JPH02214177A - 磁気抵抗素子 - Google Patents
磁気抵抗素子Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、高精度の非接触位置センサ、非接触ポテンシ
ョメータ等に利用される磁気抵抗素子に関する。
ョメータ等に利用される磁気抵抗素子に関する。
(従来の技術)
印加する磁界の強弱により抵抗値が変化する半導体素子
である磁気抵抗素子が周知であり、磁性体で構成された
可動体(磁石)を磁気抵抗素子に近接してその長平方向
に摺動させ、この磁気抵抗素子から電気的な検出信号を
取り出し、これによって可動体の変位置を検出すること
ができる。
である磁気抵抗素子が周知であり、磁性体で構成された
可動体(磁石)を磁気抵抗素子に近接してその長平方向
に摺動させ、この磁気抵抗素子から電気的な検出信号を
取り出し、これによって可動体の変位置を検出すること
ができる。
しかしながら、こうした磁気検出器の出力;ま。
磁気抵抗素子あるいは磁性体として用いられる永久磁石
の経時変化や環境温度等に少なからず影響を受けること
が知られている。このため、単純な磁気抵抗体を複数個
直列接続してこれに所定ギャップを介して可動体の永久
磁石を摺動させるという構成では、前記特性変動に起因
する誤差の影響を受ける結果、所望の変位量の分解能が
得られないとう問題がある。
の経時変化や環境温度等に少なからず影響を受けること
が知られている。このため、単純な磁気抵抗体を複数個
直列接続してこれに所定ギャップを介して可動体の永久
磁石を摺動させるという構成では、前記特性変動に起因
する誤差の影響を受ける結果、所望の変位量の分解能が
得られないとう問題がある。
こうした不具合に対処するため、特開昭58−1679
14号公報には基板上における複数個の磁気抵抗体相互
の配置及び接続関係を改善することにより温度変化及び
時間経過にかかわりなく高精度の検出機能を保持可能に
した磁気抵抗素子が開示されている。
14号公報には基板上における複数個の磁気抵抗体相互
の配置及び接続関係を改善することにより温度変化及び
時間経過にかかわりなく高精度の検出機能を保持可能に
した磁気抵抗素子が開示されている。
第7図(A)にその構成例を示す、すなわち、絶縁基板
l上に磁気抵抗体2.3がその長手方向に沿って配設さ
れている。前記各磁気抵抗体2,3間に磁気抵抗体4が
、この両紙抗体2.3の両外側に磁気抵抗体5.6が基
板l上に、それぞれ形成されている。
l上に磁気抵抗体2.3がその長手方向に沿って配設さ
れている。前記各磁気抵抗体2,3間に磁気抵抗体4が
、この両紙抗体2.3の両外側に磁気抵抗体5.6が基
板l上に、それぞれ形成されている。
抵抗体2,3の内端は配線7により互いに接続され、抵
抗体5.6は配線8で直列に接続され、その直列接続の
一端は配置i19に通じて抵抗体4の一端に接続されて
互いに直列接続される。
抗体5.6は配線8で直列に接続され、その直列接続の
一端は配置i19に通じて抵抗体4の一端に接続されて
互いに直列接続される。
抵抗体4の他端と抵抗体3の外端とは配線10で接続さ
れ、抵抗体2の外端は抵抗体6の他端と配!t111で
接続される。すなわち、抵抗体2.3が直列に接続され
、抵抗体5.6の直列接続と抵抗体4とが直列に接続さ
れ、これら両直列接続は互いに並列に接続される。
れ、抵抗体2の外端は抵抗体6の他端と配!t111で
接続される。すなわち、抵抗体2.3が直列に接続され
、抵抗体5.6の直列接続と抵抗体4とが直列に接続さ
れ、これら両直列接続は互いに並列に接続される。
更に、基板l上に端子12.13.14.15が形成さ
れ、抵抗体2.6の接続点が端子12に、抵抗体2.3
の接続点が端子13に、抵抗体3.4の接続点が端子1
4に、抵抗体4.5の接続点が端子15にそれぞれ接続
される。
れ、抵抗体2.6の接続点が端子12に、抵抗体2.3
の接続点が端子13に、抵抗体3.4の接続点が端子1
4に、抵抗体4.5の接続点が端子15にそれぞれ接続
される。
第7図(^)の磁気抵抗素子16の等価回路を同図+8
)に示す。
)に示す。
第8図に示すように、前記第7図(A)に示した磁気抵
