JPH0251537A - 電気活性超薄層 - Google Patents
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- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はテトラチオテトラセン誘導体(TTT誘導体)
又はテトラセレノテトラセン誘導体(TSeT誘導体)
の単層又は多層、それらを製造するための選択されたプ
ロセス、及び又は電極として又はセンナとして電子部品
を製造するための上記層系の使用に関する。
又はテトラセレノテトラセン誘導体(TSeT誘導体)
の単層又は多層、それらを製造するための選択されたプ
ロセス、及び又は電極として又はセンナとして電子部品
を製造するための上記層系の使用に関する。
〔従来の技術・発明が解決しようとする課題〕2−7に
;ItローTSeTはEP−A−109,360及び−
154905から知られている。この化合物は、低温で
金属様の導電率を示す臭素又は塩素錯体を製造するのに
使用できる。
;ItローTSeTはEP−A−109,360及び−
154905から知られている。この化合物は、低温で
金属様の導電率を示す臭素又は塩素錯体を製造するのに
使用できる。
TTTの又tiTseTの2−カルボン酸エステル又は
2.3−ジカルボン酸エステルはDE−A−3,51Q
、092から知られている。該化合物は官能基によって
ポリマー中に混入できる。更にこれら誘導体から又はこ
れら誘導体を含むポリマーから、電子受容体でドーピン
グすることにより導電性の電荷転移錯体(charge
−transfer com−plexes )を製造
できる。これら錯体を含むポリマーは良好な光導電性に
ついて注目されている。
2.3−ジカルボン酸エステルはDE−A−3,51Q
、092から知られている。該化合物は官能基によって
ポリマー中に混入できる。更にこれら誘導体から又はこ
れら誘導体を含むポリマーから、電子受容体でドーピン
グすることにより導電性の電荷転移錯体(charge
−transfer com−plexes )を製造
できる。これら錯体を含むポリマーは良好な光導電性に
ついて注目されている。
電気活性単層又は多層系はラングミュアプロジェット法
(Langmuir−Blodgett proces
s:LBプロセス)によりある種のフタロシアニン誘導
体から製造できることはAngew、 chem、第9
8巻、第1114頁(1986年)から知られている。
(Langmuir−Blodgett proces
s:LBプロセス)によりある種のフタロシアニン誘導
体から製造できることはAngew、 chem、第9
8巻、第1114頁(1986年)から知られている。
ステアリン酸カドミウムと混合されたヨウ素ドープ化α
−キンケチオフエン(1odine−dopedα−q
uinquethiophene )で組成された導電
性LB多層は5ynth−Met、第16巻第17頁(
1986年)に記載されている。
−キンケチオフエン(1odine−dopedα−q
uinquethiophene )で組成された導電
性LB多層は5ynth−Met、第16巻第17頁(
1986年)に記載されている。
テトラキス(クミルフェノキシ)フタロシアニンで組成
されたヨー素ドープ化LB多層は導電性であることがL
angmuir第2巻第513頁(1986年)から知
られている。
されたヨー素ドープ化LB多層は導電性であることがL
angmuir第2巻第513頁(1986年)から知
られている。
今になって、TTT又はTSeT誘導体が単分子層を形
成すること、これらの層をLBプロセスによって固体支
持材に移転できること及びこれらの層系はドープ化され
た状態で導電性であることが見い出された。
成すること、これらの層をLBプロセスによって固体支
持材に移転できること及びこれらの層系はドープ化され
た状態で導電性であることが見い出された。
更にドープ化LB系についての製造方法が見い出され、
その方法ではドーピングが単分子膜中で行なわれまたそ
の後でのみLB系が作られるか、或はその方法では単層
又は多層のドーピングが水溶性ドーピング剤(dopa
nt )と接触させることによシ行なわれる。
その方法ではドーピングが単分子膜中で行なわれまたそ
の後でのみLB系が作られるか、或はその方法では単層
又は多層のドーピングが水溶性ドーピング剤(dopa
nt )と接触させることによシ行なわれる。
本発明は次式I
’x−x
〔式中、
XはS又はSeを表わし、
R1は炭素原子数1ないし50のアルキル基、−CF、
、−0−R3、−5−R3又は−Co−0−R”を表わ
し、R2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキ
ル基、−CFl、−0−R3、−3−R3又は−CO−
O−R3を表わし、そして R3は炭素原子数1ないし3Gのアルキル基又は部分的
にもしくは飽和的にフッ素化された炭素原子数1ないし
30のアルキル基を表わす〕で表わされる化合物を含む
単層又は多層系に関する。
、−0−R3、−5−R3又は−Co−0−R”を表わ
し、R2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキ
ル基、−CFl、−0−R3、−3−R3又は−CO−
O−R3を表わし、そして R3は炭素原子数1ないし3Gのアルキル基又は部分的
にもしくは飽和的にフッ素化された炭素原子数1ないし
30のアルキル基を表わす〕で表わされる化合物を含む
単層又は多層系に関する。
言葉1単層又は多層系”は、−薄層状態の又は多数の薄
層の連続した状態の、弐■の化合物を含むいかなる配列
をも意味するものとして、まさしく−船釣に理解される
べきである。本明細書内において、“薄層”は分子の1
がいし数層の厚さを有する層の意味で理解されるべきで
ある。
層の連続した状態の、弐■の化合物を含むいかなる配列
をも意味するものとして、まさしく−船釣に理解される
べきである。本明細書内において、“薄層”は分子の1
がいし数層の厚さを有する層の意味で理解されるべきで
ある。
そのような層系は例えば、式1の化合物を含んでいるい
わゆる1キヤストビレイヤー(castbilayer
) ’フィルムといえる。この手法は例えば、クニタ
ケら(T、 Kunitake et al )による
[Th1n 5olid Films J第121巻第
189〜91頁(1984年)及びシモムラら(M、
Shimomuraet al )による[Ber−B
unsenges、 Phys、 Chem、 J第8
7巻、第1134〜43頁(1983年)に記載されて
いる。
わゆる1キヤストビレイヤー(castbilayer
) ’フィルムといえる。この手法は例えば、クニタ
ケら(T、 Kunitake et al )による
[Th1n 5olid Films J第121巻第
189〜91頁(1984年)及びシモムラら(M、
Shimomuraet al )による[Ber−B
unsenges、 Phys、 Chem、 J第8
7巻、第1134〜43頁(1983年)に記載されて
いる。
そのような単層又は多層系は好ましくは式■で表わされ
る化合物を含む単分子層又は複数の単分子層の連VC(
5equences of monomolecula
rlayers )であり、それらはラングミユア プ
ロジェッ)法(LBプロセス)による固体支持材への移
転(transfer )により得ることができる。
る化合物を含む単分子層又は複数の単分子層の連VC(
5equences of monomolecula
rlayers )であり、それらはラングミユア プ
ロジェッ)法(LBプロセス)による固体支持材への移
転(transfer )により得ることができる。
どの基であれアルキル基であるならば、それらは直鎖又
は枝分れ基であってよい。直鎖基が好ましい。更にアル
キル基は1−位には存在しないトランス二重結合又は三
重結合を含んでいてよい。複数のトランス二重結合又は
三重結合は遊離した又は互に共役した状態にあってよい
。
は枝分れ基であってよい。直鎖基が好ましい。更にアル
キル基は1−位には存在しないトランス二重結合又は三
重結合を含んでいてよい。複数のトランス二重結合又は
三重結合は遊離した又は互に共役した状態にあってよい
。
アルキル基の例としては特にメチル基、エチル基、n−
プロピル基、イノプロピル基、n−ブチル基、イノブチ
ル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、2−エチルヘキシル基、n−ノニ
ル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル
基、n−)リゾシル基、n−テトラデシル基、n−ペン
タデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基
、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基% n−エイ
コシル基、n−ヘンエイコシルk、n−トコシル基、ロ
ーテトラコシル基、n−へキサコシル基、n−オフタコ
シル基及びn−)リアコンチル基又はアリル基、グロバ
ルギル基、オクタデカ−9−トランスーエニル基及ヒペ
ンタコ?−10,12−シイニル基が挙ケラれる。
プロピル基、イノプロピル基、n−ブチル基、イノブチ
ル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、2−エチルヘキシル基、n−ノニ
ル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル
基、n−)リゾシル基、n−テトラデシル基、n−ペン
タデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基
、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基% n−エイ
コシル基、n−ヘンエイコシルk、n−トコシル基、ロ
ーテトラコシル基、n−へキサコシル基、n−オフタコ
シル基及びn−)リアコンチル基又はアリル基、グロバ
ルギル基、オクタデカ−9−トランスーエニル基及ヒペ
ンタコ?−10,12−シイニル基が挙ケラれる。
パーフルオロアルキル基は1ないし12の炭素原子を有
するものが好ましい。
するものが好ましい。
式■で表わされる化合物の幾つかは知られている。した
がって、XがS又はSeを表わし R1が−Co−0−
R3を表わし、R2が水素原子又は−CO−0−R3を
表わしそしてR3が上記定義の意味を表わす式!で表わ
される化合物はDE−A−4510,092に記載され
ている方法と同様な方法で製造することができる。
がって、XがS又はSeを表わし R1が−Co−0−
R3を表わし、R2が水素原子又は−CO−0−R3を
表わしそしてR3が上記定義の意味を表わす式!で表わ
される化合物はDE−A−4510,092に記載され
ている方法と同様な方法で製造することができる。
XがSを表わし、R1がアルキル基、−CF、、−0−
R3又は−5−R3を表わしセしてR2が水素原子、ア
ルキル基、CF8、−0−R3又は−5−R3を表わす
式1で表わされる化合物は次の図式により得ることがで
きる: (I[D 0−C−CI(。
R3又は−5−R3を表わしセしてR2が水素原子、ア
ルキル基、CF8、−0−R3又は−5−R3を表わす
式1で表わされる化合物は次の図式により得ることがで
きる: (I[D 0−C−CI(。
(M
〔式中、Rはアルキル基、−CF、、−0−R3又は−
5−R3を表わし、Rbは水素原子、アルキル基、−C
F、、−0−R3又は−5−R3を表わす〕。
5−R3を表わし、Rbは水素原子、アルキル基、−C
F、、−0−R3又は−5−R3を表わす〕。
テトラセンキノン■の還元的アシル化はこの場合例えば
無水酢酸、酢酸カリウム、及び酢酸エチルのような極性
非プロトン性溶媒の存在下、亜鉛末と反応させることに
より行なわれる。反応■において還元剤は概して僅かに
化学量論的に過剰に、例えば1モルの■に対して2〜4
モルの量で用いられる。
無水酢酸、酢酸カリウム、及び酢酸エチルのような極性
非プロトン性溶媒の存在下、亜鉛末と反応させることに
より行なわれる。反応■において還元剤は概して僅かに
化学量論的に過剰に、例えば1モルの■に対して2〜4
モルの量で用いられる。
相当するTTT誘導誘導体製造するだめのビスアセトキ
シ化合物■の反応(反応■)は、芳香族スルホン酸例え
ばパラトルエンスルホン酸のような酸触媒の存在下で化
合物mとイオウを加熱することにより都合よく行なわれ
る。反応は一般的に化合物■にとって不活性の有機溶媒
中で行なわれる。それらの例はジクロロベンゼン又ハト
リクロロベンゼンのようなノ・ロゲン化芳香族炭化水素
である。反応■において、イオウは一般的に過剰に用い
られまた反応はそれぞれの溶媒の還流下で好ましく行な
われる。
シ化合物■の反応(反応■)は、芳香族スルホン酸例え
ばパラトルエンスルホン酸のような酸触媒の存在下で化
合物mとイオウを加熱することにより都合よく行なわれ
る。反応は一般的に化合物■にとって不活性の有機溶媒
中で行なわれる。それらの例はジクロロベンゼン又ハト
リクロロベンゼンのようなノ・ロゲン化芳香族炭化水素
である。反応■において、イオウは一般的に過剰に用い
られまた反応はそれぞれの溶媒の還流下で好ましく行な
われる。
XがSeを表わし、そしてR1及びRzがそれぞれ上記
でRa及びRbについて定義された意味を表わす式!で
表わされる化合物は次の図式によって得ることができる
。
でRa及びRbについて定義された意味を表わす式!で
表わされる化合物は次の図式によって得ることができる
。
(■)0
(Vl)
S e −S e
(■)
テトラキノン…から相当するテトラセンvへの還元は、
化合物■を過剰の還元剤例えば亜鉛末と反応させること
Kよるそれ自体公知の方法で行なうことができる。その
反応は氷酢酸と酢酸カリウムの混合物中で好1しく行な
われる。
化合物■を過剰の還元剤例えば亜鉛末と反応させること
Kよるそれ自体公知の方法で行なうことができる。その
反応は氷酢酸と酢酸カリウムの混合物中で好1しく行な
われる。
相当するジクロロ−又はテトラクロロテトラセン■を製
造するためのテトラセン誘導体Vの反応は、それ自体公
知の方法で化合物Vと塩化スルフリルを反応させること
により行なうことができる。同様化合物についてのその
ような反応の例はEP−A−109,360に見い出さ
れる。
造するためのテトラセン誘導体Vの反応は、それ自体公
知の方法で化合物Vと塩化スルフリルを反応させること
により行なうことができる。同様化合物についてのその
ような反応の例はEP−A−109,360に見い出さ
れる。
TSeT誘導体■を製造するための化合物■の反応もま
た公知方法と同様にして行なうことができる。この目的
のために式■で表わされる化合物はセレンの存在下で加
熱される。そのような反応の例はEP −A−109,
306中にも見い出される。
た公知方法と同様にして行なうことができる。この目的
のために式■で表わされる化合物はセレンの存在下で加
熱される。そのような反応の例はEP −A−109,
306中にも見い出される。
次式Ua
〔式中、Rは−0−R3又は−3−R3を表わし、Rd
はRcについて定義された意味を表わすか水素原子を表
わし、そしてR1は上記定義の意味を表わす〕 で表わされる化合物は2−フルオロ−又は2,5−ジフ
ルオロテトラセン−5,12−ジオンから、炭酸カリウ
ムの存在下R”−OB又はR3−5Rと反応させること
により得ることができる。反応は一般的に極性非プロト
ン性溶媒、例えばジメチルスルホキシド中で行なわれる
。出発物質2−フルオロテトラセン−5,12−ジオン
HEP−A −154905から知られている。2.3
−ジフルオロ誘導体は2−フルオロ誘導体と同様にして
フルオロベンゼンの代わりに1.2−ジフルオロベンゼ
ンを用いることにより製造することができる。
はRcについて定義された意味を表わすか水素原子を表
わし、そしてR1は上記定義の意味を表わす〕 で表わされる化合物は2−フルオロ−又は2,5−ジフ
ルオロテトラセン−5,12−ジオンから、炭酸カリウ
ムの存在下R”−OB又はR3−5Rと反応させること
により得ることができる。反応は一般的に極性非プロト
ン性溶媒、例えばジメチルスルホキシド中で行なわれる
。出発物質2−フルオロテトラセン−5,12−ジオン
HEP−A −154905から知られている。2.3
−ジフルオロ誘導体は2−フルオロ誘導体と同様にして
フルオロベンゼンの代わりに1.2−ジフルオロベンゼ
ンを用いることにより製造することができる。
次式nb
〔式中、Rはアルキル基を表わしそしてRfは水素原子
又はアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物は、アルキル−又は1,2−ジアル
キルベンゼンのナフタレン−2,5−ジカルボン酸無水
物によるフリーデルクラフトアシル化(Fr1edel
−Crafts acylation )及び続く環化
により得ることができる。
又はアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物は、アルキル−又は1,2−ジアル
キルベンゼンのナフタレン−2,5−ジカルボン酸無水
物によるフリーデルクラフトアシル化(Fr1edel
−Crafts acylation )及び続く環化
により得ることができる。
アルキルベンゼンの代わリニフルオロベンゼンを用いる
同様の連続反応の例はEP−A−109゜360に見ら
れる。
同様の連続反応の例はEP−A−109゜360に見ら
れる。
下記式Dc C式中、Rgは水素原子、アルキル基又は
−CF、を表わす〕で表わされる化合物は次の図式 %式% と相当する置換1,4−ナフトキノン■を反応させるこ
とにより得ることができる。
−CF、を表わす〕で表わされる化合物は次の図式 %式% と相当する置換1,4−ナフトキノン■を反応させるこ
とにより得ることができる。
式■で表わされる化合物は1,4−ベンゾキノンと次式
X 〔式中、Rgは上記定義の意味を表わす〕で表わされる
α−ピロンとのディールス−アルダ−反応(Diels
−Alder reaction )により得ることが
できる。
X 〔式中、Rgは上記定義の意味を表わす〕で表わされる
α−ピロンとのディールス−アルダ−反応(Diels
−Alder reaction )により得ることが
できる。
Rgが水素原子又は−CF、を表わす式Xで表わされる
化合物はそれ自体公知の方法でα−ピロン−5−カルボ
ン酸又ハα−ピロン−4,5−ジカルボン酸ジエステル
とSF4/HFを反応させることにより製造することが
できる。α−ピロン出発物質は例えばUS −A−4,
617,151中に記載されている。〜。
化合物はそれ自体公知の方法でα−ピロン−5−カルボ
ン酸又ハα−ピロン−4,5−ジカルボン酸ジエステル
とSF4/HFを反応させることにより製造することが
できる。α−ピロン出発物質は例えばUS −A−4,
617,151中に記載されている。〜。
Rgがアルキル基を表わす式Xで表わされる化合物は、
US −A−4,617,151に記載されている方法
と同様にして強無水酢酸好1しくは無水ギ酸の存在下で
次式X (式中、R4、R8及びR6はアルキル基を表わす〕で
表わされる化合物を環化し、続いてSF4/HFを用い
て−COOR4基をCF3 K変換することにより得る
仁とができる。
US −A−4,617,151に記載されている方法
と同様にして強無水酢酸好1しくは無水ギ酸の存在下で
次式X (式中、R4、R8及びR6はアルキル基を表わす〕で
表わされる化合物を環化し、続いてSF4/HFを用い
て−COOR4基をCF3 K変換することにより得る
仁とができる。
式Xで表わされる化合物はUS−A−4,61乙151
から知られている方法と同様にしてギ酸エステk HC
OOR’ t−T i CA4 (2) 存在下、次式
X■R’0OC−CH2−C=CH−COOR鴫
(′1Ji)〔式中、R4及びR@
は上記定義の意味を表わす〕で表わされる化合物と反応
させることにより得ることができる。
から知られている方法と同様にしてギ酸エステk HC
OOR’ t−T i CA4 (2) 存在下、次式
X■R’0OC−CH2−C=CH−COOR鴫
(′1Ji)〔式中、R4及びR@
は上記定義の意味を表わす〕で表わされる化合物と反応
させることにより得ることができる。
・式店で表わされる化合物はそれ自体公知の次式刈a
R’0OC−CH2−C−CH* C0OR’
(Xlla)〔式中、R4は上記定義の意味を表わす
〕で表わされるケトジカルボン酸エステルから出発して
製造することができる。
(Xlla)〔式中、R4は上記定義の意味を表わす
〕で表わされるケトジカルボン酸エステルから出発して
製造することができる。
このために、式)alaで表わされる化合物は塩素化剤
例えばpct、、Pct、又は5oct、と反応させラ
レ、 相当するジアルキル2−クロロプロペ−1−エン
−1,3−ジカルボキシレートを生じ、そして後者はそ
れ自体公知の方法で脱ハロゲン化されて相当するアレン
−1,3−ジカルボン酸ジアルキルを生じる。
例えばpct、、Pct、又は5oct、と反応させラ
レ、 相当するジアルキル2−クロロプロペ−1−エン
−1,3−ジカルボキシレートを生じ、そして後者はそ
れ自体公知の方法で脱ハロゲン化されて相当するアレン
−1,3−ジカルボン酸ジアルキルを生じる。
このアレン化合物は続いて、不活性溶媒中、銅(1)化
合物例えばCuCN又はCuC2の存在下で試薬R6M
(式中、Mはアルカリ金属例えばLi、Na又はKを表
わし、R6はアルキル基を表わす)と反応させられ、次
いで加水分解によって弐刈で表わされる化合物に変えら
れる。反応温度は都合よくは−100ないし一20℃で
ある。
合物例えばCuCN又はCuC2の存在下で試薬R6M
(式中、Mはアルカリ金属例えばLi、Na又はKを表
わし、R6はアルキル基を表わす)と反応させられ、次
いで加水分解によって弐刈で表わされる化合物に変えら
れる。反応温度は都合よくは−100ないし一20℃で
ある。
これらの反応は好ましくは有機の不活性で極性の溶媒例
えばテトラヒドロフランのようなエーテル類、ジメチル
スルホキシドのようなスルホキシド類、テトラメチレン
スルホンのようなスルホン類、ジルメチルホルムアミド
又はN−メチルビロリドンのよりなN−置換力ルポキサ
ミド又はラクタム類中で行なわれる。
えばテトラヒドロフランのようなエーテル類、ジメチル
スルホキシドのようなスルホキシド類、テトラメチレン
スルホンのようなスルホン類、ジルメチルホルムアミド
又はN−メチルビロリドンのよりなN−置換力ルポキサ
ミド又はラクタム類中で行なわれる。
驚くべきことに安定な単分子層は、水/空気界面で弐1
で表わされる化合物から製造することができる。このた
めに、それ自体公知の方法で、好ましくは低沸点の水に
混和できない溶媒中に式lで表わされる化合物を溶解し
た溶液の小量を水面上に適用し、溶媒を蒸発させ、そし
て得られたフィルム全水面上に安定な単分子層が形成さ
れるように圧縮することにより行なわれる。
で表わされる化合物から製造することができる。このた
めに、それ自体公知の方法で、好ましくは低沸点の水に
混和できない溶媒中に式lで表わされる化合物を溶解し
た溶液の小量を水面上に適用し、溶媒を蒸発させ、そし
て得られたフィルム全水面上に安定な単分子層が形成さ
れるように圧縮することにより行なわれる。
上に単分子層が形成されるサブ層(5ubphase
)は、多段蒸留又は脱イン化されそして濾過され、必要
により少量の塩例えばCdCL、又はBaCLがフィル
ムを安定化するために添加された水からなる。サブ層は
また緩衝物質例えばNaHCO3を含むこともできる。
)は、多段蒸留又は脱イン化されそして濾過され、必要
により少量の塩例えばCdCL、又はBaCLがフィル
ムを安定化するために添加された水からなる。サブ層は
また緩衝物質例えばNaHCO3を含むこともできる。
これらの改変は当技術分野の専門家には知られており、
またフィルム形成物質の性質に従って選択される。
またフィルム形成物質の性質に従って選択される。
フィルムの安定性は、知られているように実験パラメー
タの選択により影響され得る。従って例えばサブ相を冷
却することにより式1の化合物で組成される相対的に不
安定なフィルムを安定化することは可能であり、或は式
Iで表わされる両親媒化合物と組み合わせて使用される
。
タの選択により影響され得る。従って例えばサブ相を冷
却することにより式1の化合物で組成される相対的に不
安定なフィルムを安定化することは可能であり、或は式
Iで表わされる両親媒化合物と組み合わせて使用される
。
そのような化合物の例としてい、長鎖脂肪酸例えばパル
ミチン酸、ステアリン酸、アラキン酸又ハヘヘニン酸、
又はそれらのエステル、%にこれら酸のメチルエステル
:長鎖第一アミン例えtdn−ヘキサデシルアミン、n
−オクタデシルアミン又はn−エイコシルアミン;長鎖
アルコール例えばn−ヘキサデカノール、n−オクタデ
カノール又#in−エイコサノール: −& 釦脂肪族
炭化水素例えばヘキサデカン、オクタデカン又はエイコ
サン:置換テトラセン誘導体例えば2−炭素原子数1な
いし18のアルコキシテトラセン、2−炭素原子数1な
いし18のアルコキシテトラセン−5,12−ジオン、
2−炭素原子数1ないし18のアルコキシ−5,12−
ビス(アセトキシ)テトラセン又は相当する2、3−ビ
ス−アルコキシ誘導体:又はステロイド及びステロイド
誘導体例えばコレステロールが挙げられる;飽和誘導体
のほかに、エチレン性又はアセチレン性不飽和誘導体も
用いることができる。これらの例としてはω−トリコセ
ン酸、そのエステル、及びそれから誘導されるアミン又
はアルコールが挙げられる。酸は好1しくは塩特にCd
塩の形態で用いられる。
ミチン酸、ステアリン酸、アラキン酸又ハヘヘニン酸、
又はそれらのエステル、%にこれら酸のメチルエステル
:長鎖第一アミン例えtdn−ヘキサデシルアミン、n
−オクタデシルアミン又はn−エイコシルアミン;長鎖
アルコール例えばn−ヘキサデカノール、n−オクタデ
カノール又#in−エイコサノール: −& 釦脂肪族
炭化水素例えばヘキサデカン、オクタデカン又はエイコ
サン:置換テトラセン誘導体例えば2−炭素原子数1な
いし18のアルコキシテトラセン、2−炭素原子数1な
いし18のアルコキシテトラセン−5,12−ジオン、
2−炭素原子数1ないし18のアルコキシ−5,12−
ビス(アセトキシ)テトラセン又は相当する2、3−ビ
ス−アルコキシ誘導体:又はステロイド及びステロイド
誘導体例えばコレステロールが挙げられる;飽和誘導体
のほかに、エチレン性又はアセチレン性不飽和誘導体も
用いることができる。これらの例としてはω−トリコセ
ン酸、そのエステル、及びそれから誘導されるアミン又
はアルコールが挙げられる。酸は好1しくは塩特にCd
塩の形態で用いられる。
式Iで表わされる化合物は一般的に総混合物に対して少
なくとも1重量%はどそのような混合物中に含ませられ
る。
なくとも1重量%はどそのような混合物中に含ませられ
る。
XがSを表わす式!で表わされる化合物を含む糸が好ま
しい。特に好ましい系は、XがSを表わし、R1が一〇
−R3を表わしそしてR2が水素原子を表わす式lで表
わされる化合物を含む系である。XがSを表わしR1が
CF3を表わしそしてR2が水素原子を表わす式1で表
わされる化合物を含む系も同様に好ましい。R3は炭素
原子数1ないし18のアルキル基、特にはn−オクチル
基であるのが好ましい。
しい。特に好ましい系は、XがSを表わし、R1が一〇
−R3を表わしそしてR2が水素原子を表わす式lで表
わされる化合物を含む系である。XがSを表わしR1が
CF3を表わしそしてR2が水素原子を表わす式1で表
わされる化合物を含む系も同様に好ましい。R3は炭素
原子数1ないし18のアルキル基、特にはn−オクチル
基であるのが好ましい。
式Iで表わされる化合物及びもし適当であれば他の適当
な両親媒性化合物を含む単分子フィルムは驚くべきこと
にLBプロセスによって水面から固体支持材へ容易に移
転させることができる。このために、固体支持材はそれ
自体公知の方法で水面上の加圧された単分子フィルムを
通して浸漬され、それにより該フィルムは支持材上に移
転される。
な両親媒性化合物を含む単分子フィルムは驚くべきこと
にLBプロセスによって水面から固体支持材へ容易に移
転させることができる。このために、固体支持材はそれ
自体公知の方法で水面上の加圧された単分子フィルムを
通して浸漬され、それにより該フィルムは支持材上に移
転される。
そのようなフィルムは、フィルムを安定化できる他の成
分例えば両親媒性化合物、長鎖炭化水素又はポリマーと
ともに式1で表わされる化合物を1〜95モル係、特に
は20〜75モルチ含むのが好ましい。
分例えば両親媒性化合物、長鎖炭化水素又はポリマーと
ともに式1で表わされる化合物を1〜95モル係、特に
は20〜75モルチ含むのが好ましい。
多層系はこのようにして浸漬と退去(removal)
を繰り返すことにより製造され得る。
を繰り返すことにより製造され得る。
そのような混合フィルムから作られたLB単層又は多層
系が好ましい。
系が好ましい。
各浸漬プロセス後に水面上の層を変えることができ、そ
れゆえ異なる連続層を支持材上に生じさせることができ
る。
れゆえ異なる連続層を支持材上に生じさせることができ
る。
多層の製造操作はLBシステムの技術分野の専門家に知
られており、また例えば“Techniquesof
Chemi 5try 、 PhysicatMeth
ods of Chemistry第1巻3B号、第6
66〜671頁(著者:AWeissberger及び
P、 Rossiter ) に記載されている。
られており、また例えば“Techniquesof
Chemi 5try 、 PhysicatMeth
ods of Chemistry第1巻3B号、第6
66〜671頁(著者:AWeissberger及び
P、 Rossiter ) に記載されている。
LBプロセスのための適当な固体支持材は、顕微鏡的に
平坦表面を有する非常に広範な親水性又は疏水性基材で
ある。これらの例としては、アルミニウム、銅、銀又は
金のような金属、ゲルマニウム、シリコーン又はGaA
sのような半導体、カラス、水晶、 Zn5e又は5i
lN3のような無機材料、又はテフロン■、ポリエチレ
ン、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン又はポリ
エステルのようなプラスチックが挙げられる。
平坦表面を有する非常に広範な親水性又は疏水性基材で
ある。これらの例としては、アルミニウム、銅、銀又は
金のような金属、ゲルマニウム、シリコーン又はGaA
sのような半導体、カラス、水晶、 Zn5e又は5i
lN3のような無機材料、又はテフロン■、ポリエチレ
ン、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン又はポリ
エステルのようなプラスチックが挙げられる。
水をはじくように処理された支持材例えば、ケイ素類例
えばトリクロロメチルシラン、ジクロロジメチルシラン
もしくはトリクロロオクタデシルシランで前処理された
、又はアラキン酸カドミウム(Cd arachida
te )の幾層かで前もってコーティングされたガラス
もしくは水晶もまた使用することができる。
えばトリクロロメチルシラン、ジクロロジメチルシラン
もしくはトリクロロオクタデシルシランで前処理された
、又はアラキン酸カドミウム(Cd arachida
te )の幾層かで前もってコーティングされたガラス
もしくは水晶もまた使用することができる。
本発明はまた、次の工程:
1)式■で表わされる化合物、又は式Iで表わされる化
合物にそのような層を安定化できる他の両親媒性化合物
、長鎖炭化水素もしくはポリマーを配合した混合物から
なる単分子層の製造、及び 11)核層を通して下記支持体を1回又は1回以上浸漬
及び/又は退去させることによるラングミュアブロジェ
ット法による固体支持材への上記層の移転 から実質的になる単層又は多層系の農造方法に関する。
合物にそのような層を安定化できる他の両親媒性化合物
、長鎖炭化水素もしくはポリマーを配合した混合物から
なる単分子層の製造、及び 11)核層を通して下記支持体を1回又は1回以上浸漬
及び/又は退去させることによるラングミュアブロジェ
ット法による固体支持材への上記層の移転 から実質的になる単層又は多層系の農造方法に関する。
式1で表わされる化合物のそのような単層はLBプロセ
スによって連続的に移転され得る。
スによって連続的に移転され得る。
これらの層は互に直ちに続くことができ、或は異なる層
形成材料の膚に交替させることができる。
形成材料の膚に交替させることができる。
式■で表わされる化合物と長鎖飽和カルボン酸の塩、特
に直鎖の炭素原子数18ないし20の酸の塩、長鎖不飽
和酸の塩、例えばω−トリコセン酸又はペンタコサ−1
0,12−ジイン酸、これら酸のメチルエステル、特に
長鎖飽和カルボン酸、又は置換テトラセンキノンもしく
ハソれらQビスアセトキシ誘導体、好筐しくは次式%式
% 〔式中 R3は上記定義の意味を表わす〕で表わされる
化合物との混合物は好ましく転移する9 それ自体安定である単分子層は式X■及びX■で表わさ
れる化合物からも製造することができ、そしてLBプロ
セスにより固体支持材上へ転移することができる。
に直鎖の炭素原子数18ないし20の酸の塩、長鎖不飽
和酸の塩、例えばω−トリコセン酸又はペンタコサ−1
0,12−ジイン酸、これら酸のメチルエステル、特に
長鎖飽和カルボン酸、又は置換テトラセンキノンもしく
ハソれらQビスアセトキシ誘導体、好筐しくは次式%式
% 〔式中 R3は上記定義の意味を表わす〕で表わされる
化合物との混合物は好ましく転移する9 それ自体安定である単分子層は式X■及びX■で表わさ
れる化合物からも製造することができ、そしてLBプロ
セスにより固体支持材上へ転移することができる。
高い導電性を有する供与体−受容体錯体(donor−
acceptor complexes )は、式!で
表わされる化合物を用い適当な電子受容体で処理するこ
とにより製造され得る。供与体−受容体錯体は、適当で
あるならば、電荷の完全な移転が起った茫イオン塩(r
adical ion 5alts )であってよい。
acceptor complexes )は、式!で
表わされる化合物を用い適当な電子受容体で処理するこ
とにより製造され得る。供与体−受容体錯体は、適当で
あるならば、電荷の完全な移転が起った茫イオン塩(r
adical ion 5alts )であってよい。
本明細書において、適当な電子受容体は、その酸化能力
によって供与体を酸化できる化合物を意味するものと理
解されるべきである。
によって供与体を酸化できる化合物を意味するものと理
解されるべきである。
適当な電子受容体はヨウ素、臭素又は塩素のようなハロ
ゲン;ポリプロミド又はポリヨーシト:窒素酸化物又は
有機受容体、例えばテトラシアノエチレン、テトラシア
ノキノジメタン又はクロラニルである。ハロゲン特にヨ
ウ素、及びポリヨーシトを用いるのが好ましい。
ゲン;ポリプロミド又はポリヨーシト:窒素酸化物又は
有機受容体、例えばテトラシアノエチレン、テトラシア
ノキノジメタン又はクロラニルである。ハロゲン特にヨ
ウ素、及びポリヨーシトを用いるのが好ましい。
式1で表わされる化合物の単層又は多層系の処理(ドー
ピング)は、その層系と電子受容体を直接接触させるこ
とにより、例えば層系をヨウ素蒸気でドーピングする仁
とにより、行なうことができる。
ピング)は、その層系と電子受容体を直接接触させるこ
とにより、例えば層系をヨウ素蒸気でドーピングする仁
とにより、行なうことができる。
式Iで表わされる化合物の単層又は多層系のドーピング
は、電子受容体を含む水溶液と直接接触させることKよ
って本行なうことができる。
は、電子受容体を含む水溶液と直接接触させることKよ
って本行なうことができる。
この場合、水溶液中に溶牌したドーピング剤は驚くべき
ことに層系を破壊することなく層系中に浸透し、そして
導電率を増加させる。
ことに層系を破壊することなく層系中に浸透し、そして
導電率を増加させる。
従って本発明は上記工程1)と11)、及びまた−)生
じた単層又は多層系を、式1で表わされる化合物のため
の電子受容体(これは上記化合物を酸化させる)を含む
水溶液と接触させる工程、からなる導電性単層又は多層
系の製造方法に関する。
じた単層又は多層系を、式1で表わされる化合物のため
の電子受容体(これは上記化合物を酸化させる)を含む
水溶液と接触させる工程、からなる導電性単層又は多層
系の製造方法に関する。
更には水面上ですでにドーピングされた単層を支持材に
連続的に移転させることもまた可能である。その単層の
ドーピングは概してドーピング剤をサブ相に加えること
により行なわれる。
連続的に移転させることもまた可能である。その単層の
ドーピングは概してドーピング剤をサブ相に加えること
により行なわれる。
このようにして式Iで表わされる化合物とドーピング剤
からなる供与体−受容体錯体は水/空気界面で形成され
る。篤くべきことにこの錯体はLBプロセスによって支
持材上に移転され得る。
からなる供与体−受容体錯体は水/空気界面で形成され
る。篤くべきことにこの錯体はLBプロセスによって支
持材上に移転され得る。
従って本発明はまた、
1)式!で表わされる化合物から、もし適当なら更にそ
のような層を安定化できる両親媒性化合物を配合して単
分子層を製造する工程、及び11)接層を通して下記支
持材を1回又は1回以上浸漬及び/又は退去させる(上
記単分子層を製造するためのサブ相は、水/空気界面で
式Iで表わされる化合物と供与体−受容体錯体を形成す
る電子受容体を含む)ことによるラングミュアブロジェ
ット法により固体支持材上へ上記単分子層を移転する工
程 からなる導電性単層又は多層系の製造方法に関する。こ
の方法のための適当な電子受容体の例はK13溶液であ
る。
のような層を安定化できる両親媒性化合物を配合して単
分子層を製造する工程、及び11)接層を通して下記支
持材を1回又は1回以上浸漬及び/又は退去させる(上
記単分子層を製造するためのサブ相は、水/空気界面で
式Iで表わされる化合物と供与体−受容体錯体を形成す
る電子受容体を含む)ことによるラングミュアブロジェ
ット法により固体支持材上へ上記単分子層を移転する工
程 からなる導電性単層又は多層系の製造方法に関する。こ
の方法のための適当な電子受容体の例はK13溶液であ
る。
本発明は特に好ましくは次の各工程:
)式1で表わされる化合物又は式lで表わされる化合物
にそのような層を安定化できる両親媒性化合物、長鎖炭
化水素もしく鉱ポリマーを配合した混合物からなる単分
子層の製造、n)その層を通して前記支持材i1回又は
1回以上浸漬することによる導電性表面を有する支持材
上への接層の移転、及び I)対向電極も同じく浸漬される電解溶液中に上記支持
材を浸漬し、電位適用中は支持材を陰極とし電解質から
の対イオン(counter−ions )の混入で層
系中の式!で表わされる化合物を酸化することによる上
記層系の電気化学的酸化からなる導電性単層又は多層系
の製造方法に関する。
にそのような層を安定化できる両親媒性化合物、長鎖炭
化水素もしく鉱ポリマーを配合した混合物からなる単分
子層の製造、n)その層を通して前記支持材i1回又は
1回以上浸漬することによる導電性表面を有する支持材
上への接層の移転、及び I)対向電極も同じく浸漬される電解溶液中に上記支持
材を浸漬し、電位適用中は支持材を陰極とし電解質から
の対イオン(counter−ions )の混入で層
系中の式!で表わされる化合物を酸化することによる上
記層系の電気化学的酸化からなる導電性単層又は多層系
の製造方法に関する。
該方法の具体例では、特に低い流密度(flawden
sity)を有する層を製造することができる。
sity)を有する層を製造することができる。
該方法の他の利点は、層系中に多数の異なる対向イオン
(counterions ) を導入させ得るとい
うことである。これらの例としては、無機陰イオ” 例
L ハCzcOa BF4 P Fs、5bC
L4sbcz;、pスct二Br−1I−又は11、有
機陶イオン例t ハチトランアノキノジメタン;テトラ
シアノエチレン二アルキルー アリール−アルカリール
、アルアルキル−フルオロアルキル−又はフルオロアル
カリールスルホネート、−ホスフェ−又はホスホネート
、或はヘテロアリールスルホネート例t ハビロロビロ
ールスルホネートが挙けられる。
(counterions ) を導入させ得るとい
うことである。これらの例としては、無機陰イオ” 例
L ハCzcOa BF4 P Fs、5bC
L4sbcz;、pスct二Br−1I−又は11、有
機陶イオン例t ハチトランアノキノジメタン;テトラ
シアノエチレン二アルキルー アリール−アルカリール
、アルアルキル−フルオロアルキル−又はフルオロアル
カリールスルホネート、−ホスフェ−又はホスホネート
、或はヘテロアリールスルホネート例t ハビロロビロ
ールスルホネートが挙けられる。
この後者の方法を一部変更することにより、式1で表わ
される化合物の酸化形態を含んでいる層系は、工程1i
)における陽極として電解質溶液中に浸漬している層系
を接続させそして電位を適用して式Iで表わされる化合
物の酸化形態から中性形態を生じさせることにより還元
された出発化合物に戻すこともできる。この変更方法を
用いることにより、58層系での可逆的な色変化を達成
できる。
される化合物の酸化形態を含んでいる層系は、工程1i
)における陽極として電解質溶液中に浸漬している層系
を接続させそして電位を適用して式Iで表わされる化合
物の酸化形態から中性形態を生じさせることにより還元
された出発化合物に戻すこともできる。この変更方法を
用いることにより、58層系での可逆的な色変化を達成
できる。
したがって本発明はまた、式!で表わされる化合物を含
むLB層で被接されそして導電性表面を有する支持材を
、対向電極も同じく浸漬される電解質溶液中に浸漬し、
そして上記支持材を陰極又は陽極として電位を適用し、
式■で表わされる化合物を酸化するか又は酸化形態の式
!で表わされる化合物を還元することからなる式Iで表
わされる化合物を含むLBII系の可逆的な電気化学的
酸化又は還元方法に関する。
むLB層で被接されそして導電性表面を有する支持材を
、対向電極も同じく浸漬される電解質溶液中に浸漬し、
そして上記支持材を陰極又は陽極として電位を適用し、
式■で表わされる化合物を酸化するか又は酸化形態の式
!で表わされる化合物を還元することからなる式Iで表
わされる化合物を含むLBII系の可逆的な電気化学的
酸化又は還元方法に関する。
本発明は更に式Iで表わされる化合物と電子受容体の供
与体−受容体錯体を含んでいる導電性単層又は多層系に
関する。
与体−受容体錯体を含んでいる導電性単層又は多層系に
関する。
式Iで表わされる化合物の単層又は多層系或はこれら化
合物と電子受容体との供与体−受容体錯体を含むドープ
化系(doped systems )は空気中の高い
安定性で際立っている。
合物と電子受容体との供与体−受容体錯体を含むドープ
化系(doped systems )は空気中の高い
安定性で際立っている。
非ドープ及びドープ化形態のスペクトルは、それらのλ
maX値とそれらの吸光係数の点で異なっている。
maX値とそれらの吸光係数の点で異なっている。
式lで表わされる化合物の単層又は多層系及びそのドー
プ化系はこのように電気活性材料、即ち酸化状態と還元
状態で異なる物性を有しそして酸化還元方法でその二つ
の状態間を切り換えることのできる材料である。
プ化系はこのように電気活性材料、即ち酸化状態と還元
状態で異なる物性を有しそして酸化還元方法でその二つ
の状態間を切り換えることのできる材料である。
式1で表わされる化合物を含む単層又は多層系は導電性
塗膜、エレクトロクロミックデイスプレィ(elect
rochromic display ) 、 1ti
極及びセンサを製造するのに適している。
塗膜、エレクトロクロミックデイスプレィ(elect
rochromic display ) 、 1ti
極及びセンサを製造するのに適している。
本発明はまた上記目的のためのこれら単層又は多層系の
使用にも関する。
使用にも関する。
以下、実施例により本発明を説明する。
■
S□S
−s
1.2.4− トリクロロベンゼン10〇−中のジアセ
テート■846mg(1,85モル)、5=soly(
1s、ameq)及びp−トルエンスルホン酸5■(C
LO26ミリモル)を、還流凝縮器とガス導入チューブ
を備えた250−フラスコ中で緩やかなアルゴンガス流
下、5時間半還流する。その暗緑色溶液を次いで高真空
下で蒸発させる。
テート■846mg(1,85モル)、5=soly(
1s、ameq)及びp−トルエンスルホン酸5■(C
LO26ミリモル)を、還流凝縮器とガス導入チューブ
を備えた250−フラスコ中で緩やかなアルゴンガス流
下、5時間半還流する。その暗緑色溶液を次いで高真空
下で蒸発させる。
粗生成物(1,551に一シリカゲルフラッシュカラム
(シリカゲル2aaf、17cm)上でCCt4を用い
てクロマトグラフィに処する〔シリカゲルは前もってC
C4/ 2 % トリエチルアミンで処理し、次いで溶
出液が再び中性となるまで純粋なcctaで洗浄されて
いなければならない〕。暗緑色フラクションは精製され
た2−n−オクチルオキシ−5,6,11,12−テト
ラチオテトラセンを含む。収率560■(65%)。
(シリカゲル2aaf、17cm)上でCCt4を用い
てクロマトグラフィに処する〔シリカゲルは前もってC
C4/ 2 % トリエチルアミンで処理し、次いで溶
出液が再び中性となるまで純粋なcctaで洗浄されて
いなければならない〕。暗緑色フラクションは精製され
た2−n−オクチルオキシ−5,6,11,12−テト
ラチオテトラセンを含む。収率560■(65%)。
λ (1,2,4−)リクロロベンゼン)698゜a
x 440.472℃m:マススペクトルM =−480m
/e :その分裂は構造に一致する。
x 440.472℃m:マススペクトルM =−480m
/e :その分裂は構造に一致する。
12−ジオンの還元的アシル化にょルシアセテート■の
製造 をCH2C4で4回洗浄する。涙液を蒸発させ、残渣f
CH*C1,t/ ヘンタンから、次いでトルエンか
ら再結晶する。
製造 をCH2C4で4回洗浄する。涙液を蒸発させ、残渣f
CH*C1,t/ ヘンタンから、次いでトルエンか
ら再結晶する。
収量4.1 ? (84%)、融点107〜111°。
岨鉛粉末2.02(3LO5ミリモル)に、2−n−オ
クチルオキシテトラセン−5,12−ジオ74 f (
1(155ミリモル)、酢酸エチル40*ls無水酢酸
25su及び酢酸カリウム五05f(31,05ミリモ
ル)を攪拌しながら加える。その混合物を25°で40
分間攪拌し、濾過し、セして残渣2−フルオロテトラセ
ン−5,12−ジオン20F(72,4ミリモル)、1
−オクタツール94.3&、無水炭酸カリウム3α01
5’(217,2ミリモル)及びDMSO200dを1
00℃で20時間攪拌する。その反応混合物を冷却し、
トルエン/希塩酸を加え、そして有機相を分離し、水で
2度況浄し、硫酸ナトリウムを用いて乾燥し、そして蒸
発させる。残渣金ペンタンで洗浄し、シクロヘキサンか
ら再結晶する。
クチルオキシテトラセン−5,12−ジオ74 f (
1(155ミリモル)、酢酸エチル40*ls無水酢酸
25su及び酢酸カリウム五05f(31,05ミリモ
ル)を攪拌しながら加える。その混合物を25°で40
分間攪拌し、濾過し、セして残渣2−フルオロテトラセ
ン−5,12−ジオン20F(72,4ミリモル)、1
−オクタツール94.3&、無水炭酸カリウム3α01
5’(217,2ミリモル)及びDMSO200dを1
00℃で20時間攪拌する。その反応混合物を冷却し、
トルエン/希塩酸を加え、そして有機相を分離し、水で
2度況浄し、硫酸ナトリウムを用いて乾燥し、そして蒸
発させる。残渣金ペンタンで洗浄し、シクロヘキサンか
ら再結晶する。
収量: 219f(82%)、融点127〜129°。
元素分析:C26H2803(分子量5B6.49)と
して理論値:C8(180H&78 012.42%実
測値二C8α68 H6,89012,57%12−
テトラチオテトラセンの製造 S@ 781117 (2,43meq )及び9−)
ルエンスルホンr1!211Ig(a、01ミリモル)
を、還流凝縮器とガス導入チューブを備えた1001フ
ラスコ中、緩やかなアルゴンカス流下で20時間還流す
る。
して理論値:C8(180H&78 012.42%実
測値二C8α68 H6,89012,57%12−
テトラチオテトラセンの製造 S@ 781117 (2,43meq )及び9−)
ルエンスルホンr1!211Ig(a、01ミリモル)
を、還流凝縮器とガス導入チューブを備えた1001フ
ラスコ中、緩やかなアルゴンカス流下で20時間還流す
