JPH02218239A - Speech path testing device - Google Patents

Speech path testing device

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JPH02218239A
JPH02218239A JP1039646A JP3964689A JPH02218239A JP H02218239 A JPH02218239 A JP H02218239A JP 1039646 A JP1039646 A JP 1039646A JP 3964689 A JP3964689 A JP 3964689A JP H02218239 A JPH02218239 A JP H02218239A
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Abstract

PURPOSE:To execute a test with satisfactory efficiency in a short time by successively changing the value of an outgoing line address and the value of an incoming line address for a test packet, transmitting the packet to the incoming line of a speech path switch to be tested, investigating the test packet to be sent from an n-th outgoing line of the channel switch to be tested in a fixed time and deciding propriety. CONSTITUTION:A speech path testing device is composed of a test packet insertion circuit, (n-1) outgoing line address increment circuit, test end detection circuit, outgoing line address reset circuit, incoming line address increment circuit, (n) first address exchange circuits, speed path switch SW1, for which normality is confirmed with constitution the same as a speech path switch SW2 to be tested, and (n) second address exchange circuits. The first test packet, for which both the value of the outgoing line address and the value of the incoming line address are set to '0', is transmitted to the first incoming line of the channel switch SW2 to be tested, which is equipped When the (n) incoming lines and the (n) outgoing lines. After this test packet is transmitted, within the fixed time, when the second packet, for which the value of the outgoing line address and the value of the incoming line address are set to the value of (n-1) is received from the n-th outgoing line of the speed path switch SW2 to be tested, it is decided that the test is normally finished.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は通話路試験器に関し、特に交換機で使用される
自己ルーチング型の通話路スイッチの試験を行なう通話
路試験器に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a communication path tester, and more particularly to a communication path tester for testing a self-routing type communication path switch used in an exchange.

〔従来の技術〕 従来の通話路試験器としては、空間分割交換機の通話路
であるクロスポイントを試験する通話路試験器や時分割
多重交換機の通話路であるタイムスイッチを試験する通
話路試験器が知られている。
[Prior Art] Conventional call path testers include a call path tester that tests crosspoints, which are the call paths of a space division switch, and a call path tester that tests time switches, which are the call paths of a time division multiplex switch. It has been known.

これらの通話路試験器は、予めプロセッサ等で外部から
被試験通話路スイッチへ所定の通話パスの設定制御を行
々い、その後所定の入線端子から信号を供給してこれを
所定の出線端子で検出することによシ入線、出線間の導
通を確認し、被試験通話路スイッチの正否を判定するも
のであった。
These call path testers use a processor or the like to control the setting of a predetermined call path from the outside to the call path switch under test, and then supply a signal from a predetermined incoming line terminal and transfer the signal to a predetermined outgoing line terminal. By detecting this, continuity between the incoming and outgoing lines was confirmed, and the correctness or failure of the communication path switch under test was determined.

最近の交換機の通話路としては上記のクロスポイントや
タイムスイッチの他に自己ルーチング型の通話路スイッ
チ(自己ルーチング型の通話路スイッチについては口軽
エレクトロニクス誌1988年1月11日号の132〜
137ページ参照)も使用されているがこの通話路スイ
ッチの試級についても上述したと同様なものであった。
In addition to the above-mentioned crosspoints and time switches, the communication paths of modern exchanges include self-routing type communication path switches (for information on self-routing type communication path switches, please refer to the January 11, 1988 issue of Kuchigaru Electronics Magazine, 132~
(See page 137) was also used, and the trial grade of this communication path switch was the same as described above.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の通話路試験器で、被試験通話路スイッチ
の人出線端子間のすべての通話バスの試験をするには、
端子数の2乗の通話パスの設定制御が必要である。従っ
て、この通話バスを外部から逐−設定して入線出線間の
導通を確認することは、端子数が多くなるほど試験時間
がかかつて、煩雑が手間を要するという問題があった。
To test all communication buses between the outgoing line terminals of the communication path switch under test using the conventional communication path tester described above,
It is necessary to control the setting of communication paths that are equal to the square of the number of terminals. Therefore, if the communication bus is configured externally one by one to check continuity between incoming and outgoing lines, there is a problem in that the more the number of terminals is, the longer the testing time is, and the more troublesome and time-consuming it becomes.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

