JPH022131B2 - - Google Patents
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- JPH022131B2 JPH022131B2 JP56198130A JP19813081A JPH022131B2 JP H022131 B2 JPH022131 B2 JP H022131B2 JP 56198130 A JP56198130 A JP 56198130A JP 19813081 A JP19813081 A JP 19813081A JP H022131 B2 JPH022131 B2 JP H022131B2
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- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 38
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- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 9
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、焦点検出装置、更に詳しくは、2つ
の受光素子列に被合焦体の像をそれぞれ投影し、
この被合焦体の像の受光素子列上での相対的位置
関係から焦点状態を検出するようにした、いわゆ
る像相関式の焦点検出装置に関する。
の受光素子列に被合焦体の像をそれぞれ投影し、
この被合焦体の像の受光素子列上での相対的位置
関係から焦点状態を検出するようにした、いわゆ
る像相関式の焦点検出装置に関する。
上下像合致式、二重像合致式、瞳分割式等の焦
点検出装置は、2つの像の相対的な位置関係に基
づいて焦点状態を検出するものであり、像の鮮明
度を評価して焦点状態を検出するコントラスト式
の焦点検出装置に対して、一般に、像相関式の焦
点検出装置と呼ばれている。このような像相関式
の焦点検出装置は、容易かつ高精度に焦点検出が
行なえると共に、非合焦時の前ピン、後ピン状態
およびその合焦状態からのずれの程度が同時に検
出できるという大きな利点を有している。そこ
で、オートフオーカスカメラ、VTRカメラ等の
光学電子機器においては、被合焦体の光像を2群
の受光素子列上に投影し、これにより得られる光
電変換出力に基づいて、受光素子列上に投影され
た像の相対的位置関係を検出して、焦点状態を自
動的に判別するようにした像相関式の焦点検出装
置が広く採用されるようになつてきている。
点検出装置は、2つの像の相対的な位置関係に基
づいて焦点状態を検出するものであり、像の鮮明
度を評価して焦点状態を検出するコントラスト式
の焦点検出装置に対して、一般に、像相関式の焦
点検出装置と呼ばれている。このような像相関式
の焦点検出装置は、容易かつ高精度に焦点検出が
行なえると共に、非合焦時の前ピン、後ピン状態
およびその合焦状態からのずれの程度が同時に検
出できるという大きな利点を有している。そこ
で、オートフオーカスカメラ、VTRカメラ等の
光学電子機器においては、被合焦体の光像を2群
の受光素子列上に投影し、これにより得られる光
電変換出力に基づいて、受光素子列上に投影され
た像の相対的位置関係を検出して、焦点状態を自
動的に判別するようにした像相関式の焦点検出装
置が広く採用されるようになつてきている。
しかし、従来の像相関式の焦点検出装置は、第
1および第2の受光素子列の光電変換出力分布か
ら、像の受光素子列上での相対的位置のずれを検
出するために、第1の受光素子列の受光素子と第
2の受光素子列の受光素子とを順次1ピツチづつ
ずらしながら対応付け、互いに対応付けられた受
光素子の光電変換出力の差の絶対値を積算し、こ
の積算値を積算個数で除した平均値を評価関数と
して用いて、この評価関数が最小となる対応受光
素子間のピツチ数で焦点状態を検出するようにな
