JPH0250779A - 非破壊評価作像方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は非破壊検査（ＮＤＥ）像の品質を改良する方
法、更に具体的に云えば、先験的な情報を不完全なデー
タのＮＤＥ像に取入れることに関する。

像が完全な１組のデータに基づく時、例えば部品及びき
ずの形状に見合った像を作るのに十分な空間的及び角度
方向のサンプルがある時、ある部品に関する像の良好な
品質及び実質的な情報が得られる。然し、像を再生する
為の完全なデータは必ずしも利用することが出来ない。

１例としてＸ線ＣＴ（計算機式断層写真法）を考える。

場合によっては、部品の周りの必要な全ての観察角度に
於けるデータを求める様に、部品を操作することが出来
ないことがある。他の場合には、部品がＸ線を減衰する
のが強すぎて、ある方向又はある位置に於ける透過が得
られなくなることがある。第１図では、Ｘ線源及び検出
器を１０．１１に示しであるが、部品１２の一部分は、
角度範囲の一部分にわたるデータ収集走査を妨げている
。半径方向の走査をする場合でも、部品を通るＸ線の通
路長が長すぎて、意味のある測定に十分なＸ線の透過を
達成することが出来ない。その結果、データは不完全に
なり、一般的に不完全なデータによる像は、部品を正し
く検査して、きずを検出する能力を制限する様な重大な
人為効果を持つ。

この問題を取扱う従来の方式は、人為効果を持つ像から
、直接的に関連するきず情報を抽出し、部品のある情報
を反復的に取入れようとするものである。この後の方の
方式は、像の中にある画素が負でないこと、像にある画
素の最大値、及び大まかな形の情報を含むことがある。

米国特許第４゜５０６．３２７号及びジャール・オブ・
オプティカル・ソサイエティ・オブ・アメリカ誌、第７
１巻（１９８１年）第５８２頁乃至５９２頁所載のに、
　　Ｃ，タム及びＶ、ベレーメンデスの論文「限られた
角度の入力を用いた断層写真作像」を参照されたい。一
般的に、利用し得る先験的な情報及びそれを使う方法は
非常に限られている。

発明の要約 この発明の目的は、利用し得る測定データの情報を補う
為に、かなりの量の先験的な情報を像の再生及び像の処
理に有効に取入れることである。

別の目的は、不完全なデータを利用し得る様な場合に、
固体モデル装置から得られる部品の形状の正確な知識の
様な更に精密な先験的な情報を取入れることによって、
改良されたＮＤＥ像を提供することである。

利用し得る先験的な情報の源は幾つかある。先ず、ＣＡ
Ｄ　（計算機支援設計）による部品の電子モデルがある
。正確な３次元モデルを作る固体モデル装置を選ぶ。２
番目に、検査過程の物理学及び幾何学が判っており、部
品及び作像剤の源の物理的な特性が判っている。３番目
に、接触センサからの境界情報の様な、部品の検査中に
収集された他のセンサの読取りが別の先験的な情報にな
り得る。電子モデルの利点は、この様な固体モデルが外
部並びに内部の境界情報を供給することである。

この発明は、これに限らないが、Ｘ線作像、ディジタル
形放射線写真法、超音波検査、渦電流検査及び赤外線及
び可視検査を含めて、数多くのＮＤＥ作像方式及びモー
ドに応用し得る。

この発明の一面は、改良された先験的な情報を利用する
ＮＤＥ作像方法として、利用し得る範囲にわたって作像
剤を用いて部品を走査して、測定された作像パラメータ
・データを発生し、部品の３次元モデルを用意して、部
品の関連する形状を計算すると共に、部品、並びに出来
れば作像剤の源の選ばれた物理的な特性を供給し、部品
の形状及び物理的な特性を組合せて、物理的な又は動作
上の拘束の為に走査することが出来ない利用し得ない走
査範囲にわたる作像パラメータ・データを計算し、測定
された作像パラメータ・データ及び計算による作像パラ
メータ・データから、部品の像を形成する工程を含む方
法である。

