはテープの疲
れのためにテープは完全に破断するに至り、この
ような場合には、エンコーダ即ちセレクタが駆動
されないという単純な理由から、カーの確実な位
置情報が得られないことになる。しかし典型的な
エレベータ設備には、完全に破断した場合出入口
付近を除いてそれ以上カーを移動させないように
するバツクアツプ安全装置が設けられている。し
かし、明らかに、完全な破断が発生するような点
まで気づかない中にテープの疲れが進行するのは
望ましくないことである。これを避ける唯一の方
法は、テープを修理或は交換できるようにするた
めに、疲れをその初期段階で検出或は診断するこ
とである。テープ修理は一般にテープ内に新しい
区分を継ぎ合わせることを含んでいる。最も一般
的に行なわれている検出手順は、単にエレベータ
を上下に走行させ、サービス技術者が自分の爪を
テープに当てて割れのざらざらした縁を検知する
ことである。特に、この手順が遅いこと及び不経
済的であることから、この手順は望ましいもので
はない。
れのためにテープは完全に破断するに至り、この
ような場合には、エンコーダ即ちセレクタが駆動
されないという単純な理由から、カーの確実な位
置情報が得られないことになる。しかし典型的な
エレベータ設備には、完全に破断した場合出入口
付近を除いてそれ以上カーを移動させないように
するバツクアツプ安全装置が設けられている。し
かし、明らかに、完全な破断が発生するような点
まで気づかない中にテープの疲れが進行するのは
望ましくないことである。これを避ける唯一の方
法は、テープを修理或は交換できるようにするた
めに、疲れをその初期段階で検出或は診断するこ
とである。テープ修理は一般にテープ内に新しい
区分を継ぎ合わせることを含んでいる。最も一般
的に行なわれている検出手順は、単にエレベータ
を上下に走行させ、サービス技術者が自分の爪を
テープに当てて割れのざらざらした縁を検知する
ことである。特に、この手順が遅いこと及び不経
済的であることから、この手順は望ましいもので
はない。
殆んど同じ理由のために、ワイヤ・ケーブル及
びロープも素線破断の形の疲れを呈する。素線破
断を検出するための先行技術では、ロープ内に磁
束を誘導し素線破断の結果ロープから輻射される
磁束を検知している。この方法では磁束を磁気ピ
ツクアツプ・デバイスと交叉させるようにロープ
を移動させ、両者が交叉するとピツクアツプは素
線破断の存在を指示する信号を発生する。
びロープも素線破断の形の疲れを呈する。素線破
断を検出するための先行技術では、ロープ内に磁
束を誘導し素線破断の結果ロープから輻射される
磁束を検知している。この方法では磁束を磁気ピ
ツクアツプ・デバイスと交叉させるようにロープ
を移動させ、両者が交叉するとピツクアツプは素
線破断の存在を指示する信号を発生する。
この技術は鋼ロープには受入れられるものの、
この技術はパーフオレーシヨンと割れとを区別で
きないという簡単な理由のために、セレクタ・テ
ープには適用できない。換言すれば、テープのパ
ーフオレーシヨンが割れとして現われてしまう。
従つて、この技術は、金属テープ及び間隔をおい
たパーフオレーシヨンを含む同種のものに特に適
する別の割れ検出技術の必要性を明示しているこ
とになる。
この技術はパーフオレーシヨンと割れとを区別で
きないという簡単な理由のために、セレクタ・テ
ープには適用できない。換言すれば、テープのパ
ーフオレーシヨンが割れとして現われてしまう。
従つて、この技術は、金属テープ及び間隔をおい
たパーフオレーシヨンを含む同種のものに特に適
する別の割れ検出技術の必要性を明示しているこ
とになる。
発明の説明
従つて、本発明の目的は、エレベータ設備に用
いられているセレクタ・テープの不完全部分を検
知し、位置を突止める装置を提供することであ
る。しかし、疑いなく、本発明は類似のテープ等
が使用されている、従つて同様の欠陥検出問題に
遭遇するような用途にも適用できることを理解さ
れたい。
いられているセレクタ・テープの不完全部分を検
知し、位置を突止める装置を提供することであ
る。しかし、疑いなく、本発明は類似のテープ等
が使用されている、従つて同様の欠陥検出問題に
遭遇するような用途にも適用できることを理解さ
れたい。
本発明は、もし磁束を金属セレクタ・テープ内
に生じさせれば空隙を有しているパーフオレーシ
ヨン及び割れから磁束が輻射されるが、パーフオ
レーシヨンの方が割れより大きいから、パーフオ
レーシヨンからの磁束の方がテープから遠方まで
輻射されるという事実に注目した。即ち、テープ
付近の磁束パターンと、パーフオレーシヨンから
の磁束のみが存在する距離における磁束パターン
とを比較すれば、割れを検出することができる。
割れが存在しなければ両位置におけるパターンは
同一となるが、もし割れが存在していればテープ
付近には別の磁束が現われるから両位置における
パターンが異なつて来る。
に生じさせれば空隙を有しているパーフオレーシ
ヨン及び割れから磁束が輻射されるが、パーフオ
レーシヨンの方が割れより大きいから、パーフオ
レーシヨンからの磁束の方がテープから遠方まで
輻射されるという事実に注目した。即ち、テープ
付近の磁束パターンと、パーフオレーシヨンから
の磁束のみが存在する距離における磁束パターン
とを比較すれば、割れを検出することができる。