このような課題を解決するために本発明の通話路試験器
は、入線数n、出線数nを有する被試験通話路スイッチ
の第1の入線に出線アドレスの値と入線アドレスの値と
がともにOに設定された第1の試験パケットを送信し、
この試験パケットを送信してから一定時間内に、被試験
通話路スイッチの第nの出線から出線アドレスの値と入
線アドレスの値とがともにn−1の値と力る第2の試験
パケットを受信したとき、試験正常終了と判定する通話
路試験器であって、 被試験通話路スイッチの第1の入線に第1の試験パケッ
トを送信する試験パケット挿入回路と、被試験通話路ス
イッチの第1〜第n−1の出線にそれぞれ接続きれ、こ
の出線からの試験バケツトを受信して、出線アドレスの
値を1つ増加させて送信するn−1個の出線アドレスイ
ンクリメント回路と、 被試験通話路スイッチの第nの出線に接続され、この出
線から上記の一定時間内に受11シた試験パケットが第
2゛の試験パケットであるとき試験正常終了信号を出力
し、第2の試験パケットではないときとの試験パケット
をそのま\送信し、一定時間経過しても第2の試験パケ
ットが受信できないとき試験異常終了信号を出力する試
験終了検出回路と、 この試験終了検出回路に接続され、受信した試験パケッ
トの出線アドレスを0に設定して送信する出線アドレス
リセット回路と、 この出線アドレスリセット回路に接続され、受信した試
験パケットの入線アドレスを1つ増加させて送信する入
線アドレスインクリメント回路と、上記n−1個の出線
アドレスインクリメント回路および上記出線アドレスイ
ンクリメント回路にそれぞれ接続され、受信した試験パ
ケットの出線アドレスの値と入線アドレスの値とを入れ
替えて送信するn個の第1のアドレス入替回路と、n個
の入線がそれぞれ上記n個の第1のアドレス入替回路に
接続され、受信した試験パケットの出線アドレスに基づ
いて接続経路を選択し、n個の出線の1つにこの試験バ
ク°ツトを送出する被試験通話路スイッチと同一構成で
正常が確認されている通話路スイッチと、 この通話路スイッチのn個の出線にそれぞれ接続され、
受信した試験パケットの出線アドレスの値と入線アドレ
スの値とを入れ替えで被試験通話路スイッチのn個にそ
れぞれ送信するn個の第2のアドレス入替回路と、から
構成されたものである。
In order to solve such problems, the communication path tester of the present invention sets the value of the outgoing line address and the value of the incoming line address to the first incoming line of the communication path switch under test, which has n incoming lines and n outgoing lines. transmit a first test packet with both set to O;
A second test is performed in which the value of the outgoing line address and the value of the incoming line address from the nth outgoing line of the communication path switch under test are both input to the value n-1 within a certain period of time after transmitting this test packet. A communication path tester that determines that the test has completed successfully when a packet is received, the test packet insertion circuit transmitting a first test packet to a first input line of the communication path switch under test, and a communication path switch under test. n-1 outgoing line address increments that are connected to the first to n-1th outgoing lines, respectively, receive test packets from these outgoing lines, increase the value of the outgoing line address by one, and send it. It is connected to the nth output line of the circuit and the communication path switch under test, and outputs a test normal completion signal when the test packet received from this output line within the above fixed time is the second test packet. and a test end detection circuit that transmits the test packet as it is when it is not the second test packet, and outputs a test abnormal end signal when the second test packet cannot be received even after a certain period of time has elapsed; An outgoing address reset circuit that is connected to the test end detection circuit and sets the outgoing address of the received test packet to 0 and transmits it; and an outgoing address reset circuit that is connected to this outgoing address reset circuit and sets the incoming address of the received test packet to 1. An incoming address increment circuit that increments the received test packet by one and then transmits the outgoing address is connected to the n-1 outgoing address increment circuit and the outgoing address increment circuit, respectively. n first address switching circuits that exchange and transmit the test packets, and n incoming lines are respectively connected to the n first address switching circuits, and the connection route is determined based on the outgoing address of the received test packet. Select a communication path switch that has the same configuration as the communication path switch under test and is confirmed to be normal and sends this test bag to one of the n output lines, and the n outputs of this communication path switch. each connected to a line,
The test packet is composed of n second address switching circuits that exchange the value of the outgoing address and the value of the incoming line address of the received test packet and transmit the same to each of the n communication path switches under test.

