JPH02257007A - コンタクトレンズ外周欠け検査装置 - Google Patents
コンタクトレンズ外周欠け検査装置Info
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- JPH02257007A JPH02257007A JP7902789A JP7902789A JPH02257007A JP H02257007 A JPH02257007 A JP H02257007A JP 7902789 A JP7902789 A JP 7902789A JP 7902789 A JP7902789 A JP 7902789A JP H02257007 A JPH02257007 A JP H02257007A
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- Japan
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- lens
- chipping
- quadratic
- coordinate position
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- Pending
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
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- 230000007547 defect Effects 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、コンタクトレンズ外周欠は検査装置に関する
。
。
［発明の概要］
本発明は、コンタクトレンズ外周欠は検査装置において
、撮像装置により撮像して検出した座標位置・巾と、そ
の座標位置より最小２乗法２次近似して検出した座標位
置の差異と、２次近似曲線の関数値によりコンタクトレ
ンズの外周欠は検査を行なうことを実現したものである
。
、撮像装置により撮像して検出した座標位置・巾と、そ
の座標位置より最小２乗法２次近似して検出した座標位
置の差異と、２次近似曲線の関数値によりコンタクトレ
ンズの外周欠は検査を行なうことを実現したものである
。
［従来の技術］
従来のコンタクトレンズの外周欠は検査は目視で行なっ
ており、人間が拡大鏡を使用して欠けを検出するもので
あった。
ており、人間が拡大鏡を使用して欠けを検出するもので
あった。
〔発明が解決しようとする課題１
しかし、前述の従来技術では、
ａ 見落としが多い
す０個人の欠は検出能力に差がある
Ｃ１疲労による見落としが発生する
という問題点を有する
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは、検出のバラツキが少ない定量的
なコンタクトレンズの外周欠は検査装置を提供するとこ
ろにある。
の目的とするところは、検出のバラツキが少ない定量的
なコンタクトレンズの外周欠は検査装置を提供するとこ
ろにある。
［課題を解決するための手段］
本発明のコンタクトレンズ外周欠は検査装置は、コンタ
クトレンズの外周部を撮像装置により撮像し、その２値
画像において外周部の座標位置を検出し、その座標位置
より最小２乗法２次近似を行なうことにより、本来欠け
が無ければ僅差であるべき上記検出手段により検出した
座標位置間における差異と、近似２次曲線の２次係数の
符号と近似２次曲線の２次係数の値と、撮像される外周
の巾と、により、欠けを検査することを特徴とする。
クトレンズの外周部を撮像装置により撮像し、その２値
画像において外周部の座標位置を検出し、その座標位置
より最小２乗法２次近似を行なうことにより、本来欠け
が無ければ僅差であるべき上記検出手段により検出した
座標位置間における差異と、近似２次曲線の２次係数の
符号と近似２次曲線の２次係数の値と、撮像される外周
の巾と、により、欠けを検査することを特徴とする。
［実 施 例］
以下に本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第
１図において、コンタクトレンズの外周部を撮像装置に
より撮像し、その２値画像において検出した座標位置ｌ
とその座標位置より最小２乗法２次近似して検出した座
標位置２のＹ軸方向差異は、本体欠けの無いレンズで０
〜７ＬＬｍ程度であるが、欠けの有るレンズでは７μｍ
以上の差異となり欠は検出ができる。また、近似２次曲
線の２次係数の符号は、第１図におけるように円形外形
をしたレンズの凹側円弧を撮像すれば本来欠けの無いレ
ンズでは符号は常に正となり欠けが検出できる。また、
近似２次曲線の２次係数の値は、本来欠けの無いレンズ
で９Ｘ１０−’〜１５×１Ｏ−４程度であるが、欠けの
有るレンズにおいては上記値をとらないことにより欠け
が検出できる。また、第１図の外周の巾３は本来欠けの
無いレンズで３０〜８０ＬＬｍ程度であるが、欠は部で
は上記値をとらないことにより欠けが検出できる。また
、欠は検出精度向上のため第１図におけるようにレンズ
外周の一部４を撮像するが、レンズを回転させ全周を円
弧に分割して検出することにより、レンズ全周の欠は検
査ができる。
１図において、コンタクトレンズの外周部を撮像装置に
より撮像し、その２値画像において検出した座標位置ｌ
とその座標位置より最小２乗法２次近似して検出した座
標位置２のＹ軸方向差異は、本体欠けの無いレンズで０
〜７ＬＬｍ程度であるが、欠けの有るレンズでは７μｍ
以上の差異となり欠は検出ができる。また、近似２次曲
