JPH02267519A - 画像情報の処理方法及び装置 - Google Patents

画像情報の処理方法及び装置

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JPH02267519A
JPH02267519A JP8942389A JP8942389A JPH02267519A JP H02267519 A JPH02267519 A JP H02267519A JP 8942389 A JP8942389 A JP 8942389A JP 8942389 A JP8942389 A JP 8942389A JP H02267519 A JPH02267519 A JP H02267519A
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electromagnetic radiation
light conversion
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JP8942389A
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English (en)
Inventor
Ryoyu Takanashi
高梨 稜雄
Shintaro Nakagaki
中垣 新太郎
Hirohiko Shinonaga
浩彦 篠永
Tsutae Asakura
浅倉 伝
Masato Furuya
正人 古屋
Tetsuji Suzuki
鉄二 鈴木
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野) 本発明は画像情報処理方法及び装置に関する。 (従来の技術) 被写体を撮像して得た映像信号は、IIIA集、トリミ
ング、その他の画像信号処理が容易であるとともに、記
録再生ならびに記録再生消去が容易であるという特徴を
有しているために、放送の分野以外に多くの分野、例え
ば、印刷、電子出版、計測などの多くの分野での利用も
試みられるようになり1例えば動画のような複数の時間
に対応した光学像情報の撮像記録や、−枚の画像の撮像
記録を従来装置に比べて解像度が一層高い状態で行うこ
とを可能にする装置の出現が強く要望されるようになづ
た・ ところで、従来から一般的に使用されて来ている撮像装
置では、被写体の光学像を撮像レンズにより撮像素子の
光電変換部に結像させるようにしていて、撮像素子で前
記の被写体の光学像を電気的な画像情報に変換し、その
電気的な画像情報を時間軸上で直列的な映像信号として
出力させるようにしており、撮像装置の構成に当って使
用されるべき撮像素子としては各種の撮像管や各種の固
体撮像素子が使用されていることは周知のとおりである
。 さて、高画質・高解像度の再生画像を得るためには、そ
れと対応した映像信号を発生させうる撮像装置が必要と
されるが、撮像素子として撮像管を使用した撮像装置で
は、撮像管における電子ビーム径の微小化に限界があっ
て電子ビーム径の微小化による高解像度化が望めないこ
と、及び、撮像管のターゲット容量はターゲット面積と
対応して増大するものであるために、ターゲット面積の
増大による高解像度化も実現できないこと、また、例え
ば動画の撮像装置の場合には高解像度化に伴って映像信
号の周波数帯域が数十M Hz〜数百MHz以上にもな
るためにS/Nの点で問題になる、等の理由によって、
高画質・高解像度の再生画像を再生させうるような映像
信号を発生させることは困難である。 すなわち、撮像素子として撮像管が使用されている撮像
装置により高画質・高解像度の再生画像を再生させうる
ような映像信号を発生させるのには、撮像管における電
子ビーム径を微小化したり、ターゲットとして大面積の
ものを使用したりすることが考えられるが、撮像管の電
子銃の性能、及び集束系の構造などにより撮像管の電子
ビーム径の微小化には限界があるために電子ビーム径の
微小化による高解像度化には限界があり、また撮像イメ
ージサイズの大きな撮像レンズを使用した上で、ターゲ
ットの面積の増大によって高解像度を得ようとした場合
には、ターゲット面積の増大による撮像管のターゲット
容量の増大による撮像管の出力信号における高域信号成
分の低下によって、撮像管出力信号のS/Nの低下が著
るしくなることにより、撮像管を使用した撮像装置によ
っては、高画質・高解像度の再生画像を再生させうるよ
うな映像信号を良好に発生させることはできないのであ
る。 また、撮像素子として固体撮像素子を使用した撮像装置
により高画質・高解像度の再生画像を再生させるのには
1画素数の多い固体撮像素子を使用することが必要とさ
れるが1画素数の多い固体撮像素子はそれを駆動するた
めのクロックの周波数が高くなる(例えば、動画カメラ
の場合における固体撮像素子の駆動のためのクロックの
周波数は数百M Hzとなる)とともに、駆動の対象に
されている回路の静電容量値は画素数の増大によって大
きくなっているために、そのような固体撮像装置は、固
体撮像素子のクロックの周波数の限界が20MHzとい
われている現状からすると実用的なものとして構成でき
ないと考えられる。 このように、従来の撮像装置ではそれの構成に不可欠な
撮像素子の存在によって、高画質・高解像度の再生画像
を再生させつるような映像信号を良好に発生させること
ができなかったので、高画質・高解像度の再生画像を再
生させうるような映像信号を良好に発生させることがで
きる撮像装置の出現が望まれており、また、SW集、ト
リミング。 その他の画像信号処理が容易である他に、可逆性を有す
る記録部材を使用して高い解像度を有する画像の記録再
生、ならびに記録再生消去をも容易に行えるという利点
を有する映像信号を用いた機器を導入しようとしている
、例えば、印刷、電子出版、計測などの多くの分野では
、−枚の画像の撮像記録を従来の撮像装置に比べて一層
解像度の高い状態で実現させうる撮像装置や記録再生装
置の出現が強く要望された。 前記のような問題点の解決のために、本出願人会社では
先に、被写体の光学像に対応した光学像情報を撮像レン
ズにより可逆性を有する電荷像記録媒体に結像させて記
録媒体に記録再生の対象にされている情報を電荷像とし
て記録し再生するとともに、前記の可逆性を有する電荷
像記録媒体に記録されている記録情報を消去する手段と
を備えている撮像装置を提案している。 (発明が解決しようとする課M) そして、前記した既提案の撮像装置の実施により、前記
したよう゛な従来の問題点が良好に解決でき、高い精細
度を有する画像情報の記録再生が可能な装置を提供し得
たのであるが、記録再生される超高解像度を有する画像
情報を時系列的な電気信号に変換した場合には極めて広
い周波数帯域を占有する電気信号となるのであり1例え
ば前記した既提案の装置によって1枚の画像が4000
画素X4000画素であるような画像情報として記録再
生した場合には、その画像情報を時系列信号に変換した
とすると、この時系列信号で必要とされる周波数帯域幅
は約IGHzにもなるために。 そのような超広帯域の信号の画像情報の処理を行うこと
は容易ではないので、超高解像度を有する画像情報の処
理の容易な画像情報処理方法及び装置の出現が求められ
た。 (8題を解決するための手段) 本発明は電磁放射線情報の状態において光−光変換素子
を用いて画像情報処理を行う方法及び装置を提供するも
のである。 (作用) 光−光変換素子に電荷像として書込まれた情報を電磁放
射線情報として読出すのに使用される電磁放射線の強度
を変化させて電磁放射線による画像情報の利得調整を行
い、また、光−光変換素子の構成要素として用いられて
いる光変調材層部材の電気光学的な特性における動作点
の設定の仕方を変化させることにより、光−光変換素子
から読出される電磁放射線による画像情報を反転させた
り、光−光変換素子から読出される電磁放射線による画
像情報に非直線処理を施したりするなどの画像処理を電
磁放射線の状態で行う。 (実施例) 以下、#IA付図面を参照して本発明の画像情報処理方