〔作 用〕[For production]

通話路試験器ぐユ、はじめに第1の試験パケットを被試
験通話路スイッチの第1の入線に送信する。
The channel tester first transmits a first test packet to the first incoming line of the channel switch under test.

その後、この試験パケットの出ねアドレスの値と入線ア
ドレスの値とを順次変えて被試験通話路スイッチの入線
に送信し、第1の試験パケットを送信してから一定時間
内に、被試験通話路スイッチの第nの出線から送出され
る試験パケットを受信して、これが第2の試験パケット
であるとき試験正常終了信号を出力する。
After that, the outgoing address value and the incoming address value of this test packet are sequentially changed and sent to the incoming line of the communication path switch under test. The test packet sent from the n-th outgoing line of the path switch is received, and when this is the second test packet, a test normal end signal is output.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の通話路試験器の一実施例を示すブロッ
ク図、第2図はこの通話路試験に用いられる試験パケッ
トのフォーマット、第3図は第2図の試験パケットのデ
ータを変えてそれぞれ試験パケットA、試験パケットB
として通話路スイッチに入力した場合に、通話路スイッ
チの接続経路選択動作を説明するルーチング説明図であ
る。
Fig. 1 is a block diagram showing an embodiment of the communication path tester of the present invention, Fig. 2 is the format of the test packet used for this communication path test, and Fig. 3 is a block diagram showing an example of the communication path tester of the present invention. test packet A and test packet B, respectively.
FIG. 3 is a routing explanatory diagram illustrating the connection route selection operation of the communication path switch when input to the communication path switch as follows.

まず第2図から説明する。同図の試験パケットのフォー
マットは、先頭に出線アドレス50次に入線アドレス6
0で示されたヘッダ情報とその他の情報70から構成さ
れている。そしてこの試験パケットは矢印の向きに、す
なわち出線アドレスから順に送信されるものである。
First, explanation will be given from FIG. The format of the test packet in the same figure is that the outgoing address is 50 at the beginning, then the incoming address is 6.
It consists of header information indicated by 0 and other information 70. The test packets are then transmitted in the direction of the arrow, that is, in order from the outgoing line address.

次に第3図について説明する。同図で試験される通話路
スイッチSW2は前掲文献に記述されているバンヤンス
イッチと呼ばれる自己ルーチング型の通話路スイッチで
ある。このスイッチSW2は出線アドレス50に基づい
て、出線を選択して通話バスを設定するものであり、入
線端子り。
Next, FIG. 3 will be explained. The communication path switch SW2 tested in the figure is a self-routing type communication path switch called a Banyan switch described in the above-mentioned document. This switch SW2 is used to select an outgoing line and set a call bus based on the outgoing line address 50, and is also an incoming line terminal.

L、を切り替えるスイッチ5W21、入線端子”2+L
3  を切り替えるスイッチSW、、2、出線端子To
Switch 5W21 to switch L, input terminal "2+L"
3 Switch SW for switching, , 2, outgoing terminal To
.

