JPH02276417A - Control device for switch - Google Patents

Control device for switch

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JPH02276417A
JPH02276417A JP1098484A JP9848489A JPH02276417A JP H02276417 A JPH02276417 A JP H02276417A JP 1098484 A JP1098484 A JP 1098484A JP 9848489 A JP9848489 A JP 9848489A JP H02276417 A JPH02276417 A JP H02276417A
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JP
Japan
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signal
zero
circuit
test
processing circuit
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Application number
JP1098484A
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Japanese (ja)
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Kazuo Yamada
和夫 山田
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To control a switch with precision by finding a corrected value into memory if the frequency of a signal inputted from a test signal generator to a filter in a test slips off at not less than a designated value and by amending it with the corrected value in the actual monitoring. CONSTITUTION:When switches 6 for testing are manually operated, a test signal generation circuit 9 generates signals IO, VO and phi of the quantity of electricity for testing and inputs them into test switching circuits 23 and 33. The signals for testing are filtered 24 and 34, smoothed 25 and 35 to effective values, converted 26 and 36 in levels and inputted into a CPU 4. When the frequency slips off owing to the fluctuation of characteristic of filters 24 and 34, corrected values are operated in comparison with the outputs of a setting circuit 5 and stored into the CPU 4. When zero-phase-sequence current 2 or zero-phase- sequence voltage 3 of a power supply system 1 is monitored, it is decided whether or not the values are at not less than the setting to control the switches. Precise switch control can thereby be performed even if the characteristic of filters are slipped off.

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、開閉器制御装置、特にフィルタ回路の周波
数特性の自己診断機能を備えたSOG(Storage
  0vercurrent  Ground)型の開
閉器制御装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Industrial Application Field The present invention is directed to a switch control device, especially an SOG (storage
0vercurrent Ground) type switch control device.

(ロ)従来の技術 −Sに、三相負荷に結合され、過大電流と地絡電流を検
出し、地絡電流が所定レベルを越えると、その検知によ
りトリップコイルに電流を流して、開閉器を断させるよ
うにし、また過電流が検知された場合には、電源断を条
件にトリップコイルに電流を流して開閉器を断させるよ
うにしたSOG型の開閉器側′a装置がある。この種の
開閉器制御装置では、零相電流検出器や零相電圧検出器
で検出された地絡信号の処理を精度良く行うために、従
来信号処理回路の前段にフィルタ回路を設けている。通
常、このフィルタ回路は50 Hzあるいは60Hzの
信号が通過導出されるように構成されている。
(b) Conventional technology - S is connected to a three-phase load, detects excessive current and ground fault current, and when the ground fault current exceeds a predetermined level, current is sent to the trip coil based on the detection, and the switch There is also an SOG type switch side 'a device which is designed to cut off the switch by passing current through a trip coil on the condition that the power is cut off when an overcurrent is detected. In this type of switch control device, a filter circuit is provided before a conventional signal processing circuit in order to accurately process a ground fault signal detected by a zero-phase current detector or a zero-phase voltage detector. Typically, this filter circuit is constructed in such a way that a 50 Hz or 60 Hz signal is passed therethrough.

(ハ)発明が解決しようとする課題 上記したフィルタ回路は、周波数特性が50Hzあるい
は60Hzとなるように設計されるが、もっともばらつ
きにより予定しているピーク周波数よりずれていたり、
また経年変化により周波数特性に変化ずれが生じること
がある。余り極端に周波数特性が変化すると、信号処理
回路より導出される信号レベルも極端に変化し、整定値
の関係で開閉器を精度良く制御できないおそれがある。
(c) Problems to be Solved by the Invention The above-mentioned filter circuit is designed to have a frequency characteristic of 50Hz or 60Hz, but due to variations, it may deviate from the expected peak frequency,
Also, changes over time may cause variations in frequency characteristics. If the frequency characteristics change too drastically, the signal level derived from the signal processing circuit will also change drastically, and there is a possibility that the switch cannot be controlled accurately due to the setting value.

