JPH02504291A - 導電性薄層構造上に層を被着するためのcvd法 - Google Patents

導電性薄層構造上に層を被着するためのcvd法

Info

Publication number
JPH02504291A
JPH02504291A JP1502073A JP50207389A JPH02504291A JP H02504291 A JPH02504291 A JP H02504291A JP 1502073 A JP1502073 A JP 1502073A JP 50207389 A JP50207389 A JP 50207389A JP H02504291 A JPH02504291 A JP H02504291A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
reaction
layer structure
current
compound
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1502073A
Other languages
English (en)
Inventor
ゴツトスレーベン,オリイバー
シユトウーケ,ミヒアエル
Original Assignee
マツクス・プランク・ゲゼルシヤフト ツール フエールデルンク デア ビツセンシヤフテン エー フアウ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by マツクス・プランク・ゲゼルシヤフト ツール フエールデルンク デア ビツセンシヤフテン エー フアウ filed Critical マツクス・プランク・ゲゼルシヤフト ツール フエールデルンク デア ビツセンシヤフテン エー フアウ
Publication of JPH02504291A publication Critical patent/JPH02504291A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/48Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation
    • C23C16/481Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation by radiant heating of the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C16/047Coating on selected surface areas, e.g. using masks using irradiation by energy or particles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 導電性薄層構造上に層を被着するためのCVD法 この発明は、基板上に配置された導電性薄層構造上に、所定の材料を供給する化 合物てあって、気相のもの、あるいは、基板の表面に吸着または被着されている 化合物の熱的に誘起された反応によって、上記所定の材料の層を被着する化学蒸 着(CVD)法に関するものである。この発明はまたこのような方法を実施する ための装置を含む。
気相からの熱誘起被着により、また、気相の化合物の、所定材料を供給する熱誘 起反応によって上記所定材料から薄層を作ることは知られている。化学反応は単 なる熱分解、還元、あるいは、他の適当する任意の反応とすることかてきる。C VD法として知られるこのような方法は、最近、基板、例えば、ICチップ上に 導体構造のような薄層金属バタンを直接製造することにおいて重要性を増してお り、この場合、化学反応の開始、従って金属バタンの画定は基板の表面に集束さ れたレーザビームによって行われる。「直接書込み(Direktschrif t) JレーザCVD法(+、 G、 BLack外、Appl、 Phys、  Lett、 50(15)、 1987年4月13日、 1016〜1018 頁)においては、六弗化タングステンを水素で還元することにより、金属タング ステンと弗化水素酸が形成されて装置が被着される。
直接書込みレーザCVD法あるいは他の手段により作られたS層金属構造を強化 する、即ち、金属構造の(基板表面に垂直に測定した)厚さを、最初に層構造に 用い □たと同じ材料または別の材料である付加材料で補強したい場合がしばし ばある。同じことが、非金属導電性構造についても望まれることがある。
この発明はこの問題を、補強すべき導電性構造(導体構造)を、熱的に誘起され た化学反応中に、被着されるべき付加材料を供給する気相の化学化合物の存在下 で導電性構造を流れる電流によって加熱することにより解決する。
導体構造に生成されるジュール熱による導体構造のこの選択的かつ実質的に限定 的な加熱の結果、付加材料の非常に明確に限定された堆積か加熱された構造上の みに形成される。
好ましくは、加熱は補強すべき導電性構造に電流を流すことにより行われ、この 電流は導電性構造の加熱に充分なもので、導電性構造上に配置した電極を通して 導電性構造に供給される。加熱はまた。誘電的な方法、たとえば、導電性構造に 高周波電流を誘起させることなどによっても行うことかできる。
電流はパルス状に流すことが好ましく、これにより、補強されるべき導電性構造 は非常に急速に加熱され、基板への熱伝導のための時間が少なくなる。同様の考 え方は誘導加熱についてもあてはまる。
電流による金属または導電性構造の加熱中、これと接触するガス雰囲気は、好ま しくは、wH6とH2の混合物からなる。しかし1例えば、’acAb/Hz、  W(Co)s、 W(PF3)6等の他の種類のガス雰囲気も用いることかで きる。(なお、CVDによるタングステンの被着については1例えば、Th1n  5olid Films、 52(1978)、181〜194頁のC1E、  Morosanu他による論文を参照のこと、)次に、図面を参照して、導電 性構造を金属で補強する推奨例に基づいて詳細に説明する。
第1図は、レーザCVDにより金属バタンを作るための装置の一部を簡略化して 示す。
第2図は、レーザCVDにより作った金属構造の補強のための付加的な構成を有 する第1図による装置の概略図である。
第3図は、線状導体の拡大断面図である。
第1図と第2図は、この発明の方法の好ましい形を実施するための装置の基本的 な部分を概略的に示す。
第1図と第2図に示す装置は、光学窓12を有する気密性金属ハウジング10を 有し、この窓を通してレーザビーム14か基板支持体18上に配置された基板I 6の表面上に集束される0図示の実施例では、レーザビームは514.5 n■ の波長を有し、イオン化アルゴンレーザ20によって生成される。ハウジングl Oはさらに、2本のガス導管22用の通路が設けられており、この導管22はハ ウジングの外にある図示されていないガス供給系をへウジングlo内の混合用ヘ ッド24に接続する。ここに記述する実施例では、これらの導管の一方を通して 六弗化タングステンか、また、他方の導管を通して、WF&/l(2のモル比( solarenVerh:1ltnis)かl:10て水素か供給され、ハウシ ング内において、  WF6の分圧が約3  KPa(30ミリバール)、H2 の分圧か30 KPa (300ミリバール)となるようにされる、ここては、 基板16は、96%微細A9□03から作られかつ表面か最大粗さ約250 n +sに研摩されたセラミック板である。互いに約5〜6nm隔てられた2つの領 域に、金をスパッタリングして端子点が形成される。
