JPH02225662A - スパッタ装置 - Google Patents
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- JPH02225662A JPH02225662A JP4595989A JP4595989A JPH02225662A JP H02225662 A JPH02225662 A JP H02225662A JP 4595989 A JP4595989 A JP 4595989A JP 4595989 A JP4595989 A JP 4595989A JP H02225662 A JPH02225662 A JP H02225662A
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Links
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims description 19
- 238000009826 distribution Methods 0.000 abstract description 35
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 23
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 2
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、スパッタ装置に係わり、さらに詳しくは、蒸
着膜の膜厚分布を均一にするためのターゲットの改良に
関する (従来の技術) スパッタ装置、特に大形基板を処理をするスパッタ装置
には、基板表面に広範囲に亘って均一な厚みで蒸着膜を
形成する能力が要求される。そのため、従来のスパッタ
装置では、基板の一辺にほぼ相当する長さを持つ細長い
マグネトロン型のターゲットをチャンバの中央部に配置
し、その上を一定の速度で基板を通過させるという構成
が一般に採用されている。
着膜の膜厚分布を均一にするためのターゲットの改良に
関する (従来の技術) スパッタ装置、特に大形基板を処理をするスパッタ装置
には、基板表面に広範囲に亘って均一な厚みで蒸着膜を
形成する能力が要求される。そのため、従来のスパッタ
装置では、基板の一辺にほぼ相当する長さを持つ細長い
マグネトロン型のターゲットをチャンバの中央部に配置
し、その上を一定の速度で基板を通過させるという構成
が一般に採用されている。
(発明が解決しようとする課題)
従来の構成の一つの問題は、大形のチャンバーが必要と
なるという点である。即ち、チャンバー内においてター
ゲットの一方の側から他方の側へと基板が移動させられ
るから、少なくとも基板の2倍の面積を8含できる大き
さを持ったチャンバーが必要となる。さらに、塵埃の問
題もある。即ち、基板を移動させる際、その搬送機構か
ら摩耗による塵埃が発生し製品品質に悪影響を及ぼす。
なるという点である。即ち、チャンバー内においてター
ゲットの一方の側から他方の側へと基板が移動させられ
るから、少なくとも基板の2倍の面積を8含できる大き
さを持ったチャンバーが必要となる。さらに、塵埃の問
題もある。即ち、基板を移動させる際、その搬送機構か
ら摩耗による塵埃が発生し製品品質に悪影響を及ぼす。
従って、本発明の目的は、基板を固定した状態で大形の
基板に膜厚分布の均一なスパッタ蒸若膜を形成できるよ
うにすることにある。
基板に膜厚分布の均一なスパッタ蒸若膜を形成できるよ
うにすることにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は、同心円状に配されたリング状の複数のターゲ
ットと、各ターゲット毎に独立に供給電力量が制御でき
る電力供給手段とを有するスパッタ装置を提供する。
ットと、各ターゲット毎に独立に供給電力量が制御でき
る電力供給手段とを有するスパッタ装置を提供する。
(作 用)
同心円状に配された各ターゲットはそれぞれ独自の膜厚
分布を形成する。各ターゲットへの供給電力量が適当な
値に制御されることにより、各ターゲットの形成する膜
厚分布の不均一が互いに相殺し合い、均一な膜厚分布が
形成される。
分布を形成する。各ターゲットへの供給電力量が適当な
値に制御されることにより、各ターゲットの形成する膜
厚分布の不均一が互いに相殺し合い、均一な膜厚分布が
形成される。
(実施例)
以下、本発明の好適な実施例を説明する。
先ず、第1図、第2図及び第4図を参照して、本発明に
係るスパッタ装置のターゲットの構成を説明する。
係るスパッタ装置のターゲットの構成を説明する。
第1図を参照して、金属(例えばアルミラム)製の円形
テーブル1の上に、3個の円リング状のターゲット3.
5.7がテーブル1の中心軸ρを中心に同心円状に配置
されている。チャンバーは図示してないが、テーブル1
の上方つまりターゲットの側がチャンバー内、テーブル
1の下方がチャンバー外となっている。チャンバー内に
はターゲット3.5.7上面に対向してそれらと平行に
基板が固定される。この基板の表面は第2図にて符号S
で示されている。チャンバー内は図示しない排気管を通
じてほぼ真空状態とされる。テーブル1の中心にはガス
供給口9が設けられそこにガス供給管10が接続されて
おり、これを通してテーブル1の下方からチャンバー内
に所定のガスが供給される。
テーブル1の上に、3個の円リング状のターゲット3.