この発明は、上記問題点に着目してなされたものであっ
て、フィルタ回路の周波数特性が変化しても、自己診断
によりその変化程度を検出し、補正演算を行うことによ
り、その影響を軽減し得る開閉器制御装置を提供するこ
とを目的としている。
This invention was made with attention to the above problem, and even if the frequency characteristics of the filter circuit change, the degree of change is detected through self-diagnosis, and the effect is reduced by performing correction calculations. The purpose of the present invention is to provide a switch control device that can

(ニ)課題を解決するための手段及び作用この発明の開
閉2ii制御装置は、三相母線の零相電流を検出する零
相電流検出器と、この零相電流検出器よりの信号をフィ
ルタ回路を通して受けて信号処理する第1の信号処理回
路と、前記三相母線の零相電圧を検出する零相電圧検出
器と、この零相電圧検出器よりの信号フィルタ回路をj
山シて受けて信号処理する第2の信号処理回路と、前記
第1の信号処理回路及び第2の信号処理回路の出力がそ
れぞれ予め整定される整定値以上であるか否かを判別す
る手段と、この判別手段による判別結果がいずれも整定
(直販上であるとの判別出力に応じて前記母線の開閉器
を遮断させる手段とを含むものにおいて、試験時に前記
フィルタ回路に所定の周波数の試験信号を入力する試験
信号発生回路と、各フィルタ回路からそれぞれ第1信号
処理回路及び第2の信号処理回路に導出される前記試験
信号を受け、これらの試験信号レベルにより補正値を算
出する補正値算出手段と、前記補正値を記憶する補正値
記憶手段を備えるとともに、通常。
(d) Means and operation for solving the problem The opening/closing 2ii control device of the present invention includes a zero-sequence current detector that detects the zero-sequence current of a three-phase bus, and a filter circuit for filtering the signal from this zero-sequence current detector. a first signal processing circuit that processes signals received through the three-phase bus, a zero-phase voltage detector that detects the zero-phase voltage of the three-phase bus, and a signal filter circuit from the zero-phase voltage detector.
a second signal processing circuit that receives the signal and processes the signal; and means for determining whether the outputs of the first signal processing circuit and the second signal processing circuit are each greater than or equal to a preset value. and a means for shutting off the bus switch in response to the determination output that the determination result by the determination means is set (direct sales), and the filter circuit is tested at a predetermined frequency during the test. a test signal generation circuit that inputs a signal; and a correction value that receives the test signal derived from each filter circuit to a first signal processing circuit and a second signal processing circuit, and calculates a correction value based on the level of these test signals. A calculation means and a correction value storage means for storing the correction value are generally provided.

モードにおいて、前記第1の信号処理回路及び第2の信
号処理回路より導出される信号レベルに対し、前記補正
値を用いて補正演算を行う補正値記憶手段を備えている
In the mode, a correction value storage means is provided for performing a correction calculation using the correction value on the signal levels derived from the first signal processing circuit and the second signal processing circuit.

この開閉器側?ff1l装置では、先ず自己診断モード
(試験時)において、試験信号発生回路から所定の周波
数(例えば:60Hzの信号)が定レベルでフィルタ回
路に入力され、信号処理回路から対応する出力信号が導
出される。一方、例えばiM正正時基準となる基準レベ
ルが記憶されており、これとの比較により補正値を算出
する。略同値であれば、特に補正値を算出する必要がな
い。しかし、取込んだ試験信号と基準レベルに差があれ
ば、その比率を補正値として記憶しておべ。
This switch side? In the ff1l device, first, in the self-diagnosis mode (during testing), a predetermined frequency (for example: 60 Hz signal) is input from the test signal generation circuit to the filter circuit at a constant level, and a corresponding output signal is derived from the signal processing circuit. Ru. On the other hand, for example, a reference level serving as an iM hour reference is stored, and a correction value is calculated by comparison with this level. If the values are substantially the same, there is no need to particularly calculate a correction value. However, if there is a difference between the acquired test signal and the reference level, store that ratio as a correction value.