つていた。即ち、例えば、第6図において実線A
で示すように、第1の受光素子列a1〜ao(第2図
参照)の光電変換出力分布Va1〜Vaoが得られ、
一点鎖線Bで示すように、第2の受光素子列b1〜
bo(第2図参照)の光電変換出力分布Vb1〜Vboが
得られたとすると、 R0=1/no 〓r=1 |Var−Vbr|、 R1=1/n−1o-1 〓r=1 |Var−Vbr+1|、 R2=1/n−2o-2 〓r=1 |Var−Vbr+2|、 〓 Rk=1/n−ko-k 〓r=1 |Var−Vbr+k|、 〓 Ro-1=1/n−(n−1)o-(o-1) 〓r=1 |Var−Vbr+(o-1)| を順次計算し、値R0〜Ro-1のうち、Rlが最小と
なるときの添字lの値を、焦点状態を表わす像の
相対的位置のずれ量として検出するようにしてい
た。従つて、従来の装置では、各受光素子列a1〜
ao,b1〜bo上に投影された像同士を、できる限り
多くの部分で比較して、どの程度像をずらせば、
両像が互いに重なり合うかを検出していたことに
なり、このため、上記評価関数値R0〜Ro-1の計
算および比較に要する演算回数が膨大なものにな
るという欠点があつた。また、演算回数が膨大に
なることによつて、演算処理に要する時間が長時
間化し、焦点状態の検出に時間がかかるようにな
ると共に、演算処理装置も大型化するという欠点
があつた。
1および第2の受光素子列の光電変換出力分布か
ら、像の受光素子列上での相対的位置のずれを検
出するために、第1の受光素子列の受光素子と第
2の受光素子列の受光素子とを順次1ピツチづつ
ずらしながら対応付け、互いに対応付けられた受
光素子の光電変換出力の差の絶対値を積算し、こ
の積算値を積算個数で除した平均値を評価関数と
して用いて、この評価関数が最小となる対応受光
素子間のピツチ数で焦点状態を検出するようにな
つていた。即ち、例えば、第6図において実線A
で示すように、第1の受光素子列a1〜ao(第2図
参照)の光電変換出力分布Va1〜Vaoが得られ、
一点鎖線Bで示すように、第2の受光素子列b1〜
bo(第2図参照)の光電変換出力分布Vb1〜Vboが
得られたとすると、 R0=1/no 〓r=1 |Var−Vbr|、 R1=1/n−1o-1 〓r=1 |Var−Vbr+1|、 R2=1/n−2o-2 〓r=1 |Var−Vbr+2|、 〓 Rk=1/n−ko-k 〓r=1 |Var−Vbr+k|、 〓 Ro-1=1/n−(n−1)o-(o-1) 〓r=1 |Var−Vbr+(o-1)| を順次計算し、値R0〜Ro-1のうち、Rlが最小と
なるときの添字lの値を、焦点状態を表わす像の
相対的位置のずれ量として検出するようにしてい
た。従つて、従来の装置では、各受光素子列a1〜
ao,b1〜bo上に投影された像同士を、できる限り
多くの部分で比較して、どの程度像をずらせば、
両像が互いに重なり合うかを検出していたことに
なり、このため、上記評価関数値R0〜Ro-1の計
算および比較に要する演算回数が膨大なものにな
るという欠点があつた。また、演算回数が膨大に
なることによつて、演算処理に要する時間が長時
間化し、焦点状態の検出に時間がかかるようにな
ると共に、演算処理装置も大型化するという欠点
があつた。
ところが、各受光素子列a1〜ao,b1〜boに投影
される像は、同一の被合焦体の像であるので、各
受光素子列a1〜ao,b1〜boの光電変換出力分布
Va1〜Vao,Vb1〜Vboは、左右方向の相対的な
位置のずれはあつても、ほゞ合同の形状となる筈
であり、かならずしも各受光素子列a1〜ao,b1〜
boに投影された像同士をできる限り多くの部分で
比較して位置のずれを検出する必要性はなく、光
電変換出力分布Va1〜Vao,Vb1〜Vbo中の特徴
のある点を検索し、この特徴のある点同士の相対
的位置関係を検出することによつても、焦点状態
を表わす像のずれ量を検出することができる筈で
ある。
される像は、同一の被合焦体の像であるので、各
