JPH02249042A - 構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測装置 - Google Patents

構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測装置

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JPH02249042A
JPH02249042A JP1071004A JP7100489A JPH02249042A JP H02249042 A JPH02249042 A JP H02249042A JP 1071004 A JP1071004 A JP 1071004A JP 7100489 A JP7100489 A JP 7100489A JP H02249042 A JPH02249042 A JP H02249042A
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JP
Japan
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module
modules
runtime
characteristic
stack
Prior art date
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Pending
Application number
JP1071004A
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English (en)
Inventor
Tsuyoshi Mogi
茂木 強
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、階層的に構造化された複数のモジュールに
ついて実行時の特性計測を行なう構造化プログラミング
モジュールの実行時特性計測装置に関し、特に複数モジ
ュールの実行時特性を高速且つ正確に計測することがで
きる構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測
装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の構造化プログラミングモジュールの実行
時特性計測装置として第3図及び第4図に示すものがあ
った。第3図は従来装置の概略構成図、第4図は従来装
置の動作フローチャートを示す。上記各図において従来
の構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測装
置は、装置全体を制御するシステム(1) と、該シス
テム(1)の制御に基づいて所定のプログラム動作を実
行し、階層的に構造化された複数のモジュールA−B・
C(2) 、 (3) 、 (4) と、該複数のモジ
ュールA−B・C(2) 、 (3) 、 (4)にお
ける任意の下位モジュールの呼出し時に、該下位モジュ
ールの呼び出し回数、実行開始時等の特性を計測する前
処理ルーチン(5)と、該前処理ルーチン(5)にて計
測された下位モジュール実行時等の特性の内容を格納す
る実行時特性内容テーブル(71)と、上記前処理ルー
チン(5)にて計測されたモジュールの実行時等の実行
時特性を計測する後処理ルーギン(6)とを備える構成
である。なお、上記前処理ルーチン(5)及び後処理ル
ーチン(6)は、相互の作用に基づき実行時特性内容計
測装置を構成するものである。
次に、上記構成に基づ〈従来装置の動作について説明す
る。まず、システム(1)が動作中にシステムプログラ
ム(x+1)においてモジュールA(2)の呼出し命令
がある場合、この呼出し命令に基づいてモジュールA(
2)を呼出す。この呼出されたモジュールA(2)が動
作を開始し、戻り番地Aに番地をセットじ、前処理ルー
チン(5)を呼出す(ステップ1)。この呼出された前
処理ルーチン(5)が実行され、モジュールA(2)の
呼出し回数や実行開始時間等をスタックに格納する動作
を行なう(ステップ2)。この前処理ルーチン(5)の
終了後に、再度モジュールA(2)に戻りこのモジュー
ルA(2)を実行しこの実行により次の命令が有か否か
が判断される(ステップ3)。このステップ3にて次の
命令が「有」と判断された場合には、さらに次の命令が
後処理ルーチン(6)か下位モジュールかが判断される
(ステップ31)。後処理ルーチン(6)と判断された
場合には、後処理ルーチン(6)を実行し、実行時間等
の実行時特性を計測して実行時特性内容テーブル(71
)に格納する(ステップ32)。他方、下位モジュール
と判断された場合には、下位モジュールの呼出しか否か
が判断され(ステップ4)、下位モジュール呼出しと判
断された場合には下位モジュールを呼出しくステップ6
)、再度前記ステップ1に戻って実行される。また、下
位モジュール呼出しがないと判断された場合には次の命
令が実行される(ステップ5)。