割れが存在しなければ両位置におけるパターンは
同一となるが、もし割れが存在していればテープ
付近には別の磁束が現われるから両位置における
パターンが異なつて来る。
本発明によれば、テープの割れを検出しようと
する部分を磁化し、その結果生ずる磁束パターン
をテープから2つの距離に配置されている2つの
コイルを用いて検知する。即ち一方のコイルはパ
ーフオレーシヨン及び割れからの磁束を検知する
ようにテープの近くに配置し、第2のコイルはパ
ーフオレーシヨンからの磁束だけを検知するよう
にテープから離れた距離に配置する。テープを移
動させると各コイルと交叉する磁束がそれぞれの
位置における磁束パターンを反映する信号をコイ
ルに発生させる。即ち、第1のコイルはパーフオ
レーシヨン及び割れ(若しあれば)からの磁束と
交叉することによる信号を発生する。しかし、第
2のコイルはパーフオレーシヨンからの磁束のみ
による信号を発生する。第2のコイルからの信号
を第1のコイルからの信号から差引いた時、もし
割れが存在していなければ、両パターンは実質的
に同じであるからほぼ完全に打消されてしまう。
しかし割れが存在している場合には、割れによつ
て生じた磁束によつて発生した信号が残されるこ
とになる。この残留信号の存在を検知することに
よつて、割れの位置を検知することができ、欠陥
検出指示装置を作動させることが可能となる。
する部分を磁化し、その結果生ずる磁束パターン
をテープから2つの距離に配置されている2つの
コイルを用いて検知する。即ち一方のコイルはパ
ーフオレーシヨン及び割れからの磁束を検知する
ようにテープの近くに配置し、第2のコイルはパ
ーフオレーシヨンからの磁束だけを検知するよう
にテープから離れた距離に配置する。テープを移
動させると各コイルと交叉する磁束がそれぞれの
位置における磁束パターンを反映する信号をコイ
ルに発生させる。即ち、第1のコイルはパーフオ
レーシヨン及び割れ(若しあれば)からの磁束と
交叉することによる信号を発生する。しかし、第
2のコイルはパーフオレーシヨンからの磁束のみ
による信号を発生する。第2のコイルからの信号
を第1のコイルからの信号から差引いた時、もし
割れが存在していなければ、両パターンは実質的
に同じであるからほぼ完全に打消されてしまう。
しかし割れが存在している場合には、割れによつ
て生じた磁束によつて発生した信号が残されるこ
とになる。この残留信号の存在を検知することに
よつて、割れの位置を検知することができ、欠陥
検出指示装置を作動させることが可能となる。
本発明の延長による特色は、テープの幅方向に
間隔をおいた異なる点に複数対のこれらのコイル
を配置することである。各コイル対は独立した欠
陥センサ即ち検出器として働らくので、このよう
にすると欠陥の存在を決定できるだけでなく、割
れによつて生じた残留信号を発生するセンサによ
つて指示されるのでテープの幅方向に欠陥の位置
をも決定できるようになる。
間隔をおいた異なる点に複数対のこれらのコイル
を配置することである。各コイル対は独立した欠
陥センサ即ち検出器として働らくので、このよう
にすると欠陥の存在を決定できるだけでなく、割
れによつて生じた残留信号を発生するセンサによ
つて指示されるのでテープの幅方向に欠陥の位置
をも決定できるようになる。
本発明の他の目的、利益、応用及び特色は以下
の詳細を説明及び特許請求の範囲から明白となる
であろう。
の詳細を説明及び特許請求の範囲から明白となる
であろう。
第1図は典型的なセレクタ・テープの斜視図で
あり、 第2図は本発明によつて欠陥検査を受けている
セレクタ・テープを示す図であり、 第3図も検査中のセレクタ・テープを示す図で
あるが、テープが第2の位置から移動しており、 第4図はテープから2つの距離における磁束密
度及び検知コイルからの出力信号を含む波形を共
通時間軸上に示すものであり、 第5図は本発明による検出装置のブロツクダイ
アグラムであり、 第6図は第5図に示す検出装置によつて作動さ
れる警報装置のブロツクダイアグラムであり、 第7図は第5図の検出回路と共に使用すること
が可能なプローブの断面(第8図の7−7矢視)
図であつて、検査のためにセレクタ・テープがプ
ローブに対して位置ぎめされている様子を示すも
のであり、 第8図は第7図のプローブ及びテープの一部を
切欠いて示す側面図であり、 第9図はテープ内の割れを検出する時のプロー
ブに含まれているコイル対の動作を示す図であ
り、そして 第10図は第7図乃至第9図のプローブを使用
した本発明による欠陥検出装置の全体を示す図で
ある。
あり、 第2図は本発明によつて欠陥検査を受けている
セレクタ・テープを示す図であり、 第3図も検査中のセレクタ・テープを示す図で
あるが、テープが第2の位置から移動しており、 第4図はテープから2つの距離における磁束密
度及び検知コイルからの出力信号を含む波形を共
通時間軸上に示すものであり、 第5図は本発明による検出装置のブロツクダイ
アグラムであり、 第6図は第5図に示す検出装置によつて作動さ
れる警報装置のブロツクダイアグラムであり、 第7図は第5図の検出回路と共に使用すること
が可能なプローブの断面(第8図の7−7矢視)
図であつて、検査のためにセレクタ・テープがプ
ローブに対して位置ぎめされている様子を示すも
