JPH0222660B2 - - Google Patents

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JPH0222660B2
JPH0222660B2 JP58227949A JP22794983A JPH0222660B2 JP H0222660 B2 JPH0222660 B2 JP H0222660B2 JP 58227949 A JP58227949 A JP 58227949A JP 22794983 A JP22794983 A JP 22794983A JP H0222660 B2 JPH0222660 B2 JP H0222660B2
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JP
Japan
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ultrasonic
pulse
measurement
medium
phase
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Nobushiro Shimura
Keiichi Murakami
Hirohide Miwa
Hirokuni Sato
Nobuyuki Ichida
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (A) 発明の技術分野 本発明は、超音波媒体の非線形パラメータ分布
測定装置、特に、生体組織等の超音波媒体の物理
特性の空間分布を測定する方式に係り、音速が音
圧に対し、一次近似としては一定値であるが、二
次近似としては音圧に比例するという非線形性を
示すのを利用し、この非線形性パラメータの空間
的分布を媒体の特性値として測定し、更には、必
要に応じてその空間的分布の映像化を高速且つ容
易に行う様にした測定装置に関する。更には、特
に、いわゆる透過法でなく反射法によつて上記非
線形パラメータを測定する事ができる装置に関す
る。
(B) 技術の背景と問題点 本発明が利用する非線形パラメータ映像法の原
理は、特願昭57−167036号(特開昭59−55245号)
又は特願昭58−119100号(特開昭60−10165号)
に詳述されている。前者においては、比較的高周
波の測定用連続超音波ビームに直交する方向か
ら、比較的低周波のポンピング用平面パルス波を
交差させ、ポンピングパルスによつて位相変調さ
れた測定波を位相復調する事によつて、測定波ビ
ーム走査線上の非線形パラメータB/Aを高速に
求めていた。又、後者においては、ポンピングパ
ルスを、測定用ビームに直交する様に与える代わ
りに、測定用ビームと同軸状で且つ進行方向が測
定用ビームと逆方向になる様に与える事により、
測定用ビームが殆どあらゆる所でほぼ同一形状の
ポンピングパルスを受ける様にして、機械的に大
きな構造をなくす等の効果を得ていた。
しかし、これらの方法はいずれも測定波送信用
振動子から放射された後、被測定媒体内を通過し
て測定波受信用振動子で受信された信号を利用す
るという、いわゆる透過法を用いているため、実
際の臨床応用において、断層面像を得ようとする
と、その適用部位が、測定用振動子対の間に被観
察部位を設ける事ができる様な乳房等に限られる
か、あるいは被観測部位を水枕で囲つて測定用振
動子対を走査する必要がある等操作上の問題が大
きかつた。
(C) 発明の目的と構成 本発明は、測定波として連続波を用いる代わり
にバースト状のパルス波を送受信兼用の又は送信
用/受信用の1組の測定波用振動子から送信する
と共に、該測定用超音パルスとほぼ同一場所から
ほぼ同一方向にポンピング用の比較的低周波の超
音波パルスを被観察媒体内に送出する様にしてお
き、且つ、第1図に示す様に、ポンピング波の音
圧の高い部分(又は低い部分)に測定用のバース
ト波が重畳する様に振動子の駆動タイミングを調
整しておき、ポンピングパルスと測定用パルスの
両方を送信した時に反射されて帰つて来た測定用