この発明の好ましい実施例は、更に正確な先験的な情報
を用いて、角度が限られたＸ線ＣＴ像の品質を改良する
３つの方式である。投影データ方式は、限られた角度範
囲にわたってＸ線を用いて部品を走査して、利用し得る
観察角度の所で測定された投影データを発生し、３次元
固体モデル装置から導き出した部品の電子モデルを用意
して、部品及びＸ線源の既知の物理的なパラメータから
Ｘ線減衰を計算し、通路長及び減衰から、脱落している
観察角度に於ける投影データを計算し、それを合せたも
のがＣＴ再生アルゴリズムに対する完全な１組のデータ
となる様な、測定された投影データ及び計算による投影
データから、部品の像を再生する工程を含む方法である
。別の特徴は、電子モデルの中の通路長の計算が、固体
モデルからの部品の形状を２次元の画素像に変換し、こ
の画素像から通路長を計算する中間工程を含むことであ
る。

像処理及び解析方法は、利用し得る限られた角度範囲に
わたってＸ線を用いて走査して、測定された投影データ
から部分的な像を再生し、前に述べた様に、電子モデル
の中の通路長及びＸ線の減衰を計算することにより、完
全な１組の観察角度に於けるモデルの投影データを計算
し、測定されたデータと同じ角度範囲にわたって、モデ
ル投影データからモデルの部分的な像を再生し、完全な
モデル投影データからモデルの完全な像を再生し、モデ
ルの完全な像及び部分的な像を減算して、限られた角度
の再生誤差を表わすモデルの差像を作り、測定されたデ
ータから再生された部分的な像及びモデルの差像を組合
せて、最終的な像を作る。

繰返し再生方法は、利用し得る限られた角度範囲にわた
ってＸ線で走査して、測定されたデータから像を再生し
、部品のモデルから部品の正確な境界情報を計算すると
共に既知の物理的なパラメータからＸ線減衰を計算し、
部品の境界の外側にある画素をゼロに置き、負の画素を
ゼロに置き、予め選ばれた減衰の値より大きい画素を最
大値と置くことにより、この先験的な情報を用いて像を
調節し、こうして修正された像から、脱落している観察
角度に於ける脱落した投影データを計算し、／１ｌ１１
定された投影データ及び計算による脱落している投影デ
ータから新しい像を再生し、十分な像の品質に達するま
で、必要に応じてこれを繰返すことを含む。

発明の詳細な説明 先験的な情報を取入れることにより、不完全なデータに
よるＮＤＥ像の品質を改善する２つの方法が第２図に示
されている。ブロック１３乃至１６について説明すると
、利用し得る実験データを像形成アルゴリズムにより、
先験的な情報と組合せて、中間像を作る。必要な先験的
な情報は、ブロック１７及び１８の２つの源から得られ
る。即ち、部品のモデル又はセンサからの部品の形状と
、検査過程の物理の知識から導き出された、部品並びに
場合によっては作像剤の源の物理的なパラメータの知識
である。中間像は所期の目的に十分な品質を持つことも
持たないこともある。中間像は、例えばデータが不完全
である為に、雑音があったり或いは人為効果を含むこと
がある。ブロック１９乃至２１の先験的な情報を像処理
アルゴリズムで利用して、最終的な像の品質を高める。

最終的な像から、部品の材料の特性及びそのきずの特性
を決定する。例えば、鋼製の物体を検査して、錆のスポ
ット及び金属内の空所があるかどうかを調べることが出
来る。オペレータにより、又はアルゴリズムにより、最
終的な像に認められる所に従って、受理及び排除の判定
を下す。先験的な情報は、像を形成する時及び像を処理
する時の両方又は一方でだけ利用することが出来る。

