JPH02254162A - スパッタ装置 - Google Patents

スパッタ装置

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JPH02254162A
JPH02254162A JP7456589A JP7456589A JPH02254162A JP H02254162 A JPH02254162 A JP H02254162A JP 7456589 A JP7456589 A JP 7456589A JP 7456589 A JP7456589 A JP 7456589A JP H02254162 A JPH02254162 A JP H02254162A
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ring
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cooling
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Yuichi Wada
優一 和田
Jiro Katsuki
二郎 勝木
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、スパッタ装置に関する。
(従来の技術) 一般に、スパッタ装置は、基板例えばN1′−導体ウェ
ハに、例えば金属薄膜を成膜するのに主に用いられる。
このようなスパッタ装置では、気密容器内に設けられた
ターゲットに対向する如< xi’ s体つェハが配置
される。
上記ターゲットは、通常、阻′屯極となるバッキングプ
レートに接合されたユニットとして使用に供され、この
ターゲットユニッj・をスパッタガン本体側の絶縁物か
らなる保持部祠に固定することによってセツティングさ
れる。このター=ゲットコ。
ニットの固定は、保持部材の裏面側から挿入された捩子
等によって行われる。
そして、ターゲットに負の電圧を印加することにより、
気密容器内に導入されたスパッタガスをプラズマ化し、
このプラズマ中の陽イオンを負電圧の電極であるターゲ
ットに衝突させ、ターゲツト材のスパッタリングを行う
。この飛程位置に半導体ウェハを配置することにより、
上記ウェハ表面」二に成膜する。
」二記スパッタリングされた粒子は、ターゲット前方に
位置するよ・)スパッタガン本体の頂部に捩子等によっ
て支持されたシールドによって、飛翔方向を規制されつ
つ゛]′、導体ウェハに処理物を被着し、所望組成の薄
膜を形成する。上記シールドは、ターケントとの間が電
気的に絶縁されるように、アルミナz9のセラミックス
部材を介して設置されている。
(発明が解決しようとする課題) ところで、従来のスパッタ装置においては、」二連した
ようにターゲットを保持部Hの裏側から捩r等によって
固定しているため、ターゲットの交換作業の効率が非常
に悪いという問題かあった。
また、ターゲットの交換の隙には、その前方に位置する
シールドも取り外さなけれはならず、さらに作業効率を
低下させていた。そして、21′導体ウェハ等の多品種
少量化が進む現状においては、例えば品種に応じたウェ
ハのインチサ・rズが異なる場合、上記したような処理
内容の変更作業の効率を高めることがさらに重要になっ
てきている。
また、ターゲットの固定方法については、タゲットの前
方側から捩子等によって固定するように構成されている
ものもあるか、この場合脱盾時にターゲットを1易つけ
る可能性が高く、得られる薄膜品質の低下を招いてしま
う。
形成される薄膜の品質に関しては、上記ターフ。
ットの損傷の他に、ターゲットの前方に配置されるシー
ルドの温度上昇が問題になっている。ずなわし、形成さ
れるプラズマの影響等によって温度が上昇するターゲッ
ト自体はスパッタガン本体側に設けられた冷却機構によ
って冷却されているものの、シールドもプラズマの影響
t5によって昇;Rするため、このシールドからの輻射
熱によってターゲットが局部的に温度上昇し、得られる
薄膜の品質に悪影響を与えている。
本発明はこのような従来技術の課題に対処するためにな
されたものである。そして、本発明の第1の目的は、タ
ーゲットに対する外的な熱の付加および損傷の原因を極
力排除し、得られる薄膜の品質を向上させたスパッタ装
置を提供することである。また、第2の目的は、処理内
容の変更作業の効率を高め、スルーブツトを向上させた
スパッタ装置を提供することである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち第1の発明は、気密容器内に配置されたターゲ