抗素子16上において、磁石17は磁気抵抗素子16の
抵抗体2,3の配列方向に沿って相第7図fc)のよう
に、永久磁石17と磁気抵抗素子16との変位によって
第9図のような出力特性が得られる。
抗素子16上において、磁石17は磁気抵抗素子16の
抵抗体2,3の配列方向に沿って相第7図fc)のよう
に、永久磁石17と磁気抵抗素子16との変位によって
第9図のような出力特性が得られる。
この場合、第7図TC)に示すように、抵抗体4には磁
石17の磁界が常に印加され、抵抗体5.6には磁石1
7の磁界は常に印加されない。
石17の磁界が常に印加され、抵抗体5.6には磁石1
7の磁界は常に印加されない。
次に、上記構成の磁気抵抗素子16を実際に使用する場
合の作用について説明する。
合の作用について説明する。
第1O図の回路構成図に示すように、磁気抵抗素子16
の端子13.15を差動増幅器18.19の一方の入力
端に接続し、端子12、I4を電圧+E、〜Eの電源端
子20.21に接続し、該端子20.21間に直列抵抗
22.23を接続する。そして、直列抵抗22.23の
接続点を差動増幅器18.19の各他方の入力端に接続
し1割算回路24において、差動増幅器18の出力を差
動増幅器19の出力で割算して出力端子25に出力する
。
の端子13.15を差動増幅器18.19の一方の入力
端に接続し、端子12、I4を電圧+E、〜Eの電源端
子20.21に接続し、該端子20.21間に直列抵抗
22.23を接続する。そして、直列抵抗22.23の
接続点を差動増幅器18.19の各他方の入力端に接続
し1割算回路24において、差動増幅器18の出力を差
動増幅器19の出力で割算して出力端子25に出力する
。
ここで、差動増幅器18.19の利得をそれぞれA、、
A、とすると、その出力電圧E、、E。
A、とすると、その出力電圧E、、E。
は次式で表される。
E、=A、−k、−f (T、Y)IXIE、 =A!
−kl −f (T、YltXaf (T、Yl、
= f(T、Y)!αε(に*−Kt)T十α、(Y
)−α、 (Yli十αε(に3−に1)′「+α8(
Y)−α、(Y)ここで、aは磁界の関数である。
−kl −f (T、YltXaf (T、Yl、
= f(T、Y)!αε(に*−Kt)T十α、(Y
)−α、 (Yli十αε(に3−に1)′「+α8(
Y)−α、(Y)ここで、aは磁界の関数である。
上述のように、抵抗体4には常に磁界が加わり、抵抗体
5.6には常に磁界が加わらないように構成されている
ので、x2は常数となる。
5.6には常に磁界が加わらないように構成されている
ので、x2は常数となる。
この結果、
H* = Am ・k * ・f (T、YliXs”
k a ・f (T、Y) ” k 4 X t となり、出力電圧E0は温度変化、経過時間に無関係な
定数に4と変化xlとの積になることが理解される。従
って、こうした変動要因の影響は除去され、正確な変位
量の検出が可能となる。
k a ・f (T、Y) ” k 4 X t となり、出力電圧E0は温度変化、経過時間に無関係な
定数に4と変化xlとの積になることが理解される。従
って、こうした変動要因の影響は除去され、正確な変位
量の検出が可能となる。
なお、E l / E xの演算は割算回路24で行な
われる。
われる。
しかしながら、上記公報に開示の磁気抵抗素子構造にお
いて、第7図+8)の抵抗体4を同図(C)に示すよう
に、常時一定の磁界が印加される位置に、そして抵抗体
5.6を常時磁界のかからない位置に配置すれば、実際
の磁気抵抗素子パターンは、第7図(A)のようにない
、同大パターンだけでもかなりの面積を占めることにな
る。また、抵抗体を5個配設して各接続用配線を相互に
絶縁状態を保持したまま引き回すには、どうしても基板
寸法を大型化せざるを得ないという不都合があった。
いて、第7図+8)の抵抗体4を同図(C)に示すよう
に、常時一定の磁界が印加される位置に、そして抵抗体
5.6を常時磁界のかからない位置に配置すれば、実際
の磁気抵抗素子パターンは、第7図(A)のようにない
、同大パターンだけでもかなりの面積を占めることにな