パルスの受信信号の位相と、測定用パルスだけを
送信した時に反射されて帰つて来た測定用パルス
の受信信号の位相との差を求める事により、ポン
ピングパルスの影響だけによる測定用パルスの位
相変調を反射法で検出して、被観察媒体内の超音
波被線形パラメータB/A求めようとするもので
ある。
本発明は、進行する測定波の1つの点に注目し
た場合、その点が反射体に到るまでの間に、測定
用パルスが通過した領域の被線形パラメータB/
A(但し場所の関数)とポンピング波の音圧P(減
衰の影響により場所の関数)との積の積分値によ
り定まる位相変調を受ける事を利用して受信信号
を復調して得た位相信号を微分する事により、非
線形パラメータB/Aの分布を得ようとするもの
である。そしてそのため、本発明は特許請求の範
囲記載の構成を持つ事を特徴としている。
以下具体的に説明する。
(D) 発明の実施例 超音波媒体内の音圧がゼロの時の音速をCo、
密度をρoとすると、Pなる音圧が加えられた時
の音速Cは C=Co+1/2ρoCo・B/A・P ……(1) 但し B/A=2ρoCo(∂C/∂P)s 但し添字sは等エントロピーである事を示す。
となる。従つて、ポンピングパルスの音圧Pによ
り、音速Cは、 △C=1/2ρoCoB/AP ……(2) だけ変化する事になる。
今、第2図に示す様に、Z=0に置かれた測定
波用超音波振動子Xmからバースト状の超音波パ
ルスWmを図のZ軸方向に被測定媒体中に送り込
み、反射体Mからの反射波を受信する場合を考え
る。この時、測定パルスWmとほぼ同一場所に設
置されたポンピングパルス送信用振動子Xpから、
ポンピングパルスWpを図示の様にZ軸方向に送
り込む。以下簡単のためにWpとWmとは重畳し
ているとする。又、Wmの音圧はWpの音圧に比
べて充分に小さく、式(1)(2)のPとしてはWpによ
るものだけを考慮すれば良いものとする。測定用
パルスWmがZ=Zにある反射体Mに到達するま
での間に、各Zにおいて、式(2)により、場所によ
り異なる音速変化 △C(Z)=1/2ρoCo・B/A(Z) ・P(Z) ……(3) を受ける事になり、従つて場所(Z)により異な
つた△C(Z)に比例する位相変化を受ける事に
なる。従つて、反射体Mに到達した時には、式(3)
で示される音速変化の積分値に比例した位相変化
(音圧変化やB/Aによる変化を受けなかつた場合に 比べて) K:比例定数 (Z)=K∫z 0△C(Z)dZ =K∫z 01/2ρoCo・B/A(Z) ・P(Z)dZ ……(4) を受けている事になる。Mで反射された後、振動
子Xmで受信されるまでの間は、ポンピングパル
スが存在しない(正確には、ポンピングパルスの
反射波が、測定用パルスの反射波と共に戻つて来
るが、媒体の反射率は一般に低周波程小さいた
め、往路での音圧に比べれば充分に小さくなつて
いる)ので、振動子Xmで受信された測定用パル
スの反射波を位相復調すれば式(4)で示される
(Z)が得られる事になる。
(Z)をZで微分する事により d(Z)/dZ=K1/2ρoCo・B/A(Z) ・P(Z) ……(5) が得られ、式(5)の左辺は実測で得られる値、右辺
のK,ρo,Coは定数であるから、P(Z)を知る
事ができればB/A(Z)を求める事ができる。超 音波周波数の例として、ポンピングパルスWpは
生体組織内での減衰が余り大きくない500kHz程
度のものが、測定波パルスWmはそれよりも1桁
程度高い5MHz程度のものが用いられる。生体組
織中では、超音波はほぼ1dB/MHz/cmの減衰を
受ける事が良く知られており、500kHzのWpの場
合、ほぼ0.5dB/cmの減衰を受ける事になる。従
つて、式(5)のP(Z)として、例えば という式を用いてP(Z)を推定しても良い。こ
の場合、式(5)より つまり、位相復調出力(Z)を微分したものに、
距離Zと共に増大する様な係数K′e+dzを乗ずる事
によりB/A(Z)を得る事ができる。
生体組織中での減衰が1dB/MHz/cmという様
に場所によらず一定という様な仮定が成立しない
場合は、通常のBモード断層撮像装置でよく用い