5.7がテーブル1の中心軸ρを中心に同心円状に配置
されている。チャンバーは図示してないが、テーブル1
の上方つまりターゲットの側がチャンバー内、テーブル
1の下方がチャンバー外となっている。チャンバー内に
はターゲット3.5.7上面に対向してそれらと平行に
基板が固定される。この基板の表面は第2図にて符号S
で示されている。チャンバー内は図示しない排気管を通
じてほぼ真空状態とされる。テーブル1の中心にはガス
供給口9が設けられそこにガス供給管10が接続されて
おり、これを通してテーブル1の下方からチャンバー内
に所定のガスが供給される。
各ターゲット3.5.7の下には、ターゲットを冷却す
るだめの水を流す金属製の冷却管11.13.15が配
設されており、各冷却管11.13.15には、テーブ
ル1の下方から水供給萱17.1つ、21を通して冷却
水が供給される。
るだめの水を流す金属製の冷却管11.13.15が配
設されており、各冷却管11.13.15には、テーブ
ル1の下方から水供給萱17.1つ、21を通して冷却
水が供給される。
冷却管11,13.15は、各ターゲット3.5.7に
電力を供給するための導電路としても使用されるため、
絶縁材(例えば、テフロン)製のブッシング23.25
.27によりテーブル1から電気的に絶縁されている。
電力を供給するための導電路としても使用されるため、
絶縁材(例えば、テフロン)製のブッシング23.25
.27によりテーブル1から電気的に絶縁されている。
各冷却管11.13.15の下には、リング状の永久磁
石29.3L33が配置されている。各永久磁石29.
31.33は、・その内周面と外周面とに磁極を有して
いる。各冷却管11.13.15と永久磁石29.31
.33の内周面及び外周面には、それぞれリング状の鉄
心35.37.39及び鉄心41.43.45がはめ込
まれており、これらの鉄心35.37.39.41.4
3.45を通じて、各永久磁石29.31.33の磁極
が各ターゲット3.5.7の下面に磁気的に結合されて
いる。
石29.3L33が配置されている。各永久磁石29.
31.33は、・その内周面と外周面とに磁極を有して
いる。各冷却管11.13.15と永久磁石29.31
.33の内周面及び外周面には、それぞれリング状の鉄
心35.37.39及び鉄心41.43.45がはめ込
まれており、これらの鉄心35.37.39.41.4
3.45を通じて、各永久磁石29.31.33の磁極
が各ターゲット3.5.7の下面に磁気的に結合されて
いる。
こうした構造により、3個のリング状のマグネトロン型
ターゲット部65.67.69が形成されている。
ターゲット部65.67.69が形成されている。
ここで、隣接するターゲット部間では、第2図に示すよ
うに、それぞれの永久磁石同士が同種の磁極で対向する
ように磁極の方向が設定されている。このような磁極配
置の採用により、第3図にて中央のターゲット部67を
例に図示するように、ターゲット部67の磁力線は隣接
ターゲット部′69.65の磁力線と反発し合うため、
このターゲット部67の磁力線は隣接ターゲット部69
.65に入ることなく当該ターゲット部67内でターゲ
ット5を囲むような閉ループを形成する。従って、プラ
ズマ70はターゲット5の表面付近に良好に閉じこめら
れ、隣接ターゲット部間でのプラズマの連結による相互
干渉(これは、高周波スバッタにおけるターゲット部毎
の電力検出及び制御を困難にする)を防止することがで
きる。
うに、それぞれの永久磁石同士が同種の磁極で対向する
ように磁極の方向が設定されている。このような磁極配
置の採用により、第3図にて中央のターゲット部67を
例に図示するように、ターゲット部67の磁力線は隣接
ターゲット部′69.65の磁力線と反発し合うため、
このターゲット部67の磁力線は隣接ターゲット部69
.65に入ることなく当該ターゲット部67内でターゲ
ット5を囲むような閉ループを形成する。従って、プラ
ズマ70はターゲット5の表面付近に良好に閉じこめら
れ、隣接ターゲット部間でのプラズマの連結による相互
干渉(これは、高周波スバッタにおけるターゲット部毎
の電力検出及び制御を困難にする)を防止することがで
きる。
ターゲット部65.67.69は、テーブル1上に固定
された絶縁材(例えば、テフロン)製のリング状の台座
47,49.51の上に、テーブル1から電気的に絶縁
された状態で取付けられている。さらにテーブル1上に
は、ターゲット部65.67.79の内周面及び外周面
のスパッタ蒸発を防止するために金属製のシールド板5
3.55.57.59.61.63が取付けされている
。
された絶縁材(例えば、テフロン)製のリング状の台座
47,49.51の上に、テーブル1から電気的に絶縁
された状態で取付けられている。さらにテーブル1上に
は、ターゲット部65.67.79の内周面及び外周面
のスパッタ蒸発を防止するために金属製のシールド板5
