JPH02271481A - Automatic correction type pattern reader - Google Patents
Automatic correction type pattern readerInfo
- Publication number
- JPH02271481A JPH02271481A JP9348889A JP9348889A JPH02271481A JP H02271481 A JPH02271481 A JP H02271481A JP 9348889 A JP9348889 A JP 9348889A JP 9348889 A JP9348889 A JP 9348889A JP H02271481 A JPH02271481 A JP H02271481A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- data
- scanning
- section
- pattern data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims description 18
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Image Processing (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は自動補正式パターン読取機に関し、特にプリン
ト基板等のパターンのデータを作成する自動補正式パタ
ーン読取機に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic correction pattern reader, and more particularly to an automatic correction pattern reader for creating pattern data for printed circuit boards and the like.
従来、この種のパターンデータを作成する手段は人手に
よるかあるいは自動読取機によりパターン図をそのまま
デジタイズするものである。すなわち、図面上のパター
ンのX、Y座標を欠陥の有無にかかわらずそのまま読取
ることにより行っている。Conventionally, the means for creating this type of pattern data is to digitize a pattern diagram as it is, either manually or by using an automatic reader. That is, this is done by reading the X and Y coordinates of the pattern on the drawing as they are, regardless of the presence or absence of defects.
上述した従来のパターン読取は、人手によるときは一点
一点デジタイズ(X、Y座標読取)しているため、多く
の工数を要するという欠点があり、また自動デジタイズ
においては、パターン図に欠陥があってもそのままデー
タ化してしまうという欠点がある。The conventional pattern reading described above has the disadvantage that it requires a lot of man-hours because it is digitized one by one (X, Y coordinate reading) when done manually, and automatic digitization can cause defects in pattern drawings. Even if there is, it has the disadvantage that it is converted into data as is.
本発明の目的は、かかるパターン図上の欠陥箇所を読取
って自動補正することのできる自動補正式パターン読取
機を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an automatic correction pattern reader that can read and automatically correct defective locations on a pattern diagram.
本発明の自動補正式パターン読取機は、バターン図を走
査することによりパターンデータを電気信号に変換する
走査部と、その走査部出力を順次一時的に記憶する一時
記憶部と、順次記憶した連続データの変位より異常を検
出して自動補正する補正部と、この補正部で自動補正し
たパターンデータを格納するデータ記憶部と、この補正
されたパターンデータを必要に応じて出力するための出
力部とを有して構成される。The automatic correction pattern reader of the present invention includes a scanning section that converts pattern data into electrical signals by scanning a pattern diagram, a temporary storage section that sequentially temporarily stores the outputs of the scanning section, and a continuous A correction section that detects abnormalities from data displacement and automatically corrects them; a data storage section that stores pattern data automatically corrected by this correction section; and an output section that outputs the corrected pattern data as necessary. It is composed of:
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示す自動補正式パターン読
取機のブロック構成図である。FIG. 1 is a block diagram of an automatic correction pattern reader showing an embodiment of the present invention.
第1図に示すように、本実施例は、パターン図を走査し
て図面上に描かれたパターンを電気信号に変換する走査
部1と、その電気信号に変換された走査部1の出力を順
次−次的に記憶する半導体メモリ等の一時記憶部2と、
この−時記憶部2で記憶した連続するパターンデータの
変位から設定したデータとの差異により異常を検出し自
動補正する自動補正部3と、この補正部3で自動補正し
たパターンデータを格納するデータ記憶部4と、この補
正されたパターンデータを必要に応じて出力するための
出力部5と、これらの各部1〜5の動作を制御するため
の処理制御装置(図示省略)とを有して構成される。As shown in FIG. 1, this embodiment includes a scanning section 1 that scans a pattern diagram and converts the pattern drawn on the drawing into an electrical signal, and an output of the scanning section 1 that is converted into an electrical signal. a temporary storage unit 2 such as a semiconductor memory that sequentially stores data;
An automatic correction section 3 that detects and automatically corrects abnormalities based on the difference between the displacement of the continuous pattern data stored in the - time storage section 2 and the set data, and data that stores the pattern data automatically corrected by this correction section 3. It has a storage section 4, an output section 5 for outputting the corrected pattern data as necessary, and a processing control device (not shown) for controlling the operation of each of these sections 1 to 5. configured.
