JPH02254162A - スパッタ装置 - Google Patents
スパッタ装置Info
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- JPH02254162A JPH02254162A JP7456589A JP7456589A JPH02254162A JP H02254162 A JPH02254162 A JP H02254162A JP 7456589 A JP7456589 A JP 7456589A JP 7456589 A JP7456589 A JP 7456589A JP H02254162 A JPH02254162 A JP H02254162A
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Links
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims description 33
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 22
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 17
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 17
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 claims description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 13
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 9
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000220317 Rosa Species 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000011553 magnetic fluid Substances 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 239000010981 turquoise Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、スパッタ装置に関する。
(従来の技術)
一般に、スパッタ装置は、基板例えばN1′−導体ウェ
ハに、例えば金属薄膜を成膜するのに主に用いられる。
ハに、例えば金属薄膜を成膜するのに主に用いられる。
このようなスパッタ装置では、気密容器内に設けられた
ターゲットに対向する如< xi’ s体つェハが配置
される。
ターゲットに対向する如< xi’ s体つェハが配置
される。
上記ターゲットは、通常、阻′屯極となるバッキングプ
レートに接合されたユニットとして使用に供され、この
ターゲットユニッj・をスパッタガン本体側の絶縁物か
らなる保持部祠に固定することによってセツティングさ
れる。このター=ゲットコ。
レートに接合されたユニットとして使用に供され、この
ターゲットユニッj・をスパッタガン本体側の絶縁物か
らなる保持部祠に固定することによってセツティングさ
れる。このター=ゲットコ。
ニットの固定は、保持部材の裏面側から挿入された捩子
等によって行われる。
等によって行われる。
そして、ターゲットに負の電圧を印加することにより、
気密容器内に導入されたスパッタガスをプラズマ化し、
このプラズマ中の陽イオンを負電圧の電極であるターゲ
ットに衝突させ、ターゲツト材のスパッタリングを行う
。この飛程位置に半導体ウェハを配置することにより、
上記ウェハ表面」二に成膜する。
気密容器内に導入されたスパッタガスをプラズマ化し、
このプラズマ中の陽イオンを負電圧の電極であるターゲ
ットに衝突させ、ターゲツト材のスパッタリングを行う
。この飛程位置に半導体ウェハを配置することにより、
上記ウェハ表面」二に成膜する。
」二記スパッタリングされた粒子は、ターゲット前方に
位置するよ・)スパッタガン本体の頂部に捩子等によっ
て支持されたシールドによって、飛翔方向を規制されつ
