JPH02259507A - 光学ヘッド移動装置 - Google Patents

光学ヘッド移動装置

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Publication number
JPH02259507A
JPH02259507A JP8234389A JP8234389A JPH02259507A JP H02259507 A JPH02259507 A JP H02259507A JP 8234389 A JP8234389 A JP 8234389A JP 8234389 A JP8234389 A JP 8234389A JP H02259507 A JPH02259507 A JP H02259507A
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JP
Japan
Prior art keywords
optical head
light beam
light
reflecting mirror
moved
Prior art date
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Pending
Application number
JP8234389A
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English (en)
Inventor
Minokichi Ban
箕吉 伴
Masaru Otsuka
勝 大塚
Yoshibumi Nishimoto
義文 西本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光の直進性を利用した光学ヘッド、例えばフ
ィゾー干渉計の透過参照球面を持つ集光レンズを3次元
平行移動可能にした光学ヘッド移動装置に関する。
[従来の技術] 従来、干渉測定装置において、い(つかの光学エレメン
トを含む光学ヘッドとこの光学ヘッドに光束を送出する
光源とを一体にして被検物に対して移動させたり、或は
光学ヘッドと光源は固定し被検物を移動させて被検物か
らの光波が充分な干渉測定を可能にする様な状態になる
様にしている。
【発明が解決しようとする課題] しかし乍ら、上記従来例では、光学ヘッドと光源を含む
干渉計ないし干渉測定装置か被検物かのいずれかを移動
させるので、次の様な欠点がある。
即ち、被検物が重(、大きいものでありながら、高精度
な測定を行なう為には、駆動力が大きい機構を用いて被
検物を移動させる必要がある。
また、干渉計を移動させる場合は、熱源であるレーザ等
の光源を一緒に移動させるので、干渉計内部の温度変化
により測定精度の低下を招いたり、更には移動の際に生
じる振動で光源が劣化しやす(なったりする。
従って、本発明の目的は、上記の問題点を解決すべ(、
光源を含まない光学ヘッドを被検物などの対象物に対し
て3次元的に移動可能とした構成を有する光学ヘッド移
動装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段〕 上記目的を達成する為の本発明においては、レーザーな
どの光源から射出され第1の方向から入射する光束を第
2の方向に折り曲げる反射鏡などの第1の折り曲げ手段
と、この第1の光束折り曲げ手段からの第2の方向の光
束を第3の方向に曲げる反射鏡などの第2の光束折り曲
げ手段と、この第2の光束折り曲げ手段からの第3の方
向の光束を対象物に照射する光学エレメントを含む光学
ヘッドと、この光学ヘッドを第3の方向に移動する第1
機構と、この第1機構と第2の光束折り曲げ手段を共に
第2の方向に移動する第2機構と、この第2機構と第1
の光束折り曲げ手段を共に第1の方向に移動する第3機
構を有する光学ヘッド移動装置となっている。
上記第11第2及び第3の方向は典型的には相互に直角
であり、上記光学エレメントは干渉測定装置において被
検物に測定波面を照射するコリメータレンズなどである
[作用] 上記の構成を持つ本発明においては、被検物などの対象
物を動かして位置調整する必要がな(、また3次元的に
移動される光学ヘッドも熱源となる光源などを含まない
ので、第1、第2及び第3の方向に光学ヘッドを移動さ
せる機構が軽量かつ比較的簡準に構成されると共に、光
学ヘッドも熱による影響を受けることなく高速且つ高精
度に移動され、容易に被検物などの対象物に光学ヘッド
を所望の態様で相い対させることができる。
[実施例] 第1図は本発明をフィゾー干渉計へ適用したl実施例を
示す。第1図(a)には、各図の上に示すx−y−zの
座標軸のX方向から見た様子を示す平面図が示され、第
1図(b)にはX方向から見た様子を示す側面図が示さ
れている。
同図において、1はレーザ等の光源、2はX方向に光軸
を持つコリメータレンズCの最終面に形成された半透過
面である参照球面、3はハーフミラ−14は撮像素子で