3.55.57.59.61.63が取付けされている
。
各シールド板53.55.57.59.61.63の上
端部はターゲット3.5.7に向かって滑らかに湾曲し
た形状となっている。このシールド板の形状は高周波ス
パッタにおいて有用な作用を生じる。即ち、第3図にて
シールド板57.59を例に示すように、プラズマ70
が滑らかに湾曲したシールド板57.5つの表面上へ磁
力線に沿って容易に拡散する。このプラズマ70の拡散
により、高周波スパッタにおけるシールド板57.59
(アノード)からの光電子放出時のインピーダンスが低
下し、それによりターゲット5のスパッタ蒸発時に0(
給される電力の割合カリ曽加し、スパッタ効率が向上す
る。
端部はターゲット3.5.7に向かって滑らかに湾曲し
た形状となっている。このシールド板の形状は高周波ス
パッタにおいて有用な作用を生じる。即ち、第3図にて
シールド板57.59を例に示すように、プラズマ70
が滑らかに湾曲したシールド板57.5つの表面上へ磁
力線に沿って容易に拡散する。このプラズマ70の拡散
により、高周波スパッタにおけるシールド板57.59
(アノード)からの光電子放出時のインピーダンスが低
下し、それによりターゲット5のスパッタ蒸発時に0(
給される電力の割合カリ曽加し、スパッタ効率が向上す
る。
第2図には、上述したターゲット部の断面構成と共に、
各ターゲットに電力を供給するための回路例も示されて
いる。図示の回路は、直流スパッタのためのもので、3
つのターゲット3.51.7に対して3台の直流電源回
路71.73.75からそれぞれ高圧直流電力を供給す
るように構成されている。電源回路71.73.75は
、共通のスタートスイッチ7つからのスタート信号5T
ARTにより一斉に出力を開始し、各々に設けられた制
御回路81.83.85からのストップ信号5TOPに
より出力を停止するようになっている。
各ターゲットに電力を供給するための回路例も示されて
いる。図示の回路は、直流スパッタのためのもので、3
つのターゲット3.51.7に対して3台の直流電源回
路71.73.75からそれぞれ高圧直流電力を供給す
るように構成されている。電源回路71.73.75は
、共通のスタートスイッチ7つからのスタート信号5T
ARTにより一斉に出力を開始し、各々に設けられた制
御回路81.83.85からのストップ信号5TOPに
より出力を停止するようになっている。
電源回路71.73.75の出力には直流電力計87.
89.91が接続されており、それらからの電力検出値
P1、P2、P3は制御回路81.83.85にフィー
ドバックされるようになっている。
89.91が接続されており、それらからの電力検出値
P1、P2、P3は制御回路81.83.85にフィー
ドバックされるようになっている。
電力計87は、ターゲットへの供給電流を検出する電流
計93及び印加電圧を検出する電圧計95を有している
。それらの出力は乗算回路97によって乗算されて電力
検出値P1が求められる。
計93及び印加電圧を検出する電圧計95を有している
。それらの出力は乗算回路97によって乗算されて電力
検出値P1が求められる。
他の電力計89.91もこれと同様の構成である。
制御回路81は、ターゲットに供給すべき電力量を設定
する設定回路(例えば、可変抵抗器やロータリスイッチ
等)99と、電力計87からの電力検出値P1を積算し
て供給された電力量を求める積算回路101とを有する
。設定回路99からの設定電力量と積算回路101から
の供給電力量とはフンパレータ103に入力され、供給
電力量が設定電力量に達した時にストップ信号5TOP
が出力される。他の制御回路83.85もこれと同様の
構成である。
する設定回路(例えば、可変抵抗器やロータリスイッチ
等)99と、電力計87からの電力検出値P1を積算し
て供給された電力量を求める積算回路101とを有する
。設定回路99からの設定電力量と積算回路101から
の供給電力量とはフンパレータ103に入力され、供給
電力量が設定電力量に達した時にストップ信号5TOP
が出力される。他の制御回路83.85もこれと同様の
構成である。
この様な構成の回路により、各ターゲット3.5.7に
対する供給電力量がターゲット毎に独立に制御される。
対する供給電力量がターゲット毎に独立に制御される。
第4図は、高周波スパッタのための電力供給回路の例を
示している。
示している。
高周波スパッタでは、各ターゲットに対し同時に高周波
電力を供給した場合、ターゲット間に位相差があるとタ
ーゲット相互間でも高周波電流が流れるため、各ターゲ
ットへの供給電力を正確に肺1定することが難しい。そ
のため、第3図の回路は、時分割的に各ターゲットに電
力を供給することにより、常に1つのターゲットのみに
電力が供給されるようにするとともに、時分割の比を制
御することによって所望の電力量を各ターゲットに供給