つ゛]′、導体ウェハに処理物を被着し、所望組成の薄
膜を形成する。上記シールドは、ターケントとの間が電
気的に絶縁されるように、アルミナz9のセラミックス
部材を介して設置されている。
位置するよ・)スパッタガン本体の頂部に捩子等によっ
て支持されたシールドによって、飛翔方向を規制されつ
つ゛]′、導体ウェハに処理物を被着し、所望組成の薄
膜を形成する。上記シールドは、ターケントとの間が電
気的に絶縁されるように、アルミナz9のセラミックス
部材を介して設置されている。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、従来のスパッタ装置においては、」二連した
ようにターゲットを保持部Hの裏側から捩r等によって
固定しているため、ターゲットの交換作業の効率が非常
に悪いという問題かあった。
ようにターゲットを保持部Hの裏側から捩r等によって
固定しているため、ターゲットの交換作業の効率が非常
に悪いという問題かあった。
また、ターゲットの交換の隙には、その前方に位置する
シールドも取り外さなけれはならず、さらに作業効率を
低下させていた。そして、21′導体ウェハ等の多品種
少量化が進む現状においては、例えば品種に応じたウェ
ハのインチサ・rズが異なる場合、上記したような処理
内容の変更作業の効率を高めることがさらに重要になっ
てきている。
シールドも取り外さなけれはならず、さらに作業効率を
低下させていた。そして、21′導体ウェハ等の多品種
少量化が進む現状においては、例えば品種に応じたウェ
ハのインチサ・rズが異なる場合、上記したような処理
内容の変更作業の効率を高めることがさらに重要になっ
てきている。
また、ターゲットの固定方法については、タゲットの前
方側から捩子等によって固定するように構成されている
ものもあるか、この場合脱盾時にターゲットを1易つけ
る可能性が高く、得られる薄膜品質の低下を招いてしま
う。
方側から捩子等によって固定するように構成されている
ものもあるか、この場合脱盾時にターゲットを1易つけ
る可能性が高く、得られる薄膜品質の低下を招いてしま
う。
形成される薄膜の品質に関しては、上記ターフ。
ットの損傷の他に、ターゲットの前方に配置されるシー
ルドの温度上昇が問題になっている。ずなわし、形成さ
れるプラズマの影響等によって温度が上昇するターゲッ
ト自体はスパッタガン本体側に設けられた冷却機構によ
って冷却されているものの、シールドもプラズマの影響
t5によって昇;Rするため、このシールドからの輻射
熱によってターゲットが局部的に温度上昇し、得られる
薄膜の品質に悪影響を与えている。
ルドの温度上昇が問題になっている。ずなわし、形成さ
れるプラズマの影響等によって温度が上昇するターゲッ
ト自体はスパッタガン本体側に設けられた冷却機構によ
って冷却されているものの、シールドもプラズマの影響
t5によって昇;Rするため、このシールドからの輻射
熱によってターゲットが局部的に温度上昇し、得られる
薄膜の品質に悪影響を与えている。
本発明はこのような従来技術の課題に対処するためにな
されたものである。そして、本発明の第1の目的は、タ
ーゲットに対する外的な熱の付加および損傷の原因を極
力排除し、得られる薄膜の品質を向上させたスパッタ装
置を提供することである。また、第2の目的は、処理内
容の変更作業の効率を高め、スルーブツトを向上させた
スパッタ装置を提供することである。
されたものである。そして、本発明の第1の目的は、タ
ーゲットに対する外的な熱の付加および損傷の原因を極
力排除し、得られる薄膜の品質を向上させたスパッタ装
置を提供することである。また、第2の目的は、処理内
容の変更作業の効率を高め、スルーブツトを向上させた
スパッタ装置を提供することである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
すなわち第1の発明は、気密容器内に配置されたターゲ
ットからスパッタリングするスパッタ装置において、前
記ターゲットの支持系に設けられる絶縁体をセラミック
スで構成することを特徴としている。
ットからスパッタリングするスパッタ装置において、前
記ターゲットの支持系に設けられる絶縁体をセラミック
スで構成することを特徴としている。
また、第2の発明は、気密容器内に配置されたターゲッ
トからスパッタリングするスパッタ装置において、前記