基板支持体18は0..25gmの位置分解能(Positions−auf1 6sungsverm6gen)を有するコンピュータ制御される顕微鏡台て、 概略的に示され、好ましくは冷却構成である温度調整装置19を含んでおり、こ の装置により、金属−有機物化合物(metallorganischen V erbindung  キレート化合物)あるいは他の適当な化合物の薄層が吸 収、凝縮あるいは凍結のために基板の表面に導入される。レーザビーム14は8 mmの作動距離を持つ顕微鏡対物系によって集束され、基板表面上て得られるレ ーザビーム出力は約1.5Wになる。基板支持体18には加熱構成も設けること かてきる。
セラミック基板16の表面上の上述した装置と集束レーザビームとにより、タン グステンのストリップ状導体26か2つの端子点間に約250μm7秒の書入れ 速度て形成された。タングステンのレーザCVDによって形成された導体26の 比抵抗は約13〜20終Ω・CIで、これは固体タングステンの比抵抗5.6井 Ω・CIより高い、レーザCvDにより被着されたタングステンの幅を測定した か、半値幅か約5〜6μmてあった。なお、この測定値はIQ*鏡光常光学系解 能によって制限をうけている。
レーザCVDにより被着された線状導体26は、前述したIF6/H2反応混合 物の存在下で、導体26を流れる直流電流によって加熱され、初めに被着された タングステンの上に更にタングステンか被着されるようにして補強される。これ を行うために、2つの端子点か通路34を貫通する接続線によって脈動電流源3 6に結合される。この脈動電流源35は高振幅の短い電流パルスを供給する。パ ルスの持続時間、繰返し周波数及び振幅は、゛加熱されるべき導体構造あるいは 基板か損傷しないようなものに選ばれる。推奨される脈動電流源36は、約〕O vまでの可調整電圧、約10〜100m秒の可調整持続時間及び約2〜30Hz の可調整繰返し周波数をもフた電気パルスを供給しなければならない、脈動電流 の供給時間は、数分〜約20分とすることかてきる。電流または電圧の切換えは 手動て行うこともてきる。
第3図のaは層を持たない基板の断面、bはレーザCVDによって形成された導 体26aの断面、CはレーザCVDによって形成された導体(26aに相当)を 3Wの平均出力で5分間電流供給して補強した後の導体26bの断面、dはレー ザCVDによりて形成した導体を6Wの平均出力て5分間電流を流して補強した 後の導体の断面をそれぞれ示す、上記処理の間、約15V(3W)の電圧と約2 SV(6W)の電圧は5分の期間内で、10秒のスイッチオン期間と5秒のスイ ッチオフ期間が交番するように手動で切換えられた。
上述した補強法導体構造の強度は良好であることかわかった。電流によって加熱 された導体に隣接した部分には全くタングステンが被着されていなかった。
前述した実施例のパラメータは、特定の要求及び実験条件によって変えることが できるものて、従って、発明を限定するものとして解釈されるべきではないこと は。
明らかである。補強材料は初めに被着された金属と同じである必要はなく、他の 金属あるいは合金、もしくは、必要とあれば、半導体、絶縁材料、あるいは、セ ラミ・ンクの高温超導電体とすることもできる。また、種々の加熱工程と異なる 蒸気雰囲気とを用いて上述したやり方で多層構造を作ることもてきる。また、補 強すべき金属バタンと基板が許容すれば、動電流を流1.て加熱する代りに、例 えば高周波による、誘導加熱あるいは渦電流加熱を用いて加熱することもてきる 。上述した方法て補強される構造は非金属材料1例えば、炭素(グラファイト) 、半導体材料あるいは導電性化合物のものでもよい。
電流を流している間及びその結果として導体構造が加熱されている間の雰囲気を 市販の有機金属金化合物(Doduco KG社より市販のもの)で構成された ものとして、タングステン導電構造を金で補強した時に、特別な効果があった。
FIG、1 手続補正書 (預瀾脛冗騨) 平成2年7月n日 PCT/EP89100126 2 発明の名称 導電性薄層構造上に層を被着するためのCVD法3 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称  マックス・ブランク・ゲゼルシャフト ツールフエールデルンク デア  ビラセンシャツテンニー ファウ 4代理人 郵便番号651 住所 神戸市中央区雲井通7丁目1番1号5 補正の対象 明細書及び請求の範囲。
6 補正の内容 (1)請求の範囲を別紙の通り訂正する。
(2)明細書第2頁第8行の「存在下で導」を「存在下でその導」と訂正する。
(3)同上第2頁第11行の「導体構造に生成され」を「導電性(導体)構造に 生成され」と訂正する。
(4)同上第3頁第1行のrWH,、をrWF6.と訂正する。
(5)同上第4頁第3行のr 1 : 10で」をr l : 10となるよう に」と訂正する。
請求の範囲 以上 請求の範囲 1.所定の材料を供給するための化合物であって、気相のまたは基板の表面上に 吸着あるいは薄膜として被着された化合物の熱により誘起された反応によって上 記基板の上に配置された導電性層構造上に上記所定の材料の層を被着する方法で あって、上記導電性層構造がその中に発生された電流によって加熱されることを 特徴とする。CVD法。
2、薄層構造が金属からなることを特徴とする請求の範囲lに記載の方法。
3、層構造が基板に対する直接書込みレーザCVD法によって形成されることを 特徴とする請求の範囲lまたは2に記載の方法。
4、反応が金属埋積を生成することを特徴とする請求の範囲1または2に記載の 方法。
5、層構造を作るべき材料が反応によって供給されることを特徴とする請求の範 囲lまたは2に記載の方法。
6、反応によって半導体材料が供給されることを特徴とする請求の範囲lまたは 2に記載の方法。
7、反応によって誘電体材料が供給されることを特徴とする請求の範囲1または 2に記載の方法。
8、異なる化合物を用いて少なくとも2回行うことを特徴とする請求の範囲lま たは2に記載の方法。
9、気相化合物が、水素との混合物として用いられるWF6あるいはWCl2の ような揮発性ハロゲン化   ′タングステンであることを特徴とする請求の範 囲1または2に記載の方法。
10、ハロゲン化タングステンと水素の比が約10:1であることを特徴とする 請求の範囲9に記載の方法。
11、層構造がタングステンで形成されることを特徴とする請求の範囲1〜10 の何れか1つに記載の方法。
12、層構造が電流の動電気的流通によって加熱されることを特徴とする請求の 範囲1〜11の何れか1つに記載の方法。
13、パルス形状の電流が用いられることを特徴とする請求の範囲1〜12の何 れか1つに記載の方法。
14、電流が薄層構造における誘導によって生成されることを特徴とする請求の 範囲l乃至10の1つに記載の方法。
15、へウジングと、熱によって誘起される化学反応において所定の材料の層を 供給する化合物を気相で導入するための装置と、表面に層構造が配置されている 基板に対する支持体とを有し、特徴として、薄層構造と電流源とを接続するため の一対の電極を含み、これらの電極が薄層構造の加熱に充分な大きさの電流を特 徴する請求の範囲1の方法を実施して導電性層構造上に所定材料の層を被着する ための装置。
16、基板支持体が位置決め台であることを特徴とする請求の範囲15に記載の 装置。
17、へウジングが光学窓を有し、この窓を通してレーザビームが基板の表面上 に集束されることな特徴とする、請求の範囲15または16に記載の装置。
18、基板の温度調節用の装置が設けられていることを特徴とする請求の範囲1 5.16または17に記載の装置。
国際調査報告 −国際調査報告 EPε9Cり126