Ｘｔ＊ＣＴ険査にと検査関心が持たれる典型的な大きな
部品は、航空機用機関の排気ノズル作動リングである。

作動リングを通る複雑な垂直断面が第３Ａ図の２２に示
されており、これは部品の５個所で上、壁の上方を伸び
るボスの内の１つを通る断面である。この部品は多重壁
構造を持っていて、これは普通のＮＤＥ方式を用いて検
査するのが困難である。最適の検査方式は、ＣＴスライ
スが部品の対称軸線と平行になる様に、部品の各々の壁
部分を通るＣＴスライスを作ることである。完全なデー
タを用いて再生されたＣＴ像は、第３Ａ図に示す様にな
る。平行ビーム・データでは、１８０°走査によって完
全なデータが得られる。不完全なデータを用いたＣＴ像
に特有な特徴を示す同じ断面が、第３Ｂ図の２３に示さ
れている。脱落しているデータは、第４図に見られる様
に、部品の長袖と平行な、１８０ｏの内の４０°の円錐
の中にある。部品の断面は、その幅よりも高さがかなり
あり、断面の縦横比が比較的大きい為、通路長が長い方
向のＸ線の透過が問題である。特に目につくのは、脱落
しているデータの方向と平行な壁に関する情報がないこ
とであり、像全体にわたって人為効果が存在することが
判った。部品の品質を、この様な限られた角度の像に基
づいて評価するのが極めて困難であることは明らかであ
る。

不完全なデータによるＮＤＥ像に正確な先験的な情報を
かなり取入れるこの発明の方法により、完全なデータに
よる像と比肩し得る品質の高い像が得られる。

ＣＡＤによる電子モデル、即ち、３次元固体モデル装置
から導き出した部品の固体モデルが、部品の形状情報の
有力な源である。選ばれた工業部品の青焼きで利用し得
る実効的に全ての情報を利用する。電子モデルは単に部
品の形状の数学的な表示であり、それが計算機で使うの
に実用的な形式で記憶される。特定の数学的な表示が、
物体のモデルの精度を決定する。この用途には受入れる
ことの出来ない単純なワイヤ・フレーム・モデルは、点
と、点を結ぶ円弧とによって作ることが出来るが、固体
モデルは、面から作ることが出来、この面は曲線及び点
から作られる。正確な固体モデルを回転させ並びに断面
を切って、特定の状態で物体がどの様に見えるかに関す
る情報を供給することが出来る。これは、物体を破壊し
なければ、通常利用することが出来ない情報である。好
ましい固体モデル装置は、ゼネラル・エレクトリック社
のＴＲＵＣＥ固体モデル装置である。これはゼネラル・
エレクトリック・カンパニイから出版されたコーポレー
トψリサーチ争アンドΦディベロップメント所載のＲ，
Ｔ、ファルーキ及びＪ、Ｒ。

ハインズの論文ｒＴＲＵＣＥ−３次元回転一体キュービ
ック・エンジン−利用者の案内」に記載されている。米
国特許第４，６１８，９２４号をも参照されたい。他の
固体モデル装置を用いてもよいが、実際の製造に十分な
精度を持っていなければならない。固体モデルは、外側
の境界の情報と共に、部品の内部の精密な境界情報をも
提供する。

先験的な情報の別の源は検査過程の物理学である。例と
して云うと、Ｘ線の物理並びに検査の形状が、Ｘ！ＩＣ
Ｔの結像パラメータである部品のＸ線吸収度を実効的に
決定する。

部品の形状情報は、部品の検査中に得られる接触センサ
及びこの他の補助的なセンサの読みによって供給するこ
とが出来る。このセンサは、部品の位置の情報と、製造
された部品が電子モデルからどの位置なるかに関する別
の情報を提供する。

部品が比較的簡単であって、接触センサによって完全に
走査することが出来れば、これが部品の外側の境界に関
する追加の先験的な情報の唯一の供給源であってよい。

像の品質を改善する為に、角度が限られたＣＴ像にモデ
ル情報を取入れる幾つかの方式が開発されている。投影
データ方式、繰返し再生方式、及び像の解析並びに処理
方式と云う先験的な情報を取入れる３つの方式を説明す
る。基本的な考えが第４図に示されており、この図では
、限られた角度範囲にわたって利用し得る観察角度で測
定された投影２４が、利用し得ない走査範囲にわたる脱
落している観察角度に於ける、モデルからの合成された
脱落している投影２５と組合されて、ＣＴ像の品質を改
善する。

