JPH0251537A - 電気活性超薄層 - Google Patents

電気活性超薄層

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JPH0251537A
JPH0251537A JP1134440A JP13444089A JPH0251537A JP H0251537 A JPH0251537 A JP H0251537A JP 1134440 A JP1134440 A JP 1134440A JP 13444089 A JP13444089 A JP 13444089A JP H0251537 A JPH0251537 A JP H0251537A
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formula
layer
compound
multilayer
monolayer
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JP1134440A
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English (en)
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Alex Wegmann
ヴェークマン アレックス
Bernd Tieke
ベルント ティーケ
Carl W Mayer
カール ヴェー.マイヤー
Bruno Hilti
ブルーノ ヒルティ
Walter Fischer
フィッシャー ヴァルター
Wolfgang Wernet
ウォルフガング ヴェルネット
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Novartis AG
Original Assignee
Ciba Geigy AG
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Publication date
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    • B05D1/18Processes for applying liquids or other fluent materials performed by dipping
    • B05D1/20Processes for applying liquids or other fluent materials performed by dipping substances to be applied floating on a fluid
    • B05D1/202Langmuir Blodgett films (LB films)
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテトラチオテトラセン誘導体(TTT誘導体)
又はテトラセレノテトラセン誘導体(TSeT誘導体)
の単層又は多層、それらを製造するための選択されたプ
ロセス、及び又は電極として又はセンナとして電子部品
を製造するための上記層系の使用に関する。
〔従来の技術・発明が解決しようとする課題〕2−7に
;ItローTSeTはEP−A−109,360及び−
154905から知られている。この化合物は、低温で
金属様の導電率を示す臭素又は塩素錯体を製造するのに
使用できる。
TTTの又tiTseTの2−カルボン酸エステル又は
2.3−ジカルボン酸エステルはDE−A−3,51Q
、092から知られている。該化合物は官能基によって
ポリマー中に混入できる。更にこれら誘導体から又はこ
れら誘導体を含むポリマーから、電子受容体でドーピン
グすることにより導電性の電荷転移錯体(charge
−transfer com−plexes )を製造
できる。これら錯体を含むポリマーは良好な光導電性に
ついて注目されている。
電気活性単層又は多層系はラングミュアプロジェット法
(Langmuir−Blodgett proces
s:LBプロセス)によりある種のフタロシアニン誘導
体から製造できることはAngew、 chem、第9
8巻、第1114頁(1986年)から知られている。
ステアリン酸カドミウムと混合されたヨウ素ドープ化α
−キンケチオフエン(1odine−dopedα−q
uinquethiophene )で組成された導電
性LB多層は5ynth−Met、第16巻第17頁(
1986年)に記載されている。
テトラキス(クミルフェノキシ)フタロシアニンで組成
されたヨー素ドープ化LB多層は導電性であることがL
angmuir第2巻第513頁(1986年)から知
られている。
今になって、TTT又はTSeT誘導体が単分子層を形
成すること、これらの層をLBプロセスによって固体支
持材に移転できること及びこれらの層系はドープ化され
た状態で導電性であることが見い出された。
更にドープ化LB系についての製造方法が見い出され、
その方法ではドーピングが単分子膜中で行なわれまたそ
の後でのみLB系が作られるか、或はその方法では単層
又は多層のドーピングが水溶性ドーピング剤(dopa
nt )と接触させることによシ行なわれる。
本発明は次式I ’x−x 〔式中、 XはS又はSeを表わし、 R1は炭素原子数1ないし50のアルキル基、−CF、
、−0−R3、−5−R3又は−Co−0−R”を表わ
し、R2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキ
ル基、−CFl、−0−R3、−3−R3又は−CO−
O−R3を表わし、そして R3は炭素原子数1ないし3Gのアルキル基又は部分的
にもしくは飽和的にフッ素化された炭素原子数1ないし
30のアルキル基を表わす〕で表わされる化合物を含む
単層又は多層系に関する。
言葉1単層又は多層系”は、−薄層状態の又は多数の薄
層の連続した状態の、弐■の化合物を含むいかなる配列
をも意味するものとして、まさしく−船釣に理解される
べきである。本明細書内において、“薄層”は分子の1
がいし数層の厚さを有する層の意味で理解されるべきで
ある。
そのような層系は例えば、式1の化合物を含んでいるい
わゆる1キヤストビレイヤー(castbilayer
 ) ’フィルムといえる。この手法は例えば、クニタ
ケら(T、 Kunitake et al )による
[Th1n 5olid Films J第121巻第
