JPH02248978A - 電子写真用感光体の画像欠陥検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、電子写真複写機（略称ＰＰＣ）Ｋ用いられ
る感光体の光半導体層の劣化にともなって生ずる１Ｉｉ
ｊ像欠陥ｆ：ｍ気的に検出する装置に関する。

〔従来の技術〕

電子写真用感光体（以下感光体と略称する）は、筒状ま
たは板状の導電性基板の表面に感光層としての硫化カド
ミウム、アモルファスセレン、セレンテルル、七しンヒ
素、酸化亜鉛、アモルファスシリコン、あるいはフタロ
シアニンなどの感光材料を厚さ数１０μ情の薄膜として
成膜したものからな）、感光層への帯電−露光−トナー
現像、および複写唇への転写一定着と、感光体表面の残
存トナーのクリーニングプロセスを繰）返し行う使用過
程で感光層の局部的損傷が徐々に進行して画像欠陥が発
生する。したがって、感光体の製造にあたっては製品に
画像欠陥があるか否かの評価試験が重要な品質保証項目
となる。

従来方法は供試感光体を複写機にセットし、上記複写プ
ロセスに基づいて黒紙を複写し、その複写状態を目視点
検することＫよシ、１ｉｉｉ像欠陥の有無１画像欠陥の
程度、および画像欠陥の発生位置等を評価するのが一般
的である。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来方法においては、目視点検によって画像欠陥を評価
しているために、欠陥を見落すなど作業者の感覚によっ
て評価精度にむらが生じやすいという欠点がある。また
、感光体表面にトナーを付着させるプロセスを含むため
に製品全劣化させるはかシでなく、評価時間が長く、か
つ自動化しＫくいために評価コストがかさむという欠点
がある。

妊らには、トナー現像や転写などの余分なプロセスを含
むために感光層のみの欠陥を正当に評価できないという
問題もある。

この発明の目的は、感光層の欠陥を電気的に検出するこ
とＫより、画像欠陥の評価精度を向上させるとともに、
評価作業を省力化することＫある。

〔課題全解決するための手段〕

上記課題を解決するために、この発明によれば、電子写
真用感光体の１１１ｊｇＩ１．欠陥を帯電電流の増加に
よって評価するものであって、回転駆動される筒状の感
光体表面をその軸方向に沿って移動する針状帯を器と、
これと対向する側に配された除電器と、針状帯を器への
電圧供給源回路に配された帯電電流の検出器と、検出信
号ｉＡ／Ｄ変換して一時記憶しわらかしめ定まる基準値
との比較において欠陥の有無、欠陥レベル、および欠陥
位置全判定して出力する判断手段とを備えてなるものと
する。

〔作用〕

上記手段において、回転する供試感光体表面の感光層と
の間に間ｓｌ保持してら旋状の軌跡を描いて帯電電荷を
供給する針状帯電器を設け、その電圧供給源回路に帯１
に電流の検出器としての例えば直列抵抗を設け、その検
出電圧信号を増幅、Ａ／Ｄ変換して一時記憶し、欠陥を
含まない感光体における帯電電流値全基準値とし検出電
圧信号から求まる帯電電流との比較において評価全行う
よう構成したことによシ、感光層に帯ｉｔ位に耐えない
ピンホール等の欠陥や漏れ抵抗の低い部分があると導電
性基板側に漏れる電荷が増加するので、これに伴なって
針状帯電器から比較的狭いエリアに放出される供給電荷
、いいかえれば供給電流が増加し、これを検出器で検出
１判断部で基準値と比較することにより、その差分から
欠陥の程度を。

またら旋状走査による位置関係から欠陥の位置をそれぞ
れ判断して出力することができる。

〔実施例〕

以下この発明を実施例に基づいて説明する。

第１図および第２図はこの発明の実施列装ｆを示す構成
図であり、第１図には供試感光体を軸方向から見た状態
を、第２図には供試感元体金上方から見た状態金示す０
図において、図示しない駆動モータによって図中矢印方
向に回転する供試感光体１Ｖｃは複数の針状帯電器２Ａ
、２Ｂ、２Ｃ等２が供試感光体１との間に間隙を保持し
て軸方向の移動台６に支持されるとともに、供試感光体
１を隔てた反対側には感光体１に除電のための光を投射
する除電器３が感光体の軸方向に沿って設置される。針
状帯電器２Ａ　、２Ｂ　、２ＧＫはそれぞれ高圧直流電
源４Ａ、４Ｂ、４０等４が接続さへ電源４の皮帯電器側
は帯電電流の検出器としての例えば直列抵抗器５Ａ、５
Ｂ、ｓｃ等５を介して接地される。この状態で針状帯電
器２と供試感光体１の接地された導電性基板との間に数
ＫＶオーダの直流電圧を印加すると、電界が集中する針
状帯電器２の先端でコロナ放電が発生し、放電で生じた
電荷により供試感光体表面の光半導体層表面のある面積
がほぼ均一に帯電する。