受光素子列a1〜ao,b1〜boの光電変換出力分布
Va1〜Vao,Vb1〜Vboは、左右方向の相対的な
位置のずれはあつても、ほゞ合同の形状となる筈
であり、かならずしも各受光素子列a1〜ao,b1〜
boに投影された像同士をできる限り多くの部分で
比較して位置のずれを検出する必要性はなく、光
電変換出力分布Va1〜Vao,Vb1〜Vbo中の特徴
のある点を検索し、この特徴のある点同士の相対
的位置関係を検出することによつても、焦点状態
を表わす像のずれ量を検出することができる筈で
ある。
本発明の目的は、上述の点に鑑み、第1の受光
素子列の光電変換出力分布中から特徴点を検索
し、この特徴点に対応する、第2の受光素子列の
光電変換出力分布中の対応特徴点を検索して、上
記特徴点の光電変換出力を発生する第1の受光素
子列中の受光素子と、上記対応特徴点の光電変換
出力を発生する第2の受光素子列中の受光素子と
の相対的な位置関係から、焦点状態を検出するよ
うにした焦点検出装置を提供するにある。
素子列の光電変換出力分布中から特徴点を検索
し、この特徴点に対応する、第2の受光素子列の
光電変換出力分布中の対応特徴点を検索して、上
記特徴点の光電変換出力を発生する第1の受光素
子列中の受光素子と、上記対応特徴点の光電変換
出力を発生する第2の受光素子列中の受光素子と
の相対的な位置関係から、焦点状態を検出するよ
うにした焦点検出装置を提供するにある。
本発明によれば、光電変換出力分布中の特徴点
を検索し、この特徴点同士の相対的位置関係から
焦点状態を検出するようにしたので、従来の検出
手段に比べて焦点検出に要する演算回数が格段的
に少なくてすむようになる。また、演算回数の減
少により、焦点検出時間の短縮化、装置の簡易小
型化を図ることができる。
を検索し、この特徴点同士の相対的位置関係から
焦点状態を検出するようにしたので、従来の検出
手段に比べて焦点検出に要する演算回数が格段的
に少なくてすむようになる。また、演算回数の減
少により、焦点検出時間の短縮化、装置の簡易小
型化を図ることができる。
また、上記特徴点として、光電変換出力分布中
の最大傾斜点を用いれば、この点は像の明るさが
最も激しく変化するところであり、目視による焦
点合せの際にもこのような部分を基準として焦点
合せが行なわれることを考えれば、実際的で精度
の高い焦点検出を行なうことができる。
の最大傾斜点を用いれば、この点は像の明るさが
最も激しく変化するところであり、目視による焦
点合せの際にもこのような部分を基準として焦点
合せが行なわれることを考えれば、実際的で精度
の高い焦点検出を行なうことができる。
さらに、上記特徴点として、光電変換出力分布
中の最大屈曲点を用いれば、この点は像の明るさ
が周りの像の明るさに比べて最も暗いか明るいと
ころであり、従つて、最大傾斜点を用いた場合と
同様に、実際的で精度の高い焦点検出を行なうこ
とができる。
中の最大屈曲点を用いれば、この点は像の明るさ
が周りの像の明るさに比べて最も暗いか明るいと
ころであり、従つて、最大傾斜点を用いた場合と
同様に、実際的で精度の高い焦点検出を行なうこ
とができる。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。
る。
第1図は、本発明の焦点検出装置が適用される
光学系の一例を示している。この光学系は、周知
の一眼レフレツクスカメラの光学系であつて、撮
影レンズ1を通過した被写体光を可動反射ミラー
2で反射してピントグラス3に被写体像を結像さ
せ、この像をペンタプリズム4、フアインダー接
眼レンズ5を介してフアインダー接眼窓(図示せ
ず)から観察できるようにしたものである。ピン
トグラス3には、焦点面の中央に中心線を境にし
て、その両側に互いに反対方向に傾斜した2つの
楔型プリズムを傾斜面の交差するところが焦点面
となるように配置した、周知のスプリツトプリズ
ム6が形成されている。また、ペンタプリズム4
