JPH0234779A - スパツタ装置 - Google Patents
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- JPH0234779A JPH0234779A JP18279188A JP18279188A JPH0234779A JP H0234779 A JPH0234779 A JP H0234779A JP 18279188 A JP18279188 A JP 18279188A JP 18279188 A JP18279188 A JP 18279188A JP H0234779 A JPH0234779 A JP H0234779A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明はスパッタ装置に関し、具体的には成膜中に被成
膜部材や形成中の膜に2次電子が与えるダメージ防止に
関する。
膜部材や形成中の膜に2次電子が与えるダメージ防止に
関する。
[従来の技術]
半導体素子は二酸化珪素(Sin2)等の絶縁膜で被覆
される。この絶縁膜は、平行平板電極型のスパッタ装置
で形成できる。スパッタによって形成した絶縁膜は、緻
密で密着性がよく保護膜として好適であるが、スパッタ
中に発生した2次電子が高速に加速されて半導体素子に
衝突して該半導体素子にダメージを与え、該半導体素子
の性能を劣化させる問題がある。例えば、薄酸化膜を形
成した電界効果トランジスタC以下、FETという)の
場合、素子の表面にスパッタによって保護膜を形成する
と該素子のスレッシュホールド電圧が低下することが知
られている。
される。この絶縁膜は、平行平板電極型のスパッタ装置
で形成できる。スパッタによって形成した絶縁膜は、緻
密で密着性がよく保護膜として好適であるが、スパッタ
中に発生した2次電子が高速に加速されて半導体素子に
衝突して該半導体素子にダメージを与え、該半導体素子
の性能を劣化させる問題がある。例えば、薄酸化膜を形
成した電界効果トランジスタC以下、FETという)の
場合、素子の表面にスパッタによって保護膜を形成する
と該素子のスレッシュホールド電圧が低下することが知
られている。
スパッタ中の高速2次電子による半導体素子へのダメー
ジについては、ジャーナル・オブ・バキューム・サイエ
ンス・アンド・テクノロジー14(1)(1977年)
第92頁から第97頁(J、 Vac、 Sci、 T
achnol、 、 14 (1) (1977)PP
92〜97)に論じられている。そして該論文は、被成
膜部材である半導体素子側に高周波バイアス電圧をかけ
る高周波スパッタ装置でSin、絶縁膜を形成し、その
後にアニール(半導体素子を加熱して電気特性を回復さ
せる処理)を行なうことによって良好なスレッシュホー
ルド電圧を得ることを開示している。
ジについては、ジャーナル・オブ・バキューム・サイエ
ンス・アンド・テクノロジー14(1)(1977年)
第92頁から第97頁(J、 Vac、 Sci、 T
achnol、 、 14 (1) (1977)PP
92〜97)に論じられている。そして該論文は、被成
膜部材である半導体素子側に高周波バイアス電圧をかけ
る高周波スパッタ装置でSin、絶縁膜を形成し、その
後にアニール(半導体素子を加熱して電気特性を回復さ
せる処理)を行なうことによって良好なスレッシュホー
ルド電圧を得ることを開示している。
[発明が解決しようとする課題]
上記論文に開示されれている技術は、成膜中にターゲッ
タ付近にできるイオンシースの電界によって加速された
高速2次電子を被成膜部材である半導体素子付近にでき
る電界で減速することにより半導体素子への衝撃を柔ら
げるとともに、素子が受けたダメージをアニールにより
解消することで該素子の特性を回復するものである。半
導体素子付近に生ずる電界は半導体素子側に供給する高
周波電力を大きくすることによって強くすることができ
るが、このようにするとスパッタにより膜を削る作用も
大きくなるので、高速2次電子番qよる衝撃を柔らげる
ために半導体素子付近の電界を強くすることには限界が
ある。従って、該電界によるダメージ緩和には限界があ
り、素子の性能低下防止を十分に発揮することが困難で
あった。
タ付近にできるイオンシースの電界によって加速された
高速2次電子を被成膜部材である半導体素子付近にでき
る電界で減速することにより半導体素子への衝撃を柔ら