ットからスパッタリングするスパッタ装置において、前
記ターゲットの支持系に設けられる絶縁体をセラミック
スで構成することを特徴としている。
また、第2の発明は、気密容器内に配置されたターゲッ
トからスパッタリングするスパッタ装置において、前記
ターゲットは、このターゲットの外周側に設けられた金
属リングにより、高熱伝導性および高電気絶縁性を有す
るセラミックス部(」からなる絶縁体リンクを介して固
定されるように構成したことを特徴としている。
さらに、第3の発明は、気密容器内に配置されたターゲ
ットの冷却機構を内臓したスパッタ装置において、前記
ターゲットを冷却することにより、このターゲットを支
持する高熱伝導性および高電気絶縁性を有するセラミッ
クス製支持部材を介(2て、シールドリングを冷却する
ようにターゲットと一体に構成したことを特徴としてい
る。
(作 用) 本発明においては、ターゲットの支持系に高熱伝導性お
よび高電気絶縁性を有するセラミックス部材を使用して
いる。これによって、ターゲットの絶縁を行うと共に、
熱的な接続を可能とする。
従って、ターゲット周囲に配置されるシールド等の部品
もスパッタガン本体に設けられた冷却機構によって、タ
ーゲットとともに効率よく冷却する。
また、この:/−ルドは、スパッタガン本体の外周m」
にス・1して一体的に固定することによって接触面積が
増大し、より冷却効率が向上する。
(実施例) 以下、本発明のスパッタ装置をプレートマグネトロン型
スパッタ装置に適用した実施例についで図面を5照して
説明する。
被処理物例えば崖導体つエノ\1は、ウエノ\加熱機横
2を有する試料台3に支持されており、シャッタ4を介
してターゲット5か設けられ、このタゲット5の表面近
傍にプラスマ形成領域の空間か形成されるように所定間
隔をもってターゲット5および試料台3か対向配置され
ている。なお、」1記シャッタ4は半専体ウニ/Xlと
ターゲ・ソト5との間を必要に応してスパッタリングを
遮るものである。
このターゲット5は、形成すべき薄膜の材質に応じて選
択される、例えばアルミニウム、シリコン、タングステ
ン、チタン、モリブデン、クロム、コバルト、ニッケル
、あるいはこれらを含む合金等によって例えば円板状に
形成されたターゲット部6と、このターゲット部6の裏
面側に接合され、熱伝導性および導電性に優れた銅等の
金属部祠からなるバッキングプレー1・部7とから構成
されている。バッキングプレート部7は円j、)容器形
状を有し、開放側端部にターゲット5の取付は部となる
つば部7aが設けられている。
ターゲット5は、バッキングプレ−1・部7に負の直流
電圧を印加することによ−って、カソード電極を構成し
ている。
ターゲラl−5の固定部は、第2図に示すように、まず
バンキングプレー1・部7のつば部7aか保持部材11
の開放側端部11 aに当接される。このバッキングプ
レート部7のつば部7aは、このつば部7aの一方の面
に当接された保持部材11と、ターケラl−5の外周側
に配置されつば部7aの他方の面に当接された絶縁体リ
ング13を介して/Sウジング12と同軸上に配置され
た金属リングコ4とによって挟持されている。そして、
金属リング]4に複数個例えば16個設けられた捩子挿
入穴1、、4 aに挿入された複数の捩−f−15をノ
\ウジング12に設置jられた捩子$ 12 aに捩込
むことによって金属リング14を綿イ・1け、この金属
リング14は絶縁体リング]3、バッキングプレ−1・
7を保持部材11に締付け、ターゲット5は保持部材7
に固定される。また、ハウジング12および金属リング
14と、ターゲット5とか電気的に絶縁体リング13に
よって絶縁されている。
保持部材11および絶縁体リング13は、電気絶縁性お
よび熱伝導性に優れたセラミックス部祠によって形成さ
れており、このようなセラミックス部祠としてはΔJ2
N焼結体例えばンエイバルH(商品名、徳山凸達■製)
やSiC焼結体等が例示される。
また、ターゲット5の正面側には、スパッタリングされ
た粒子の飛翔方向を規制するように、先端が断面り字状
に曲折された円筒状のシールド16が配置されている。
このシールド16は、第3図にも示されているように、
ハウシング]2の外周面に装着されるとともに、固定バ
ンド−7をシルド ント17を締付けることによっ一U 、金属リング14
およびハウジング12と面接触によって一体的に固定さ
れている。このシールド16は、ノ\ウジング12およ
び金属リング14とともに接地されており、グランド電
位に保持されている。
スパッタガン本体10側の保持部材11は、上述したよ
うに、ターゲット5の保持機能を有するとともに、バッ
キングプレー1・部7の裏面とによって冷却ジャケラ!
