JPH0229991B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0229991B2
JPH0229991B2 JP53059226A JP5922678A JPH0229991B2 JP H0229991 B2 JPH0229991 B2 JP H0229991B2 JP 53059226 A JP53059226 A JP 53059226A JP 5922678 A JP5922678 A JP 5922678A JP H0229991 B2 JPH0229991 B2 JP H0229991B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
output
slope
generation circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP53059226A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS54150176A (en
Inventor
Genichiro Oota
Kenichi Kosugi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP5922678A priority Critical patent/JPS54150176A/en
Publication of JPS54150176A publication Critical patent/JPS54150176A/en
Publication of JPH0229991B2 publication Critical patent/JPH0229991B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はサンプリング装置を有するたとえばサ
ンプリングオシロスコープ等の信号抽出演算装置
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a signal extraction calculation device, such as a sampling oscilloscope, having a sampling device.

一般にサンプリング装置を有するオシロスコー
プ等から被測定信号のサンプリング出力を得るこ
とができる。しかしこれらの出力にはブラウン管
のスクリーンに映る位置調整用の修正信号を含ん
でいたり、ほとんどの被測定信号に直流分が重畳
されているために信号の大きさを直接に示すもの
ではない。すなわち一般にこれらの出力は(信号
成分)+(信号の直流成分)+(測定器ドリフト分)
+(測定器直流成分)の和として提供される。こ
のため被測定信号波形中の任意の二点間の電圧差
を読みとることは困難である。
Generally, a sampled output of a signal under test can be obtained from an oscilloscope or the like having a sampling device. However, these outputs include correction signals for adjusting the position reflected on the cathode ray tube screen, and most of the signals under measurement have a DC component superimposed on them, so they do not directly indicate the magnitude of the signal. In other words, in general, these outputs are (signal component) + (DC component of signal) + (measuring instrument drift)
+ (measurement instrument DC component). Therefore, it is difficult to read the voltage difference between any two points in the signal waveform under test.

この二点の電圧を得るためにサンプリング回路
を二個設けることが容易に考えられるが、サンプ
リング回路は特に高周波特性や直流電圧オフセツ
トが、部品の特性バラツキや回路の組立バラツキ
と温度変化の影響を受けて、大きくばらつくた
め、二点の電圧出力にそれぞれ異なつた誤差が生
じるのでこの方法を用いることは困難である。
It is easy to think of providing two sampling circuits to obtain these two voltages, but sampling circuits are particularly sensitive to high frequency characteristics and DC voltage offsets, which are susceptible to variations in component characteristics, circuit assembly variations, and temperature changes. Therefore, it is difficult to use this method because different errors occur in the voltage outputs at the two points due to large variations.

本発明はこれらの欠点を改良したサンプリング
装置を含む信号抽出演算装置を提供するものであ
る。以下第1図〜第5図を用いて実施例とともに
説明する。
The present invention provides a signal extraction arithmetic device including a sampling device that improves these drawbacks. Examples will be described below with reference to FIGS. 1 to 5.

第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図
で、被測定信号aは同期信号取出回路1を経て同
期信号源選択スイツチ2によりその他の同期信号
bと選択され、同期回路3で傾斜信号起動信号を
発生せしめ、傾斜信号発生回路4を駆動する。傾
斜信号は可変電圧源回路5により提供されるサン
プリング時刻制御用信号とともに比較器6に加わ
りその出力はサンプリングパルス発生回路7に供
給される。このサンプリングパルス発生回路7か
ら出力されたサンプリングパルスはサンプリング
ゲートおよびホールド回路8に供給され、同じく
回路8に加えられる被測定信号をサンプリングす
る。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, in which the signal under test a passes through a synchronization signal extraction circuit 1, is selected as another synchronization signal b by a synchronization signal source selection switch 2, and is converted into a slope signal by a synchronization circuit 3. A starting signal is generated to drive the slope signal generating circuit 4. The slope signal is applied to a comparator 6 together with a sampling time control signal provided by a variable voltage source circuit 5, and its output is supplied to a sampling pulse generation circuit 7. The sampling pulse outputted from the sampling pulse generation circuit 7 is supplied to a sampling gate and hold circuit 8, and samples the signal under measurement that is also applied to the circuit 8.