第2図は第1図における走査部で走査するパターン図で
あり、また第3図(a)、(b)はそれぞれ第2図に示
す走査線に対応する走査信号波形図および自動補正後の
信号波形図である。FIG. 2 is a diagram of the pattern scanned by the scanning unit in FIG. 1, and FIGS. 3(a) and (b) are scanning signal waveform diagrams corresponding to the scanning lines shown in FIG. It is a signal waveform diagram.
第2図に示すように、パターン図6には三本のパターン
PL、P2.P3が描かれており、パターンP2には欠
落部Aと、隣接パターンP3への接近部Bとの欠陥が存
在する場合を示している。As shown in FIG. 2, there are three patterns PL, P2. P3 is drawn, indicating that the pattern P2 has defects including a missing portion A and a portion B approaching the adjacent pattern P3.
かかるパターン図6上のパターンP1〜P3を点線で示
す走査線S1〜Snの矢印方向に走査する。The patterns P1 to P3 on the pattern diagram 6 are scanned in the direction of the arrows of scanning lines S1 to Sn shown by dotted lines.
上述したように、走査部1が第2図に示すパターン図6
上を走査線Sl、S2.S3.−.Snの順に走査する
と、第3図(a)に示すSL’S2’ 、S3” 、−
−−、Sn’の電気信号にパターン情報を変換する。こ
の電気信号SL’ 、S2’83′、・・・、Sn’は
、順次−時記憶部2に格納され自動補正部3へ送られる
。補正部3は電気信号Sl’〜S3’の変位よりパター
ンP2の異常Aを検出し、第3図(b)に示す電気信号
82″のようにデータCを補正する。また、補正部3は
第3図(a)に示す電気信号Sn’からパターンP2.
P3の近接Bをも検出し、第3図(b)に示す電気信号
Sn″のようにデータDを補正する。これらの補正され
たデータはデータ記憶部4に格納された後必要によりパ
ターンデータとして出力部5から取り出される。これに
より、手書き図面等のパターン図上に何らかのミスや欠
陥があっても、これらを自動補正して正しいパターンデ
ータを読みとることができる。As described above, the scanning unit 1 scans the pattern diagram 6 shown in FIG.
Scan lines Sl, S2 . S3. −. When scanning in the order of Sn, SL'S2', S3'', - shown in FIG. 3(a) are obtained.
--, converts the pattern information into an electrical signal of Sn'. The electrical signals SL', S2'83', . The correction section 3 detects the abnormality A of the pattern P2 from the displacement of the electric signals Sl' to S3', and corrects the data C as shown in the electric signal 82'' shown in FIG. 3(b). From the electrical signal Sn' shown in FIG. 3(a), pattern P2.
The proximity B of P3 is also detected, and the data D is corrected as shown in the electrical signal Sn'' shown in FIG. As a result, even if there are some mistakes or defects on the pattern diagram such as a handwritten drawing, these can be automatically corrected and correct pattern data can be read.
以上説明したように、本発明の自動補正式パターン読取
機は、パターン図上の欠陥箇所を自動補正してパターン
データを作成することができるため、読取る対象が手書
き図面であっても短時間にその正しいパターンデータを
作成することができるという効果がある。As explained above, the automatic correction pattern reader of the present invention can create pattern data by automatically correcting defects on a pattern diagram, so even if the object to be read is a handwritten drawing, it can be read quickly. This has the effect that correct pattern data can be created.