ターゲットは、このターゲットの外周側に設けられた金
属リングにより、高熱伝導性および高電気絶縁性を有す
るセラミックス部(」からなる絶縁体リンクを介して固
定されるように構成したことを特徴としている。
トからスパッタリングするスパッタ装置において、前記
ターゲットは、このターゲットの外周側に設けられた金
属リングにより、高熱伝導性および高電気絶縁性を有す
るセラミックス部(」からなる絶縁体リンクを介して固
定されるように構成したことを特徴としている。
さらに、第3の発明は、気密容器内に配置されたターゲ
ットの冷却機構を内臓したスパッタ装置において、前記
ターゲットを冷却することにより、このターゲットを支
持する高熱伝導性および高電気絶縁性を有するセラミッ
クス製支持部材を介(2て、シールドリングを冷却する
ようにターゲットと一体に構成したことを特徴としてい
る。
ットの冷却機構を内臓したスパッタ装置において、前記
ターゲットを冷却することにより、このターゲットを支
持する高熱伝導性および高電気絶縁性を有するセラミッ
クス製支持部材を介(2て、シールドリングを冷却する
ようにターゲットと一体に構成したことを特徴としてい
る。
(作 用)
本発明においては、ターゲットの支持系に高熱伝導性お
よび高電気絶縁性を有するセラミックス部材を使用して
いる。これによって、ターゲットの絶縁を行うと共に、
熱的な接続を可能とする。
よび高電気絶縁性を有するセラミックス部材を使用して
いる。これによって、ターゲットの絶縁を行うと共に、
熱的な接続を可能とする。
従って、ターゲット周囲に配置されるシールド等の部品
もスパッタガン本体に設けられた冷却機構によって、タ
ーゲットとともに効率よく冷却する。
もスパッタガン本体に設けられた冷却機構によって、タ
ーゲットとともに効率よく冷却する。
また、この:/−ルドは、スパッタガン本体の外周m」
にス・1して一体的に固定することによって接触面積が
増大し、より冷却効率が向上する。
にス・1して一体的に固定することによって接触面積が
増大し、より冷却効率が向上する。
(実施例)
以下、本発明のスパッタ装置をプレートマグネトロン型
スパッタ装置に適用した実施例についで図面を5照して
説明する。
スパッタ装置に適用した実施例についで図面を5照して
説明する。
被処理物例えば崖導体つエノ\1は、ウエノ\加熱機横
2を有する試料台3に支持されており、シャッタ4を介
してターゲット5か設けられ、このタゲット5の表面近
傍にプラスマ形成領域の空間か形成されるように所定間
隔をもってターゲット5および試料台3か対向配置され
ている。なお、」1記シャッタ4は半専体ウニ/Xlと
ターゲ・ソト5との間を必要に応してスパッタリングを
遮るものである。
2を有する試料台3に支持されており、シャッタ4を介
してターゲット5か設けられ、このタゲット5の表面近
傍にプラスマ形成領域の空間か形成されるように所定間
隔をもってターゲット5および試料台3か対向配置され
ている。なお、」1記シャッタ4は半専体ウニ/Xlと
ターゲ・ソト5との間を必要に応してスパッタリングを
遮るものである。
このターゲット5は、形成すべき薄膜の材質に応じて選
択される、例えばアルミニウム、シリコン、タングステ
ン、チタン、モリブデン、クロム、コバルト、ニッケル
、あるいはこれらを含む合金等によって例えば円板状に
形成されたターゲット部6と、このターゲット部6の裏
面側に接合され、熱伝導性および導電性に優れた銅等の
金属部祠からなるバッキングプレー1・部7とから構成
されている。バッキングプレート部7は円j、)容器形
状を有し、開放側端部にターゲット5の取付は部となる
つば部7aが設けられている。
択される、例えばアルミニウム、シリコン、タングステ
ン、チタン、モリブデン、クロム、コバルト、ニッケル
、あるいはこれらを含む合金等によって例えば円板状に
形成されたターゲット部6と、このターゲット部6の裏
面側に接合され、熱伝導性および導電性に優れた銅等の
金属部祠からなるバッキングプレー1・部7とから構成
されている。バッキングプレート部7は円j、)容器形
状を有し、開放側端部にターゲット5の取付は部となる
つば部7aが設けられている。
ターゲット5は、バッキングプレ−1・部7に負の直流
電圧を印加することによ−って、カソード電極を構成し
ている。