られている様な、距離Z毎に第3図の如き自由な
ゲインを与える事のできるいわゆるTGC(Time
Gain Control)を用いても良い事は言うまでも
ない。このゲインカーブは測定結果を見ながら試
行錯誤的に求める。
尚、媒体中の平均音速をCoとした時、Z≒Cot
(t:超音波が送信されてからの時間)であるか
ら、dZ=Codt ∴d(Z)/dZ=1/Cod(Z)/dt ……(8) となり、式(5)のZによる微分は、時間微分に置き
換えられるのは言うまでもない。
以上の説明では、距離Zにある反射体からの反
射波の位相(Z)が求まると仮定していたが、
以下の理由でこれは容易ではない。
第1に、位相を検出するためには第4図aに示
す如き基準信号と受信信号との位相比較を行う
が、反射法の場合、第4図b,cに示す如く、振
動子と反射体との間の距離が異なるだけで、基準
信号に対する受信信号の位相が大きく変化し、
B/A(Z)・P(Z)の影響による位相シフトを
隠してしまう。
第2に、生体組織内からの反射波は、第5図に
示す様に、反射波どうしの重畳が頻繁に起こつて
おり、第5図cに示す如く合成された受信信号は
元のいずれの信号a,bとも大きく異なつた位相
を持つ事になつて、やはりB/A(Z)・P(Z)の 影響による位相シフトを隠してしまう。
以上の様な理由から、反射法を適用するに当た
つては特許請求の範囲第1項ホに示した如く、ポ
ンピングパルスと共に測定用パルスを送信した時
の受信信号の位相と、ポンピングパルスを送らず
に測定様パルスだけを送出した時の受信信号の位
相との差を求めることが、実用的な測定のために
は必須である。第4図又は第5図に示した如き、
伝搬又はパルス重畳による位相の変化は、ポンピ
ングパルスの存在する時も存在しない時も同様
(ポンピングパルスの送出周期は200μ秒程度であ
るからその間は不変と考えてよい)に現われるか
ら、それぞれの場合の位相復調出力を記憶してお
いてその差を得る事により、伝搬又はパルス重畳
の影響を除いた、B/A(Z)・P(Z)の影響のみ による位相変化(Z)を抽出する事ができる。
以下、実施例の構成例を、第6図を用いて説明
する。
第6図において、1はポンピングパルスの送信
のタイミングを発生するタイミング制御部、2は
測定波バーストパルスのための連続波発振器、3
はポンピングパルス用のドライバ、4はポンピン
グパルスの特定の位相(通常は音圧が最大又は最
小の位相)に測定用バーストパルスが重畳される
様に、発振器2の出力を切り出すためのゲート回
路、5は測定用振動子7を駆動するためのドライ
バ、6はポンピングパルス発生用の振動子、7は
測定用パルス発生用の振動子、8は被測定超音波
媒体、9は受信増幅器、10は位相検出器、11
は10の出力を一時記憶するためのメモリ、12
は11の出力から10の出力を引算するための引
算回路、13は微分回路、14はいわゆるTGC
回路である。第6図b,cには、振動子6,7の
構成例を見取図(第6図b)及び断面図(同図
c)に示してある。第7図には第6図の主要部の
時間波形を示してある。第7図aのパルスが第6
図のポンピングパルス用ドライバ3に与えられる
と、第7図cの波形が第6図のポンピングパルス
発生用振動子6に印加される。他方、第6図の連
続波発振器2の出力は、ゲート回路4によつて例
えばポンピングパルスの高音圧部分にだけ測定用
パルスが送出される様なタイミング(第7図b)
だけ切り出され、ドライバ5を通つて、第7図d
の如き駆動信号が第6図の測定用振動子7に印加
される。この結果、ポンピングパルスと測定用パ
ルスとは、例えば第1図に示した如きタイミング
関係を保ちながら第6図の被測定媒体8の中を進
行する事になる。被測定媒体中からの反射波は振
動子7で受信され、受信増幅器9で第7図eの如
く増幅された後、位相検出回路10に入力され
る。位相検出回路のもう一方の入力には、連続波
発振器2の出力が基準信号として与えられてお
り、第7図fの如くこの2つの入力間の位相差が
位相検出回路10から出力される記憶回路11に
送られる。
記憶回路11には、トリガ信号として、第7図
