JPH02234738A - 光学系の屈折力の測定装置 - Google Patents

光学系の屈折力の測定装置

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JPH02234738A
JPH02234738A JP1055853A JP5585389A JPH02234738A JP H02234738 A JPH02234738 A JP H02234738A JP 1055853 A JP1055853 A JP 1055853A JP 5585389 A JP5585389 A JP 5585389A JP H02234738 A JPH02234738 A JP H02234738A
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JP
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slit
pattern
control panel
light
optical system
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JP1055853A
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Yukio Fukui
幸男 福井
Tsunehiro Takeda
常広 武田
Takeo Iida
健夫 飯田
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Agency of Industrial Science and Technology
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 光学系の屈折力を測定するために、複数個の輝線部を有
するスリット光て被測定光学系を走査し、結像されたス
リット光の像の移動方向と速さからその屈折力を算出す
る方法は、検影法と呼ばれている。
”1;;木発明は、このような検影法によって光学系の
}{殉折力を測定するための測定装置に関するものてあ
る。
[従来の枝術] 眼球光学系のような一般光学系については乱視成分の測
定か必要であり、この強さと方向を求めろためにはスリ
ット光の方向を変えて複a回測Wする必要がある。
即ち、動いている縞模様の平行スリット光を眼球に照射
し、眼底てこの縞模様かとのように映って、との方向に
動いて見えるかを観測すること(こより1球面屈折力 
(近視、遠視成分)と円筒屈折力(乱視成分)か混在し
た屈折力を算出することかできる。また、縞模様の方向
及びそれか動く方向を変えて再度観測することにより、
球面屈折力成分と円鋪屈折力成分を分離することかてき
る。
このような測定を行うために従来から用いられている検
影法は、上述したように、複数個の輝線部を有するスリ
ット光て被測定光学系を走査し、2結像されたスリット
光の像の移動方向と速さから伶痛折力を算出するものて
あり、その一例か特開昭55−]60538号公報や特
開昭57−165735号公報等に開示されている。
しかしながら、前者の方法は、スリット光を投光1−る
光学系に軸回りの像回転プリズムを挿入しているため、
高精度の回転系を設置しなければならないという困難さ
かある。また、後者の方D,ては、光源を2箇所に設け
て別々の方向からの光を回転ドラム+のスリットに当て
ることにより合成しているのて、光量の絶対量の点て不
利てあり、光量ハランスをとらなければならないという
困難さもある。
方、これらの問題点を改善したものとして、回転トラム
−トにあらかしめ複数力向のスリッ1〜を設定しておき
、単一光てスリット光源を得るようにした第3の方法も
知られているか、この場合には、スリットの傾きか固定
されているために不利!(,一 本発明の技術的課題は、上記第3の方法をさらに改善し
、機械的な回転系等の駆動部分を備えることなく,シか
も任意の方向のスリットの形成、方向の変更、スリット
により生じた岬線パターンによる走査を容易に実現てき
るようにした屈折力測定装置を得ることにある。
[課題を解訣ずるための手段J 上記課題を解決するため、本発明の屈折力測定装置は、
被検光学系に対して光源からの測定光を投射する光学系
に、細かな碁盤目状の微小パターン群の透過率を電気的
信号て局所的に制御することによって任意の方向のスリ
ットパターン及びこのパターンの走査状Jmを表現させ
る透過率制御パを電気的信号て制御することによりスリ
ット状に形成される光の透過窓を通しで、任意の方向及
びそれと直交する方向に発生ずる輝線パターンとして投
射され、それらの輝線パターンによって被検光学系か走
査される。
被検光学系からの反射光は、光電変換器の受光面におけ
る光軸の周りの対向位置に設けた複数対及び上記透過率
制御パネルにおいて発生させたスリットパターンの傾斜
角度に基づいて屈折力を求める演算装置を備えたことを
特徴としている。
U作 川コ 屈折力のAlll定に際しては、被検光学系に対して光
源から測定光か投射される。この測定光は、透過率制御
パネルにおける微小パターン群の透過率光学系を走査し
ている輝線パターンの傾斜角度とに基づいて、演算装置
により屈折方が求められる。
[実施例] 図面は本発明に係る屈折カAid定装置の実施例を示し
ている。
第1図に示す測定用光学系は、被検眼1を被側定光学系
とする構成例を示すもので、この測定用光学系において
は、被検眼1の視軸を固定させるため、照明装置2によ
って照らされた同視標3を、鏡4、レンス5、ハーフミ
ラー6,7を通して被検眼に呈示できるようにしている
一方、被検眼1に不呵視測定光を投射するため、不可視
測足光の光源10を設け、この光源から出た測定光か、
レンス11、局所的透過率制御バネ1ル1,l2、レン
スl3、及ひ前述のハーフミラー7を通リットの流れに
設定てき、それを通過する輝線パターンか被検光学系に
投射される。なお、このような局所的透過率制御パネル
は、極めて一般的に用いられている液晶等を利用した表
示技術を用いて容易に得ることかてきるものてある。
この透過率制御パネル12を備えた光学系においては、
レンスl1及び13によって、光源10か被検眼1の角
膜と共役てあり、被検眼1か正視眼てあれ″一!−1゜
′ 54,:,,.:レンズl3によって透過率制御パネル
12−1−の微″−”−」二記局所的透過率制御バネル
】2は、たとえは液晶表示装置のように、細かな碁盤目
状の微小パターン群12a,12a,・・(第2図)に
おける透過率を局所的に制御可能なパネルを用い、電気
的信号による各微小パターン群12aの透過率の制御に