さらに、上記ステップ3において次の命令がないと判断
された場合には、呼出しモジュールがシステムか否かが
判断される(ステップ9)。システムでないと判断され
た場合には、呼出しモジュールに戻り(ステップ10)
、前記ステップ3の動作を再度繰り返すこととなる。他
方、システムと判断された場合には動作が終了する。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の構造化プログラミングモジュールの実行時特性計
測装置は以上のように構成されているので、モジュール
の総ての出口点に後処理ルーチンの呼出しを挿入するこ
とが必要で、出口点が多い場合などに後処理ルーチンの
呼出しで挿入失敗等を生じてモジュールの実行時特性が
正しく計測できないなどの課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、モジュールの全ての出口点に後処理ルーチンの
呼出しを挿入することを不用にするとともに、常に正し
くモジュールの実行時特性を計測できる構造化プログラ
ミングモジュールの実行時特性計測装置を得ることを目
的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る構造化プログラミングモジュールの実行
時特性計測装置は、階層的に構造化された複数のモジュ
ールにおける下位モジュールの呼出し時及び下位モジュ
ールからの戻り時に該モジュールの実行時特性を実行時
特性計測手段にて計測し、該計測した実行時特性の内容
を実行時特性内容格納手段に格納し、上記下位モジュー
ルの呼出し時にモジュールの戻り番地を後入れ先出しの
順序でスタックに記憶し、上記実行時特性計測手段の計
測後に上記スタックを参照して順次上位モジュールに戻
るものである。
〔作用) この発明における構造化プログラミングモジュールの実
行時特性計測装置は、実行時特性計測手段の特性計測開
始時に戻り番地をスタックに格納し、特性計測終了時に
格納された戻り番地を実行時特性計測手段により後入れ
先出しく LIFO)にて読出し、上位モジュールに戻
る際に戻り番地を順次使用する。
(実施例) 以下、この発明の一実施例を第1図及び第2図に基づい
て説明する。この第1図は本実施例装置の概略構成図、
第2図は第1図記載の実施例装置の動作フローチャート
を示す。上記各図において本実施例に係る構造化プログ
ラミングモジュールの実行時特性計測装置は、装置全体
を制御するシステム(1)と、該システム(1)の制御
に基づいて所定のプログラム動作を実行し、階層的に構
造化された複数のモジュールA −B −C(2)、(
3)、(4)と、該複数のモジュールA −B −C(
2)、(3)、(4)における任意の下位モジュールの
呼出し時に、該下位モジュールの呼び出し回数、実行開
始時等の特性を計測する前処理ルーチン(5)と、該前
記処理ルーチン(5)にて計測されたモジュールの実行
時間等の実行時特性を計測する後処理ルーチン(6)と
、上記前処理ルーチン(5)の制御に基づき戻り番地が
後入れ先出しくLIFO)により格納するスタック(7
)と、上記前処理ルーチン(5)及び後処理ルーチン(
6)にて計測された下位モジュール実行時特性の内容を
格納する実行時特性内容テーブル(71)とを備え、上
記スタック(7)の戻り番地に基づいて後処理ルーチン
(6)の終了後に上位モジュールへの移行又は終了を行
なう構成である。
次に上記構成に基づく本実施例装置の動作について説明
する。まず、システム(1)が制御動作を開始し、シス
テム(1)のシステムプログラム(x+1)においてモ
ジュールA(2)を呼出す。この呼出されたモジュール
A(2)は動作を開始して戻り番地Aに番地をセットし
、前処理ルーチン(5)を呼出す(ステップ1)。この
前処理ルーチン(5)はモジュールA(2)に関する特
性を計測しくステップ21)上記戻り番地Aの内容をス
タック(7)に押込んで格納すると共に、モジュールA
に関する呼出し回数や実行開始時間等の特性内容を実行
時特性内容テーブル(71)に格納する(ステップ22
)。
上記ステップ22によりスタック(7)に押込まれた戻
り番地に後処理ルーチンの先頭番地をセットして前処理
ルーチン実行(ステップ2)が終了すると、モジュール
A(2)の番地3に戻り次の命令があるか否かが判断さ
れる(ステップ3)。第1図の場合には次の命令がある
と判断され、さらに下位モジュール呼出しか否かを判断
しくステップ4)、下位モジュール呼出しと判断された
場合には該当する下位モジュールを呼出しくステップ6
)、この呼出された下位モジュールについて上記動作を
ステップ1から再度繰り返すこととなる。即ち、第1図
においてモジュールB(3)を呼出して戻り番地Bにモ
ジュールA(2)の番地6をセットし、前処理ルーチン
(5)を呼出して(ステップ1)、この前処理ルーチン
(5)を実行(ステップ5)することによりスタック(
7)に戻り番地Bを押込んでこの戻り番地Bに処理ルー
チンの先頭番地をセットしてモジュールB(3)の番地
に戻ることとなる。上記モジュールA、  B(2)、