次に、通常モード(測定モード)となると、検出され零
相電流、零相電圧がフィルタ回路を通して、信、号処理
回路より導出されるが、上記した診断モードで補正値を
記憶しておれば、この補正値を用いて、取込み値を補正
演算し、その結果を用いて整定値と比較する。
Next, in the normal mode (measurement mode), the detected zero-sequence current and zero-sequence voltage are passed through the filter circuit and derived from the signal processing circuit. , the captured value is corrected using this correction value, and the result is compared with the set value.

(ホ)実施例 以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
(E) Examples The present invention will be explained in more detail with reference to Examples below.

第3図は、この発明が実施されるSOG型の開閉器制御
装置のブロック図である。同図において、6600Vの
電源系統1に、零相電流検出器(零相変流器)2、及び
零相電圧検出器3が結合されており、それぞれ零相電流
及び零相電圧が検出されるよ・うになっている。零相電
流検出器2で検出された零相電流は電圧信号に変換され
、入カドランス21、過入力保護回路22、テスト切替
回路23、フィルタ回路24、実効値平滑回路25及び
レベル変換回路26を介して、CPU4に入力されてい
る。また、同様に零相電圧検出器3で検出された零相電
圧は、電圧変換器3a、入カドランス31、過入力保護
回路32、テスト切替回路33、フィルタ34、実効値
平滑回路35及びレベル変換回路36をCPU4に入力
されている。
FIG. 3 is a block diagram of an SOG type switch control device in which the present invention is implemented. In the figure, a 6600V power supply system 1 is connected to a zero-sequence current detector (zero-sequence current transformer) 2 and a zero-sequence voltage detector 3, which detect zero-sequence current and zero-sequence voltage, respectively. It's like that. The zero-sequence current detected by the zero-sequence current detector 2 is converted into a voltage signal, and the zero-sequence current detected by the zero-sequence current detector 2 is converted into a voltage signal, which is sent to an input voltage transformer 21, an over-input protection circuit 22, a test switching circuit 23, a filter circuit 24, an effective value smoothing circuit 25, and a level conversion circuit 26. It is input to the CPU 4 via the CPU 4. Similarly, the zero-phase voltage detected by the zero-phase voltage detector 3 is transmitted to the voltage converter 3a, the input voltage transformer 31, the over-input protection circuit 32, the test switching circuit 33, the filter 34, the effective value smoothing circuit 35, and the level converter 3a. The circuit 36 is input to the CPU 4.

過入力保護回路22.32は検出された零相電流及び零
相電圧のレベル以上を越えると、これ、を抑えるための
機能を有する回路であり、テスト切替回路23.33は
通常監視時にそれぞれ過入力保護回路22.32からの
零相電流検出信号及び零相電圧検出信号をフィルタ回路
24.34に入力し、自己試験時に検出信号に代えて試
験信号をフィルタ回路24.34に入力する。フィルタ
回路24.34は高調波成分を除去するために設けられ
ており、具体的には例えば第4図に示す回路が使用され
る。このフィルタ回路24.34の周波数特性はコンデ
ンサC6、抵抗R1、R2の定数設定により、第5図の
特性aに示すように、ピークが55 Hzになるように
設定している。
The over-input protection circuits 22 and 32 are circuits that have the function of suppressing the detected zero-sequence current and zero-sequence voltage when they exceed the level, and the test switching circuits 23 and 33 are configured to suppress the detected zero-sequence current and zero-sequence voltage when they exceed the level. A zero-sequence current detection signal and a zero-sequence voltage detection signal from the input protection circuit 22.32 are input to the filter circuit 24.34, and a test signal is input to the filter circuit 24.34 in place of the detection signal during a self-test. Filter circuits 24 and 34 are provided to remove harmonic components, and specifically, for example, a circuit shown in FIG. 4 is used. The frequency characteristics of the filter circuits 24 and 34 are set to have a peak of 55 Hz, as shown in characteristic a in FIG. 5, by setting the constants of the capacitor C6 and the resistors R1 and R2.