る。また、抵抗体を5個配設して各接続用配線を相互に
絶縁状態を保持したまま引き回すには、どうしても基板
寸法を大型化せざるを得ないという不都合があった。
更に、上記従来の磁気抵抗素子では5抵抗体の配設位置
の関係上永久磁石の寸法が制約されるので、変位検出距
離を大きくとることができない。
の関係上永久磁石の寸法が制約されるので、変位検出距
離を大きくとることができない。
第7図(^)の磁気抵抗素子において、最大の変位検出
距離を得るには、本来ならば抵抗体2.3双方を覆う寸
法の永久磁石を用いることが望ましい。
距離を得るには、本来ならば抵抗体2.3双方を覆う寸
法の永久磁石を用いることが望ましい。
しかし、このような寸法の永久磁石を用いた場合、磁石
が変位したときに磁界がかかってはいけない抵抗体5.
6にも磁気作用が及ぶことになり、正確な検出作用が得
られなくなる。
が変位したときに磁界がかかってはいけない抵抗体5.
6にも磁気作用が及ぶことになり、正確な検出作用が得
られなくなる。
このため、永久磁石17は第7図[C)に示すように、
各抵抗体2.3の約半分の長さが同時に覆われる程度の
寸法とするのが精−杯で、変位検出距離は著しく小さく
ならざるを得ないというのが実状であった。
各抵抗体2.3の約半分の長さが同時に覆われる程度の
寸法とするのが精−杯で、変位検出距離は著しく小さく
ならざるを得ないというのが実状であった。
(発明の目的)
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたものであり、
その目的は磁気抵抗体及び永久磁石の温度変化及び経時
変化が検出変位量に及ぼす影響を自動的に補償でき、か
つ変位検出距離をその構造上最大限に設定でき、しかも
小型構成可能な磁気抵抗素子を提供することにある。
その目的は磁気抵抗体及び永久磁石の温度変化及び経時
変化が検出変位量に及ぼす影響を自動的に補償でき、か
つ変位検出距離をその構造上最大限に設定でき、しかも
小型構成可能な磁気抵抗素子を提供することにある。
(発明の概要)
上記目的を達成するため、本発明は同一基板上に形成さ
れ、2個ずつ直列に接続され、これら2個の直列接続は
互いに並列接続された4個の磁気抵抗体と、前記各抵抗
体の接続部へそれぞれ固定された複数の端子とを含む磁
気抵抗素子において、前記4個の磁気抵抗体のうち少な
くとも1個の磁気抵抗体の磁気感度は、残余の他の磁気
抵抗体の磁気感度と異なる磁気感度を有することを特徴
とする。
れ、2個ずつ直列に接続され、これら2個の直列接続は
互いに並列接続された4個の磁気抵抗体と、前記各抵抗
体の接続部へそれぞれ固定された複数の端子とを含む磁
気抵抗素子において、前記4個の磁気抵抗体のうち少な
くとも1個の磁気抵抗体の磁気感度は、残余の他の磁気
抵抗体の磁気感度と異なる磁気感度を有することを特徴
とする。
このように構成すれば、4つの端子の出力を適当に取り
出して処理することにより +1) Idi気抵抗抵抗素子気感度の温度変化の自動
補償 (2ン磁気抵抗素子の経時変化の自動補償(3)使用す
る磁石の温度変化の自動補償(4)使用する磁石の経時
変化の自動補償(5)上記の自動補償と同時に磁気抵抗
素子の小型化 (6)磁石と磁気抵抗素子との相対的変位の検知幅の拡
大 が以下の実施例に述べるように可能となる。
出して処理することにより +1) Idi気抵抗抵抗素子気感度の温度変化の自動
補償 (2ン磁気抵抗素子の経時変化の自動補償(3)使用す
る磁石の温度変化の自動補償(4)使用する磁石の経時
変化の自動補償(5)上記の自動補償と同時に磁気抵抗
素子の小型化 (6)磁石と磁気抵抗素子との相対的変位の検知幅の拡
大 が以下の実施例に述べるように可能となる。
(実施例)
以下1図面に基づき本発明の好適な実施例を説明する。
第1図(A)に本発明に係る磁気抵抗素子の構成を示す
。
。
本発明において特徴的なことは、その温度係数が互いに
等しく、磁気抵抗変化率の異なる2個の磁気抵抗体を設
け、かつ該両紙抗体と永久磁石との相対変位がいかなる
状態であっても、常に変位検出信号が出力される特定の
端子を配設したことにある。
等しく、磁気抵抗変化率の異なる2個の磁気抵抗体を設