できるようにしている。
電力を供給した場合、ターゲット間に位相差があるとタ
ーゲット相互間でも高周波電流が流れるため、各ターゲ
ットへの供給電力を正確に肺1定することが難しい。そ
のため、第3図の回路は、時分割的に各ターゲットに電
力を供給することにより、常に1つのターゲットのみに
電力が供給されるようにするとともに、時分割の比を制
御することによって所望の電力量を各ターゲットに供給
できるようにしている。
第4図において、高周波発振回路105の出力高周波電
力は、トランス107によって3つの電力に分配され、
分配された電力は電力増幅器109.111.113に
よって所定の値に増幅された後、マツチング回路115
.117.119を通じてターゲット3.5.7に供給
される。電力増幅器109.111.113は、制御回
路121から与えられるコントロールパルスC1、C2
、C3によってゲインコントロールされる。即ち、電力
増幅器109.111.113は、コントロールパルス
C1、C2、C3が与えられている時間区間のみ所定の
ゲインで動作し、与えられていtい区間ではゲインを実
質的にゼロとする。電力増幅器109.111.113
の出力には、各ターゲットへの供給電力を検出するため
の高周波電力計123.125.127が接続されてお
り、それらが出力する検出電力値P1、R2、R3は制
御回路121にフィードバックされる。
力は、トランス107によって3つの電力に分配され、
分配された電力は電力増幅器109.111.113に
よって所定の値に増幅された後、マツチング回路115
.117.119を通じてターゲット3.5.7に供給
される。電力増幅器109.111.113は、制御回
路121から与えられるコントロールパルスC1、C2
、C3によってゲインコントロールされる。即ち、電力
増幅器109.111.113は、コントロールパルス
C1、C2、C3が与えられている時間区間のみ所定の
ゲインで動作し、与えられていtい区間ではゲインを実
質的にゼロとする。電力増幅器109.111.113
の出力には、各ターゲットへの供給電力を検出するため
の高周波電力計123.125.127が接続されてお
り、それらが出力する検出電力値P1、R2、R3は制
御回路121にフィードバックされる。
制御回路121は、電力計123.125.127から
の検出電力値P1、R2、R3を積算して各ターゲット
への供給電力量を求める積算回路129.131.13
3と、各ターゲットへ供給すべき電力量を設定する設定
回路135.137.139とを有すZ)、 m算回路
129.131.133から出力される供給電力量と、
設定回路135.137.139から出力される設定電
力量とは、コンパレータ141.143.145に人力
されて比較される。コンパレータ141.143.14
5は、供給電力量が設定電力量に達した時、ストップ信
号STI、ST2、Sr1をパルス分配回路147に与
える。
の検出電力値P1、R2、R3を積算して各ターゲット
への供給電力量を求める積算回路129.131.13
3と、各ターゲットへ供給すべき電力量を設定する設定
回路135.137.139とを有すZ)、 m算回路
129.131.133から出力される供給電力量と、
設定回路135.137.139から出力される設定電
力量とは、コンパレータ141.143.145に人力
されて比較される。コンパレータ141.143.14
5は、供給電力量が設定電力量に達した時、ストップ信
号STI、ST2、Sr1をパルス分配回路147に与
える。
パルス分配回路147は、時分割によって互いにオーバ
ラップしないようなコントロールパルスC1、C2、C
3を作成して電力増幅器109.111.113に出力
するものである。このパルス分配回路147は、各設定
回路135.137、]39からの設定電力量の比に従
って、各パルスC1、C2、C3の時間幅の比を定める
。そして、このパルス分配回路147は、スタートスイ
ッチ149からのスタート信号5TARTによってコン
トロールパルスCL C2、C3の出力を開始し、各コ
ンパレータ141.143.145からのストップ信号
STI、ST2、Sr1によって対応するコントロール
パルスの出力を停止する。
ラップしないようなコントロールパルスC1、C2、C
3を作成して電力増幅器109.111.113に出力
するものである。このパルス分配回路147は、各設定
回路135.137、]39からの設定電力量の比に従
って、各パルスC1、C2、C3の時間幅の比を定める
。そして、このパルス分配回路147は、スタートスイ
ッチ149からのスタート信号5TARTによってコン
トロールパルスCL C2、C3の出力を開始し、各コ
ンパレータ141.143.145からのストップ信号
STI、ST2、Sr1によって対応するコントロール
パルスの出力を停止する。
このような構成の回路によって、各ターゲット3.5.