55H2でピークとなるので、50Hzの入力信号に対
しても、60Hzの入力信号に対しても、ある程度以上
(55Hzレベルの80%以上)のレベル信号を導出で
きる。実効値平滑回路25.35は検出信号等を直流分
に変換するための回路であり、レベル変換回路26.3
6は、CPU4への取込みに適合するための信号に変換
するための回路であり、位相パルス回路27.37はそ
れぞれフィルタ回路24.34の出力の零クロス点に応
じたパルス信号を位相パルス信号としてCPU4に入力
し、零相電流検出系、零相電圧検出系のそれぞれにおい
て、位相差を検出する場合に使用される。
Since the peak occurs at 55H2, a level signal higher than a certain level (80% or higher of the 55Hz level) can be derived for both a 50Hz input signal and a 60Hz input signal. The effective value smoothing circuit 25.35 is a circuit for converting the detection signal etc. into a DC component, and the level conversion circuit 26.3
6 is a circuit for converting into a signal suitable for import into the CPU 4, and phase pulse circuits 27 and 37 convert pulse signals corresponding to the zero cross points of the outputs of the filter circuits 24 and 34 into phase pulse signals, respectively. It is inputted to the CPU 4 as a signal and used when detecting a phase difference in each of the zero-phase current detection system and the zero-phase voltage detection system.

整定回路5は、零相電流■。の整定値、零相電圧■。の
整定値及び整定時間Tを整定するための回路であり、D
C試験スイッチ6aは、地絡試験を行うための手動スイ
ッチ、SO試験スイッチ6bは、過電流試験を行うため
の手動スイッチである。表示部7には、■。レベル表示
、電源表示、予報表示を備えている。出力部8には、地
絡検出によるDG表示、過電流によるSO表示を備えて
おり、また、地絡時のトリップ用のリレー、過電流時の
トリップ用のリレー、予報用リレー、異常リレー等を備
えている。
The setting circuit 5 is a zero-sequence current■. Setting value, zero-sequence voltage■. This is a circuit for setting the setting value and setting time T of D.
The C test switch 6a is a manual switch for performing a ground fault test, and the SO test switch 6b is a manual switch for performing an overcurrent test. The display section 7 shows ■. Equipped with level display, power display, and forecast display. The output section 8 is equipped with a DG display due to ground fault detection and an SO display due to overcurrent, and also includes a relay for tripping in the event of a ground fault, a relay for tripping in the event of overcurrent, a relay for forecasting, an abnormality relay, etc. It is equipped with

また、CPU4には試験信号発生回路9及び試験回路、
診断回路10を付設している。試験信号発生回路9は、
例えば4段階の自己試験用の電流信号To、自己試験用
の電圧信号v0を発生する。
The CPU 4 also includes a test signal generation circuit 9 and a test circuit.
A diagnostic circuit 10 is attached. The test signal generation circuit 9 is
For example, a four-stage self-test current signal To and a self-test voltage signal v0 are generated.

また、試験信号発生回路9は、フィルタ回路24.34
の周波数特性を試験するための50Hz。
The test signal generation circuit 9 also includes filter circuits 24 and 34.
50Hz for testing the frequency characteristics of.