のであり、 第8図は第7図のプローブ及びテープの一部を
切欠いて示す側面図であり、 第9図はテープ内の割れを検出する時のプロー
ブに含まれているコイル対の動作を示す図であ
り、そして 第10図は第7図乃至第9図のプローブを使用
した本発明による欠陥検出装置の全体を示す図で
ある。
本発明を遂行するための最良モード
第1図に示す典型的なエレベータ・セレクタ・
テープ10は等間隔にあけられた複数のパーフオ
レーシヨン12を含んでおり、これらのパーフオ
レーシヨンはスプロケツトの歯と係合してカーが
移動するとセレクタを駆動するようになつてい
る。しかし、セレクタもスプロケツトも本発明を
理解するのには無関係であるので図示してない。
1つのパーフオレーシヨン13の側壁に割れ即ち
破れ14を示してあるが、これは本発明によつて
検出できるテープ内に生じ得る不完全なものを表
わしている。明らかに、割れはテープの別の位置
にも現われ得るが、この位置が本発明を説明する
のには有利である。
テープ10は等間隔にあけられた複数のパーフオ
レーシヨン12を含んでおり、これらのパーフオ
レーシヨンはスプロケツトの歯と係合してカーが
移動するとセレクタを駆動するようになつてい
る。しかし、セレクタもスプロケツトも本発明を
理解するのには無関係であるので図示してない。
1つのパーフオレーシヨン13の側壁に割れ即ち
破れ14を示してあるが、これは本発明によつて
検出できるテープ内に生じ得る不完全なものを表
わしている。明らかに、割れはテープの別の位置
にも現われ得るが、この位置が本発明を説明する
のには有利である。
第2図を参照されたい。本発明によれば、テー
プ表面に密着させた永久磁石16によつてテープ
10に磁場を印加する。テープ10は鋼製である
から、磁石からの磁場がテープ内に磁束を誘起さ
せる。磁束は磁石のN極20から発してテープ内
に入り、そこに集中させられる。しかし、パーフ
オレーシヨン13及び割れ14においては磁束の
一部15はパーフオレーシヨン及び割れによつて
生じた空隙を跳び越える。次いでこの部分は再び
テープに入つて磁石のS極22に戻る。従つて、
テープは連続した閉ループ磁束回路の一部であ
り、磁石がテープに磁場を印加する際の作用は電
気回路における電圧源に似ていないこともない。
テープは鋼製であつて極めて透磁率が高いから、
磁極間の低インピーダンス磁気接続路として働ら
く。実際テープは磁場を短絡し、その結果生ずる
磁束は電流の流れに類似している。一方、空隙の
透磁率は極めて低いから「短絡回路」としてでは
なく「準高抵抗」として働らいて磁束漏洩を生
じ、これが空隙を横切る磁束分散として現われ
る。従つて、磁束18がパーフオレーシヨンの縁
24及び割れの縁26に近づくと、第1図及び第
2図に示すようにその一部はあるパターンをなし
て外側に輻射され、一部は直接空隙を横切つて伸
びるようになる。磁束密度は空隙の寸法に反比例
するから、パーフオレーシヨンによる磁束密度は
割れによる磁束密度よりも小さいことに注目され
たい。しかし、テープに近い特定の距離、即ち点
30においては割れ及びパーフオレーシヨンから
の磁力線が重なり合う。従つてこの位置における
磁束密度は、割れからの磁力線が存在していない
テープから遠い位置、即ち点32における磁束密
度よりも大きい。
プ表面に密着させた永久磁石16によつてテープ
10に磁場を印加する。テープ10は鋼製である
から、磁石からの磁場がテープ内に磁束を誘起さ
せる。磁束は磁石のN極20から発してテープ内
に入り、そこに集中させられる。しかし、パーフ
オレーシヨン13及び割れ14においては磁束の
一部15はパーフオレーシヨン及び割れによつて
生じた空隙を跳び越える。次いでこの部分は再び
テープに入つて磁石のS極22に戻る。従つて、
テープは連続した閉ループ磁束回路の一部であ
り、磁石がテープに磁場を印加する際の作用は電
気回路における電圧源に似ていないこともない。
テープは鋼製であつて極めて透磁率が高いから、
磁極間の低インピーダンス磁気接続路として働ら
く。実際テープは磁場を短絡し、その結果生ずる
磁束は電流の流れに類似している。一方、空隙の
透磁率は極めて低いから「短絡回路」としてでは
なく「準高抵抗」として働らいて磁束漏洩を生
じ、これが空隙を横切る磁束分散として現われ
る。従つて、磁束18がパーフオレーシヨンの縁
24及び割れの縁26に近づくと、第1図及び第
2図に示すようにその一部はあるパターンをなし
て外側に輻射され、一部は直接空隙を横切つて伸
びるようになる。磁束密度は空隙の寸法に反比例
するから、パーフオレーシヨンによる磁束密度は
割れによる磁束密度よりも小さいことに注目され
たい。しかし、テープに近い特定の距離、即ち点
30においては割れ及びパーフオレーシヨンから
の磁力線が重なり合う。従つてこの位置における
磁束密度は、割れからの磁力線が存在していない
テープから遠い位置、即ち点32における磁束密
度よりも大きい。
前述のように、テープは連続ループとしてエレ
ベータ・カーに接続されており、本発明によれ
ば、テープに割れが存在するか否かを検査するた
めにカーを移動させる。このカーの移動のために
テープは例えば矢印34の方向に移動するように
なる。同時に、もし磁石を静止させたままとすれ
ば、外側に輻射される磁束部分15もテープの動
きに伴なつて同じ方向に移動することが想像でき