の最終反射面である前端下部面は、ハーフミラー
面4aに加工されていて、同面4aには、パンフ
オーカスレンズ7を介して、第2図に示すよう
に、2つの受光素子列a1〜ao,b1〜bo(但し、n
は任意の正の整数。以下、同じ。)が並設された
基板でなる受光装置8が配設されている。一方の
第1の受光素子列a1〜aoには、スプリツトプリズ
ム6によつて分割された被写体像の上半部が、他
方の第2の受光素子列b1〜boには、下半部が、そ
れぞれ投影されるようになつている。
光学系の一例を示している。この光学系は、周知
の一眼レフレツクスカメラの光学系であつて、撮
影レンズ1を通過した被写体光を可動反射ミラー
2で反射してピントグラス3に被写体像を結像さ
せ、この像をペンタプリズム4、フアインダー接
眼レンズ5を介してフアインダー接眼窓(図示せ
ず)から観察できるようにしたものである。ピン
トグラス3には、焦点面の中央に中心線を境にし
て、その両側に互いに反対方向に傾斜した2つの
楔型プリズムを傾斜面の交差するところが焦点面
となるように配置した、周知のスプリツトプリズ
ム6が形成されている。また、ペンタプリズム4
の最終反射面である前端下部面は、ハーフミラー
面4aに加工されていて、同面4aには、パンフ
オーカスレンズ7を介して、第2図に示すよう
に、2つの受光素子列a1〜ao,b1〜bo(但し、n
は任意の正の整数。以下、同じ。)が並設された
基板でなる受光装置8が配設されている。一方の
第1の受光素子列a1〜aoには、スプリツトプリズ
ム6によつて分割された被写体像の上半部が、他
方の第2の受光素子列b1〜boには、下半部が、そ
れぞれ投影されるようになつている。
第3図は、本発明の焦点検出装置が適用される
光学系の他の例を示している。この光学系は、周
知の二眼式の測距装置の光学系であつて、2つの
対物レンズ11,12を通過した像光は、反射ミ
ラー13,14で反射され、プリズム15で再度
反射されて、受光装置16に入射されるようにな
つている。受光装置16は、一列に多数の受光素
子が列設された基板で形成されていて、その受光
素子列の右半分(図においては、上半分)が第1
の受光素子列となつていて、左半分(図において
は、下半分)が第2の受光素子列となつている。
この光学系では、測距体17が無限遠にあるとき
に、第1の受光素子列と第2の受光素子列とに対
応するように測距体17の像が結像されるように
なつており、測距体17が近距離がわに移動する
に従つて、像の受光素子列上での相対的な位置が
ずれるようになつている。
光学系の他の例を示している。この光学系は、周
知の二眼式の測距装置の光学系であつて、2つの
対物レンズ11,12を通過した像光は、反射ミ
ラー13,14で反射され、プリズム15で再度
反射されて、受光装置16に入射されるようにな
つている。受光装置16は、一列に多数の受光素
子が列設された基板で形成されていて、その受光
素子列の右半分(図においては、上半分)が第1
の受光素子列となつていて、左半分(図において
は、下半分)が第2の受光素子列となつている。
この光学系では、測距体17が無限遠にあるとき
に、第1の受光素子列と第2の受光素子列とに対
応するように測距体17の像が結像されるように
なつており、測距体17が近距離がわに移動する
に従つて、像の受光素子列上での相対的な位置が
ずれるようになつている。
第4図は、本発明の一実施例を示す焦点検出装
置の構成の概要を示している。なお、本実施例で
は焦点検出装置の光学系を、上記第1図に示した
一眼レフレツクスカメラの光学系としたが、本焦
点検出装置の光学系は、これに限定されるもので
はなく、上記第2図に示した測距装置の光学系、
あるいはその他の光学系であつてもよいことは勿
論である。
置の構成の概要を示している。なお、本実施例で
は焦点検出装置の光学系を、上記第1図に示した
一眼レフレツクスカメラの光学系としたが、本焦
点検出装置の光学系は、これに限定されるもので
はなく、上記第2図に示した測距装置の光学系、