7へ供給される高周波電力量をターゲット毎に独立に制
御することができる。
7へ供給される高周波電力量をターゲット毎に独立に制
御することができる。
第2図、第4図の電力供給回路は、供給電力量を検出し
てそれが設定値に達した時にターゲット毎に電力供給を
停止させるという方法により供給電力量を制御する。こ
れに対し、ターゲット毎に供給電力をフィードバック制
御しつつ、電力供給時間が所定値に達した時に一斉に電
力供給を停止させるという方法によっても、ターゲット
毎の供給電力量の制御が可能である。しかし、給電途中
で外乱等により供給電力に変動が生じた場合、後者の方
法ではトータルの供給電力量が変動してしまうのに対し
、上記実施例の方法はトータル電力量を制御しているた
めその電力変動の影響を受けないという利点がある。
てそれが設定値に達した時にターゲット毎に電力供給を
停止させるという方法により供給電力量を制御する。こ
れに対し、ターゲット毎に供給電力をフィードバック制
御しつつ、電力供給時間が所定値に達した時に一斉に電
力供給を停止させるという方法によっても、ターゲット
毎の供給電力量の制御が可能である。しかし、給電途中
で外乱等により供給電力に変動が生じた場合、後者の方
法ではトータルの供給電力量が変動してしまうのに対し
、上記実施例の方法はトータル電力量を制御しているた
めその電力変動の影響を受けないという利点がある。
次に、上記実施例の作用を説明する。
第2図を参照して、各ターゲット3. 5.7はそれぞ
れ中心半径R1、R2、R3を有している。
れ中心半径R1、R2、R3を有している。
また、基板表面Sはターゲット3. 5. 7から高さ
Hの位置に配置されている。基板の高さHは各ターゲッ
ト3.5.7の幅の2倍以上に設定される。こうするこ
とにより、基板表面Sに形成される蒸着膜の膜厚分布は
、ターゲット3.5.7の幅には実質的に関係なくなり
、高さHと各ターゲット3. 5. 7の中心半径R1
、R2、R3と各ターゲット3. 5. 7への供給電
力量Q1、C2、C3との関数となる。ターゲット中の
1点が基板表面に形成する蒸着膜の膜厚分布はいわゆる
C05(コサイン)則に従い、その1点に対応する位置
にて最も厚く、離れるに従って薄くなる。この1点によ
る膜厚分布を1個のターゲットの全表面について積分す
ることにより、1個のターゲットにより形成される蒸着
膜の膜厚分布が求まる。この膜厚分布は、上述のように
高さHがターゲット幅の2倍以上であればターゲット幅
に実質的に関係なくなる。こうして、1個のターゲット
による膜厚分布が、各ターゲット3.5.7毎に、高さ
H1中心半径R1供給電力ff1Qの関数として求まる
。
Hの位置に配置されている。基板の高さHは各ターゲッ
ト3.5.7の幅の2倍以上に設定される。こうするこ
とにより、基板表面Sに形成される蒸着膜の膜厚分布は
、ターゲット3.5.7の幅には実質的に関係なくなり
、高さHと各ターゲット3. 5. 7の中心半径R1
、R2、R3と各ターゲット3. 5. 7への供給電
力量Q1、C2、C3との関数となる。ターゲット中の
1点が基板表面に形成する蒸着膜の膜厚分布はいわゆる
C05(コサイン)則に従い、その1点に対応する位置
にて最も厚く、離れるに従って薄くなる。この1点によ
る膜厚分布を1個のターゲットの全表面について積分す
ることにより、1個のターゲットにより形成される蒸着
膜の膜厚分布が求まる。この膜厚分布は、上述のように
高さHがターゲット幅の2倍以上であればターゲット幅
に実質的に関係なくなる。こうして、1個のターゲット
による膜厚分布が、各ターゲット3.5.7毎に、高さ
H1中心半径R1供給電力ff1Qの関数として求まる
。
こうして求めた各ターゲット3.5.7毎の膜厚分布を
加え合せると、3個のターゲット3.5.7により最終
的に形成される膜厚分布が求まる。
加え合せると、3個のターゲット3.5.7により最終
的に形成される膜厚分布が求まる。
そして、この最終的な膜厚分布が均一になるように、各
ターゲット3.5.7の中心半径R1、R2、R3及び
供給電力jtQ1、C2、C3が設定される。この場合
、基板の高さHはそれが高いほど、膜厚分布はより均一
になるが、付着効率(スパッタ蒸発したターゲット物質
のうち基板表面に付着するものの割合)は低下する。従
って、高さHは、膜厚分布と付着効率との双方を考慮し
て適度な値に設定される。
ターゲット3.5.7の中心半径R1、R2、R3及び
供給電力jtQ1、C2、C3が設定される。この場合
、基板の高さHはそれが高いほど、膜厚分布はより均一
になるが、付着効率(スパッタ蒸発したターゲット物質
のうち基板表面に付着するものの割合)は低下する。従
って、高さHは、膜厚分布と付着効率との双方を考慮し
て適度な値に設定される。
第5図A−Eは、基板高さH1各ターゲット3.5.7
の中心半径R1、R2、R3及び(単位長さ当りの)供
給電力ff1Q1、Q2、Q3に関して異なる条件を設
定し、それぞれについて上述のごとき演算により求めた