よう。このようにすると、パーフオレーシヨン1
3の後に続いているパーフオレーシヨン12(例
えばパーフオレーシヨン35)が磁極間に位置す
るようになり、繰返し磁束パターンが発生しこの
パターンがテープの動きの方向にN極からS極ま
で移動する。
ベータ・カーに接続されており、本発明によれ
ば、テープに割れが存在するか否かを検査するた
めにカーを移動させる。このカーの移動のために
テープは例えば矢印34の方向に移動するように
なる。同時に、もし磁石を静止させたままとすれ
ば、外側に輻射される磁束部分15もテープの動
きに伴なつて同じ方向に移動することが想像でき
よう。このようにすると、パーフオレーシヨン1
3の後に続いているパーフオレーシヨン12(例
えばパーフオレーシヨン35)が磁極間に位置す
るようになり、繰返し磁束パターンが発生しこの
パターンがテープの動きの方向にN極からS極ま
で移動する。
2つの磁束ピツクアツプ即ちセンサであるコイ
ル36及び38がテープ附近に配置されており、
第3図に示すようにテープが移動すると輻射は磁
束部分15がこれらのコイルと交叉する。テープ
表面に近い方のコイル、即ちコイル36はパーフ
オレーシヨン及び割れから輻射される磁束と交叉
するが、表面から遠い方のコイル、即ちコイル3
8はパーフオレーシヨンから輻射される磁束だけ
と交叉するように位置ぎめされている。この交叉
によつて各コイルから出力電圧が発生するが、こ
の電圧はコイルの実効表面積に垂直な方向37に
コイルを通過する磁束密度の変化速度によつて決
定される。
ル36及び38がテープ附近に配置されており、
第3図に示すようにテープが移動すると輻射は磁
束部分15がこれらのコイルと交叉する。テープ
表面に近い方のコイル、即ちコイル36はパーフ
オレーシヨン及び割れから輻射される磁束と交叉
するが、表面から遠い方のコイル、即ちコイル3
8はパーフオレーシヨンから輻射される磁束だけ
と交叉するように位置ぎめされている。この交叉
によつて各コイルから出力電圧が発生するが、こ
の電圧はコイルの実効表面積に垂直な方向37に
コイルを通過する磁束密度の変化速度によつて決
定される。
コイル電圧は
V=N dφ/dt
によつて決定される。ここに
N=コイルの巻数
φ=実効磁束密度(コイル表面に垂直)・コイル
面積/巻数 である。
面積/巻数 である。
第4図は、テープが移動する時にパーフオレー
シヨン及び割れによつて生ずる実効磁束及びその
結果得られるコイル出力電圧を示す波形を含んで
いる。例えば、出力電圧40(第4図の波形D)
はコイル38の端子にまたがつて発生したもので
あり、これはテープが移動した時に矢印37の方
向にコイルと交叉する磁束密度42の勾配の関数
である。磁束密度が周期的な形状であるのは、コ
イル38の位置においてはパーフオレーシヨン1
2から誘導される磁束のみに遭遇し、割れによつ
て生ずる附加的磁束が存在しないことに直接関連
している。一方、コイル36と交叉する磁束密度
44(波形B)には割れ14によつて生じた附加
的な重畳磁束密度成分46が含まれている。勿
論、この成分の大きさ(巾)は割れの巾によつて
決定される。その結果、コイル36からの出力電
圧48(波形C)もコイル38の出力同様に周期
的であるが、重畳された磁束成分46によつて生
じた附加パルスが存在していることが異なつてい
る。この附加パルスの振巾も前述の式に従つて、
本質的には割れによつて生じた重畳磁束密度の勾
配から決定される。従つて、コイル36,38か
らの2つの出力信号の主な相違点は、附加パルス
50であつて、この点を除けば両コイルからの出
力信号は同一であり、同相である。後述するよう
に、附加信号50を除く全ての信号成分を除去す
るために、コイル38からの出力信号40はコイ
ル36からの出力信号48から差引かれる。従つ
て、出力信号を差引いた時に共通波形成分が実質
的に完全に相殺し合うように、これらの共通波形
成分、即ちパルス52の信号レベルを等しくする
ようなコイル巻線比とすることが有利である。同
じ理由から、波形に示すような同相信号が得られ
るようにこれらのコイルを互に他に対して位置ぎ
めする。
シヨン及び割れによつて生ずる実効磁束及びその
結果得られるコイル出力電圧を示す波形を含んで
いる。例えば、出力電圧40(第4図の波形D)
はコイル38の端子にまたがつて発生したもので
あり、これはテープが移動した時に矢印37の方
向にコイルと交叉する磁束密度42の勾配の関数
である。磁束密度が周期的な形状であるのは、コ
イル38の位置においてはパーフオレーシヨン1
2から誘導される磁束のみに遭遇し、割れによつ
て生ずる附加的磁束が存在しないことに直接関連
している。一方、コイル36と交叉する磁束密度
44(波形B)には割れ14によつて生じた附加
的な重畳磁束密度成分46が含まれている。勿
論、この成分の大きさ(巾)は割れの巾によつて
決定される。その結果、コイル36からの出力電
圧48(波形C)もコイル38の出力同様に周期
的であるが、重畳された磁束成分46によつて生
じた附加パルスが存在していることが異なつてい
る。この附加パルスの振巾も前述の式に従つて、
本質的には割れによつて生じた重畳磁束密度の勾
配から決定される。従つて、コイル36,38か
らの2つの出力信号の主な相違点は、附加パルス
