JPH0226300B2

JPH0226300B2 -

Info

Publication number: JPH0226300B2
Application number: JP58168370A
Authority: JP
Inventors: Kimichika Yamada; Takao Myazaki
Original assignee: Clarion Co Ltd
Current assignee: Faurecia Clarion Electronics Co Ltd
Priority date: 1983-09-14
Filing date: 1983-09-14
Publication date: 1990-06-08
Also published as: JPS6061936A

Description

【発明の詳細な説明】この発明はVTR等の磁気テープ装置における
テープ走行監視装置に関する。

従来のテープ走行監視装置をカセツト式VTR
におけるものを例にとつて説明する。この種
VTRにおいては供給リールおよび巻取リールが
カセツト内に装備されていて、カセツトから引出
されたテープが、テープガイド軸ないしはガイド
ローラにガイドされて回転ヘツドシリンダに装架
され所要の走行径路が形成される。ところでこの
ようなVTRにおいて特にテープローデイングの
際に、テープがテープガイド軸に適正に沿わず、
したがつて回転ヘツドシリンダのリード面にも適
正に沿わない状態となることがある。このような
状態で定常走行モードへ移行させると、走行テー
プに異常張力が発生して、テープがいわゆるワカ
メ状と称される波状に変形することがある。また
このような波状変形に限らず機械操作ないしはテ
ープ取扱いの不適正によつては、しわや折れ目等
の断続的な異常変形を生じさせてしまうこともあ
る。上記のテープ変形はテープ素材が永久歪を起
したことによるもので、テープ装置にとつて重大
なトラブルである。

しかしながら従来この種のトラブルを発見する
ことは非常に困難なことであつた。その理由は、
テープは破断強度のかなり大きい材料が使用され
ているので、前記のような機械操作ないしはテー
プ取扱いの不適正等によつて破断することは極め
て少ない。したがつてテープ変形トラブルが生じ
てもテープは回転ヘツドシリンダあるいはテープ
ガイド軸等から脱落してしまうことなくそのまま
走行を続ける。このため従来のテープ走行監視装
置の１種である回転検出機構では上記のテープ変
形を適切に検出することができなかつた。また
VTR等の磁気テープ装置はテープ走行部が通常
本体ケース内の隠れた場所にある。このためテー
プの変形トラブルを視覚によつて直接検出するこ
とも困難であつた。さらにVTR装置等において
再生画像または音声等の変化からテープの変形ト
ラブルを見出だそうとしても、変形の程度が小さ
いときには、その画像変化がテープの変形に原因
しているか否かを判断することは極めて困難なこ
とであつた。またこのような画像等による判断手
段は、記録時にはそのままでは監視することがで
きず、モニター装置がなければこれをなし得なか
つた。このように従来の機構ないし手段では何れ
のものもテープ変形の発生を適切に監視すること
はできないという問題点があつた。

この発明はこのような従来の問題点に着目して
なされたもので、テープ変形の発生を光学手段を
適用して非接触的に早期に検出し、テープ損傷を
最小限に食い止めることのできるテープ走行監視
装置を提供することを目的としている。

以下この発明を図面に基づいて説明する。第１
図および第２図はこの発明の実施例を示す図であ
る。

まず構成を説明すると、図中符号Ｔはテープ、
Ｌは光源、１は受光素子（光電変換受光手段）、
２ａ，２ｂはそれぞれレンズ系で、これら光源
Ｌ、受光素子１等により反射式の光電変換検出系
が構成されている。一例として光源Ｌには発光ダ
イオード、受光素子１にはフオトダイオードがそ
れぞれ使用されている。光電変換検出系は、テー
プＴに変形が発生し易い機構部分のテープ出口近
傍に配設するのがよく、VTR装置の場合は、テ
ープガイド軸ないしは回転ヘツドシリンダのテー
プ出口近傍に配設される。なお光源Ｌからの光は
走行テープＴの表・裏何れの面で反射させること
もできる。

そしてこのような光電変換検出系の後段に、テ
ープＴに発生する主として２種の異常状態をそれ
ぞれ検出できる監視回路系が各別に設月けられて
いる。即ちその一つは折れ目等の断続変形を検出
する監視回路系U_aであり、他の一つはワカメ状
の波状変形を検出する監視回路系U_bである。

ワカメ状の波状変形が生じているとき、そのテ
ープ走行時に受光素子１から得られる出力信号
は、正常テープの走行時に得られる出力信号より
も振動数が高くなるという一元的な振動数変化信
号である。これに対しこの発明で検出対象として
いる折れ目等の断続変形の場合、その出力信号は
上記のような一元的な振動数変化信号ではなく振
幅レベルが大となる振幅変化信号で、このような
大振幅のパルス状信号が断続的に出力される。そ
こで上記のような両変形による出力信号のそれぞ
れを適切に処理するため両監視回路系U_a，U_bが
併設されている。

