JPH02253168A - 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ - Google Patents
液晶表示パネルの点燈検査用プローブInfo
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- JPH02253168A JPH02253168A JP7612189A JP7612189A JPH02253168A JP H02253168 A JPH02253168 A JP H02253168A JP 7612189 A JP7612189 A JP 7612189A JP 7612189 A JP7612189 A JP 7612189A JP H02253168 A JPH02253168 A JP H02253168A
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、チップオングラス液晶表示パネルの点燈検査
用プローブに関する。
用プローブに関する。
[従来の技術]
従来のチップオングラス液晶表示パネルの点燈検査は液
晶表示用JCチップの表面か、液晶表示パネルの電極面
のどちらか一方に異方性の接着剤を塗布し液晶表示用I
Cチップをフェイスダウンして所定の位置へ給材して、
加圧をしながら、異方性の接着剤を加熱ないし紫外線硬
化により固着後、液晶表示信号により液晶表示パネルの
点燈検査をしていた。
晶表示用JCチップの表面か、液晶表示パネルの電極面
のどちらか一方に異方性の接着剤を塗布し液晶表示用I
Cチップをフェイスダウンして所定の位置へ給材して、
加圧をしながら、異方性の接着剤を加熱ないし紫外線硬
化により固着後、液晶表示信号により液晶表示パネルの
点燈検査をしていた。
〔発明が解決しようとする課題]
しかし、従来技術では液晶表示装置の製品上で点燈検査
より液晶表示パネル内の配向状態、電極の欠陥があり品
質が悪く歩留りが低下していた。
より液晶表示パネル内の配向状態、電極の欠陥があり品
質が悪く歩留りが低下していた。
チップオングラス液晶表示パネルの量産性にも乏しく、
コストの高い商品になった。
コストの高い商品になった。
そこで従来のこのような問題を解決するために、本発明
の目的とするところはチップオングラス液晶表示パネル
の電極面にICチップを固着する前にチップオングラス
液晶表示パネルを検査するブロービング方法として、バ
ンプ付ICを用いた液晶表示パネルの点燈検査用プロー
ブを提供するところにある。
の目的とするところはチップオングラス液晶表示パネル
の電極面にICチップを固着する前にチップオングラス
液晶表示パネルを検査するブロービング方法として、バ
ンプ付ICを用いた液晶表示パネルの点燈検査用プロー
ブを提供するところにある。
[課題を解決するだめの手段]
本発明の液晶表示パネルの点燈検査用プローブは液晶表
示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接ICチップを実
装する(以下チップオンガラスという)液晶表示パネル
の点燈検査において、ICチップを実装する代わりにバ
ンプを形成したICチップを、前記チップオンガラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触させることによ
り、点燈検査をすることを特徴とする。
示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接ICチップを実
装する(以下チップオンガラスという)液晶表示パネル
の点燈検査において、ICチップを実装する代わりにバ
ンプを形成したICチップを、前記チップオンガラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触させることによ
り、点燈検査をすることを特徴とする。
[作 用]
本発明の」二足の構成によれば、チップオングラス液晶
表示パネルの狭ピッチ電極にバンプ付ICチップを用い
、所定の位置合わせを行ない加圧コンタクトにより液晶
表示信号を入力すれば、チップオングラス液晶表示パネ
ルの点燈検査用プロブに使用てきる。
表示パネルの狭ピッチ電極にバンプ付ICチップを用い
、所定の位置合わせを行ない加圧コンタクトにより液晶
表示信号を入力すれば、チップオングラス液晶表示パネ
ルの点燈検査用プロブに使用てきる。
[実 施 例]
以下に本°発明の実施例を図面にもとづいて説明する。
第1図は、本発明による液晶表示パネルの点燈検査用プ
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図である。点燈検査用プローブ保持板6に
ビンブローブソケッ1〜5、スプリングプローブ10、
バンプ3付ICチツプ4を保持し、チップオングラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極の表示入力信号授受電極部
]■、表示出力信号授受電極部8に加圧コンタクトをし
、チップオングラス液晶表示パネルの上基板ガラスlと
下基板ガラス9同志を接着剤2で挟持固着して中に注入
されている液晶層7を配向さぜ点燈検査をする。第2図
は本発明の一実施例を示し、チップオングラス液晶表示
パネルの点燈検査装置である。チップオングラス液晶表
示パネル1.9の狭ピッチ電極部11 a、8aが形成
されている四方向の電極部に点燈検査用プローブ5.4
aを所定の位置に合せをして加圧コンタクトをすること
により、液晶表示パネルに検査用パターン表示により検
査ができるチップオングラス液晶表示パネル点燈検査装
置である。
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図である。点燈検査用プローブ保持板6に
ビンブローブソケッ1〜5、スプリングプローブ10、
バンプ3付ICチツプ4を保持し、チップオングラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極の表示入力信号授受電極部
]■、表示出力信号授受電極部8に加圧コンタクトをし
、チップオングラス液晶表示パネルの上基板ガラスlと
下基板ガラス9同志を接着剤2で挟持固着して中に注入
されている液晶層7を配向さぜ点燈検査をする。第2図
は本発明の一実施例を示し、チップオングラス液晶表示
パネルの点燈検査装置である。チップオングラス液晶表
示パネル1.9の狭ピッチ電極部11 a、8aが形成
されている四方向の電極部に点燈検査用プローブ5.4
aを所定の位置に合せをして加圧コンタクトをすること
により、液晶表示パネルに検査用パターン表示により検
査ができるチップオングラス液晶表示パネル点燈検査装