50であつて、この点を除けば両コイルからの出
力信号は同一であり、同相である。後述するよう
に、附加信号50を除く全ての信号成分を除去す
るために、コイル38からの出力信号40はコイ
ル36からの出力信号48から差引かれる。従つ
て、出力信号を差引いた時に共通波形成分が実質
的に完全に相殺し合うように、これらの共通波形
成分、即ちパルス52の信号レベルを等しくする
ようなコイル巻線比とすることが有利である。同
じ理由から、波形に示すような同相信号が得られ
るようにこれらのコイルを互に他に対して位置ぎ
めする。
第5図を参照されたい。2つのコイル36,3
8を高利得フイードバツク増巾器54に逆相関係
に接続することによつてコイル38からの出力信
号をコイル36からの出力信号から差引く。コイ
ルはコイル分離兼限流抵抗56を通して高利得フ
イードバツク増巾器54の入力に結合されてい
る。増巾器の入力は実質的な接地であり、各コイ
ルからの電流はフイーバツク抵抗57を通つて流
れる。従つて、増巾器54の出力には信号48と
信号40との間の差である出力信号58(波形
E)が現われる。しかし、コイル出力の変動が不
可避であるため、各信号の共通成分(即ち部分5
2)の完全な相殺は得られない。即ち、割れを含
んでいない他のパーフオレーシヨンからの信号を
表わす残留背景雑音信号59が存在する。
8を高利得フイードバツク増巾器54に逆相関係
に接続することによつてコイル38からの出力信
号をコイル36からの出力信号から差引く。コイ
ルはコイル分離兼限流抵抗56を通して高利得フ
イードバツク増巾器54の入力に結合されてい
る。増巾器の入力は実質的な接地であり、各コイ
ルからの電流はフイーバツク抵抗57を通つて流
れる。従つて、増巾器54の出力には信号48と
信号40との間の差である出力信号58(波形
E)が現われる。しかし、コイル出力の変動が不
可避であるため、各信号の共通成分(即ち部分5
2)の完全な相殺は得られない。即ち、割れを含
んでいない他のパーフオレーシヨンからの信号を
表わす残留背景雑音信号59が存在する。
増巾器54からの出力信号は整流器回路60に
供給されて負成分が除去され、整流された出力信
号63(波形F)は受動的な低域通過フイルタ6
6及び直流増巾器68を含むフイルタ回路64に
供給される。低域通過フイルタ66は整流された
出力を平均化して出力70に直流信号を発生す
る。割れによつて生ずるパルス50は雑音59に
比して極めて短かい持続時間であるから、フイル
タ66からの直流出力を変えることはない。従つ
て、低域通過フイルタ66から得られる直流出力
はパーフオレーシヨン12による磁束状態を表わ
すことになる。換言すれば、低域通過フイルタか
らの直流出力はテープに破断乃至は割れが存在し
ていない場合のコイル36,38からの複合出力
の関数であり、従つて割れ乃至破断が存在してい
ない場合の磁束状態を表わしていることになる。
低域通過フイルタからの直流信号は増巾器68に
供給され、増巾され反転されて増巾器出力72に
現われる。反転された直流信号は調整可能なスピ
ード・バイアス制御回路74(減衰器)を通して
第2の増巾器76に印加され、整流器回路60か
らの出力と加え合わされる。この結果生ずる増巾
器出力信号78(波形F)は負の領域にずらされ
た整流器回路の出力63であり、この出力は割れ
によつて生じた信号部分50がオフセツト電圧7
9(波形F)を超えた時だけ正に移行している。
このオフセツト電圧はスピード・バイアス回路7
4からの出力と調整可能なしきい値回路80から
供給される別の直流信号との和である。しきい値
回路の目的は信号50が正に突入できるようにオ
フセツト電圧を調整することである。しかし、こ
のしきい値回路は電子部品の製造公差にバラツキ
がなかつたり、コイルが完全に巻かれ、配置され
ているのであれば不要となる。同様に、スピー
ド・バイアス回路は、テープが異なる速さで移動
した時にフイルタ66が発生する直流のレベルの
変化を反映するようにオフセツト電圧を調整す
る。これは、テープの速さが変れば各コイル内の
磁束の変化速度も変るという簡単な理由のためで
ある。即ち前述の式から整流された割れパルス5
1及び雑音52(「無破断」状態を表わす)の振
巾も変化する。従つてスピード・バイアス回路
は、しきい値レベルよりも大きい振巾のパルス5
0だけが正となるように、これらの変化を補償す
る手段なのである。
供給されて負成分が除去され、整流された出力信
号63(波形F)は受動的な低域通過フイルタ6
6及び直流増巾器68を含むフイルタ回路64に
供給される。低域通過フイルタ66は整流された
出力を平均化して出力70に直流信号を発生す
る。割れによつて生ずるパルス50は雑音59に
比して極めて短かい持続時間であるから、フイル
タ66からの直流出力を変えることはない。従つ
て、低域通過フイルタ66から得られる直流出力
はパーフオレーシヨン12による磁束状態を表わ
すことになる。換言すれば、低域通過フイルタか
らの直流出力はテープに破断乃至は割れが存在し
ていない場合のコイル36,38からの複合出力
の関数であり、従つて割れ乃至破断が存在してい
ない場合の磁束状態を表わしていることになる。
低域通過フイルタからの直流信号は増巾器68に
供給され、増巾され反転されて増巾器出力72に