電圧を印加することによ−って、カソード電極を構成し
ている。
ターゲラl−5の固定部は、第2図に示すように、まず
バンキングプレー1・部7のつば部7aか保持部材11
の開放側端部11 aに当接される。このバッキングプ
レート部7のつば部7aは、このつば部7aの一方の面
に当接された保持部材11と、ターケラl−5の外周側
に配置されつば部7aの他方の面に当接された絶縁体リ
ング13を介して/Sウジング12と同軸上に配置され
た金属リングコ4とによって挟持されている。そして、
金属リング]4に複数個例えば16個設けられた捩子挿
入穴1、、4 aに挿入された複数の捩−f−15をノ
\ウジング12に設置jられた捩子$ 12 aに捩込
むことによって金属リング14を綿イ・1け、この金属
リング14は絶縁体リング]3、バッキングプレ−1・
7を保持部材11に締付け、ターゲット5は保持部材7
に固定される。また、ハウジング12および金属リング
14と、ターゲット5とか電気的に絶縁体リング13に
よって絶縁されている。
バンキングプレー1・部7のつば部7aか保持部材11
の開放側端部11 aに当接される。このバッキングプ
レート部7のつば部7aは、このつば部7aの一方の面
に当接された保持部材11と、ターケラl−5の外周側
に配置されつば部7aの他方の面に当接された絶縁体リ
ング13を介して/Sウジング12と同軸上に配置され
た金属リングコ4とによって挟持されている。そして、
金属リング]4に複数個例えば16個設けられた捩子挿
入穴1、、4 aに挿入された複数の捩−f−15をノ
\ウジング12に設置jられた捩子$ 12 aに捩込
むことによって金属リング14を綿イ・1け、この金属
リング14は絶縁体リング]3、バッキングプレ−1・
7を保持部材11に締付け、ターゲット5は保持部材7
に固定される。また、ハウジング12および金属リング
14と、ターゲット5とか電気的に絶縁体リング13に
よって絶縁されている。
保持部材11および絶縁体リング13は、電気絶縁性お
よび熱伝導性に優れたセラミックス部祠によって形成さ
れており、このようなセラミックス部祠としてはΔJ2
N焼結体例えばンエイバルH(商品名、徳山凸達■製)
やSiC焼結体等が例示される。
よび熱伝導性に優れたセラミックス部祠によって形成さ
れており、このようなセラミックス部祠としてはΔJ2
N焼結体例えばンエイバルH(商品名、徳山凸達■製)
やSiC焼結体等が例示される。
また、ターゲット5の正面側には、スパッタリングされ
た粒子の飛翔方向を規制するように、先端が断面り字状
に曲折された円筒状のシールド16が配置されている。
た粒子の飛翔方向を規制するように、先端が断面り字状
に曲折された円筒状のシールド16が配置されている。
このシールド16は、第3図にも示されているように、
ハウシング]2の外周面に装着されるとともに、固定バ
ンド−7をシルド ント17を締付けることによっ一U 、金属リング14
およびハウジング12と面接触によって一体的に固定さ
れている。このシールド16は、ノ\ウジング12およ
び金属リング14とともに接地されており、グランド電
位に保持されている。
ハウシング]2の外周面に装着されるとともに、固定バ
ンド−7をシルド ント17を締付けることによっ一U 、金属リング14
およびハウジング12と面接触によって一体的に固定さ
れている。このシールド16は、ノ\ウジング12およ
び金属リング14とともに接地されており、グランド電
位に保持されている。
スパッタガン本体10側の保持部材11は、上述したよ
うに、ターゲット5の保持機能を有するとともに、バッ
キングプレー1・部7の裏面とによって冷却ジャケラ!
・コ8を構成しており、これらの間に介在されたQリン
グ19によって水密に保持されている。この冷却ジャケ
ット18は、ノλウジング]2内と保持部材11内に連
結して設けられた冷却媒体導入孔20内に挿入された冷
却媒体導入管21から、その内部に冷却媒体例えば冷却
水を循環させることによって、ハツキングブレト部7裏
面を直接冷却することによってターゲット5を所定の温
度内に維持しているとともに、タケット5周囲に配置さ
れた金属リング]4、シールド]6およびハウジング]
2を冷却している。
うに、ターゲット5の保持機能を有するとともに、バッ
キングプレー1・部7の裏面とによって冷却ジャケラ!