あるいはその他の光学系であつてもよいことは勿
論である。
前述したように、受光装置8には、撮影レンズ
1、スプリツトプリズム6、パンフオーカスレン
ズ7等を介して、第1の受光素子列a1〜aoに被写
体像の上半部が、第2の受光素子列b1〜boに下半
部がそれぞれ投影されるが、この受光装置8は、
走査回路21に接続されている。走査回路21
は、第1および第2の受光素子列a1〜aoおよびb1
〜boから順次光電変換出力Va1〜Vao,Vb1〜Vbo
を読み出すためのものであつて、同回路21によ
つて読み出された光電変換出力Va1〜Vao,Vb1
〜Vboは、A−D変換装置22でデジタル信号に
変換されて、記憶装置23に記憶されるようにな
つている。演算回路24は、この記憶装置23か
らデジタル信号の光電変換出力Va1〜Vao,Vb1
〜Vboを読み込んで、後述する演算処理を施すこ
とにより、焦点状態を検出し、焦点状態信号D
(第5図参照)を出力するようになつている。こ
の焦点状態信号Dは、表示駆動回路25を通じて
表示装置26に入力され、表示装置26は、カメ
ラのフアインダー内等に焦点状態を表示するよう
になつている。また、焦点状態信号Dは、モータ
ー駆動回路27に入力され、同回路27は、焦点
状態信号Dの値に応じてモーター28を駆動し、
撮影レンズ1を合焦状態となる方向に移動させる
ようになつている。合焦状態が得られた状態で、
モーター28の駆動が停止され、合焦状態が保た
れることは云うまでもない。なお、上記受光装置
8、走査回路21、A−D変換装置22、記憶装
置23、演算回路24、モーター駆動回路27に
は、それぞれシーケンスコントローラー29が接
続されていて、このコントローラー29が各装置
および回路の動作を制御するようになつている。
1、スプリツトプリズム6、パンフオーカスレン
ズ7等を介して、第1の受光素子列a1〜aoに被写
体像の上半部が、第2の受光素子列b1〜boに下半
部がそれぞれ投影されるが、この受光装置8は、
走査回路21に接続されている。走査回路21
は、第1および第2の受光素子列a1〜aoおよびb1
〜boから順次光電変換出力Va1〜Vao,Vb1〜Vbo
を読み出すためのものであつて、同回路21によ
つて読み出された光電変換出力Va1〜Vao,Vb1
〜Vboは、A−D変換装置22でデジタル信号に
変換されて、記憶装置23に記憶されるようにな
つている。演算回路24は、この記憶装置23か
らデジタル信号の光電変換出力Va1〜Vao,Vb1
〜Vboを読み込んで、後述する演算処理を施すこ
とにより、焦点状態を検出し、焦点状態信号D
(第5図参照)を出力するようになつている。こ
の焦点状態信号Dは、表示駆動回路25を通じて
表示装置26に入力され、表示装置26は、カメ
ラのフアインダー内等に焦点状態を表示するよう
になつている。また、焦点状態信号Dは、モータ
ー駆動回路27に入力され、同回路27は、焦点
状態信号Dの値に応じてモーター28を駆動し、
撮影レンズ1を合焦状態となる方向に移動させる
ようになつている。合焦状態が得られた状態で、
モーター28の駆動が停止され、合焦状態が保た
れることは云うまでもない。なお、上記受光装置
8、走査回路21、A−D変換装置22、記憶装
置23、演算回路24、モーター駆動回路27に
は、それぞれシーケンスコントローラー29が接
続されていて、このコントローラー29が各装置
および回路の動作を制御するようになつている。
第5図は、上記第4図中に示した演算回路24
において行なわれる、焦点検出のための演算処理
順序の一例を示すフローチヤートである。このフ
ローチヤートは、第6図において破線の丸印で囲
んで示すような、光電変換出力分布Va1〜Vao,
Vb1〜Vbo中の最大傾斜点P,P′を特徴点として
検索して、特徴点P,P′の光電変換出力を発生す
る受光素子同士の相対的位置の関係から焦点状態
を判別するためのものである。
において行なわれる、焦点検出のための演算処理