現われる。反転された直流信号は調整可能なスピ
ード・バイアス制御回路74(減衰器)を通して
第2の増巾器76に印加され、整流器回路60か
らの出力と加え合わされる。この結果生ずる増巾
器出力信号78(波形F)は負の領域にずらされ
た整流器回路の出力63であり、この出力は割れ
によつて生じた信号部分50がオフセツト電圧7
9(波形F)を超えた時だけ正に移行している。
このオフセツト電圧はスピード・バイアス回路7
4からの出力と調整可能なしきい値回路80から
供給される別の直流信号との和である。しきい値
回路の目的は信号50が正に突入できるようにオ
フセツト電圧を調整することである。しかし、こ
のしきい値回路は電子部品の製造公差にバラツキ
がなかつたり、コイルが完全に巻かれ、配置され
ているのであれば不要となる。同様に、スピー
ド・バイアス回路は、テープが異なる速さで移動
した時にフイルタ66が発生する直流のレベルの
変化を反映するようにオフセツト電圧を調整す
る。これは、テープの速さが変れば各コイル内の
磁束の変化速度も変るという簡単な理由のためで
ある。即ち前述の式から整流された割れパルス5
1及び雑音52(「無破断」状態を表わす)の振
巾も変化する。従つてスピード・バイアス回路
は、しきい値レベルよりも大きい振巾のパルス5
0だけが正となるように、これらの変化を補償す
る手段なのである。
増巾器76からの出力はコンパレータ82に印
加される。コンパレータ82は割れによつて生じ
た信号50が基準電圧を超えると出力を発生す
る。コンパレータからのこの出力はラツチ86を
作動し、指示器88を駆動して使用者に割れが検
出されたことを通知させる。
加される。コンパレータ82は割れによつて生じ
た信号50が基準電圧を超えると出力を発生す
る。コンパレータからのこの出力はラツチ86を
作動し、指示器88を駆動して使用者に割れが検
出されたことを通知させる。
第6図に示す本発明の延長では3つの独立した
検出器ユニツト或はチヤンネル90を用いてい
る。各チヤンネルは98で示す1対のコイル3
6,38を用いて上述のようにして割れを検出す
る。各チヤンネルに組込まれているコイル36,
38は、第7図に示すようにテープの巾方向に異
なる点に位置ぎめされている。従つて各対はテー
プの異なる部分を検査する。各ユニツト内のラツ
チ86からの出力はゲート92に供給される。割
れが検出されてラツチが作動するとゲート92は
ホーン或はベルのような警報器94を作動する。
同時に各チヤンネルに組込まれている指示器88
が点灯して割れの位置(中央或はどちらかの側)
を指示する。
検出器ユニツト或はチヤンネル90を用いてい
る。各チヤンネルは98で示す1対のコイル3
6,38を用いて上述のようにして割れを検出す
る。各チヤンネルに組込まれているコイル36,
38は、第7図に示すようにテープの巾方向に異
なる点に位置ぎめされている。従つて各対はテー
プの異なる部分を検査する。各ユニツト内のラツ
チ86からの出力はゲート92に供給される。割
れが検出されてラツチが作動するとゲート92は
ホーン或はベルのような警報器94を作動する。
同時に各チヤンネルに組込まれている指示器88
が点灯して割れの位置(中央或はどちらかの側)
を指示する。
第7図及び第8図に上述の3チヤンネル検出を
行なうためにそれぞれがコイル36,38を含ん
でいる3対のコイル98を用いた便利なプローブ
組立体96を示す。各コイル対98は、大きい磁
気枠102の一部をなしている共通の高透磁率コ
ア110上に取付けられている。磁気枠の両端に
は反対極がテープに対面するように配置されてい
る2つの永久磁石104が存在している。この結
果事実上枠全体が磁化されて永久磁石となり、図
示のように脚106は互に逆極性を呈するように
なる。非金属の低摩擦材料(例えばポリエチレ
ン)製のセパレータ兼案内板108が枠上に固定
されている。検査に際してテープ上で磁石が引張
られると、テープは板のテーパーの付いたスロツ
ト即ちみぞ(壁109によつて限定されている)
の中の平らな位置に保持されるようになる。第1
0図に示すように、枠はシエル103内に保護さ
れており、テープはテープを移動させながらプロ
ーブを手に持つ(シエルを握る)だけで簡単に検
査できる。コイルからの出力信号は多芯ケーブル
112によつて筐体113内のそれぞれの検出器
111(第5図)に伝えられる。筐体113には
警報器94、指示灯88及びラツチ・リセツト制
御器114が前面に適宜配置されている。装置全
体は電池によつて給電され、従つて現場における
サービスに好都合なように可搬型である。
行なうためにそれぞれがコイル36,38を含ん
でいる3対のコイル98を用いた便利なプローブ
組立体96を示す。各コイル対98は、大きい磁
気枠102の一部をなしている共通の高透磁率コ
ア110上に取付けられている。磁気枠の両端に
は反対極がテープに対面するように配置されてい
る2つの永久磁石104が存在している。この結
果事実上枠全体が磁化されて永久磁石となり、図
示のように脚106は互に逆極性を呈するように
なる。非金属の低摩擦材料(例えばポリエチレ
ン)製のセパレータ兼案内板108が枠上に固定
されている。検査に際してテープ上で磁石が引張
られると、テープは板のテーパーの付いたスロツ
