JPH02287149A - 導体欠損検出装置 - Google Patents

導体欠損検出装置

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JPH02287149A
JPH02287149A JP10881689A JP10881689A JPH02287149A JP H02287149 A JPH02287149 A JP H02287149A JP 10881689 A JP10881689 A JP 10881689A JP 10881689 A JP10881689 A JP 10881689A JP H02287149 A JPH02287149 A JP H02287149A
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JP
Japan
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conductor
voltage
winding
copper wire
defective
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Application number
JP10881689A
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English (en)
Inventor
Takahiro Rikitake
隆洋 力武
Yusuke Ikeda
祐介 池田
Tsuneji Imanishi
恒次 今西
Shuji Sunano
修二 砂野
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、銅線に銅等の良導体を被覆した導体被覆綱線
の製造工程において導体欠損の検査を容易かつ確実に行
う導体欠損検出装置に関するものである。
従来の技術 導体被覆銅線は、銅線の表面に銅や、鋼の上にさらに錫
、半田等をメツキ等の方法により被覆したもので、主と
して電子部品の端子等に用いられるものである。これら
の導体に、傷、さけ目等により欠損があると、綱の部分
が表面に露出することになり、綱のさびが発生するため
、端子として用いた場合に綱のさび部分の電気的伝導が
悪く、また半田がつかない等の不具合が生じる。
したがって導体被覆銅線の製造工程においてこれらの導
体の欠損部を検出する必要がある。
欠損部の検出方法として従来は、目視検査を行っていた
発明が解決しようとする課題 以上のように目視による検査では、全長、全周にわたる
検査は経済的に無理であり抜取り検査によって実施され
ていたため、完全に検出し得ないものであった。また、
微小な傷や、傷があってもさびて変色していないと発見
しに(いという問題もあった。
本発明は、以上のような従来の欠点を除去し導体被覆銅
線の全長、全周にわたり、導体の欠損を検出する人手の
いらない完全自動化された導体欠損検出装置を提供する
ものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明は、完成した導体被覆
綱線を、1次巻線と2次巻線とを巻装した円筒状ボビン
の内筒に挿通し、上記1次巻線には高周波交流電圧を印
加し、2次巻線には整流回路を設けて直流電圧に変換し
、導体被覆銅線の導体に部分的欠損があった場合に整流
回路の直流電圧が上昇する構成としたものである。
作用 上記構成とすることにより、導体部分欠損検出の全自動
化が可能なため、人件費、工数の削減となり導体被覆銅
線を安価に供給できる。さらに、目視ではなく電気変化
で判定するため確実で、高品質の導体被覆綱線が供給で
きることになる。
実施例 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を説明する。
第1図において、1は高周波交流電源で、この高周波交
流電源1には1次巻線N+が接続され、この1次巻線N
1に対応して2次巻線N2が設けられ、この2次巻線N
2にはダイオードからなる整流回路3が接続され、この
整流回路3には増幅率調整抵抗4を有する増幅器5が接
続され、この増幅器5で増幅された出力は比較器6に印
加され、この比較器6の一例には基準電圧調整抵抗7が
接続されている。また、比較器6の出力は判定回路8に