げるとともに、素子が受けたダメージをアニールにより
解消することで該素子の特性を回復するものである。半
導体素子付近に生ずる電界は半導体素子側に供給する高
周波電力を大きくすることによって強くすることができ
るが、このようにするとスパッタにより膜を削る作用も
大きくなるので、高速2次電子番qよる衝撃を柔らげる
ために半導体素子付近の電界を強くすることには限界が
ある。従って、該電界によるダメージ緩和には限界があ
り、素子の性能低下防止を十分に発揮することが困難で
あった。
従って本発明の第1の目的は、成膜中に高速2次電子が
被成膜部材及び形成中の膜にダメージを与えるのを十分
に防止できるスパッタ装置を提供することにある。
被成膜部材及び形成中の膜にダメージを与えるのを十分
に防止できるスパッタ装置を提供することにある。
そして第2の発明の目的は、高速2次電子によるダメー
ジを与えることなく半導体素子(特にFET素子)の表
面に皮膜を形成できるスパッタ装置を提供することにあ
る。
ジを与えることなく半導体素子(特にFET素子)の表
面に皮膜を形成できるスパッタ装置を提供することにあ
る。
[課題を解決するための手段]
この目的を達成するために、第1の発明は、真空容器と
、該真空容器中にほぼ平行に対向させて設けた2つの平
板電極と、該2つの平板電極の少なくとも一方に高周波
電力を供給する高周波電源とを備え、前記平板電極の一
方に成膜材料であるターゲットを保持し、前記平板電極
の他方に成膜される被成膜部材を保持した状態で前記真
空容鼎中を排気すると共にガスを導入しながら前記高周
波電力を供給することによってターゲットと被成膜部材
の間の空間に放電を起こしてプラズマを生成し前記被成
膜部材に成膜するスパッタ装置において、前記2つの平
板電極の間に前記高周波電力による電界と直交する方向
の磁界を発生する磁界発生手段を設けたことを特徴とし
。
、該真空容器中にほぼ平行に対向させて設けた2つの平
板電極と、該2つの平板電極の少なくとも一方に高周波
電力を供給する高周波電源とを備え、前記平板電極の一
方に成膜材料であるターゲットを保持し、前記平板電極
の他方に成膜される被成膜部材を保持した状態で前記真
空容鼎中を排気すると共にガスを導入しながら前記高周
波電力を供給することによってターゲットと被成膜部材
の間の空間に放電を起こしてプラズマを生成し前記被成
膜部材に成膜するスパッタ装置において、前記2つの平
板電極の間に前記高周波電力による電界と直交する方向
の磁界を発生する磁界発生手段を設けたことを特徴とし
。
第2の発明は、真空容器と、該真空容器中にほぼ平行に
対向させて設けた2つの平板電極と、該2つの平板電極
の少なくとも一方に高周波電力を供給する高周波電源と
を備え、前記平板電極の一方に絶縁成膜材料であるター
ゲットを保持し、前記平板電極の他方に前記成膜材料で
成膜されるFET素子を保持した状態で前記真空容器中
を排気すると共にガスを導入しながら前記高周波電力を
供給することによってターゲットとFET素子の間の空
間に放電を起こしてプラズマを生成し前記FET素子に
成膜するスパッタ装置において、前記2つの平板電極の
間に前記高周波電力による電界と直交する方向の磁界を
発生する磁界発生手段を設けたことを特徴とする。
対向させて設けた2つの平板電極と、該2つの平板電極
の少なくとも一方に高周波電力を供給する高周波電源と
を備え、前記平板電極の一方に絶縁成膜材料であるター
ゲットを保持し、前記平板電極の他方に前記成膜材料で
成膜されるFET素子を保持した状態で前記真空容器中
を排気すると共にガスを導入しながら前記高周波電力を
供給することによってターゲットとFET素子の間の空
間に放電を起こしてプラズマを生成し前記FET素子に
成膜するスパッタ装置において、前記2つの平板電極の
間に前記高周波電力による電界と直交する方向の磁界を
発生する磁界発生手段を設けたことを特徴とする。
[作用]
真空容器中を排気すると共にガスを導入しながら前記高
周波電力を供給すると、ターゲットと被成膜部材の間の
空間に放電が発生してガスのプラズマが生成される。そ
してターゲット付近にはイオンシースが形成され、プラ
ズマ中のイオンはこのイオンシースによる電界で加速さ
れてターゲットを衝撃し、該ターゲットの粒子をスパッ
タする。
周波電力を供給すると、ターゲットと被成膜部材の間の
空間に放電が発生してガスのプラズマが生成される。そ
してターゲット付近にはイオンシースが形成され、プラ
