JPH0235386B2 - Sukyuuhyojunteepukensasochi - Google Patents

Sukyuuhyojunteepukensasochi

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Publication number
JPH0235386B2
JPH0235386B2 JP5223381A JP5223381A JPH0235386B2 JP H0235386 B2 JPH0235386 B2 JP H0235386B2 JP 5223381 A JP5223381 A JP 5223381A JP 5223381 A JP5223381 A JP 5223381A JP H0235386 B2 JPH0235386 B2 JP H0235386B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
track
peak position
output
skew
circuit
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP5223381A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57167117A (en
Inventor
Toshio Nagumo
Yasuhiro Mizuniwa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
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Publication of JPS57167117A publication Critical patent/JPS57167117A/ja
Publication of JPH0235386B2 publication Critical patent/JPH0235386B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/20Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor for correction of skew for multitrack recording

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、磁気テープ装置において各トラツク
ビツトの進み遅れ調整を行う際に、基準として用
いられるスキユー標準テープを検査し、スキユー
量を測定する装置に関するものである。
磁気テープ装置はテープの交換を前堤としてい
るので、任意の装置で記録したテープを任意の装
置で再生できるものでなければならず、そのため
に基準となる記録ずみテープにより各装置を調整
し各トラツクのビツトを揃えることが重要であ
る。そこでこの基準となる記録ずみテープ、即ち
スキユー標準テープを検査する装置としてスキユ
ー標準テープ作成、検査装置が必要となる。従来
この種装置でスキユー標準テープのスキユー量を
測定する方法としては、各トラツクの読出し信号
を増幅した後、シンクロスコープ上で基準トラツ
クと他の1トラツクの波形をとらえそれぞれのピ
ーク位置ずれを観測者が読取るやり方が一般的で
あつた。従つて、観測者はシンクロスコープの取
扱いに十分熟練していることが必要である上、ピ
ーク位置の判定が人の目で行われるので測定値が
観測者によりバラつくという欠点があつた。また
ピーク位置検出器付きの装置にあつても、スキユ
ー量の検出が1トラツクに関してだけであり全ト
ラツクを測定するにはそれだけの測定回数を繰返
す必要があつた。
本発明はこれらの欠点を除去するためにスキユ
ー標準テープ読出し波形のピーク位置を自動検出
し、さらに全トラツクのスキユー量を同時に測定
できるようにしたものである。
すなわち、本発明は、スキユー標準テープの各
トラツクからの読出し信号を増幅する各トラツク
分の読出しアンプと、前記読出しアンプ出力の正
ピーク位置あるいは負ピーク位置をそれぞれ検出
する各トラツク分のピーク位置検出器と、前記ピ
ーク位置検出器出力をそれぞれ任意時間遅延させ
る各トラツク分の遅延回路と、前記遅延回路出力
のうち任意の1トラツクを基準に他の前記遅延回
路出力の進みあるいは遅れ時間を電圧に変換する
各トラツク分の位相差電圧変換回路と、前記位相
差電圧変換回路出力を各トラツク同時に記録でき
るマルチレコーダからなるスキユー標準テープ検
査装置である。
以下に本発明の一実施例を図によつて説明す
る。図において1は読出しヘツド、2は読出しア
ンプ、3はピーク位置検出器、4は遅延回路、5
は位相差電圧変換回路、6は遅延時間設定回路で
あり、これらはそれぞれ9トラツク分用意されて
いる。7は9チヤンネルマルチレコーダ、8は正
負ピーク選択回路、9は基準トラツク選択回路で
ある。以下1トラツク分に関し動作を説明する。
読出しヘツド1で読出した信号を読出しアンプ2
により増幅し、ピーク位置検出器3に入力する。
ピーク位置検出器3は正負ピーク選択回路8によ
り選択された例のピーク位置を検出し、検出時点
でピーク検出パルスを発生し遅延回路4の入力に
送る。遅延回路4は前記ピーク検出パルス入力後
遅延時間設定回路6で設定された時間だけ遅れた
時点で遅延パルスを発生し位相差電圧変換回路5
の入力に送る。位相差電圧変換回路5は前記遅延
パルスのうち、基準トラツク選択回路9で選択さ
れたトラツクの遅延パルスを基準に、そのトラツ
クの遅延パルスとの位相差分を電圧に変換してマ
ルチレコーダ7に出力する。以上の動作が9トラ
ツク分同時に進行してマルチレコーダ7の入力に
は基準トラツクに対する各トラツクのスキユー量
が電圧として刻々印加され、記録される。なお、
遅延時間設定回路6で設定する時間は、読出しヘ
ツド1からピーク位置検出器3までの各トラツク
間装置内位相誤差を補正するものである。
以上説明したように、本発明によれば、スキユ
ー標準テープのトラツク間スキユー量が一回のテ
ープ走行で全トラツク分同時に測定できるので、
測定時間を大幅に短縮できる。また、ピーク位置
の検出が自動的に行われるので観測者が不要とな
り、かつ測定データの信頼度が向上する。さらに
同一時刻における各トラツクのスキユー量が記録
されるので、テープの蛇行、うねり等の走行状態
を把握することも可能である。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示すブロツク図であ
る。1は読出しヘツド、2は読出しアンプ、3は
ピーク位置検出器、4は遅延回路、5は位相差電
圧変換回路、6は遅延時間設定回路、7は9チヤ
ンネルマルチレコーダ、8は正負ピーク選択回
路、9は基準トラツク選択回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 スキユー標準テープの各トラツクからの読出
    し信号を増幅する各トラツク分の読出しアンプ
    と、前記読出しアンプ出力の正ピーク位置あるい
    は負ピーク位置をそれぞれ検出する各トラツク分
    のピーク位置検出器と、前記ピーク位置検出器出
    力をそれぞれ任意時間遅延させる各トラツク分の
    遅延回路と、前記遅延回路出力のうち任意の1ト
    ラツクを基準に他の前記遅延回路出力の進みある
    いは遅れ時間を電圧に変換する各トラツク分の位
    相差電圧変換回路と、前記位相差電圧変換回路出
    力を各トラツク同時に記録できるマルチレコーダ
    からなることを特徴とするスキユー標準テープ検
    査装置。
JP5223381A 1981-04-07 1981-04-07 Sukyuuhyojunteepukensasochi Expired - Lifetime JPH0235386B2 (ja)

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JPS57167117A JPS57167117A (en) 1982-10-14
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JP5223381A Expired - Lifetime JPH0235386B2 (ja) 1981-04-07 1981-04-07 Sukyuuhyojunteepukensasochi

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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GB9312831D0 (en) * 1993-06-22 1993-08-04 Central Research Lab Ltd Method and apparatus for the determination of azimuth error

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JPS57167117A (en) 1982-10-14

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