膜厚分布の状況を示すものである。ここで、図中に引か
れた一点鎖線りは、中心軸gから外側ターゲット7の中
心半径R3までの範囲内の最も薄い膜厚以上の膜厚が得
られる範囲を示している。そして、図中、線りの右方に
、付廿効率E、つまり基板が無限大に広いと仮定した場
合の基板全体の蒸着膜量に対するfjILの範囲内の蒸
着膜量の割合、が示されている。
の中心半径R1、R2、R3及び(単位長さ当りの)供
給電力ff1Q1、Q2、Q3に関して異なる条件を設
定し、それぞれについて上述のごとき演算により求めた
膜厚分布の状況を示すものである。ここで、図中に引か
れた一点鎖線りは、中心軸gから外側ターゲット7の中
心半径R3までの範囲内の最も薄い膜厚以上の膜厚が得
られる範囲を示している。そして、図中、線りの右方に
、付廿効率E、つまり基板が無限大に広いと仮定した場
合の基板全体の蒸着膜量に対するfjILの範囲内の蒸
着膜量の割合、が示されている。
第5図Aは、
H:R1:R2:R3
−30: 50 : 100 : 150、Ql:Q
2:Q3 −1 :1 :1 とした場合、つまり各ターゲット3.5.7を等間隔に
配置し等しい電力量を供給した場合の膜厚分布を示す。
2:Q3 −1 :1 :1 とした場合、つまり各ターゲット3.5.7を等間隔に
配置し等しい電力量を供給した場合の膜厚分布を示す。
この条件下では、明らかなピークが各ターゲット3.5
.7の中心半径位置において現れ、均一な膜厚分布は得
られない。また、付着効率Eは84.726である。
.7の中心半径位置において現れ、均一な膜厚分布は得
られない。また、付着効率Eは84.726である。
第5図Bは、
H:R1:R2:R3
−50:50:100:150、
Ql:Q2:Q3
−1 :1 :1
とした場合、つまり、第5図Aの場合より基板高さHを
高めてみた場合である。膜厚分布は若干改善されたが、
中心と周辺が薄過ぎる丘陵状の分布となっている。また
、高さHが高まったため付着効率Eは62.1%に低下
している。
高めてみた場合である。膜厚分布は若干改善されたが、
中心と周辺が薄過ぎる丘陵状の分布となっている。また
、高さHが高まったため付着効率Eは62.1%に低下
している。
第5図Cは、
H;R1:R2:R3
−50: 50: 100:150、
Ql :Q2 :Q3
−0.75:0.66:1.o。
とした場合、つまり、第5図Bと同じ配置において、供
給電力ff1Q1、Q2を調整してみた場合である。膜
厚分布はかなり均一化されているが、まだ中心部が薄す
ぎる。また、付着効率Eは65゜9%と若干改善されて
いる。
給電力ff1Q1、Q2を調整してみた場合である。膜
厚分布はかなり均一化されているが、まだ中心部が薄す
ぎる。また、付着効率Eは65゜9%と若干改善されて
いる。
第5図りは、
H:R1:R2:R3
−50:38:91.5:150、
Ql :Q2 :Q3
一〇、66:0.71:1.00
とした場合、つまり、ターゲットの中心半径R1、R2
と供給電力Q1、Q2とをさらに調整してみた場合であ
る。非常に均一な膜厚分布が得られていることが分る。
と供給電力Q1、Q2とをさらに調整してみた場合であ
る。非常に均一な膜厚分布が得られていることが分る。
但し、付着効率Eは57.9%とやや低下している。
第5図Eは、
H:R1:R2:R3
−55:38.5:91:150、
Ql :Q2 :Q3
−0.62:0,67: 1.00
とした場合、つまり、第5図りの場合より主として基板
高さHを高めてみた場合である。極めて均一な膜厚分布
が得られている。しがし、付着効率Eは55.9%と更
に若干低下している。
高さHを高めてみた場合である。極めて均一な膜厚分布
が得られている。しがし、付着効率Eは55.9%と更
に若干低下している。
以上の考察から、第5図りまたはEのような条件が最適
に近い条件と言えよう。
に近い条件と言えよう。
以上説明した実施例では、ターゲットの数は3個であっ
たが、本発明はそのターゲット数に限定されるものでは
ない。より多くのターゲット数であっても勿論かまわな
い。ターゲット数を多くすれば、より高い付着効率を得
ることができる。
たが、本発明はそのターゲット数に限定されるものでは
ない。より多くのターゲット数であっても勿論かまわな
い。ターゲット数を多くすれば、より高い付着効率を得
ることができる。
また、ターゲットの形状は円形に限らず、多角形(角数
は多い程円に近くなるので望ましい)であってもかまわ
ない。特にターゲットの半径が大きくなる程、多角形の
ターゲットは円形ターゲットに近い効果を示す。
は多い程円に近くなるので望ましい)であってもかまわ
ない。特にターゲットの半径が大きくなる程、多角形の
ターゲットは円形ターゲットに近い効果を示す。
以上説明したように、本発明によれば、同心円状に配さ
れた複数のリング状のターゲットを設け、それらに独立
に電力量を供給するようにしているので、ターゲットの
半径及び供給電力量の適当な設定により各ターゲット毎
に形成する膜厚分布の不均一が相殺し合うようにして均