・コ8を構成しており、これらの間に介在されたQリン
グ19によって水密に保持されている。この冷却ジャケ
ット18は、ノλウジング]2内と保持部材11内に連
結して設けられた冷却媒体導入孔20内に挿入された冷
却媒体導入管21から、その内部に冷却媒体例えば冷却
水を循環させることによって、ハツキングブレト部7裏
面を直接冷却することによってターゲット5を所定の温
度内に維持しているとともに、タケット5周囲に配置さ
れた金属リング]4、シールド]6およびハウジング]
2を冷却している。
金属り〕グ14およびシールド1ζ3の冷却は、熱伝導
性に優れた絶縁体リング13を介し゛C冷却ジャゲット
18内に循環さ4する冷却媒体と熱交換することによ−
)でfiわれる。
性に優れた絶縁体リング13を介し゛C冷却ジャゲット
18内に循環さ4する冷却媒体と熱交換することによ−
)でfiわれる。
また、冷し]1ンヤ″1”ツI・18内には、ターゲッ
ト5前方にj[S成されるプラズマ形成領域を規制する
マグネッi、 ’、、l!2か回転自在に配置されてい
る。このマグネット″22は、ハウジング]2中央部に
固定さ第1だ気′、+; ;/−ル例2ば磁性流体シー
ル23を介1、て駆動機構2.第1こ連結されており、
これによ−)てターゲ・ソ15↑而にほぼ均一にプラズ
マリングが形成されるように回転駆動される。
ト5前方にj[S成されるプラズマ形成領域を規制する
マグネッi、 ’、、l!2か回転自在に配置されてい
る。このマグネット″22は、ハウジング]2中央部に
固定さ第1だ気′、+; ;/−ル例2ば磁性流体シー
ル23を介1、て駆動機構2.第1こ連結されており、
これによ−)てターゲ・ソ15↑而にほぼ均一にプラズ
マリングが形成されるように回転駆動される。
上記41XS成のスパッタ装置におけるスパッタ操作は
、以j・−の丁順により行われる。
、以j・−の丁順により行われる。
ずなイ)ち、まず゛1−専体ウエバ1およびターゲット
5をそれぞれ所定の位置にセットする。
5をそれぞれ所定の位置にセットする。
こ、、ニーσ、この実、14例のスパッタ装置において
は、ターゲラl、 5のセソー斤イングをパッキングブ
し1・部7を1rU、第3:捩子t1−豹するのてはな
く、絶縁体リーグ13および金属リンク14によって挟
持しているため、セソテfシゲ時にターゲット部C)を
傷つけるなとの恐れか大幅に低−ドI2、成膜f:良の
発生を防11−できる。また、外周側からi=’、I定
(7,でいるため、ターゲット5の位置決めか賓易にな
り、1゛′(磁性も向上する。また、ターゲット5の交
換時に必ず取4さなけねばならないシールド10の支持
を固定ヘルド17によっC(−■っているため、このこ
とからも作業性の向−1,が期待できる。ターゲット5
の交換作業は、金属リング14の捩r挿入穴1、、4
aに挿入された複数の捩子]5を外し、この捩子15に
よっ′C締イ・jけられていた金属り〉グ14および絶
縁体リング13を取外す。そ(、で、クゲット5を交換
j7、新たなター=ゲソl□ 5を保持部材7の所定位
置にセソトシ、バラギンクジ1ノド部7のつば部78七
に絶縁体リング13才5よび金属リンク1,4を順に載
置シ7、捩子15を装置′jシハウジング12に設けら
第1た捩〕゛溝12 aに捩込むことによってターゲ7
1・5 U)交換作業が終了する。
は、ターゲラl、 5のセソー斤イングをパッキングブ
し1・部7を1rU、第3:捩子t1−豹するのてはな
く、絶縁体リーグ13および金属リンク14によって挟
持しているため、セソテfシゲ時にターゲット部C)を
傷つけるなとの恐れか大幅に低−ドI2、成膜f:良の
発生を防11−できる。また、外周側からi=’、I定
(7,でいるため、ターゲット5の位置決めか賓易にな
り、1゛′(磁性も向上する。また、ターゲット5の交
換時に必ず取4さなけねばならないシールド10の支持
を固定ヘルド17によっC(−■っているため、このこ
とからも作業性の向−1,が期待できる。ターゲット5
の交換作業は、金属リング14の捩r挿入穴1、、4
aに挿入された複数の捩子]5を外し、この捩子15に
よっ′C締イ・jけられていた金属り〉グ14および絶
縁体リング13を取外す。そ(、で、クゲット5を交換
