JPH02253168A - 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ - Google Patents

液晶表示パネルの点燈検査用プローブ

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JPH02253168A
JPH02253168A JP7612189A JP7612189A JPH02253168A JP H02253168 A JPH02253168 A JP H02253168A JP 7612189 A JP7612189 A JP 7612189A JP 7612189 A JP7612189 A JP 7612189A JP H02253168 A JPH02253168 A JP H02253168A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal display
chip
probe
display panel
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Pending
Application number
JP7612189A
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English (en)
Inventor
Kozo Gyoda
幸三 行田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野1 本発明は、チップオングラス液晶表示パネルの点燈検査
用プローブに関する。
[従来の技術] 従来のチップオングラス液晶表示パネルの点燈検査は液
晶表示用JCチップの表面か、液晶表示パネルの電極面
のどちらか一方に異方性の接着剤を塗布し液晶表示用I
Cチップをフェイスダウンして所定の位置へ給材して、
加圧をしながら、異方性の接着剤を加熱ないし紫外線硬
化により固着後、液晶表示信号により液晶表示パネルの
点燈検査をしていた。
〔発明が解決しようとする課題] しかし、従来技術では液晶表示装置の製品上で点燈検査
より液晶表示パネル内の配向状態、電極の欠陥があり品
質が悪く歩留りが低下していた。
チップオングラス液晶表示パネルの量産性にも乏しく、
コストの高い商品になった。
そこで従来のこのような問題を解決するために、本発明
の目的とするところはチップオングラス液晶表示パネル
の電極面にICチップを固着する前にチップオングラス
液晶表示パネルを検査するブロービング方法として、バ
ンプ付ICを用いた液晶表示パネルの点燈検査用プロー
ブを提供するところにある。
[課題を解決するだめの手段] 本発明の液晶表示パネルの点燈検査用プローブは液晶表
示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接ICチップを実
装する(以下チップオンガラスという)液晶表示パネル
の点燈検査において、ICチップを実装する代わりにバ
ンプを形成したICチップを、前記チップオンガラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触させることによ
り、点燈検査をすることを特徴とする。
[作 用] 本発明の」二足の構成によれば、チップオングラス液晶
表示パネルの狭ピッチ電極にバンプ付ICチップを用い
、所定の位置合わせを行ない加圧コンタクトにより液晶
表示信号を入力すれば、チップオングラス液晶表示パネ
ルの点燈検査用プロブに使用てきる。
[実 施 例] 以下に本°発明の実施例を図面にもとづいて説明する。
第1図は、本発明による液晶表示パネルの点燈検査用プ
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図である。点燈検査用プローブ保持板6に
ビンブローブソケッ1〜5、スプリングプローブ10、
バンプ3付ICチツプ4を保持し、チップオングラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極の表示入力信号授受電極部
]■、表示出力信号授受電極部8に加圧コンタクトをし
、チップオングラス液晶表示パネルの上基板ガラスlと
下基板ガラス9同志を接着剤2で挟持固着して中に注入
されている液晶層7を配向さぜ点燈検査をする。第2図
は本発明の一実施例を示し、チップオングラス液晶表示
パネルの点燈検査装置である。チップオングラス液晶表
示パネル1.9の狭ピッチ電極部11 a、8aが形成
されている四方向の電極部に点燈検査用プローブ5.4
aを所定の位置に合せをして加圧コンタクトをすること
により、液晶表示パネルに検査用パターン表示により検
査ができるチップオングラス液晶表示パネル点燈検査装
置である。
このようにしてビンプローブソケット5、スプリングプ
ローブ10と、バンプ3付ICチツプ4によりチップオ
ングラス液晶表示パネルの点燈検査用プローブとして適
用できる。点燈検査用プロブの性能は表示検査の中から
液晶表示装置の表示と同等な表示機能の検査ができ、電
極部、表示機能への影響はほとんどないことを実験結果
から得た。
[発明の効果] 以」二述べたよう5本発明によれば、チップオングラス
液晶表示パネルの点燈検査用プローブとしてバンプを形
成したICチップをプローブに用いることにより、液晶
表示パネルの歩留向上、コストダウン、表示品質が向上
する。
・上基板ガラス ・接着剤 バンプ ・ICチップ ・ピンブローブソケッテ 点燈検査用プローブ保持板 ・・液晶層 ・・表示出力信号授受電極部 ・・下基板ガラス ・・スプリングプローブ ・・表示入力信号授受電極部 以上 1 ・ ・ ・ ・ 3 ・ ・ ・ ・ ・ 4、4 a ・ ・ 5 ・ ・ ・ 6 ・   ・ ・ 7     ・ ・ 8、8 a ・ 9 ・ 10   ・ ・ ・ 11 、1la
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明1こよる液晶表示パネルの点燈検査用プ
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図。 第2図は本発明の一実施例を示したデツプオングラス液
晶表示パネルの点燈検査装置の斜視図。 出願人 セイコーエプソン株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)液晶表示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接I
    Cチップを実装する(以下チップオンガラスという)液
    晶表示パネルの点燈検査において、ICチップを実装す
    る代わりにバンプを形成したICチップを、前記チップ
    オンガラス液晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触さ
    せることにより点燈検査をすることを特徴とする液晶表
    示パネルの点燈検査用プローブ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0495929A (ja) * 1990-08-08 1992-03-27 Fujitsu Ltd アクティブプローブを用いた試験装置と試験方法
WO1998010298A1 (fr) * 1996-09-02 1998-03-12 Seiko Epson Corporation Dispositif d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides, procede d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides et procede de fabrication d'un panneau d'affichage a cristaux liquides
US6181145B1 (en) 1997-10-13 2001-01-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Probe card

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