aポンピング波駆動タイミングと、(b)ゲートタイ
ミングとが与えられており、ポンピング波駆動タ
イミングの直後のゲートタイミングから一走査線
の時間(第7図fのAの期間)の間信号が記憶さ
れ、次のゲートタイミングパルスで記憶内容を出
力して引算回路12に送り出す。引算回路12で
は、記憶回路11の出力(第7図fのA)から、
位相検出回路10の出力(第7図fのB)を引
き、ポンピング波が存在する場合と存在しない場
合との位相検出回路の出力の差を第7図gの如く
得て、微分回路13を経てTGC回路14に送り
出す。
TGC回路14には、トリガ信号として第7図
bのゲートタイミング信号が与えられており、測
定用パルスの送信に同期して、第6図の微分回路
13の出力(第7図h)に対して、例えば、第3
図に示す如き時間的に変化する増幅が行なわれ、
最終出力B/A(Z)が得られる。
尚、記憶回路11は、BBDやCCD等のデイレ
イラインによるアナログ的なものでも、A/D変
換器とメモリ又はシフトレジスタを組合せたデイ
ジタル的なものでもどちらでも良い事は言うまで
もない。
以上の如く、本発明によれば、超音波媒体の非
線形パラメータB/A(Z)の空間分布を、従来の 様な透過法でなく反射法で得る事ができ、透過法
の場合に必要な水槽等の大きな機械的構造を全く
必要としなくなると共に、種々の部位から対象を
観察できる様になり、操作性を大幅に向上させる
事ができる。
上記実施例では、位相検出結果の間の引算によ
つて、ポンピングパルスが存在する場合としない
場合との位相差を得ようとしていたのに対して、
次に述べる実施例は、ポンピング波が存在する場
合の受信RF信号と、ポンピング波が存在しない
場合の受信RF信号とを、直接に位相比較する事
によつて、ポンピング波が存在する場合としない
場合との、受信信号の位相差を求めようとするも
のである。構成例を第8図に示す。第8図におい
て、第7図と同じ構成要素には同一の番号を付し
てあり、説明を省略する。第7図と異なるのは、
位相検出回路10と記憶回路11の順序が逆にな
り、引算回路12がなくなつた事である。第8図
の構成を用る場合は、記憶回路11は、RF受信
信号を直接記憶できるだけの充分に高速なアナロ
グ(CCD等による)又はデイジタル(AD変換器
とメモリ又はシフトレジスタによる)的な記憶回
路が必要である。第8図のシステムの動作は、第
7図のシステムの動作から容易に類推できるので
説明は省略する。
次に、B/A(Z)分布のS/N比を向上させる 手段に関して述べる。非線形パラメータと音圧と
の積による測定用パルスの位相変化量が小さい時
には、本来の位相変化量(Z)に対して回路内
その他で発生する雑音を無視できなくなる。更
に、B/A(Z)を求めるため、(Z)を微分する が、この微分動作も雑音を大きくする元となる。
従つて得られたB/A(Z)には雑音が含まれ易い 事になる。この様子を第9図に示す。第9図A図
示の無雑音のB/A(Z)出力に、第9図B図示の 雑音Nが加わる事により、第9図C図示の如き信
号が実際には出力される。この対策として、同一
部位をK回測定して、第9図C図示のS1〜S2の如
き雑音の加わつた信号を得て、これらを同一Z座
標の点毎に加算すると、各点において信号成分は
振幅でK倍されるが、雑音成分は電力でK倍され
るに過ぎず、もし雑音が不規則雑音であれば、各
点おける雑音振幅は√倍されるにとどまる。従
つて、S/N比は√倍されて、第9図D図示の
如き出力が得られる。
この方法を用いたシステムの構成例を第10図
に示す。第10図において、第6図と同一の構成
要素には同一の番号を付してあり、説明は省略す
る。第10図において、16は、ポンピングパル
スの送信繰り返し周期Tだけ信号を遅らせる遅延
回路であり、例えばBBDやCCD等のアナログ的
手段で実現しても良いし、又、A/D変換器とシ
フトレジスタ又はメモリとを用いたデイジタル的
手段で実現しても良い事は言うまでもない。15
は加算器であり、遅延回路の種類に応じてアナロ
グ又はデイジタルのいずれのタイプでも良い。第
10図図示の構成の場合、TGC回路14の出力
