JPH024978A - 無電解インジウムめっき浴 - Google Patents

無電解インジウムめっき浴

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JPH024978A
JPH024978A JP63146894A JP14689488A JPH024978A JP H024978 A JPH024978 A JP H024978A JP 63146894 A JP63146894 A JP 63146894A JP 14689488 A JP14689488 A JP 14689488A JP H024978 A JPH024978 A JP H024978A
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JP
Japan
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indium
plating bath
plating
electroless
bath
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JP63146894A
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English (en)
Inventor
Hidenori Shimauchi
島内 秀則
Keijiro Suzuki
鈴木 啓二郎
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Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、酸性無電解インジウムめっき浴に関する。
[従来の技術] インジウムの無電解めっき浴としては、特開昭57−5
857、特開昭59−177357がある。しかし、こ
れらはいずれも水素化ホウ素化合物を還元剤として含む
アルカリ浴であり、銅又は銅合金等の金属以外の被めっ
き物すなわちガラス、プラスチック、セラミック等にも
適用することができるが、■還元剤を含むため、めっき
浴が不安定で連続使用した場合にめっき浴か分解状態と
なる。■析出速度が遅い等という問題点がある。
一方、最近LSIの高集積化が進み、半導体チップの電
極端子と外部回路接続用リード線との接続をあらかじめ
ポリイミド等の樹脂製フィルムに銅箔を貼り、それをエ
ツチングして銅の配線パターンを形成したフィルムキャ
リア(テープキャリアともいう)を用いて行なう方法が
開発された。
このフィルム上の銅の配線パターン上にインジウムをめ
っきするためには、個々の配線パターンが分離独立して
いるため共通の通電部を形成することができないので電
気めっきを行なうことは事実上無理であり、無電解めっ
きにより行なう必要がある。
しかし、ポリイミド等の材質上、上記の様なアルカリ浴
を使うことができず、酸性で無電解インジウムめっきを
行なうことができるめっき浴の開発が待望されている。
[発明が解決しようとする課題] 本発明は、こうした実情に鑑み、酸性で、かつめつき浴
の安定性が優れ、析出速度も速い新規なインジウム無電
解めっき浴を提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] 本発明者は、上記の課題を解決するため、酸性浴で還元
剤を用いない、安定性に優れたインジウム無電解めっき
液について研究を重ねてきたが、該液にチオ尿素又はそ
の誘導体を添加すること有効であることを見出し、本発
明に至った。
すなわち、本発明は、インジウム塩とチオ尿素又はその
誘導体を含むことを特徴とする酸性無電解インジウムめ
っき浴である。
本発明に使用するインジウム塩としては、In2 (S
O4)3、In  (NO3)3、I nCl 3、ス
ルファミン酸インジウム、メタンスルホン酸インジウム
等インジウムと無機又は有機酸との化合物でpH3,Q
以下で溶解しているものであればよい。
また、めっき浴におけるインジウム塩の濃度は、l〜5
0gノ交、好ましくはlO〜20g/ Qである。
Ig/ 9未満ではインジウムは析出せず、また50g
1交を越えるとめっきは可能であるが析出速度が低下す
る。
本発明に使用するチオ尿素誘導体としては、たとえば、
2,4−ジチオビューレット、チオセミカルバジド等が
挙げられる。
チオ尿素又はチオ尿素誘導体のめっき浴における濃度は
、50〜200 g151 、好ましくは60〜+00
g151である。50g751未満ではインジウムは析
出せず、また200g/ Rを越えると白色の浮遊物(
不溶解成分)が生じ好ましくない。
本発明の無電解インジウムめっき浴のpHは、3.0以
下、好ましくは 1.0以下である。
pHが3.0を越えると、インジウムが水酸化物となり
沈澱が生成し、また析出速度を考慮するとpHは1.0
以下とするのが好ましい。
また、本発明のめっき浴の温度は、特に限定されるもの
ではないが、析出速度の而からは、50〜70℃とする
のが好ましい。
本発明の無電解インジウムめっき浴は、還元剤を使用し
ない置換による無電解めっきであり、めっき浴は安定し
ているため、安定剤、錯化剤の添加は基本的に不要であ
る。しかし、必要に応じて、例えば、めっき浴中のイン
ジウム、銅及びその他の金属イオンを安定化させたり、
析出を均一にするために、以下に示すような化合物を1
種又は2種以上使用することもできる。
それらの例として、EDTAおよびその誘導体、NTA
およびその誘導体等のアミノカルボン酸、酒石酸および
その誘導体、クエン酸およびその誘導体等のポリカルボ
ン酸、ゼラチン等の有機化合物、ポリアルキレングリコ
ール等の界面活性剤がある。
本発明の無電解インジウムめっき浴は、インジウムより
卑な金属及び銅又は銅合金にインジウムめっきする場合
に用いられるが、ガラス、プラスチック、セラミック等
に対しては、あらかじめ公知の技術で銅を被覆又は銅箔
等を貼着することにより適用することができる。
本発明のめっき浴は、とくにアルカリに弱いポリイミド
フィルムキャリア上の銅にインジウムめっきする場合に
好適である。
[作 用] 本発明の無電解インジウムめっき浴を使用してめっきす
る場合の作用を、銅又は銅合金を被めっき物とする場合
を例に挙げて説明する。