ズマ中のイオンはこのイオンシースによる電界で加速さ
れてターゲットを衝撃し、該ターゲットの粒子をスパッ
タする。
このようにしてスパッタされた粒子が被成膜部材の表面
に付着して膜が形成される。
に付着して膜が形成される。
一方、イオンがターゲットを衝撃するときに発生する2
次電子もイオンシースによる電界により加速されて被成
膜部材に向かって飛行する。しかしながらこの高速2次
電子の飛行運動は該2次電子が磁界発生手段により形成
された磁力線を横切るときに該磁力線に巻き付くような
回転運動に変更されて被成膜部材まで到達することはほ
とんどなくなり、高速2次電子が被成膜部材を衝撃して
該被成膜部材及び形成中の膜にダメージを与えることが
なくなる。
次電子もイオンシースによる電界により加速されて被成
膜部材に向かって飛行する。しかしながらこの高速2次
電子の飛行運動は該2次電子が磁界発生手段により形成
された磁力線を横切るときに該磁力線に巻き付くような
回転運動に変更されて被成膜部材まで到達することはほ
とんどなくなり、高速2次電子が被成膜部材を衝撃して
該被成膜部材及び形成中の膜にダメージを与えることが
なくなる。
特にその特性を低下させることなくFET素子の表面に
皮膜を形成するのに好適である。
皮膜を形成するのに好適である。
なお、スパッタ粒子は中性であるので、前記磁界が該ス
パッタ粒子に作用して成膜に影響することはない。
パッタ粒子に作用して成膜に影響することはない。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図及び第2図は本発明になるスパッタ装置の第1の
実施例を示している。排気口1aを有する真空容器1内
には、成膜材料のターゲット2を保持する平板電極であ
るターゲットホルダ3と、被成膜部材の基板4を保持す
る平板電極である基板ホルダ5と、前記2つのホルダ3
,5間の放電空間1bに磁界を発生する永久磁石6a、
6bと、アースシールド7a、7bと、シャッタ8とが
収納される。ターゲットホルダ3と基板ホルダ5とは放
電空間1bを介してほぼ平行に対向するように絶縁物9
a、9bを介して前記真空容器1に固定され、ターゲッ
トホルダ3には高周波電源1゜からマツチングボックス
11を介して高周波電力が供給され、基板ホルダ5は接
地されている。シャッタ8は矢印の方向に移動するよう
に設けられ、スパッタ粒子が被成膜基板4の表面に付着
して成膜するのを制御する。永久磁石6a、6bは、前
記放電空間1bを横切る方向に磁力線12を発生するよ
うに該放電空間1bを挾んで異なる極性の複数の磁極を
対向させた複数の永久磁石で構成される。この永久磁石
6a、6bはステンレス環のケースに入れて固定しであ
るが、膜への不純物混入が問題となる場合には、磁石の
表面やケースの表面にターゲットと同一材質の皮膜を形
成しておくとよい。
実施例を示している。排気口1aを有する真空容器1内
には、成膜材料のターゲット2を保持する平板電極であ
るターゲットホルダ3と、被成膜部材の基板4を保持す
る平板電極である基板ホルダ5と、前記2つのホルダ3
,5間の放電空間1bに磁界を発生する永久磁石6a、
6bと、アースシールド7a、7bと、シャッタ8とが
収納される。ターゲットホルダ3と基板ホルダ5とは放
電空間1bを介してほぼ平行に対向するように絶縁物9
a、9bを介して前記真空容器1に固定され、ターゲッ
トホルダ3には高周波電源1゜からマツチングボックス
11を介して高周波電力が供給され、基板ホルダ5は接
地されている。シャッタ8は矢印の方向に移動するよう
に設けられ、スパッタ粒子が被成膜基板4の表面に付着
して成膜するのを制御する。永久磁石6a、6bは、前
記放電空間1bを横切る方向に磁力線12を発生するよ
うに該放電空間1bを挾んで異なる極性の複数の磁極を
対向させた複数の永久磁石で構成される。この永久磁石
6a、6bはステンレス環のケースに入れて固定しであ
るが、膜への不純物混入が問題となる場合には、磁石の
表面やケースの表面にターゲットと同一材質の皮膜を形
成しておくとよい。
ターゲット2はSiO□で直径150mmに形成されて
おり、ターゲットホルダ3は水冷されている。ターゲッ
ト2と被成膜基板4の間隔は約40mmである。
おり、ターゲットホルダ3は水冷されている。ターゲッ
ト2と被成膜基板4の間隔は約40mmである。
以上の構成において、被成膜基板4の表面に成膜しよう
とするときは、真空容器1内を排気装置(図示せず)に