189〜91頁(1984年)及びシモムラら(M、 
Shimomuraet al )による[Ber−B
unsenges、 Phys、 Chem、 J第8
7巻、第1134〜43頁(1983年)に記載されて
いる。
そのような単層又は多層系は好ましくは式■で表わされ
る化合物を含む単分子層又は複数の単分子層の連VC(
5equences of monomolecula
rlayers )であり、それらはラングミユア プ
ロジェッ)法(LBプロセス)による固体支持材への移
転(transfer )により得ることができる。
どの基であれアルキル基であるならば、それらは直鎖又
は枝分れ基であってよい。直鎖基が好ましい。更にアル
キル基は1−位には存在しないトランス二重結合又は三
重結合を含んでいてよい。複数のトランス二重結合又は
三重結合は遊離した又は互に共役した状態にあってよい
アルキル基の例としては特にメチル基、エチル基、n−
プロピル基、イノプロピル基、n−ブチル基、イノブチ
ル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル
基、n−オクチル基、2−エチルヘキシル基、n−ノニ
ル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル
基、n−)リゾシル基、n−テトラデシル基、n−ペン
タデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基
、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基% n−エイ
コシル基、n−ヘンエイコシルk、n−トコシル基、ロ
ーテトラコシル基、n−へキサコシル基、n−オフタコ
シル基及びn−)リアコンチル基又はアリル基、グロバ
ルギル基、オクタデカ−9−トランスーエニル基及ヒペ
ンタコ?−10,12−シイニル基が挙ケラれる。
パーフルオロアルキル基は1ないし12の炭素原子を有
するものが好ましい。
式■で表わされる化合物の幾つかは知られている。した
がって、XがS又はSeを表わし R1が−Co−0−
R3を表わし、R2が水素原子又は−CO−0−R3を
表わしそしてR3が上記定義の意味を表わす式!で表わ
される化合物はDE−A−4510,092に記載され
ている方法と同様な方法で製造することができる。
XがSを表わし、R1がアルキル基、−CF、、−0−
R3又は−5−R3を表わしセしてR2が水素原子、ア
ルキル基、CF8、−0−R3又は−5−R3を表わす
式1で表わされる化合物は次の図式により得ることがで
きる: (I[D 0−C−CI(。
(M 〔式中、Rはアルキル基、−CF、、−0−R3又は−
5−R3を表わし、Rbは水素原子、アルキル基、−C
F、、−0−R3又は−5−R3を表わす〕。
テトラセンキノン■の還元的アシル化はこの場合例えば
無水酢酸、酢酸カリウム、及び酢酸エチルのような極性
非プロトン性溶媒の存在下、亜鉛末と反応させることに
より行なわれる。反応■において還元剤は概して僅かに
化学量論的に過剰に、例えば1モルの■に対して2〜4
モルの量で用いられる。
相当するTTT誘導誘導体製造するだめのビスアセトキ
シ化合物■の反応(反応■)は、芳香族スルホン酸例え
ばパラトルエンスルホン酸のような酸触媒の存在下で化
合物mとイオウを加熱することにより都合よく行なわれ
る。反応は一般的に化合物■にとって不活性の有機溶媒
中で行なわれる。それらの例はジクロロベンゼン又ハト
リクロロベンゼンのようなノ・ロゲン化芳香族炭化水素
である。反応■において、イオウは一般的に過剰に用い
られまた反応はそれぞれの溶媒の還流下で好ましく行な
われる。
XがSeを表わし、そしてR1及びRzがそれぞれ上記
でRa及びRbについて定義された意味を表わす式!で
表わされる化合物は次の図式によって得ることができる
(■)0 (Vl) S e −S e (■) テトラキノン…から相当するテトラセンvへの還元は、
化合物■を過剰の還元剤例えば亜鉛末と反応させること
Kよるそれ自体公知の方法で行なうことができる。その
反応は氷酢酸と酢酸カリウムの混合物中で好1しく行な
われる。
相当するジクロロ−又はテトラクロロテトラセン■を製
造するためのテトラセン誘導体Vの反応は、それ自体公
知の方法で化合物Vと塩化スルフリルを反応させること
により行なうことができる。同様化合物についてのその
ような反応の例はEP−A−109,360に見い出さ
れる。
TSeT誘導体■を製造するための化合物■の反応もま
た公知方法と同様にして行なうことができる。この目的
のために式■で表わされる化合物はセレンの存在下で加
熱される。そのような反応の例はEP −A−109,
306中にも見い出される。
次式Ua 〔式中、Rは−0−R3又は−3−R3を表わし、Rd
はRcについて定義された意味を表わすか水素原子を表
わし、そしてR1は上記定義の意味を表わす〕 で表わされる化合物は2−フルオロ−又は2,5−ジフ
ルオロテトラセン−5,12−ジオンから、炭酸カリウ
ムの存在下R”−OB又はR3−5Rと反応させること
により得ることができる。反応は一般的に極性非プロト
ン性溶媒、例えばジメチルスルホキシド中で行なわれる
。出発物質2−フルオロテトラセン−5,12−ジオン
HEP−A −154905から知られている。2.3
−ジフルオロ誘導体は2−フルオロ誘導体と同様にして
フルオロベンゼンの代わりに1.2−ジフルオロベンゼ
ンを用いることにより製造することができる。
次式nb 〔式中、Rはアルキル基を表わしそしてRfは水素原子
又はアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物は、アルキル−又は1,2−ジアル
キルベンゼンのナフタレン−2,5−ジカルボン酸無水
物によるフリーデルクラフトアシル化(Fr1edel
−Crafts acylation )及び続く環化
により得ることができる。
アルキルベンゼンの代わリニフルオロベンゼンを用いる
同様の連続反応の例はEP−A−109゜360に見ら
れる。
下記式Dc C式中、Rgは水素原子、アルキル基又は
−CF、を表わす〕で表わされる化合物は次の図式 %式% と相当する置換1,4−ナフトキノン■を反応させるこ
とにより得ることができる。
式■で表わされる化合物は1,4−ベンゾキノンと次式
X 〔式中、Rgは上記定義の意味を表わす〕で表わされる
