JPH02238619A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

Info

Publication number
JPH02238619A
JPH02238619A JP5782989A JP5782989A JPH02238619A JP H02238619 A JPH02238619 A JP H02238619A JP 5782989 A JP5782989 A JP 5782989A JP 5782989 A JP5782989 A JP 5782989A JP H02238619 A JPH02238619 A JP H02238619A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
susceptor
heating means
substrate
growth apparatus
shielding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5782989A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kataoka
敬 片岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5782989A priority Critical patent/JPH02238619A/ja
Publication of JPH02238619A publication Critical patent/JPH02238619A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) この発明は、半導体の気相成長装置に関する。
(従来の技術) 反応容器内で所定の温度に加熱した基板上に反応ガスを
供給して結晶を成長させる気相成長装置においては、成
長膜の均一性,対称性を得るために、基板を、それを保
持するサセプタとともに回転させる手法がよくとられる
。このとき,サセプタを回転させる回転駆動部を反応容
器の外部に設けた場合、回転軸と反応容器との摺動部を
シールする必要がある。そのため、この摺動部、すなわ
ち軸受の設計には慎重さを要する。
結晶成長時に基板を加熱するためこの種気相成長装置は
高温になるが、このとき前述の軸受は余り高温にならな
いことが望ましい。
軸受の温度の上昇は、サセプタから回転軸を通じての熱
伝導による。
サセプタ内に加熱手段を内蔵する方式の気相成長装置で
は、回転軸の内側に加熱手段へ電力を供給する電極を設
ける必要があり、回転軸が太くなるので、この熱伝導の
影響は一層大きくなる。そのため、この方式では特に軸
受の温度の上昇が著しく何らかの対策を講ずる必要があ
る。
第3図は従来の気相成長装置を示す概略構成図である。
反応ガスは供給口101から、反応容器102内に供給
され、基板103上に導かれた後、排出口108から排
出される。このとき軸受1.06により支持されている
サセプタ104は回転駆動部107により、保持してい
る基板103とともに回転させられる。
加熱手段105から放射される熱線はサセプタ104を
加熱し,基板103はサセプタ104からの熱伝導によ
り加熱される。その際加熱手段105から基板103と
反対の方向に放射される熱線が軸受106を高温にする
大きな原因となっている。従来の装置ではこの点に関し
て特別な対策はなされてぃながった。
加熱手段105が基板103以外の部分を加熱してしま
うことによる弊害としては他にもサセプタ104の側面
が腐食され易くなることがある。一般にサセプタ104
の材質としては耐食性の強い素材例えば、グラファイト
が用いられるが、サセプタ1.04の側面より下面の部
分では強度が必要なため、ステンレス鋼等が用いられる
その場合、この部用が高温になるとガスと反応して腐食
されてしまう。このことも気相成長装置を運転する上で
大きな問題となっていた。
=4 (発明が解決しようとする課題) 上述したように従来の装置においては加熱手段からの輻
射熱によって基板以外の部分が加熱されることにより軸
受の設計条件が厳しくなる、サセプタの側面が反応ガス
で腐食される等の問題が生じていた。
本発明の目的は,サセプタ内部の加熱手段から基板と反
対の方向に放射される熱線を反射,遮断することにより
基板以外の部分の温度上昇を緩和し、装置運転の安定性
を向上させ、装置の熱効率を改善することにある。
〔発明の構成〕
(課題髪解決するための手段) 本発明の気相成長装置にあっては、サセプタ内部あるい
は下部に設けられた加熱手段から、基板と反対の方向に
放射される熱線を反射する反射手段を設けて構成してい
る。
(作 用) このように構成されたものにあっては、加熱手段からの
熱放射が、サセプタの基板に接してぃる場所以外の部分
を加熱することを防止することができる。ひいては、サ
セプタからの熱伝導による軸受温度の上昇を緩和できる
。又、反射手段から反射される熱線は基板の加熱に寄与
するため、加熱の熱効率も改善されることになる。
(実施例) 以下第1図を参照して本発明の気相成長装置の一実施例
について説明する。
第1図において、反応容器2は例えば石英ガラス製であ
って、下部が円筒状に上部は円錐状に形成されている。
反応容器2の上部には反応ガスを導入するためのガス供
給口1が設けられ、反応容器の下部には反応後の反応ガ
スを排出するための排出口8が形成されている。
反応容器2の中には軸受7を介して反応容器2外部に配
置された回転駆動部9により回転させられる回転軸付き
のサセプタ4が配置されている。
このサラプタ4は例えばクラファイト材により形成され
ており、基板3を載置して回転する。
一方、サセプタ4は中空形状に形成されており、その内
部には基板3の対向下部に熱線を放射する加熱手段5が
配設されている。この加熱手段5から放射される熱線は
サセプタ4を加熱し、基板3はサセプタ4からの熱伝導
により加熱される。
また、サセプタ4の中空内部で、加熱手段5の基板3と
は反対の対向側には、加熱手段5から放射される熱線を
遮蔽あるいは反射する遮蔽・反射手段6が設けられてい
る。この遮蔽・反射手段6としては、耐熱性に優れたも
のが望ましく、形状としては平板形状のものや、サセプ
タ4周囲が中央部よりも温度が低くなるため、サセプタ
4の周囲に熱線を集中的に反射させるように中央部を凸
面形状にしてもよい。
さらに、反射面を表面処理して光沢を持たせ反射効率を
高めてもよい。具体的な材質としては鋼やステンレスで
もよい。単に遮蔽する場合には、軸受7の温度上昇を防
止でき、反射させる場合には熱効率が向上し、サセプタ
4の周囲に反射させる熱線の割合を多くすれば温度分布
の均一化、ひいては薄膜の均一化が図れ、その効果は多
大である。
このように構成された気相成長装置は、サセプタ4を回
転させ、さらに加熱手段5で基板3を所定温度に保持し
た後にガス供給口1から反応ガス例えば(CH3)3G
a等を供給して高温の基板3上で反応させ、結晶成長さ
せる。
このような本発明の気相成長装置によれば、加熱手段5
から軸受7側に放射される熱線が遮蔽・反射手段6によ
り反射あるいは遮断されるため、サセプタ4の側面の温
度や軸受7の温度を遮蔽・反射手段6を設けない場合に
比べて低く保つことができる。特に反射させる場合には
、無駄に捨てられる熱量が少なくなることを意味し、装
置の熱効率の改善にもつながる。
第2図は、本発明の気相成長装置の他の実施例を示すも
のである。
この実施例が先の実施例と異なる箇所は、サセプタ4を
中空に形成せずに、加熱手段5及び遮蔽・反射手段6を
サセプタ4の下方に配置したことにある。ここでIOは
、加熱手段5と遮蔽・反射手段6を支持するための支持
棒である。このような構成にしても先の実施例と同様の
作用・効果が得られる。
また、上記加熱手段5および遮蔽・反射手段6は、反応
容器2の外部に設けられていてもよい。
なお、本発明は上記実施例に限定されることなく、反応
容器の形状等は種々変形でき、サセプタに基板を複数枚
装着するようにしてもよく、要はその要旨を逸脱しない
範囲で種々変形して用いることができる。
〔発明の効果〕
以上、説明したように本発明によれば基板の温度を所定
の値に保つ際、装置の他の部分の温度が不必要に上昇す
ることを防止することができる。
これは装置運転の安定性を高め、かつ装置のエネルギ効
率改善する効果を持つ。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の気相成長装置の一実施例を示す部分断
面側面図、第2図は、本発明の変形例を示す部分断面側
面図、第3図は、従来の気相成長装置を示す部分断面側
図である。 1・・・ガス供給口    2・・・反応容器3・・・
基板       4・・・サセプタ5・・・加熱手段
     6・・・反射手段7・・・軸受      
 8・・・ガス排出口9・・・回転駆動部 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同  松山允之