が同一のZ軸座標の各点毎に加算される事は明ら
かであり、いわゆる同期加算によりS/N比の改
善を行う事ができる。
本発明においては、更にB/A(Z)の2次元又 は3次元分布を得る事が可能となる。これまでの
説明で明らかな様に、特定の走査線上のB/A(Z) の分布を得る事ができるから、ポンピングパルス
用振動子6及び測定用パルス用振動子7の相対位
置を一定に保つたままでxまたは/およびy方向
に移動させ、各xまたは/およびy座標に対応し
たメモリアドレスB/A(Z)の値を記憶しておけ ばB/A(Z)の2次元または/および3次元分布 を得る事ができる。
例えば第11図に示す如く、ポンピングパルス
用振動子xpと測定パルス用振動子xmとをそれぞ
れアレイ振動子としたものを使い、x方向にいわ
ゆる電子スキヤンを行えば、容易にB/A(Z)の 2次元分布を得る事ができるのは明らかである。
又、第11図の振動子アレイを図のy軸方向に拡
張して、例えば第12図の様な構成の振動子アレ
イを用いれば、容易にB/A(Z)の3次元分布を 得る事ができるのは明らかである。
以上の説明では、2次元又は3次元のB/A(Z) の分布を得るのに、第11図又は第12図の如き
振動子アレイを用いる場合について説明したが、
第6図bの如き振動子を機械的に一次元又は2次
元に走査する事により、2次元又は3次元のB/A (Z)の分布を得ても良い事は言うまでもない。
又、以上の説明では、ポンピングパルス用振動
子と測定パルス用振動子とは、横方向にずれた位
置に隣り合わせに設けられていたが、例えば第1
3図に示す如く、ポンピングパルス用の振動子
Xpと測定パルス用の振動子xmとを重ね合わせて
も良い。この場合、第13図の測定用振動子xm
としては例えば柔軟で音響インピーダンスが生体
組織のそれに近いいわゆるPVDFを、ポンピング
パルス用振動子Xpとしては例えば硬くて音響イ
ンピーダンスの大きないわゆるPZTを用いると、
ポンピングパルスはPVDF層を殆ど減衰なく通過
でき、しかもPZT層はPVDF層に対してバツキ
ングとして作用する、等、極めて具合の良い振動
子構造を実現できる。BKはバツキング材であ
る。
さらに、測定用振動子は送信用と受信用とを別
にしてもよい。
(E) 発明の効果 以上述べた如く、本発明によれば、以前に提案
した超音波媒体の非線形パラメータB/A(Z)の 測定法に比べて、よりコンパクトな装置構成で、
しかもより操作性の優れた反射法によつて、B/A (Z)の分布を測定する事ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の概念を説明する
図、第3図はいわゆるTGCの概念を説明する説
明図、第4図および第5図は、反射波の位相の概
念を説明する説明図、第6図は本発明の一実施例
構成ブロツク図、第7図は第6図図示構成の動作
を説明する波形説明図、第8図は第6図に対応す
る他の実施例構成ブロツク図、第9図は同期加算
の概念を説明するための説明図、第10図は同期
加算を行うための更に他の実施例構成ブロツク
図、第11図ないし第13図は振動子の種々の実
施形態を示す。 図中、1はタイミング制御部、2は連続波発振
器、3はポンピングパルス用ドライバ、4はゲー
ト回路、5は測定パルス用ドライバ、6はポンピ
ングパルス用振動子、7は測定パルス用振動子、
8は被測定超音波媒体、9は受信増幅器、10は
位相検出回路、11は記憶回路、12は引算回
路、13は微分回路、14はTGC回路、15は
加算回路、16は遅延線を表わす。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 (イ) 超音波媒体内に測定用の比較的高周波且
    つ低音圧の超音波パルスを送出し、また該超音
    波媒体内からの反射超音波を受信する送信用と
    受信用の1組の、又は送受信兼用の超音波振動
    子と、 (ロ) 該測定用超音波パルスと実質的に同一場所か
    ら実質的に同一方向にポンピング用の比較的低
    周波且つ高音圧の超音波パルスを該超音波媒体