銅又は銅合金等にインジウムを置換反応で析出させるこ
とは、イオン化傾向より原理的には不可能であるが、チ
オ尿素又はその誘導体を用いることにより銅の溶解電位
が卑の方向へ動き、インジウムの析出電位より卑になる
この結果、下式で示される置換反応が進むことになる。
3Cu0 ”  −3Cu”+6e−<1)2 I n
 ”+ 6 e −一→21 n 0(2)・、3Cu
’ +241”チオ尿素 3Cu”+2 I no (3) 又、チオ尿素とCu2+との錯形成定数がβ4  : 
 [CLIL4  ”]  =15.4(25°C10
,1N   K   N03) ※L:チオ尿素 と大きく、インジウムとの置換により溶出したCu2+
と安定な錯体を形成するため (3)式の逆反応を抑え
ることができる。
又、チオ尿素は、上記のような働きの他、(3)式で示
されるように銅の溶解促進剤として働くため、本発明の
めっき浴はめっき速度(析出速度)が従来のアルカリ浴
と比較して約4〜109程度と著しく速いという特徴を
有する。
[実施例コ 以下に実施例を挙げ、本発明をさらに詳細に説明する。
[実施例1] In”:15g/9.(InC13を使用)、チオ尿素
100g/Itで塩酸3%を含む溶液(pH<1)を調
製し、温度60℃とした。
この溶液に厚み0.4m/mの銅板を5分間浸漬した所
、0.2μ■厚で密着性の良いインジウム皮膜が得られ
た。
[実施例2] I n ”: lOg/i [In2(SO4) 3を
使用)、チオ尿素75g/ Stで硫酸1.5%を含む
溶液(pH<1)を調製し、温度60℃とした。
この溶液に厚み0.4i/mの銅板を5分間浸漬した所
、0.15μm厚で密着性の良いインジウム皮膜が得ら
れた。
[実施例3コ 実施例1.2で調製した溶液を1週間放置後、実施例1
.2と同様のめっき操作を行なったところ、それぞれ5
分間で0.2μm 、 0.15μm厚の密着性の良い
めっき皮膜を得た。
以下に、前記の従来提案されたインジウムめっき浴を使
用した場合の参考例を示す。上記の実施例と対比すれば
本発明のめっき浴が安定性、析出速度において顕著に優
れていることがわかる。
[参考例1] 水19.中にIn2 (SO4)3  9H20を7g
1エチレンジアミン四酢酸ナトリウムを10g1トリエ
タノールアミンを6g1チオジグリコール酸を0.1g
、およびNa BH4を2g溶かし、水酸化すトリウム
でpHを9.5に調製した。
このめっき液を80℃に保ち、被めっき基材(ABS樹
脂板)を30分浸漬したが、インジウムのめっき皮膜は
得られず、約2Hr後にはめつき液は分解状態となって
しまった。
[参考例2] I n 2  (SO4) 3 2.0g/lニトリロ
酸酢酸酸酢ジナトリウム121.クエン酸カリウム7g
/ i、水酸化ホウ素ナトリウム3g/l酸化鉛0.0
2g/9含む溶液を調製し、水酸化ナトリウムでpH=
 10.5とした。
このめっき液を55℃に保ち、PVC基板を浸漬した。
インジウムのめっき皮膜は2Hr後においても0.08
μm厚のものが得られたにすぎなかった。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の構成による無電解インジ
ウムめっき浴は、インジウムの析出速度が著しく速く、
しかもめっき浴の安定性も高く、また、本発明のめっき
浴は酸性であるから、たとえばポリイミドフィルムベー
スの銅配線のめっきにも好適である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. インジウム塩とチオ尿素又はその誘導体を含むことを特
    徴とする酸性無電解インジウムめっき浴。
JP63146894A 1988-06-16 1988-06-16 無電解インジウムめっき浴 Pending JPH024978A (ja)

Priority Applications (5)

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JP63146894A JPH024978A (ja) 1988-06-16 1988-06-16 無電解インジウムめっき浴
US07/363,615 US4959278A (en) 1988-06-16 1989-06-08 Tin whisker-free tin or tin alloy plated article and coating technique thereof
KR1019890008190A KR920000592B1 (ko) 1988-06-16 1989-06-14 주석위스커의 발생을 방지한 주석 또는 주석합금도금물 및 그 제조방법
DE89110828T DE68913818D1 (de) 1988-06-16 1989-06-14 Mit whiskerfreiem Zinn oder whiskerfreier Zinnlegierung plattierter Gegenstand und Beschichtungstechnik dafür.
EP89110828A EP0346888B1 (en) 1988-06-16 1989-06-14 Tin whisker-free tin or tin alloy plated article and coating technique thereof

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8460533B2 (en) 2006-12-15 2013-06-11 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Indium compositions
US8491773B2 (en) 2008-04-22 2013-07-23 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Method of replenishing indium ions in indium electroplating compositions
JP7093488B1 (ja) * 2021-09-29 2022-06-30 石原ケミカル株式会社 置換インジウムメッキ浴

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