j7、新たなター=ゲソl□ 5を保持部材7の所定位
置にセソトシ、バラギンクジ1ノド部7のつば部78七
に絶縁体リング13才5よび金属リンク1,4を順に載
置シ7、捩子15を装置′jシハウジング12に設けら
第1た捩〕゛溝12 aに捩込むことによってターゲ7
1・5 U)交換作業が終了する。
次いで、゛1′導体つ丁ハ1およびターリ″′ツト!3
を支持1−た法帖で、これらか配置さ才する真空容器(
図示せず)内を例文は10−1〜10’ Torr程度
の真空度まで荒引きする。次に、上記真空容器内の真空
度を1O−5〜1o−8Tor+・台の高真空まで排気
し2、その後、この真空容器内にス・fツタガス、たと
7〒4ばArガス庖導入し、真空容器内を1.0’ =
1.0−3Torr台に設定する。そして、ターゲッ
ト5に負電圧を印加することによって、このターゲット
5前力のスパッタ面側にプラズマを)[3成12、さら
にこのターゲラI−5の裏面側にてマグネット22を回
転駆動することにより、このプラズマを磁界によって閉
込めたプラズマリングを形成する。このプラズマリング
の形成によりイオン化率力・向」ニジ、ターゲット・5
のスペッタ面での所定のエロージョンエリア′にてスパ
ッタが実行され、半導体ウェハ]」72面に所望組成の
薄膜が成膜される。
を支持1−た法帖で、これらか配置さ才する真空容器(
図示せず)内を例文は10−1〜10’ Torr程度
の真空度まで荒引きする。次に、上記真空容器内の真空
度を1O−5〜1o−8Tor+・台の高真空まで排気
し2、その後、この真空容器内にス・fツタガス、たと
7〒4ばArガス庖導入し、真空容器内を1.0’ =
1.0−3Torr台に設定する。そして、ターゲッ
ト5に負電圧を印加することによって、このターゲット
5前力のスパッタ面側にプラズマを)[3成12、さら
にこのターゲラI−5の裏面側にてマグネット22を回
転駆動することにより、このプラズマを磁界によって閉
込めたプラズマリングを形成する。このプラズマリング
の形成によりイオン化率力・向」ニジ、ターゲット・5
のスペッタ面での所定のエロージョンエリア′にてスパ
ッタが実行され、半導体ウェハ]」72面に所望組成の
薄膜が成膜される。
ここで、り〜ゲット5は形成されたプラズマやr1+加
電圧に4よってi’i’uj度か−1,h’するか、冷
却ジャゲット13うによって冷却されているため、所定
の温度内に維持されろ。
電圧に4よってi’i’uj度か−1,h’するか、冷
却ジャゲット13うによって冷却されているため、所定
の温度内に維持されろ。
また、シールド16や金属リング1,1もプラズマの影
響によって温度が上、+77、 L、その法帖のHE
:;lではシールド16などからの輻射熱(ごJ−っ′
Cタゲソト5の局部的な温度」−Hを招いて12まうが
、この実施例のスペック装置h:においては、金属jl
:。
響によって温度が上、+77、 L、その法帖のHE
:;lではシールド16などからの輻射熱(ごJ−っ′
Cタゲソト5の局部的な温度」−Hを招いて12まうが
、この実施例のスペック装置h:においては、金属jl
:。
グ14は75Hi熱伝導性のセラミックス+(かIF・
なる絶縁体リング13によっ−C冷却ジ八へy I□
1.8 、J−仏的に接続されており、シ・−ルF’
16は絶i1、体すシグ]−3およびハウジング12を
介して冷却ジャケット18と熱的に接続されているため
、絶縁体11ング]3を介し2て熱交換か行わfr、?
9却される。ここで、この実施例で保持部材11や絶縁
体リング〕3の+4質として使用される AρNセラミ
ックス例えばンJイペルM1..ll、従来、この種の
装Bの絶縁部材とし7て使用さイ]てきたΔR203セ
ラミツクス等に比べて熱伝導率が約10倍と高く、これ
によって充分に冷却を行うことが1−IJ能となる。ま
た、シールド1−6はハウシング12に対して面接触に
よって一体的に接続されているため、効率よく冷却され
る。
なる絶縁体リング13によっ−C冷却ジ八へy I□
1.8 、J−仏的に接続されており、シ・−ルF’
16は絶i1、体すシグ]−3およびハウジング12を
介して冷却ジャケット18と熱的に接続されているため
、絶縁体11ング]3を介し2て熱交換か行わfr、?