線の２次係数の符号は、第１図におけるように円形外形
をしたレンズの凹側円弧を撮像すれば本来欠けの無いレ
ンズでは符号は常に正となり欠けが検出できる。また、
近似２次曲線の２次係数の値は、本来欠けの無いレンズ
で９Ｘ１０−’〜１５×１Ｏ−４程度であるが、欠けの
有るレンズにおいては上記値をとらないことにより欠け
が検出できる。また、第１図の外周の巾３は本来欠けの
無いレンズで３０〜８０ＬＬｍ程度であるが、欠は部で
は上記値をとらないことにより欠けが検出できる。また
、欠は検出精度向上のため第１図におけるようにレンズ
外周の一部４を撮像するが、レンズを回転させ全周を円
弧に分割して検出することにより、レンズ全周の欠は検
査ができる。
以上のような実施例において、目視検査によるあいまい
さ、不安定さを除去し、検出バラツキが少ない定量的な
外周欠は検査ができるのである。
さ、不安定さを除去し、検出バラツキが少ない定量的な
外周欠は検査ができるのである。
〔発明の効果１
本発明は、以上説明したように、撮像装置により撮像し
て検出した座標位置と、巾と、その座標位置より最小２
乗法２次近似して検出した座標位置の差異と、２次近似
曲線の関数値によりコンタクトレンズの外周欠は検査を
行なうことを実現できることにより、目視検査における
あいまいさ、不安定さを除去した検出バラツキが少ない
定量的な検査を容易にするという効果を有する。
て検出した座標位置と、巾と、その座標位置より最小２
乗法２次近似して検出した座標位置の差異と、２次近似
曲線の関数値によりコンタクトレンズの外周欠は検査を
行なうことを実現できることにより、目視検査における
あいまいさ、不安定さを除去した検出バラツキが少ない
定量的な検査を容易にするという効果を有する。
第１図は、本発明にかかるコンタクトレンズ外周欠は検
査装置の、撮像装置により撮像したコンタクトレンズ外
周の一部と、最小２乗法２次近似して検出した座標位置
の一例を示す原理図である。 １・・・撮像して検出した座標位置 最小２乗法２次近似して検出した座 標位置 ・撮像して検出した外周の巾 撮像したレンズ外周の一部 ３ ・ ２ ・
査装置の、撮像装置により撮像したコンタクトレンズ外
周の一部と、最小２乗法２次近似して検出した座標位置
の一例を示す原理図である。 １・・・撮像して検出した座標位置 最小２乗法２次近似して検出した座 標位置 ・撮像して検出した外周の巾 撮像したレンズ外周の一部 ３ ・ ２ ・
Claims (1)
- コンタクトレンズの外周部を撮像装置により撮像し、そ
の２値画像において外周部の座標位置を検出し、その座
標位置より最小２乗法２次近似を行なうことにより、本
来欠けが無ければ僅差であるべき上記検出手段により検
出した座標位置間における差異と、近似２次曲線の２次
係数の符号と近似２次曲線の２次係数の値と、撮像され
る外周の巾と、により、欠けを検査することを特徴とす
るコンタクトレンズ外周欠け検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7902789A JPH02257007A (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | コンタクトレンズ外周欠け検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7902789A JPH02257007A (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | コンタクトレンズ外周欠け検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02257007A true JPH02257007A (ja) | 1990-10-17 |
Family
ID=13678453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7902789A Pending JPH02257007A (ja) | 1989-03-30 | 1989-03-30 | コンタクトレンズ外周欠け検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02257007A (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0491663A1 (de) * | 1990-12-19 | 1992-06-24 | Ciba-Geigy Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von optischen Bauteilen, insbesondere augenoptischen Bauteilen und Einrichtung zum Beleuchten von klar-transparenten Prüfobjekten |
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| JP2006098101A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Canon Chemicals Inc | 板状体の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
-
1989
- 1989-03-30 JP JP7902789A patent/JPH02257007A/ja active Pending
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