法及び装置の具体的な内容について詳細に説明する。第
1図は本発明の画像情報処理方法によって画像処理を行
う画像処理部を備えた画像情報処理系の一例構成のブロ
ッ図、第2図は画像処理部で行われる種々の画像処理機
能をそれぞれ個別のブロックによって示した画像処理部
のブロック図、第3図、第4図、第6図及び第8図なら
びに第10図はそれぞれ異なる画像処理を行いつるよう
に構成された構成部分のブロック図、第5図、第7図及
び第9図ならびに第11図は動作説明用の特性例または
波形側図、第12図乃至第25図は本発明の画像情報処
理方法を適用して構成した撮像装置の構成例を示すブロ
ック図、第26図及び第27図は光−光変換素子の構成
例を示す側断面図、第28図は光−光変換素子の動作を
説明するために示した光−光変換素子を用いて構成した
撮像装置の側面図、第29図及び第31図ならびに第3
3図は電磁放射線像を記録媒体に電荷像として記録する
ようにした記録系の構成例を示す側面図、第30図及び
第32図ならびlこ第34図は電荷像を電磁放射線を用
いて読取るようにした再生系(読出し系)の構成例を示
す側面図である。 本発明の画像情報処理方法は光−光変換素子を用いた画
像情報の処理方法であるから、まず、第26図乃至第2
8図を参照して本発明の画像情報処理方法の実施に際し
て用いられる光−光変換素子の構成や動作などについて
説明する。 第26図及び第27図は光−光変換素子rpcの構成例
を示す側断面図であり、また、第28図は光−光変換素
子PPCの具体的な動作の説明のために示す光−光変換
素子PPCを用いて構成した撮像装置の側面図である。 第26図及び第27図に示されている光−光変換素子p
pcにおいて、Etl、Et2は電極、pcLは第1の
所定の波長域の電磁放射線に感度を有する光導電層部材
、DMLは前記した第1の所定の波長域とは異なる第2
の所定の波長域の電磁放射線を反射させる誘電体ミラー
、PMLは電界の強度分布に応じて電磁放射線の状態を
変化させつる光変調材層部材(例えばニオブ酸リチウム
単結晶のような光変調材層、あるいはネマチック液晶層
)であり、また、WLは光−光変換素子PPCに電磁放
射線像を電荷像として書込む電磁放射綿5RLば光−光
変換素子PPCに形成された電荷像を読出すのに使用さ
れる電磁放射線である。 前記した電極Etlは少なくとも前記した第1の所定の
波長域の電磁放射線に対して透明なものとして構成され
ており、また、電極Et2は少なくとも前記した第2の
所定の波長域の電磁放射線に対して透明なものとして構
成されている。 前記した構成を有する第26図に示す光−光変換素子r
pcは、それの電極E tl 、 E t2に電源■b
と切換スイッチSWとからなる回路を接続し、図示しな
い制御信号の入力端子に供給される切換制御信号により
、切換スイッチSWの可動接点が固定接点WR側に切換
えられた状態として、前記した電極Etl、 EtZ間
に電源vbの電圧を与えて、光導電層部材PCLの両端
間に電界が加わるようにし、光−光変換素子PPCにお
ける電極Etl側から第1の所定の波長域の電磁放射線
WLを入射させると、前記のように光−光変換素子PP
Cに入射したffi磁放射線WLは電極Etlを透過し
て光導電層部材PCLに到達する。 光導電層部材PCLの電気抵抗値がそれに到達した電磁
放射線WLの強度分布と対応して変化するために、光導
電層部材PCLと誘電体ミラーDMLとの境界面には光
導電層部材PCLに到達した第1の所定の波長域の電磁
放射線WLの強度分布と対応した強度分布を有する電荷
像が生じる。 次に前記のようにして第1の所定の波長域の電磁放射@
WLの強度分布と対応する電荷像が形成された光−光変
換素子における電極Etl、EtZ間に接続されている
切換スイッチSWの可動接点が固定接点WR側に切換え
られていて、電fX V bの電圧が電f4Etl、 
Et2間に印加されている状態において、fft極Et
2側より図示されていない電磁放射線源からの一定強度
の第2の所定の波長域の電磁放射MRLを入射させると
、その可視領域の電磁放射線RLが光変調材層部材PM
L(例えばニオブ酸リチウム単結晶PML )を通過し
た後に誘電体ミラーDMLで反射し、再び光変調材層部
材PMLを通過して、光−光変換素子PPCにおける電
極Et2から出射するが、この第2の所定の波長域の電
磁放射線RLは光導電層部材PCLと1誘電体ミラーD
MLとの境界面に生成されているMif記の電荷像の電
荷量分布と対応して電磁放射線の状態が変化しているも
のになっている。 すなわち、既述のように第1の所定の波長域の電磁放射
線WLが入射されて、前記した第1の所定の波長域の電
磁放射線WLの強度分布と対応する電荷像が光導電層部
材p c r、と誘電体ミラーDMLとの境界面に形成
されている状態において、前記した光導電層部材PCL
に対して誘電体ミラ−DMLとともに直列的な関係に設
けられている光変調材層部材PML(例えばニオブ酸リ
チウム単結晶PML)には、前記した電荷像の電荷分布
と対応した強度分布の電界が加わっている状態になされ
ている。 そして、前記した光変調材層部材PMLが例えばニオブ
酸リチウム単結晶PMLの場合には、それの屈折率が電
気光学効果により電界に応じて変化するから、前記した
電荷像と対応した強度分布の電界が加わっている状態の
前記した光変調材層部材として用いられているニオブ酸
リチウムの結晶PMLの屈折率は、前記した電荷像の電
荷像分布に応じて変化しているものになる。 それで、電14Et2側に第2の所定の波長域の電磁放
射線RLが投射された場合には、その第2の所定の波長
域の電磁放射線RLは、電極Et2→光変調材層部材と
して用いられているニオブ酸リチウム単結晶PML→誘
電体ミラーDML→のように進行して行き1次いで前記
した第2の所定の波長域の電磁放射線RLは誘電体ミラ
ーD M Lで反射して電極Et2側に戻って行くが、
光変調材層部材として用いられているニオブ酸リチウム
の結晶PMLの屈折率は電気光学効果によって電界に応
じて変化するから、vt電体ミラーDMLで反射した第
2の所定の波長域の電磁放射線RLは光変調材層部材と
して用いられているニオブ酸リチウムの結晶PMLの電
気光学効果により光変調材層部材として用いられている
ニオブ酸リチウムの結晶PMLに加わる電界の強度分布
に応じた情報を含むものとなって電極Et2側から出射
する。 また、前記のようにして第1の所定の波長域の電磁放射
線WLによって形成された電荷像を消去するのには、前
記した切換スイッチSWに切換制御信号を供給して切換
スイッチSWの可動接点を固定接点E側に切換え、光−
光変換素子P )) Cにおける電極E tl 、 E
 tZ間の電位を同じにしてから−様な強度分布の電磁
放射線を入射させて光導電層部材PCLを通過させるこ
とにより行うことができる。 第26図を参照して既述した光−光変換素子P1) C
テは、それの電極Etl、 Et2ニ電gvbと切換ス
イッチSWとからなる回路を接続し、書込み動作時及び
読出し動作時には、切換スイッチSWの可動接点を固定
接点WR側に切換えた状態とし、また、消去動作時には
切換スイッチSWの可動接点を固定接点E側に切換えた
状態として動作させていたが、第27図に示されている
光−光変換素子)) P Cは、光変調材層部材PML
として交流動作を行うものを使用し、光−光変換素子P
PCの電極Et、1.Et2間に交流電源VPを接続し
て書込み動作と読出し動作が行われるようにしている場
合の例を示している。 第27図に示すように光−光変換素子PPCの電極E 
tl、 E t2間に交流電源VPを接続して書込み動
作と読出し動作とが行われるようにされた場合には、光
−光変換素子PPCの電極Etl、 Et2間に接続さ
れている交流電源VPによって光導電層部材PCLと光
変調材層部材PMLとに交流電界が印加されていること
により、光−光変換素子Ppcの光導電層部材PCLに
入射された電磁放射線の強度に応じて光導′IR層部材
PCL中に生じた電子−正孔対における電子と正孔とが