9却される。ここで、この実施例で保持部材11や絶縁
体リング〕3の+4質として使用される AρNセラミ
ックス例えばンJイペルM1..ll、従来、この種の
装Bの絶縁部材とし7て使用さイ]てきたΔR203セ
ラミツクス等に比べて熱伝導率が約10倍と高く、これ
によって充分に冷却を行うことが1−IJ能となる。ま
た、シールド1−6はハウシング12に対して面接触に
よって一体的に接続されているため、効率よく冷却され
る。
、−111′:、により′1・丁、ター ゲット5(、
′り局部的な?MλJ誌1冒かl1ji +[−さオN
もと吉もに、゛・−ルF16や金属(、ゲト1、さらに
・\コ”・〕〜シシ゛12の熱による劣(L、や溶融か
1ilj dさイ1、安定l−で゛スペノタト’t f
;を行) 、二 、1.か 1−1J’ 1止 と 、
・1→: 乙。
′り局部的な?MλJ誌1冒かl1ji +[−さオN
もと吉もに、゛・−ルF16や金属(、ゲト1、さらに
・\コ”・〕〜シシ゛12の熱による劣(L、や溶融か
1ilj dさイ1、安定l−で゛スペノタト’t f
;を行) 、二 、1.か 1−1J’ 1止 と 、
・1→: 乙。
このよう1:1.−8の実施例のスベ・・・夕装置は、
夕・5゛ ・ソ 1・「S の交j奨イ′、; ;q
’、、 Il、’j の 功宇か、 タ −ケ゛ ・ソ
1・5自体の脱すのBy、5さとシールド16の脱6
の容易さから向−1−519、現在のように多品種化さ
れた薄膜の11′:成に1.−1分に対応されたもので
ある。
夕・5゛ ・ソ 1・「S の交j奨イ′、; ;q
’、、 Il、’j の 功宇か、 タ −ケ゛ ・ソ
1・5自体の脱すのBy、5さとシールド16の脱6
の容易さから向−1−519、現在のように多品種化さ
れた薄膜の11′:成に1.−1分に対応されたもので
ある。
またS5“−11ツト・5の交換時における作業性の改
J−J r5、’y’−”y’ ツ) 5 ノ周IHJ
ニ装置 h し6 :>−ルド1.6 ’Jの冷却と
によ−〕で、スパッタ自体の効率や形成され仏薄膜の品
質も向上する。
J−J r5、’y’−”y’ ツ) 5 ノ周IHJ
ニ装置 h し6 :>−ルド1.6 ’Jの冷却と
によ−〕で、スパッタ自体の効率や形成され仏薄膜の品
質も向上する。
「発明の効果]
以上説明(−たよ!)に本発明によれば、ターゲットお
、よび′−ルi・の脱着が簡略化されているため、処理
内、・9変更時におけるターゲット交換作業を効・4゛
(よぐ1°rにとかてき、よってスルーブツトの向−1
−か図れる。また、ターリ′’)l□周囲に配置される
シールF ′:’iも効率よく冷却でき、かつターリ゛
′ントを装る−する際のギズ等も防止できるため、:4
バフ・夕自体の効率やj1ニ成される薄膜の品質も向1
−する。
、よび′−ルi・の脱着が簡略化されているため、処理
内、・9変更時におけるターゲット交換作業を効・4゛
(よぐ1°rにとかてき、よってスルーブツトの向−1
−か図れる。また、ターリ′’)l□周囲に配置される
シールF ′:’iも効率よく冷却でき、かつターリ゛
′ントを装る−する際のギズ等も防止できるため、:4
バフ・夕自体の効率やj1ニ成される薄膜の品質も向1
−する。
第1図は、本発明の・一実施例のλベソタ装置の構成を
説明するための図、第2図はその?ニ一部を・J<す図
、第3図はそのスパッタ装置のシールド゛の脱着方法を
説明するための図である3、 ]・・・・・・半導体つ、′1−ハ、5・・・ ター/
7’ツト、6・・ター ゲット部、7・・・・・ハソキ
ングブレ−1・部、]0・・・・スパッタガン本体、1
1・ ・・保持部+4.12・・・ハウジング、]3・
・・ 絶縁体!1ンク、14・・・・金属リンク゛、1
6 ・ シールド、1′?固定バンド、18・・・・・
冷却シャツrツト。
説明するための図、第2図はその?ニ一部を・J<す図
、第3図はそのスパッタ装置のシールド゛の脱着方法を
説明するための図である3、 ]・・・・・・半導体つ、′1−ハ、5・・・ ター/
7’ツト、6・・ター ゲット部、7・・・・・ハソキ
ングブレ−1・部、]0・・・・スパッタガン本体、1
1・ ・・保持部+4.12・・・ハウジング、]3・
・・ 絶縁体!1ンク、14・・・・金属リンク゛、1
6 ・ シールド、1′?固定バンド、18・・・・・
冷却シャツrツト。
Claims (3)
- (1)気密容器内に配置されたターゲットからスパッタ
リングするスパッタ装置において、 前記ターゲットの支持系に設けられる絶縁体をセラミッ
クスで構成することを特徴とするスパッタ装置。 - (2)気密容器内に配置されたターゲットからスパッタ
リングするスパッタ装置において、 前記ターゲットは、このターゲットの外周側に設けられ