第５図の投影データ方式はブロック２６乃至２９で構成
されるが、利用し得る角度範囲にわたる測定された投影
データを収集し、脱落している角度範囲にわたって、固
体モデルから投影データを計算し、利用し得る角度範囲
の７１１１定された投影データと、脱落している角度範
囲の計算による投影データとから、ＣＴ像を再生する。

測定された投影データ及び計算による投影データを合せ
たものが、ＣＴ像再生アルゴリズムに対する完全な１組
のデータとなる。部品の最終的な像は優れた像の品質を
持っている。固体モデル装置からの部品の形状、並びに
部品とＸ線源の既知の物理的なパラメータを用いて脱落
している投影データを計算する工程が第６図の３０乃至
３４に示されている。

３次元固体モデルの断面を２次元画素像に変換し、Ｘ線
が辿る通路長を計算する。Ｘ線検出器が配列である時、
源の焦点からことごとくの検出素子まで、多数の通路長
を計算しなければならないことがある。脱落している角
度範囲に於ける部品の通路長は、ユニバーシティ・オブ
・キャリフォーニア、ローレンス・バークレー・ラボラ
トリイ所属のＲ，Ｈ，ヒユーズマン他の著書「再生断層
写真法に用いるドナー・アルゴリズムＪ（１９７１Ｅ）
を用いて計算することが出来る。ドナー・パッケージは
基本的なＣＴ再生機能をも有する。部品によるＸ線の減
衰は、通路長、部品の材料及びＸ線エネルギに関係する
。材料は青焼きに示されており、合金であれば、合金の
成分が判っている。便利な計算方法は、Ｘ線管からの平
均エネルギを使うことである。公表された表から、合金
の各々の元素に対する減衰係数が判り、それを所定の公
式に従って混ぜ合せる。通路長に係数を乗ずれば、投影
データが得られる。更に正確な計算は、Ｘ線管内の全て
のエネルギに適用される表を使うことである。入力が通
路長であり、減衰が直接的に計算される。

第７図及び第８図の繰返し再生方式は、前に引用したタ
ム及びペレスーメデスが発表した論文に記載される方法
に基づいているが、かなり改善された先験的な情報を利
用する。利用し得る限られた角度範囲にわたって、部品
のＸ線走査を実施し、測定された投影データを収集する
。ブロック３５乃至３７で、フィルタ式逆投影又はその
他のアルゴリズムを使って、利用し得る投影データから
部品の部分的な実像を再生する。この方式では、再生像
は、フィルタ式逆投影による物体空間と、投影による投
影空間との間で前後に変換し、物体空間に於ける物体に
関する先験的な情報と、投影空間に於ける既知の投影と
によって、繰返して補正する。ブロック３８及び４２乃
至４４で示した３種類の先験的な情報を角度が限られて
いる像に適用する。部品のモデルを用意し、部品の境界
の情報をゴ計算する。固体モデル装置から導き出した電
子モデルが、精密な外側の境界の情報を供給し、第３Ａ
図に示す様な部品が一部分中空であれば、正確な内部の
境界の情報も供給する。この代りに、接触センサから得
られる３次元の殻体を使ってもよいが、これでは外側の
境界の情報しか得られない。別の代案は、１９８７年４
月１日に出願された係属中の米国特許出願通し番号箱２
３２．８０４号に記載されている様に、部品の凸の外殻
を決定することである。これによって外側の境界の情報
だけが得られる。前に述べた様に、部品を通る通路長を
計算し、部品の材料が判れば、その減衰係数とＸ線源の
エネルギとの２つのパラメータを乗算することにより、
部品の減衰を計算する。