サンプリングゲートおよびホールド回路8で得
られたサンプリング信号はアナログ−デジタル変
換回路9にてデジタル信号に変換され、レジスタ
を備えた演算回路10にて可変電圧源回路5の指
示に従い演算出力cを発生する。
The sampling signal obtained by the sampling gate and hold circuit 8 is converted into a digital signal by an analog-to-digital conversion circuit 9, and a calculation output c is generated by a calculation circuit 10 equipped with a register according to instructions from the variable voltage source circuit 5. .

第2図および第3図は第1図に示した実施例の
具体例を示すものである。同期信号取出回路1は
キヤパシタンスC1とインダクタンスL1,L2から
成る整合型分岐回路とトランジスタQ1による緩
衝増幅器から成り、同期回路3は同期レベル比較
用比較器U1とエサキダイオードD1を主構成素子
とした回路で波形成形をし、インダクタンスL3
とキヤパシタンスC2による微分回路で傾斜信号
起動用パルス信号を形成する。また傾斜信号発生
回路4はゲート回路U2−U3およびゲート回路U4
−U5による二つの二安定回路とトランジスタQ2
Q3、抵抗R1、キヤパシタンスC3およびトランジ
スタQ4、抵抗R2、キヤパシタンスC4をそれぞれ
主体とする二つの積分回路とから構成されてお
り、出力はトランジスタQ5,Q6による温度補
償形緩衝増幅器を介して提供される。なお第2図
の傾斜信号発生回路4の動作については十分に周
知のものであり省略する。
2 and 3 show specific examples of the embodiment shown in FIG. 1. FIG. The synchronous signal extraction circuit 1 consists of a matching branch circuit consisting of a capacitance C 1 and inductances L 1 and L 2 , and a buffer amplifier formed by a transistor Q 1 , and the synchronous circuit 3 includes a synchronous level comparison comparator U 1 and an Esaki diode D 1 . The waveform is shaped by the circuit as the main component, and the inductance L 3
A pulse signal for starting the slope signal is formed by a differentiator circuit using capacitance C2 . Further, the slope signal generation circuit 4 includes gate circuits U 2 -U 3 and gate circuit U 4 .
- two bistable circuits with U 5 and transistor Q 2 ,
Q 3 , resistor R 1 , capacitance C 3 and transistor Q 4 , resistor R 2 , and capacitance C 4 are the main components.The output is temperature compensated by transistors Q 5 and Q 6. provided via a buffer amplifier. The operation of the slope signal generating circuit 4 shown in FIG. 2 is well known and will not be described here.

傾斜信号出力とサンプリング時刻に相当する
電圧値を有するサンプリング時刻制御用信号hを
可変電圧源回路5から受けて比較器6はその比較
出力でサンプリングパルス発生回路7のエサキダ
イオードD2を主体とするパルス成形回路を駆動
し、トランジスタQ7を主体とする増幅成形回路
でサンプリングパルスを形成し同じくトランジス
タQ8を主体とする増幅成形回路にてサンプルホ
ールドパルスを形成せしめる。サンプリングゲー
トおよびホールド回路8は平衡形サンプリングパ
ルスをキヤパシタンスC5,C6から受けるダイオ
ードD3,D4,D5,D6を主体とするサンプリング
ゲートとトランジスタQ10とキヤパシタンスC7
よるホールド回路から成り、トランジスタQ9
Q11,Q12からなる緩衝用高入力抵抗増幅回路を
それぞれ段間に置いている。
Receiving a sampling time control signal h having a voltage value corresponding to the slope signal output and the sampling time from the variable voltage source circuit 5, the comparator 6 uses the comparison output as a main component of the Esaki diode D2 of the sampling pulse generation circuit 7. The pulse shaping circuit is driven, and an amplification shaping circuit mainly composed of transistor Q 7 forms a sampling pulse, and an amplification shaping circuit mainly composed of transistor Q 8 forms a sample hold pulse. The sampling gate and hold circuit 8 consists of a sampling gate mainly composed of diodes D 3 , D 4 , D 5 , and D 6 that receive balanced sampling pulses from capacitances C 5 and C 6, and a hold circuit composed of a transistor Q 10 and a capacitance C 7 . becomes transistor Q 9 ,
A buffering high input resistance amplifier circuit consisting of Q 11 and Q 12 is placed between each stage.