TIを切シ替えるスイッチ5Wzs、出線端子’r2.
 T3を切シ替えるスイッチ5W24から構成されてい
る。
TI switching switch 5Wzs, output terminal 'r2.
It consists of a switch 5W24 that switches T3.

そして、第2図で丞された試験パクットのデータ、すな
わち出線アドレス50の値を1.入線アドレス60の値
を0と設定した場合が第3図の試験パケットAに相当す
るものであり、このとき通話路スイッチS W2の入線
端子り、に入力された試験バケツ)Aは、出線アドレス
50の値が1に設定されているので、スイッチ5W21
 、5W23を経由して出線部子T+から出力されるも
のである。次に出線アドレス50の値を2.入線アドレ
ス60の値を2と設定した場合が試験パケットBに相当
しこのとき通話路スイッチSW2の入線端子L2に入力
された試験パケットBは、出線アドレスの値が2に設定
されているので、スイッチ5W22゜5w24を経由し
て出線端子T2から出力されるものである。
Then, the data of the test packt shown in FIG. 2, that is, the value of the outgoing line address 50, is set to 1. The case where the value of the incoming line address 60 is set to 0 corresponds to the test packet A in Fig. 3. At this time, the test packet A input to the incoming line terminal of the channel switch SW2 is the outgoing line address. Since the value of address 50 is set to 1, switch 5W21
, 5W23, and is output from the outgoing line section T+. Next, set the value of the outgoing line address 50 to 2. The case where the value of the incoming line address 60 is set to 2 corresponds to test packet B. At this time, the test packet B input to the incoming line terminal L2 of the communication path switch SW2 has the value of the outgoing line address set to 2. , and is output from the output terminal T2 via the switches 5W22° and 5w24.

このように通話路スイッチSW2は、入力される試験パ
ケットの出線アドレス50の内容に従って出線端子To
=T3を選択するものであり、これによって通話パスが
設定できるのである。
In this way, the communication path switch SW2 selects the output line terminal To according to the contents of the output line address 50 of the input test packet.
=T3 is selected, and a call path can be set by this.

次に第1図について説明する。同図において、第3図と
相当部分については同一符号を付してその説明は省略す
る。第1図において、1は試験器、2は試験入力端子T
INから試験パケットを入力して試験開始を指示する試
験パケット挿入回路、3は試験パケット挿入回路2から
試験開始信号TRGを入力したのち、試験終了を抄出し
て端子T。UTから試験終了信号を出力する試験終了検
出回路、4は試験パケットの出線アドレス50の値をリ
セットする出線アドレスリセット回路、5は試験パケッ
トの入線アドレス60の値を1つずつ増加させる入線ア
ドレスインクリメ〉′ト回路、6〜8はそれぞれ出線ア
ドレスの値を1つずつ増加させる出線アドレスインクリ
メント回路、9〜16はそれぞれ出線アドレス50の値
と入線アドレス6゜の値とを交換する7”ドレス入替回
路である。そして試験器1に組み込まれる通話路スイッ
チSW。
Next, FIG. 1 will be explained. In this figure, parts corresponding to those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and their explanation will be omitted. In Figure 1, 1 is a tester, 2 is a test input terminal T
A test packet insertion circuit 3 inputs a test packet from IN and instructs to start a test, and 3 inputs a test start signal TRG from the test packet insertion circuit 2, outputs a test end signal, and outputs it to terminal T. A test end detection circuit outputs a test end signal from the UT, 4 is an outgoing address reset circuit that resets the value of the outgoing address 50 of the test packet, and 5 is an incoming line that increases the value of the incoming address 60 of the test packet by one. Address increment circuits 6-8 each increment the value of the outgoing address one by one; 9-16 each exchange the value of the outgoing address 50 with the value of the incoming address 6° This is a 7" dress switching circuit. And a communication path switch SW is built into the tester 1.

