JPH02259507A - 光学ヘッド移動装置 - Google Patents
光学ヘッド移動装置Info
- Publication number
- JPH02259507A JPH02259507A JP8234389A JP8234389A JPH02259507A JP H02259507 A JPH02259507 A JP H02259507A JP 8234389 A JP8234389 A JP 8234389A JP 8234389 A JP8234389 A JP 8234389A JP H02259507 A JPH02259507 A JP H02259507A
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- JP
- Japan
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- optical head
- light beam
- light
- reflecting mirror
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 40
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光の直進性を利用した光学ヘッド、例えばフ
ィゾー干渉計の透過参照球面を持つ集光レンズを3次元
平行移動可能にした光学ヘッド移動装置に関する。
ィゾー干渉計の透過参照球面を持つ集光レンズを3次元
平行移動可能にした光学ヘッド移動装置に関する。
[従来の技術]
従来、干渉測定装置において、い(つかの光学エレメン
トを含む光学ヘッドとこの光学ヘッドに光束を送出する
光源とを一体にして被検物に対して移動させたり、或は
光学ヘッドと光源は固定し被検物を移動させて被検物か
らの光波が充分な干渉測定を可能にする様な状態になる
様にしている。
トを含む光学ヘッドとこの光学ヘッドに光束を送出する
光源とを一体にして被検物に対して移動させたり、或は
光学ヘッドと光源は固定し被検物を移動させて被検物か
らの光波が充分な干渉測定を可能にする様な状態になる
様にしている。
【発明が解決しようとする課題]
しかし乍ら、上記従来例では、光学ヘッドと光源を含む
干渉計ないし干渉測定装置か被検物かのいずれかを移動
させるので、次の様な欠点がある。
干渉計ないし干渉測定装置か被検物かのいずれかを移動
させるので、次の様な欠点がある。
即ち、被検物が重(、大きいものでありながら、高精度
な測定を行なう為には、駆動力が大きい機構を用いて被
検物を移動させる必要がある。
な測定を行なう為には、駆動力が大きい機構を用いて被
検物を移動させる必要がある。
また、干渉計を移動させる場合は、熱源であるレーザ等
の光源を一緒に移動させるので、干渉計内部の温度変化
により測定精度の低下を招いたり、更には移動の際に生
じる振動で光源が劣化しやす(なったりする。
の光源を一緒に移動させるので、干渉計内部の温度変化
により測定精度の低下を招いたり、更には移動の際に生
じる振動で光源が劣化しやす(なったりする。
従って、本発明の目的は、上記の問題点を解決すべ(、
光源を含まない光学ヘッドを被検物などの対象物に対し
て3次元的に移動可能とした構成を有する光学ヘッド移
動装置を提供することにある。
光源を含まない光学ヘッドを被検物などの対象物に対し
て3次元的に移動可能とした構成を有する光学ヘッド移
動装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段〕
上記目的を達成する為の本発明においては、レーザーな
どの光源から射出され第1の方向から入射する光束を第
2の方向に折り曲げる反射鏡などの第1の折り曲げ手段
と、この第1の光束折り曲げ手段からの第2の方向の光
束を第3の方向に曲げる反射鏡などの第2の光束折り曲
げ手段と、この第2の光束折り曲げ手段からの第3の方
向の光束を対象物に照射する光学エレメントを含む光学
ヘッドと、この光学ヘッドを第3の方向に移動する第1
機構と、この第1機構と第2の光束折り曲げ手段を共に
第2の方向に移動する第2機構と、この第2機構と第1
の光束折り曲げ手段を共に第1の方向に移動する第3機
構を有する光学ヘッド移動装置となっている。
どの光源から射出され第1の方向から入射する光束を第
2の方向に折り曲げる反射鏡などの第1の折り曲げ手段
と、この第1の光束折り曲げ手段からの第2の方向の光
束を第3の方向に曲げる反射鏡などの第2の光束折り曲
げ手段と、この第2の光束折り曲げ手段からの第3の方
向の光束を対象物に照射する光学エレメントを含む光学
ヘッドと、この光学ヘッドを第3の方向に移動する第1
機構と、この第1機構と第2の光束折り曲げ手段を共に
第2の方向に移動する第2機構と、この第2機構と第1
の光束折り曲げ手段を共に第1の方向に移動する第3機
構を有する光学ヘッド移動装置となっている。
上記第11第2及び第3の方向は典型的には相互に直角
であり、上記光学エレメントは干渉測定装置において被
検物に測定波面を照射するコリメータレンズなどである
。
であり、上記光学エレメントは干渉測定装置において被
検物に測定波面を照射するコリメータレンズなどである
。
[作用]