よって真空度1/10’Pa程度まで排気する。次いで
該真空容器1内の真空度がが1〜2Paとなるようにア
ルゴンガスを導入しながら、高周波電源10からターゲ
ットホルダ3に13.45MHzの高周波電力を供給す
ると、放電空間1bに放電が発生する。これにより放電
空間1bにはプラズマ(電離気体)が生成され、ターゲ
ット2の近傍にはイオンシースと呼ばれる電位差があら
れれる。プラズマ中のイオンがこの電位差(電界)によ
って加速されてターゲット2をfr撃して該ターゲット
2の粒子(SiO□)をスパッタする。このスパッタさ
れた粒子は対向する基板ホルダ5に保持されている被成
膜基板4に堆積して成膜する。
とするときは、真空容器1内を排気装置(図示せず)に
よって真空度1/10’Pa程度まで排気する。次いで
該真空容器1内の真空度がが1〜2Paとなるようにア
ルゴンガスを導入しながら、高周波電源10からターゲ
ットホルダ3に13.45MHzの高周波電力を供給す
ると、放電空間1bに放電が発生する。これにより放電
空間1bにはプラズマ(電離気体)が生成され、ターゲ
ット2の近傍にはイオンシースと呼ばれる電位差があら
れれる。プラズマ中のイオンがこの電位差(電界)によ
って加速されてターゲット2をfr撃して該ターゲット
2の粒子(SiO□)をスパッタする。このスパッタさ
れた粒子は対向する基板ホルダ5に保持されている被成
膜基板4に堆積して成膜する。
ここでイオンシースによる電界で加速されたイオンがタ
ーゲット2を衝撃するときに2次電子が発生し、この2
次電子がイオンシースの電界で加速されて被成膜基板4
に向かって飛行する。しかしこの高速2次電子の飛行運
動は永久磁石6a。
ーゲット2を衝撃するときに2次電子が発生し、この2
次電子がイオンシースの電界で加速されて被成膜基板4
に向かって飛行する。しかしこの高速2次電子の飛行運
動は永久磁石6a。
6bによって生成された磁力線12を横切るときに該磁
力線12に巻き付くような回転運動に変更されて被成膜
基板4まで到達することはほとんどなくなり、高速2次
電子が被成膜基板4を衝撃して該被成膜基板4及び形成
中の膜ににダメージを与えることがない。
力線12に巻き付くような回転運動に変更されて被成膜
基板4まで到達することはほとんどなくなり、高速2次
電子が被成膜基板4を衝撃して該被成膜基板4及び形成
中の膜ににダメージを与えることがない。
ここで高速2次電子が被成膜基板4を衝撃するのを防止
するのに必要な磁界の強さについて説明する。簡単のた
めに、ターゲットホルダ3と基板ホルダ5の間では−様
な磁束密度B[ガウスコの磁界が発生しているものとし
、両ホルダ3,5の間隔はL[cm]、fJ子の最大エ
ネルギーはTe[電子ボルト]とする。
するのに必要な磁界の強さについて説明する。簡単のた
めに、ターゲットホルダ3と基板ホルダ5の間では−様
な磁束密度B[ガウスコの磁界が発生しているものとし
、両ホルダ3,5の間隔はL[cm]、fJ子の最大エ
ネルギーはTe[電子ボルト]とする。
−様な磁界中での電子の回転運動の回転半径は、3.3
27XfTτX1/B [cm]となる。この回転
半径が両ホルダ3,5の間隔りより大きいと高速2次電
子は被成膜基板4に衝突することになり、この衝突を避
けるためには、3.327XfTiX1/B < L の関係を満足することが必要である。
27XfTτX1/B [cm]となる。この回転
半径が両ホルダ3,5の間隔りより大きいと高速2次電
子は被成膜基板4に衝突することになり、この衝突を避
けるためには、3.327XfTiX1/B < L の関係を満足することが必要である。
Te=2000 [電子ボルト] −L=4 [cm]
のとき、磁束密度Bは37[ガウス1以上必要である。
のとき、磁束密度Bは37[ガウス1以上必要である。
これは両ホルダ3,5の間に−様な磁界が生成できた場
合であり、第1図及び第2図に示すように両ホルダ3,
5に近づくに従って磁束密度が低下するので、2つの永
久磁石6a、6bの中間位置での磁束密度Bを先に求め
た値の約3倍の100 [ガウス]程度とすることが望
ましい。
合であり、第1図及び第2図に示すように両ホルダ3,
5に近づくに従って磁束密度が低下するので、2つの永
久磁石6a、6bの中間位置での磁束密度Bを先に求め
た値の約3倍の100 [ガウス]程度とすることが望
ましい。
磁力812は放電によって生成されたプラズマを貫いて