ト即ちみぞ(壁109によつて限定されている)
の中の平らな位置に保持されるようになる。第1
0図に示すように、枠はシエル103内に保護さ
れており、テープはテープを移動させながらプロ
ーブを手に持つ(シエルを握る)だけで簡単に検
査できる。コイルからの出力信号は多芯ケーブル
112によつて筐体113内のそれぞれの検出器
111(第5図)に伝えられる。筐体113には
警報器94、指示灯88及びラツチ・リセツト制
御器114が前面に適宜配置されている。装置全
体は電池によつて給電され、従つて現場における
サービスに好都合なように可搬型である。
コイル36,38は高透磁率コア110に巻か
れている。内側コイル36はコアのフランジ部分
115によつて外側コイル38から分離されてい
る。第9図を参照されたい。パーフオレーシヨン
或は割れがコア附近を通過すると磁束はコアの中
に引寄せられる。磁束はコアに入つてから残余の
枠を通つて枠脚の磁極に戻つて磁束回路が完成す
る。しかしフランジ部分の表面積は狭い部分11
7の表面積より大きいから、より大くの磁束が外
側コイル内に集められる。これは、割れ磁束が存
在していない距離に配置されている他方のコイル
の位置と相俣つてパーフオレーシヨン磁束だけを
検知するという限定された検知機能を強めること
になる。反対に、コアが小さいために「視面積」
が小さく且つテープに近く位置している内側コア
は、パーフオレーシヨン及び割れの両者から磁束
を検知することができる。更に、両コイルが同じ
コア上に巻かれているためにコイル出力信号は同
相となるが、これは前述のように適切な動作を行
なわせるのに好ましいことである。
れている。内側コイル36はコアのフランジ部分
115によつて外側コイル38から分離されてい
る。第9図を参照されたい。パーフオレーシヨン
或は割れがコア附近を通過すると磁束はコアの中
に引寄せられる。磁束はコアに入つてから残余の
枠を通つて枠脚の磁極に戻つて磁束回路が完成す
る。しかしフランジ部分の表面積は狭い部分11
7の表面積より大きいから、より大くの磁束が外
側コイル内に集められる。これは、割れ磁束が存
在していない距離に配置されている他方のコイル
の位置と相俣つてパーフオレーシヨン磁束だけを
検知するという限定された検知機能を強めること
になる。反対に、コアが小さいために「視面積」
が小さく且つテープに近く位置している内側コア
は、パーフオレーシヨン及び割れの両者から磁束
を検知することができる。更に、両コイルが同じ
コア上に巻かれているためにコイル出力信号は同
相となるが、これは前述のように適切な動作を行
なわせるのに好ましいことである。
しかし、プローブの動作は、空芯コイルを用い
ている前述の第1図乃至第6図のモデル装置の動
作と大差はない。最も明白な相違点は、テープの
小さい面積を検査するために3つのコイル対を用
いていることであつて、各内側コイルの視角が限
定されていることによつて明らかに高められた特
色は、独特なコア構造に由来するのである。別の
相違点は、第2図では「空芯」コイル36,38
が単に割れ及びパーフオレーシヨンからの磁力線
と自由時間において交叉するだけであるのに対し
て、プローブ組立体を用いる場合にはコアが磁束
を引寄せて磁気枠内に転じさせ、第8図に示すよ
うに適切な磁極に戻す。換言すれば、コイルが巻
かれているコアは2つの閉ループ並列磁束回路1
16,118(それぞれが磁束源として枠に取付
けられている1つの磁石を含んでいる)の共通枝
路なのである。
ている前述の第1図乃至第6図のモデル装置の動
作と大差はない。最も明白な相違点は、テープの
小さい面積を検査するために3つのコイル対を用
いていることであつて、各内側コイルの視角が限
定されていることによつて明らかに高められた特
色は、独特なコア構造に由来するのである。別の
相違点は、第2図では「空芯」コイル36,38
が単に割れ及びパーフオレーシヨンからの磁力線
と自由時間において交叉するだけであるのに対し
て、プローブ組立体を用いる場合にはコアが磁束
を引寄せて磁気枠内に転じさせ、第8図に示すよ
うに適切な磁極に戻す。換言すれば、コイルが巻
かれているコアは2つの閉ループ並列磁束回路1
16,118(それぞれが磁束源として枠に取付
けられている1つの磁石を含んでいる)の共通枝
路なのである。
3つの各チヤンネル90に組込まれているコイ
ル・ピツクアツプ対98は、チヤンネルの検出領
域が若干重なり合つてはいるものの、テープの巾
方向にテープの一部を検査する。テープを移動さ
せた時にもし割れがピツクアツプを通過すると、
これらのチヤンネルの少なくとも1つによつて検
出され、警報が鳴り、そのチヤンネルに組込まれ
ている指示器が点灯する。従つてサービス技術者
は割れが通過したことを知り、また点灯した指示
器によつてそれがテープの巾に沿つて何処である
のかを知ることになる。例えば、もしテープの右
側に小さい割れが存在していれば、それはコイル
対120によつて検出される。この割れがテープ
の中央まで伸びていれば中央チヤンネル122も
それを検出するから2つの指示器88(右及び中
央)が点灯する。割れに目星をつけると、サービ
ス技術者はエレベータ・カーを停止させ、必要な
らばラツチをリセツトしてカーを戻すか、或は好
ましくは割れに「ホーム・イン」させるためにプ
