JPH0242655A - 光記憶体 - Google Patents
光記憶体Info
- Publication number
- JPH0242655A JPH0242655A JP63193819A JP19381988A JPH0242655A JP H0242655 A JPH0242655 A JP H0242655A JP 63193819 A JP63193819 A JP 63193819A JP 19381988 A JP19381988 A JP 19381988A JP H0242655 A JPH0242655 A JP H0242655A
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- JP
- Japan
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- reflecting film
- film
- transparent substrate
- corrosion resistance
- thereupon
- Prior art date
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- Pending
Links
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Landscapes
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は音響機器などに用いられる光記憶体に関する。
従来、光記憶体の一つであるコンパクトディスク(以下
、CDと記す)の反射膜として、アルミニウムが使用さ
れている。しかし、近年、CDにコンピュータデータを
記録したCD−ROMが普及し、従来にも増して、高温
・高湿下での保存性の高いものが望まれている。
、CDと記す)の反射膜として、アルミニウムが使用さ
れている。しかし、近年、CDにコンピュータデータを
記録したCD−ROMが普及し、従来にも増して、高温
・高湿下での保存性の高いものが望まれている。
上述した従来の光記憶体は、かかる過酷な環境下に−お
いて、蒸着された金属反射膜が腐食し、信号読み取りの
指標とされるエラーレートが増加し、上記のニーズに適
応できないという問題があった。
いて、蒸着された金属反射膜が腐食し、信号読み取りの
指標とされるエラーレートが増加し、上記のニーズに適
応できないという問題があった。
本発明は、光記憶体の耐腐食性、特に反射膜の耐腐食性
を強化し、信頼性を向上させた光記憶体を提供すること
にある。
を強化し、信頼性を向上させた光記憶体を提供すること
にある。
本発明によれば、光記憶体は、透明基板と、前記透明基
板上に被覆した窒化チタンからなる反射膜と、前記反射
膜上に被覆した保護膜とを備えて構成される。
板上に被覆した窒化チタンからなる反射膜と、前記反射
膜上に被覆した保護膜とを備えて構成される。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す光記憶体の部分断面図
である。
である。
第1図に示すように、強化カラス、石英ガラス、ポリカ
ーボネート樹脂等からなる透明基板1の上に窒化チタン
を高周波マクネトロンスパッタ法、イオンブレーティン
グ法、クラスターイオンビーム法、プラズマCVD法等
により50〜500nmの膜厚で被覆して反射膜2を形
成し、反射膜2の上に保護膜3として樹脂膜を被覆する
。
ーボネート樹脂等からなる透明基板1の上に窒化チタン
を高周波マクネトロンスパッタ法、イオンブレーティン
グ法、クラスターイオンビーム法、プラズマCVD法等
により50〜500nmの膜厚で被覆して反射膜2を形
成し、反射膜2の上に保護膜3として樹脂膜を被覆する
。
ここで耐腐食性を試験するために、第1表に示すような
透明基板1の上に窒化チタンからなる反射膜2と保護膜
3を順次被覆して設けた6個の試料1〜・■を準備した
9 次に、これらの試料I〜■及び反射膜にアルミニウム膜
を使用した従来品について初期のエラーレートを測定し
た結果、透明基板1の材質や反射膜2の膜厚の違いにも
かかわらずすべての試料について5X10−5の値を得
た。
透明基板1の上に窒化チタンからなる反射膜2と保護膜
3を順次被覆して設けた6個の試料1〜・■を準備した
9 次に、これらの試料I〜■及び反射膜にアルミニウム膜
を使用した従来品について初期のエラーレートを測定し
た結果、透明基板1の材質や反射膜2の膜厚の違いにも
かかわらずすべての試料について5X10−5の値を得
た。
第1表
次に、これらの試料1〜、■及び従来品に対して温度8
0°C相対湿度90%の雰囲気中の耐腐食性試験を1ケ
月間実施した後、信号の良否の指標となるエラーレート
を測定した結果を第2表に示す。第2表に示すように、
従来品では測定不能となったのに対して本発明の試料■
〜■では多少の劣化がみられるものの充分実用できるも
のが実現できた。
0°C相対湿度90%の雰囲気中の耐腐食性試験を1ケ
月間実施した後、信号の良否の指標となるエラーレート
を測定した結果を第2表に示す。第2表に示すように、
従来品では測定不能となったのに対して本発明の試料■
〜■では多少の劣化がみられるものの充分実用できるも
のが実現できた。
第2表
せて信頼性を向上させることができるという効果を有す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例を示す光記憶体の部分断面図
である。 1・・・透明基板、2・・・反射膜、3・・・保護膜。
である。 1・・・透明基板、2・・・反射膜、3・・・保護膜。
Claims (1)
- 透明基板と、前記透明基板上に被覆した窒化チタンから
なる反射膜と、前記反射膜上に被覆した保護膜とを備え
たことを特徴とする光記憶体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63193819A JPH0242655A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 光記憶体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63193819A JPH0242655A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 光記憶体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0242655A true JPH0242655A (ja) | 1990-02-13 |
Family
ID=16314279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63193819A Pending JPH0242655A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 光記憶体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0242655A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2262832A (en) * | 1991-12-23 | 1993-06-30 | Glaverbel | Optical recording disc |
-
1988
- 1988-08-02 JP JP63193819A patent/JPH0242655A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2262832A (en) * | 1991-12-23 | 1993-06-30 | Glaverbel | Optical recording disc |
GB2262832B (en) * | 1991-12-23 | 1995-10-04 | Glaverbel | Optical recording disc |
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