アナログ−デジタル変換回路9の出力を受ける
レジスタおよび演算回路10は少くとも2個のレ
ジスタU6,U7とデジタル加減算器U8から成り、
可変電圧源回路5からのタイミング信号によりサ
ンプリング出力を適宜読み込み加算、減算を行
い、その出力Cを提供する。
The register and arithmetic circuit 10 that receives the output of the analog-to-digital conversion circuit 9 consists of at least two registers U 6 and U 7 and a digital adder/subtractor U 8 .
The sampling output is read as appropriate according to the timing signal from the variable voltage source circuit 5, addition and subtraction are performed, and the output C is provided.

なお第3図中11は信号のタイミング上必要に
応じ設けた遅延回路である。第4図は第1図、第
2図および第3図に示した本発明の実施例を用い
て動作を行わせしめた場合の波形図である。たと
えば被測定信号がAに示すような波形の場合に、
同期回路3の同期を電圧V0からV1に移る時刻t0
に合わせたとするとBの如き傾斜信号と傾斜信号
発生回路4において発生させることが可能とな
る。この傾斜信号に対応して可変電圧源回路5に
よつて周期毎に選択される電位E1,E2,E3,E4
E5の如き定常信号のいずれかを比較器6に加え
るとサンプリングパルスは傾斜信号がこの比較電
圧と交叉する近傍、すなわち時刻t1,t2,t3,t4
t5のいずれかに於てCに示すようにパルスP1
P2,P3,P4,P5のいずれか一つとして発生させ
ることが可能となる。このサンプリングパルスは
Aに示した波形のV1,V2,V3,V4,V0に対応す
る出力を得ることになる。今、たとえば第1周期
の一定期間に比較器6にE2を加えて時刻T2にサ
ンプリングパルスP2を発生してサンプリングを
行わせしめ、次の第2周期の一定期間に比較器6
にE3を加えて時刻T3にサンプリングパルスP3
発生しサンプリングを行わせしめ、各期間のサン
プリング出力を各期間にアナログ−デジタル変換
器9でAD変換する。そして可変電圧源回路5は
E2が発生するときはレジスタU6、E3が発生する
ときはレジスタU7を動作させE2,E3のときのサ
ンプリング値を別個のレジスタU6,U7へ読み込
みを行わせる。次にそれぞれのレジスタの出力を
加減算器8で減算せしめてV3−V2間の差に対応
するデジタル出力を得ることができる。この差の
出力にはV2およびV3に等しく含まれる信号成分
すなわち直流成分は測定装置のドリフト成分ある
いはサンプリングオシロスコープ等に見られる位
置調整用直流電圧の除去等を行わしめることが可
能となる。比較用信号E1,E2,E3,E4,E5は連
続的に設定できるものであり、一定速度に変化さ
せながら動作を継続させることはすなわち従来の
サンプリング装置の持つ機能に一致する。
Note that 11 in FIG. 3 is a delay circuit provided as necessary for signal timing. FIG. 4 is a waveform diagram when the embodiment of the present invention shown in FIGS. 1, 2, and 3 is operated. For example, if the signal under test has a waveform as shown in A,
Time t 0 when the synchronization of the synchronous circuit 3 is shifted from voltage V 0 to V 1
If it is adjusted to , it becomes possible to generate a slope signal such as B in the slope signal generation circuit 4. Potentials E 1 , E 2 , E 3 , E 4 , which are selected every cycle by the variable voltage source circuit 5 in response to this slope signal
When one of the stationary signals such as E 5 is applied to the comparator 6, the sampling pulse is generated near the point where the slope signal intersects this comparison voltage, that is, at times t 1 , t 2 , t 3 , t 4 ,
As shown in C at either t 5 , the pulse P 1 ,
It is possible to generate one of P 2 , P 3 , P 4 , and P 5 . This sampling pulse results in outputs corresponding to V 1 , V 2 , V 3 , V 4 , and V 0 of the waveform shown in A. Now, for example, E 2 is applied to the comparator 6 during a certain period of the first period, sampling pulse P 2 is generated at time T 2 to cause sampling, and during a certain period of the next second period, the comparator 6
A sampling pulse P 3 is generated at time T 3 by adding E 3 to the sampling pulse P 3 to perform sampling, and the sampling output of each period is AD-converted by an analog-to-digital converter 9 in each period. And the variable voltage source circuit 5
When E 2 occurs, register U 6 is operated, and when E 3 occurs, register U 7 is operated, and the sampled values at E 2 and E 3 are read into separate registers U 6 and U 7 . Next, the outputs of the respective registers are subtracted by an adder/subtractor 8 to obtain a digital output corresponding to the difference between V 3 -V 2 . In the output of this difference, the signal component, that is, the DC component, included equally in V 2 and V 3 can be used to remove the drift component of the measuring device or the DC voltage for position adjustment seen in a sampling oscilloscope or the like. The comparison signals E 1 , E 2 , E 3 , E 4 , and E 5 can be set continuously, and continuing operation while changing the speed to a constant speed corresponds to the function of a conventional sampling device. .