ある。
光源1からX方向に放射された平行光束はハーフミラ−
3を通って第1の反射fllAに入射しここでY方向に
反射される。続いて第2の反射鏡Bに入射しここでX方
向に反射されコリメータレンズCに入射する。
コリメータレンズCに入射した光は、そのままコリメー
タレンズCを通って被検物Sの′tL検面からの反射波
面となるものと、参照球面2からの反射波面となるもの
に別れ、両反射波面は再び同一光路において干渉し、干
渉した光束は上記の経路を逆行してハーフミラ−3によ
り下方に折り曲げられて撮像素子4に導かれここで干渉
図形として観測される。
ここにおいて、コリメータレンズCはX方向に移動する
機構りに固定され、この移動機構りと第2の反射鏡Bは
Y方向に移動する機構Mに取り付けられ、更に移動機構
Mと第1の反It鏡AはX方向に移動する機構Nに取り
付けられている。
従って、参照球面2による反射球面と被検物Sからの反
射波面とが重ならないか又は干渉縞が細かすぎて撮像素
子4では観測できず被検物Sの面精度などが測定できな
い場合に、上記移動機構り、M、Nをx、y、z方向に
適当に移動させて、例えば被検物Sの被検面が凹面の場
合、この凹面の曲率中心とコリメータレンズCの焦点位
置(参照球面2の曲率中心は予めこの焦点位置と合致さ
せである)を合致させる。この様にして、被検物Sの形
状等が正確に測定されることになる。
上記の移動調整において、第1の反射鏡AのY、Z方向
、第2の反射鏡針Z方向に関する位置は不変などで、光
源lからの光束は支障なく被検面と参照球面2に導かれ
ると共に撮像素子4上に導光される。
上記実施例では、光学ヘッドとしてフィゾー干渉計のコ
リメータレンズを用いたが、光学ヘッドとしてx、y、
z方向に移動可能とされるものは、例えば、トワイマン
−グリーン干渉計の測定波面形成用のコリメータレンズ
としたり、シアリング干渉計の測定波面形成用のレンズ
とすることができる。
前者の場合、ハーフミラ−3の位置に偏光ビームスプリ
ッタ−を置き、この偏光ビームスプリッタ−の上方に?
 、l[ミラーを配置するなどすればよい、また、後者
の場合、ハーフミラ−3はそのままにし、これと撮像素
子4との間の光路中に、被検面からの光波を例えば横方
向にシアリングさせる平行平面板などを配置する等すれ
ばよい。
また、被検面の形状は種々でありえて、光学ヘッドとし
てコンパクトディスクに使用されるピックアップレンズ
を用い、被検面の平面度を測定することも可能である。
更に、本発明は縞走査型干渉測定装置にも適用できるこ
とは勿論である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の構成によれば、光源、被
検物を移動せずに光学ニレメン4゜ トを含む光学ヘッドと反射鏡のみを移動させているので
、熱源となる光源などが干渉光学系から分離されると共
に軽量の移動機構で済み、小・型で高速かつ高精度の光
ヘツド移動装置が実現される。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の1実施例の平面図であり、第1
図(b)は同実施例の側面図である。 l・・・・・光源、2・・・・・参照球面、3・・・・
・ハーフミラ−14・・・・・撮像素子、A、B・・・
・・反射鏡、C・・・・・コリメータレンズ、S・・・
・・被検物、L・・・・・Z方向移動機構、M・・・・
・Y方向移動機構、N・・・・・X方向移動機構

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、対象物に光波を照射する光学エレメントを含む光学
    ヘッドを3次元に移動する装置において、 第1の方向から入射する光束を第2の方向 に曲げる第1の光束折り曲げ手段と、該第1の光束折り
    曲げ手段からの第2の方向の光束を第3の方向に曲げる
    第2の光束折り曲げ手段と、該第2の光束折り曲げ手段
    からの第3の方向の光束を対象物に照射する光学エレメ
    ントを含む光学ヘッドと、該光学ヘッドを第3の方向に
    移動する第1機構と、該第1機構と前記第2の光束折り
    曲げ手段を共に第2の方向に移動する第2機構と、該第
    2機構と前記第1の光束折り曲げ手段を共に第1の方向
    に移動する第3機構を有することを特徴とする光学ヘッ
    ド移動装置。 2、前記第1、第2及び第3の方向は相互に直角である
    請求項1記載の光学ヘッド移動装置。 3、前記光学エレメントは干渉測定装置において被検物
    に測定波面を照射する為のレンズである請求項1記載の
    光学ヘッド移動装置。
JP8234389A 1989-03-31 1989-03-31 光学ヘッド移動装置 Pending JPH02259507A (ja)

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