順序の一例を示すフローチヤートである。このフ
ローチヤートは、第6図において破線の丸印で囲
んで示すような、光電変換出力分布Va1〜Vao,
Vb1〜Vbo中の最大傾斜点P,P′を特徴点として
検索して、特徴点P,P′の光電変換出力を発生す
る受光素子同士の相対的位置の関係から焦点状態
を判別するためのものである。
次に、本発明の焦点検出装置の動作を、上記第
5図に示したフローチヤートの演算処理動作と共
に説明する。
5図に示したフローチヤートの演算処理動作と共
に説明する。
まず、カメラのシヤツターレリーズ釦(図示せ
ず)が押下されるか、あるいは合焦指令部材(図
示せず)が操作されると、シーケンスコントロー
ラー29を通じて、受光装置8、走査回路21、
A−D変換装置22、記憶装置23がそれぞれ作
動され、記憶装置23には、第1の受光素子列a1
〜aoの光電変換出力Va1〜Vaoおよび第2の受光
素子列b1〜boの光電変換出力Vb1〜Vboがそれぞ
れ記憶される。いま、予定焦点面であるフイルム
面に撮影レンズ1による被写体像が合焦されてい
ないとすると、スプリツトプリズム6によつて分
割された被写体像の上半部と下半部とが第1の受
光素子列a1〜aoと第2の受光素子列b1〜boとにず
れて投影され、これら受光素子列a1〜ao,b1〜bo
の光電変換出力分布Va1〜Vao,Vb1〜Vboは、
第6図において実線Aで示す分布と、一点鎖線B
で示す分布となり、両分布は左右にずれた状態と
なつている。
ず)が押下されるか、あるいは合焦指令部材(図
示せず)が操作されると、シーケンスコントロー
ラー29を通じて、受光装置8、走査回路21、
A−D変換装置22、記憶装置23がそれぞれ作
動され、記憶装置23には、第1の受光素子列a1
〜aoの光電変換出力Va1〜Vaoおよび第2の受光
素子列b1〜boの光電変換出力Vb1〜Vboがそれぞ
れ記憶される。いま、予定焦点面であるフイルム
面に撮影レンズ1による被写体像が合焦されてい
ないとすると、スプリツトプリズム6によつて分
割された被写体像の上半部と下半部とが第1の受
光素子列a1〜aoと第2の受光素子列b1〜boとにず
れて投影され、これら受光素子列a1〜ao,b1〜bo
の光電変換出力分布Va1〜Vao,Vb1〜Vboは、
第6図において実線Aで示す分布と、一点鎖線B
で示す分布となり、両分布は左右にずれた状態と
なつている。
記憶装置23に、第1の受光素子列a1〜aoの光
電変換出力分布Va1〜Vaoおよび第2の受光素子
列b1〜boの光電変換出力分布Vb1〜Vboがそれぞ
れ記憶されると、続いて、シーケンスコントロー
ラー29は演算回路24を作動させる。よつて、
演算回路24は、第5図のフローチヤートに従つ
て、焦点検出のための演算処理を開始する。
電変換出力分布Va1〜Vaoおよび第2の受光素子
列b1〜boの光電変換出力分布Vb1〜Vboがそれぞ
れ記憶されると、続いて、シーケンスコントロー
ラー29は演算回路24を作動させる。よつて、
演算回路24は、第5図のフローチヤートに従つ
て、焦点検出のための演算処理を開始する。
まず、記憶装置23内に記憶された光電変換出
力Va1〜Vao,Vb1〜Vboを演算回路24内に読
み込むための読込処理が行なわれる。即ち、受光
素子列a1〜ao,b1〜bo中の受光素子の順番(以
下、アドレスと称す。)を示すパラメーターrが
初期値‘1'にセツトされ、このパラメーターrを
1ずつカウントアツプしながら光電変換出力
Var,Vbrが順次読み込まれ、Va1〜Vao,Vb1〜
Vboまでの全ての光電変換出力が読み込まれる
と、‘r>n'の判定によつてループを抜けて、読
込処理が完了する。
力Va1〜Vao,Vb1〜Vboを演算回路24内に読
み込むための読込処理が行なわれる。即ち、受光
素子列a1〜ao,b1〜bo中の受光素子の順番(以
下、アドレスと称す。)を示すパラメーターrが
初期値‘1'にセツトされ、このパラメーターrを
1ずつカウントアツプしながら光電変換出力