55Hz、60 ](zの信号を、それぞれ2段階レベ
ルで発生する。これら自己試験用の電流信号■。、周波
数特性試験用の電流信号は、テスト切替回路23に、ま
た自己試験用の電圧信号■。、周波数特性試験用の電圧
信号は、テスト切替回路23にそれぞれ入力される。電
流信号■。はテスト切替回路23に、電圧信号■。はテ
スト切替回路33にそれぞれ入力される。試験回路・診
断回路10は、CPU4で実行される各種の診断・試験
機能、例えば定電圧チエツク機能、接点チエツク機能、
TCチエツク機能、慣性機能チエツク、フィルタ回路特
性試験等を総称的に示したものである。
55Hz, 60] (Z signals are generated at two levels, respectively. These current signals for self-tests, the current signals for frequency characteristic tests are sent to the test switching circuit 23, and the voltage signals for self-tests are The voltage signals for the frequency characteristic test are input to the test switching circuit 23. The current signal ■ is input to the test switching circuit 23, and the voltage signal ■ is input to the test switching circuit 33. Test circuit - The diagnostic circuit 10 has various diagnostic/test functions executed by the CPU 4, such as a constant voltage check function, a contact check function,
This is a general term for the TC check function, inertia function check, filter circuit characteristic test, etc.

このほか、この開閉器制御装置は、自身の°電源部とし
て、フィルタ回路11、定電圧回路12、定電圧レベル
変換回路13.14を備えている。
In addition, this switch control device includes a filter circuit 11, a constant voltage circuit 12, and constant voltage level conversion circuits 13 and 14 as its own power supply section.

なお、端子P、 、P、に商用電源電圧が加えられ、端
子V、 、V、間には、電源系統lの開閉器を遮断する
ためのトリップコイルが接続される。TC検出回路15
は、端子V、 、V、にトリップコイルが接続されたこ
とを検出するための回路である。
Note that a commercial power supply voltage is applied to the terminals P, , P, and a trip coil is connected between the terminals V, , V, for interrupting the switch of the power supply system 1. TC detection circuit 15
is a circuit for detecting that a trip coil is connected to terminals V, , V,.

上記実施例開閉器制御装置において、フィルタ回路24
あるいはフィルタ回路34の周波数特性が第5図のaに
示す特性のように、ピークが55Hzに一致している場
合に、入力交流信号の周波数が50Hzあるいは60H
zの場合に、ある範囲内のレベル出力を導出することが
できる。しかし、フィルタ回路24.34の周波数特性
が経年変化により、第5図のbあるいはCのように特性
にずれが律した場合には問題となる。例えば第6図に示
すように、周波数特性が60Hzでピークに達するよう
なずれ方をした場合には、60Hzで使用するのと、5
0Hzで使用するのとは、レベル差が著しく生じ、結果
的に正しい電流値、電圧値等による整定かなされない場
合が生じてくる。そのためこの実施例制御装置では、予
め周期的に周波数試験信号をフィルタ回路24.34に
入力して周波数特性をチエツクし、所定値以上のずれが
生じている場合に′は補正値を記憶′しておき、監視時
の動作サイクルにおいて、この補正値により周波数特性
を補正し、ずれによる影響を防止するようにしている。
In the above embodiment switch control device, the filter circuit 24
Alternatively, if the frequency characteristic of the filter circuit 34 is the characteristic shown in FIG.
For z, a level output within a certain range can be derived. However, a problem arises when the frequency characteristics of the filter circuits 24, 34 become deviated over time, as shown in b or c in FIG. 5. For example, as shown in Figure 6, if the frequency characteristics deviate so that they reach their peak at 60Hz, the difference between using at 60Hz and 5
When used at 0 Hz, there will be a significant level difference, and as a result, settling with correct current values, voltage values, etc. may not be possible. Therefore, in this embodiment control device, a frequency test signal is periodically input into the filter circuit 24, 34 to check the frequency characteristics, and if a deviation of more than a predetermined value has occurred, a correction value is stored. Then, during the operation cycle during monitoring, the frequency characteristics are corrected using this correction value to prevent the influence of deviation.

以下、第1図に示すフロー図、第2図に示すフロー図に
より、フィルタ回路の周波数特性の測定及び補正演算処
理について説明する。
Hereinafter, the measurement and correction calculation processing of the frequency characteristics of the filter circuit will be explained with reference to the flowchart shown in FIG. 1 and the flowchart shown in FIG.