一な膜厚分布を得ることが可能となる。
れた複数のリング状のターゲットを設け、それらに独立
に電力量を供給するようにしているので、ターゲットの
半径及び供給電力量の適当な設定により各ターゲット毎
に形成する膜厚分布の不均一が相殺し合うようにして均
一な膜厚分布を得ることが可能となる。
第1図は本発明に係るスパッタ装置の一実施例のターゲ
ット部の構成を示す一部断面斜視図、第2図は第1図の
ターゲット部の断面構造及びこのターゲット部に適用さ
れる直流スパッタ用電力供給回路の一例のブロック構成
を示す図、第3図は第2図のターゲット部近傍に形成さ
れる磁力線分布及びプラズマ分布を示す断面図、第4図
は第2図のターゲット部に適用される高周波スパッタ用
電力供給回路の一例を示すブロック線図、第5図A〜E
はそれぞれ異なる条件下において第2図のターゲット部
により形成される膜厚分布を示す図である。 3.5.7・・・ターゲット、29.31.33・・・
永久磁石、65.67.69・・・ターゲット部、71
.73.75・・・直流ta源回路、81.83.85
・・・制御回路、87.89.9]・・・直流電力計、
99.135.137.139・・・設定回路、101
.129.131.133・・・積算回路、103.1
41.143.145・・・比較回路、105・・・高
周波発振回路、107・・・トランス、109.111
.1】3・・・電力増幅回路、147・・・パルス分配
回路。
ット部の構成を示す一部断面斜視図、第2図は第1図の
ターゲット部の断面構造及びこのターゲット部に適用さ
れる直流スパッタ用電力供給回路の一例のブロック構成
を示す図、第3図は第2図のターゲット部近傍に形成さ
れる磁力線分布及びプラズマ分布を示す断面図、第4図
は第2図のターゲット部に適用される高周波スパッタ用
電力供給回路の一例を示すブロック線図、第5図A〜E
はそれぞれ異なる条件下において第2図のターゲット部
により形成される膜厚分布を示す図である。 3.5.7・・・ターゲット、29.31.33・・・
永久磁石、65.67.69・・・ターゲット部、71
.73.75・・・直流ta源回路、81.83.85
・・・制御回路、87.89.9]・・・直流電力計、
99.135.137.139・・・設定回路、101
.129.131.133・・・積算回路、103.1
41.143.145・・・比較回路、105・・・高
周波発振回路、107・・・トランス、109.111
.1】3・・・電力増幅回路、147・・・パルス分配
回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、チャンバー内のターゲットに電力を供給して前記チ
ャンバー内の被処理物にスパッタ処理を施すものにおい
て、同心円状に配された複数の円又は多角リング状のタ
ーゲットと、各ターゲット毎に独立に供給電力量を制御
できる電力供給手段とを有することを特徴とするスパッ
タ装置。 2、請求項1記載の装置において、前記ターゲットはマ
グネトロン型であることを特徴とするスパッタ装置。 3、請求項1記載の装置において、前記電力供給手段は
、ターゲット毎に電力を供給する手段と、ターゲット毎
に供給すべき電力量を設定する手段と、ターゲット毎に
供給された電力量を検出する手段と、検出された電力量
が設定された電力量に達した時、ターゲット毎に電力供
給を停止させる手段とを有することを特徴とするスパッ
タ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4595989A JPH02225662A (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | スパッタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4595989A JPH02225662A (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | スパッタ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02225662A true JPH02225662A (ja) | 1990-09-07 |
Family
ID=12733799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4595989A Pending JPH02225662A (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | スパッタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02225662A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000026430A1 (fr) * | 1998-10-30 | 2000-05-11 | Applied Materials Inc. | Appareil de pulverisation |