発生しているが、スパッタ粒子は中性であるので、該磁
力線12がスパッタ粒子に影響することはなく、従って
、成膜のための該スパッタ粒子の移動に悪影響を与える
ことはない。
発生しているが、スパッタ粒子は中性であるので、該磁
力線12がスパッタ粒子に影響することはなく、従って
、成膜のための該スパッタ粒子の移動に悪影響を与える
ことはない。
この実施例においてターゲット2に5f02 を用いた
場合の成膜速度は3μm/時であり、磁界を作用させな
い場合と大差ない。被成膜基板4上での成膜厚さの均一
性が問題となる場合には、基板ホルダ5を回転させなが
ら成膜すれば、より均一な厚さの成膜が得られる。
場合の成膜速度は3μm/時であり、磁界を作用させな
い場合と大差ない。被成膜基板4上での成膜厚さの均一
性が問題となる場合には、基板ホルダ5を回転させなが
ら成膜すれば、より均一な厚さの成膜が得られる。
このスパッタ装置を用いてFET素子を被成膜基板とし
てその表面に第3図に示すようなSin。
てその表面に第3図に示すようなSin。
の絶縁皮膜を形成すると、第4図に示したようにスレッ
シュホールド電圧が劣化しないものが得られる。
シュホールド電圧が劣化しないものが得られる。
第3図はスパッタ装置によって絶縁皮膜を形成したFE
Tを示しており、4aはドレイン、4bはソース、4c
はゲート、4dはゲート#!縁のためのSin、膜、4
eは5in2保護膜である。
Tを示しており、4aはドレイン、4bはソース、4c
はゲート、4dはゲート#!縁のためのSin、膜、4
eは5in2保護膜である。
そして第4図はスパッタ装置によりSiO□で成膜した
FETのスレッシュホールド電圧と該成膜中に発生する
2次電子の最大エネルギーの関係を示している。特性A
は本発明になるスパッタ装置により成膜したFETの特
性、特性Bは従来のスパッタ装置により成膜したFET
の特性である。
FETのスレッシュホールド電圧と該成膜中に発生する
2次電子の最大エネルギーの関係を示している。特性A
は本発明になるスパッタ装置により成膜したFETの特
性、特性Bは従来のスパッタ装置により成膜したFET
の特性である。
従来のスパッタ装置では2次電子の最大エネルギーが増
加するに従ってスレッシュホールド電圧が低下するが、
本発明になる前記スパッタ装置によればターゲット近傍
の2次電子の最大エネルギーが増加してもスレッシュホ
ールド電圧の低下が起こらないことがわかる。
加するに従ってスレッシュホールド電圧が低下するが、
本発明になる前記スパッタ装置によればターゲット近傍
の2次電子の最大エネルギーが増加してもスレッシュホ
ールド電圧の低下が起こらないことがわかる。
以上のように本発明になるスパッタ装置は、スバッタに
よって発生する高速2次電子を磁力線12で捕獲して被
成膜基板4に衝突しないようにできるので、被成膜基板
4及び形成中の膜にダメージを与えることがない。
よって発生する高速2次電子を磁力線12で捕獲して被
成膜基板4に衝突しないようにできるので、被成膜基板
4及び形成中の膜にダメージを与えることがない。
以下、本発明の他の実施例を説明する。なお。
上記した第1の実施例と共通する構成要素については同
一参照符号を付してその詳細説明を省略する。
一参照符号を付してその詳細説明を省略する。
第5図及び第6図は本発明になるスパッタ装置の第2の
実施例を示している。この実施例は、第1図及び第2図
に示した第1の実施例の永久磁石6a、6bを継鉄で連
結したものである。
実施例を示している。この実施例は、第1図及び第2図
に示した第1の実施例の永久磁石6a、6bを継鉄で連
結したものである。
継鉄13は鉄とニッケルの合金のような高透磁率の磁性
材料で環状に形成され、各永久磁石6a。
材料で環状に形成され、各永久磁石6a。
6bの外端に接してこれらを包囲している。この実施例
は、磁気回路の磁気抵抗を低減して高い磁束密度の磁界
を発生させるのに有利である。このようにすると、直径
300mmの大形のターゲットを用いた成膜でも高速2
次電子によるダメージを防止することが可能である。
は、磁気回路の磁気抵抗を低減して高い磁束密度の磁界
を発生させるのに有利である。このようにすると、直径
300mmの大形のターゲットを用いた成膜でも高速2
次電子によるダメージを防止することが可能である。
また、このように継鉄13を用いる構成では、永久磁石
6a、6bを高透磁率材料に置き換え、継鉄13に電磁