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.所定の材料を供給する化合物であって、気相または基板の表面上に吸着ある いは薄膜として被着された化合物を熱により誘起された反応によって上記基板の 上に配置された導電性層構造上に上記所定の材料の層を被着する方法であって、 層構造がその中に発生された電流によって加熱されることを特徴とする、CVD 法。 2.薄層構造が金属からなることを特徴とする、請求の範囲1に記載の方法。 3.層構造が基板に対する直接書込みレーザCVD法によって形成されることを 特徴とする、請求の範囲1または2に記載の方法。 4.反応が金属埋積を供給することを特徴とする、請求の範囲1または2に記載 の方法。 5.それから層構造が作られる材料を反応が供給することを特徴とする、請求の 範囲1または2に記載の方法。 5.反応が半導体材料を供給することを特徴とする、請求の範囲1または2に記 載の方法。 7.反応が誘電体材料を供給することを特徴とする、請求の範囲1または2に記 載の方法。 8.異なる化合物を用いて少なくとも2回行うことを特徴とする、請求の範囲1 または2に記載の方法。 9.気相化合物が水素との混合物として用いられるWF6あるいはWCl6のよ うな揮発性ハロゲン化タングステンであることを特徴とする、請求の範囲1また は2に記載の方法。 10.ハロゲン化タングステンと水素の比が約10:1であることを特徴とする 、請求の範囲9に記載の方法。 11.層構造がタングステンで形成されることを特徴とする、先行する請求の範 囲の任意の1つに記載の方法。 12.層構造が電流の動電気的流通によって加熱されることを特徴とする、先行 する請求の範囲の任意の1つに記載の方法。 13.パルス形状の電流が用いられることを特徴とする、先行する請求の範囲の 任意の1つに記載の方法。 14.電流が薄層構造における誘導によって生成されることを特徴とする、請求 の範囲1乃至10の1つに記載の方法。 15.ハウジング(1)と、熱によって誘起される化学反応において所定の材料 の層を供給する化合物を気相で導入するための装置(22、24)と、表面に層 構造(26)が配置されている基板(16)に対する支持体(18)とを有し、 特徴として、薄層構造と電流源(36)とを接続するための一対の電極(30) を含み、これらの電極が薄層構造の加熱に充分な大きさの電流を供給する、請求 の範囲1の方法を実施して導電性層構造上に所定材料の層を被着するための装置 。 16.基板支持体(18)が位置決め台であることを特徴とする、請求の範囲1 5に記載の装置。 17.ハウジング(10)が光学窓(12)を有し、この窓を通してレーザビー ム(14)が基板(16)の表面上に集束されることを特徴とする、請求の範囲 15または16に記載の装置。 18.基板の温度調節用の装置が設けられていることを特徴とする、請求の範囲 15、16または17に記載の装置。
JP1502073A 1988-02-16 1989-02-10 導電性薄層構造上に層を被着するためのcvd法 Pending JPH02504291A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3804805.1 1988-02-16
DE3804805A DE3804805A1 (de) 1988-02-16 1988-02-16 Cvd-verfahren zum niederschlagen einer schicht auf einer duennschicht-metallstruktur