、光導電層部材PCL中を往復移動している状態となさ
れるで、光導電層部材PCLのインピーダンスが光−光
変換素子PPCにおける光導電層部材PCLに入射され
た電磁放射線の強度に応じて変化された状態になされる
。 それにより光−光変換素子PPcの光変調材層部材PM
Lの両端に印加される電界強度が光−光変換素子rpc
の光導電層部材PCLに入射された電磁放射線の強度に
対応しているものになる。 したがって、光−光変換素子Pccに入射された読出し
光RLが光変調材層部材PMLを通過するときに光変調
材層部材PMLの両端に印加される電界強度に応じて変
調されて光−□光変換素子Ppcから出射される そして、前記のように光−光変換素子PPcの電極E 
tl、 E t2間に交流電源VPを接続して書込み動
作と読出し動作とが行われるようになされている場合に
は別に消去動作を行う必要はない。 第28図は第26図及び第27図を参照して説明したよ
うな構成を有する光−光変換素子P P Cを用いて構
成した撮像装置のブロック図であり。 この第28図においてOは被写体、Lは撮像レンズであ
り、また、PPCは第27図に示されているように2つ
の電極Etl、 EtZ間に交流電源VPを接続させで
ある光−光変換素子である。 第28図において光−光変換素子PPCには被写体Oか
らの第1の所定の波長域の電磁放射線像が撮像レンズL
を介して供給される。 また、前記の光−光変換索子PPCには図示されていな
い領域の電磁放射M源から必要に応じて設けられている
偏光板や電磁放射線の偏向装置、コリメータレンズ、ビ
ームスプリッタなどを介して、所定の偏向態様で2次元
的に偏向されている第2の所定の波長域の電磁放射線R
Qが供給されうるようになされている。 それで、第28図に示されている光−光変換装置ppc
において、それの電極Etl、 Et2に接続された交
流電源VPから前記した電極Et1. Et2間に電圧
を与えて、光導電層部材PCLの両端間に電界が加わる
ようにしておいて、光−光変換素子PPCにおける電極
Etl側から撮像レンズLを介して、被写体0からの第
1の所定の波長域の電磁放射線を入射させると、前記の
第1の所定の波長域の電磁放射線は電極Etlを透過し
て光導電層部材PCLに到達する。 光導電層部材PCLの電気抵抗値がそれに到達した第1
の所定の波長域の電磁放射線の強度分布と対応して変化
するために、光導電層部材PCLと誘電体ミラーDML
との境界面には光導電層部材PCLに到達した第1の所
定の波長域の電磁放射線の強度分布と対応した強度分布
を有する電荷像が生じる。 次に、図示されていない電磁放射線源から放射された一
定強度の第2の所定の波長域の電磁放射線を、必要に応
じて設けられている偏光板と、電磁放射線の偏向装置と
、コリメータレンズ、ビームスプリッタなどを介して、
所定の偏向態様で2次元的に偏向されている第2の所定
の波長域の読出し川の電磁放射線RQとして光−光変換
素子PPCにおける電極Et2側から入射させると、前
記のようにして光−光変換素子PPCの電極Et2側か
ら入射された第2の所定の波長域の電磁放射線RQは光
変調材層部材PMLを通過した後に誘電体ミラーDML
で反射し、再び光変調材層部材PMLを通過して、光−
光変換素子PPCにおける電極Et2から出射するが、
この第2の所定の波長域の電磁放射線RQは光導電層部
材PCLと誘電体ミラーDMLとの境界面に生成されて
いる前記の電荷像の電荷量分布と対応して状態が変化し
ているものになっている。 すなわち電極EtZ側に第2の所定の波長域の一定強度
の読出し用の電磁放射線RQが投射された場合には、そ
の第2の所定の波長域の電磁放射線RQは、電極Et2
→光変調材層部材PML→!I!!電体ミラーDML→
のように進行して行き1次いで前記した第2の所定の波
長域の電磁放射線RQは誘電体ミラーDMLで反射して
電極EtZ側に戻って電極Et2側から出射する。 前記のようにして電極Et2側から出射した第2の所定
の波長域の電磁放射線RQは、光−光変換索子PPCに
おける光導電層部材PCLと誘電体ミラーDMLとの境
界面に生じていた電荷像による電界が印加されている光
変調材層部材PM!−によって電磁放射線の状態が変化
していて、前記の光変調材層部材PMLに加わる電界の
強度分布に応じた情報を含むものとなって電極Et2側
から出射する。 光−光変換素子PPCにおける電極Et2側から出射じ
た第2の所定の波長域の電磁放射線RΩを検光子に供給
すると、検光子を通過した第2の所定の波長域の電磁放
射線RI2は、光−光変換素子PPCにおける光導電層
部材PCLと誘電体ミラーDMLとの境界面に生成され
ている電荷像の電荷量分布と対応して強度が変化してい
る状態の電磁放射線となされるのである。 第26図乃至第28図を参照して説明したところから明
らかなように、光−光変換索子PPCでは電磁放射線情
報と対応した電荷像を形成し、また、前記のように形成
された電荷像を電磁放射線を用いて電磁放射線情報とし
て読出すことができるのであるが、前記した光−光変換
素子PPCで行われているような電磁放射線情報と対応
した電荷像を形成させる動作は、例えば第29図及び第
31図ならびに第33図に示されているような記録系に
よって電磁放射線情報と対応した電荷像を・電荷像記録
媒体RMに形成させることができるのであり、また、電
荷像記録媒体RMに記録形成さ′れた電荷像を電磁放射
線を用いて電磁放射線情報として読出すことも、例えば
第30@及び第32図ならびに第34図に示されている
ような再生系によって実現することができる。 第29図及び第31図ならびに第33図において、Oは
被写体、Lは撮像レンズ、RMは電荷像記録媒体であり
、また、第29図及び第31図においてWHは記録ヘッ
ドであって、記録ヘッドWHは電極Etwと光導電層部
材PCLとを積層して構成されている。 第33図に示されている記録系においては、第29図及
び第31図中に示されている記録ヘッドWHを構成して
いる電極と光導電層部材とを電荷像記録媒体RMの構成
中に含むような構成態様の電荷像記録媒体RMを使用し
ている。 第29図に示されている記録系において、電荷像記録媒
体RMとしては電極Etと誘電体層部材ILとが積層さ
れた構成形態のものが使用されており、記録ヘッドWH
の電極Etwと電荷像記録媒体RMの電極Etとには電
源vbが接続されている。 第29図に示されている記録系において、被写体Oの光
学像が撮像レンズLによって記録ヘッドWHの電極Et
wを通して光導電層部材PCLに結像されると、記録ヘ
ッドWHにおける光導電層部材PCLの電気抵抗値は、
前記した被写体Oの光学像と対応しているものになり、
前記した記録ヘッドWHの光導電層部材PCLの面と微
小な間隔を隔てて対面している電荷像記録媒体RMの誘
電体層部材(電荷保持層部材)ILの面との間に気中放
電が生じる。 それにより、第29図に示されている記録系のように記
録ヘッドWHの電極Etwに電源vbの正極が接続され
ている場合には、電荷像記録媒体RMの誘電体層部材(
電荷保持層部材)ILの面に正電荷による電荷潜像が形
成される。 また、第31図に示されている記録系において。 電荷像記録媒体RMとしては電極Etと光変調材層部材
PMLと誘電体ミラーDMLと誘電体層部材ILとが積
層された構成形態のものが使用されており、記録ヘッド
WHの電極Etwと電荷像記録媒体RMの電極Etとに
は電源vbが接続されている。 第31図に示されている記録系において、被写体Oの光
学像が撮像レンズLによって記録ヘッドWHの電極Et
wを通して光導電層部材PCLに結像されると、記録ヘ
ッドWHにおける光導電層部材PCLの電気抵抗値は、
前記した被写体Oの光学像と対応しているものになり、
前記した記録ヘッドW)Iの光導電層部材PCLの面と
微小な間隔を隔てて対面している電荷像記録媒体RMの
誘電体層部材(電荷保持層部材)ILの面との間に気中
放電が生じる。 それにより、第31図に示されている記録系のように記
録ヘッドWHの電極EtWに電源vbの正極が接続され
ている場合には、電荷像記録媒体RMの誘電体層部材(