部分的な実際のＣＴ像３７にある画素の値は、最初に部
品の境界より外側にある画素をゼロと置くことによって
調節する。電子モデルから部品の境界の情報が得られる
場合、外側及び内側の境界は共に高い精度で判っている
。２番目に、負の画素をゼロと置く。３番目に、ある選
ばれた減衰の最大値より大きな画素は、最大値と置く。

この最大値は、例えば計算による減衰又はその２倍の値
であってよい。ブロック３９で、限られた角度範囲の外
側の角度に於ける脱落している投影データを、こうして
修正された像から計算する。その後、利用し得る角度範
囲の測定された投影データと、脱落している角度範囲に
於けるＣＴ像からの計算による投影データとから、新し
い像を再生する。

この手順を必要なだけ繰返す。十分な像の品質に達する
まで、次第に改良された一連の像３７が再生される。こ
の反復的な再生が収斂することを証明することが出来、
ブロック４０に於ける適当な収斂試験により、もう１回
繰返しが必要であるか、或いは最終的な像４１を出力す
る位に品質がよいかを決定する。

第９図の像処理及び解析方法は、投影方式と関係を持つ
が、誤り補正像のオフライン処理が出来ると共に、投影
データ方式よりも、異なる点のデータに対するアクセス
が容易であると云う利点がある。図は、１８０°走査に
よって完全なデータが得られる平行ビーム・データの場
合である。部品がブロック４５乃至４７で、限られた角
度範囲θ１にわたり、Ｘ線を用いて走査され、利用し得
る観察角度に於ける測定された投影データを収集する。

フィルタ式逆投影再生アルゴリズムを用いて、利用し得
る測定されたデ、−夕から、部品の部分的な実像が再生
される。ブロック４８及び４９で、完全な１組の観察角
度に於けるモデル投影データが計算される。前と全く同
じ様に、部品の電子モデルを用意し、範囲θ１にわたる
利用し得る観察角度に於けるのと、範囲π−０１にわた
る脱落している観察角度に於けるとの両方の、部品を通
る通路長を計算する。部品及びＸ線源の既知の物理的な
パラメータから、減衰係数を計算し、通路長に減衰係数
を乗する。測定された投影データと同じ角度範囲にわた
って、モデルの投影データからモデルによる部分的な実
際のＣＴ像５０を再生する。人力範囲πにわたる完全な
モデル投影データから、モデルの完全なＣＴ像５１を再
生する。

ブロック５２で、モデルの完全な像及び部分的な実像の
減算及び正規化により、モデルの差像を構成する。角度
が限られている為の再生誤差を表わす差像を５３の所で
、測定された投影データから再生された部分的な像と組
合せ又は加算し、部品の最良のＣＴ像５４に達する。５
５に示す様に、この段階でこの他の像処理を行なうこと
が出来る。

更に正確な先験的な情報を取入れることにより、ＮＤＥ
像の品質を改良する３つの方式及び方法を説明した。ど
の方法を選ぶかは、求めるきず情報の種類に関係する。

繰返し再生方式は、計算は大がへりであるが、出発時の
基本材料に対するコントラストが高い為、空所を検査す
るのに最良である。それに対して、微小収縮は背景に近
く、差は５乃至１０％しかなく、投影データ方式が、人
為効果を除く点で、最良である。従来は普通のＮＤＥ方
式によって計算することが出来なかったある部品が、こ
う云う方法を用いると検査が出来る様になることが判っ
た。

この発明は、これに限らないが、Ｘ線計算機式断層写真
法、ディジタル形放射線写真法、超音波検査（Ｂ−走査
、Ｃ−走査等）、渦電流検査、赤外線及び可視検査等を
含めて、殆んど任意のＮＤＥ作像方式に用いることが出
来る。この何れの作像モードでも、不完全なデータしか
収集出来ない理由があると思われる。完全なデータを測
定することが出来ない理由は明らかであろう。先験的な
情報を取入れることによるＮＤＥ作像方法を要約すれば
、次の通りである。利用し得る走査範囲にわたって作像
剤（Ｘ線、超音波、赤外線等）を用いて部品を走査し、
測定された作像パラメータφデータを発生する。部品の
３次元モデルから、部品の関連する形状を計算する。部
品及び作像剤の源の選ばれた物理的なパラメータ及び特
性が判っている。部品の形状の情報と物理的な特性とを
組合せて、拘束の為に走査出来ない利用し得ない走査範
囲にわたる計算による作像パラメータ・データを決定す
る。その後、測定されたデータ及び計算によるデータを
組合せて、部品の像を形成する。