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02504291A true JPH02504291A (ja) 1990-12-06

Family

ID=6347519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1502073A Pending JPH02504291A (ja) 1988-02-16 1989-02-10 導電性薄層構造上に層を被着するためのcvd法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5164222A (ja)
EP (1) EP0402368B1 (ja)
JP (1) JPH02504291A (ja)
DE (2) DE3804805A1 (ja)
WO (1) WO1989007665A1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6271802B1 (en) * 1997-04-14 2001-08-07 Mems Optical, Inc. Three dimensional micromachined electromagnetic device and associated methods
US20050000437A1 (en) * 2003-07-03 2005-01-06 Tombler Thomas W. Apparatus and method for fabrication of nanostructures using decoupled heating of constituents
US7311947B2 (en) * 2003-10-10 2007-12-25 Micron Technology, Inc. Laser assisted material deposition
DE102005048482A1 (de) * 2005-10-07 2007-04-12 Universität des Saarlandes Verfahren zur Beschichtung von elektrisch isolierenden Oberflächen und beschichtetes Substrat
US7892978B2 (en) 2006-07-10 2011-02-22 Micron Technology, Inc. Electron induced chemical etching for device level diagnosis
US7791055B2 (en) * 2006-07-10 2010-09-07 Micron Technology, Inc. Electron induced chemical etching/deposition for enhanced detection of surface defects
US7807062B2 (en) 2006-07-10 2010-10-05 Micron Technology, Inc. Electron induced chemical etching and deposition for local circuit repair
US7791071B2 (en) 2006-08-14 2010-09-07 Micron Technology, Inc. Profiling solid state samples
US7718080B2 (en) * 2006-08-14 2010-05-18 Micron Technology, Inc. Electronic beam processing device and method using carbon nanotube emitter
US7833427B2 (en) 2006-08-14 2010-11-16 Micron Technology, Inc. Electron beam etching device and method
US10865477B2 (en) 2016-02-08 2020-12-15 Illinois Tool Works Inc. Method and system for the localized deposit of metal on a surface