電荷保持層部材)ILの面に正電荷による電荷潜像が形
成される。 さらに、第33図に示されている記録系において、電荷
像記録媒体RMとしては電極Etと光導電層部材PCL
と光変調材層部材PMLと誘電体層部材ILとが積層さ
れた構成形態のものが使用されており、記録系の電極E
と電荷像記録媒体RMの電極Etとには電源vbが接続
されている。 なお、この第33図に示されている電荷像記録媒体RM
はそれの全体が後述されている読出し用の電磁放射線を
良好に透過させつるものとして構成されている。 第33図に示されている記録系において、被写体Oの光
学像が撮像レンズLによって電荷像記録媒体RMの電極
Etを通して光導電層部材PCLに結像されると、電荷
像記録媒体RMにおける光導電層部材PCLの電気抵抗
値は、前記した被写体Oの光学像と対応しているものに
なり、前記した電荷像記録媒体RMにおける誘電体層部
材(電荷保持層部材)ILの面と微小な間隔を隔てて対
面している記録系の電極Eの面との間に気中放電が生じ
、それにより電荷像記録媒体RMの誘電体層部材(電荷
保持層部材)ILの面には正電荷による電荷潜像が形成
される。 第29図に例示されている記録系で電荷像記録媒体RM
の誘電体層部材(電荷保持層部材)ILの面に形成され
た電荷像は、第30図に例示されているような構成の再
生系によって電磁放射線情報として読出すことができる
。 第30図において電荷像記録媒体RMにおける誘電体層
部材(電荷保持層部材)ILの面に近接して配置される
読出し部材(読取り部材)は、誘電体ミラーDMLと光
変調材層部材PMLと電極Etrとによって構成されて
いる。 第30図中における読出し部材には1図示されていない
電磁放射線源から放射された一定強度の所定の波長域の
電磁放射線RQを電極Etr側から入射させる。前記し
た一定強度の所定の波長域の電磁放射線Rj1は、それ
が大面積を有するものであっても、あるいは細いビーム
状のものが所定の偏向履様で偏向されている状態のもの
でもよい。 前記した読出し部材における電極Etrと電荷像記録媒
体RMの電極Etとを同電位にして、読出し部材におけ
る電極Etr側から読出し用の電磁放射線Rffiを入
射させると、前記の読出し用の電磁放射線RQは光変調
材層部材PMLを通過した後に誘電体ミラーDMLで反
射し、再び光変調材層部材PMLを通過して、it電極
trから出射するが、この読出し用の電磁放射線Rfi
は電荷像記録媒体RMの誘電体層部材ILに形成されて
いる前記の電荷像の電荷量分布と対応して状態が変化し
ているものになっている。 すなわち電極Etr側に所定の波長域の一定強度の読出
し用の電磁放射線RJIが投射された場合には、その所
定の波長域の電磁放射線RI2は、電極Etr→光変調
材層部材PML→誘電体ミラーDML→のように進行し
て行き1次いで前記した所定の波長域の電磁放射線RQ
は誘電体ミラーDMLで反射して電極Etr側に戻って
電極Etr側から出射する。 前記のようにして読出し部材における電極Etr側から
出射した所定の波長域の電磁放射MRaは、電荷像記録
媒体RMの誘電体層部材ILに形成されている電荷像に
よる電界が印加されている光変調材層部材PMLによっ
て電磁放射線の状態が変化していて、前記の光変調材層
部材PMLに加わる電界の強度分布に応じた情報を含む
ものとなって電極Etr側から出射する。 それで、前記のようにして読出し部材における電tf!
Etr側から出射した所定の波長域の電磁放射線Raを
検光子に供給すると、検光子を通過した所定の波長域の
読出し用の電磁放射線RQは、電荷像記録媒体RMの誘
電体層部材ILに形成されている電荷像の電荷量分布と
対応して強度が変化している状態の電磁放射線となされ
るのである。 次に、第31図に例示されている記録系で電荷像記録媒
体RMの誘電体層部材(電荷保持層部材)ILの面に形
成された電荷像は、第32図に例示されているような構
成の再生系によって電磁放射線情報として読出すことが
できる。 第32図中に示されている電荷像記録媒体RMは、誘電
体層部材(電荷保持層部材)ILに誘電体ミラーDML
と光変調材層部材P M Lと電極Etとが積層されて
いるから、電極Eと電荷像記録媒体RMの電極Etとを
同電位にして、第32図中に示されている電荷像記録媒
体RMにおける電極Et側から図示されていない電磁放
射線源から放射された一定強度の所定の波長域のttt
磁放射1lAR円を読出し用の電磁放射#R1として入
射させると、前記の読出し用の電磁放射線RQは光変調
材層部材PMLを通過した後に誘電体ミラーDMLで反
射し、再び光変調材層部材PMLを通過して、電極Et
から出射するが、この読出し用の電磁放射線RQは電荷
像記録媒体RMの誘電体層部材工りに形成されている前
記の電荷像の電荷量分布と対応して状態が変化している
ものになっている。 すなわち電極Et側に所定の波長域の一定強度の読出し
用の電磁放射線RI2が投射された場合には、その所定
の波長域の電磁放射線RQは、電極Et→光変調材層部
材PML→誘電体ミラーDML→のように進行して行き
、次いで前記した所定の波長域の電磁放射線Rffiは
誘電体ミラーDMLで反射して電極Et側に戻って電極
Et側から出射する。 前記のようにして電荷像記録媒体RMにおける電極Et
側から出射した所定の波長域の電磁放射線RJは、電荷
像記録媒体RMの誘電体層部材ILに形成されている電
荷像による電界が印加されている光変調材層部材PML
によって電磁放射線の状態が変化していて、前記の光変
調材層部材PMLに加わる電界の強度分布に応じた情報
を含むものとなって電極Et側から出射する。 それで、前記のようにして電荷像記録媒体RMにおける
電極Et側から出射した所定の波長域の電磁放射線RQ
を検光子に供給すると、検光子を通過した所定の波長域
の読出し用の電磁放射線R塁は、電荷像記録媒体RMの
誘電体層部材ILに形成されている電荷像の電荷量分布
と対応して強度が変化している状態の電磁放射線となさ
れるのである。 次いで、第33図に例示されている記録系で電荷像記録
媒体RMの誘電体層部材(電荷保持層部材)ILの面に
形成された電荷像は、第34図に例示されているような
構成の再生系によって電磁放射線情報として読出すこと
ができる。 第34図中に示されている電荷像記録媒体RMは、誘電
体層部材(電荷保持層部材)ILに光変調材層部材PM
Lと光導電層部材PCLと電極Etとが積層されていて
、かつ、電荷像記録媒体RMの全体が読出し用の電磁放
射線を良好に透過させうるちのとして構成されているか
ら、第34図中の電極Eと電荷像記録媒体RMの電極E
 tとに同電位にして、電荷像記録媒体RMにおける誘
電体層部材ILの面から図示されていない電磁放射線源
から放射された一定強度の所定の波長域の電磁放射線R
Ωを読出し用の電磁放射線RQとして入射させると、前
記の読出し用の電磁放射線RQは誘電体層部材(電荷保
持層部材)ILと光変調材層部材PMLと光導電層部材
PCLと電極Etとを順次に通過して電極Etから出射
するが、この読出し用の電磁放射線Rffは電荷像記録
媒体RMの誘電体層部材ILに形成されている前記の電
荷像の電荷量分布と対応して状態が変化しているものに
なっている。 すなわち電荷像記録媒体RMにおける誘電体層部材IL
の面に所定の波長域の一定強度の読出し用の電磁放射線
RQが投射された場合には、その所定の波長域の電磁放
射線Rnは、誘電体層部材(電荷保持層部材)IL→光
変調材層部材PML→光導電層部材PCL→電極Et→
のように進行して出射する。 前記のようにして電荷像記録媒体RMにおける電極Et
側から出射した所定の波長域の電磁放射線Raは、電荷
像記録媒体RMの誘電体層部材ILに形成されている電
荷像による電界が印加されている光変調材層部材PML
によって電磁放射線の状態が変化していて、前記の光変
調材層部材PMLに加わる電界の強度分布に応じた情報
を含むも−のどなって電極Et側から出射する。 それで、前記のようにして電荷像記録媒体RMにおける
電極Et側から出射した所定の波長域の電磁放射線RQ