は、正電性が確認されているものでその内部構成は被試
験通話銘スイツデSW2と同等であり、内部にスイッチ
5W11 、5W12 + 5Wls 、5WI4を有
し入線端子P o −P 3+出線端子Qo−Q、sで
構成されているものである。
has been confirmed to have positive conductivity, and its internal configuration is the same as the tested phone name SW2, and has switches 5W11, 5W12 + 5Wls, and 5WI4 inside, and incoming terminals P o - P 3 + outgoing terminals. It is composed of Qo-Q,s.

以上のように構成されfc通話路試験器についてその動
作を説明する。出線アドレス50の値と入線アドレス6
0の値とがともに0に設定された第1の試験パケットを
試験入力端子TINに入力すると試験パケット挿入回路
2はこの第1の試験パケットを通話路スイッチ5W20
入線端子Loに送出する。通話路スイッチSW2は、L
o端子から入力された試験パケットの出線アドレスの値
が0でちるので、このパケットを出線端子Toにルーチ
ングし、これと接続された出線アドレスインクリメント
回路6によって出線アドレス50の値をインクリメント
して1とし、アドレス入替回路9でアドレスの交換をし
て出線アドレス50の値を0゜入線アドレス60の値1
としたのち、このパケットを通話路スイッチSW1 の
入線端子POに送出する。通話路スイッチSWlは、こ
のパケットの出線アドレス50の値が0であるので、出
線端子Q。
The operation of the fc channel tester constructed as described above will be explained. Value of outgoing address 50 and incoming line address 6
When the first test packet whose values are both set to 0 is input to the test input terminal TIN, the test packet insertion circuit 2 transfers this first test packet to the communication path switch 5W20.
Send to input terminal Lo. The communication path switch SW2 is set to L.
Since the value of the output line address of the test packet input from the o terminal is incremented by 0, this packet is routed to the output line terminal To, and the value of the output line address 50 is set by the output line address increment circuit 6 connected to this. The address is incremented to 1, and the address exchange circuit 9 exchanges the addresses so that the value of the outgoing address 50 is 0° and the value of the incoming line address 60 is 1.
After that, this packet is sent to the incoming terminal PO of the communication path switch SW1. Since the value of the outgoing line address 50 of this packet is 0, the communication path switch SWl selects the outgoing line terminal Q.

にルーチングし、これと接続されたアドレス入替回路1
3でアドレスの交換をして出線アドレス50の値を1.
入線アドレス60の値を0としたのち、コノパケットヲ
試験パケット挿入回路2を介して再び通話−路スイッチ
SW2の入線端子Loに送出する。通話路スイッチSW
2は、出線アドレス50の値が1であるので、出線端子
TI にルーチングする。
Address switching circuit 1 that is routed to and connected to this
3, the addresses are exchanged and the value of the outgoing address 50 is set to 1.
After setting the value of the incoming line address 60 to 0, the test packet is again sent to the incoming line terminal Lo of the call path switch SW2 via the test packet insertion circuit 2. Communication path switch SW
2 is routed to the output line terminal TI because the value of the output line address 50 is 1.