コイルを巻いて磁界を発生するように変形することも可
能である。
6a、6bを高透磁率材料に置き換え、継鉄13に電磁
コイルを巻いて磁界を発生するように変形することも可
能である。
第7図及び第8図は本発明になるスパッタ装置の第3の
実施例を示している。この実施例は、第1図及び第2図
に示した第1の実施例の永久磁石6a、6bを電界方向
と同一の垂直方向に縦長にし、放電空間1bの両側に対
向する極性を異極性に配置したものである。
実施例を示している。この実施例は、第1図及び第2図
に示した第1の実施例の永久磁石6a、6bを電界方向
と同一の垂直方向に縦長にし、放電空間1bの両側に対
向する極性を異極性に配置したものである。
この実施例では、磁界の上層部では永久磁石6aから永
久磁石6bに向かう磁力線12aが発生し、磁界の下層
部では永久磁石6bから永久磁石6aに向かう磁力線1
2bが発生し、その間では磁束密度はほぼ零となる。そ
して、ターゲット2及び被成膜基板4の付近では磁束密
度が低下する。
久磁石6bに向かう磁力線12aが発生し、磁界の下層
部では永久磁石6bから永久磁石6aに向かう磁力線1
2bが発生し、その間では磁束密度はほぼ零となる。そ
して、ターゲット2及び被成膜基板4の付近では磁束密
度が低下する。
この実施例の利点は、永久磁石6a、6bを縦長に配置
したので真空容器1を小さくでき、装置を小形化できる
ことである。
したので真空容器1を小さくでき、装置を小形化できる
ことである。
第9図及び第10図は本発明になるスパッタ装置の第4
の実施例を示している。この実施例は、第7図及び第8
図に示した第3の実施例の永久磁石6a、6bの一方を
放電空間1bの中央に、他方を放電空間1bの外周に対
向する極性が異極性になるように配置して該放電空間1
bに放射状の磁界を発生するようにしたものである。
の実施例を示している。この実施例は、第7図及び第8
図に示した第3の実施例の永久磁石6a、6bの一方を
放電空間1bの中央に、他方を放電空間1bの外周に対
向する極性が異極性になるように配置して該放電空間1
bに放射状の磁界を発生するようにしたものである。
この実施例において、放電空間1bの中央に配置された
永久磁石6aはその表面をSun、で被覆したフェライ
ト磁石で構成され、絶縁物14を介してターゲットホル
ダ3に保持される。
永久磁石6aはその表面をSun、で被覆したフェライ
ト磁石で構成され、絶縁物14を介してターゲットホル
ダ3に保持される。
この実施例の利点は、広い面積にわたって磁界を発生す
ることができるので、複数の被成膜基板4f、4g、4
h及び41を同時に成膜することができる大面積スパッ
タ装置を容易に実現できることである。
ることができるので、複数の被成膜基板4f、4g、4
h及び41を同時に成膜することができる大面積スパッ
タ装置を容易に実現できることである。
第11図及び第12図は本発明になるスパッタ装置の第
5の実施例を示している。この実施例は、第1図及び第
2図に示した第1の実施例のターゲットホルダ3と基板
ホルダ5への給電方法を変更し、バイアススパッタ装置
としたものである。
5の実施例を示している。この実施例は、第1図及び第
2図に示した第1の実施例のターゲットホルダ3と基板
ホルダ5への給電方法を変更し、バイアススパッタ装置
としたものである。
高周波電源10は発信器10aと位相器1. Obと増
幅器10c、10dとを備え、発生した高周波電力をマ
ツチングボックスlla、llbを介してターゲットホ
ルダ3と基板ホルダ5へ供給する。発信器10aは13
.56MHzの高周波信号を発生し、増幅器10cはこ
の高周波信号を増幅しマツチングボックスllaを介し
てターゲットホルダ3に供給し、位相器10bはこの高
周波信号の位相をずらして増幅器10dで増幅しマツチ
ングボックスllbを介して基板ホルダ5に供給する。
幅器10c、10dとを備え、発生した高周波電力をマ
ツチングボックスlla、llbを介してターゲットホ
ルダ3と基板ホルダ5へ供給する。発信器10aは13
.56MHzの高周波信号を発生し、増幅器10cはこ
の高周波信号を増幅しマツチングボックスllaを介し
てターゲットホルダ3に供給し、位相器10bはこの高
周波信号の位相をずらして増幅器10dで増幅しマツチ
ングボックスllbを介して基板ホルダ5に供給する。
この実施例のスパッタ装置は、基板ホルダ5にも高周波
バイアス電力が供給されるので、被成膜基板4の付近に