上記の構成を持つ本発明においては、被検物などの対象
物を動かして位置調整する必要がな(、また3次元的に
移動される光学ヘッドも熱源となる光源などを含まない
ので、第1、第2及び第3の方向に光学ヘッドを移動さ
せる機構が軽量かつ比較的簡準に構成されると共に、光
学ヘッドも熱による影響を受けることなく高速且つ高精
度に移動され、容易に被検物などの対象物に光学ヘッド
を所望の態様で相い対させることができる。
物を動かして位置調整する必要がな(、また3次元的に
移動される光学ヘッドも熱源となる光源などを含まない
ので、第1、第2及び第3の方向に光学ヘッドを移動さ
せる機構が軽量かつ比較的簡準に構成されると共に、光
学ヘッドも熱による影響を受けることなく高速且つ高精
度に移動され、容易に被検物などの対象物に光学ヘッド
を所望の態様で相い対させることができる。
[実施例]
第1図は本発明をフィゾー干渉計へ適用したl実施例を
示す。第1図(a)には、各図の上に示すx−y−zの
座標軸のX方向から見た様子を示す平面図が示され、第
1図(b)にはX方向から見た様子を示す側面図が示さ
れている。
示す。第1図(a)には、各図の上に示すx−y−zの
座標軸のX方向から見た様子を示す平面図が示され、第
1図(b)にはX方向から見た様子を示す側面図が示さ
れている。
同図において、1はレーザ等の光源、2はX方向に光軸
を持つコリメータレンズCの最終面に形成された半透過
面である参照球面、3はハーフミラ−14は撮像素子で
ある。
を持つコリメータレンズCの最終面に形成された半透過
面である参照球面、3はハーフミラ−14は撮像素子で
ある。
光源1からX方向に放射された平行光束はハーフミラ−
3を通って第1の反射fllAに入射しここでY方向に
反射される。続いて第2の反射鏡Bに入射しここでX方
向に反射されコリメータレンズCに入射する。
3を通って第1の反射fllAに入射しここでY方向に
反射される。続いて第2の反射鏡Bに入射しここでX方
向に反射されコリメータレンズCに入射する。
コリメータレンズCに入射した光は、そのままコリメー
タレンズCを通って被検物Sの′tL検面からの反射波
面となるものと、参照球面2からの反射波面となるもの
に別れ、両反射波面は再び同一光路において干渉し、干
渉した光束は上記の経路を逆行してハーフミラ−3によ
り下方に折り曲げられて撮像素子4に導かれここで干渉
図形として観測される。
タレンズCを通って被検物Sの′tL検面からの反射波
面となるものと、参照球面2からの反射波面となるもの
に別れ、両反射波面は再び同一光路において干渉し、干
渉した光束は上記の経路を逆行してハーフミラ−3によ
り下方に折り曲げられて撮像素子4に導かれここで干渉
図形として観測される。
ここにおいて、コリメータレンズCはX方向に移動する
機構りに固定され、この移動機構りと第2の反射鏡Bは
Y方向に移動する機構Mに取り付けられ、更に移動機構
Mと第1の反It鏡AはX方向に移動する機構Nに取り
付けられている。
機構りに固定され、この移動機構りと第2の反射鏡Bは
Y方向に移動する機構Mに取り付けられ、更に移動機構
Mと第1の反It鏡AはX方向に移動する機構Nに取り
付けられている。
従って、参照球面2による反射球面と被検物Sからの反
射波面とが重ならないか又は干渉縞が細かすぎて撮像素
子4では観測できず被検物Sの面精度などが測定できな
い場合に、上記移動機構り、M、Nをx、y、z方向に
適当に移動させて、例えば被検物Sの被検面が凹面の場
合、この凹面の曲率中心とコリメータレンズCの焦点位
置(参照球面2の曲率中心は予めこの焦点位置と合致さ
せである)を合致させる。この様にして、被検物Sの形
状等が正確に測定されることになる。
射波面とが重ならないか又は干渉縞が細かすぎて撮像素
子4では観測できず被検物Sの面精度などが測定できな
い場合に、上記移動機構り、M、Nをx、y、z方向に
適当に移動させて、例えば被検物Sの被検面が凹面の場
合、この凹面の曲率中心とコリメータレンズCの焦点位
置(参照球面2の曲率中心は予めこの焦点位置と合致さ
せである)を合致させる。この様にして、被検物Sの形
状等が正確に測定されることになる。
上記の移動調整において、第1の反射鏡AのY、Z方向
、第2の反射鏡針Z方向に関する位置は不変などで、光
源lからの光束は支障なく被検面と参照球面2に導かれ
ると共に撮像素子4上に導光される。
、第2の反射鏡針Z方向に関する位置は不変などで、光
源lからの光束は支障なく被検面と参照球面2に導かれ
ると共に撮像素子4上に導光される。
上記実施例では、光学ヘッドとしてフィゾー干渉計のコ
リメータレンズを用いたが、光学ヘッドとしてx、y、
z方向に移動可能とされるものは、例えば、トワイマン
−グリーン干渉計の測定波面形成用のコリメータレンズ
としたり、シアリング干渉計の測定波面形成用のレンズ
とすることができる。
リメータレンズを用いたが、光学ヘッドとしてx、y、
z方向に移動可能とされるものは、例えば、トワイマン
−グリーン干渉計の測定波面形成用のコリメータレンズ
としたり、シアリング干渉計の測定波面形成用のレンズ
とすることができる。
前者の場合、ハーフミラ−3の位置に偏光ビームスプリ
ッタ−を置き、この偏光ビームスプリッタ−の上方に?