α−ピロンとのディールス−アルダ−反応(Diels
−Alder reaction )により得ることが
できる。
Rgが水素原子又は−CF、を表わす式Xで表わされる
化合物はそれ自体公知の方法でα−ピロン−5−カルボ
ン酸又ハα−ピロン−4,5−ジカルボン酸ジエステル
とSF4/HFを反応させることにより製造することが
できる。α−ピロン出発物質は例えばUS −A−4,
617,151中に記載されている。〜。
Rgがアルキル基を表わす式Xで表わされる化合物は、
US −A−4,617,151に記載されている方法
と同様にして強無水酢酸好1しくは無水ギ酸の存在下で
次式X (式中、R4、R8及びR6はアルキル基を表わす〕で
表わされる化合物を環化し、続いてSF4/HFを用い
て−COOR4基をCF3 K変換することにより得る
仁とができる。
式Xで表わされる化合物はUS−A−4,61乙151
から知られている方法と同様にしてギ酸エステk HC
OOR’ t−T i CA4 (2) 存在下、次式
X■R’0OC−CH2−C=CH−COOR鴫   
         (′1Ji)〔式中、R4及びR@
は上記定義の意味を表わす〕で表わされる化合物と反応
させることにより得ることができる。
・式店で表わされる化合物はそれ自体公知の次式刈a R’0OC−CH2−C−CH*  C0OR’   
 (Xlla)〔式中、R4は上記定義の意味を表わす
〕で表わされるケトジカルボン酸エステルから出発して
製造することができる。
このために、式)alaで表わされる化合物は塩素化剤
例えばpct、、Pct、又は5oct、と反応させラ
レ、 相当するジアルキル2−クロロプロペ−1−エン
−1,3−ジカルボキシレートを生じ、そして後者はそ
れ自体公知の方法で脱ハロゲン化されて相当するアレン
−1,3−ジカルボン酸ジアルキルを生じる。
このアレン化合物は続いて、不活性溶媒中、銅(1)化
合物例えばCuCN又はCuC2の存在下で試薬R6M
(式中、Mはアルカリ金属例えばLi、Na又はKを表
わし、R6はアルキル基を表わす)と反応させられ、次
いで加水分解によって弐刈で表わされる化合物に変えら
れる。反応温度は都合よくは−100ないし一20℃で
ある。
これらの反応は好ましくは有機の不活性で極性の溶媒例
えばテトラヒドロフランのようなエーテル類、ジメチル
スルホキシドのようなスルホキシド類、テトラメチレン
スルホンのようなスルホン類、ジルメチルホルムアミド
又はN−メチルビロリドンのよりなN−置換力ルポキサ
ミド又はラクタム類中で行なわれる。
驚くべきことに安定な単分子層は、水/空気界面で弐1
で表わされる化合物から製造することができる。このた
めに、それ自体公知の方法で、好ましくは低沸点の水に
混和できない溶媒中に式lで表わされる化合物を溶解し
た溶液の小量を水面上に適用し、溶媒を蒸発させ、そし
て得られたフィルム全水面上に安定な単分子層が形成さ
れるように圧縮することにより行なわれる。
上に単分子層が形成されるサブ層(5ubphase 
)は、多段蒸留又は脱イン化されそして濾過され、必要
により少量の塩例えばCdCL、又はBaCLがフィル
ムを安定化するために添加された水からなる。サブ層は
また緩衝物質例えばNaHCO3を含むこともできる。
これらの改変は当技術分野の専門家には知られており、
またフィルム形成物質の性質に従って選択される。
フィルムの安定性は、知られているように実験パラメー
タの選択により影響され得る。従って例えばサブ相を冷
却することにより式1の化合物で組成される相対的に不
安定なフィルムを安定化することは可能であり、或は式
Iで表わされる両親媒化合物と組み合わせて使用される
そのような化合物の例としてい、長鎖脂肪酸例えばパル
ミチン酸、ステアリン酸、アラキン酸又ハヘヘニン酸、
又はそれらのエステル、%にこれら酸のメチルエステル
:長鎖第一アミン例えtdn−ヘキサデシルアミン、n
−オクタデシルアミン又はn−エイコシルアミン;長鎖
アルコール例えばn−ヘキサデカノール、n−オクタデ
カノール又#in−エイコサノール: −& 釦脂肪族
炭化水素例えばヘキサデカン、オクタデカン又はエイコ
サン:置換テトラセン誘導体例えば2−炭素原子数1な
いし18のアルコキシテトラセン、2−炭素原子数1な
いし18のアルコキシテトラセン−5,12−ジオン、
2−炭素原子数1ないし18のアルコキシ−5,12−
ビス(アセトキシ)テトラセン又は相当する2、3−ビ
ス−アルコキシ誘導体:又はステロイド及びステロイド
誘導体例えばコレステロールが挙げられる;飽和誘導体
のほかに、エチレン性又はアセチレン性不飽和誘導体も
用いることができる。これらの例としてはω−トリコセ
ン酸、そのエステル、及びそれから誘導されるアミン又
はアルコールが挙げられる。酸は好1しくは塩特にCd
塩の形態で用いられる。
式Iで表わされる化合物は一般的に総混合物に対して少
なくとも1重量%はどそのような混合物中に含ませられ
る。
XがSを表わす式!で表わされる化合物を含む糸が好ま
しい。特に好ましい系は、XがSを表わし、R1が一〇
−R3を表わしそしてR2が水素原子を表わす式lで表
わされる化合物を含む系である。XがSを表わしR1が
CF3を表わしそしてR2が水素原子を表わす式1で表
わされる化合物を含む系も同様に好ましい。R3は炭素
原子数1ないし18のアルキル基、特にはn−オクチル
基であるのが好ましい。
式Iで表わされる化合物及びもし適当であれば他の適当
な両親媒性化合物を含む単分子フィルムは驚くべきこと
にLBプロセスによって水面から固体支持材へ容易に移
転させることができる。このために、固体支持材はそれ
自体公知の方法で水面上の加圧された単分子フィルムを
通して浸漬され、それにより該フィルムは支持材上に移
転される。
そのようなフィルムは、フィルムを安定化できる他の成
分例えば両親媒性化合物、長鎖炭化水素又はポリマーと
ともに式1で表わされる化合物を1〜95モル係、特に
は20〜75モルチ含むのが好ましい。
多層系はこのようにして浸漬と退去(removal)
を繰り返すことにより製造され得る。
そのような混合フィルムから作られたLB単層又は多層
系が好ましい。
各浸漬プロセス後に水面上の層を変えることができ、そ
れゆえ異なる連続層を支持材上に生じさせることができ
る。
多層の製造操作はLBシステムの技術分野の専門家に知
られており、また例えば“Techniquesof 
Chemi 5try 、 PhysicatMeth
ods of Chemistry第1巻3B号、第6