まず断続変形監視回路系U_aを説明する。この
監視回路系U_aはテープ折れ目等に基づいて断続
的なパルス状の大振幅信号が出力されたとき、所
定レベルを越えた振幅点が所定時間内に何個ある
かでテープを異常、非異常と判断するもので、共
通のアンプAMPの出力線路が第１、第２のレベ
ル比較回路U₁，U₂におけるそれぞれ一方の入力
端子に導びかれている。第１レベル比較回路U₁
は、所定のHigh基準レベル以上の振幅点が何個
あるかを取出し、第２レベル比較回路U₂は、所
定のLow基準レベル以下の振幅点が何個あるか
を取出すもので、第１レベル比較回路U₁におけ
る他方の入力端子にはHigh基準レベルを設定す
る第１基準電圧発生回路U₃が接続され、第２レ
ベル比較回路U₂における他方の入力端子には
Low基準レベルを設定する第２基準発生回路U₄
が接続されている。このように２個の比較回路
U₁，U₂により大振幅信号のHigh、Lowの絶対レ
ベルを越えた振幅点を取出すようにしたのは、テ
ープ折れ目（異常個所）からの反射光量は、異常
に多くなるか少なくなるか不明であるので、これ
らの異常個所を漏れなく検出するためである。３
はインバータ、OR₁は第１オア回路、MM₁は単
安定マルチバイブレータ、ANDはアンド回路、
U₅はカウンタで、単安定マルチバイブレータ
MM₁は回路定数が所定値に設定されていて、そ
の出力信号でアンド回路ANDを所定時間だけ開
路する。

次に波状変形監視回路系U_bについて述べる。
アンプAMPの出力線路が分岐され、この分岐線
路に波形整形回路U₆、リトリガ可能な単安定マ
ルチバイブレータMM₂、ローパスフイルタLPF、
およびレベル検出器U₇が順次接続され、リトリ
ガ可能な単安定マルチバイブレータMM₂は、そ
の回路定数を所定値に規定することにより、安定
状態への復帰時間が所定時間に設定されている。
ここで所定時間とは、波状変形の生じている異常
状態において受光素子１から出力される信号の振
動周期よりも適宜量だけ大に設定した時間間隔で
ある。そして当初のトリガ信号で準安定状態に転
移したのち、所定時間内、即ちこの準安定状態に
ある間に次のトリガ信号が入力すると、この次の
トリガ信号でリトリガされて新たな準安定状態に
移行し、準安定状態がそのまま引続いて維持され
るというものである。

この発明はこの準安定状態が一定時間継続した
とき、云い換えれば波状変形が一定長さ以上続い
たとき、テープ異常と判断するもので、ローパス
フイルタLPFおよびレベル検出器U₇は、この異
常判断用のために備えられている。レベル検出器
U₇は、例えばトランジスタ素子を内蔵していて
ローパスフイルタLPFからの出力が所定レベル
以上のときに、これがONに転じて“Ｈ”レベル
を出力する。

そして上記両監視回路系U_a，U_bの出力線路が
第２オア回路OR₂に各別に導びかれ、共通の出力
端子４が導出されている。

第３図は光電変換検出系の変形例を示すもの
で、この変形例は透過式としたものである。光源
Ｌおよび受光素子１がテープＴの面方向上下位置
に配設されている。テープＴに異常変形T′があ
ると、この異常変形T′の部分で光源Ｌからの光
が断続されるので、この方式によつても異常変形
部T′をこれに応じた信号として検出することが
できる。

次いで作用を説明する。

第４図Ａ〜Ｈも参照して断続変形監視回路系
U_aの動作から説明する。テープＴに第２図T′で
示すようにしわや折れ目等の断続的な異常変形
T′が発生しこの異常変形部T′に光源Ｌからの光
が投射されると、その反射光量がこの異常変形部
T′の変化に追従して変化し、受光素子１からは
大振幅のパルス状信号が断続的に生じ、これがア
ンプAMPで所要レベルまで増幅される（第４図
Ａ）。次いでこの振動信号e₁が第１、第２のレベ
ル比較回路U₁，U₂にそれぞれ入力する。そして
第１レベル比較回路U₁では第１基準電圧発生回
路U₃からのHigh基準レベル電圧e₂と比較されて
High比較出力e₄が得られる。一方、第２レベル
比較回路U₂では、第２基準電圧発生回路U₄から
のLow基準レベル電圧e₃と比較されて、この基準
レベル電圧e₃以下の振幅点に対応したLow比較出
力e₅が得られる。このLow比較出力はインバータ
３で反転されて反転信号e₅′となつたのち、High
比較出力e₄と第１オア回路OR₁においてオアがと
られ、OR出力e₆となる。このOR出力e₆は、一方
はアンド回路ANDに直接入力し、他方は単安定
マルチバイブレータMM₁に入力する。単安定マ
ルチバイブレータMM₁はOR出力e₆における当初
のパルス信号でトリガされて準安定状態に転じ回
路定数で規定された所定時間だけ“Ｈ”レベル信
号e₇を出力してアンド回路ANDを開路する。し
たがつてカウンタU₅には所定時間の間だけOR出
力e₆が入力しこれがカウントされる。そしてこの
所定時間内におけるカウント数（第４図Ｇ）が所
定数を越えたとき、カウンタU₅からテープ異常
と判断する出力e₈が得られ、これが第２オア回路
OR₂を介して出力端子４に現われ、しわ等の断続
変形によるテープ異常の生じていることが検出さ
れる。テープ異常検出後は機器動作を停止させる
などの処置をしてそれ以上のテープ損傷を防止す
る。