第5図は本発明の他の具体的な実施例で、第2
図におけるデジタル形のレジスタをアナログ回路
にて置き換えたもので、その出力もまたアナログ
信号として提供し得るものである。
FIG. 5 shows another specific embodiment of the present invention.
The digital register in the figure is replaced with an analog circuit, and its output can also be provided as an analog signal.

サンプリングゲートからの出力はトランジスタ
Q9による緩衝増幅器を通して提供されるがこの
出力はトランジスタQ10,Q11,Q12と同じ構成の
Q13,Q14,Q15によるホールド回路にも供給され
る。可変電圧源回路5によりトランジスタQ10
トランジスタQ13のホールドゲート動作を切換え
ることによりキヤパシタンスC7とキヤパシタン
スC8に蓄積されるサンプリング出力を第4図A
に示すV0,V1,V2,V3,V4のいずれか二つに対
応させることが可能となる。この出力は緩衝増幅
用トランジスタQ11とQ14よりそれぞれ差動増幅
回路U9に加えられ差信号出力Cを得ることがで
きる。
The output from the sampling gate is a transistor
This output is provided through a buffer amplifier by Q 9 , which has the same configuration as transistors Q 10 , Q 11 , and Q 12 .
It is also supplied to the hold circuit formed by Q 13 , Q 14 , and Q 15 . By switching the hold gate operation of the transistor Q10 and the transistor Q13 by the variable voltage source circuit 5, the sampling output accumulated in the capacitance C7 and the capacitance C8 is shown in FIG. 4A.
It is possible to correspond to any two of V 0 , V 1 , V 2 , V 3 , and V 4 shown in FIG. These outputs are applied to a differential amplifier circuit U 9 from buffer amplification transistors Q 11 and Q 14 , respectively, so that a difference signal output C can be obtained.

この構成によれば仮りにキヤパシタンスC7
V0に対応する出力を蓄積させておきキヤパシタ
ンスC8に被測定信号全体を走査していくサンプ
リング出力を供給するならば、出力Cは第4図に
おけるV0レベルに対応する出力を基準としたV1
V2,V3,V4に対応したものとすることができ
る。
According to this configuration, if the capacitance is C7 ,
If the output corresponding to V 0 is accumulated and the capacitance C 8 is supplied with a sampling output that scans the entire signal under test, the output C will be based on the output corresponding to the V 0 level in Figure 4. V1 ,
It can be made compatible with V 2 , V 3 , and V 4 .

なお第2図、第5図におけるレジスタあるいは
ホールド回路は2つ以上設け、複雑な組合せをも
つた演算を行わしめ得ることもできる。
It is also possible to provide two or more registers or hold circuits in FIGS. 2 and 5 to perform computations with complex combinations.