・コ8を構成しており、これらの間に介在されたQリン
グ19によって水密に保持されている。この冷却ジャケ
ット18は、ノλウジング]2内と保持部材11内に連
結して設けられた冷却媒体導入孔20内に挿入された冷
却媒体導入管21から、その内部に冷却媒体例えば冷却
水を循環させることによって、ハツキングブレト部7裏
面を直接冷却することによってターゲット5を所定の温
度内に維持しているとともに、タケット5周囲に配置さ
れた金属リング]4、シールド]6およびハウジング]
2を冷却している。
金属り〕グ14およびシールド1ζ3の冷却は、熱伝導
性に優れた絶縁体リング13を介し゛C冷却ジャゲット
18内に循環さ4する冷却媒体と熱交換することによ−
)でfiわれる。
また、冷し]1ンヤ″1”ツI・18内には、ターゲッ
ト5前方にj[S成されるプラズマ形成領域を規制する
マグネッi、 ’、、l!2か回転自在に配置されてい
る。このマグネット″22は、ハウジング]2中央部に
固定さ第1だ気′、+; ;/−ル例2ば磁性流体シー
ル23を介1、て駆動機構2.第1こ連結されており、
これによ−)てターゲ・ソ15↑而にほぼ均一にプラズ
マリングが形成されるように回転駆動される。
上記41XS成のスパッタ装置におけるスパッタ操作は
、以j・−の丁順により行われる。
ずなイ)ち、まず゛1−専体ウエバ1およびターゲット
5をそれぞれ所定の位置にセットする。
こ、、ニーσ、この実、14例のスパッタ装置において
は、ターゲラl、 5のセソー斤イングをパッキングブ
し1・部7を1rU、第3:捩子t1−豹するのてはな
く、絶縁体リーグ13および金属リンク14によって挟
持しているため、セソテfシゲ時にターゲット部C)を
傷つけるなとの恐れか大幅に低−ドI2、成膜f:良の
発生を防11−できる。また、外周側からi=’、I定
(7,でいるため、ターゲット5の位置決めか賓易にな
り、1゛′(磁性も向上する。また、ターゲット5の交
換時に必ず取4さなけねばならないシールド10の支持
を固定ヘルド17によっC(−■っているため、このこ
とからも作業性の向−1,が期待できる。ターゲット5
の交換作業は、金属リング14の捩r挿入穴1、、4 
aに挿入された複数の捩子]5を外し、この捩子15に
よっ′C締イ・jけられていた金属り〉グ14および絶
縁体リング13を取外す。そ(、で、クゲット5を交換
j7、新たなター=ゲソl□ 5を保持部材7の所定位
置にセソトシ、バラギンクジ1ノド部7のつば部78七
に絶縁体リング13才5よび金属リンク1,4を順に載
置シ7、捩子15を装置′jシハウジング12に設けら
第1た捩〕゛溝12 aに捩込むことによってターゲ7
1・5 U)交換作業が終了する。
次いで、゛1′導体つ丁ハ1およびターリ″′ツト!3
を支持1−た法帖で、これらか配置さ才する真空容器(
図示せず)内を例文は10−1〜10’ Torr程度
の真空度まで荒引きする。次に、上記真空容器内の真空
度を1O−5〜1o−8Tor+・台の高真空まで排気
し2、その後、この真空容器内にス・fツタガス、たと
7〒4ばArガス庖導入し、真空容器内を1.0’ =
 1.0−3Torr台に設定する。そして、ターゲッ
ト5に負電圧を印加することによって、このターゲット
5前力のスパッタ面側にプラズマを)[3成12、さら
にこのターゲラI−5の裏面側にてマグネット22を回
転駆動することにより、このプラズマを磁界によって閉
込めたプラズマリングを形成する。このプラズマリング
の形成によりイオン化率力・向」ニジ、ターゲット・5
のスペッタ面での所定のエロージョンエリア′にてスパ
ッタが実行され、半導体ウェハ]」72面に所望組成の
薄膜が成膜される。
ここで、り〜ゲット5は形成されたプラズマやr1+加
電圧に4よってi’i’uj度か−1,h’するか、冷
却ジャゲット13うによって冷却されているため、所定
の温度内に維持されろ。
また、シールド16や金属リング1,1もプラズマの影
響によって温度が上、+77、 L、その法帖のHE 
:;lではシールド16などからの輻射熱(ごJ−っ′
Cタゲソト5の局部的な温度」−Hを招いて12まうが
、この実施例のスペック装置h:においては、金属jl
 :。
グ14は75Hi熱伝導性のセラミックス+(かIF・
なる絶縁体リング13によっ−C冷却ジ八へy I□ 
1.8 、J−仏的に接続されており、シ・−ルF’ 
16は絶i1、体すシグ]−3およびハウジング12を
介して冷却ジャケット18と熱的に接続されているため
、絶縁体11ング]3を介し2て熱交換か行わfr、?