る。
高真空下で混合物を冷却した後溶媒を蒸発させ、残渣を
ヘキサンで煮沸し、黒色粉末を戸去し、高真空下60℃
で乾燥する。粗生成物の収!205■(79%)。
ヘキサンで煮沸し、黒色粉末を戸去し、高真空下60℃
で乾燥する。粗生成物の収!205■(79%)。
該粗生成物を190℃(10”Pa)で4華させると純
2−トリフルオロメチル−5,6,11,12−テトラ
チオテトラセン(黒色針状結晶)67.5M9(25,
6%)が得られる。
2−トリフルオロメチル−5,6,11,12−テトラ
チオテトラセン(黒色針状結晶)67.5M9(25,
6%)が得られる。
マススペクトル M+= 420 :分裂は予期された
構造と一致する。
構造と一致する。
λmax(1e2e4−1リクロロベンゼン)ニア25
.665.484 nm。
.665.484 nm。
S□S
1.2.4−トリクロロベンゼン5sxl中に入れたジ
アセテート■251■(α61ミリモル)、1.2.に
記載されている操作を、2−n−オクチルオキシテトラ
セン−5,12−ジオンは2−トリフルオロメチルテト
ラセン−5,12−ジオンに代えて操り返す。実施例1
.2.のように処理した後、所望の生成物が理論量の9
1%の収率で得られる(融点285〜288℃)。
アセテート■251■(α61ミリモル)、1.2.に
記載されている操作を、2−n−オクチルオキシテトラ
セン−5,12−ジオンは2−トリフルオロメチルテト
ラセン−5,12−ジオンに代えて操り返す。実施例1
.2.のように処理した後、所望の生成物が理論量の9
1%の収率で得られる(融点285〜288℃)。
テンで汚染されている)及びキシレン100 at k
、水分離器を用いて16時間還流下に保つ。混合物を冷
却し、そして沈殿物を炉去し、キシレンで洗浄する。収
i15.82 f(71%):融点253〜254°0 元素分析: C+、H* FsOt (分子t526−
57)として理論f!JX:C69,95H2,78F
17.47%実測値: C69,84H3[5F
17.38%6−(トリフルオロメチル)−1,4−
ナフトキノン5.65M(25ミリモル)、1.2−ジ
ブロモベンゾシクロブテン9.82y(約37ミリモル
:少量の2−ブロモ−1−ヨードベンゾシクロフQ
0 1.2−ジクロロベンゼン7d中の5−トリフルオロメ
チル−2−オキソ−2H−ビラン1.64f(α01モ
ル)及び1.4−ベンゾキノン5.41(α05モル)
を180℃で12時間加熱する。
、水分離器を用いて16時間還流下に保つ。混合物を冷
却し、そして沈殿物を炉去し、キシレンで洗浄する。収
i15.82 f(71%):融点253〜254°0 元素分析: C+、H* FsOt (分子t526−
57)として理論f!JX:C69,95H2,78F
17.47%実測値: C69,84H3[5F
17.38%6−(トリフルオロメチル)−1,4−
ナフトキノン5.65M(25ミリモル)、1.2−ジ
ブロモベンゾシクロブテン9.82y(約37ミリモル
:少量の2−ブロモ−1−ヨードベンゾシクロフQ
0 1.2−ジクロロベンゼン7d中の5−トリフルオロメ
チル−2−オキソ−2H−ビラン1.64f(α01モ
ル)及び1.4−ベンゾキノン5.41(α05モル)
を180℃で12時間加熱する。
次いで反応混合物を90°720 mbarで蒸発させ
、その蒸留残渣を150rのシリカゲル60上でりロマ
トグラフィに処する〔溶離剤cH2c14:アセトン(
19:1)、過剰圧(L3bar 〕。収[1,b2?
(8[153% )、融点80〜85°0の製造 操作は実施例1と同様であり、そして2−フルオロテト
ラセン−5,12−ジオンを1−オクタデカノールと反
応させ、得られた2−n−オクタデシルオキシテトラセ
ン−5,12−ジオンヲ還元的アシル化によって相当す
るジアセテートに変換し、後者の化合物をp−トルエン
スルホン酸の存在下でイオウと反応させて2−〇−オク
タテシルオキシテトラセン−5,6,11゜12−テト
ラチオテトラセンを生じさせる。個々の反応生成物は次
の特性値を有している。
、その蒸留残渣を150rのシリカゲル60上でりロマ
トグラフィに処する〔溶離剤cH2c14:アセトン(
19:1)、過剰圧(L3bar 〕。収[1,b2?
(8[153% )、融点80〜85°0の製造 操作は実施例1と同様であり、そして2−フルオロテト
ラセン−5,12−ジオンを1−オクタデカノールと反
応させ、得られた2−n−オクタデシルオキシテトラセ
ン−5,12−ジオンヲ還元的アシル化によって相当す
るジアセテートに変換し、後者の化合物をp−トルエン
スルホン酸の存在下でイオウと反応させて2−〇−オク
タテシルオキシテトラセン−5,6,11゜12−テト
ラチオテトラセンを生じさせる。個々の反応生成物は次
の特性値を有している。
2−n−オクタデシルオキシテトラセン−5゜12−ジ
オン マススペクトル M+=526; 融点 85−90℃: λmax <クロロホルム) : atO(sh)、3
9o。
オン マススペクトル M+=526; 融点 85−90℃: λmax <クロロホルム) : atO(sh)、3
9o。
516(sh)、296,286(sh)(nm):元
素分析(CおH41103として) %C%H%O 理論値 8109 &80 9.11実側値
82.26 a81 a9.7マススペクト
ル M =612; 融点 155−157℃; 元素分析(C4oHstOsとして) %C%H%0
理論値 ニアa39a551五〇5 実側値 : 7a50 a59 15.01マスス
ペクトルM−620;分裂は期待された構造に一致する
。
素分析(CおH41103として) %C%H%O 理論値 8109 &80 9.11実側値
82.26 a81 a9.7マススペクト
ル M =612; 融点 155−157℃; 元素分析(C4oHstOsとして) %C%H%0
理論値 ニアa39a551五〇5 実側値 : 7a50 a59 15.01マスス
ペクトルM−620;分裂は期待された構造に一致する
。
λmaX(’e2+4−トリクロロベンセン)二699
.644,472(nm) B、使用実施例 使用実施例では以下の質物を使用するニ−CH3 S□5 CHs +CHtすII CミC−CミC+CHt)
T−COOHS□S S□S 01Na れている。
.644,472(nm) B、使用実施例 使用実施例では以下の質物を使用するニ−CH3 S□5 CHs +CHtすII CミC−CミC+CHt)
T−COOHS□S S□S 01Na れている。
実施例I:
クロロホルム中の2−n−オクチルオキシ−5,6,1
1,12−テトラチオテトラセン1の溶液(cL57n
Ii/屑l)を調製する。この溶液をラングミュアトラ
フ(Langmuir trough )の水面上に一
定温度にて展開きせる。市販のラングミニアトラフ(M
GW Lauda社製:サイズ70X15Xα6c1n
;調製型)を用いる。サブ相はミIJ−Q−ユニット(
Ml 1i−Q unit/Mi 1lipore C
orp、製)(比抵抗ρ〉18MΩ、IM)を用いて更
に精製された一般的な脱イオン水である。必要ならばN
aHCO3(メルク社製、分析用グレード)を用いてp
H約68に調製した5 X 10−’ MのCdC1z
(メルク社製、純グレード)溶液も使用する。使用さ
れる溶媒は分光分析学的に品質の確かなものである。展
開後、単分子フィルム(monomolecularf
ilm)が生じそれは1.25α/分ので圧縮されるが
、フィルム圧(剪断圧)π[mN/m)は分子当りの面
積A [nm”/分子〕の関数として配録される〔剪断
−面積等温線(shear−area iso −th
erms ) 、 単分子層が得られ、それらの性質
は第1表中に掲けられている。
1,12−テトラチオテトラセン1の溶液(cL57n
Ii/屑l)を調製する。この溶液をラングミュアトラ
フ(Langmuir trough )の水面上に一
定温度にて展開きせる。市販のラングミニアトラフ(M
GW Lauda社製:サイズ70X15Xα6c1n
;調製型)を用いる。サブ相はミIJ−Q−ユニット(
Ml 1i−Q unit/Mi 1lipore C
orp、製)(比抵抗ρ〉18MΩ、IM)を用いて更
に精製された一般的な脱イオン水である。必要ならばN
aHCO3(メルク社製、分析用グレード)を用いてp
H約68に調製した5 X 10−’ MのCdC1z
(メルク社製、純グレード)溶液も使用する。使用さ
れる溶媒は分光分析学的に品質の確かなものである。展
開後、単分子フィルム(monomolecularf
ilm)が生じそれは1.25α/分ので圧縮されるが
、フィルム圧(剪断圧)π[mN/m)は分子当りの面
積A [nm”/分子〕の関数として配録される〔剪断
−面積等温線(shear−area iso −th
erms ) 、 単分子層が得られ、それらの性質
は第1表中に掲けられている。
実施例Il:
操作は実施例1の如くである。1は2−トリフルオロメ
チル−5,6,11,12−テトラチオテトラセン2に
!@換える。得られた単層の性質を第1表中に示す。
チル−5,6,11,12−テトラチオテトラセン2に
!@換える。得られた単層の性質を第1表中に示す。
実施例1:
操作は実施例1の如くである。1は2−n−オクタデシ
ルオキシ−5,6,11,12−テトラチオテトラセン
3に置き換える。得られた単層の性質は第1表中に示さ
れている。
ルオキシ−5,6,11,12−テトラチオテトラセン
3に置き換える。得られた単層の性質は第1表中に示さ
れている。
第 1 表
実施例■:
実施例1に従って調製した2−n−オクチルオキシ−5
,111,12−テトラチオテトラセン1の溶液を、異
なる組成の混合溶液(第2表参照)が生じるような方法
で、クロロホルム中のアラキン酸メチル4 (Fluk
a社製、最高純度グレード)の溶1(11nIi/1+
m、)と混合する。こnら溶atラングミュアトラスの
水面上に展開させる(実施例1のように)。生じた単分
子フィルムを1.25tyn/分の速度で圧縮し、そし
て実施例1と同様にして剪断−面積等温線を記録する。
,111,12−テトラチオテトラセン1の溶液を、異
なる組成の混合溶液(第2表参照)が生じるような方法
で、クロロホルム中のアラキン酸メチル4 (Fluk
a社製、最高純度グレード)の溶1(11nIi/1+
m、)と混合する。こnら溶atラングミュアトラスの
水面上に展開させる(実施例1のように)。生じた単分
子フィルムを1.25tyn/分の速度で圧縮し、そし
て実施例1と同様にして剪断−面積等温線を記録する。
これら単分子層の特性データは第2表中に対照表示され
ている。
ている。
第 2 表
実施例V:
操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4は2
−n−オクチルオキシテトラセン=5.12−ジオン5
(α64■/1クロロホルム)で置き換える。単層の特
性データを第3表に示す。
−n−オクチルオキシテトラセン=5.12−ジオン5
(α64■/1クロロホルム)で置き換える。単層の特
性データを第3表に示す。
第 3 表
実施例■:
操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4は、
クロロホルム中に溶解した5、12−ビスアセトキシ−
2−オクチルオキシテトラセン6で置き換え、そして1
と6の70:30(モル俤)の比率の混合溶液を刺具す
る。
クロロホルム中に溶解した5、12−ビスアセトキシ−
2−オクチルオキシテトラセン6で置き換え、そして1
と6の70:30(モル俤)の比率の混合溶液を刺具す
る。
圧潰(collapse )の時点で、そのフィルムは
フィルム圧π=47mN/m及び面積A=(128nm
”7分子を示す。
フィルム圧π=47mN/m及び面積A=(128nm
”7分子を示す。
実施例■:
実施例IVK記載されているように、2−n−オクチル
オキシ−5,6,11,12−テトラチオテトラセンユ
とアラキン酸メチル4の70:50(モル俤)の混合溶
液音調&し、ラングミュアトラフの水面上に展開させる
(実施例1のように)。形成された単分子膜を1.25
cm1分の速度で、フィルム圧が20mN/mに到達
するまで圧縮する。一定圧で、表面積の減少がみられな
くなる時点を待つ。続いてそのフィルムを、疏水性に註