を検光子に供給すると、検光子を通過した所定の波長域
の読出し用の電磁放射1iR1は、電荷像記録媒体RM
の誘電体層部材ILに形成されている電荷像の電荷量分
布と対応して強度が変化している状態の電磁放射線とな
されるのである。 さて、第26図乃至第34を参照して説明した光−光変
換素子rpcに形成された超高解像度の電荷像や電荷像
記録媒体RMに形成された超高解像度の電荷像は、読出
し用の電磁放射線によって超高解像度の画像情報を含む
電磁放射線として読出されつるが、前記した超解像液の
画像情報を含む情報についても、例えばマトリックス処
理、非直線処理1輪郭処理、利得調整(増幅、減衰)な
どのような各種の画像処理を施すことが行って所定の画
像情報とすることが必要とされる。 ところが、読出された画像情報が超高解像度の画像情報
を含む電磁放射線の場合に、前記した画像処理を超広帯
域な電気信号に変換して行ったのでは画像処理部の構成
が複雑で大掛かりなものになってコスト高になる。 そこで1本発明においては読出された超高解像度の画像
情報を含む電磁放射線に対して電磁放射線の状態のまま
で画像処理を施すようにするのであり、第1図に本発明
の画像情報処理方法によって画像処理を行う画像処理部
を備えた画像処理系の一例構成のブロック図を示す。 第1図において1は読出し用の電磁放射線RJIの発生
W(例えば、レーザ光源)、2はレンズ、BSlはビー
ムスプリッタ、3は読取り部(読出し部)、4は画像処
理部であって1図中の画像処理部4では例えば第2図に
示されているようにマトリックス処理、非直線処理、輪
郭強調、利得調整(増幅、減衰)等の画像処理機能を備
えているものである。 第1図中に示されている読取り部(読出し部)3は、第
26図乃至第34図を参照して既述したように超高解像
度の画像情報を含む電磁放射線を読出しうるような構成
のものが使用されている。 読出し用の電磁放射線RQの発生源(例えば。 レーザ光源)から放射された電磁放射線RΩは、レンズ
2によって平行光にされた後に、ビームスプリッタBS
Iによって読取り部(読出し部)3に供給される。 読取り部(読出し部)3では前記した読出し用の電磁放
射線R1を用いて超高解像度の画像情報を含む電磁放射
線を出力する。前記の読取り部(読出し部)3から出力
された超高解像度の画像情報を含む電磁放射線は画像処
理部4に供給され、画像処理部4ではそれに供給された
電磁放射線に対してマトリックス処理、非直線処理2輪
郭強調。 利得調整(増幅、減衰)等の所定の画像処理が施された
後に出力される。 第3図は光−光変換素子PPCを含んで構成されている
利得調整装置の一例構成に示しているブロック図であっ
て、この第3図においてPPCは第26図及び第27図
を参照して既述したような構成を有する光−光変換素子
であり、 Etl、 Et2は電極、PCLは光導電層
部材、DMLは誘電体ミラー、PMLは光変調材層部材
、VPは交流電源である。 前記した光−光変換素子PPCにおける電極E11側か
らは利得調整の対象にされている電磁放射線が入射され
、また、光−光変換素子PPCにおける電極Et2側か
らは読出し用の電磁放射線の発生源PSで発生された読
出し用の電磁放射線がビームスプリッタBSを介して入
射される。 ところで、前記した読出し用の電磁放射線の発生i1g
PSは、それから出力される読出し用の電磁放射線の強
度を自由に調節して、任意の所定の強度に設定された電
磁放射線が出力できるような構成のものとなされている
から、第3図示の利得調整装置では前記した読出し用の
電磁放射線の発生源psから出力される電磁放射線の強
度を増減調節することによって、光−光変換素子PPC
に人力された電磁放射線の利得を調整して出力すること
ができるのである。 次に、第4図は光−光変換素子rpcを含んで構成され
ている画像極性の反転装置の一例構成を示しているブロ
ック図であって、この第4図においてPPCは第26図
及び第27図を参照して既述したような構成を有する光
−光変換素子であり、Etl、 Et2は電極、PCL
は光導電層部材、DMLは誘電体ミラー、PMLは光変
調材層部材、Vpは交流電源である。 前記した光−光変換素子PPCにおける電極Etl側か
らは画像極性の反転の対象にされている画像情報を含む
電磁放射線が入射され、また、光−光変換素子PPCに
おける電極Et2側からは読出し用の電磁放射線の発生
源PSで発生された読出し用の電磁放射線が偏光子PL
とビームスプリンタBSとを介して入射される。 前記した読出し用の電磁放射線の発生源psは、それか
ら出力される読出し用の電磁放射線の強度を自由に調節
して、任意の所定の強度に設定された電磁放射線が出力
できるような構成のものとなされていてもよい。 読出し用の電磁放射線の発生源PSで発生されて光−光
変換素子PPCにおける電極Et2側から入射された読
出し用の電磁放射線は、光−光変換素子PPCにおける
電極Etl側から入射された画像極性の反転の対象にさ
れている画像情報を含む電磁放射線により光−光変換素
子rpcに形成されている電荷像により変調された状態
で光−光変換素子PPCにおける電極Et2側から出射
された読出し用の電磁放射線はビームスプリンタBSを
透過した後に波長板wpに供給される。 第5図は光−光変換素子PPCにおける電極Etl側か
ら入射される画像極性の反転の対象にされている画像情
報を含む電磁放射線の強度I(縦軸)と、光−光変換素
子PPCにおける光変調材層部材に印加される電圧Eb
(横軸)との関係を示す特性曲線側図、すなわち、光−
光変換素子PPCの電気光学効果特性を例示した図であ
り、この図から明らかなように、波長板WPの調節によ
って光−光変換素子rpcにおける光変調材層部材の動
作点を図中におけるa点からb点に変化させると。 光−光変換素子PPCにおける入出力の極性が反転する
ために入出力の画像極性を反転させることができる。 次に、第6図と第8図とは光−光変換素子PPCを含ん
で構成されている非直線処理(例えばガンマ補正処理)
装置のそれぞれ異なる構成1M様のものの構成例を示し
ているブロック図であり、また、第7図は第6図に示し
た非直線処理装置の構成原理及び動作原理の説明に使用
される特性曲線側図、第9図は第8図に示した非直線処
理装置の構成原理及び動作原理の説明に使用される特性
曲線側図である。 第6図及び第8図のそれぞれに示されている非直線処理
(例えばガンマ補正処理)装置において、PPCは第2
6図及び第27図を参照して既述したような構成を有す
る光−光変換素子であって、Etl、 Et2は電極、
PCLは光導電層部材、DMLは誘電体ミラー、PML
は光変調材層部材、■pは交流電源である。 まず、第6図に示されている非直線処理(例えばガンマ
補正処理)装置において、前記した光−光変換素子PP
Cにおける電極Etl側からは非直線処理の対象にされ
ている画像情報を含む電磁放射線が入射され、また、光
−光変換素子PPCにおける電極Et2側からは読出し
用の電磁放射線の発生源PSで発生された読出し用の電
磁放射線が偏光子PLとビームスプリッタBSとを介し
て入射される。 読出し用の電磁放射線の発生源PSで発生されて光−光
変換素子PPCにおける電極Et2側から入射された読
出し用の電磁放射線は、光−光変換素子PPCにおける
電極Etl側から入射された非直線処理の対象にされて
いる画像情報を含む電磁放射線により光−光変換素子P
PCに形成されている電荷像により変調さ九た状態で光
−光変換素子PPCにおける電極Et2側から出射され
た読出し用の電磁放射線はビームスプリッタBSを透過
した後に波長板WPに供給される。 第7図は光−光変換素子PPCにおける電極Etl側か
ら入射される非直線処理の対象にされている画像情報を
含む電磁放射線の強度I(縦軸)と、光−光変換素子P
PCにおける光変調材層部材に印加される電圧Eb(横
軸)との関係を示す特性曲線側図、すなわち、光−光変
換素子PPCの電気光学効果特性を例示した図であり、
この図から明らかなように、第6図に示されている非直
線処理(例えばガンマ補正処理)装置において波長板W