66〜671頁(著者:AWeissberger及び
P、 Rossiter )  に記載されている。
LBプロセスのための適当な固体支持材は、顕微鏡的に
平坦表面を有する非常に広範な親水性又は疏水性基材で
ある。これらの例としては、アルミニウム、銅、銀又は
金のような金属、ゲルマニウム、シリコーン又はGaA
sのような半導体、カラス、水晶、 Zn5e又は5i
lN3のような無機材料、又はテフロン■、ポリエチレ
ン、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン又はポリ
エステルのようなプラスチックが挙げられる。
水をはじくように処理された支持材例えば、ケイ素類例
えばトリクロロメチルシラン、ジクロロジメチルシラン
もしくはトリクロロオクタデシルシランで前処理された
、又はアラキン酸カドミウム(Cd arachida
te )の幾層かで前もってコーティングされたガラス
もしくは水晶もまた使用することができる。
本発明はまた、次の工程: 1)式■で表わされる化合物、又は式Iで表わされる化
合物にそのような層を安定化できる他の両親媒性化合物
、長鎖炭化水素もしくはポリマーを配合した混合物から
なる単分子層の製造、及び 11)核層を通して下記支持体を1回又は1回以上浸漬
及び/又は退去させることによるラングミュアブロジェ
ット法による固体支持材への上記層の移転 から実質的になる単層又は多層系の農造方法に関する。
式1で表わされる化合物のそのような単層はLBプロセ
スによって連続的に移転され得る。
これらの層は互に直ちに続くことができ、或は異なる層
形成材料の膚に交替させることができる。
式■で表わされる化合物と長鎖飽和カルボン酸の塩、特
に直鎖の炭素原子数18ないし20の酸の塩、長鎖不飽
和酸の塩、例えばω−トリコセン酸又はペンタコサ−1
0,12−ジイン酸、これら酸のメチルエステル、特に
長鎖飽和カルボン酸、又は置換テトラセンキノンもしく
ハソれらQビスアセトキシ誘導体、好筐しくは次式%式
% 〔式中 R3は上記定義の意味を表わす〕で表わされる
化合物との混合物は好ましく転移する9 それ自体安定である単分子層は式X■及びX■で表わさ
れる化合物からも製造することができ、そしてLBプロ
セスにより固体支持材上へ転移することができる。
高い導電性を有する供与体−受容体錯体(donor−
acceptor complexes )は、式!で
表わされる化合物を用い適当な電子受容体で処理するこ
とにより製造され得る。供与体−受容体錯体は、適当で
あるならば、電荷の完全な移転が起った茫イオン塩(r
adical ion 5alts )であってよい。
本明細書において、適当な電子受容体は、その酸化能力
によって供与体を酸化できる化合物を意味するものと理
解されるべきである。
適当な電子受容体はヨウ素、臭素又は塩素のようなハロ
ゲン;ポリプロミド又はポリヨーシト:窒素酸化物又は
有機受容体、例えばテトラシアノエチレン、テトラシア
ノキノジメタン又はクロラニルである。ハロゲン特にヨ
ウ素、及びポリヨーシトを用いるのが好ましい。
式1で表わされる化合物の単層又は多層系の処理(ドー
ピング)は、その層系と電子受容体を直接接触させるこ
とにより、例えば層系をヨウ素蒸気でドーピングする仁
とにより、行なうことができる。
式Iで表わされる化合物の単層又は多層系のドーピング
は、電子受容体を含む水溶液と直接接触させることKよ
って本行なうことができる。
この場合、水溶液中に溶牌したドーピング剤は驚くべき
ことに層系を破壊することなく層系中に浸透し、そして
導電率を増加させる。
従って本発明は上記工程1)と11)、及びまた−)生
じた単層又は多層系を、式1で表わされる化合物のため
の電子受容体(これは上記化合物を酸化させる)を含む
水溶液と接触させる工程、からなる導電性単層又は多層
系の製造方法に関する。
更には水面上ですでにドーピングされた単層を支持材に
連続的に移転させることもまた可能である。その単層の
ドーピングは概してドーピング剤をサブ相に加えること
により行なわれる。
このようにして式Iで表わされる化合物とドーピング剤
からなる供与体−受容体錯体は水/空気界面で形成され
る。篤くべきことにこの錯体はLBプロセスによって支
持材上に移転され得る。
従って本発明はまた、 1)式!で表わされる化合物から、もし適当なら更にそ
のような層を安定化できる両親媒性化合物を配合して単
分子層を製造する工程、及び11)接層を通して下記支
持材を1回又は1回以上浸漬及び/又は退去させる(上
記単分子層を製造するためのサブ相は、水/空気界面で
式Iで表わされる化合物と供与体−受容体錯体を形成す
る電子受容体を含む)ことによるラングミュアブロジェ
ット法により固体支持材上へ上記単分子層を移転する工
程 からなる導電性単層又は多層系の製造方法に関する。こ
の方法のための適当な電子受容体の例はK13溶液であ
る。
本発明は特に好ましくは次の各工程: )式1で表わされる化合物又は式lで表わされる化合物
にそのような層を安定化できる両親媒性化合物、長鎖炭
化水素もしく鉱ポリマーを配合した混合物からなる単分
子層の製造、n)その層を通して前記支持材i1回又は
1回以上浸漬することによる導電性表面を有する支持材
上への接層の移転、及び I)対向電極も同じく浸漬される電解溶液中に上記支持
材を浸漬し、電位適用中は支持材を陰極とし電解質から
の対イオン(counter−ions )の混入で層
系中の式!で表わされる化合物を酸化することによる上
記層系の電気化学的酸化からなる導電性単層又は多層系
の製造方法に関する。
該方法の具体例では、特に低い流密度(flawden
sity)を有する層を製造することができる。
該方法の他の利点は、層系中に多数の異なる対向イオン
(counterions )  を導入させ得るとい
うことである。これらの例としては、無機陰イオ” 例
L ハCzcOa   BF4   P Fs、5bC
L4sbcz;、pスct二Br−1I−又は11、有
機陶イオン例t ハチトランアノキノジメタン;テトラ
シアノエチレン二アルキルー アリール−アルカリール
、アルアルキル−フルオロアルキル−又はフルオロアル
カリールスルホネート、−ホスフェ−又はホスホネート
、或はヘテロアリールスルホネート例t ハビロロビロ
ールスルホネートが挙けられる。
この後者の方法を一部変更することにより、式1で表わ
される化合物の酸化形態を含んでいる層系は、工程1i