Var,Vbrが順次読み込まれ、Va1〜Vao,Vb1〜
Vboまでの全ての光電変換出力が読み込まれる
と、‘r>n'の判定によつてループを抜けて、読
込処理が完了する。
次に、第1の受光素子列a1〜aoの光電変換出力
分布Va1〜Vao中の特徴点、即ち、最大傾斜点P
(第6図参照)をサーチするための検索処理が行
なわれる。まず、パラメーターrが値‘1'にリセ
ツトされ、最大傾斜点Pの傾斜を格納するエリア
Paが初期値‘0'にセツトされる。続いて、パラ
メーターrを1ずつカウントアツプしながら、‘
Par=Var−Var+1’の演算が行なわれ、求めた
傾斜Parの絶対値|Par|が上記エリアPaの値の
絶対値|Pa|と順次比較される。絶対値|Par|
が絶対値|Pa|より大きかつた場合には、傾斜
Parの値がエリアPaに代入されると共に、この傾
斜Parに対応する受光素子arのアドレスrがエリ
アkに格納される。そして、最後の傾斜Pao-1の
絶対値|Pao-1|とエリアPaの絶対値|Pa|との
比較が終ると、エリアPaに最大傾斜Pak、エリ
アkに最大傾斜点Pの出力Vakを発生する受光素
子akのアドレス(以下、最大傾斜点Pのアドレ
スとも称す。)が、それぞれ格納された状態で、
‘r>n−1'の判定によつてループを抜けて、最
大傾斜点Pの検索処理が終了する。
分布Va1〜Vao中の特徴点、即ち、最大傾斜点P
(第6図参照)をサーチするための検索処理が行
なわれる。まず、パラメーターrが値‘1'にリセ
ツトされ、最大傾斜点Pの傾斜を格納するエリア
Paが初期値‘0'にセツトされる。続いて、パラ
メーターrを1ずつカウントアツプしながら、‘
Par=Var−Var+1’の演算が行なわれ、求めた
傾斜Parの絶対値|Par|が上記エリアPaの値の
絶対値|Pa|と順次比較される。絶対値|Par|
が絶対値|Pa|より大きかつた場合には、傾斜
Parの値がエリアPaに代入されると共に、この傾
斜Parに対応する受光素子arのアドレスrがエリ
アkに格納される。そして、最後の傾斜Pao-1の
絶対値|Pao-1|とエリアPaの絶対値|Pa|との
比較が終ると、エリアPaに最大傾斜Pak、エリ
アkに最大傾斜点Pの出力Vakを発生する受光素
子akのアドレス(以下、最大傾斜点Pのアドレ
スとも称す。)が、それぞれ格納された状態で、
‘r>n−1'の判定によつてループを抜けて、最
大傾斜点Pの検索処理が終了する。
続いて、上記検索処理によつて見い出された最
大傾斜点Pに対応する、第2の受光素子列b1〜bo
の光電変換出力分布Vb1〜Vbo中の対応傾斜点
P′(第6図参照)の検索処理が行なわれる。まず、
上記最大傾斜点Pと同じ傾斜を有し、かつ出力の
値も同じ対応傾斜点が複数見い出された場合に、
このような点の数をカウントするためのパラメー
ターgが初期値‘0'にセツトされると共に、パラ
メーターrが値‘1'にリセツトされる。次に、パ
ラメーターrを1ずつカウントアツプしながら、
‘Pbr=Vbr−Vbo+1’の演算が行なわれ、求め
た傾斜Pbrが上記エリアPaの値、即ち最大傾斜
Pakと等しいか、また、等しいときには対応する
受光素子br,akの出力Vbr,Vakが等しいかの判
定が行なわれ、‘Pbr=Pa'かつ‘Vak=Vbr'の
ときには、パラメーターgが1つカウントアツプ
され、エリアlgに対応する第2の受光素子列b1〜
bo中の受光素子brのアドレスrが格納される。そ
して、最大傾斜Pakと最後の傾斜Pbo-1との比較
が終ると、パラメーターgに対応傾斜点P′の数
が、エリアl1〜lgに対応傾斜点P′のアドレスが、
それぞれ格納され、‘r>n−1'の判定でループ
を抜けて、対応傾斜点P′の検索処理が終了する。
大傾斜点Pに対応する、第2の受光素子列b1〜bo
の光電変換出力分布Vb1〜Vbo中の対応傾斜点
P′(第6図参照)の検索処理が行なわれる。まず、
上記最大傾斜点Pと同じ傾斜を有し、かつ出力の