このようにして、通話路スイッチSW、が出線端子T3
までルーチンクを行なったとき、これと接続される試験
終了検出回路3は、試験が終了したか否かの判断を・行
なう。すなわち、この試験パケットの出線アドレス50
の値が入線アドレス60の値と等しく力っだか否か、つ
まシこの通話路スイツチSW2の場合その値がそれぞれ
3となったか否かの判断をする。このとき、出線アドレ
スの値は3.入線アドレスの値はOであるので、試験は
終了していないと判断し出線アドレスリセット回路4で
出線アドレス50の値をOと1−1さらに入線アドレス
インクリメント回路5で入線アドレス60の値をインク
リメンi・して1としたのち、これと接続されるアドレ
ス入替回路12でアドレスの変換を行なって、出線アド
レス50の値を1、入線アドレス60の値を0として、
このパケットを通話路スイッチSW+ の入線端子P3
に送出する。通話路スイッチSW、は、出線アドレスの
値が1であるのでこのパケットを出線端子Qlにルーチ
ングし、これと接続されるアドレス入替回路14でアド
レス交換を行なって、出線アドレスの値を0.入線アド
レスの値を1としたのち、通話路スイッチSW2の入線
端子Llに送出するものである。
In this way, the communication path switch SW is connected to the output line terminal T3.
When the routine has been performed up to this point, the test completion detection circuit 3 connected thereto determines whether the test has ended or not. In other words, the outgoing address 50 of this test packet
It is determined whether the value is equal to the value of the incoming line address 60, and whether the value is 3 in the case of the communication path switch SW2. At this time, the value of the outgoing line address is 3. Since the value of the incoming line address is O, it is determined that the test has not ended, and the outgoing line address reset circuit 4 sets the value of the outgoing line address 50 to O and 1-1.Then, the incoming line address increment circuit 5 sets the value of the incoming line address 60. After incrementing i to set it to 1, the address switching circuit 12 connected to this converts the address, setting the value of the outgoing address 50 to 1 and the value of the incoming line address 60 to 0,
This packet is sent to input terminal P3 of communication path switch SW+.
Send to. Since the value of the outgoing line address is 1, the communication path switch SW routes this packet to the outgoing line terminal Ql, performs address exchange in the address switching circuit 14 connected to this, and changes the value of the outgoing line address. 0. After setting the value of the incoming line address to 1, it is sent to the incoming line terminal Ll of the communication path switch SW2.

こうして、最終的にこの試験パケットは、通話路スイッ
チSW2の入線端子L3に送出され、これが出線端子T
3にルーチングされるとこの試験パケットは、試験終了
検出回路3に送出され、この結果試験終了検出回路3は
、この試験パケットの出線アドレス50の値と入線アド
レス60の値とがともに3に等しくなったということで
、通話路スイッチSW2の全通話パスの試験が正常に終
了したものとみ彦し、試験終了端子T。LITから試験
正常終了信号を出力する。
In this way, this test packet is finally sent to the incoming line terminal L3 of the communication path switch SW2, and this test packet is sent to the outgoing line terminal T.
3, this test packet is sent to the test end detection circuit 3, and as a result, the test end detection circuit 3 detects that the value of the outgoing line address 50 and the value of the incoming line address 60 of this test packet are both 3. Since they are equal, it is assumed that the test of all communication paths of the communication path switch SW2 has been successfully completed, and the test termination terminal T is connected. A test normal completion signal is output from the LIT.

尚、試験終了検出回路3は、試験開始信号TRGを受信
したとき一定時間のタイマを起動する。この一定時間は
通話路スイッチS W 2の試験が正常終了する時間に
相当し、この一定時間内に出線端子T3から送出される
試験パケットの出線アドレス50の値と入線アドレス6
0の値とがともに等しく3と彦ったとき、試験終了出力
端子T。UTに試験正常終了信号を出力し、上記一定時
間を経過しても出線アドレス50の値と入線アドレス6
0の値とがともに等しく3に々らなかったとき、試験異
常終了信号を出力するものである。
Note that the test end detection circuit 3 starts a timer for a certain period of time when receiving the test start signal TRG. This fixed time corresponds to the time when the test of the communication path switch SW2 is normally completed, and the value of the outgoing line address 50 and the incoming line address 6 of the test packet sent from the outgoing line terminal T3 within this fixed time are
When both values of 0 and 0 become equal to 3, the test ends output terminal T. Even after the test normal completion signal is output to the UT and the above specified period of time has elapsed, the value of the outgoing address 50 and the incoming line address 6 remain unchanged.
When both values of 0 are equal and do not exceed 3, a test abnormal end signal is output.