以上の如く本発明によれば従来のサンプリング
装置が持つ欠点である、直流成分、測定装置のド
リフト成分、および位置調整用直流電圧成分等が
出力に現れることを改善することと、被測定信号
の任意の二点間の電圧を測定する機能とを、サン
プリング回路を複数に設けることなく、またサン
プリング回路を複数に設けた場合に新たに誤差が
生じることの弊害をも回避した、信号抽出演算装
置を提供できるという効果を有する。
As described above, according to the present invention, it is possible to improve the drawbacks of conventional sampling devices in which DC components, drift components of measurement devices, DC voltage components for position adjustment, etc. appear in the output, and to A signal extraction calculation device that can measure the voltage between any two points without having to install multiple sampling circuits, and also avoids the negative effects of new errors that occur when multiple sampling circuits are installed. It has the effect of being able to provide the following.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例による信号抽出演算
装置のブロツク図、第2図および第3図は要部の
詳細な構成を示す結線図、第4図はその波形図、
第5図は他の具体構成例を示す要部の結線図であ
る。 3…同期回路、4…傾斜信号発生回路、5…可
変電圧源回路、6…比較器、7…サンプリングパ
ルス発生回路、8…サンプリングゲートおよびホ
ールド回路、10…演算回路。
FIG. 1 is a block diagram of a signal extraction calculation device according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are wiring diagrams showing the detailed configuration of the main parts, and FIG. 4 is a waveform diagram thereof.
FIG. 5 is a wiring diagram of main parts showing another specific configuration example. 3... Synchronous circuit, 4... Slope signal generation circuit, 5... Variable voltage source circuit, 6... Comparator, 7... Sampling pulse generation circuit, 8... Sampling gate and hold circuit, 10... Arithmetic circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 傾斜信号を同期させるための同期回路と、こ
の同期回路により駆動される傾斜信号発生回路
と、この傾斜信号発生回路よりの傾斜信号の周期
信号により制御される可変電圧源回路と、前記傾
斜信号発生回路の傾斜信号出力と前記可変電圧源
回路の電圧出力とを2入力とする比較器と、この
比較器の出力により起動されるパルス発生回路
と、このパルス発生回路の出力パルスにより駆動
され被測定信号をサンプリングするゲートとその
出力を受ける緩衝用増幅器とから成るサンプリン
グ・ゲート回路と、このサンプリング・ゲート回
路の出力を受けるホールド回路と、このホールド
回路の出力をデイジタル信号に変換する回路と、
このデイジタル信号を受け前記可変電圧源回路か
らの電圧切換えタイミング信号により前記デイジ
タル信号を種別し、かつ種別したデイジタル信号
の間の加減演算を行いその結果を出力する回路と
からなる信号抽出演算装置。 2 傾斜信号を同期させるための同期回路と、こ
の同期回路により駆動される傾斜信号発生回路
と、この傾斜信号発生回路よりの傾斜信号の周期
信号により制御される可変電圧源回路と、前記傾
斜信号発生回路の傾斜信号出力と前記可変電圧源
回路の電圧出力とを2入力とする比較器と、この
比較器の出力により起動されるパルス発生回路
と、このパルス発生回路の出力パルスにより駆動
され被測定信号をサンプリングするゲートとその
出力を受ける緩衝用増幅器とから成るサンプリン
グ・ゲート回路と、このサンプリング・ゲート回
路の出力を受け前記可変電圧源回路からの電圧切
換えタイミング信号により前記サンプリング・ゲ
ート出力信号を種別してホールドするための2組
のホールド回路と、このホールド回路から得る2
つの出力を差動入力とする差動演算回路とから成
る信号抽出演算装置。
[Claims] 1. A synchronization circuit for synchronizing slope signals, a slope signal generation circuit driven by the synchronization circuit, and a variable voltage source controlled by a periodic signal of the slope signal from the slope signal generation circuit. a comparator having two inputs: a slope signal output of the slope signal generation circuit and a voltage output of the variable voltage source circuit; a pulse generation circuit activated by the output of the comparator; A sampling gate circuit consisting of a gate that is driven by an output pulse and samples the signal under test and a buffer amplifier that receives the output, a hold circuit that receives the output of this sampling gate circuit, and a digital signal that converts the output of this hold circuit. A circuit that converts into
A signal extraction calculation device comprising a circuit that receives this digital signal, classifies the digital signal according to a voltage switching timing signal from the variable voltage source circuit, performs an addition/subtraction operation between the classified digital signals, and outputs the result. 2. A synchronization circuit for synchronizing the slope signals, a slope signal generation circuit driven by the synchronization circuit, a variable voltage source circuit controlled by the periodic signal of the slope signal from the slope signal generation circuit, and the slope signal a comparator having two inputs: the slope signal output of the generation circuit and the voltage output of the variable voltage source circuit; a pulse generation circuit activated by the output of the comparator; and a pulse generation circuit driven by the output pulse of the pulse generation circuit. A sampling gate circuit consisting of a gate that samples a measurement signal and a buffer amplifier that receives the output thereof, and a sampling gate output signal that receives the output of the sampling gate circuit and receives the voltage switching timing signal from the variable voltage source circuit. 2 sets of hold circuits for holding by type, and 2 sets obtained from this hold circuit.
A signal extraction arithmetic device consisting of a differential arithmetic circuit with two outputs as differential inputs.
JP5922678A 1978-05-17 1978-05-17 Signal extracting and operating apparatus Granted JPS54150176A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5922678A JPS54150176A (en) 1978-05-17 1978-05-17 Signal extracting and operating apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5922678A JPS54150176A (en) 1978-05-17 1978-05-17 Signal extracting and operating apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54150176A JPS54150176A (en) 1979-11-26
JPH0229991B2 true JPH0229991B2 (en) 1990-07-03