部品が作動リングである時のＣＡＤモデルを用いた場合
の更に詳しいこと並びにシミュレーションの結果が、レ
ビュー・オブ・プログレス・イン中りオンティテイティ
ブ・ノンデストラクチイブ・エバリユエーション誌、第
７巻に発明者が発表した論文「不完全データのＸ線０７
作像に於ける先験的な情報の利用」に発表されている。

この発明を好ましい実施例について図面に具体的に示し
て説明したが、当業者には、特許請求の範囲によって定
められたこの発明の範囲内で、種々の変更を加えること
が出来ることが理解されよう。

【図面の簡単な説明】

第１図は全部の角度にわたる走査を実施することを出来
なくする様な突起を持つ物体を示す略図、第２図は物体
に関する意味のある、更に正確な先験的な情報を像を形
成する過程に取入れる全般的な方式を示すブロック図、 第３Ａ図及び第３Ｂ図は完全なデータ及び不完全なデー
タを用いて再生されたジェット機関の部品のある垂直断
面の像に特有な特徴を示す略図、第４図は限られた角度
の１組のデータから導き出された測定による投影、及び
この発明による先験的な情報によって計算された脱落し
ている投影とを示す部品のＸ線ＣＴ検査の図、 第５図は先験的な情報を利用して、ＮＤＥ像の品質を改
善する投影データ方式のブロック図、第６図は今述べた
場合に必要な脱落している投影データを計算する工程を
示す図、 第７図は繰返し再生方式のブロック図、第８図は繰返し
再生方式に従って先験的な情報を利用して計算する工程
を示す図、 第９図はＣＴ像を再生する為の像解析及び処理方式のブ
ロック図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、先験的な情報を用いるＮＤＥ（非破壊評価）作像方
   法に於て、 利用し得る走査範囲にわたり作像剤を用いて部品を走査
   して測定された作像パラメータ・データを発生し、 前記部品の３次元モデルを作って該部品の関連する形状
   を計算すると共に、前記部品及び作像剤の源の選ばれた
   物理的な特性を供給し、 前記部品の形状及び物理的な特性を組合せて、拘束の為
   に走査することが出来ない、利用し得ない走査範囲にわ
   たって計算による作像パラメータ・データを決定し、 前記測定されたデータ及び計算されたデータから前記部
   品の像を形成する工程を含む方法。 ２、前記作像剤がＸ線である請求項１記載の方法。 ３、前記モデルが固体モデル装置から導き出した電子モ
   デルである請求項１記載の方法。 ４、前記組合せて決定する工程が、前記モデルの中を通
   る作像剤の通路長を計算し、前記物理的な特性から該作
   像剤の減衰を計算することを含む請求項３記載の方法。 ５、改良された先験的な情報を利用するＮＤＥ（非破壊
   評価）作像方法に於て、 限られた角度範囲にわたって作像剤を用いて部品を走査
   して、利用し得る観察角度に於ける測定された投影デー
   タを発生し、 ３次元固体モデル装置から導き出した前記部品の電子モ
   デルを用意して、脱落した観察角度に於ける前記モデル
   を通る作像剤の通路長を計算し、既知の物理的なパラメ
   ータから前記部品による作像剤の減衰を計算し、 前記通路長及び減衰から、前記脱落している観察角度に
   於ける計算による投影データを決定し、前記測定された
   投影データ及び計算による投影データから前記部品の像
   を再生する工程を含む方法。 ６、前記作像剤がＸ線である請求項５記載の方法。 ７、前記物理的なパラメータが部品の材料及びＸ線源の
   エネルギである請求項６記載の方法。 ８、前記モデルを通る通路長を計算することが、前記電
   子モデルからの部品の形状を２次元像に変換して、該２