け、かつ該両紙抗体と永久磁石との相対変位がいかなる
状態であっても、常に変位検出信号が出力される特定の
端子を配設したことにある。
第1図(A)において、抵抗体32.34及び36は、
ラスター電極と呼ばれるショートバーの本数に差のある
素子を含み、これは互いに磁気に対する感度(磁気抵抗
変化率)が異なる。そして、抵抗体30にはラスター電
極は含まれない、抵抗体32.34及び36のラスター
電極は互いに等しい寸法比で形成される。
ラスター電極と呼ばれるショートバーの本数に差のある
素子を含み、これは互いに磁気に対する感度(磁気抵抗
変化率)が異なる。そして、抵抗体30にはラスター電
極は含まれない、抵抗体32.34及び36のラスター
電極は互いに等しい寸法比で形成される。
第2図に抵抗体上に配設されたラスター電極の本数によ
る磁気抵抗変化への形状効果の原理を示す。
る磁気抵抗変化への形状効果の原理を示す。
同図(A)に示すように、画電極50間にラスク−電極
52を3本配設した場合(パターンa)には、電子eの
流路は狭くなるので、矢示のように、抵抗体内の通過速
度が速く、磁気に対する感度は高くなる。
52を3本配設した場合(パターンa)には、電子eの
流路は狭くなるので、矢示のように、抵抗体内の通過速
度が速く、磁気に対する感度は高くなる。
これに対し、同図(B)のように、画電極50間のラス
ター電極52が1本だけの場合(パターンb)には、電
子eは蛇行して速やかに移動しないので、&Ii気抵抗
抵抗感度下することになる。
ター電極52が1本だけの場合(パターンb)には、電
子eは蛇行して速やかに移動しないので、&Ii気抵抗
抵抗感度下することになる。
本発明における磁気抵抗素子の抵抗体の材質としては5
電f8動度が5.000crn’ /Vsec以1であ
るものが望ましく、具体的には、InSb、InAs、
GaAs等のI’1l−v族化合物やこれら化合物半
導体に1n、Ga、 Sn、 Bi等の第三の元素が混
入されて成る三元化合物が用いられる。
電f8動度が5.000crn’ /Vsec以1であ
るものが望ましく、具体的には、InSb、InAs、
GaAs等のI’1l−v族化合物やこれら化合物半
導体に1n、Ga、 Sn、 Bi等の第三の元素が混
入されて成る三元化合物が用いられる。
第!図TA)にその構成を示す、絶縁基板37上に抵抗
体34.36がその長手方向に沿って配設されている。
体34.36がその長手方向に沿って配設されている。
前記各抵抗体34.36間に抵抗体30.32が基板3
7上にそれぞれ形成されている。
7上にそれぞれ形成されている。
抵抗体34.36の内端は配線48により互いに直列接
続され、抵抗体30.32は配線47で直列に接続され
、抵抗体30の他端は、配線45を通じて抵抗体34の
外端に接続され、抵抗体32の他端と抵抗体36の外端
とは配線46で接続される。
続され、抵抗体30.32は配線47で直列に接続され
、抵抗体30の他端は、配線45を通じて抵抗体34の
外端に接続され、抵抗体32の他端と抵抗体36の外端
とは配線46で接続される。
すなわち、抵抗体30と32が直列に接続され、抵抗体
34と36が直列に接続され5これら両直列接続は互い
に並列に接続される。
34と36が直列に接続され5これら両直列接続は互い
に並列に接続される。
更に、基板37上に端子38.40.42,44が形成
され、抵抗体30.34の接続点が端子38に、抵抗体
34.36の接続点が端子40に、抵抗体32.36の
接続点が端子42に、抵抗体30.32の接続点が端子
44にそれぞれ接続される。
され、抵抗体30.34の接続点が端子38に、抵抗体
34.36の接続点が端子40に、抵抗体32.36の
接続点が端子42に、抵抗体30.32の接続点が端子
44にそれぞれ接続される。
第1図18)は同図(^)の等価回路図である。
以上の構成により、抵抗体34.36は、永久磁石49
との変位によって抵抗体の抵抗値が変り、端子40から
抵抗体34.36による分圧比に従って出力が得られる
。
との変位によって抵抗体の抵抗値が変り、端子40から
抵抗体34.36による分圧比に従って出力が得られる