CPU4において、動作タイミングが、自己試験のうち
、フィルタ試験ルーチンに入ると、ステップSTIのフ
ィルタ試験かの判定がYESとなり、試験信号発生回路
9から、まず50Hzの試験信号V l iを出力し、
テスト切替回路33を経て、フィルタ回路34に信号v
11を入力する。そして、このフィルタ回路34に入力
した時のフィルタ回路34の出力が実効値平滑回路35
、レベル変換回路36を経て、CPU4に取り込まれ、
この時の出力レベルV i(1を読取り、記憶する(ス
テップ5T3)。次に、今度は試験信号発生回路9から
55H2の試験信号Vl(を出力しくステップ5T4)
、前記と同様にしてフィルタ回路34を経て出力される
信号出力V、。を読取り、これを記憶する(ステップ5
T5)。同様に、今度はステップST6で60Hzの試
験信号Vl+を入力し、その出力信号■、。を読取り、
記憶する(ステップ5T7)。そして、上記読み取った
各周波数50H2,551−IZ、60 Hzの読取り
値より第5図のaにおける各レベルとの誤差を算出し、
これを記憶する(ステップ5TY)。そして、この誤差
が所定値以上が否か判定しくステップ5T9) 、誤差
が所定値以内であれば、そのままリターンするが、誤差
が所定値以上ならば、高感度側、つまりレベルの晶い方
で本来的に低い場合に相当するレベルに補正演算を行う
(ステップ5TIO)。
In the CPU 4, when the operation timing enters the filter test routine of the self test, the determination of the filter test in step STI becomes YES, and the test signal generation circuit 9 first outputs the 50 Hz test signal V l i.
The signal v is sent to the filter circuit 34 through the test switching circuit 33.
Enter 11. Then, the output of the filter circuit 34 when input to this filter circuit 34 is outputted to the effective value smoothing circuit 35.
, is taken into the CPU 4 via the level conversion circuit 36,
At this time, the output level V i (1) is read and stored (step 5T3).Next, the test signal generation circuit 9 outputs the test signal Vl of 55H2 (step 5T4).
, a signal output V outputted through the filter circuit 34 in the same manner as above. and store it (step 5)
T5). Similarly, this time, in step ST6, a 60 Hz test signal Vl+ is inputted, and its output signal ■. read,
Store (step 5T7). Then, from the read values of each frequency 50H2, 551-IZ, and 60 Hz read above, the error with each level at a in Fig. 5 is calculated,
This is stored (step 5TY). Then, it is determined whether this error is greater than or equal to a predetermined value (step 5T9). If the error is within a predetermined value, the process returns as is, but if the error is greater than or equal to a predetermined value, it is set to the high sensitivity side, that is, the level is crystallized. A correction calculation is performed to a level corresponding to the originally low level (step 5TIO).

ここで、高感度側補正演算とは、例えば第6図に示す周
波数特性の如き場合には、60Hzの出力レベルを少な
い方向に補正するための補正値を算出することになり、
この補正値を記憶しておく。
Here, the high-sensitivity side correction calculation means calculating a correction value for correcting the 60Hz output level in the direction of decreasing, for example, in the case of the frequency characteristic shown in FIG.
This correction value is memorized.

また、フィルタ回路24の周波数特性試験も同様の処理
により行い、補正値を記憶しておく。
Further, a frequency characteristic test of the filter circuit 24 is also performed using the same process, and the correction values are stored.

なお、−り記ステップSTIからステップ5TIOまで
の演算は、50Hz、 55Hz、 60Hzの各人力
信号レベルは、一定レベルのものを入力したが、さらに
このレベル値を変化させて、数段階に亘り、ステップS
TI乃至ステップ5TIOの処理を加えれば、それぞれ
各入力レベルに応じた、周波数特性の測定及びその補正
値を演算することが可能である。補正値の演算は、各段
階レベルにおいて、算出したレベルの平均値より算出し
てもよい。
In addition, in the calculations from step STI to step 5TIO described above, each human input signal level of 50 Hz, 55 Hz, and 60 Hz was input at a constant level, but this level value was further changed and the signal was input in several stages. Step S
By adding the processes from TI to step 5TIO, it is possible to measure frequency characteristics and calculate their correction values in accordance with each input level. The correction value may be calculated from the average value of the calculated levels at each stage level.