1) した水晶プレート (12X25m)上にラングミュ
アプロジェット手法により移転する。単層を移転するの
にFL−Iフィルムリフト(FL−1Fi1mlift
/ MGW−Lauda社裂)を用いる。
オキシ−5,6,11,12−テトラチオテトラセンユ
とアラキン酸メチル4の70:50(モル俤)の混合溶
液音調&し、ラングミュアトラフの水面上に展開させる
(実施例1のように)。形成された単分子膜を1.25
cm1分の速度で、フィルム圧が20mN/mに到達
するまで圧縮する。一定圧で、表面積の減少がみられな
くなる時点を待つ。続いてそのフィルムを、疏水性に註
1) した水晶プレート (12X25m)上にラングミュ
アプロジェット手法により移転する。単層を移転するの
にFL−Iフィルムリフト(FL−1Fi1mlift
/ MGW−Lauda社裂)を用いる。
単層の移転速度は2〜5 cni /分である。得られ
る多層ViY−配向(Y−orientation )
を有し、色は青緑色である。20〜607@を適用する
。X線回折による調査は二層分離(double−1a
yerseparation ) doo+が4.22
nmであることを示す。
る多層ViY−配向(Y−orientation )
を有し、色は青緑色である。20〜607@を適用する
。X線回折による調査は二層分離(double−1a
yerseparation ) doo+が4.22
nmであることを示す。
註1)水晶プレートは最初H2S04(Merk社製、
分析用グレード)中のに、 5iO11(Fluka社
裂、最高純度グレード)の熱い溶液中で、次いで1o−
3M NaOH(Merk社製、分析用グレード)中
で清浄化し、そしてミリボア(Millipore )
処理水ですすぐ。次いでそれらをシリル化(オクタデシ
ルトリクロロシラン(メルク社製、98%)で処理)す
るか、アラキン酸カドミウム(Fluka社和、最高純
度グレード)の3層で予備コーティングするのかのどち
らかで疏水性にする。
分析用グレード)中のに、 5iO11(Fluka社
裂、最高純度グレード)の熱い溶液中で、次いで1o−
3M NaOH(Merk社製、分析用グレード)中
で清浄化し、そしてミリボア(Millipore )
処理水ですすぐ。次いでそれらをシリル化(オクタデシ
ルトリクロロシラン(メルク社製、98%)で処理)す
るか、アラキン酸カドミウム(Fluka社和、最高純
度グレード)の3層で予備コーティングするのかのどち
らかで疏水性にする。
実施例■:
操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4は5
.12−ビスアセトキシ−2−オクチルオキシテトラセ
ン6(a4111i/πlクロロホルム)で置き換える
。20ないし60の単層を適用する。その多層の吸収極
大は640,685及び760 nm である。
.12−ビスアセトキシ−2−オクチルオキシテトラセ
ン6(a4111i/πlクロロホルム)で置き換える
。20ないし60の単層を適用する。その多層の吸収極
大は640,685及び760 nm である。
実施例■:
操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4はア
ラキン#R7(Fluka社裂、最高糾変グレード)で
置き換える。用いるサブ相fi5X10−4M CdC
l2溶液(pH&8)Tある。20iいし60層全適用
する。その多層Vi620.670及び750 nmの
吸収極大を有する。
ラキン#R7(Fluka社裂、最高糾変グレード)で
置き換える。用いるサブ相fi5X10−4M CdC
l2溶液(pH&8)Tある。20iいし60層全適用
する。その多層Vi620.670及び750 nmの
吸収極大を有する。
実施例X:
操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4はペ
ンタコサ−10,12−ジイン酸8で置き換える。用い
られるサブ相は3X1G−4MCdCL、溶講(pH&
8)?ある。20〜60層を移転する。その多層は57
0.624.676及び750nmで吸収極大を示す。
ンタコサ−10,12−ジイン酸8で置き換える。用い
られるサブ相は3X1G−4MCdCL、溶講(pH&
8)?ある。20〜60層を移転する。その多層は57
0.624.676及び750nmで吸収極大を示す。
UV元(λ=254nm) 照射において、付加的な
吸収帯(additional ban−ds )が5
00と700 nmの間に現われる。
吸収帯(additional ban−ds )が5
00と700 nmの間に現われる。
実施例yJ:
操作は実施例■の如くである。1は2−トリフルオロメ
チル−5,6,11,12−テトラチオテトラセン2で
置き換える。20〜60層を適用する。その多層は71
4及び770nmの吸収極大を有する。
チル−5,6,11,12−テトラチオテトラセン2で
置き換える。20〜60層を適用する。その多層は71
4及び770nmの吸収極大を有する。
実施例XII:
層平面での導1!率測定のため、実施例■に従って多/
1s(3o層)を製造する。J¥−壁下(10−3〜1
o ’mbar )最上層の上に金電極全マスクを用い
て蒸着させる。これら金電極には金?a(go−1d
wire )と白金ペーストで通電する。ドーピングの
ために、サンプルをヨウ素で飽和したアルゴン雰囲気中
に1時間さらす。ヨウ素処理中、多層の色は青緑色から
褐色〜紫色(brown−vi。
1s(3o層)を製造する。J¥−壁下(10−3〜1
o ’mbar )最上層の上に金電極全マスクを用い
て蒸着させる。これら金電極には金?a(go−1d
wire )と白金ペーストで通電する。ドーピングの
ために、サンプルをヨウ素で飽和したアルゴン雰囲気中
に1時間さらす。ヨウ素処理中、多層の色は青緑色から
褐色〜紫色(brown−vi。
xet)(反射扶を観察するとき金属光沢がみられる)
に変化する。ドーピングの前後に導電率σを電位計(K
eithley社表)を用いて測定する。
に変化する。ドーピングの前後に導電率σを電位計(K
eithley社表)を用いて測定する。
ドーピング前後の特性データを第4表に示す。
実施例x■:
実施例■のようにして多層を製造する(50層)。サン
プルに通電し続いて実施例X]に記載されているように
、導′を率の変化を測定しながらドーピングする。ヨウ
素処理中、多層の色は1¥緑色から褐色〜紫色(反射−
ytSを観察するとき金属光沢がみられる)に変化する
。ドーピング前後の特性データを第4に示す。
プルに通電し続いて実施例X]に記載されているように
、導′を率の変化を測定しながらドーピングする。ヨウ
素処理中、多層の色は1¥緑色から褐色〜紫色(反射−
ytSを観察するとき金属光沢がみられる)に変化する
。ドーピング前後の特性データを第4に示す。
実施例X■:
実施例■のように多層(30層)を製造する。
それらには実施例刈VC記載されているように通・電す
る。ドーピングのために、続いてサンプルを、塩素[1
1%v/v含むアルゴンガス流にさらし、同時に導電率
を測定する。塩素処理中、多層の色は青緑色から青紫色
に、そして最終的に赤橙色に変わる。ドーピング前後の
多層の特性データを第4衣に示す。
る。ドーピングのために、続いてサンプルを、塩素[1
1%v/v含むアルゴンガス流にさらし、同時に導電率
を測定する。塩素処理中、多層の色は青緑色から青紫色
に、そして最終的に赤橙色に変わる。ドーピング前後の
多層の特性データを第4衣に示す。
実施例x■:
実施例Aのようにして多11”!? (50rm )を
製造する。それらに通電し、実施例店に記載されている
ように導1!率の変化を測定しながらヨウ素でドーピン
グする。ヨウ素処理中、多層はその色を青緑色から褐色
〜紫色(反射光を観察するとき金属光沢がみられる)へ
と変える。ドーピング前後の特性データは第4表にまと
めである。
製造する。それらに通電し、実施例店に記載されている
ように導1!率の変化を測定しながらヨウ素でドーピン
グする。ヨウ素処理中、多層はその色を青緑色から褐色
〜紫色(反射光を観察するとき金属光沢がみられる)へ
と変える。ドーピング前後の特性データは第4表にまと
めである。
第 4
表
本最大値;空気中で又は非常に長いハロゲン処理により
σは減少する。
σは減少する。
実施例X■:
1の混合多層を実施例■に従って製造する。
サブ相として、稲々の濃度(第5表参照)のK13(I
CN Biomedical Inc、 裂)水溶液を
用いる。
CN Biomedical Inc、 裂)水溶液を
用いる。
10〜60の単層を移転する。単Nj1は紫色(vio
let ;K1.濃度が77−5X10−4より大きい
とき)で反射光中に観察される金属光沢を有している。
let ;K1.濃度が77−5X10−4より大きい
とき)で反射光中に観察される金属光沢を有している。
これら多層の分光分析データを第5表に掲げる。
第 5 表
及び分光分析データは第6表中に見ることができる。
第 6 表
実施例X■:
実施例■に従って1の混合子J@を製造する。
用いるサブ相は10−3M Kl、溶液である。50J
f1を適用する。その多層は紫色である。実施例X■に
記載されているように金電極を用いて通電し、連続的に
導電率を測定する。次いでサンプルを飽和ヨウ素/アル
ゴン雰囲気にさらすと、その間、多層の色は紫色から褐
色へと変化し、また導11率は増加する。これら多層の
導電率データ本空気中、+5℃で82日間貯蔵後 実施例X■: 実施例■のように30層を適用して多層全製造する。続
けてサンプルをs、s x 1o 4M KI3水溶
液中に15時間浸漬すると、その間に多層の色は青緑色
から橙褐色に変わる(UV/v■s吸収: 402,4
80及び560 nm )。
f1を適用する。その多層は紫色である。実施例X■に
記載されているように金電極を用いて通電し、連続的に
導電率を測定する。次いでサンプルを飽和ヨウ素/アル
ゴン雰囲気にさらすと、その間、多層の色は紫色から褐
色へと変化し、また導11率は増加する。これら多層の
導電率データ本空気中、+5℃で82日間貯蔵後 実施例X■: 実施例■のように30層を適用して多層全製造する。続
けてサンプルをs、s x 1o 4M KI3水溶
液中に15時間浸漬すると、その間に多層の色は青緑色
から橙褐色に変わる(UV/v■s吸収: 402,4
80及び560 nm )。
該多層に、実施例■に記載されているように金電極を用
いて通電し、次いで層平面での電導率を電位計(Kei
thley社製)を用いて測定する。
いて通電し、次いで層平面での電導率を電位計(Kei
thley社製)を用いて測定する。
続けてそのサンプルをヨウ素飽和アルゴン雰囲気にさら
し、導電率を再測定する。
し、導電率を再測定する。
6 (KID) : 1.52X10 ’
5crn’σ(KI3 + 12): 4j9X
10−JSn「’実施例XX:2−n−オクチルオキシ
−5,6111,12−テトラチオテトラセン 1とアラキン酸メチル4からの混 付LB多層の製造 1のクロロホルム溶液(約(15■/ad )を調製し
、そしてアラキン酸メチル4のクロロホルム溶液(約1
■74a)と混合して、1:4が70:30(モル係)
の混合溶液を作る。この溶液を実施例1と同様にしてラ
ングミュアトラフの水面上に一定温度(T−15℃)で
展開させる。展開後、単分子フィルムが生じ、それを約
1.25 am1分の速度で、フィルム圧がπ=2om
N/mに到達するまで圧縮する。
5crn’σ(KI3 + 12): 4j9X
10−JSn「’実施例XX:2−n−オクチルオキシ
−5,6111,12−テトラチオテトラセン 1とアラキン酸メチル4からの混 付LB多層の製造 1のクロロホルム溶液(約(15■/ad )を調製し
、そしてアラキン酸メチル4のクロロホルム溶液(約1
■74a)と混合して、1:4が70:30(モル係)
の混合溶液を作る。この溶液を実施例1と同様にしてラ
ングミュアトラフの水面上に一定温度(T−15℃)で
展開させる。展開後、単分子フィルムが生じ、それを約
1.25 am1分の速度で、フィルム圧がπ=2om
N/mに到達するまで圧縮する。
一定圧で、面積の減少がそれ以上みられなくなる時点1
で待つ。続いてそのフィルムをラングミエアブロジェッ
ト手法によりITOガラスプレート″″2)上に移転す
る。単層の移転のためにFL−1フイルムリフト(FL
−I Fi1mlift/MGW−Lauda社製)
を用い、浸漬速度は2〜3譚/分である。適用された多
層は15層の厚さとY配向及び青緑色を有する。七C特
性データは第7表に掲げられている。
で待つ。続いてそのフィルムをラングミエアブロジェッ
ト手法によりITOガラスプレート″″2)上に移転す
る。単層の移転のためにFL−1フイルムリフト(FL
−I Fi1mlift/MGW−Lauda社製)
を用い、浸漬速度は2〜3譚/分である。適用された多
層は15層の厚さとY配向及び青緑色を有する。七C特
性データは第7表に掲げられている。
註2)片面にインジウム/錫オキシド(ITO)iコー
ティングしたカラスプレート;製造者:Balzers
社、リヒテンシェタイン;清浄化のためにITOカラス
プレート(11X18X10)はクロロホルム中で超音
波処理される。この処理中、溶媒は暖めないことが重要
であり、さもなくばITO層が破壊される。
ティングしたカラスプレート;製造者:Balzers
社、リヒテンシェタイン;清浄化のためにITOカラス
プレート(11X18X10)はクロロホルム中で超音
波処理される。この処理中、溶媒は暖めないことが重要
であり、さもなくばITO層が破壊される。
実施例XX:導電塩としてLiCLO<を用いる1とア
ラキン酸メチル4のLB多層の電気 化学的酸化及び還元 実施例XIXのように製造された多層を”ミIJボア処
理水(Mi 111pore water )”中のL
iC104(Fluka社製、純グレード)の10−3
モル溶液に浸漬し、電気分解を受けさせる。多層を陰極
として接続し、対向電極には同様に溶液中に浸漬した金
線を用いる。金線と多層との間の距離は約2のである。
ラキン酸メチル4のLB多層の電気 化学的酸化及び還元 実施例XIXのように製造された多層を”ミIJボア処
理水(Mi 111pore water )”中のL
iC104(Fluka社製、純グレード)の10−3
モル溶液に浸漬し、電気分解を受けさせる。多層を陰極
として接続し、対向電極には同様に溶液中に浸漬した金
線を用いる。金線と多層との間の距離は約2のである。
用いた直流電源は、Kikusui社製の本体エユント
(モデルPA81B−1A )である。電圧(CLlな
いし2.OV)の適用により、電流が流れ、多層中の供
与体分子1は酸化される。その酸化を分光測定的にモニ
ターする(第註5) 7表) 。低電圧([11ないしα4v)で紫色の遊
廃基陽イオン(λmax = 576nm )が生じ、
高電圧(〉α4V)で吸収極大425nmの二価陽イオ
ンが生じる。酸化が完了した時に極性が変化したならば
中性のTTT分子のUV/V I Sスペクトルが再び
得られる。
(モデルPA81B−1A )である。電圧(CLlな
いし2.OV)の適用により、電流が流れ、多層中の供
与体分子1は酸化される。その酸化を分光測定的にモニ
ターする(第註5) 7表) 。低電圧([11ないしα4v)で紫色の遊
廃基陽イオン(λmax = 576nm )が生じ、
高電圧(〉α4V)で吸収極大425nmの二価陽イオ
ンが生じる。酸化が完了した時に極性が変化したならば
中性のTTT分子のUV/V I Sスペクトルが再び
得られる。
註3)分光分析測定の前に、基板の非導電性背面上の多
層は除かれる。
層は除かれる。
実施例XX: 導電性塩としてドデシル硫酸ナトリウ
ムを用いる1とアラキン酸メ チル4のLB多層の電気化学的酸 化及び還元 実施例XIXのようにして製造された多層を実施例XX
に記載されているように電気化学的に酸化する。その操
作は、LiC4O4溶液をドデシル硫酸ナトリウム(M
erck社製、生化学目的及び表面活性剤研究用)の1
ミリボア処理水の10−3モル溶液(pH=9.5)に
代えることにより一部変更される。電気化学的に処理し
た多層のUV/VI5分光分析データは第7表に掲げら
れている。非導電性背面上の多層は分光分析測定前に除
去する。
ムを用いる1とアラキン酸メ チル4のLB多層の電気化学的酸 化及び還元 実施例XIXのようにして製造された多層を実施例XX
に記載されているように電気化学的に酸化する。その操
作は、LiC4O4溶液をドデシル硫酸ナトリウム(M
erck社製、生化学目的及び表面活性剤研究用)の1
ミリボア処理水の10−3モル溶液(pH=9.5)に
代えることにより一部変更される。電気化学的に処理し
た多層のUV/VI5分光分析データは第7表に掲げら
れている。非導電性背面上の多層は分光分析測定前に除
去する。
その分光分析データは、1が電気化学的に酸化もしくは
還元されることを示す。
還元されることを示す。
実施例XX:導電塩としてジケトビロロヒロールジスル
ホン酸ナトリウム(DPP ジスルホネート)を用いる1とア ラキン酸メチル4のLB多層の電 気化学的酸化 実施例X■のように製造された多層を実施例XXに記載
されているようにして電気化学的に酸化する。操作はL
iC2O4溶液を”ミリポア処理水″中のDPPジスル
ホネートの10−4モル溶液に代えることにより一部変
更する。電気化学的に処理した多層のUV/V I S
分光分析データは第7表中に掲げられている。基板の非
導電性背面上の多層は分光分析測定前に除去する。分光
分析データは1が電気化学的に酸化されることを示す。
ホン酸ナトリウム(DPP ジスルホネート)を用いる1とア ラキン酸メチル4のLB多層の電 気化学的酸化 実施例X■のように製造された多層を実施例XXに記載
されているようにして電気化学的に酸化する。操作はL
iC2O4溶液を”ミリポア処理水″中のDPPジスル
ホネートの10−4モル溶液に代えることにより一部変
更する。電気化学的に処理した多層のUV/V I S
分光分析データは第7表中に掲げられている。基板の非
導電性背面上の多層は分光分析測定前に除去する。分光
分析データは1が電気化学的に酸化されることを示す。
実施例XXI[l : 1とアラキン酸メチル4のLB
多層上でのサイクリックポルタンメ ト リ −(Cyclic voltarrrnet
ry )実施例X■のように製造されたLBフィルム
をCL1モルのドデシル硫酸ナトリウム溶液中に浸漬し
、サイクリックポルタンメトリーを受けさせる。ドテシ
ル硫酸ナトリウム(SDS)溶液は、三回蒸留した窒素
飽和水中の95%エタノールから再結晶されたSDSを
溶解することにより調製される。サイクリックポルタン
メトリーはPAR社製の装置(モデル273)を用いて
行なわれる。使用される参照電極はSDS溶液中に浸漬
したAg/Ag @極である。1の遊離基陽イオン状
態への多層の酸化は一238mVの電位で、また二価陽
イオン状態へは+173 mVの電位で行なわ几る。酸
化と還元は何回でも逆にすることができる。120サイ
クル後、遊離基陽イオンへの酸化用の最初のピーク電流
の1/3がまだ測定され得る。最大ピーク電流は10サ
イクル状態層の後で到達する。
多層上でのサイクリックポルタンメ ト リ −(Cyclic voltarrrnet
ry )実施例X■のように製造されたLBフィルム
をCL1モルのドデシル硫酸ナトリウム溶液中に浸漬し
、サイクリックポルタンメトリーを受けさせる。ドテシ
ル硫酸ナトリウム(SDS)溶液は、三回蒸留した窒素
飽和水中の95%エタノールから再結晶されたSDSを
溶解することにより調製される。サイクリックポルタン
メトリーはPAR社製の装置(モデル273)を用いて
行なわれる。使用される参照電極はSDS溶液中に浸漬
したAg/Ag @極である。1の遊離基陽イオン状
態への多層の酸化は一238mVの電位で、また二価陽
イオン状態へは+173 mVの電位で行なわ几る。酸
化と還元は何回でも逆にすることができる。120サイ
クル後、遊離基陽イオンへの酸化用の最初のピーク電流
の1/3がまだ測定され得る。最大ピーク電流は10サ
イクル状態層の後で到達する。
ドープ化多層の電気化学的酸化及
び還元
LB多層を実施例X■に従い、33単層の層厚で製造す
る。そのLB多層をヨウ素飽和アルゴン雰囲気に2時間
さらすと、その間に二価陽イオンへとかわる1の酸化が
起こる。続けてその多層を実施例XXに記載されている
ように電気化学的に還元し、再び酸化し、そして還元す
る。このことは各場合においてITO−被覆ガラスプレ
ートを陽極として、次いで陰極として、そして再び陽極
として接続させることにより行なわれる。各場合電圧は
2vである。起きているのが酸化であるか還元であるか
を検知するために、基板の非導電性背面の多層をぬぐい
去り、ITO側でUV/V I S公党分析により多層
を測定する。
る。そのLB多層をヨウ素飽和アルゴン雰囲気に2時間
さらすと、その間に二価陽イオンへとかわる1の酸化が
起こる。続けてその多層を実施例XXに記載されている
ように電気化学的に還元し、再び酸化し、そして還元す
る。このことは各場合においてITO−被覆ガラスプレ
ートを陽極として、次いで陰極として、そして再び陽極
として接続させることにより行なわれる。各場合電圧は
2vである。起きているのが酸化であるか還元であるか
を検知するために、基板の非導電性背面の多層をぬぐい
去り、ITO側でUV/V I S公党分析により多層
を測定する。
データは第8表に掲げられている。それらは、ヨウ素で
化学的にドープ化されたサンプルが電気化学的に還元さ
れ、再酸化され、そして還元されることを示している。
化学的にドープ化されたサンプルが電気化学的に還元さ
れ、再酸化され、そして還元されることを示している。
第7表:
実施例XIXないしXXII T製造された中性の心電
気化学的に酸化さtた形態の、1とアラキン酸メチル4
との多層の特性データ * フィリップスパウダー回折機(Ph1lips p
owd −er diffractometer )に
よるX線研究で測定された二層分離。−船釣に3回の反
射を観察した。
気化学的に酸化さtた形態の、1とアラキン酸メチル4
との多層の特性データ * フィリップスパウダー回折機(Ph1lips p
owd −er diffractometer )に
よるX線研究で測定された二層分離。−船釣に3回の反
射を観察した。
木本 吸収帯はしばしは非常に広く、それは波長の極大
の正確な割撮りが内鑵であることを意味する。
の正確な割撮りが内鑵であることを意味する。
木本* ε値は全てのサンプルについて、4.160m
の仮想d0゜+IIIIに基づいて計算された。
の仮想d0゜+IIIIに基づいて計算された。
第8表:
Claims (13)
- (1)次式 I ▲数式、化学式、表等があります▼ ( I ) 〔式中、 XはS又はSeを表わし、 R^1は炭素原子数1ないし30のアルキル基、−CF
_3、−O−R^3、−S−R^3又は−CO−O−R
^3を表わし、 R^2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキル
基、−CF_3、−O−R^3、−S−R^3又は−C
O−O−R^3を表わし、そして R^3は炭素原子数1ないし30のアルキル基又は部分
的にもしくは飽和的にフッ素化された炭素原子数1ない
し30のアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物を含む単層又は多層系。 - (2)ラングミュアプロジェット法(LBプロセス)に
より固体支持材上へ移転することによって得られる、式
I で表わされる化合物を含む単分子層又は単分子層の
連続である請求項1記載の系。 - (3)XがSを表わす請求項1記載の系。
- (4)R^1が−O−R^3を表わし、そしてR^2が
水素原子を表わす請求項5記載の系。 - (5)R^1が−CF^3を表わし、そしてR^2が水
素原子を表わす請求項3記載の系。 - (6)R^3が炭素原子数3ないし18のアルキル基を
表わす請求項1記載の系。 - (7)式 I で表わされる化合物1〜95モル%と共に
更に単分子フィルムを安定化できる両親媒性化合物を含
む複合フィルムから成る請求項2記載の系。 - (8)式 I で表わされる化合物と、長鎖飽和カルボン
酸の塩、長鎖不飽和酸の塩、これら酸のメチルエステル
又は次式XIIIもしくはXIV ▲数式、化学式、表等があります▼ (XIII), ▲数式、化学式、表等があります▼ (XIV) 〔式中、R^3は請求項1で定義された意味を表わす〕 で表わされる化合物との混合層からなる請求項2記載の
系。 - (9)i)請求項1記載の式 I で表わされる化合物か
らの、又は式 I で表わされる化合物に下 記層を安定化できる他の両親媒性化合物を 配合した混合物からの単分子層の製造工程、ii)ラン
グミュアプロジェット法による浸漬と退去によるか、或
は上記層を通して下記 支持材を1回又は数回浸漬又は退去するこ とによる固体支持材上への上記層の移転工 程、及び iii)形成された単層又は多層系を、式 I で表わさ
れる化合物を酸化させる該化合物用電 子受容体を含む水溶液に接触させる工程 からなる導電性単層又は多層系の製造方法 - (10)上記単分子層を製造するためのサブ相が、水/
空気界面において式 I で表わされる化合物と供与体−
受容体錯体を形成する電子受容体を含む請求項9記載の
工程i)及びii)からなる導電性単層又は多層系の製
造方法。 - (11)請求項9記載の工程i)及び ii)その層を通して前記支持材を1回又は1回以上浸
漬することによる、導電性表面を 有する支持材上への該層の移転、及び iii)対向電極も同じく浸漬される電解溶液中に上記
支持材を浸漬し、電位適用中は支持 材を陰極とし、電解質からの対イオンの加 入で層系中の式 I で表わされる化合物を酸 化することによる上記層系の電気化学的酸 化 の各工程からなる導電性単層又は多層系の製造方法。 - (12)式 I で表わされる化合物を含むLB層で被覆
されそして導電性表面を有する支持材を、対向電極も同
じく浸漬される電解質溶液中に浸漬し、そして上記支持
材を陰極又は陽極として電位を適用し、式 I で表わさ
れる化合物を酸化するか又は酸化形態の式 I で表わさ
れる化合物を還元することからなる請求項1記載の式1
で表わされる化合物又は酸化形態の該化合物を含むLB
層系の可逆的な電気化学的酸化又は還元方法。 - (13)請求項1記載の式 I で表わされる化合物と電
子受容体の供与体−受容体錯体を含んでいる導電性単層
又は多層系。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH200888 | 1988-05-27 | ||
CH2008/88-0 | 1989-05-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0251537A true JPH0251537A (ja) | 1990-02-21 |
Family
ID=4223750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1134440A Pending JPH0251537A (ja) | 1988-05-27 | 1989-05-26 | 電気活性超薄層 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5108841A (ja) |
EP (1) | EP0344108A3 (ja) |
JP (1) | JPH0251537A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006199682A (ja) * | 2004-12-14 | 2006-08-03 | Mitsubishi Chemicals Corp | ポリアセン化合物及びその製造方法、並びにそれを用いた有機電子デバイス |
JP2012001463A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Okayama Univ | ヘキサチアペンタセン化合物及びその製造方法、並びにそれからなる光触媒 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2032222T3 (es) * | 1987-04-03 | 1993-01-16 | Ciba-Geigy Ag | Polimeros y compustos de moldeo antiestaticos y conductores de la electricidad. |
DE58903321D1 (de) * | 1988-05-27 | 1993-03-04 | Ciba Geigy Ag | Substituierte bisacyloxynaphtacene und verfahren zur herstellung von tetrathiotetracenen. |
EP0450862B1 (en) * | 1990-03-27 | 1999-06-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Organic thin film element |
DE59203441D1 (de) * | 1991-07-02 | 1995-10-05 | Ciba Geigy Ag | Radikalkationensalze von Tetrathiotetracen und Kupferchlorid, deren Herstellung und deren Verwendung. |
EP0554219A1 (de) * | 1992-01-29 | 1993-08-04 | Ciba-Geigy Ag | Kunststoffzusammensetzung mit Charge-Transfer Komplexen, deren Herstellung und deren Verwendung |
US5518767A (en) * | 1993-07-01 | 1996-05-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Molecular self-assembly of electrically conductive polymers |
DE69918042T2 (de) * | 1998-12-11 | 2005-01-27 | The Morgan Crucible Co. Plc., Windsor | Verfahren zur Behandlung keramischer Oberflächen |
US20040004433A1 (en) * | 2002-06-26 | 2004-01-08 | 3M Innovative Properties Company | Buffer layers for organic electroluminescent devices and methods of manufacture and use |
NO321280B1 (no) * | 2004-07-22 | 2006-04-18 | Thin Film Electronics Asa | Organisk, elektronisk krets og fremgangsmate til dens fremstilling |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3403165A (en) * | 1963-11-19 | 1968-09-24 | American Cyanamid Co | Tetrathiotetracene ion-radical salts |
US3636048A (en) * | 1970-07-15 | 1972-01-18 | American Cyanamid Co | Chloronaphtho dithiole compounds and a method for their preparatio |
CH612964A5 (ja) * | 1975-09-19 | 1979-08-31 | Ciba Geigy Ag | |
US4522754A (en) * | 1982-11-12 | 1985-06-11 | Ciba Geigy Corporation | Metallically conducting (2-fluoro-5,6,11,12-tetraselenotetracene)2 -bromide |
JPS608267B2 (ja) * | 1982-11-30 | 1985-03-01 | 株式会社東芝 | 電気発色表示素子 |
US4601853A (en) * | 1984-02-13 | 1986-07-22 | Ciba-Geigy Corporation | (2-fluoro-5,6,11,12-tetraselenotetracene)2 chloride |
CH662567A5 (de) * | 1984-03-23 | 1987-10-15 | Ciba Geigy Ag | In 2-stellung substituiertes 5,6,11,12-tetrathio- und 5,6,11,12-tetraselenotetracene, verfahren zu ihrer herstellung und ihre verwendung. |
FR2564231B1 (fr) * | 1984-05-10 | 1986-09-05 | Commissariat Energie Atomique | Films conducteurs de l'electricite comprenant au moins une couche monomoleculaire d'un complexe organique a transfert de charge et leur procede de fabrication |
US4871236A (en) * | 1985-09-18 | 1989-10-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Organic thin film display element |
CH664963A5 (de) * | 1985-10-18 | 1988-04-15 | Ciba Geigy Ag | Difluorierte (5,6,11,12-tetraselenotetracen)2-halogenide, verfahren zu deren herstellung und deren verwendung. |
ES2032222T3 (es) * | 1987-04-03 | 1993-01-16 | Ciba-Geigy Ag | Polimeros y compustos de moldeo antiestaticos y conductores de la electricidad. |
-
1989
- 1989-05-17 EP EP19890810359 patent/EP0344108A3/de not_active Withdrawn
- 1989-05-22 US US07/355,219 patent/US5108841A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-26 JP JP1134440A patent/JPH0251537A/ja active Pending
-
1991
- 1991-09-03 US US07/753,506 patent/US5158829A/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006199682A (ja) * | 2004-12-14 | 2006-08-03 | Mitsubishi Chemicals Corp | ポリアセン化合物及びその製造方法、並びにそれを用いた有機電子デバイス |
JP2012001463A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Okayama Univ | ヘキサチアペンタセン化合物及びその製造方法、並びにそれからなる光触媒 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0344108A3 (de) | 1991-03-27 |
EP0344108A2 (de) | 1989-11-29 |
US5158829A (en) | 1992-10-27 |
US5108841A (en) | 1992-04-28 |
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