Pの調節により光−光変換素子PPCにおける光変調材
層部材の動作点を図中におけるa点からb点に変化させ
ると、光−光変換素子PPCのEb−■特性における直
線部分での動作から、光−光変換素子rpcのEb−I
特性における非直線部分での動作に変わるために入出力
特性は非直線的なものになされる。 次に、第8図に示されている非直線処理(例えばガンマ
補正処理)装置において、前記した光−光変換索子PP
Cにおける電極Etl側からは非直線処理の対象にされ
ている画像情報を含む電磁放射線が入射され、また、光
−光変換素子PPCにおける電極Et2側からは読出し
用の電磁放射線の発生源PSで発生された読出し用の電
磁放射線が入射される。 読出し用の電磁放射線の発生源PSで発生されて光−光
変換素子PPCにおける電極Et2側から入射された読
出し用の電磁放射線は、光−光変換索子PPCにおける
電極Etl側から入射された非直線処理の対象にされて
いる画像情報を含む電磁放射線により光−光変換素子P
PCに形成されている電荷像により変調された状態で光
−光変換素子PPCにおける電極Et2側から出射され
た読出し用の電磁放射線はビームスプリッタBSを透過
して出力される。 第9図は光−光変換素子rpcの構成要素として用いら
れている光導電層部材PCLの露光量とインピーダンス
との関係を示す特性曲線側部であり、この図から明らか
なように、第8図に示されている非直線処理(例えばガ
ンマ補正処理)装置における光−光変換素子PPCの電
極Etl側から入射させる非直線処理の対象にされてい
る画像情報を含む電磁放射線の強度を変化させて、動作
点を第9図図中のa点からb点に変更すると、光−光変
換素子PPCの光導電層部材PCLにおける露光量対イ
ンピーダンス特性における直線部分での動作から非直線
部分での動作に変わるために入出力特性は非直線的なも
のになされる 次に、第10図は光−光変換素子ppcを含んで構成さ
れている輪郭強調装置の一例構成を示しているブロック
図であって、この第1O図において15.16は第26
図及び第27図を参照して既述したような構成船有する
光−光変換素子ppCであり、また、VPは交流電源で
ある。 第10図中に図面符号15.16で示されている光−光
変換素子PPCも他の各回に示されている光−光変換素
子rpcと同様な構成態様、すなわち、電極Etl、 
Et2.光導電層部材PCL、誘電体ミラーDML、光
変調材層部材PMLなどによって構成されているもので
あるが、第10図中では前記した各構成部分の図面符号
の記載が省略されている。 第10図において5〜11はビームスプリッタ、13.
14は全反射鏡、PSは光−光変換素子15.16から
の情報の読出しに用いられる読出し川の電磁放射線の発
生源、WPは光−光変換素子15の光学的なバイアス調
節用の波長板、PLは偏光子、ALL、AL2は検光子
、PLPFは光学的なローパスフィルタである。 第10図に例示されている光−光変換素子PPCを含ん
で構成されている輪郭強調装置の一例構成を示している
ブロック図において、光−光変換索子15と、読出し用
の電磁放射線の発生1psと、偏光子PLと、ビームス
プリッタ7.9と。 波長板WPと、瀬光子ALとからなる構成部分は第4図
を参照して説明した画像極性の反転装置と同じ機能を有
する構成部分である。 第10図に示す輪郭強調装置において、入力の電磁放射
線(第1O図中に(a)で示してあり、第11図の(a
)に動作説明用の波形を例示している)はビームスプリ
ッタ5に入射されている。 前記したビームスプリッタ5を透過した人力の電磁放射
線の内でビームスプリッタ6を透過したものは光−光変
換素子15に入射し、また、市記のビームスプリッタ6
で反射したものは光−光変換素子16に入射する。 また、前記したビームスプリッタ5によって反射した入
力の電磁放射線は全反射鏡12によって反射した後にビ
ームスプリッタ11&透過して出力されている。 前記した光−光変換素子15には読出し用の電磁放射線
の発生gPSで発生された読出し用の電磁放射線が、読
出し用の電磁放射線の発生源PS→ビームスプリッタ9
→偏光子PL→ビームスプリッタ7→光−光変換素子1
5の経路で供給されており、また、前記した光−光変換
素子16には読出し用の電磁放射線の発生源PSで発生
された読出し用の電磁放射線が、読出し用のW1m放射
線の発生[PS→ビームスプリッタ8→光−光変換素子
16の経路で供給されている。 前記した光−光変換素子16から読出されてビームスプ
リッタ8,13.検光子AL2を介してビームスプリッ
タ10に供給される電磁放射線像は、光−光変換素子1
6に入力された電磁放射線像と同極性のもの(第11図
の(b)参照)であり、また、前記した光−光変換素子
15から読出されてビームスプリッタ(7)波長板WP
、検光子ALU。 光学的ローパスフィルタPLPFを介してビームスプリ
ッタ10に供給される電磁放射線像は、光−光変換素子
15に入力された電磁放射線像とは逆極性のもの(第1
1図の(c)参照)である。 それで前記したビームスプリッタ10から出射される電
磁放射線像は、前記した第11図の(b)に示されてい
る波形と第11図の(c)に示されている波形とが加算
された第11図の(d)に示されている波形のものにな
ってビームスプリッタ11に供給される。 前記したビームスプリッタ11には既述のように入力の
電磁放射線(第11図の(a)参照)が、前記したビー
ムスプリッタ5と全反射鏡12とによって反射した後に
ビームスプリッタ11に供給されているから、ビームス
プリッタ11から出方される電磁放射線像は、前記した
第1.1図の(a)に示されている波形と第11図の(
d)に示されている波形とが加算された第11図の(e
)に示されている波形のもの、すなわち入力の電磁放射
線(第11図の(a)参照)に輪郭強調を施した状態の
電磁放射線像になされるのである。 なお、前記した輪郭強調の量は読出し用の電磁放射線の
発生@psで発生された読出し用の電磁放射線量を調整
することにより調整できることはいうまでもない、また
、第2図中に示されているマトリックス回路を構成する
のには、加算と減算(極性反転して加算)と利得!11
整とによって実現できるのである。 次に、第12図乃至第25図を参照して本発明の画像情
報の処理方法を適用して構成した画像情報の処理装置に
ついて、画像情報の処理装置が撮像装置の場合を例にと
って説明する。 まず、第12図の撮像装置においてOは被写体、Lは撮
像レンズであり、また、ppcは第26図を参照して既
述したように2つの電極Etl、 Et2(第26図参
照)間に電源vbと切換スイッチSWとからなる回路を
接続し、図示しない制御信号の入力端子に供給される切
換制御信号により、切換スイッチSWの可動接点が固定
接点WR側に切換えられた状態として、前記した電極E
tl、 EtZ間に電源vbの電圧を与えて、光導電層
部材PCLの両端間に電界が加わるようにし、光−光変
換素子PPCにおける電極Etl側から被写体からの電
磁放射線を入射させると、光−光変換素子PPCは第2
6図を参照して説明したような動作を行って、それの光
導電層部材と誘電体ミラーとの境界面には光導電層部材
に到達した入射電磁放射線の強度分布と対応した強度分
布を有する電荷像を生じさせる。 次に前記のようにして入射電磁放射線の強度分布と対応
する電荷像が形成された光−光変換素子における電極E
tl、 EtZ間に接続されている切換スイッチSWの
可動接点が固定接点WR側に切換えられていて、電源v
bの電圧が電極Etl、 EtZ間に印加されている状
態において、電極Et2側より読出し用の電磁放射線源
21からの一定強度の読出し用の電磁放射線を入射させ
ると、前記のように光−光変換素子IJ P Cにおけ
光導電層部材と誘電体ミラーとの境界面に生じている電
荷像が読出される。 第12図示の撮像装置において、読出し用の電磁放射線
m21からの一定強度の読出し用のif!磁放耐放射線
必要に応じて用いられる偏光子PLを介してレンズ20
に供給される。レンズ2oがら出射した読出し用の電磁