接続されている。
また、上記1次巻線N+、2次巻線N2は第2図に示す
ように両端に鍔9aを有する中空状の円筒状ボビン9に
巻回され、その中空部に検出する導体被覆鋼12を挿通
ずるようになっている。
第2図のボビン寸法は、内筒径φ1.5■2巻線幅3 
m 、巻線部径φ3.1mmである。1次巻線N1と2
次巻線N2は、結合を上げるため、バイファイラ巻にし
てあり、線径と巻数は1次、2次共にφ0.07醜、8
00Tである。
上記構成で導体被覆綱線2は、導体が銅等の良導体であ
るとともに、綱部分は磁性を有するものである。した、
かって、1次巻111N+と2次巻線N2とを巻装した
円筒状ボビン9の中空部に導体被覆綱線2を挿入し、1
次巻線N1に高周波交流電圧を印加すれば綱部分に磁束
が発生し、2次巻線N2に電圧が発生する。ところで導
体被覆綱線2の導体が綱部分を全周切れ目なく覆ってお
れば、導体部分に周方向に電流が流れることになる。す
なわち、これを上記巻線から見れば、巻数が1回でしか
もショートされた第3の巻線があることと等価である。
したがって1次巻線N1に高周波交流電圧を印加した場
合、等価的な第3の巻線がショートされているため逆起
電圧が発生し、2次巻線N2の電圧は等価的な第3の巻
線がショートされていない時と比べて、低い値となる。
ここで導体部分に欠損のある場合は、その部分を含む円
周状の導体を考えたとき一部が切れていることになり、
その部分が巻線の下にあれば等価的な第3の巻線はシ目
−トされていないか、高抵抗が接続された状態と等価で
あり、したがって2次巻線N2には導体に欠損がない時
と比べて大きな電圧を誘起することになる。欠損部が長
さ方向に長い場合はど等価的に接続された抵抗が大きい
ことになりより大きな電圧が誘起される。
以上のような原理により、1次巻n N + と2次巻
IN2とを施した円筒状ボビン9の内側に導体被覆綱線
2を挿入し、1次巻線N+に高周波交流電圧を印加すれ
ば、巻線部の下に導体の欠損部がある場合、2次電圧の
上昇としてとらえられる。
この2次電圧は整流して直流電圧に変換することにより
検査装置として有効に利用することができる。
導体被覆綱線2を連続的に移動させることによって、連
続的に全長にわたり導体の欠損の有無を検出することが
できることになる。
次に本発明の第1図に示す実施例の動作について説明す
る。
高周波交流電源1の出力電圧を1次巻線N、の両端に印
加する。
1次巻!Jtl N Iに高周波交流電圧が印加される
と導体被覆鋼lI1.2を磁心として2次巻線N2に電
圧が誘起される。2次巻1lIIN2に誘起された電圧
を整流回路3により整流し、増幅率調整抵抗4を有する
増幅回路5により増幅した電圧を比較回路6の+側に入
力する。比較回路6の一例には、基準電圧調整抵抗7に
より調整した電圧を印加し、判定回路8の判定が良品と
なるようにする。次に導体欠損部を有する導体被覆綱線
2を挿通し1次巻線N+に高周波交流電圧を印加すもT
導体被覆電線2に導体欠損部があると、導体部に円周方
向に流れる電流が減少し、導体部により発生していた逆
起電圧が減少し、2次巻11A N 2に誘起される電
圧が上昇する。上昇した2次巻線電圧を整流回路3で整
流し、増幅回路5で増幅し、比較回路6の+側に入力す
る。比較回路6の+側に入力された電圧は、調整した基
準電圧より高いので比較回路6より信号が出て判定回路
8にて不良の判定を行う。
判定回路5にはいろいろあるが、一般には自動で工程を
止め、ランプやブザーにより作業者に不良を知らせ不良
を除く方法がとられている。
次の第1表は、上記実施例に基づいて傷有りと傷無しの
導体被覆綱線2を測定したときの2次電圧の変化を示す
例で約0.85Vの差が生じることになる。
(以 下 余 白) 第1表 り、上記第1図の実施例と異なる点は、基準電圧調整用
抵抗7をなくし、検出用の1次巻線N1N11と2次巻
IN2 、N22を2個用いて、一方ニは導体欠損のな
い導体被覆a線2を挿入固定し、他方には、被検査導体
被覆銅線を挿通したとなっている。したがって、被検出
材料の種類が変化しても欠損があれば差を検出するので
、検出電圧の絶対値を調整し直す必要がない。なお、各
2次巻線N2 、N22にはそれぞれ整流回路3a、3
bが設けられ、それぞれの出力が比較器6に印加される
ようになっている。
第4図は、本発明のさらに他の実施例を示す構成図であ