。
この結果、例えば第1図(C)のように永久磁石49と
磁気抵抗素子39との変位によって第3図のように出力
特性が得られる。
磁気抵抗素子39との変位によって第3図のように出力
特性が得られる。
ここで、抵抗体30と32は、ラスター電極の本数(抵
抗体30はラスター電極なし)が異なり、寸法比A /
wが異なるため、第4図に示すように、磁気抵抗変化
率(パターンa、パターンb)に差が生じる。この差の
分だけ端子44から変位によらない出力が得られること
になる。
抗体30はラスター電極なし)が異なり、寸法比A /
wが異なるため、第4図に示すように、磁気抵抗変化
率(パターンa、パターンb)に差が生じる。この差の
分だけ端子44から変位によらない出力が得られること
になる。
前2端子4.0.44からの出力は、共に例えば第5図
のような温度特性をもつ4例えば、第3図に示す特性曲
線のポイントへの出力が温度によりどのように値が変化
するかを示す、これを第6図のような回路により端子4
0.44からの出力をそれぞれ増幅回路54.56で増
幅し、割算回路5日で加工すれば、この素子のもつ温度
変化特性を後段の回路で補償することも可能である。
のような温度特性をもつ4例えば、第3図に示す特性曲
線のポイントへの出力が温度によりどのように値が変化
するかを示す、これを第6図のような回路により端子4
0.44からの出力をそれぞれ増幅回路54.56で増
幅し、割算回路5日で加工すれば、この素子のもつ温度
変化特性を後段の回路で補償することも可能である。
また、このとき永久磁石49自体の温度変化、磁気抵抗
素子の磁気感度の温度変化、磁気抵抗素子及び磁石の経
時変化を含めて補償することが可能となる。すなわち、
これらの変化は、共に端子40.44より変化が含まれ
た状態で出力されるが1割算回路58にてキャンセルさ
れることになるからである。
素子の磁気感度の温度変化、磁気抵抗素子及び磁石の経
時変化を含めて補償することが可能となる。すなわち、
これらの変化は、共に端子40.44より変化が含まれ
た状態で出力されるが1割算回路58にてキャンセルさ
れることになるからである。
なお、上記寅施例において、抵抗体30.32は、どの
ような永久磁石に対しても同じ出力が得られるという条
件さえ満たされていれば、その範囲内で任意に構成を変
えることがてきる。
ような永久磁石に対しても同じ出力が得られるという条
件さえ満たされていれば、その範囲内で任意に構成を変
えることがてきる。
また、抵抗体30は抵抗体32に対して異なる磁気抵抗
変化率を有するから、抵抗体30を2分割してそれぞれ
を磁気抵抗素子の両側に配設することも可能である。
変化率を有するから、抵抗体30を2分割してそれぞれ
を磁気抵抗素子の両側に配設することも可能である。
(発明の効果)
以上説明したように1本発明によれば、磁気抵抗効果に
よる一定の出力が得られる端子をもつように構成したの
で、簡単な小型の構造で最大の変位検出距離を得つつ、
磁気抵抗素子及び永久磁石の温度変化並びに経時変化を
自動的に補償することが可能となる。
よる一定の出力が得られる端子をもつように構成したの
で、簡単な小型の構造で最大の変位検出距離を得つつ、
磁気抵抗素子及び永久磁石の温度変化並びに経時変化を
自動的に補償することが可能となる。
第1図(A) fB) (C1は本発明に係る磁気抵抗
素子の構成図、第2図+Al fBlは本発明の磁気抵
抗素子におけラスター電極が配設された抵抗体の構成図
、第3図は本発明の磁気抵抗素子の出力特性図、第4図
は第2図に示す各抵抗体の磁気抵抗変化率を示す特性図
、第5図は本発明の磁気抵抗素子の出力電圧−温度特性
図、第6図は本発明の磁気抵抗素子を用いた磁気検出器
の構成図、第7図(A)(B) fc)は従来の磁気抵
抗素子の構成図、第8図は従来の磁気検出器の外観斜視
図、第9図は従来の磁気抵抗素子の出力特性図、第10
図は従来の磁気検出器の回路構成図である。 30.32.34.36・・・磁気抵抗体、38.40
.42.44・・・端子、39・・・磁気抵抗素子、4
9・・・永久磁石、50・・・電極、52・−・ラスタ
ー電極特許出願人 東洋通信機株式会社
