JPH02307680A - 溶接用コンタクトチップの製造方法 - Google Patents

溶接用コンタクトチップの製造方法

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JPH02307680A
JPH02307680A JP12960689A JP12960689A JPH02307680A JP H02307680 A JPH02307680 A JP H02307680A JP 12960689 A JP12960689 A JP 12960689A JP 12960689 A JP12960689 A JP 12960689A JP H02307680 A JPH02307680 A JP H02307680A
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JP
Japan
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welding
core part
manufacturing
contact tip
core
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Application number
JP12960689A
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English (en)
Inventor
Minoru Yoshinaka
芳中 實
Mitsuo Tsuge
柘植 光雄
Hisao Yamamoto
尚男 山本
Toshiaki Bito
尾藤 俊章
Naoki Shibano
芝野 尚樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は消耗電極式アーク溶接用トーチに使用する溶接
用コンタクトチップの製造方法に関するものである。
従来の技術 第4図に従来の溶接用コンタクトチップ(以下単にチッ
プという)の例を示す。チップ5は消耗電極(以下単に
ワイヤという)をその中心部に設けたワイヤ通孔3を経
て溶接部に供給するガイドの役目と溶接電流をワイヤへ
供給する給電の役目を果たしている。また、溶接トーチ
に取シ付けるためにネジ部6が設けられている。
チップ6はワイヤに対して接触給電をおこなっておシ、
給電時にはワイヤの接触部分が高温になり、ワイヤの送
給によってワイヤ通孔3が著しく摩耗し、摩耗状態によ
っては、ワイヤのガイドやワイヤへの給電の役目を果た
し得なくなる。
そのだめ、従来のチップは高温での耐摩耗性に優れたク
ロム銅によシ全体が構成されていた。
発明が解決しようとする課題 しかし、この様な従来のチップでは全体を高価なりロム
鋼で構成しているため、材料コストが非常に高く、また
加工上でも多少の問題があった。
課題を解決するだめの手段 上記課題を解決する本発明の技術的な手段は、機能上か
らチップを中子部とチップ本体部の2つの部分に分割し
、それぞれを鍛造工法で加工を行った後、中子部とチッ
プ本体部を圧入し、コンタクトチップを製作する方法で
ある。
作  用 この技術的手段による作用は次のようになる。
ワイヤのガイド及び溶接電流の給電点となっている消耗
電極通孔の最小限の部分(中子部)を、堅固で耐熱、耐
消耗性に優れている硬質の導電性金属製とし、チップ本
体部を安価な導電性金属で構成することにより、チップ
の大部分がチップ本体部で構成されているだめ、チップ
全体の4.J、Itコストを大幅に削減することが出来
る。
まだ、従来チップの中子部、及びチップ本体部の消耗電
極通孔はドリルによる穴明は加工を行っていること、さ
らにはチップ本体部は溶接トーチに取シ付けるだめのネ
ジ部分構造となっているが、そのネジ部の下加工を切削
により行っていた。従って、従来は切削加工による材料
ロス(チン1]本尚りの重量で約25チのロス)が発生
していだが、本考案による製造方法では、その拐判ロス
はチン11本当I)1S以下に減少できる。さらに、ド
リルによる穴明は加主はドリルのキリ折れが発生するた
め、加工に要する時間は約8秒かかっていた。しかしな
がら、鍛造による加工の場合は0.5〜0.8秒で加工
が可能であることが実験により証明された。
実施例 第1図は本発明による一実施例である。第1図において
1は中子部、2はチップ本体部を示す。
本実施例では中子部1は、チップ本体部2に圧入されて
いる。中子部1の内径はワイヤ4への溶接電流を給電す
るだめにワイヤ径に対し、0.2腋程度大きくすればよ
い。圧入による加工の場合、中子部1とチップ本体部2
との接合力は非常に強く、ワイヤ4送給の際、中子部1
が軸方向に移動することなく(押し出されることなく)
、マた、大電流においても圧入接触部での発熱はほとん
ど認められない。
また、中子部1とチップ本体部2の機械的結合を増すた
めに、第6図に示すように中子部1の先端に段差7を付
けた構造、あるいは反対に第6図に示すように中子部の
後端に段差を付けた構造としてもよい。
まだ、コンタクトチップは溶接用トーチにネジ6で取り
付けられるが、通常スパナかけといわれる平坦部子を従
来は切削によって加工を行っていだが、本考案ではチッ
プ本体部2の鍛造加工と同時に、しかも切削クズなしで
加工できる。又、仮圧入後、抜け止めカシメを行っても
よい。
第2図に中子部1、第3図にチップ本体2の加工工程を
示す。
発明の効果 以上のように本発明によれば以下の効果が奏せられる。
1 チップを中子部とチップ本体部で構成し、それぞれ
を鍛造工法で製作することによりロス(切削クズ)が少
々くなシ従来と同等の性能で材料コストが安くなる。
2 加ニスピードが従来の約1/1o 程度になり、生
産性が向上する。
3 スパナガケやネジをきる部分の下地がかんたんに加
工できる。
【図面の簡単な説明】
第1図a、b、cは本発明の実施例を示すチップの断面
図、第2図、第3図は本発明による加工工程図、第4図
は従来のチップの断面図、第6図aは本発明の実施例に
おけるスバナガケ加工をしたチップの平面図、第5図す
は同正面図、第6図〜は本発明の実施例における中子部
に抜け止め用段差を設けたチップの断面図である。 1・・・・中子部、2・・・ チップ本体部、3−・−
・・ワイヤ通孔、4・・・ワイヤ、5・ ・チップ、6
・・・・ネジ部、7・・・・段差。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名第1
図 第2図 (イ)      l−−−− (U)   ロ (・)   ト1] (*)   目可− (へ2   「=平千二 !、 :”:”””−’−’−’ −”−’ −” ’
−’−””−−(L)[−−−−−− 「]■ (チ)     「−−ニーーーーー [ニゴ■]二]− 第3図 第5図 第6図 手続補正書 工 事件の表示 平成1年特許願第129606号 2 発明の名称 溶接用コンタクトチップの製造方法 3 補正をする者 事件との関係   特  許  出  願  人住 所
  大阪府門真市大字門真1006番地名 称 (58
2)  松下電器産業株式会社代表者     谷  
 井   昭   雄4 代  理  人   〒57
1 住 所  大阪府門真市太字門真1006番地6 補正
の内容 (1)明細書の特許請求の範囲を別紙のとおりに補正い
たします。 (2)明細書第3ページ第13行の「圧入し、ヨと「コ
ンタクトチップ」との間に「または仮圧入後再度鍛造加
工法で圧接して、」を挿入いたします。 (3)同書第5ページ第11行〜同第12行の「第5図
に示すように中子部1の先端に段差7を付(プた構造、
コを「第1図(C)に示すように中子部lの先端に段差
を付けた構造、」と補正いたします。 (4)同書第5ページ第20行の「抜け止めカシメ」と
「を行ってもよい。」との間に「または再度鍛造加工」
を挿入いたします。 (5)  同書第6ページ第2行と同第3行との間に次
の文章を挿入いたします。 [また、第5図に示すスパナガヶ加工は、第3図に示す
加工工程で行ってもよいし、中子部とチップ本体部の仮
圧入後の再度の鍛造加工工程で行ってもよい。また、ス
パナガヶ部は第5図に示すように二面またはそれ以上で
もよい。 第7図に本発明の方法の他の実施例を示す。同図aは中
子部の鍛造加工工程を示し、同図すはチップ本体の鍛造
加工工程を、同図Cは仮圧入後のチップを、また、同図
dは再鍛造加工工程をそれぞれ示す。」 (6)同書第7ページ第1行の「段差を」から同第4行
の「段差。」までを次のとおりに補正いたしまず。 「段差を設けたチップの断面図、第7図は本発明の方法
の他の実施例を示し、同図aは中子部の鍛造加工工程図
、同図すはチップ本体の鍛造加工工程図、同図Cは仮圧
入後のチップの斜視図、同図dは再鍛造加工工程図であ
る。 1・・・・・・中子部、2・・・・・・チップ本体部、
3・・・・・・ワイヤ通孔、4・・・・・・ワイヤ、5
・・・・・・チップ、6・・・・・・ネジ部、7・・・
・・・スパナガケ部。」(7)別紙添付図面第7図を追
加いたしまず。 −−Q    − 2、特許請求の範囲 (1)  消耗電極の接触する中子部と、残部のコンタ
クトチップ本体部の2部分で構成され、中心部に消耗電
極の通孔を有する溶接用コンタクトチップの製造方法に
おいて、消耗電極への溶接電流を給電する中子部とチッ
プ本体部とを鍛造法で加工を行い、それぞれを圧入する
ことを特徴とする溶接用コンタクトチップの製造方法。 (2)  中子部にto軸方向の抜け止め構造を形成し
たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の溶接用
コンタクトチップの製造方法。 (3)  チップ本体部に中子部の軸方向の抜け止め構
造を形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の溶接用コンタクトチップの製造方法。 (4)  チップ本体部にスパナガケ構造を形成したこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の溶接用コン
タクトチップの製造方法。 (5)  中子部とチップ本体部とを仮圧大した後、抜
け止めカシメを施し、または抜け止めカシメおよび鍛造
加工を施して、中子部の抜け止めをすることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の溶接用コンタクトチップ
の製造方法。 区                  Eト6