もイオンシースによる電界が発生して該被成膜基板4へ
の高速2次電子の衝突は抑制されるが、磁界も衝突抑制
効果を発揮するので、高速2次電子が被成膜基板4や形
成中の膜に与えるダメージを一掃することができる。
バイアス電力が供給されるので、被成膜基板4の付近に
もイオンシースによる電界が発生して該被成膜基板4へ
の高速2次電子の衝突は抑制されるが、磁界も衝突抑制
効果を発揮するので、高速2次電子が被成膜基板4や形
成中の膜に与えるダメージを一掃することができる。
[発明の効果コ
以上のように本発明は、イオンがターゲットを衝撃する
ときに発生しイオンシースによる電界により加速されて
被成膜部材に向かって飛行する高速2次電子の運動を、
該高速2次電子が磁界発生手段により形成された磁力線
を横切るときに該磁力線に巻き付くような回転運動に変
更して捕捉するので、高速2次電子が被成膜部材を衝撃
して該被成膜部材及び形成中の膜にダメージを与えるこ
とがなくなる効果が得られる。
ときに発生しイオンシースによる電界により加速されて
被成膜部材に向かって飛行する高速2次電子の運動を、
該高速2次電子が磁界発生手段により形成された磁力線
を横切るときに該磁力線に巻き付くような回転運動に変
更して捕捉するので、高速2次電子が被成膜部材を衝撃
して該被成膜部材及び形成中の膜にダメージを与えるこ
とがなくなる効果が得られる。
特にその特性を低下させることなくFETの表面に皮膜
を形成するのに好適である。
を形成するのに好適である。
図面は本発明になるスパッタ装置を示すもので、第1図
は第1の実施例の縦断側面図、第2図はその■−■断面
図、第3図はこのスパッタ装置で成膜したFETの縦断
側面図、第4図はその特性曲線図、第5図は第2の実施
例の縦断側面図、第6図はそのVI−VI断面図、第7
図は第3の実施例の縦断側面図、第8図はその■−■断
面図、第9図は第4の実施例の縦断側面図、第10図は
そのX−X断面図、第11図は第5の実施例の縦断側面
図、第12図はその朋−届所面図である。 1・・・・・・真空容器、 1b・・・・・・放電空
間、2・・・・・・ターゲット5 3・・・・・・タ
ーゲットホルダ、4・・・・・・基板、 5・・・・
・・基板ホルダ。 6a、6b・・・・・・永久磁石、10・・・・・・高
周波電源、12・・・・・・磁力線。 第1図 第3図 d 2 クープ・ソト 3 7−勺−ットオ、ルり°゛ 4 署シもに 6a、 6b・永た続 IO−・ 島局′Xt連 第2図 第4図 豪大電手工不ルヤ°−(eV) a 第 図 第 図 第9図 第 0図 第7図 第8図 第11図 第12図
は第1の実施例の縦断側面図、第2図はその■−■断面
図、第3図はこのスパッタ装置で成膜したFETの縦断
側面図、第4図はその特性曲線図、第5図は第2の実施
例の縦断側面図、第6図はそのVI−VI断面図、第7
図は第3の実施例の縦断側面図、第8図はその■−■断
面図、第9図は第4の実施例の縦断側面図、第10図は
そのX−X断面図、第11図は第5の実施例の縦断側面
図、第12図はその朋−届所面図である。 1・・・・・・真空容器、 1b・・・・・・放電空
間、2・・・・・・ターゲット5 3・・・・・・タ
ーゲットホルダ、4・・・・・・基板、 5・・・・
・・基板ホルダ。 6a、6b・・・・・・永久磁石、10・・・・・・高
周波電源、12・・・・・・磁力線。 第1図 第3図 d 2 クープ・ソト 3 7−勺−ットオ、ルり°゛ 4 署シもに 6a、 6b・永た続 IO−・ 島局′Xt連 第2図 第4図 豪大電手工不ルヤ°−(eV) a 第 図 第 図 第9図 第 0図 第7図 第8図 第11図 第12図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空容器と、該真空容器中にほぼ平行に対向させて
設けた2つの平板電極と、該2つの平板電極の少なくと
も一方に高周波電力を供給する高周波電源とを備え、前
記平板電極の一方に成膜材料であるターゲットを保持し
、前記平板電極の他方に成膜される被成膜部材を保持し
た状態で前記真空容器中を排気すると共にガスを導入し
ながら前記高周波電力を供給することによつてターゲッ
トと被成膜部材の間の空間に放電を起こしてプラズマを
生成し前記被成膜部材に成膜するスパッタ装置において
、前記2つの平板電極の間に前記高周波電力による電界
と直交する方向の磁界を発生する磁界発生手段を設けた
