JPH02253168A - 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ - Google Patents
液晶表示パネルの点燈検査用プローブInfo
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- JPH02253168A JPH02253168A JP7612189A JP7612189A JPH02253168A JP H02253168 A JPH02253168 A JP H02253168A JP 7612189 A JP7612189 A JP 7612189A JP 7612189 A JP7612189 A JP 7612189A JP H02253168 A JPH02253168 A JP H02253168A
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- Japan
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- liquid crystal
- crystal display
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野１
本発明は、チップオングラス液晶表示パネルの点燈検査
用プローブに関する。
用プローブに関する。
［従来の技術］
従来のチップオングラス液晶表示パネルの点燈検査は液
晶表示用ＪＣチップの表面か、液晶表示パネルの電極面
のどちらか一方に異方性の接着剤を塗布し液晶表示用Ｉ
Ｃチップをフェイスダウンして所定の位置へ給材して、
加圧をしながら、異方性の接着剤を加熱ないし紫外線硬
化により固着後、液晶表示信号により液晶表示パネルの
点燈検査をしていた。
晶表示用ＪＣチップの表面か、液晶表示パネルの電極面
のどちらか一方に異方性の接着剤を塗布し液晶表示用Ｉ
Ｃチップをフェイスダウンして所定の位置へ給材して、
加圧をしながら、異方性の接着剤を加熱ないし紫外線硬
化により固着後、液晶表示信号により液晶表示パネルの
点燈検査をしていた。
〔発明が解決しようとする課題］
しかし、従来技術では液晶表示装置の製品上で点燈検査
より液晶表示パネル内の配向状態、電極の欠陥があり品
質が悪く歩留りが低下していた。
より液晶表示パネル内の配向状態、電極の欠陥があり品
質が悪く歩留りが低下していた。
チップオングラス液晶表示パネルの量産性にも乏しく、
コストの高い商品になった。
コストの高い商品になった。
そこで従来のこのような問題を解決するために、本発明
の目的とするところはチップオングラス液晶表示パネル
の電極面にＩＣチップを固着する前にチップオングラス
液晶表示パネルを検査するブロービング方法として、バ
ンプ付ＩＣを用いた液晶表示パネルの点燈検査用プロー
ブを提供するところにある。
の目的とするところはチップオングラス液晶表示パネル
の電極面にＩＣチップを固着する前にチップオングラス
液晶表示パネルを検査するブロービング方法として、バ
ンプ付ＩＣを用いた液晶表示パネルの点燈検査用プロー
ブを提供するところにある。
［課題を解決するだめの手段］
本発明の液晶表示パネルの点燈検査用プローブは液晶表
示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接ＩＣチップを実
装する（以下チップオンガラスという）液晶表示パネル
の点燈検査において、ＩＣチップを実装する代わりにバ
ンプを形成したＩＣチップを、前記チップオンガラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触させることによ
り、点燈検査をすることを特徴とする。
示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接ＩＣチップを実
装する（以下チップオンガラスという）液晶表示パネル
の点燈検査において、ＩＣチップを実装する代わりにバ
ンプを形成したＩＣチップを、前記チップオンガラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触させることによ
り、点燈検査をすることを特徴とする。
［作 用］
本発明の」二足の構成によれば、チップオングラス液晶
表示パネルの狭ピッチ電極にバンプ付ＩＣチップを用い
、所定の位置合わせを行ない加圧コンタクトにより液晶
表示信号を入力すれば、チップオングラス液晶表示パネ
ルの点燈検査用プロブに使用てきる。
表示パネルの狭ピッチ電極にバンプ付ＩＣチップを用い
、所定の位置合わせを行ない加圧コンタクトにより液晶
表示信号を入力すれば、チップオングラス液晶表示パネ
ルの点燈検査用プロブに使用てきる。
［実 施 例］
以下に本°発明の実施例を図面にもとづいて説明する。
第１図は、本発明による液晶表示パネルの点燈検査用プ
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図である。点燈検査用プローブ保持板６に
ビンブローブソケッ１〜５、スプリングプローブ１０、
バンプ３付ＩＣチツプ４を保持し、チップオングラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極の表示入力信号授受電極部
］■、表示出力信号授受電極部８に加圧コンタクトをし
、チップオングラス液晶表示パネルの上基板ガラスｌと
下基板ガラス９同志を接着剤２で挟持固着して中に注入
されている液晶層７を配向さぜ点燈検査をする。第２図
は本発明の一実施例を示し、チップオングラス液晶表示
パネルの点燈検査装置である。チップオングラス液晶表
示パネル１．９の狭ピッチ電極部１１ ａ、８ａが形成
されている四方向の電極部に点燈検査用プローブ５．４
ａを所定の位置に合せをして加圧コンタクトをすること
により、液晶表示パネルに検査用パターン表示により検
査ができるチップオングラス液晶表示パネル点燈検査装
置である。
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図である。点燈検査用プローブ保持板６に
ビンブローブソケッ１〜５、スプリングプローブ１０、
バンプ３付ＩＣチツプ４を保持し、チップオングラス液
晶表示パネルの狭ピッチ電極の表示入力信号授受電極部
］■、表示出力信号授受電極部８に加圧コンタクトをし
、チップオングラス液晶表示パネルの上基板ガラスｌと
下基板ガラス９同志を接着剤２で挟持固着して中に注入
されている液晶層７を配向さぜ点燈検査をする。第２図
は本発明の一実施例を示し、チップオングラス液晶表示
パネルの点燈検査装置である。チップオングラス液晶表
示パネル１．９の狭ピッチ電極部１１ ａ、８ａが形成
されている四方向の電極部に点燈検査用プローブ５．４