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)消耗電極の接触する中子部と、残部のコンタクト
    チップ本体部の2部分で構成され、中心部に消耗電極の
    通孔を有する溶接用コンタクトチップの製造方法に於て
    、消耗電極への溶接電流を給電する中子部とチップ本体
    部とを鍛造法で加工を行い、それぞれを圧入することを
    特徴とする溶接用コンタクトチップの製造方法。
  2. (2)中子部に中子部の軸方向の抜け止め構造を形成し
    たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の溶接用
    コンタクトチップの製造方法。
  3. (3)チップ本体部に中子部の軸方向の抜け止め構造を
    形成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    溶接用コンタクトチップの製造方法。
  4. (4)チップ本体部にスパナガケ構造を形成したことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の溶接用コンタク
    トチップの製造方法。
  5. (5)中止部とチップ本体部を仮圧入した後、抜け止め
    カシメ工程を施し、中止部の抜け止めをしたことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の溶接用コンタクトチ
    ップの製造方法。
JP12960689A 1989-05-23 1989-05-23 溶接用コンタクトチップの製造方法 Pending JPH02307680A (ja)

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JP12960689A JPH02307680A (ja) 1989-05-23 1989-05-23 溶接用コンタクトチップの製造方法
EP19900109105 EP0399334A3 (en) 1989-05-23 1990-05-15 Method of producing contact tip
CN 90103889 CN1015697B (zh) 1989-05-23 1990-05-23 导电嘴的制造方法

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010146456A1 (en) * 2009-06-19 2010-12-23 Lincoln Global, Inc. Welding contact tip having diamond; welding gun with such welding contact tip
KR101109255B1 (ko) * 2010-02-10 2012-01-30 홍성희 단조공법에 의한 용접토치용 컨택트 팁의 제조방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010146456A1 (en) * 2009-06-19 2010-12-23 Lincoln Global, Inc. Welding contact tip having diamond; welding gun with such welding contact tip
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