また、供試感光体の回転速度と、針状帯電器２の軸方向
移動速度との兼合によ）、各帯電器２Ａ。

２Ｂ、２０等による帯電面積は光半導体層の表面にら旋
状の軌跡を描いて移動するとともに、感光体１がへ周以
上回転した時点で除電器３によシ除電される。針状帯電
器２の並列数を増せば同時に帯電する面積が増加するの
で、ら旋状の走査に要する時間を短縮することができる
。なお、直列抵抗器５Ａ、５Ｂ、５Ｃの端子間電圧は、
それぞれ判断部７Ａ、７Ｂ、７Ｃ等７に入力され、画像
欠陥の評価が行われる。

第３図は実Ｍ列装置における判断部の一例金示すブロッ
ク図であシ、複数の判断部７Ａ、７Ｂ。

７Ｃの一つ７Ａについてその構成を示したものである。

図において、供試感光体く電荷の漏れを生ずるような欠
陥があると、その欠陥の大きさや密度に対応して針状帯
電器２人から供給する電荷が増加し、これに伴なって直
流電源の出力電流が増すので、帯電電流検出器としての
直列抵抗５Ａの端子電圧が増加する。この端子電圧の変
化は検出電圧信号５ｖとして判断部７Ａの入口側に設け
られ九パツ７アエ０１２および増幅素子１３によって増
幅され、Ａ／Ｄ変換素子１４によ）ディジタル信号に変
換されてマイクロブ鴛セッサ１５によシスタテイックＲ
ＡＭ１．５に一時記憶される。−時記憶されたディジタ
ル電圧値（以下検出電圧値とよぶ）は判断用マイクロプ
ロセッサ１７に高速伝送され、あらかじめ記憶されてい
る基準値と比較される。基準値としては、欠陥のない感
光体を用いてあらかじめ求められた基準ディジタル電圧
値が用いられ、検出電圧値が基準ディジタル電圧値をど
の程度超えるかによりて欠陥のレベルが判定され、判定
結果を表示器１８に表示するとともに、プリンタ１９に
記録する。

この判定は針状帯電器２Ａ、２Ｂ、２Ｃ！別に。

かつら旋状の走査の進行に伴なってステップ状に行われ
ることによ〕、供試感光体１の感光層の全表面を多数の
区画に分割した評価が行われ、欠陥のレベルが区画ごと
のディジタル値として出力される・したがって、供試感
光体の欠陥レベルとその分布を木目細かく評価すること
ができる。

〔発明の効果〕

この発明は前述のように１針状帯電器の電源回路側に帯
電電流検出器を設けて狭い帯電エリアに欠陥が存在する
ことによって増加する帯電電流をこれに比的した電圧信
号として検出し、基準値に対する増加量によって欠陥レ
ベルを判定するとともに、針状帯電器を供試感光体の軸
方向に移動させて感光体の回動との兼合によシ感光体表
面をら旋状に走査するよう構成し九、その結果、欠陥の
大きさや密度とその存在位置を帯電電流の変化によって
検出することが可能とな）、転写された黒紙を目視点検
するととくよって欠陥レベルとその分布を評価する従来
方法における個人差や余分な複写プロセスを含むことに
よる評価精度のむらとが排除され、かつトナーを付着さ
せ清拭する除虫ずる製品の損傷が排除されるとともに、
評価試験を自動化できることＫよることＫよシ評価コス
ト全低減できるので、高い評価精度と低い評価コストと
を有する電子写真用感光体の画像欠陥検出装置を提供す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図はこの発明の実施例装置を供試感光
体の互いに異なる方向について示す構成図、第３図は実
施例装置の判断部を示すブロック図である。 １・・・供試感光体、２，２Ａ、２Ｂ、２Ｃ・・・針状
電器、３・・・除電器、４・・・高圧直流電源、５　、
５Ａ。 ５Ｂ、５Ｇ・・・帯電電流検出器（直列抵抗器）、６・
・・軸方向移動台、７，７Ａ、７Ｂ、７０・・・判断部
、１２、・、バッファＩＣ，１３・・・増幅素子、１４
°・・Ａ／Ｄ変換素子、１５・・・マイクロプロセッサ
、１６・・・スタティックＲＡＭ、１７・・・判断用マ
イクロプロセッサ、１日・・・表示器、１９・・・記録
装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）電子写真用感光体の画像欠陥を帯電電流の増加によ
   って評価するものであって、回転駆動される筒状の感光
   体表面をその軸方向に沿って移動する針状帯電器と、こ
   れと対向する側に配された除電器と、針状帯電器への電
   圧供給源回路に配された帯電電流の検出器と、検出信号
   をＡ／Ｄ変換して一時記憶しあらかじめ定まる基準値と
   の比較において欠陥の有無、欠陥レベル、および欠陥位
   置を判定して出力する判断手段とを備えてなることを特
   徴とする電子写真用感光体の画像欠陥検出装置。