以上のようにして、周波数特性状・験を行った場合にお
いて、補正値が算出された場合に、CP U4はこれを
記憶しておき、実際に零相電流検出器に零相電圧検出器
3、及びその入力信号を検出して電力系の監視動作を実
行する場合には、この補正値による補正演算を施し、レ
ベル修正して整定値との比較を行うことになる。
When a correction value is calculated in the case where the frequency characteristics are tested as described above, the CPU 4 stores this and actually outputs the correction value to the zero-sequence current detector and the zero-sequence voltage detector 3. , and its input signal to perform a power system monitoring operation, a correction calculation is performed using this correction value, the level is corrected, and a comparison with a set value is performed.

すなわち、通常モードの監視サイクルにおいては、第2
図に示すように、実際の入力電圧■oをレベル変換回路
36より読取った値を■。とする(ステップ5T21)
。次に補正有りか否かを判定しくステップ5T22)、
補正値が記憶されている場合には、この補正(ffを考
慮してレベルti!lI算する。つまり補正演算を行い
(ステップ5T23)、特に、補正値がない場合には、
ステップST23をスキップする。次にテスト切替回路
23を測定側に切替え、過入力保護回路22より人力さ
れる交流入力電流をフィルタ回路24、実効値平滑回路
25、レベル変換回路26より導出される電流値I0を
読取り(ステップ5T24)、上記と同様に電流レベル
に関し補正値が有るか否かを判定しくステップ5T25
)、補正値が記憶されていれば前記と同様にその補正イ
直を考慮し、補正演算を行い、記憶されていなければ、
このステップ5T26をスキップし、以下の通常の整定
動作に移行していく。
That is, in the normal mode monitoring cycle, the second
As shown in the figure, the value obtained by reading the actual input voltage ■o from the level conversion circuit 36 is indicated by ■. (Step 5T21)
. Next, it is determined whether or not there is correction, step 5T22).
If a correction value is stored, this correction (ff is taken into account and the level ti!lI is calculated. In other words, a correction calculation is performed (step 5T23). In particular, if there is no correction value,
Step ST23 is skipped. Next, the test switching circuit 23 is switched to the measurement side, and the AC input current manually input from the over-input protection circuit 22 is read as the current value I0 derived from the filter circuit 24, the effective value smoothing circuit 25, and the level conversion circuit 26 (step 5T24), similarly to the above, it is determined whether there is a correction value regarding the current level or not.Step 5T25
), if the correction value is stored, the correction calculation is performed in consideration of the correction value as described above, and if the correction value is not stored,
This step 5T26 is skipped and the process proceeds to the following normal settling operation.