   次元像から前記通路長を計算する中間工程を含む請求項
   ５記載の方法。 ９、改良された先験的な情報を利用するＮＤＥ（非破壊
   評価）作像方法に於て、 限られた角度範囲にわたってＸ線を用いて部品を走査し
   て、利用し得る観察角度に於ける測定された投影データ
   を発生し、 ３次元固体モデル装置から導き出した前記部品の電子モ
   デルを用意して、脱落している観察角度に於ける前記電
   子モデルを通るＸ線の通路長を計算し、 前記部品及びＸ線源の既知の物理的なパラメータから減
   衰を計算し、 該通路長及び減衰から、脱落している観察角度に於ける
   計算による投影データを決定し、 それを合せたものが、計算機式断層写真法の再生アルゴ
   リズムに対する完全な１組のデータとなる様な、測定さ
   れた投影データ及び計算による投影データから、前記部
   品の像を再生する工程を含む方法。 １０、前記電子モデルの中の通路長を計算することが、
   前記固体モデル装置からの部品の形状を２次元の画素像
   に変換し、該画素像から前記通路長を計算する中間工程
   を含む請求項９記載の方法。 １１、改良された先験的な情報を用いるＮＤＥ（非破壊
   評価）作像方法に於て、 限られた角度範囲にわたってＸ線を用いて部品を走査し
   て利用し得る観察角度に於ける測定された投影データを
   発生し、 該測定された投影データから前記部品の部分的な像を再
   生し、 ３次元固体モデル装置から導き出した前記部品の電子モ
   デルを用意して、利用し得る観察角度及び脱落している
   観察角度の両方に於ける前記モデルの中の通路長を計算
   して、前記部品及びＸ線源の既知の物理的なパラメータ
   から減衰を計算し、完全な１組の観察角度に於けるモデ
   ル投影データを計算し、 前記測定されたデータと同じ角度範囲にわたって、前記
   モデル投影データからモデルの部分的な像を再生すると
   共に、完全なモデル投影データからモデルの完全な像を
   再生し、前記モデルの完全な像及び部分的な像を減算し
   て、限られた角度の再生誤差を表わすモデルの差像を作
   り、 前記測定されたデータから再生された前記部分的な像及
   び前記モデルの差像を組合せて最終的な部品の像を作る
   工程を含む方法。 １２、前記電子モデルの中の通路長を計算することが、
   前記固体モデル装置からの部品の形状を２次元の画素像
   に変換して、該画素像から前記通路長を計算する中間工
   程を含む請求項１１記載の方法。 １３、改良された先験的な情報を用いるＮＤＥ（非破壊
   評価）作像方法に於て、 限られた角度範囲にわたって作像剤を用いて部品を走査
   して、利用し得る観察角度に於ける測定された投影デー
   タを発生し、 該測定された投影データから前記部品の像を再生し、 前記部品のモデルを用意すると共に部品の境界の情報を
   計算し、 前記部品及び作像剤の源の既知の物理的なパラメータを
   利用して、前記部品による前記作像剤の減衰を計算し、 前記部品の境界の外側の画素をゼロ、負の画素をゼロ、
   予め選ばれた減衰の最大値より大きい画素を最大値に設
   定することにより、先験的な情報を用いて前記像を調節
   し、 修正像から、前記限られた角度範囲の外側にある角度に
   於ける脱落している投影データを計算し、前記測定され
   た投影データ及び計算による脱落している投影データか
   ら、新しい像を再生し、十分な品質に達するまで、一連
   の漸進的に改良された像を反復的に再生する工程を含む
   方法。 １４、前記作像剤がＸ線である請求項１３記載の方法。 １５、前記モデルが３次元固体モデル装置から導き出し
   た電子モデルである請求項１３記載の方法。