JP2007501333A (ja) * | 2003-05-23 | 2007-01-25 | ティーガル コーポレイション | 付着装置及び方法 |
US7586210B2 (en) | 2003-02-15 | 2009-09-08 | Huettinger Elektronik Gmbh + Co. Kg | Power delivery control and balancing between multiple loads |
US8482375B2 (en) | 2009-05-24 | 2013-07-09 | Oem Group, Inc. | Sputter deposition of cermet resistor films with low temperature coefficient of resistance |
US8691057B2 (en) | 2008-03-25 | 2014-04-08 | Oem Group | Stress adjustment in reactive sputtering |
WO2022046356A1 (en) * | 2020-08-31 | 2022-03-03 | Oem Group, Llc | Systems and methods for a magnetron with a segmented target configuration |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63103065A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-07 | Tokyo Electron Ltd | スパツタリングによる成膜方法 |
JPS63140078A (ja) * | 1986-11-29 | 1988-06-11 | Tokyo Electron Ltd | スパツタリングによる成膜方法 |
-
1989
- 1989-02-27 JP JP4595989A patent/JPH02225662A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63103065A (ja) * | 1986-10-20 | 1988-05-07 | Tokyo Electron Ltd | スパツタリングによる成膜方法 |
JPS63140078A (ja) * | 1986-11-29 | 1988-06-11 | Tokyo Electron Ltd | スパツタリングによる成膜方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2000026430A1 (fr) * | 1998-10-30 | 2000-05-11 | Applied Materials Inc. | Appareil de pulverisation |
US6506290B1 (en) | 1998-10-30 | 2003-01-14 | Applied Materials, Inc. | Sputtering apparatus with magnetron device |
US7586210B2 (en) | 2003-02-15 | 2009-09-08 | Huettinger Elektronik Gmbh + Co. Kg | Power delivery control and balancing between multiple loads |
JP2007501333A (ja) * | 2003-05-23 | 2007-01-25 | ティーガル コーポレイション | 付着装置及び方法 |
US8691057B2 (en) | 2008-03-25 | 2014-04-08 | Oem Group | Stress adjustment in reactive sputtering |
US8808513B2 (en) | 2008-03-25 | 2014-08-19 | Oem Group, Inc | Stress adjustment in reactive sputtering |
US8482375B2 (en) | 2009-05-24 | 2013-07-09 | Oem Group, Inc. | Sputter deposition of cermet resistor films with low temperature coefficient of resistance |
WO2022046356A1 (en) * | 2020-08-31 | 2022-03-03 | Oem Group, Llc | Systems and methods for a magnetron with a segmented target configuration |
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