素子の構成図、第2図+Al fBlは本発明の磁気抵
抗素子におけラスター電極が配設された抵抗体の構成図
、第3図は本発明の磁気抵抗素子の出力特性図、第4図
は第2図に示す各抵抗体の磁気抵抗変化率を示す特性図
、第5図は本発明の磁気抵抗素子の出力電圧−温度特性
図、第6図は本発明の磁気抵抗素子を用いた磁気検出器
の構成図、第7図(A)(B) fc)は従来の磁気抵
抗素子の構成図、第8図は従来の磁気検出器の外観斜視
図、第9図は従来の磁気抵抗素子の出力特性図、第10
図は従来の磁気検出器の回路構成図である。 30.32.34.36・・・磁気抵抗体、38.40
.42.44・・・端子、39・・・磁気抵抗素子、4
9・・・永久磁石、50・・・電極、52・−・ラスタ
ー電極特許出願人 東洋通信機株式会社
Claims (4)
- (1)同一基板上に4個の磁気抵抗体が形成されこれら
磁気抵抗体は2個ずつ直列に接続されその各接続接点は
各別の端子に接続されこれら2個の直列接続は互いに並
列接続されその各接続点は各別の端子に接続されて成る
磁気抵抗素子において、前記4個の磁気抵抗体のうち少
なくとも1個の磁気抵抗体の磁気感度は残余の他の磁気
抵抗体の磁気感度と異なるように構成されたことを特徴
とする磁気抵抗素子。 - (2)請求項(1)記載の磁気抵抗素子において、前記
各磁気抵抗体はInSb、InAs、GaAs等のII
I−V族化合物又は該III−V族化合物の半導体に更
にIn、Ga、Sn等の他の第三の元素を混入した三元
化合物から成り、電子移動度が5,000cm^2/V
sec以上であることを特徴とする磁気抵抗素子。 - (3)請求項(1)記載の磁気抵抗素子において、前記
磁気抵抗体間の互いの磁気感度の差は、磁気抵抗体の形
状効果に基づき構成されることを特徴とする磁気抵抗素
子。 - (4)請求項(3)記載の磁気抵抗素子において、前記
磁気抵抗体の大部分がラスター電極を含むことを特徴と
する磁気抵抗素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1035551A JPH02214177A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 磁気抵抗素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1035551A JPH02214177A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 磁気抵抗素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02214177A true JPH02214177A (ja) | 1990-08-27 |
Family
ID=12444863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1035551A Pending JPH02214177A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 磁気抵抗素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02214177A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010243294A (ja) * | 2009-04-03 | 2010-10-28 | Murata Mfg Co Ltd | 磁気センサおよび磁気検出方法 |
-
1989
- 1989-02-15 JP JP1035551A patent/JPH02214177A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010243294A (ja) * | 2009-04-03 | 2010-10-28 | Murata Mfg Co Ltd | 磁気センサおよび磁気検出方法 |
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