放射線RLは光−光変換素子PPCにおける読出し領域
における全情報を同時的に読出しうるような断面積を有
するものであり、それはビームスプリッタ19.15を
介して光−光変換素子PPCに供給される。 したがって、光−光変換素子PPCでは第26図を参照
して既述したように、読出し用の電磁放射線RLが光変
調材層部材(例えばニオブ酸リチウム単結晶)を通過し
た後に誘電体ミラーで反射し、再び光変調材層部材を通
過して、光−光変換素子PPCにおける電極Et2から
出射する。 前記のように電極Et2から出射した電磁放射線RLは
光導電層部材と誘電体ミラーとの境界面に生成されてい
る前記の電荷像の電荷量分布と対応して電磁放射線の状
態が変化しているものになっている。それで、電極Et
2側から出射された電磁放射線RLがビームスプリッタ
15を透過した後に検光子ALに供給されると、前記し
た検光子ALから出射する電磁放射線は光−光変換素子
PPCにおける光導電層部材と誘電体ミラーとの境界面
に生成されている前記の電荷像の電荷量分布と対応して
電磁放射線の強度分布が変化しているものになる。 前記した検光子ALから出射した電磁放射線はビームス
プリッタ16によって反射して画像処理部17に供給さ
れるとともに、前記したビームスプリッタ16を透過し
た電磁放射線は投影レンズ18によってスクリーン上に
投影される6画像処理部17は例えば第2図に示されて
いるようにマトリックス処理、非直線処理、輪郭強調、
利得調整(増幅、減衰)等の画像処理機能を備えている
ものである。 この第12図示の撮像装置では超高解像度の画像情報を
含む電磁放射線を電気信号に変換しない状態で画像処理
するようにしているために、超高解像度の画像情報を簡
単な構成の画像処理装置によって処理することができる
。 第12図において23は消去用の電磁放射線源であり、
光−光変換素子PPCの電荷像の消去時には、切換スイ
ッチSWの可動接点を固定接点E側に切換えてから消去
用の電磁放射線源23がらの消去用の電磁放射線ELを
レンズ→ビームスプリッタ19→ビームスプリッタ15
→の経路で光−光変換素子PPCに入射させる。 これまでに説明して来た第12図示の撮像装置は、光−
光変換素子PPCに供給する一定強度の読出し用の電磁
放射線が、光−光変換素子ppcにおける読出し領域に
おける全情報を同時的に読出しうるような断面積を有す
るものであったが。 第13図に例示されている撮像装置は光−光変換素子P
PCに供給されている一定強度の読出し用の電磁放射線
を細いものとして、偏向装置!25により縦横に偏向し
て光−光変換素子PPCにおける読出し領域の全体が走
査されるようにしているものである。 第13図の撮像装置においてOは被写体、Lは撮像レン
ズであり、また、PPCは第26図を参照して既述した
ように2つの電極Etl、 Et2(第26図参照)間
に電源vbと切換スイッチSWとからなる回路を接続し
、図示しない制御信号の入力端子に供給される切換制御
信号により、切換スイッチSWの可動接点が固定接点W
R側に切換えられた状態として、前記した電極Etl、
 Et2間に電源vbの電圧1与えて、光導電層部材P
CLの両端間に電界が加わるようにし、光−光変換素子
、PPCにおける11極Etl側から被写体からの電磁
放射線を入射させると、光−光変換素子PPCは第26
図を参照して説明したような動作を行って、それの光導
電層部材と誘電体ミラーとの境界面には光導電層部材に
到達した入射電磁放射線の強度分布と対応した強度分布
を有する電荷像を生じさせることは第12図示の撮像装
置の場合と同様である。 次に前記のようにして入射電磁放射線の強度分布と対応
する電荷像が形成された光−光変換素子ニオケる電極E
tl、 EtZ間に接続されている切換スイッチSWの
可動接点が固定接点WR側に切換えられていて、電源v
bの電圧が電極Etl、 EtZ間に印加されている状
態において、読出し川の電磁放射線源21からの一定強
度の読出し用の電磁放射線は、必要に応じて用いられる
偏光子PLを介して偏向装置25に供給される。 前記の偏向装置25はそれに供給された電磁放射線を所
定の偏向態様で偏向されている状態にしてからレンズ2
0に供給するレンズ20から出射した読出し用の電磁放
射線RLはビームスプリッタ19.15を介して光−光
変換素子PPCに供給されて光−光変換素子PPCにお
ける読出し領域の全体を縦横に走査する。 したがって、光−光変換素子1) I) Cでは第26
図を参照して既述したように、読出し用のtyt磁放射
線RLが光変調材層部材(例えばニオブ酸リチウム単結
晶)を通過した後に誘電体ミラーで反射し、再び光変調
材層部材を通過して、光−光変換素子PPCにおける電
14Et2から出射するが、この電極Et2から出射し
た電磁放射線RLは光導電層部材と誘電体ミラーとの境
界面に生成されている前記の電荷像の電荷量分布と対応
して電磁放射線の状態が変化しているものになっている
。 それで、電極Et2側から出射された電磁放射線I<L
がビームスプリッタ15を透過した後lこ検光子ALに
供給されると、前記した検光子ALから出射する電磁放
射線は光−光変換素子PPCにおける光導電層部材と誘
電体ミラーとの境界面に生成されている前記の電荷像の
電荷量分布と対応して電磁放射線の強度分布が変化して
いるものになる。 前記した検光子ALから出射した電磁放射線はレンズ1
8によって画像処理部17に与えられるが、この画像処
理部17は例えば第2図に示されているようにマトリッ
クス処理、非直線処理、輪郭強調、利得調整(増幅、減
衰)等の画像処理機能を備えているものである。 この第13図示の撮像装置でも既述した第12図示の撮
像装置の場合と同様に超高解像度の画像情報を含む電磁
放射線を電気信号に変換しない状態で画像処理するよう
にしているために、超高解像度の画像情報を簡単な構成
の画像処理装置によって処理することができる。 第12図及び第13図を参照して説明した撮像装置では
、既述した第26図に示されている光−光変換素子PP
Cのように、光−光変換素子における2つの電極Etl
、 Et2(第26図参照)間に電源vbと切換スイッ
チSWとからなる回路を接続したものを使用しているが
、第14図及び第15図に示されている撮像装置では、
既述した第27図に示されている光−光変換素子PPC
のように。 光−光変換素子における2つの電極Eta、EtZ間に
27図に示されているように交流電源Vpを接続したも
のを使用しているものであり、この第14図及び第15
図に示されている撮像装置においても超高解像度の画像
情報を含む電磁放射線を電気信号に変換しない状態で画
像処理するようにしているために、超高解像度の画像情
報を簡単な構成の画像処理装置によって処理することが
できるのである。 次に、第16図乃至第25図にそれぞれ例示しである撮
像装置は、各図中に撮像部として示されている構成部分
から出力されている電磁放射線を電磁放射線の状態で画
像処理が行われるようになされている。 第16図乃至第25図中に撮像部として示されているも
のは、超高解像度の画像情報を含んでいる電磁放射線を
出力しつる構成のもの、例えば第第12図乃至第15図
、26図、第27図、第30図、第32図、第34図に
示されているようなものでもよい。 第16図乃至第18図及び第24図ならびに第25図は
撮像部から時系列情報形態の電磁放射線を出力して処理
光学系(画像処理部)に供給するような構成の撮像装置
であり、また、第19図乃至第23図は撮像部から面情
報形態の電磁放射線を出力して処理光学系(画像処理部
)に供給するような構成の撮像装置である。 また、前記した第16図と第17図及びPP519図な
らびに第23図に示されている撮像装置では。 処理光学系(画像処理部)から時系列情報形態の電磁放
射線が出力されるようになされており、第18図と第2
0図乃至第22図及び第24図ならびに第25図に示さ
れている撮像装置では、処理光学系(画像処理部)から
面情報形態の電磁放射線が出力されるようになされてい
る。 さらに、第16図と第19図に示されている撮像装置で
は、処理光学系(画像処理部)から出力された時系列情
報形態の電磁放射線を光電変換器により光電変換して電
気信号で出力機塁に供給するようにしており、第17図
と第18図及び第20図に示されている撮像装置では、
処理光学系(画像処理部)からの電磁放射線が、そのま
ま出力機器に供給されるようになされており、さらにま
た、第21図と第24図に示されている撮像装置では。 処理光学系(画像処理部)から出力された面情帽形態の
電磁放射線を2次元センサにより光電変換した電気信号
として出力機器に供給するようにしており、また、第2
2図と第25図に示されている撮像装置では、処理光学
系(画像処理部)から出力された面情報形態の電磁放射
線を副走査方向に移動されるラインセンサによって光電
変換した電気信号として出力機器に供給するようにして
いる。 (発明の効果) 以上、詳細に説明したところから明らかなように本発明
の画像情報の処理方法及び装置は光−光変換素子に電荷
像として書込まれた情報をi′I!磁放射線情帽として
読出すのに使用される電磁放射線の強度を変化させて電
磁放射線による画像情報の利得調整を行い、また、光−
光変換素子の構成要素として用いられている光変調材層
部材の電気光学的な特性における動作点の設定の仕方を
変化させることにより、光−光変換素子から読出される
ttt磁放耐放射線る画像情報を反転させたり、光−光
変換素子から読出される電磁放射線による画像情報に非
直線処理を施したりするなどの画像処理を電磁放射線の
状態で行うようにするなど、光−光変換素子を用いて画
像情報の処理を行うようにしている画像情報の処理方法
及び画像情報の処理装置であるから1本発明によれば超
高解像度の画像情報の処理を簡単な構成の装置によって
良好に行うことが容易となる。 すなわち、従来は高い精細度を有する画像情報の記録再
生が可能な装置から記録再生される超高解像度を有する
画像情報を時系列的な電気信号に変換した状態で画像処
理を行っていたから、画像処理が極めて広い周波数帯域
を占有する電気信号によって行われるのであり、例えば
1枚の画像が4000画素X4000画素であるような
画像情報として記録再生した場合には、その画像情報を
時系列信号に変換したとすると、この場合における時系
列信号で必要とされる周波数帯域幅は約1Gllzにも
なるために、読出された画像情報が超高解像度の画像情
報を含む電磁放射線の場合に、前記した画像処理を超広
帯域な電気信号に変換して行ったのでは画像処理部の構
成が?I[雑で大掛かりなものになってコスト高になり
、そのような超広帯域の信号の画像情報の処理を行うこ
とは容易ではなかったが1本発明方法及び装置によれば
高解像度を有する画像情報の処理を容易に行うことがで
きるのである。 (4)
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の画像情報処理方法によって画像処理を
行う画像処理部を備えた画像情報処理系の一例構成のブ
ロッ図、第2図は画像処理部で行われる種々の画像処理
機能をそれ(れ個別のブロックによって示した画像処理
部のブロック図、第3図、第4図、第6図及び第8図な
らびに第10図はそれぞれ異なる画像処理を行いうるよ
うに構成された構成部分のブロック図、第5図、第7図
及び第9図ならびに第11図は動作説明用の特性側部ま
たは波形側部、第12図乃至第25図は本発明の画像情
報処理方法を適用して構成した撮像装置の構成例を示す
ブロック図、第26図及び第27図は光−光変換素子の
構成例を示す側断面図。 第28図は光−光変換素子の動作を説明するために示し
た光−光変換素子を用いて構成した撮像装置の側面図、
第29図及び第31図ならびに第33図は電磁放射線像
を記録媒体に電荷像として記録するようにした記録系の
構成例の側面図、第30図及び第32図ならびに第34
図は電荷像を電磁放射線を用いて線取るようにした再生
系(読出し系)の構成例を示す側面図である。 WL・・・光−光変換素子PPCに電磁放射線像を電荷
像として書込む電磁放射線、I<L、RQ・・・光−光
変換素子PPCに形成された電荷像を読出すのに使用さ
れる電磁放射線、SW・・・切換スイッチ、PPC,1
5,16・・・光−光変換素子、PCI、・・・光導電
層部材、DML・・・誘電体ミラー、PM[、、・・光
変調材層部材、Etl、 Et2・・・電極、vb・・
・電源。 vp・・・交流電源、O・・・被写体、L・・・撮像レ
ンズ。 RM・・・電荷像記録媒体、WH・・・記録ヘッド、I
’I−・・・誘電体層部材(電荷保持層部材)、E、E
t、Et w、 Etr、 Etl、 Et2−電極、
BS、BSI−=ビームスプリッタ、PS・・・読出し
用の電磁放射線の発生源、PL・・・偏光子、WP・・
・波長板、AL。 ALI、AL2・・・検光子、PLPF・・・光学的な
ローパスフィルタ、1・・・読出し用の電磁放射線RQ
の発生源(例えば、レーザ光源)、2・・・レンズ、3
・・・読取り部(読出し部)、4・・・画像処理部、5
〜11・・・ビームスプリッタ、13.14・・・全反
射鏡。 特許出願人  日本ビクター株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)光−光変換素子を用いて画像情報の処理を行うよ
    うにした画像情報の処理方法 (2)少なくとも光導電層部材を含んで構成された光−
    光変換素子から読出された電磁放射線情報を光−光変換
    素子を用いて画像情報の処理を行うようにした光−光変
    換素子を用いた画像情報の処理方法 (3)少なくとも光変調材層部材を含んで構成された読
    取り素子を用いて電荷潜像と対応して読出された電磁放
    射線情報を光−光変換素子を用いて画像情報の処理を行
    うようにした光−光変換素子を用いた画像情報の処理方
    法 (4)少なくとも光変調材層部材を含んで構成された電
    荷像記録媒体自体を読取り素子に用いて電荷像記録媒体
    における電荷潜像と対応した電磁放射線情報を読出す請
    求項3に記載の光−光変換素子を用いた画像情報の処理
    方法 (5)光−光変換素子を用いて電磁波画像情報の非直線
    処理を行う画像情報処理方法 (6)光−光変換素子を用いて電磁波画像情報の利得調
    整を行う画像情報処理方法 (7)光−光変換素子を用いて電磁波画像情報の加減算
    処理を行う画像情報処理方法 (8)光−光変換素子を用いて電磁波画像情報の加減算
    処理を行う画像情報処理方法 (9)光−光変換素子を用いて電磁波画像情報の極性反
    転処理を行う画像情報処理方法 (10)光−光変換素子を用いて電磁波画像情報の輪郭
    強調処理を行う画像情報処理方法(11)光−光変換素
    子を用いた電磁波画像情報処理を並列的に行うようにし
    た光−光変換素子を用いた画像情報の処理方法 (12)光−光変換素子を用いた電磁波画像情報処理を
    時系列的に行うようにした光−光変換素子を用いた画像
    情報の処理方法 (13)2つの電極間に少なくとも光導電層部材と光変
    調層部材とを含んで構成された光−光変換素子から読出
    された電磁放射線情報を光−光変換素子を用いて画像情
    報を処理して出力する撮像装置。 (14)2つの電極間に少なくとも光導電層部材と光変
    調層部材とを含んで構成された光−光変換素子から読出
    された電磁放射線情報を光−光変換素子を用いて画像情
    報を処理した後に電気信号に変換して出力する撮像装置
    。 (15)画像情報の処理を並列的に行う請求項12また
    は請求項13の何れかに記載の撮像装置。 (16)画像情報の処理を時系列的に行う請求項12ま
    たは請求項13の何れかに記載の撮像装置。 (17)光−光変換素子における2つの電極間に交流電
    圧を供給する請求項12乃至15の何れかに記載の撮像
    装置。
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