(へ)発明の効果 この発明によれば、試験時において、試験信号発生回路
から、適宜の周波数の試験信号をフィルタ回路に入力し
、この出力を読取って、周波数特性のずれを診断し、ず
れが所定値以上の場合には、補正値を算出記憶しておき
、実際の監視時においては、この補正値により電流取込
値や電圧取込値に補正演算を行い、その演算値に対して
、所定の整定(jN以上か否かを判別して開閉器を制御
するものであるから、たとえフィルタ回路が経年変化等
によって特性がずれている場合でも、補正演算をするこ
とにより、当初の頃と変わらない精度のよい開閉器制御
を行うことができるという利点がある。
(f) Effects of the Invention According to the present invention, during testing, a test signal of an appropriate frequency is input from the test signal generation circuit to the filter circuit, the output is read, and deviations in frequency characteristics are diagnosed. If is greater than a predetermined value, a correction value is calculated and stored, and during actual monitoring, a correction calculation is performed on the current intake value and voltage intake value using this correction value, and the calculated value is , the switch is controlled by determining whether or not the predetermined setting (jN or more) It has the advantage of being able to perform switch control with the same precision.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明の一実施例開閉器制御装置の周波数
試験処理動作を説明するためのフロー図、第2図は、同
開閉器制御装置におけるJ常モードの監視時の補正演算
処理を説明するためのフロー図、第3図は、この発明が
実施されるSoG型の開閉器制御装置の全体ブロック図
、第4図は、同開閉器制御装置に使用されるフィルタ回
路の具体回路例を示す図、第5図は、同フィルタ回路の
周波数特性を説明するための特性図、第6図は、同フィ
ルタ回路の周波数特性がずれた場合の間頭点を説明する
ための周波数特性図である。 1:電源系統、   2:零相電流検出器、3:零相電
圧検出器、4:cPU、 9:試験信号発生回路、 24・34:フィルタ回路。
Fig. 1 is a flowchart for explaining the frequency test processing operation of a switch control device according to an embodiment of the present invention, and Fig. 2 shows the correction calculation processing when monitoring the J normal mode in the switch control device. 3 is an overall block diagram of an SoG type switch control device in which the present invention is implemented, and FIG. 4 is a specific circuit example of a filter circuit used in the switch control device. FIG. 5 is a characteristic diagram for explaining the frequency characteristics of the same filter circuit, and FIG. 6 is a frequency characteristic diagram for explaining the peak point when the frequency characteristics of the same filter circuit deviate. It is. 1: Power supply system, 2: Zero-phase current detector, 3: Zero-phase voltage detector, 4: cPU, 9: Test signal generation circuit, 24/34: Filter circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)三相母線の零相電流を検出する零相電流検出器と
、この零相電流検出器よりの信号をフィルタ回路を通し
て受けて信号処理する第1の信号処理回路と、前記三相
母線の零相電圧を検出する零相電圧検出器と、この零相
電圧検出器よりの信号フィルタ回路を通して受けて信号
処理する第2の信号処理回路と、前記第1の信号処理回
路及び第2の信号処理回路の出力がそれぞれ予め整定さ
れる整定値以上であるか否かを判別する手段と、この判
別手段による判別結果がいずれも整定値以上であるとの
判別出力に応じて前記母線の開閉器を遮断させる手段と
を含む開閉器制御装置において、試験時に前記フィルタ
回路に所定の周波数の試験信号を入力する試験信号発生
回路と、各フィルタ回路からそれぞれ第1信号処理回路
及び第2の信号処理回路に導出される前記試験信号を受
け、これらの試験信号レベルにより補正値を算出する補
正値算出手段と、前記補正値を記憶する補正値記憶手段
とを備えるとともに、通常モードにおいて、前記第1の
信号処理回路及び第2の信号処理回路より導出される信
号レベルに対し、前記補正値を用いて補正演算を行う補
正演算手段を備えたことを特徴とする開閉器制御装置。
(1) A zero-phase current detector that detects the zero-phase current of the three-phase bus; a first signal processing circuit that receives the signal from the zero-phase current detector through a filter circuit and processes the signal; a zero-sequence voltage detector that detects the zero-sequence voltage of the zero-sequence voltage, a second signal processing circuit that processes the signal received through the signal filter circuit from the zero-sequence voltage detector, and the first signal processing circuit and the second signal processing circuit. means for determining whether the outputs of the signal processing circuits are each greater than or equal to a predetermined value; and opening/closing of the bus bar in response to a determination output that the determination result by the determination means is equal to or greater than the predetermined value. a test signal generating circuit that inputs a test signal of a predetermined frequency to the filter circuit during a test, and a first signal processing circuit and a second signal from each filter circuit, respectively. a correction value calculation means for receiving the test signals derived to the processing circuit and calculating a correction value based on the test signal level; and a correction value storage means for storing the correction value; A switch control device comprising a correction calculation means for performing a correction calculation using the correction value on the signal levels derived from the first signal processing circuit and the second signal processing circuit.
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