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2763576A (en) * 1949-05-23 1956-09-18 Ohio Commw Eng Co Method for gas plating
US3167449A (en) * 1961-04-26 1965-01-26 Gen Electric Method of forming carbon coating
DE2637836C2 (de) * 1976-08-21 1983-12-08 M.A.N. Maschinenfabrik Augsburg-Nuernberg Ag, 8000 Muenchen Vorrichtung zum Vernickeln von Bauteilen
US4239819A (en) * 1978-12-11 1980-12-16 Chemetal Corporation Deposition method and products
US4794019A (en) * 1980-09-04 1988-12-27 Applied Materials, Inc. Refractory metal deposition process
US4349408A (en) * 1981-03-26 1982-09-14 Rca Corporation Method of depositing a refractory metal on a semiconductor substrate
DE3126050A1 (de) * 1981-07-02 1983-01-13 Hanno Prof. Dr. 2000 Hamburg Schaumburg Verfahren zur erzeugung monokristalliner oder grobpolykristalliner schichten
JPS6210275A (ja) * 1985-07-09 1987-01-19 Canon Inc 堆積膜形成法
JPH0631185B2 (ja) * 1986-02-06 1994-04-27 東芝セラミツクス株式会社 炭化珪素発熱体の製造方法
US4756927A (en) * 1986-05-29 1988-07-12 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for refractory metal deposition
US4849260A (en) * 1986-06-30 1989-07-18 Nihon Sinku Gijutsu Kabushiki Kaisha Method for selectively depositing metal on a substrate

Also Published As

Publication number Publication date
DE3804805A1 (de) 1989-08-24
EP0402368A1 (de) 1990-12-19
DE58905281D1 (de) 1993-09-16
EP0402368B1 (de) 1993-08-11
WO1989007665A1 (en) 1989-08-24
US5164222A (en) 1992-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5464667A (en) Jet plasma process and apparatus
JPH02504291A (ja) 導電性薄層構造上に層を被着するためのcvd法
JPS599164A (ja) 耐火金属層を基板上に光沈着させる方法
US20060051950A1 (en) Apparatus and a method for forming an alloy layer over a substrate
JPH0149788B2 (ja)
US4351855A (en) Noncrucible method of and apparatus for the vapor deposition of material upon a substrate using voltaic arc in vacuum
JPH0460835B2 (ja)
JPH03126870A (ja) 低温cvdによる銅薄膜の形成方法
JPH04505481A (ja) 被覆方法
US4438153A (en) Method of and apparatus for the vapor deposition of material upon a substrate
US20020054963A1 (en) Process for producing a ceramic evaporation boat having an improved initial wetting performance
JPH01293970A (ja) 取付具とその製法ならびに部品接合法
US4617088A (en) Thermal head producing process
JPS61266568A (ja) コ−テイング装置
JPS60106964A (ja) 超微粒子膜の形成法並に装置
JPS6066896A (ja) 基体に金属銅を付着するための方法
RU2186152C2 (ru) Способ изготовления проводящей легированной алмазоподобной нанокомпозитной пленки и проводящая легированная алмазоподобная нанокомпозитная пленка
Gottsleben et al. Selective amplification of self‐resistively heated laser‐direct‐written tungsten lines
Guyard et al. Laser writing on gold-containing hydrocarbon matrix films deposited by a technique combining cathodic sputtering with hydrocarbon plasma polymerization
JPS5915983B2 (ja) ホウ素被膜の形成方法
JPH02243597A (ja) ダイヤモンド膜の合成方法
JPH111778A (ja) 膜形成方法、及び膜形成方法に用いられる液
JP3295357B2 (ja) アルミニウム材への磁性層形成方法および磁性層を有するアルミニウム材の製造方法
JPH01103920A (ja) 超電導体の作製のための改善方法
Dhote et al. Metallization of glass/ceramic from solutions of organometallic compounds by laser induced pyrolysis