より、任意の方向のスリットパターン及びこのパターン
の走査状態を表現させるようにしだものて、その制御に
より光の透過窓を任意方向のスまた、被検眼1の瞳孔内
に照射された走査光栄の眼底ての反射光は、ハーフミラ
ー6,7及び集光レンスl5を透過し、円形の開口を有
する絞り16を経由して光電変換器17において受光さ
れる。絞り1bは、被検眼lの眼底にほぼ共役となるよ
うに配置し、光電変換器17の受光面は被検眼1の角膜
に共役となるように設定される。
光電変換器17の受光面には、光軸の周りの対向位置に
複数対の光電変換素子が配設され、一例として第3図に
示すように、光軸の周りに4つの光電変換素子17g,
17b,17c及ひ17dか設けられる。
また、この受光面には、光軸な分割の中心とするアライ
メント用の4分割光電変換素子17eか設けられる。4
分割光電変換素子17eは角膜からの反射光をアライメ
ントのために受光し、4分割素子図示しない演算装置に
人力される。
−ヒ記構成を有する屈折力測定装置によって被検眼Jに
ついての測定を行うに際しては、まず、照明装置2によ
って照らされた同視標3を、鏡4、レンス5、ハーフミ
ラー6,7を通して被測定光学系である被検眼に呈示し
、視軸を固定させる。
方、光源10からの不of視測定光は、レンス11を通
過し、局所的透過率制御パネル12においてスリッスリ
ット影による光電変換素子]7a,17c間、及び光電
変換素子]71),17d間の出力信号の位相差を検出
するものて、これらの光電変換素子]. 7 a〜17
dの出力は前記透過率制御パネル12において発生させ
る各微小パターン群]2aの透過率の制御に関する情報
、即ち、スリットパターンの方向やこのパターンの走査
状態と共に、屈折力を求めるための気的信号による各微
小パターン群12aの透過率の制御により、光の透過窓
を任意方向のスリットの流れに設定てき、それによっで
任意の方向の輝線パターン及ひこのパターンの走査状態
か表現され、これが被検眼1に投射されて、被検眼1か
スリット状光束にて走査される。
被検眼1の瞳孔内に照射された走査光束は、眼底で反射
され、再度ハーフミラー6,7、集光レンズl5、及ひ
絞り16を経由して、光電変換器17に人射ずる。光電
変換器17の受光面においては、4分割光電変換素子1
7eの出力が均等になったときに被検眼1との光軸が〜
・致する。このとき、スリットパターンか第2図におい
て縦方向のスリットを横に移動させるようなパターンで
あれば、眼底からのスリット影による光電変換素子17
a,1.7c間の1′ト出゛力信号の位相差、及ひ光電
変換素子1.71>,17d間゛・. ;”−め−出力信号の位相差から得られるディオブター
値..lO.− :−,D1・D2ば・ D+=  S  + Ccos”0         
    ・ −  −  Q)となる。たたし、Sは球
面屈折力、Cは円柱屈折力、Oは乱視主経線の方向に対
応した角度である。同様に、横方向のスリットパターン
を縦に移動させるときに得られるディオプター値D3 
, D4は、 l1 D,=  S  +  Csin20        
    −  ・ −  (4)となり、6)9■,(
喚),■式から未知数C,S,Oを求めることかてきる
。これらは、前述した演傳装置において演算される。
即ち、演算装置においては、L記複数対の光電変4!i
!I素子の出力信号における位相差、及び」二記透過率
制御パネルにおいて発生させて被検光学系を“}一・:
走′査している輝線パターンの傾斜角度とに基つぎ−1
,所要の屈折力か求められる。
さらに、透過率制御バネルl2に発生させるスリットパ
ターンは、近似的に任意の傾きに設定てきるため、ます
縦及び横の2方向のスリットパターンによりOを一度測
定してから、それに応した傾きのスリット光を再度発生
させて測黛ずることにより、より精度よく、S,Cの値
を求めることかてきる。
l 2 [発明の効果] このような本発明の測定装置によれば、従来の装置のよ
うに回転ドラム等を用いていないため、透過率制御パネ
ルに可動部分かなく、そのため振9h等の発生かないは
かってなく、機械的精度を保つことかでき、さらに、従
来の装置では実際−ヒ必要になるモーターの回転ムラに
よる補正回路、電子回路と機械的動作とのマッチンクを
とるための手段等の必要かなくなり、小型化、軽量化、
高信頼性化か実現てきる。
また、スリットパターンの方向を任意に変更でき、従っ
て複数回測定するときのスリットの方向の変更を、精度
な考堵;シて適切に設定することかてきる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る屈折力測定装置のフロック構成図
、第2図は第1図のA−A矢示方向から見た透過率制御
パネルの正面図、第3図は第1図のB−B矢示方向から
見た光電変換器の止面[Aてある。 lO・・光源、   12・・透過率制御パネル、12
a,12a ・・微小パターン群 I7・・光電変換器、 17a〜17d ・・光電変換素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、被検光学系に対して光源からの測定光を投射する光
    学系に、細かな碁盤目状の微小パターン群の透過率を電
    気的信号で局所的に制御することによって任意の方向の
    スリットパターン及びこのパターンの走査状態を表現さ
    せる透過率制御パネルを設け、被検光学系からの反射光
    を受光する光電変換器の受光面における光軸の周りの対
    向位置に、複数対の光電変換素子を配置し、それらの複
    数対の光電変換素子の出力信号における位相差及び上記
    透過率制御パネルにおいて発生させたスリットパターン
    の傾斜角度に基づいて屈折力を求める演算装置を備えた
    ことを特徴とする光学系の屈折力の測定装置。
JP1055853A 1989-03-08 1989-03-08 光学系の屈折力の測定装置 Granted JPH02234738A (ja)

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JPH0329408B2 JPH0329408B2 (ja) 1991-04-24

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018189746A (ja) * 2017-04-28 2018-11-29 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法

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