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)反応ガスの供給口と排出口とが形成された反応容
    器と、 この反応容器内に回転自在設けられ前記反応ガスにより
    結晶薄膜が形成される結晶基板を載置する中空のサセプ
    タと、 このサセプタを回転駆動する回転駆動手段と、前記サセ
    プタの中空内部に配置されこのサセプタを加熱する加熱
    手段と、 前記サセプタの中空内部で前記加熱手段に対して、前記
    結晶基板とは反対側に対向して設けられ、前記加熱手段
    から放射される熱線を遮蔽あるいは反射させる遮蔽・反
    射手段と、 を具備することを特徴とする気相成長装置。
  2. (2)反応ガスの供給口と排出口とが形成された反応容
    器と、 この反応容器内に回転自在に設けられ前記反応ガスによ
    り結晶薄膜が形成される結晶基板を載置するサセプタと
    、 このサセプタを回転駆動する回転駆動手段と前記サセプ
    タに対して前記結晶基板とは反対側に配置される加熱手
    段と、 この加熱手段に対して前記サセプタとは反対側に配置さ
    れ、前記加熱手段から放射される熱線を遮蔽あるいは反
    射させる遮蔽・反射手段と、を具備することを特徴とす
    る気相成長装置。
  3. (3)前記反射手段は、前記サセプタの周辺部近傍へ反
    射させる熱線の割合を中央部近傍へ反射させる割合より
    も多くさせたことを特徴とする請求項1または請求項2
    記載の気相成長装置。
JP5782989A 1989-03-13 1989-03-13 気相成長装置 Pending JPH02238619A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5782989A JPH02238619A (ja) 1989-03-13 1989-03-13 気相成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5782989A JPH02238619A (ja) 1989-03-13 1989-03-13 気相成長装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02238619A true JPH02238619A (ja) 1990-09-20