また本実施例の通話路試験器の場合、被試験用の通話路
スイッチSW2は、入線数4.出線数4とした通話路ス
イッチを用いたが、−船釣な入線数n、出線数nの通話
路スイッチにも適用できることは明らかである。
Further, in the case of the communication path tester of this embodiment, the communication path switch SW2 to be tested has a number of input lines of 4. Although a communication path switch with four outgoing lines is used, it is clear that the present invention can also be applied to a communication path switch with n incoming lines and n outgoing lines.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したととから明らかなように、本発明に係る通
話路試験器は、入線、出線数どもにn個の第1の通話路
スイッチの第1の入線に出線アドレスの値と入線アドレ
スの値とがともに0に設定された試験パケットを送信し
、この試験パケットを送信してから一定時間内に、上記
第1の通話路スイッチの第nの出線から到来する試験パ
ケットの受信を行々い、受信した試験パケットの出線ア
ドレスの値と入線アドレスの値とがともにn−1の値と
なったとき試験正常終了と判断する構成となっているの
で、プロセッサ等で逐一通話パスを設定して入線出線間
の導通を確認する煩雑な手間が省け、短時間に効率の良
い通話路スイッチの試験が行えるという効果がある。
As is clear from the above explanation, the communication path tester according to the present invention is capable of setting the value of the outgoing line address to the first incoming line of the first communication path switch where the number of incoming lines and outgoing lines is n. A test packet whose address values are both set to 0 is transmitted, and within a certain period of time after transmitting this test packet, a test packet arriving from the n-th outgoing line of the first channel switch is received. The configuration is such that the test is judged to have completed normally when the value of the outgoing line address and the value of the incoming line address of the received test packet both become the value n-1, so the processor etc. This eliminates the troublesome effort of setting paths and checking continuity between incoming and outgoing lines, and has the effect of allowing efficient testing of communication path switches in a short period of time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の通話路試験器の一実施例を示すブロッ
ク図、第2図はこの通話路試験に使用される試験パケッ
トのフォーマット、第3図は通話路スイッチのルーチン
グ説明図である。 1・・・・試験器、2・・・・試験パケット挿入回路、
3・・・・試験終了検出回路、4・・・・出線アドレス
リセット回路、5・・・・入線アドレスインクリメント
回路、6〜8・・・・出線アドレスインクリメント回路
、9〜16・・会拳アドレス入替回路、SWI、  S
W2  ・・・φ通話路スイッチ。 特許出願人  日本電気株式会社
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the communication path tester of the present invention, FIG. 2 is a format of a test packet used in this communication path test, and FIG. 3 is an explanatory diagram of routing of a communication path switch. . 1...Test device, 2...Test packet insertion circuit,
3... Test end detection circuit, 4... Outgoing line address reset circuit, 5... Incoming line address increment circuit, 6-8... Outgoing line address increment circuit, 9-16... Meeting Fist address switching circuit, SWI, S
W2...φ communication path switch. Patent applicant: NEC Corporation

Claims (1)