た金属リングにより、高熱伝導性および高電気絶縁性を
有するセラミックス部材からなる絶縁体リングを介して
固定されるように構成したことを特徴とするスパッタ装
置。 - (3)気密容器内に配置されたターゲットの冷却機構を
内臓したスパッタ装置において、 前記ターゲットを冷却することにより、このターゲット
を支持する高熱伝導性および高電気絶縁性を有するセラ
ミックス製支持部材を介して、シールドリングを冷却す
るようにターゲットと一体に構成したことを特徴とする
スパッタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1074565A JP2797111B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | スパッタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1074565A JP2797111B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | スパッタ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02254162A true JPH02254162A (ja) | 1990-10-12 |
JP2797111B2 JP2797111B2 (ja) | 1998-09-17 |
Family
ID=13550868
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1074565A Expired - Fee Related JP2797111B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | スパッタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2797111B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999017336A1 (en) * | 1997-09-29 | 1999-04-08 | Applied Materials, Inc. | Insulating ceramic coated metallic part in a plasma sputter reactor |
CN114351096A (zh) * | 2022-01-26 | 2022-04-15 | 浙江最成半导体科技有限公司 | 溅射靶材、靶材组件及靶材组件的制作方法 |
CN115181947A (zh) * | 2022-06-21 | 2022-10-14 | 无锡尚积半导体科技有限公司 | 一种磁控溅射设备中遮挡件冷却的适配器及磁控溅射设备 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61284571A (ja) * | 1985-06-12 | 1986-12-15 | Tokuda Seisakusho Ltd | 放電電極 |
-
1989
- 1989-03-27 JP JP1074565A patent/JP2797111B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61284571A (ja) * | 1985-06-12 | 1986-12-15 | Tokuda Seisakusho Ltd | 放電電極 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999017336A1 (en) * | 1997-09-29 | 1999-04-08 | Applied Materials, Inc. | Insulating ceramic coated metallic part in a plasma sputter reactor |
CN114351096A (zh) * | 2022-01-26 | 2022-04-15 | 浙江最成半导体科技有限公司 | 溅射靶材、靶材组件及靶材组件的制作方法 |
CN115181947A (zh) * | 2022-06-21 | 2022-10-14 | 无锡尚积半导体科技有限公司 | 一种磁控溅射设备中遮挡件冷却的适配器及磁控溅射设备 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2797111B2 (ja) | 1998-09-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |