JPH0227634B2 - Hoshasenichikenshutsuki - Google Patents

Hoshasenichikenshutsuki

Info

Publication number
JPH0227634B2
JPH0227634B2 JP19251081A JP19251081A JPH0227634B2 JP H0227634 B2 JPH0227634 B2 JP H0227634B2 JP 19251081 A JP19251081 A JP 19251081A JP 19251081 A JP19251081 A JP 19251081A JP H0227634 B2 JPH0227634 B2 JP H0227634B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
converter
energy
output
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP19251081A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5892977A (ja
Inventor
Mitsuhiro Tanaka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP19251081A priority Critical patent/JPH0227634B2/ja
Publication of JPS5892977A publication Critical patent/JPS5892977A/ja
Publication of JPH0227634B2 publication Critical patent/JPH0227634B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/161Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164Scintigraphy
    • G01T1/1641Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、アンガ型シンチレーシヨンカメラ
などの放射線位置検出器に関する。
この種の放射線位置検出器では、シンチレータ
に結合された光検出器の各出力に、それぞれの光
検出器の位置に応じた重み付けを行なつたのち、
これらの出力を加算するという重み付け加算回路
により位置信号を得るようにしている。ところ
が、こうして得た位置信号をそのまま用いたので
は、入射放射線のエネルギが高いとき光電ピーク
の広がりから位置分解能が冷化したり、入射放射
線エネルギの高低により画像の大きさの変化が生
じる(中心位置から放射方向に位置ずれが生じ
る)という不都合があるため、これらを避けるよ
う位置信号をエネルギ信号で除算することによつ
て較正し正規化した位置信号を用いるようにして
いる。またこの位置信号は通常デジタル信号に変
換されて使用される。したがつて従来の放射線位
置検出器では正規化のための時間とAD変換のた
めの時間がかかつて処理が遅いという欠点があ
る。
本発明は上記に鑑み、AD変換と正規化とを同
一の回路で同時に行なうことにより高速化と回路
構成の簡単化とを図つた放射線位置検出器を提供
することを目的とする。
以下、本発明の一実施例について図面を参照し
ながら説明する。第1図において単一のNaI(Tl)
結晶よりなるシンチレータ1の背面に多数の光電
子増倍管等の光検出器2が2次元的に配列された
光学的に結合されている。ガンマ線等の放射線が
入射するとそのエネルギに比例した光が発生し、
この光が光検出器2の複数個に捕えられ、その際
発光位置に近い光検出器2程大きな出力を生じ
る。各光検出器2の出力はそれぞれプリアンプ3
を経てX方向及びY方向の重み付け加算回路4,
5及び加算回路6に入力される。重み付け加算回
路4,5はアンガ型シンチレーシヨンカメラなど
でよく知られているように、上記のように発光位
置に近い光検出器2程出力が大きいことを利用し
て、X方向及びY方向の発光位置信号X,Yを得
るもので、X、Y方向とも共通であるからX方向
についてのみ説明すると、第2図に示すように、
シンチレータ11の中心Oから離れた位置の光検
出器2の出力程大きな重みkを掛けたうえで加算
する。ただしこの重みkは第2図のように直線的
である必要はない。加算回路6では全てのプリア
ンプ3の出力の総和をとつてエネルギ信号Zを得
る。これらの信号X,Y,Zはすべての情報を得
るために積分回路7,8,9において一定時間積
分される。
この積分された信号X,YはAD変換器10,
11に入力される。積分された信号Zは波高分析
器12に入力され、エネルギ弁別信号が得られ
る。AD変換器10,11は同一構成の2重積分
型AD変換器であるから各部に同一の符号を付
し、AD変換器10についてのみ説明する。まず
スイツチ101が閉じられ信号Xが積分回路10
3で積分され、その積分出力がが第3図のように
降下していき、降下し始めたときからコンパレー
タ104の基準レベルを下回るのでコンパレータ
104から出力が生じたゲート105が開かれク
ロツク発生器106からのクロツクがカウンタ1
07に送られてカウントされる。このカウンタ1
07のカウント値がフルスケールTxになつたと
きこのカウンタ107からフルスケール出力が出
じてこれによりスイツチ101が開かれ、スイツ
チ102が閉じられて今度は信号Zが積分回路1
03で積分されるようになる。信号X,Zはあら
かじめ互いに逆極性にされており、積分出力は第
3図のように上昇していく。こうしてコンパレー
タ104の基準レベルに戻つたときコンパレータ
104からの出力が停止するのでゲート105が
閉じられてクロツクのカウンタ107への入力が
断たれる。カウンタ107はフルスケールに達し
たのち再び最初から計数を行なつているため、こ
のときのカウント値Tzは、信号Xの積分により
降下した積分出力が基準レベルにまで戻つてくる
までの時間に対応している(第3図参照)。ここ
で、第3図から明らかなように、積分出力の勾配
は信号X,Zにそれぞれ対応しているから、 X・Tx=Z・Tz の関係がある。通常の2重積分型AD変換器では
Zに既知の参照信号を用い、Txを予め適当な数
値に定めておくことにより、 X=Tz/Tx・Z の関係から、未知の信号Xをカウンタ107のカ
ウント値のデジタル出力Tzに変換するのである
が、ここでは位置信号Xをエネルギ信号Zで除算
して較正を行ない正規化することが必要であるか
ら、X/Zが意味を持つ。
このX/Zは X/Z=Tz/Tx で表わされる。すなわちデジタルカウント値Tz
の既知のフルスケールTxに対する比が、較正さ
れた位置信号Xとなる。こうしてAD変換器1
0,11の参照信号としてエネルギ信号Zを加え
ることにより、エネルギによる較正とAD変換と
を同時に行なうことができる。
なお、積分回路103に信号Xを加えて積分し
たのち、第4図のようにスイツチ102により定
電流回路108を接続して、積分された電荷を一
定の電流で放電するようにし、この定電流回路1
08をエネルギ信号Zで制御して放電電流をエネ
ルギ信号Zに対応させるようにしても、第3図の
ように積分出力の上昇勾配を信号Zに対応させる
ことができるので上記の式が成立し、同様の作
用・効果が得られる。
なお、AD変換器としては2重積分型以外に、
たとえばフラツシユ型や逐次近似型等、出力デジ
タル信号が参照信号に対する入力アナログ信号の
比に対応しているようなタイプのものであれば、
他のタイプのものでも使用できる。第5図はフラ
ツシユ型AD変換器を示すもので、参照信号Vref
を抵抗分圧回路によりn段階に分圧し、1/n Vref、2/nVref、…、n/nVrefをn個のコンパレ ータ41〜4nにそれぞれ基準電圧として加え、
入力アナログ信号VINをコンパレータ41〜4n
の各々において上記の各基準電圧と比較し、各コ
ンパレータ41〜4nの出力をエンコーダ51に
導びきコード化データDoutを得れば、 VIN=Dout/n・Vref となる。そこでVrefの代りに信号Zを、VINとし
て信号Xをそれぞれ加えれば、 X/Z=Dout/n から、nに対するデジタルデータ出力Doutが正
規化された位置信号Xのデジタル信号ということ
になる。
以上実施例について説明したように、本発明に
よれば、位置信号の正規化とAD変換とを同一の
回路で同時に行なうことができ、回路構成の簡略
化及び処理時間の短縮を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロツク図、第2
図は重み付け加算を説明するための模式図、第3
図は2重積分型AD変換器の動作を説明するため
の波形図、第4図は変形例の一部を示すブロツク
図、第5図はフラツシユ型AD変換器を示すブロ
ツク図である。 1……シンチレータ、2……光検出器、3……
プリアンプ、4,5……重み付け加算回路、6…
…加算回路、7,8,9,103……積分回路、
10,11……2重積分型AD変換器、12……
波高分析器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 シンチレータと、このシンチレータに結合さ
    れた複数個の光検出器と、これら光検出器の出力
    を加算してエネルギ信号を作る加算回路と、これ
    ら光検出器の各出力に各光検出器位置に応じた重
    み付けをした後これら各出力を加算して位置信号
    を得る重み付け加算回路と、この位置信号が入力
    され、参照信号に対する入力アナログ信号の比に
    対応するデジタル信号を得るAD変換器とを有
    し、前記AD変換器に参照信号として前記エネル
    ギ信号を加えて前記AD変換器よりエネルギ較正
    されたデジタル位置信号を得るように構成された
    放射線位置検出器。
JP19251081A 1981-11-30 1981-11-30 Hoshasenichikenshutsuki Expired - Lifetime JPH0227634B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19251081A JPH0227634B2 (ja) 1981-11-30 1981-11-30 Hoshasenichikenshutsuki