、l[ミラーを配置するなどすればよい、また、後者
の場合、ハーフミラ−3はそのままにし、これと撮像素
子4との間の光路中に、被検面からの光波を例えば横方
向にシアリングさせる平行平面板などを配置する等すれ
ばよい。
ッタ−を置き、この偏光ビームスプリッタ−の上方に?
、l[ミラーを配置するなどすればよい、また、後者
の場合、ハーフミラ−3はそのままにし、これと撮像素
子4との間の光路中に、被検面からの光波を例えば横方
向にシアリングさせる平行平面板などを配置する等すれ
ばよい。
また、被検面の形状は種々でありえて、光学ヘッドとし
てコンパクトディスクに使用されるピックアップレンズ
を用い、被検面の平面度を測定することも可能である。
てコンパクトディスクに使用されるピックアップレンズ
を用い、被検面の平面度を測定することも可能である。
更に、本発明は縞走査型干渉測定装置にも適用できるこ
とは勿論である。
とは勿論である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の構成によれば、光源、被
検物を移動せずに光学ニレメン4゜ トを含む光学ヘッドと反射鏡のみを移動させているので
、熱源となる光源などが干渉光学系から分離されると共
に軽量の移動機構で済み、小・型で高速かつ高精度の光
ヘツド移動装置が実現される。
検物を移動せずに光学ニレメン4゜ トを含む光学ヘッドと反射鏡のみを移動させているので
、熱源となる光源などが干渉光学系から分離されると共
に軽量の移動機構で済み、小・型で高速かつ高精度の光
ヘツド移動装置が実現される。
第1図(a)は本発明の1実施例の平面図であり、第1
図(b)は同実施例の側面図である。 l・・・・・光源、2・・・・・参照球面、3・・・・
・ハーフミラ−14・・・・・撮像素子、A、B・・・
・・反射鏡、C・・・・・コリメータレンズ、S・・・
・・被検物、L・・・・・Z方向移動機構、M・・・・
・Y方向移動機構、N・・・・・X方向移動機構
図(b)は同実施例の側面図である。 l・・・・・光源、2・・・・・参照球面、3・・・・
・ハーフミラ−14・・・・・撮像素子、A、B・・・
・・反射鏡、C・・・・・コリメータレンズ、S・・・
・・被検物、L・・・・・Z方向移動機構、M・・・・
・Y方向移動機構、N・・・・・X方向移動機構
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、対象物に光波を照射する光学エレメントを含む光学
ヘッドを3次元に移動する装置において、 第1の方向から入射する光束を第2の方向 に曲げる第1の光束折り曲げ手段と、該第1の光束折り
曲げ手段からの第2の方向の光束を第3の方向に曲げる
第2の光束折り曲げ手段と、該第2の光束折り曲げ手段
からの第3の方向の光束を対象物に照射する光学エレメ
ントを含む光学ヘッドと、該光学ヘッドを第3の方向に
移動する第1機構と、該第1機構と前記第2の光束折り
曲げ手段を共に第2の方向に移動する第2機構と、該第
2機構と前記第1の光束折り曲げ手段を共に第1の方向
に移動する第3機構を有することを特徴とする光学ヘッ
ド移動装置。 2、前記第1、第2及び第3の方向は相互に直角である
請求項1記載の光学ヘッド移動装置。 3、前記光学エレメントは干渉測定装置において被検物
に測定波面を照射する為のレンズである請求項1記載の
光学ヘッド移動装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8234389A JPH02259507A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 光学ヘッド移動装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8234389A JPH02259507A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 光学ヘッド移動装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02259507A true JPH02259507A (ja) | 1990-10-22 |
Family
ID=13771922
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8234389A Pending JPH02259507A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 光学ヘッド移動装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02259507A (ja) |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP8234389A patent/JPH02259507A/ja active Pending
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