【特許請求の範囲】 入線数および出線数がともにnであり入力されるパケッ
トの出線アドレスに従つて入線と出線との間の接続経路
が一義的に決定される第1の通話路スイッチを被試験対
象とし、出線アドレスの値と入線アドレスの値とがとも
に0に設定された第1の試験パケットを前記入線に送信
してから一定時間内に前記出線から出線アドレスの値と
入線アドレスの値とがともにn−1の値となる第2の試
験パケットを受信したとき、前記第1の通話路スイッチ
の正常を判定する通話路試験器であつて、前記第1の通
話路スイッチの第1の入線に前記第1の試験パケットを
送信する試験パケット挿入回路と、 前記第1の通話路スイッチの第1〜第n−1の出線にそ
れぞれ接続され、この出線からの試験パケットを受信し
て前記出線アドレスの値を1つ増加させて送信するn−
1個の出線アドレスインクリメント回路と、 前記第1の通話路スイッチの第nの出線に接続され、こ
の出線から前記一定時間内に受信した試験パケットが前
記第2の試験パケットであるとき試験正常終了信号を出
力し、第2の試験パケットではないときとの試験パケッ
トをそのまま送信し、この一定時間経過後第2の試験パ
ケットが受信できないとき試験異常終了信号を出力する
試験終了検出回路と、 この試験終了検出回路に接続され、受信した試験パケッ
トの前記出線アドレスを0に設定して送信する出線アド
レスリセット回路と、 この出線アドレスリセット回路に接続され、受信した試
験パケットの前記入線アドレスを1つ増加させて送信す
る入線アドレスインクリメント回路と、 前記n−1個の出線アドレスインクリメント回路および
前記入線アドレスインクリメント回路にそれぞれ接続さ
れ、受信した試験パケットの前記出線アドレスの値と入
線アドレスの値とを入れ替えて送信するn個の第1のア
ドレス入替回路と、n個の入線がそれぞれ前記n個の第
1のアドレス入替回路と接続され、受信した試験パケッ
トの前記出線アドレスの値に基づいて接続経路を選択し
、n個の出線の1つにこの試験パケットを送出する前記
第1の通話路スイッチと同一構成で正常が確認されてい
る第2の通話路スイッチと、この第2の通話路スイッチ
のn個の出線にそれぞれ接続され、受信した試験パケッ
トの前記出線アドレスの値と入線アドレスとの値を入れ
替えて前記第1の通話路スイッチのn個の入線にそれぞ
れ送信するn個の第2のアドレス入替回路とを備えてな
る通話路試験器。
[Scope of Claims] A first communication path in which the number of incoming lines and the number of outgoing lines are both n, and the connection route between the incoming line and the outgoing line is uniquely determined according to the outgoing line address of an input packet. A switch is the target to be tested, and the output line address is changed from the output line to the input line within a certain period of time after the first test packet in which the value of the output line address and the value of the input line address are both set to 0 is sent to the input line. The communication path tester determines whether the first communication path switch is normal when receiving a second test packet in which both the value of the address and the value of the incoming line address are n-1, the communication path tester a test packet insertion circuit that transmits the first test packet to a first input line of the communication path switch; and a test packet insertion circuit that is connected to the first to n-1th output lines of the first communication path switch, and n-, which receives a test packet from the line, increments the value of the outgoing line address by one, and transmits it;
one outgoing line address increment circuit; connected to the nth outgoing line of the first communication path switch, and the test packet received from this outgoing line within the certain period of time is the second test packet; A test end detection circuit that outputs a test normal end signal, transmits the test packet as it is when it is not the second test packet, and outputs a test abnormal end signal when the second test packet cannot be received after a certain period of time has elapsed. an outgoing address reset circuit connected to this test end detection circuit and configured to set the outgoing address of the received test packet to 0 and transmit it; an incoming line address increment circuit that increments the incoming line address by one and transmits the incoming line address; and an incoming line address increment circuit that is connected to the n-1 outgoing address increment circuits and the incoming line address increment circuit, respectively, and increases the outgoing address of the received test packet. n first address switching circuits that exchange the value of the received test packet with the value of the incoming line address and transmit the data, and each of the n incoming lines is connected to the n first address switching circuits, and A second communication path that is confirmed to be normal and has the same configuration as the first communication path switch that selects a connection route based on the value of the outgoing line address and sends this test packet to one of the n outgoing lines. is connected to each of the n outgoing lines of the first communication path switch and the second communication path switch, and exchanges the values of the outgoing line address and the incoming line address of the received test packet, and A communication path tester comprising n second address switching circuits that respectively send data to n incoming lines.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04328926A (en) * 1991-03-22 1992-11-17 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Method and device for testing and evaluating dynamic functional operation of regionally dispersed communication network

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04328926A (en) * 1991-03-22 1992-11-17 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Method and device for testing and evaluating dynamic functional operation of regionally dispersed communication network

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