置である。
このようにしてビンプローブソケット5、スプリングプ
ローブ10と、バンプ3付ICチツプ4によりチップオ
ングラス液晶表示パネルの点燈検査用プローブとして適
用できる。点燈検査用プロブの性能は表示検査の中から
液晶表示装置の表示と同等な表示機能の検査ができ、電
極部、表示機能への影響はほとんどないことを実験結果
から得た。
ローブ10と、バンプ3付ICチツプ4によりチップオ
ングラス液晶表示パネルの点燈検査用プローブとして適
用できる。点燈検査用プロブの性能は表示検査の中から
液晶表示装置の表示と同等な表示機能の検査ができ、電
極部、表示機能への影響はほとんどないことを実験結果
から得た。
[発明の効果]
以」二述べたよう5本発明によれば、チップオングラス
液晶表示パネルの点燈検査用プローブとしてバンプを形
成したICチップをプローブに用いることにより、液晶
表示パネルの歩留向上、コストダウン、表示品質が向上
する。
液晶表示パネルの点燈検査用プローブとしてバンプを形
成したICチップをプローブに用いることにより、液晶
表示パネルの歩留向上、コストダウン、表示品質が向上
する。
・上基板ガラス
・接着剤
バンプ
・ICチップ
・ピンブローブソケッテ
点燈検査用プローブ保持板
・・液晶層
・・表示出力信号授受電極部
・・下基板ガラス
・・スプリングプローブ
・・表示入力信号授受電極部
以上
1 ・ ・ ・ ・
3 ・ ・ ・ ・ ・
4、4 a ・ ・
5 ・ ・ ・
6 ・ ・ ・
7 ・ ・
8、8 a ・
9 ・
10 ・ ・ ・
11 、1la
第1図は本発明1こよる液晶表示パネルの点燈検査用プ
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図。 第2図は本発明の一実施例を示したデツプオングラス液
晶表示パネルの点燈検査装置の斜視図。 出願人 セイコーエプソン株式会社
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図。 第2図は本発明の一実施例を示したデツプオングラス液
晶表示パネルの点燈検査装置の斜視図。 出願人 セイコーエプソン株式会社
Claims (1)
- (1)液晶表示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接I
Cチップを実装する(以下チップオンガラスという)液
晶表示パネルの点燈検査において、ICチップを実装す
る代わりにバンプを形成したICチップを、前記チップ
オンガラス液晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触さ
せることにより点燈検査をすることを特徴とする液晶表
示パネルの点燈検査用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7612189A JPH02253168A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7612189A JPH02253168A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02253168A true JPH02253168A (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=13596085
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7612189A Pending JPH02253168A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02253168A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0495929A (ja) * | 1990-08-08 | 1992-03-27 | Fujitsu Ltd | アクティブプローブを用いた試験装置と試験方法 |
WO1998010298A1 (fr) * | 1996-09-02 | 1998-03-12 | Seiko Epson Corporation | Dispositif d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides, procede d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides et procede de fabrication d'un panneau d'affichage a cristaux liquides |
US6181145B1 (en) | 1997-10-13 | 2001-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Probe card |
-
1989
- 1989-03-28 JP JP7612189A patent/JPH02253168A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0495929A (ja) * | 1990-08-08 | 1992-03-27 | Fujitsu Ltd | アクティブプローブを用いた試験装置と試験方法 |
WO1998010298A1 (fr) * | 1996-09-02 | 1998-03-12 | Seiko Epson Corporation | Dispositif d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides, procede d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides et procede de fabrication d'un panneau d'affichage a cristaux liquides |
KR100518161B1 (ko) * | 1996-09-02 | 2005-12-01 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 액정표시패널의검사장치,액정표시패널의검사방법및액정패널의제조방법 |
US6181145B1 (en) | 1997-10-13 | 2001-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Probe card |
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