ローブの方を移動させる。カー速度、従つてテー
プ速度は変化する可能性がある。磁束の変化速度
(dφ/dt)はテープ速度に正比例するからピツク
アツプ・コイルからの出力信号も変化する可能性
がある。出力はテープ構造が異なつても(例え
ば、設備によつてはパーフオレーシヨンの数が少
なかつたり、パーフオレーシヨンの形状が異なつ
たりする)変化する。スピード・バイアス制御器
はこれらの変化に応じてシステム調整ができるよ
うになつている。本装置を使用する場合、サービ
ス技術者は、可聴及び視覚指示が割れのみによつ
て生ずるようにオフセツト電圧レベル(このレベ
ルはパーフオレーシヨンからの信号だけで表わし
ている)を調整するために、スピード・バイアス
調整器を調整する。
ル・ピツクアツプ対98は、チヤンネルの検出領
域が若干重なり合つてはいるものの、テープの巾
方向にテープの一部を検査する。テープを移動さ
せた時にもし割れがピツクアツプを通過すると、
これらのチヤンネルの少なくとも1つによつて検
出され、警報が鳴り、そのチヤンネルに組込まれ
ている指示器が点灯する。従つてサービス技術者
は割れが通過したことを知り、また点灯した指示
器によつてそれがテープの巾に沿つて何処である
のかを知ることになる。例えば、もしテープの右
側に小さい割れが存在していれば、それはコイル
対120によつて検出される。この割れがテープ
の中央まで伸びていれば中央チヤンネル122も
それを検出するから2つの指示器88(右及び中
央)が点灯する。割れに目星をつけると、サービ
ス技術者はエレベータ・カーを停止させ、必要な
らばラツチをリセツトしてカーを戻すか、或は好
ましくは割れに「ホーム・イン」させるためにプ
ローブの方を移動させる。カー速度、従つてテー
プ速度は変化する可能性がある。磁束の変化速度
(dφ/dt)はテープ速度に正比例するからピツク
アツプ・コイルからの出力信号も変化する可能性
がある。出力はテープ構造が異なつても(例え
ば、設備によつてはパーフオレーシヨンの数が少
なかつたり、パーフオレーシヨンの形状が異なつ
たりする)変化する。スピード・バイアス制御器
はこれらの変化に応じてシステム調整ができるよ
うになつている。本装置を使用する場合、サービ
ス技術者は、可聴及び視覚指示が割れのみによつ
て生ずるようにオフセツト電圧レベル(このレベ
ルはパーフオレーシヨンからの信号だけで表わし
ている)を調整するために、スピード・バイアス
調整器を調整する。
以上の説明から明白なように、本発明による装
置及び方法は、類似の検出問題をかかえている他
の金属テープ状デバイスの欠陥を検出するのに使
用可能である。更に以上の説明は明らかに、当業
者に対して、本発明の範囲及び精神から逸脱する
ことなく多くの変更及び変化が考えられることを
示唆し、教示している。従つて以下の請求の範囲
がこれらの変更及び変化を全て含むものであるこ
とを理解されたい。
置及び方法は、類似の検出問題をかかえている他
の金属テープ状デバイスの欠陥を検出するのに使
用可能である。更に以上の説明は明らかに、当業
者に対して、本発明の範囲及び精神から逸脱する
ことなく多くの変更及び変化が考えられることを
示唆し、教示している。従つて以下の請求の範囲
がこれらの変更及び変化を全て含むものであるこ
とを理解されたい。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56500192A JPS56500192A (ja) | 1981-02-19 |
JPH0252216B2 true JPH0252216B2 (ja) | 1990-11-09 |
Family
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---|---|---|---|
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---|---|
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JP (1) | JPH0252216B2 (ja) |
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AU (1) | AU525464B2 (ja) |
CA (1) | CA1149461A (ja) |
DE (1) | DE3067910D1 (ja) |
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1980
- 1980-02-11 AT AT80900454T patent/ATE7631T1/de not_active IP Right Cessation
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- 1980-02-20 IN IN125/DEL/80A patent/IN153755B/en unknown
- 1980-09-10 EP EP80900454A patent/EP0024083B1/en not_active Expired
Also Published As
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