ことを特徴とするスパッタ装置。 2、特許請求の範囲第1項において、前記磁界発生手段
は、前記放電領域の両側に異なる極性の磁極を対向させ
た永久磁石で構成したことを特徴とするスパッタ装置。 3、特許請求の範囲第2項において、前記磁界発生手段
は、前記放電領域の両側に異なる極性の複数の磁極を対
向させた永久磁石で構成し、該磁石の反対内側磁極は高
透磁率の継鉄で連結したことを特徴とするスパッタ装置
。 4、特許請求の範囲第2項において、前記永久磁石は前
記電界と平行な方向に磁化されたものであることを特徴
とするスパッタ装置。 5、特許請求の範囲第1項において、前記磁界発生手段
は、前記放電領域の中央に配置した永久磁石とその外周
に配置されて異なる極性の磁極を対向させた複数の永久
磁石とを備え、該放電領域に放射状の磁界を発生するこ
とを特徴とするスパッタ装置。 6、特許請求の範囲第5項において、前記永久磁石は前
記電界と平行な方向に磁化されたものであることを特徴
とするスパッタ装置。 7、特許請求の範囲第1項において、前記高周波電源は
、2つの平板電極に位相の異なる高周波電力を供給する
ことを特徴とするスパッタ装置。 8、真空容器と、該真空容器中にほぼ平行に対向させて
設けた2つの平板電極と、該2つの平板電極の少なくと
も一方に高周波電力を供給する高周波電源とを備え、前
記平板電極の一方に絶縁成膜材料であるターゲットを保
持し、前記平板電極の他方に前記成膜材料で成膜される
電界効果トランジスタ素子を保持した状態で前記真空容
器中を排気すると共にガスを導入しながら前記高周波電
力を供給することによつてターゲットと電界効果トラン
ジスタ素子の間の空間に放電を起こしてプラズマを生成
し前記電界効果トランジスタ素子に成膜するスパッタ装
置において、前記2つの平板電極の間に前記高周波電力
による電界と直交する方向の磁界を発生する磁界発生手
段を設けたことを特徴とするスパッタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18279188A JPH0234779A (ja) | 1988-07-23 | 1988-07-23 | スパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18279188A JPH0234779A (ja) | 1988-07-23 | 1988-07-23 | スパツタ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0234779A true JPH0234779A (ja) | 1990-02-05 |
Family
ID=16124486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18279188A Pending JPH0234779A (ja) | 1988-07-23 | 1988-07-23 | スパツタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0234779A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5288277A (en) * | 1976-01-19 | 1977-07-23 | Comtec Kk | Spatter coating apparatus |
JPS5421710A (en) * | 1977-07-19 | 1979-02-19 | Toshiba Corp | Track part working method of magnetic heads |
-
1988
- 1988-07-23 JP JP18279188A patent/JPH0234779A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5288277A (en) * | 1976-01-19 | 1977-07-23 | Comtec Kk | Spatter coating apparatus |
JPS5421710A (en) * | 1977-07-19 | 1979-02-19 | Toshiba Corp | Track part working method of magnetic heads |
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