9却される。ここで、この実施例で保持部材11や絶縁
体リング〕3の+4質として使用される AρNセラミ
ックス例えばンJイペルM1..ll、従来、この種の
装Bの絶縁部材とし7て使用さイ]てきたΔR203セ
ラミツクス等に比べて熱伝導率が約10倍と高く、これ
によって充分に冷却を行うことが1−IJ能となる。ま
た、シールド1−6はハウシング12に対して面接触に
よって一体的に接続されているため、効率よく冷却され
る。
、−111′:、により′1・丁、ター ゲット5(、
′り局部的な?MλJ誌1冒かl1ji +[−さオN
もと吉もに、゛・−ルF16や金属(、ゲト1、さらに
・\コ”・〕〜シシ゛12の熱による劣(L、や溶融か
1ilj dさイ1、安定l−で゛スペノタト’t f
;を行) 、二 、1.か 1−1J’ 1止 と 、
・1→: 乙。
このよう1:1.−8の実施例のスベ・・・夕装置は、
夕・5゛ ・ソ 1・「S  の交j奨イ′、; ;q
’、、 Il、’j の 功宇か、 タ −ケ゛ ・ソ
 1・5自体の脱すのBy、5さとシールド16の脱6
の容易さから向−1−519、現在のように多品種化さ
れた薄膜の11′:成に1.−1分に対応されたもので
ある。
またS5“−11ツト・5の交換時における作業性の改
J−J r5、’y’−”y’ ツ) 5 ノ周IHJ
 ニ装置 h し6 :>−ルド1.6 ’Jの冷却と
によ−〕で、スパッタ自体の効率や形成され仏薄膜の品
質も向上する。
「発明の効果] 以上説明(−たよ!)に本発明によれば、ターゲットお
、よび′−ルi・の脱着が簡略化されているため、処理
内、・9変更時におけるターゲット交換作業を効・4゛
(よぐ1°rにとかてき、よってスルーブツトの向−1
−か図れる。また、ターリ′’)l□周囲に配置される
シールF ′:’iも効率よく冷却でき、かつターリ゛
′ントを装る−する際のギズ等も防止できるため、:4
バフ・夕自体の効率やj1ニ成される薄膜の品質も向1
−する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の・一実施例のλベソタ装置の構成を
説明するための図、第2図はその?ニ一部を・J<す図
、第3図はそのスパッタ装置のシールド゛の脱着方法を
説明するための図である3、 ]・・・・・・半導体つ、′1−ハ、5・・・ ター/
7’ツト、6・・ター ゲット部、7・・・・・ハソキ
ングブレ−1・部、]0・・・・スパッタガン本体、1
1・ ・・保持部+4.12・・・ハウジング、]3・
・・ 絶縁体!1ンク、14・・・・金属リンク゛、1
6 ・ シールド、1′?固定バンド、18・・・・・
冷却シャツrツト。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)気密容器内に配置されたターゲットからスパッタ
    リングするスパッタ装置において、 前記ターゲットの支持系に設けられる絶縁体をセラミッ
    クスで構成することを特徴とするスパッタ装置。
  2. (2)気密容器内に配置されたターゲットからスパッタ
    リングするスパッタ装置において、 前記ターゲットは、このターゲットの外周側に設けられ
    た金属リングにより、高熱伝導性および高電気絶縁性を
    有するセラミックス部材からなる絶縁体リングを介して
    固定されるように構成したことを特徴とするスパッタ装
    置。
  3. (3)気密容器内に配置されたターゲットの冷却機構を
    内臓したスパッタ装置において、 前記ターゲットを冷却することにより、このターゲット
    を支持する高熱伝導性および高電気絶縁性を有するセラ
    ミックス製支持部材を介して、シールドリングを冷却す
    るようにターゲットと一体に構成したことを特徴とする
    スパッタ装置。
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WO1999017336A1 (en) * 1997-09-29 1999-04-08 Applied Materials, Inc. Insulating ceramic coated metallic part in a plasma sputter reactor
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CN115181947A (zh) * 2022-06-21 2022-10-14 无锡尚积半导体科技有限公司 一种磁控溅射设备中遮挡件冷却的适配器及磁控溅射设备

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