)における陽極として電解質溶液中に浸漬している層系
を接続させそして電位を適用して式Iで表わされる化合
物の酸化形態から中性形態を生じさせることにより還元
された出発化合物に戻すこともできる。この変更方法を
用いることにより、58層系での可逆的な色変化を達成
できる。
したがって本発明はまた、式!で表わされる化合物を含
むLB層で被接されそして導電性表面を有する支持材を
、対向電極も同じく浸漬される電解質溶液中に浸漬し、
そして上記支持材を陰極又は陽極として電位を適用し、
式■で表わされる化合物を酸化するか又は酸化形態の式
!で表わされる化合物を還元することからなる式Iで表
わされる化合物を含むLBII系の可逆的な電気化学的
酸化又は還元方法に関する。
本発明は更に式Iで表わされる化合物と電子受容体の供
与体−受容体錯体を含んでいる導電性単層又は多層系に
関する。
式Iで表わされる化合物の単層又は多層系或はこれら化
合物と電子受容体との供与体−受容体錯体を含むドープ
化系(doped systems )は空気中の高い
安定性で際立っている。
非ドープ及びドープ化形態のスペクトルは、それらのλ
maX値とそれらの吸光係数の点で異なっている。
式lで表わされる化合物の単層又は多層系及びそのドー
プ化系はこのように電気活性材料、即ち酸化状態と還元
状態で異なる物性を有しそして酸化還元方法でその二つ
の状態間を切り換えることのできる材料である。
式1で表わされる化合物を含む単層又は多層系は導電性
塗膜、エレクトロクロミックデイスプレィ(elect
rochromic display ) 、 1ti
極及びセンサを製造するのに適している。
本発明はまた上記目的のためのこれら単層又は多層系の
使用にも関する。
〔実施例・発明の効果〕
以下、実施例により本発明を説明する。
■ S□S  −s 1.2.4− トリクロロベンゼン10〇−中のジアセ
テート■846mg(1,85モル)、5=soly(
1s、ameq)及びp−トルエンスルホン酸5■(C
LO26ミリモル)を、還流凝縮器とガス導入チューブ
を備えた250−フラスコ中で緩やかなアルゴンガス流
下、5時間半還流する。その暗緑色溶液を次いで高真空
下で蒸発させる。
粗生成物(1,551に一シリカゲルフラッシュカラム
(シリカゲル2aaf、17cm)上でCCt4を用い
てクロマトグラフィに処する〔シリカゲルは前もってC
C4/ 2 % トリエチルアミンで処理し、次いで溶
出液が再び中性となるまで純粋なcctaで洗浄されて
いなければならない〕。暗緑色フラクションは精製され
た2−n−オクチルオキシ−5,6,11,12−テト
ラチオテトラセンを含む。収率560■(65%)。
λ  (1,2,4−)リクロロベンゼン)698゜a
x 440.472℃m:マススペクトルM =−480m
/e :その分裂は構造に一致する。
12−ジオンの還元的アシル化にょルシアセテート■の
製造 をCH2C4で4回洗浄する。涙液を蒸発させ、残渣f
 CH*C1,t/ ヘンタンから、次いでトルエンか
ら再結晶する。
収量4.1 ? (84%)、融点107〜111°。
岨鉛粉末2.02(3LO5ミリモル)に、2−n−オ
クチルオキシテトラセン−5,12−ジオ74 f (
1(155ミリモル)、酢酸エチル40*ls無水酢酸
25su及び酢酸カリウム五05f(31,05ミリモ
ル)を攪拌しながら加える。その混合物を25°で40
分間攪拌し、濾過し、セして残渣2−フルオロテトラセ
ン−5,12−ジオン20F(72,4ミリモル)、1
−オクタツール94.3&、無水炭酸カリウム3α01
5’(217,2ミリモル)及びDMSO200dを1
00℃で20時間攪拌する。その反応混合物を冷却し、
トルエン/希塩酸を加え、そして有機相を分離し、水で
2度況浄し、硫酸ナトリウムを用いて乾燥し、そして蒸
発させる。残渣金ペンタンで洗浄し、シクロヘキサンか
ら再結晶する。
収量: 219f(82%)、融点127〜129°。
元素分析:C26H2803(分子量5B6.49)と
して理論値:C8(180H&78 012.42%実
測値二C8α68  H6,89012,57%12−
テトラチオテトラセンの製造 S@ 781117 (2,43meq )及び9−)
ルエンスルホンr1!211Ig(a、01ミリモル)
を、還流凝縮器とガス導入チューブを備えた1001フ
ラスコ中、緩やかなアルゴンカス流下で20時間還流す
る。
高真空下で混合物を冷却した後溶媒を蒸発させ、残渣を
ヘキサンで煮沸し、黒色粉末を戸去し、高真空下60℃
で乾燥する。粗生成物の収!205■(79%)。
該粗生成物を190℃(10”Pa)で4華させると純
2−トリフルオロメチル−5,6,11,12−テトラ
チオテトラセン(黒色針状結晶)67.5M9(25,
6%)が得られる。
マススペクトル M+= 420 :分裂は予期された
構造と一致する。
λmax(1e2e4−1リクロロベンゼン)ニア25
.665.484  nm。
S□S 1.2.4−トリクロロベンゼン5sxl中に入れたジ
アセテート■251■(α61ミリモル)、1.2.に
記載されている操作を、2−n−オクチルオキシテトラ
セン−5,12−ジオンは2−トリフルオロメチルテト
ラセン−5,12−ジオンに代えて操り返す。実施例1
.2.のように処理した後、所望の生成物が理論量の9
1%の収率で得られる(融点285〜288℃)。
テンで汚染されている)及びキシレン100 at k
、水分離器を用いて16時間還流下に保つ。混合物を冷
却し、そして沈殿物を炉去し、キシレンで洗浄する。収
i15.82 f(71%):融点253〜254°0 元素分析: C+、H* FsOt (分子t526−
57)として理論f!JX:C69,95H2,78F
  17.47%実測値: C69,84H3[5F 
 17.38%6−(トリフルオロメチル)−1,4−
ナフトキノン5.65M(25ミリモル)、1.2−ジ
ブロモベンゾシクロブテン9.82y(約37ミリモル
:少量の2−ブロモ−1−ヨードベンゾシクロフQ  
             0 1.2−ジクロロベンゼン7d中の5−トリフルオロメ
チル−2−オキソ−2H−ビラン1.64f(α01モ
ル)及び1.4−ベンゾキノン5.41(α05モル)
を180℃で12時間加熱する。
次いで反応混合物を90°720 mbarで蒸発させ
、その蒸留残渣を150rのシリカゲル60上でりロマ
トグラフィに処する〔溶離剤cH2c14:アセトン(
19:1)、過剰圧(L3bar 〕。収[1,b2?
 (8[153% )、融点80〜85°0の製造 操作は実施例1と同様であり、そして2−フルオロテト
ラセン−5,12−ジオンを1−オクタデカノールと反
応させ、得られた2−n−オクタデシルオキシテトラセ
ン−5,12−ジオンヲ還元的アシル化によって相当す
るジアセテートに変換し、後者の化合物をp−トルエン
スルホン酸の存在下でイオウと反応させて2−〇−オク
タテシルオキシテトラセン−5,6,11゜12−テト
ラチオテトラセンを生じさせる。個々の反応生成物は次
の特性値を有している。
2−n−オクタデシルオキシテトラセン−5゜12−ジ
オン マススペクトル M+=526; 融点 85−90℃: λmax <クロロホルム) : atO(sh)、3
9o。
516(sh)、296,286(sh)(nm):元
素分析(CおH41103として) %C%H%O 理論値  8109   &80  9.11実側値 
 82.26   a81   a9.7マススペクト
ル M  =612; 融点 155−157℃; 元素分析(C4oHstOsとして)  %C%H%0
理論値 ニアa39a551五〇5 実側値 :   7a50 a59 15.01マスス
ペクトルM−620;分裂は期待された構造に一致する
λmaX(’e2+4−トリクロロベンセン)二699
.644,472(nm) B、使用実施例 使用実施例では以下の質物を使用するニ−CH3 S□5 CHs +CHtすII  CミC−CミC+CHt)
T−COOHS□S S□S 01Na れている。
実施例I: クロロホルム中の2−n−オクチルオキシ−5,6,1
1,12−テトラチオテトラセン1の溶液(cL57n
Ii/屑l)を調製する。この溶液をラングミュアトラ
フ(Langmuir trough )の水面上に一
定温度にて展開きせる。市販のラングミニアトラフ(M
GW Lauda社製:サイズ70X15Xα6c1n
;調製型)を用いる。サブ相はミIJ−Q−ユニット(
Ml 1i−Q unit/Mi 1lipore C
orp、製)(比抵抗ρ〉18MΩ、IM)を用いて更
に精製された一般的な脱イオン水である。必要ならばN
aHCO3(メルク社製、分析用グレード)を用いてp
H約68に調製した5 X 10−’ MのCdC1z
 (メルク社製、純グレード)溶液も使用する。使用さ
れる溶媒は分光分析学的に品質の確かなものである。展
開後、単分子フィルム(monomolecularf
ilm)が生じそれは1.25α/分ので圧縮されるが
、フィルム圧(剪断圧)π[mN/m)は分子当りの面
積A [nm”/分子〕の関数として配録される〔剪断
−面積等温線(shear−area iso −th
erms ) 、  単分子層が得られ、それらの性質
は第1表中に掲けられている。
実施例Il: 操作は実施例1の如くである。1は2−トリフルオロメ
チル−5,6,11,12−テトラチオテトラセン2に
!@換える。得られた単層の性質を第1表中に示す。
実施例1: 操作は実施例1の如くである。1は2−n−オクタデシ
ルオキシ−5,6,11,12−テトラチオテトラセン
3に置き換える。得られた単層の性質は第1表中に示さ
れている。
第  1  表 実施例■: 実施例1に従って調製した2−n−オクチルオキシ−5
,111,12−テトラチオテトラセン1の溶液を、異
なる組成の混合溶液(第2表参照)が生じるような方法
で、クロロホルム中のアラキン酸メチル4 (Fluk
a社製、最高純度グレード)の溶1(11nIi/1+
m、)と混合する。こnら溶atラングミュアトラスの
水面上に展開させる(実施例1のように)。生じた単分
子フィルムを1.25tyn/分の速度で圧縮し、そし
て実施例1と同様にして剪断−面積等温線を記録する。
これら単分子層の特性データは第2表中に対照表示され
ている。
第  2  表 実施例V: 操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4は2
−n−オクチルオキシテトラセン=5.12−ジオン5
(α64■/1クロロホルム)で置き換える。単層の特
性データを第3表に示す。
第  3  表 実施例■: 操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4は、
クロロホルム中に溶解した5、12−ビスアセトキシ−
2−オクチルオキシテトラセン6で置き換え、そして1
と6の70:30(モル俤)の比率の混合溶液を刺具す
る。
圧潰(collapse )の時点で、そのフィルムは
フィルム圧π=47mN/m及び面積A=(128nm
”7分子を示す。
実施例■: 実施例IVK記載されているように、2−n−オクチル
オキシ−5,6,11,12−テトラチオテトラセンユ
とアラキン酸メチル4の70:50(モル俤)の混合溶
液音調&し、ラングミュアトラフの水面上に展開させる
(実施例1のように)。形成された単分子膜を1.25
 cm1分の速度で、フィルム圧が20mN/mに到達
するまで圧縮する。一定圧で、表面積の減少がみられな
くなる時点を待つ。続いてそのフィルムを、疏水性に註
1) した水晶プレート  (12X25m)上にラングミュ
アプロジェット手法により移転する。単層を移転するの
にFL−Iフィルムリフト(FL−1Fi1mlift
 / MGW−Lauda社裂)を用いる。
単層の移転速度は2〜5 cni /分である。得られ
る多層ViY−配向(Y−orientation )
を有し、色は青緑色である。20〜607@を適用する
。X線回折による調査は二層分離(double−1a
yerseparation ) doo+が4.22
 nmであることを示す。
註1)水晶プレートは最初H2S04(Merk社製、
分析用グレード)中のに、 5iO11(Fluka社
裂、最高純度グレード)の熱い溶液中で、次いで1o−
3M  NaOH(Merk社製、分析用グレード)中
で清浄化し、そしてミリボア(Millipore )
処理水ですすぐ。次いでそれらをシリル化(オクタデシ
ルトリクロロシラン(メルク社製、98%)で処理)す
るか、アラキン酸カドミウム(Fluka社和、最高純
度グレード)の3層で予備コーティングするのかのどち
らかで疏水性にする。
実施例■: 操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4は5
.12−ビスアセトキシ−2−オクチルオキシテトラセ
ン6(a4111i/πlクロロホルム)で置き換える
。20ないし60の単層を適用する。その多層の吸収極
大は640,685及び760 nm  である。
実施例■: 操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4はア
ラキン#R7(Fluka社裂、最高糾変グレード)で
置き換える。用いるサブ相fi5X10−4M CdC
l2溶液(pH&8)Tある。20iいし60層全適用
する。その多層Vi620.670及び750 nmの
吸収極大を有する。
実施例X: 操作は実施例■の如くである。アラキン酸メチル4はペ
ンタコサ−10,12−ジイン酸8で置き換える。用い
られるサブ相は3X1G−4MCdCL、溶講(pH&
8)?ある。20〜60層を移転する。その多層は57
0.624.676及び750nmで吸収極大を示す。
UV元(λ=254nm)  照射において、付加的な
吸収帯(additional ban−ds )が5
00と700 nmの間に現われる。
実施例yJ: 操作は実施例■の如くである。1は2−トリフルオロメ
チル−5,6,11,12−テトラチオテトラセン2で
置き換える。20〜60層を適用する。その多層は71
4及び770nmの吸収極大を有する。
実施例XII: 層平面での導1!率測定のため、実施例■に従って多/
1s(3o層)を製造する。J¥−壁下(10−3〜1
o ’mbar )最上層の上に金電極全マスクを用い
て蒸着させる。これら金電極には金?a(go−1d 
wire )と白金ペーストで通電する。ドーピングの
ために、サンプルをヨウ素で飽和したアルゴン雰囲気中
に1時間さらす。ヨウ素処理中、多層の色は青緑色から
褐色〜紫色(brown−vi。
xet)(反射扶を観察するとき金属光沢がみられる)
に変化する。ドーピングの前後に導電率σを電位計(K
eithley社表)を用いて測定する。
ドーピング前後の特性データを第4表に示す。
実施例x■: 実施例■のようにして多層を製造する(50層)。サン
プルに通電し続いて実施例X]に記載されているように
、導′を率の変化を測定しながらドーピングする。ヨウ
素処理中、多層の色は1¥緑色から褐色〜紫色(反射−
ytSを観察するとき金属光沢がみられる)に変化する
。ドーピング前後の特性データを第4に示す。
実施例X■: 実施例■のように多層(30層)を製造する。
それらには実施例刈VC記載されているように通・電す
る。ドーピングのために、続いてサンプルを、塩素[1
1%v/v含むアルゴンガス流にさらし、同時に導電率
を測定する。塩素処理中、多層の色は青緑色から青紫色
に、そして最終的に赤橙色に変わる。ドーピング前後の
多層の特性データを第4衣に示す。
実施例x■: 実施例Aのようにして多11”!? (50rm )を
製造する。それらに通電し、実施例店に記載されている
ように導1!率の変化を測定しながらヨウ素でドーピン
グする。ヨウ素処理中、多層はその色を青緑色から褐色
〜紫色(反射光を観察するとき金属光沢がみられる)へ
と変える。ドーピング前後の特性データは第4表にまと
めである。
第  4 表 本最大値;空気中で又は非常に長いハロゲン処理により
σは減少する。
実施例X■: 1の混合多層を実施例■に従って製造する。
サブ相として、稲々の濃度(第5表参照)のK13(I
CN Biomedical Inc、 裂)水溶液を
用いる。
10〜60の単層を移転する。単Nj1は紫色(vio
let ;K1.濃度が77−5X10−4より大きい
とき)で反射光中に観察される金属光沢を有している。
これら多層の分光分析データを第5表に掲げる。
第  5  表 及び分光分析データは第6表中に見ることができる。
第  6  表 実施例X■: 実施例■に従って1の混合子J@を製造する。
用いるサブ相は10−3M Kl、溶液である。50J
f1を適用する。その多層は紫色である。実施例X■に
記載されているように金電極を用いて通電し、連続的に
導電率を測定する。次いでサンプルを飽和ヨウ素/アル
ゴン雰囲気にさらすと、その間、多層の色は紫色から褐
色へと変化し、また導11率は増加する。これら多層の
導電率データ本空気中、+5℃で82日間貯蔵後 実施例X■: 実施例■のように30層を適用して多層全製造する。続
けてサンプルをs、s x 1o 4M  KI3水溶
液中に15時間浸漬すると、その間に多層の色は青緑色
から橙褐色に変わる(UV/v■s吸収: 402,4
80及び560 nm )。
該多層に、実施例■に記載されているように金電極を用
いて通電し、次いで層平面での電導率を電位計(Kei
thley社製)を用いて測定する。
続けてそのサンプルをヨウ素飽和アルゴン雰囲気にさら
し、導電率を再測定する。
6 (KID)  :     1.52X10  ’
 5crn’σ(KI3  +  12): 4j9X
10−JSn「’実施例XX:2−n−オクチルオキシ
−5,6111,12−テトラチオテトラセン 1とアラキン酸メチル4からの混 付LB多層の製造 1のクロロホルム溶液(約(15■/ad )を調製し
、そしてアラキン酸メチル4のクロロホルム溶液(約1
■74a)と混合して、1:4が70:30(モル係)
の混合溶液を作る。この溶液を実施例1と同様にしてラ
ングミュアトラフの水面上に一定温度(T−15℃)で
展開させる。展開後、単分子フィルムが生じ、それを約
1.25 am1分の速度で、フィルム圧がπ=2om
N/mに到達するまで圧縮する。
一定圧で、面積の減少がそれ以上みられなくなる時点1
で待つ。続いてそのフィルムをラングミエアブロジェッ
ト手法によりITOガラスプレート″″2)上に移転す
る。単層の移転のためにFL−1フイルムリフト(FL
−I  Fi1mlift/MGW−Lauda社製)
を用い、浸漬速度は2〜3譚/分である。適用された多
層は15層の厚さとY配向及び青緑色を有する。七C特
性データは第7表に掲げられている。
註2)片面にインジウム/錫オキシド(ITO)iコー
ティングしたカラスプレート;製造者:Balzers
社、リヒテンシェタイン;清浄化のためにITOカラス
プレート(11X18X10)はクロロホルム中で超音
波処理される。この処理中、溶媒は暖めないことが重要
であり、さもなくばITO層が破壊される。
実施例XX:導電塩としてLiCLO<を用いる1とア
ラキン酸メチル4のLB多層の電気 化学的酸化及び還元 実施例XIXのように製造された多層を”ミIJボア処
理水(Mi 111pore water )”中のL
iC104(Fluka社製、純グレード)の10−3
モル溶液に浸漬し、電気分解を受けさせる。多層を陰極
として接続し、対向電極には同様に溶液中に浸漬した金
線を用いる。金線と多層との間の距離は約2のである。
用いた直流電源は、Kikusui社製の本体エユント
(モデルPA81B−1A )である。電圧(CLlな
いし2.OV)の適用により、電流が流れ、多層中の供
与体分子1は酸化される。その酸化を分光測定的にモニ
ターする(第註5) 7表)  。低電圧([11ないしα4v)で紫色の遊
廃基陽イオン(λmax = 576nm )が生じ、
高電圧(〉α4V)で吸収極大425nmの二価陽イオ
ンが生じる。酸化が完了した時に極性が変化したならば
中性のTTT分子のUV/V I Sスペクトルが再び
得られる。
註3)分光分析測定の前に、基板の非導電性背面上の多
層は除かれる。
実施例XX:  導電性塩としてドデシル硫酸ナトリウ
ムを用いる1とアラキン酸メ チル4のLB多層の電気化学的酸 化及び還元 実施例XIXのようにして製造された多層を実施例XX
に記載されているように電気化学的に酸化する。その操
作は、LiC4O4溶液をドデシル硫酸ナトリウム(M
erck社製、生化学目的及び表面活性剤研究用)の1
ミリボア処理水の10−3モル溶液(pH=9.5)に
代えることにより一部変更される。電気化学的に処理し
た多層のUV/VI5分光分析データは第7表に掲げら
れている。非導電性背面上の多層は分光分析測定前に除
去する。
その分光分析データは、1が電気化学的に酸化もしくは
還元されることを示す。
実施例XX:導電塩としてジケトビロロヒロールジスル
ホン酸ナトリウム(DPP ジスルホネート)を用いる1とア ラキン酸メチル4のLB多層の電 気化学的酸化 実施例X■のように製造された多層を実施例XXに記載
されているようにして電気化学的に酸化する。操作はL
iC2O4溶液を”ミリポア処理水″中のDPPジスル
ホネートの10−4モル溶液に代えることにより一部変
更する。電気化学的に処理した多層のUV/V I S
分光分析データは第7表中に掲げられている。基板の非
導電性背面上の多層は分光分析測定前に除去する。分光
分析データは1が電気化学的に酸化されることを示す。
実施例XXI[l : 1とアラキン酸メチル4のLB
多層上でのサイクリックポルタンメ ト リ −(Cyclic  voltarrrnet
ry  )実施例X■のように製造されたLBフィルム
をCL1モルのドデシル硫酸ナトリウム溶液中に浸漬し
、サイクリックポルタンメトリーを受けさせる。ドテシ
ル硫酸ナトリウム(SDS)溶液は、三回蒸留した窒素
飽和水中の95%エタノールから再結晶されたSDSを
溶解することにより調製される。サイクリックポルタン
メトリーはPAR社製の装置(モデル273)を用いて
行なわれる。使用される参照電極はSDS溶液中に浸漬
したAg/Ag  @極である。1の遊離基陽イオン状
態への多層の酸化は一238mVの電位で、また二価陽
イオン状態へは+173 mVの電位で行なわ几る。酸
化と還元は何回でも逆にすることができる。120サイ
クル後、遊離基陽イオンへの酸化用の最初のピーク電流
の1/3がまだ測定され得る。最大ピーク電流は10サ
イクル状態層の後で到達する。
ドープ化多層の電気化学的酸化及 び還元 LB多層を実施例X■に従い、33単層の層厚で製造す
る。そのLB多層をヨウ素飽和アルゴン雰囲気に2時間
さらすと、その間に二価陽イオンへとかわる1の酸化が
起こる。続けてその多層を実施例XXに記載されている
ように電気化学的に還元し、再び酸化し、そして還元す
る。このことは各場合においてITO−被覆ガラスプレ
ートを陽極として、次いで陰極として、そして再び陽極
として接続させることにより行なわれる。各場合電圧は
2vである。起きているのが酸化であるか還元であるか
を検知するために、基板の非導電性背面の多層をぬぐい
去り、ITO側でUV/V I S公党分析により多層
を測定する。
データは第8表に掲げられている。それらは、ヨウ素で
化学的にドープ化されたサンプルが電気化学的に還元さ
れ、再酸化され、そして還元されることを示している。
第7表: 実施例XIXないしXXII T製造された中性の心電
気化学的に酸化さtた形態の、1とアラキン酸メチル4
との多層の特性データ * フィリップスパウダー回折機(Ph1lips p
owd −er diffractometer )に
よるX線研究で測定された二層分離。−船釣に3回の反
射を観察した。
木本 吸収帯はしばしは非常に広く、それは波長の極大
の正確な割撮りが内鑵であることを意味する。
木本* ε値は全てのサンプルについて、4.160m
の仮想d0゜+IIIIに基づいて計算された。
第8表:

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)次式 I ▲数式、化学式、表等があります▼ ( I ) 〔式中、 XはS又はSeを表わし、 R^1は炭素原子数1ないし30のアルキル基、−CF
    _3、−O−R^3、−S−R^3又は−CO−O−R
    ^3を表わし、 R^2は水素原子、炭素原子数1ないし30のアルキル
    基、−CF_3、−O−R^3、−S−R^3又は−C
    O−O−R^3を表わし、そして R^3は炭素原子数1ないし30のアルキル基又は部分
    的にもしくは飽和的にフッ素化された炭素原子数1ない
    し30のアルキル基を表わす〕 で表わされる化合物を含む単層又は多層系。
  2. (2)ラングミュアプロジェット法(LBプロセス)に
    より固体支持材上へ移転することによって得られる、式
    I で表わされる化合物を含む単分子層又は単分子層の
    連続である請求項1記載の系。
  3. (3)XがSを表わす請求項1記載の系。
  4. (4)R^1が−O−R^3を表わし、そしてR^2が
    水素原子を表わす請求項5記載の系。
  5. (5)R^1が−CF^3を表わし、そしてR^2が水
    素原子を表わす請求項3記載の系。
  6. (6)R^3が炭素原子数3ないし18のアルキル基を
    表わす請求項1記載の系。
  7. (7)式 I で表わされる化合物1〜95モル%と共に
    更に単分子フィルムを安定化できる両親媒性化合物を含
    む複合フィルムから成る請求項2記載の系。
  8. (8)式 I で表わされる化合物と、長鎖飽和カルボン
    酸の塩、長鎖不飽和酸の塩、これら酸のメチルエステル
    又は次式XIIIもしくはXIV ▲数式、化学式、表等があります▼ (XIII), ▲数式、化学式、表等があります▼ (XIV) 〔式中、R^3は請求項1で定義された意味を表わす〕 で表わされる化合物との混合層からなる請求項2記載の
    系。
  9. (9)i)請求項1記載の式 I で表わされる化合物か
    らの、又は式 I で表わされる化合物に下 記層を安定化できる他の両親媒性化合物を 配合した混合物からの単分子層の製造工程、ii)ラン
    グミュアプロジェット法による浸漬と退去によるか、或
    は上記層を通して下記 支持材を1回又は数回浸漬又は退去するこ とによる固体支持材上への上記層の移転工 程、及び iii)形成された単層又は多層系を、式 I で表わさ
    れる化合物を酸化させる該化合物用電 子受容体を含む水溶液に接触させる工程 からなる導電性単層又は多層系の製造方法
  10. (10)上記単分子層を製造するためのサブ相が、水/
    空気界面において式 I で表わされる化合物と供与体−
    受容体錯体を形成する電子受容体を含む請求項9記載の
    工程i)及びii)からなる導電性単層又は多層系の製
    造方法。
  11. (11)請求項9記載の工程i)及び ii)その層を通して前記支持材を1回又は1回以上浸
    漬することによる、導電性表面を 有する支持材上への該層の移転、及び iii)対向電極も同じく浸漬される電解溶液中に上記
    支持材を浸漬し、電位適用中は支持 材を陰極とし、電解質からの対イオンの加 入で層系中の式 I で表わされる化合物を酸 化することによる上記層系の電気化学的酸 化 の各工程からなる導電性単層又は多層系の製造方法。
  12. (12)式 I で表わされる化合物を含むLB層で被覆
    されそして導電性表面を有する支持材を、対向電極も同
    じく浸漬される電解質溶液中に浸漬し、そして上記支持
    材を陰極又は陽極として電位を適用し、式 I で表わさ
    れる化合物を酸化するか又は酸化形態の式 I で表わさ
    れる化合物を還元することからなる請求項1記載の式1
    で表わされる化合物又は酸化形態の該化合物を含むLB
    層系の可逆的な電気化学的酸化又は還元方法。
  13. (13)請求項1記載の式 I で表わされる化合物と電
    子受容体の供与体−受容体錯体を含んでいる導電性単層
    又は多層系。
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