り上記第1図、第3図は、2次巻線を使って検出したが
1次巻線のみで構成している。
第4図の構成では、1次巻線N1に方形波発振器10の
出力をダイオード11により整流して印加し、1次巻線
N1 に蓄えられたエネルギーが抵抗12.ダイオード
13を通して放電される時、そのエネルギーの違いを検
出して判定回路8で判定を行う。
すなわち、導体被覆綱線2の導体部を1ターンの2次巻
線と考え、導体部分欠損が生じていると、2次側を流れ
る電流が減少し、1次巻線N1にエネルギーが多く蓄積
される。したがって、エネルギーの放電量も多くなる。
この差を判定回路8により判定する。
発明の効果 以上のように本発明によれば、目視による判定でなく全
長、全周にわたる検査を行えるので、品質の高い導体被
覆銅線を供給することができ、しかも全自動化が可能と
なるので人件費、工数削減となり、安価にすることがで
きる。
さらに本発明は、導体被覆綱線のメーカだけでなくユー
ザ側でも有効である。すなわち、導体被覆銅線をビン端
子とするボビンのビン打ち機において本発明をビン打ち
の直前に付加すれば、輸送途上や材料搬入時等いかなる
場合についた傷も、材料の使用前に検出し、不用部分の
みを削除することが可能である。
また本発明を応用すれば、鉄棒上を移動する機器におい
て、移動させたい範囲のみ鋼メツキを施こし1本発明に
て銅メツキ部の検出を行えば、銅メツキした間のみ移動
させることができる。
さらに、一定の長さで導体欠損をつければ、導体欠損部
の数をカウントすることで、長さの検出も可能となるな
ど本発明は位置センサー、長さ計測など広範囲に利用゛
できるものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の導体欠損検出装置の一実施例を示す構
成図、第2図は同装置に用いる巻線部の斜視図、第3図
は他の実施例を示す構成図、第4図は本発明他の実施例
の構成図である。 1・・・・・・高周波交流電源、2・・・・・・導体被
覆銅線、3・・・・・・整流回路、5・・・・・・増幅
回路、6・・・・・・比較回路、8・・・・・・判定回
路、Nl e Nll・・・・・・1次巻線、N2 r
 N22・・・・・・2次巻線。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)円筒状のボビンに1次巻線と2次巻線を施し、ボ
    ビンの内筒には、銅等の良導体を被覆した導体被覆銅線
    を挿通して移動させるようにし、上記1次巻線には、高
    周波交流電圧を印加し、2次巻線には整流回路を設けて
    直流電圧に変換し、導体被覆銅線の導体に部分的欠損が
    あった場合に整流回路の直流電圧の変化として検出する
    導体欠損検出装置。
  2. (2)高周波交流電源に2個の1次巻線を接続し、この
    それぞれの1次巻線に対応して2次巻線を設け、この一
    対の1次,2次巻線の一方に導体欠損のない導体被覆銅
    線を挿入固定し、他方に検査する導体被覆銅線を挿通す
    るようにし、このそれぞれの2次巻線の出力を整流回路
    を介して比較判定するように構成した導体欠損検出装置
  3. (3)方形波発振器に、この方形波発振器の出力を整流
    して印加される1次巻線を設け、この1次巻線を通過す
    る導体被覆銅線によって蓄積される1次巻線のエネルギ
    ーを放電回路を介して判定するように構成した導体欠損
    検出装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010079836A1 (ja) * 2009-01-09 2010-07-15 トック・エンジニアリング株式会社 金属探知機用センサーコイル及び金属探知機

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010079836A1 (ja) * 2009-01-09 2010-07-15 トック・エンジニアリング株式会社 金属探知機用センサーコイル及び金属探知機
JP5418945B2 (ja) * 2009-01-09 2014-02-19 トック・エンジニアリング株式会社 金属探知機用センサーコイル及び金属探知機

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