JPH0229752B2 - Mudenkaidometsukieki - Google Patents

Mudenkaidometsukieki

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Publication number
JPH0229752B2
JPH0229752B2 JP15997484A JP15997484A JPH0229752B2 JP H0229752 B2 JPH0229752 B2 JP H0229752B2 JP 15997484 A JP15997484 A JP 15997484A JP 15997484 A JP15997484 A JP 15997484A JP H0229752 B2 JPH0229752 B2 JP H0229752B2
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JP
Japan
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plating
copper
vanadium
hour
plating solution
Prior art date
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JP15997484A
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English (en)
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JPS6137971A (ja
Inventor
Akishi Nakaso
Toshiro Okamura
Hiromi Ikeda
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Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/38Coating with copper
    • C23C18/40Coating with copper using reducing agents

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野) 本発明は、無電解銅めつき液に関する。 (従来の技術) アデイテイブ法印刷配線板の製造方法として以
下の様な方法がある。 すなわち無電解銅めつき反応の触媒になるパラ
ジウム等の触媒を含有する接着層付積層板に、印
刷法又はドライフイルム化した樹脂を紫外線写真
焼付法を用いて、非配線部分にめつきレジストを
形成した後、めつきで得た銅配線と接着層付積層
板との密着力が向上するように化学粗化してから
無電解銅めつきをおこなうプリント配線板の製造
方法である。 この方法において、銅イオン、銅イオンの錯化
剤、還元剤、PH調整剤、水、有機高分子、αα′―
ジピリジル及びフエナンスロリン類の中から選ば
れる1種以上を含有する無電解銅めつき液を、析
出銅皮膜の高い展延性を保つ条件で、液温65℃以
上、めつき析出速度2.0μm/時間〜3.5μm/時間
で、通常のプリント配線板のめつき膜厚の30μm
までめつきをおこなうと、めつきレジスト上に
も、斑点上にめつきが析出して、配線間の絶縁不
良という問題が発生していた。 この絶縁不良となるめつき析出不良を抑制する
には、析出速度を2μm/時間未満にすれば良いこ
とがわかつた。しかし、上記組成のめつき液は還
元剤濃度、めつき液のPH、銅イオン濃度およびめ
つき液温度を下げることで、めつき析出速度を
3.5μm/時間〜2.0μm時間の範囲で制御できるが、
2.0μm/時間未満に制御しようとして、更に上記
成分の1つ以上の濃度又はめつき液温度を下げる
と、2.0μm/時間から0.5μm/時間以下に急激に
低下するか、もしくは、暗青色又は茶褐色の異常
めつき皮膜が析出して、析出銅皮膜の展延性不良
という問題がおきていた。 (発明の目的) 本発明の目的は、無電解銅めつき析出速度を
1.0μm/時間〜3.0μm/時間の範囲で容易に制御
することが出来る無電銅めつき液を提供するもの
である。 (発明の構成) 本発明は銅イオン、銅イオンの錯化剤、還元
剤、PH調整剤、水、有機高分子、αα′―ジピリジ
ル及びフエナンスロリン類の中から選ばれる少な
くとも1種、バナジウム又はバナジウム化合物を
含有する無電解銅めつき液である。 本発明において、銅イオンは銅イオン源とし
て、硫酸銅、硫酸銅、塩化第2銅など通常の銅塩
が用いられる。錯化剤としては、上記の銅イオン
と錯体を形成してアルカリ水溶液に可溶とするも
ので、エチレンジアミン四酢酸、クアドロール
(アデカ製、商品名)、酒石酸などが用いられる。
還元剤としては、ホルマリン、次亜リン酸塩など