Family

ID=13107239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5922678A Granted JPS54150176A (en) 1978-05-17 1978-05-17 Signal extracting and operating apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS54150176A (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6336154A (en) * 1986-07-30 1988-02-16 Kenwood Corp Oscilloscope
JPS63101762A (en) * 1986-10-20 1988-05-06 Sony Tektronix Corp Oscilloscope
JPS63118669A (en) * 1986-11-07 1988-05-23 Kenwood Corp Oscilloscope

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5023867A (en) * 1973-06-28 1975-03-14

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5023867A (en) * 1973-06-28 1975-03-14

Also Published As

Publication number Publication date
JPS54150176A (en) 1979-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Razavi Design of sample-and-hold amplifiers for high-speed low-voltage A/D converters
CA2081863C (en) Ripple-free phase detector using two sample-and-hold circuits
US4345241A (en) Analog-to-digital conversion method and apparatus
US3818246A (en) Switching circuits particularly useful for analog-to-digital converters
JPS5946131B2 (en) encoding circuit
JPH04230867A (en) Self-aligning sampling apparatus
JPH0229991B2 (en)
US4027981A (en) Storage circuit for photometer
JPH0152796B2 (en)
JPS5829910B2 (en) Image signal correlation processing method
GB1156096A (en) Signal Sampling Circuit.
JP3945389B2 (en) Time-voltage converter and method
JP2988039B2 (en) Frequency / period measurement device
JP3498088B2 (en) Integrated circuit
JPS6231529B2 (en)
JPH09181604A (en) Semiconductor integrated circuit device and its noise reduction method
JPH05175850A (en) D/a converter
JPH08297147A (en) Detecting circuit for electrostatic capacity type sensor
SU1068824A1 (en) Short pulse amplitude measuring method
JPS6390852A (en) Output circuit of charge coupled device
SU951696A1 (en) Signal average value to code conversion method
SU798631A1 (en) Method of measuring complex-impedance components
SU1200200A1 (en) Resistance-to-frequency ratio converter
JPH07260855A (en) Method and apparatus for measuring noise and method for reducing noise
SU435841A1 (en) DEVICE REGISTRATION QUANTITY U-- ELECTRICITY IN PEAKS MASS SPECTRUM