(3)と同様にモジュールC(4)についても行なわれ
ることとなる。
上記ステップ4において、下位モジュール呼出しでない
と判断された場合には、次の命令が実行され(ステップ
5)、さらに次の命令があるか否かの判断(ステップ3
)を繰り返すこととなる。
他方、上記ステップ3において次の命令がないと判断さ
れた場合には、呼出しモジュールに戻り(ステップ7)
、後処理ルーチン(6)が実行される(ステップ8)。
このステップ8において後処理ルーチン(6)はモジュ
ールC(4)に関する実行時間等の実行時特性を計測し
て実行時特性内容テーブル(71)に格納し、スタック
(7)より後入れ先出しの読出し方式でモジュールB(
3)の番地7を戻り番地として引き出し、この戻り番地
に戻る。即ち、上記後処理ルーチン(6)は、後処理ル
ーチンのプログラムを実行後(ステップ8)、呼出しモ
ジュールがシステムか否かを判断しくステップ9)、こ
の判断において第1図の場合はシステムでないと判断さ
れて上述のモジュールB(3)へ戻ることとなる。この
モジュールB(3)へ戻ってモジュールB(3)の命令
が実行されて完了した場合には、上記モジュールB(4
)と同様に後処理ルーチン(6)が実行されスタック(
7)からの後入れ先出しの読出しに基づきモジュールA
(2)の番地6が読出され、モジュールA(2)に戻る
こととなる。
このモジュールA(2)の命令を実行した場合(ステッ
プ3)には、上記モジュールB、C(3)(4)と同様
に後処理ルーチン(6)が実行され、この後処理ルーチ
ン(6)の実行におけるステップ9で呼出しモジュール
がシステム(1)と判断され動作が終了することとなる
なお、上記実施例においては実行時特性の計測を前処理
ルーチンと後処理ルーチンにて行なう構成としたが、モ
ジュールを呼出すための機械命令自体に計測機能を設け
る構成とすることもできる。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、特性計測開始時に戻り
番地をスタックに格納し、特性計測終了時に格納された
戻り番地を後入れ先出しにて順次読出して上位モジュー
ルに戻る構成を採ったことから、各モジュールの総ての
出口点に後処理ルーチンの呼出しを行なうことがなくな
り、複数のモジュールに関する実行時特性を高速且つ正
確に計測することができる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例に係る構造化プログラミ
ングモジュールの実行時特性計測装置の概略構成図、第
2図は第1図記載の実施例装置の動作フローチャート、
第3図は従来の構造化プログラミングモジュールの実行
時特性計測装置の概略構成図、第4図は従来装置の動作
フローチャートを示す。 1 ・・・システム、 2 ・・・モジュールA1 3 ・・・モジュールB。 4 ・・・モジュールC1 5・・・前処理ルーチン、 6 ・・・後処理ルーチン、 7 ・・・スタック、 (71)・・・実行時特性内容テーブル。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  階層的に構造化された複数のモジュールと、該複数の
    モジュールにおける下位モジュールの呼出し時及び下位
    モジュールからの戻り時に該モジュールの実行時特性を
    計測する実行時特性計測手段と、該計測した実行時特性
    の内容を格納する実行時特性内容格納手段と、上記下位
    モジュールの呼出し時にモジュールの戻り番地を後入れ
    先出しの順序で記憶するスタックとを備え、上記実行時
    特性計測手段の計測後に上記スタックを参照して順次上
    位モジュールに戻ることを特徴とする構造化プログラミ
    ングモジュールの実行時特性計測装置。
JP1071004A 1989-03-23 1989-03-23 構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測装置 Pending JPH02249042A (ja)

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JP1071004A JPH02249042A (ja) 1989-03-23 1989-03-23 構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測装置

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JPH02249042A true JPH02249042A (ja) 1990-10-04

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JP1071004A Pending JPH02249042A (ja) 1989-03-23 1989-03-23 構造化プログラミングモジュールの実行時特性計測装置

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