    内に送出する超音波振動子と、 (ハ) 該測定用超音波パルスが該ポンピング用超音
    波パルスの予め定められた特定の位相の部分に
    重畳する様に送出されるべく、振動子の駆動タ
    イミングを制御する手段と、 (ニ) 該測定用超音波パルスの該超音波媒体内から
    の反射波から成る受信信号の基準信号に対する
    位相を検出する手段と、 (ホ) 上記(ニ)で求めた時間の関数としての位相を微
    分する事により、該超音波媒体の非線形パラメ
    ータの、該測定用ビーム上の空間的分布を求め
    る手段、 を有する事を特徴とする超音波媒体の非線形パラ
    メータ分布測定装置。 2 (イ) 超音波媒体内に測定用の比較的高周波且
    つ低音圧の超音波パルスを送出し、また該超音
    波媒体内からの反射超音波を受信する送信用と
    受信用の1組の、又は送受信兼用の超音波振動
    子と、 (ロ) 該測定用超音波パルスとほぼ同一場所からほ
    ぼ同一方向にポンピング用の比較的低周波且つ
    高音圧の超音波パルスを該超音波媒体内に送出
    する超音波振動子と、 (ハ) 該測定用超音波パルスが該ポンピング用超音
    波パルスの予め定められた特定の位相の部分に
    重畳する様に送出されるべく、振動子の駆動タ
    イミングを制御する手段と、 (ニ) ポンピング用超音波パルスと共に測定用超音
    波パルスを送信した時の受信信号(いわゆる
    RF信号)と、ポンピング用超音波パルスを送
    出せずに測定用超音波パルスのみを送出した時
    の受信信号(RF信号)との位相差をRF信号間
    の位相比較を行なつて求める手段と、 (ホ) (ニ)で求めた時間の関数としての位相差を微分
    する事により、該超音波媒体の等価非線形パラ
    メータの、該測定用ビーム上の空間的分布を求
    める手段、 を有する事を特徴とする超音波媒体の非線形パラ
    メータ分布測定装置。 3 上記空間的分布を求める手段には、上記位相
    差を微分する手段の後段に、時間とともに利得の
    増大する増幅器を含むことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項に記載の超音波媒体の非線形パラメ
    ータ分布測定装置。 4 上記空間的分布を求める手段には、上記位相
    差を微分する手段の後段に、時間とともに利得の
    増大する増幅器を含むことを特徴とする特許請求
    範囲第2項に記載の超音波媒体の非線形パラメー
    タ分布測定装置。
JP58227949A 1983-12-02 1983-12-02 超音波非線形パラメ−タ分布測定装置 Granted JPS60119926A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58227949A JPS60119926A (ja) 1983-12-02 1983-12-02 超音波非線形パラメ−タ分布測定装置
US06/675,612 US4610255A (en) 1983-12-02 1984-11-28 Ultrasonic non-linear parameter measuring system
DE8484308324T DE3474211D1 (en) 1983-12-02 1984-11-30 Ultrasonic non-linear parameter measuring system
EP84308324A EP0147955B1 (en) 1983-12-02 1984-11-30 Ultrasonic non-linear parameter measuring system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58227949A JPS60119926A (ja) 1983-12-02 1983-12-02 超音波非線形パラメ−タ分布測定装置

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