ａを所定の位置に合せをして加圧コンタクトをすること
により、液晶表示パネルに検査用パターン表示により検
査ができるチップオングラス液晶表示パネル点燈検査装
置である。
このようにしてビンプローブソケット５、スプリングプ
ローブ１０と、バンプ３付ＩＣチツプ４によりチップオ
ングラス液晶表示パネルの点燈検査用プローブとして適
用できる。点燈検査用プロブの性能は表示検査の中から
液晶表示装置の表示と同等な表示機能の検査ができ、電
極部、表示機能への影響はほとんどないことを実験結果
から得た。
ローブ１０と、バンプ３付ＩＣチツプ４によりチップオ
ングラス液晶表示パネルの点燈検査用プローブとして適
用できる。点燈検査用プロブの性能は表示検査の中から
液晶表示装置の表示と同等な表示機能の検査ができ、電
極部、表示機能への影響はほとんどないことを実験結果
から得た。
［発明の効果］
以」二述べたよう５本発明によれば、チップオングラス
液晶表示パネルの点燈検査用プローブとしてバンプを形
成したＩＣチップをプローブに用いることにより、液晶
表示パネルの歩留向上、コストダウン、表示品質が向上
する。
液晶表示パネルの点燈検査用プローブとしてバンプを形
成したＩＣチップをプローブに用いることにより、液晶
表示パネルの歩留向上、コストダウン、表示品質が向上
する。
・上基板ガラス
・接着剤
バンプ
・ＩＣチップ
・ピンブローブソケッテ
点燈検査用プローブ保持板
・・液晶層
・・表示出力信号授受電極部
・・下基板ガラス
・・スプリングプローブ
・・表示入力信号授受電極部
以上
１ ・ ・ ・ ・
３ ・ ・ ・ ・ ・
４、４ ａ ・ ・
５ ・ ・ ・
６ ・ ・ ・
７ ・ ・
８、８ ａ ・
９ ・
１０ ・ ・ ・
１１ 、１ｌａ
第１図は本発明１こよる液晶表示パネルの点燈検査用プ
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図。 第２図は本発明の一実施例を示したデツプオングラス液
晶表示パネルの点燈検査装置の斜視図。 出願人 セイコーエプソン株式会社
ローブを構成するプローブとチップオングラス液晶表示
パネルの断面図。 第２図は本発明の一実施例を示したデツプオングラス液
晶表示パネルの点燈検査装置の斜視図。 出願人 セイコーエプソン株式会社
Claims (1)
- （１）液晶表示用パネルガラスの狭ピッチ電極に直接Ｉ
Ｃチップを実装する（以下チップオンガラスという）液
晶表示パネルの点燈検査において、ＩＣチップを実装す
る代わりにバンプを形成したＩＣチップを、前記チップ
オンガラス液晶表示パネルの狭ピッチ電極に直接接触さ
せることにより点燈検査をすることを特徴とする液晶表
示パネルの点燈検査用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7612189A JPH02253168A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7612189A JPH02253168A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02253168A true JPH02253168A (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=13596085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7612189A Pending JPH02253168A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 液晶表示パネルの点燈検査用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02253168A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0495929A (ja) * | 1990-08-08 | 1992-03-27 | Fujitsu Ltd | アクティブプローブを用いた試験装置と試験方法 |
| WO1998010298A1 (fr) * | 1996-09-02 | 1998-03-12 | Seiko Epson Corporation | Dispositif d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides, procede d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides et procede de fabrication d'un panneau d'affichage a cristaux liquides |
| US6181145B1 (en) | 1997-10-13 | 2001-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Probe card |
-
1989
- 1989-03-28 JP JP7612189A patent/JPH02253168A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0495929A (ja) * | 1990-08-08 | 1992-03-27 | Fujitsu Ltd | アクティブプローブを用いた試験装置と試験方法 |
| WO1998010298A1 (fr) * | 1996-09-02 | 1998-03-12 | Seiko Epson Corporation | Dispositif d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides, procede d'inspection d'un panneau d'affichage a cristaux liquides et procede de fabrication d'un panneau d'affichage a cristaux liquides |
| KR100518161B1 (ko) * | 1996-09-02 | 2005-12-01 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 액정표시패널의검사장치,액정표시패널의검사방법및액정패널의제조방법 |
| US6181145B1 (en) | 1997-10-13 | 2001-01-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Probe card |
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