次に第５図Ａ〜Ｅも参照して波状変形監視回路
系U_bを説明する。このときは受光素子１から波
状変形に対応した振動信号が取出され、これがア
ンプAMPで所要レベルまで増幅される（第５図
Ａ）。次いでこの振動信号e₉が波形整形回路U₆で
第５図Ｂのように整形され、これがトリガ信号と
してリトリガ可能な単安定マルチバイブレータ
MM₂に入力する。このとき単安定マルチバイブ
レータMM₂の安定状態への復帰時間は、波状変
形に対応した振動信号e₉の振動周期よりも大に設
定されているので、この振動信号e₉に対応した整
形信号がトリガ信号として入力している間、当該
マルチバイブレータMM₂は準安定状態となつて
“Ｈ”レベル信号e₁₀の連続出力状態となる。“Ｈ”
レベル信号e₁₀がローパスフイルタLPFに入力す
ると、このローパスフイルタLPFの時定数で規
定された所定時間後にその出力（第５図Ｄ）には
所定レベル信号e₁₁が現われる。この所定レベル
信号e₁₁でレベル検出器U₇内のトランジスタが
ONに転じ、その出力に“Ｈ”レベル信号e₁₂が生
じ、これが第２オア回路OR₂を介して出力端子４
に現われて波状変形によるテープ異常の生じてい
ることが検出される。

以上詳述したようにこの発明によれば、テープ
変形検知用の光を走行テープに投射する光源と、
光学的検知信号を導入してテープ変形に応じた振
幅レベルの信号を出力する光電変換受光手段と、
この出力信号を導入して所定の基準レベル電圧と
比較し、異常変形に対応した異常信号を出力する
レベル比較回路と、所定の時間間隔内における前
記の異常信号をカウントしてそのカウント数が所
定数以上のときテープ異常と判断する信号を出力
するカウンタとを具備させたから、非接触状態で
記録時、再生時に拘らずテープの走行状態におい
て当該テープの異常変形を的確に検出することが
でき、テープ損傷を最小限に食い止めることがで
きるという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第５図Ａ〜Ｅは、この発明に係るテー
プ走行監視装置の実施例を示すもので、第１図は
ブロツク線図、第２図は光電変換検出系の部分を
拡大して示す斜視図、第３図は光電変換検出系の
変形例を示す斜視図、第４図Ａ〜Ｈは断続変形監
視回路系の動作を説明するための信号波形図、第
５図Ａ〜Ｅは波状変形監視回路系の動作を説明す
るための信号波形図である。１：受光素子（光電変換受光手段）、２ａ，２
ｂ：レンズ系、３：インバータ、４：出力端子、
AMP：アンプ、AND：アンド回路、Ｌ：光源、
LPF：ローパスフイルタ、MM₁：単安定マルチ
バイブレータ、MM₂：リトリガ可能な単安定マ
ルチバイブレータ、OR₁，OR₂：第１、第２のオ
ア回路、Ｔ：テープ、T′：異常変形部、U₁，
U₂：第１、第２のレベル比較回路、U₃，U₄：第
１、第２の基準電圧発生回路、U₅：カウンタ、
U₆：波形整形回路、U₇：レベル検出器、U_a：断
続変形監視回路系、U_b：波状変形監視回路系。

Claims

【特許請求の範囲】１テープ変形検知用の光を走行テープに投射す
る光源と、光学的な検知信号を導入してテープ変形に応じ
た振幅レベルの信号を出力する光電変換受光手段
と、該光電変換受光手段の出力信号を導入して所定
の基準レベル電圧と比較し異常変形に対応した異
常信号を出力するレベル比較回路と、所定時間間隔内における前記異常信号をカウン
トして当該所定時間間隔内におけるカウント数が
所定数以上のときテープ異常と判断する信号を出
力するカウンタとを具備してなることを特徴とす
るテープ走行監視装置。