第1図は本発明の一実施例を説明するための自動補正式
パターン読取機のブロック構成図、第2図は第1図にお
ける走査部で走査するパターン図、第3図(a>、(b
)はそれぞれ第2図に示す走査線に対応する走査信号波
形図および自動補正後の信号波形図である。
1・・・走査部、2・・・−時記憶部、3・・・自動補
正部、4・・・データ記憶部、5・・・出力部、6・・
・パターン図、P1〜P3・・・パターン、S1〜Sn
・・・走査線、A・・・欠落部、B・・・接近部、C,
D・・・補正信号。FIG. 1 is a block diagram of an automatic correction pattern reader for explaining an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram of a pattern scanned by the scanning section in FIG. 1, and FIG. b
) are a scanning signal waveform diagram and a signal waveform diagram after automatic correction corresponding to the scanning lines shown in FIG. 2, respectively. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Scanning part, 2... -time storage part, 3... Automatic correction part, 4... Data storage part, 5... Output part, 6...
・Pattern diagram, P1 to P3...Pattern, S1 to Sn
...Scanning line, A... Missing part, B... Approaching part, C,
D...Correction signal.
Claims (1)
信号に変換する走査部と、その走査部出力を順次一時的
に記憶する一時記憶部と、順次記憶した連続データの変
位より異常を検出して自動補正する補正部と、この補正
部で自動補正したパターンデータを格納するデータ記憶
部と、この補正されたパターンデータを必要に応じて出
力するための出力部とを有することを特徴とする自動補
正式パターン読取機。A scanning unit that converts pattern data into electrical signals by scanning a pattern diagram, a temporary storage unit that sequentially temporarily stores the output of the scanning unit, and an abnormality that is detected from the displacement of the sequentially stored continuous data and automatically corrected. an automatic correction type comprising: a correction section for correcting pattern data automatically corrected by the correction section; a data storage section for storing pattern data automatically corrected by the correction section; and an output section for outputting the corrected pattern data as necessary. pattern reader.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9348889A JPH02271481A (en) | 1989-04-12 | 1989-04-12 | Automatic correction type pattern reader |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9348889A JPH02271481A (en) | 1989-04-12 | 1989-04-12 | Automatic correction type pattern reader |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02271481A true JPH02271481A (en) | 1990-11-06 |
Family
ID=14083729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9348889A Pending JPH02271481A (en) | 1989-04-12 | 1989-04-12 | Automatic correction type pattern reader |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02271481A (en) |
-
1989
- 1989-04-12 JP JP9348889A patent/JPH02271481A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2591292B2 (en) | Image processing device and automatic optical inspection device using it | |
JPH01180404A (en) | Inspecting device for pattern defect | |
EP0218447B1 (en) | Image signal processing apparatus | |
JPH02271481A (en) | Automatic correction type pattern reader | |
JPS62154076A (en) | Picture processing method | |
JPS58125184A (en) | Optical character reader | |
JP2745763B2 (en) | Wiring pattern inspection equipment | |
JP2707767B2 (en) | Image processing device | |
JPS62239662A (en) | Original document processor | |
JPS6014379A (en) | Bar code reading method | |
JP2871036B2 (en) | Image processing device | |
JP2744237B2 (en) | Recognition control method | |
JP2674320B2 (en) | Minimum pattern interval inspection device | |
JP2921875B2 (en) | Drawing editing device in CAD system | |
JPH0340430B2 (en) | ||
JPS61161088A (en) | Picture processing device | |
JPH04255088A (en) | Optical character reader | |
JPH0363719A (en) | Scanner device having coordinate input function | |
JPH07319993A (en) | Mark reader | |
JPS62160590A (en) | Format generating system for character reader | |
JPH06164931A (en) | Picture signal processor | |
JPS63292373A (en) | Shading correcting system | |
JPS6326777A (en) | Pattern recognizing device | |
JPS6029881A (en) | Optical character reader | |
JPS61143883A (en) | Pattern defect detecting method |