がある。PH調整剤は水酸化ナトリウム、水酸化カ
リウムなどが使用できる。水としてイオン交換水
が望ましい。有機高分子としては、ポリアルキレ
ングリコール、ポリオキシエチレン系非イオン界
面活性剤、ポリオキシエチレンのアルキルエーテ
ルリン酸エステル塩、疎水基にフルオロカーボン
鎖をもつポリオキシエチレン系界面活性剤、およ
びパーフルオロポリエーテル類などである。 αα′―ジピリジル、フエナンスロリン類の濃度
は5〜300mg/の範囲で使用され、好ましくは、
10〜50mg/の範囲である。フエナンスロリン類
としては1.10―フエナンスロリン、2.9―ジメチ
ル―1.10―フエナンスロリン、4.7―ジメチル―
1.10―フエナンスロリンなどである。バナジウム
化合物として適当なものはバナジウムの酸化物お
よびバナジウム酸塩類である。 バナジウム、バナジウム化合物の添加量は0.05
mg/〜200mg/の範囲が良い。バナジウム、
バナジウム化合物の添加量が増すと共にめつき析
出速度が抑制される。 したがつて、特に望ましい添加量は、めつき析
出速度の範囲が2.0μm/時間〜1.0μm/時間に制
御でき、析出銅皮膜の展延性が低下しない0.05
mg/〜10mg/の範囲から選ぶのが良い。めつ
き液温度は、得られる析出銅皮膜の展延性の点か
ら65℃以上が望ましい。 実施例 無電解銅めつき反応の触媒になるパラジウム等
の触媒を含有する接着層付紙エポキシ積層板(日
立化成工業(株)製、商品名ACL―E144)に、ドラ
イフイルム(日立化成工業(株)製、商品名;フオテ
ツクSR―3000)を紫外線焼付法を用いて、非配
線部分にめつきレジストを形成した後、六価クロ
ムを含有する化学粗化液で粗化した。 次に下記の基本組成および条件の無電解銅めつ
き液に五酸化バナジウムをそれぞれ0.05mg/、
0.1mg/、0.5mg/、2mg/、10mg/添加
した無電解銅めつき液で、めつき皮膜厚さ30μm
までめつきした。 CuSO4.5H2O=10g/ EDTA.2Na=30g/ PH(室温)=12.3 37%HCHO=4ml/ ポリオキシエチレンモノメチルエーテル(分子
量=750)=5g/ αα′―ジピリジル=30mg/ めつき液温度=70±2℃ めつき析出速度、レジスト上へのめつき析出の
有無、めつき銅皮膜の外観およびめつき銅皮膜の
展延性を示す伸び率を表1に示した。めつき銅皮
膜の伸び率はステンレスステイール板に約30μm
の厚さまでめつきをおこない、ステンレスステイ
ール板より剥して、幅10mm、長さ80mmに切断し、
東洋ボールウイン製テンシロン引張試験装置を使
用して、引張り速度1mm/分、チヤツク間隔15mm
で測定した。 比較例 1 実施例の基本組成および条件の無電解銅めつき
液に、実施例と同様に化学粗化した接着層付紙エ
ポキシ積層板を浸漬して、めつきをおこなつた。 特性を表1に示す。 比較例 2 実施例の基本組成において、めつき液のPHのみ
12.0にして、比較例1と同様のめつきをおこなつ
た。 比較例 3 実施例の基本組成において、37%HCHO濃度
を2ml/にして、比較例1と同様のめつきをお
こなつた。特性を表1に示す。 比較例 4 実施例と同じ基本組成でめつき液温度のみ60℃
にして、比較例1と同様のめつきをおこなつた。
特性を表1に示す。
【表】 (発明の効果) 本発明では、銅イオン、銅イオンの錯化剤、還
元剤、PH調整剤、水、有機高分子、αα′―ジピリ
ジル及びフエナンスロリン類の中から選ばれる1
種以上を含有する無電解銅めつき液にバナジウム
又はバナジウムの化合物を添加することにより、
めつき析出速度を2.0μm/時間以下に抑制するこ
とが出来、例えば、パラジウム等の触媒を含有す
る接着層付積層板にめつきレジストを形成し、化
学粗化をおこなつた後無電解銅めつきで配線導体
を形成する方法において、めつきレジスト上にめ
つき析出がなく、展延性の高いめつき銅が得られ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 銅イオン、銅イオンの錯化剤、還元剤、PH調
    整剤、水、有機高分子、αα′―ジピリジル及びフ
    エナンスロリン類の中から選ばれる少なくとも1
    種、バナジウム又はバナジウム化合物を含有する
    無電解銅めつき液。
JP15997484A 1984-07-30 1984-07-30 Mudenkaidometsukieki Expired - Lifetime JPH0229752B2 (ja)

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JPS6137971A JPS6137971A (ja) 1986-02-22
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