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19251081A JPH0227634B2 (ja) 1981-11-30 1981-11-30 Hoshasenichikenshutsuki

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5892977A JPS5892977A (ja) 1983-06-02
JPH0227634B2 true JPH0227634B2 (ja) 1990-06-19

Family

ID=16292480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19251081A Expired - Lifetime JPH0227634B2 (ja) 1981-11-30 1981-11-30 Hoshasenichikenshutsuki

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0227634B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6897775B2 (ja) * 2017-07-31 2021-07-07 株式会社島津製作所 放射線検出器および核医学診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5892977A (ja) 1983-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5214274A (en) Image sensor array with threshold voltage detectors and charged storage capacitors
EP2257835B1 (en) Single photon radiation detector
US7709801B2 (en) Nuclear medicine diagnosis equipment
JP5324947B2 (ja) 信号処理装置および光検出装置
GB2138130A (en) Photoelectric conversion device with leakage current compensation
JP5576502B2 (ja) 放射線検出器
WO1993020461A1 (en) Gain calibration in a scintillation camera
Li et al. A new pileup-prevention front-end electronic design for high resolution PET and gamma camera
WO2021027447A1 (zh) 辐射探测装置和成像系统
Choong et al. High-performance electronics for time-of-flight PET systems
WO2021010218A1 (ja) 光検出素子の信号読出回路、信号読出装置および信号読出方法
JPS59157584A (ja) 放射測定装置
Olcott et al. Pulse width modulation: A novel readout scheme for high energy photon detection
CN109211946B (zh) 校正X-ray探测器中的探测通道的方法
JPH0227634B2 (ja) Hoshasenichikenshutsuki
JP2003043149A (ja) 放射線検出回路
JP2003057346A (ja) 放射線モニタ装置
Drexler et al. The new readout electronics for the BaF/sub 2/-calorimeter TAPS
EP0219953B1 (en) X-ray image detecting apparatus
US10447293B1 (en) Count time measurement analog to digital conversion
JPH0550685B2 (ja)
SU712953A1 (ru) Многоканальный преобразователь частоты в код
JPH0457987B2 (ja)
JP2645111B2 (ja) 太陽センサ
SU907868A1 (ru) Устройство дл компенсации различий в чувствительности элементов матрицы фотоприемников