Family

ID=13066824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5782989A Pending JPH02238619A (ja) 1989-03-13 1989-03-13 気相成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02238619A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0653145A (ja) * 1992-07-28 1994-02-25 Ngk Insulators Ltd 半導体ウェハー加熱装置
US6485603B1 (en) * 1999-07-01 2002-11-26 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for conserving energy within a process chamber
WO2019022200A1 (ja) * 2017-07-27 2019-01-31 京セラ株式会社 試料保持具

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0653145A (ja) * 1992-07-28 1994-02-25 Ngk Insulators Ltd 半導体ウェハー加熱装置
US6485603B1 (en) * 1999-07-01 2002-11-26 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for conserving energy within a process chamber
WO2019022200A1 (ja) * 2017-07-27 2019-01-31 京セラ株式会社 試料保持具
JPWO2019022200A1 (ja) * 2017-07-27 2020-07-02 京セラ株式会社 試料保持具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6617247B2 (en) Method of processing a semiconductor wafer in a reaction chamber with a rotating component
JP4705244B2 (ja) 急速熱処理(rtp)システムのためのガス駆動式回転サセプタ及び急速熱処理する方法
JP7506752B2 (ja) 水平回転運動でのビーム移動によるスポット加熱
JPH05243166A (ja) 半導体基板の気相成長装置
US6259061B1 (en) Vertical-heat-treatment apparatus with movable lid and compensation heater movable therewith
KR101535547B1 (ko) 기판 처리 장치
US3665139A (en) Device for epitactic precipitation of semiconductor material
JPH0590165A (ja) 気相成長装置
JPH02238619A (ja) 気相成長装置
KR101190603B1 (ko) 기판 처리 장치
KR20150030131A (ko) 기판 열처리 챔버에 사용되는 도어, 및 이를 구비한 기판 열처리 챔버 및 기판 열처리 장치
KR20140064227A (ko) 기판 처리 장치
JPS60189927A (ja) 気相反応容器
JPH0465819A (ja) 気相成長装置
JPH0338029A (ja) 気相成長装置
JP2013053355A (ja) 気相成長装置
JPH0297670A (ja) 薄膜製造装置
JP2686498B2 (ja) 半導体製造装置
JPS6358926A (ja) 気相表面処理反応装置
JP2002519286A (ja) 熱状態調節プロセス
JPH04120722A (ja) 気相成長装置
JPS622614A (ja) 赤外線加熱装置
JPH0627946Y2 (ja) 縦型薄膜気相成長装置のバレル型サセプタ装着ウエハ加熱部
JP2514677Y2 (ja) 薄膜気相成長装置
JPS6335711B2 (ja)