値も同じ対応傾斜点が複数見い出された場合に、
このような点の数をカウントするためのパラメー
ターgが初期値‘0'にセツトされると共に、パラ
メーターrが値‘1'にリセツトされる。次に、パ
ラメーターrを1ずつカウントアツプしながら、
‘Pbr=Vbr−Vbo+1’の演算が行なわれ、求め
た傾斜Pbrが上記エリアPaの値、即ち最大傾斜
Pakと等しいか、また、等しいときには対応する
受光素子br,akの出力Vbr,Vakが等しいかの判
定が行なわれ、‘Pbr=Pa'かつ‘Vak=Vbr'の
ときには、パラメーターgが1つカウントアツプ
され、エリアlgに対応する第2の受光素子列b1〜
bo中の受光素子brのアドレスrが格納される。そ
して、最大傾斜Pakと最後の傾斜Pbo-1との比較
が終ると、パラメーターgに対応傾斜点P′の数
が、エリアl1〜lgに対応傾斜点P′のアドレスが、
それぞれ格納され、‘r>n−1'の判定でループ
を抜けて、対応傾斜点P′の検索処理が終了する。
次に、まず、対応傾斜点P′が存在したか否かの
判定が、パラメーターgの値が‘0'であるか否か
を見ることによつて行なわれ、パラメーターgが
‘0'である場合には、焦点状態信号Dの出力が禁
止されると共に、焦点検出できない旨の警告信号
が出力される。また、パラメーターgが‘0'でな
い場合には、対応傾斜点P′は存在したことになる
が、このような点が複数見いだされたときには、
どの点が真の対応傾斜点であるのか、また、真の
対応傾斜点とした点であつても十分な精度で焦点
検出が行なえる点であるか否かの判定処理が続い
て行なわれる。この判定処理は、対応傾斜点のそ
れぞれについて、その点の前後複数個(q個(た
だし、qは正の整数))の受光素子の出力の傾斜
と、最大傾斜点Pの前後複数個(q個)の受光素
子の出力の傾斜との差の絶対値の総和を求め、こ
の総和があらかじめ設定された許容限界値F(た
だし、F>0)より小さいか否かを判別すること
によつて行なわれる。即ち、まず、上記総和の最
小値を格納するためのエリアSに許容限界値Fが
セツトされると共に、真の対応傾斜点P′の順番の
値を格納するためのエリアhが値‘0'にセツトさ
れる。また、パラメーターrに−qの値がセツト
されると共に、最大傾斜点Pの前後で出力の傾斜
と、g番目の対応傾斜点の前後での出力の傾斜と
の差の絶対値の総和を格納するためのエリアSg
が初期値‘0'にセツトされる。そして、パラメー
ターrを1ずつカウントアツプしながら、エリア
Sgへの、最大傾斜点Pの前後での出力の傾斜と、
g番目の対応特徴点の前後での出力の傾斜との差
の絶対値の足し込みが順次行なわれ、これが2q
+1回行なわれると、判定‘r>q'によりループ
を抜け、総和がエリアSgに格納されて積算処理
が完了する。次に、エリアSgの値が総和の最小
値を格納するためのエリアSの値と比較され、エ
リアSgの値が小さい場合には、エリアSにエリ
アSgの値が代入されると共に、このときのgの
値がエリアhに格納される。このようなg番目の
対応特徴点についての積算および判定処理は、パ
ラメーターgを1つずつカウントダウンしながら
全ての対応特徴点について行なわれ、‘g=0'の
判定によりループを抜けて終了する。
判定が、パラメーターgの値が‘0'であるか否か
を見ることによつて行なわれ、パラメーターgが
‘0'である場合には、焦点状態信号Dの出力が禁
止されると共に、焦点検出できない旨の警告信号
が出力される。また、パラメーターgが‘0'でな
い場合には、対応傾斜点P′は存在したことになる
が、このような点が複数見いだされたときには、
どの点が真の対応傾斜点であるのか、また、真の
対応傾斜点とした点であつても十分な精度で焦点
検出が行なえる点であるか否かの判定処理が続い
て行なわれる。この判定処理は、対応傾斜点のそ
れぞれについて、その点の前後複数個(q個(た
だし、qは正の整数))の受光素子の出力の傾斜
と、最大傾斜点Pの前後複数個(q個)の受光素
子の出力の傾斜との差の絶対値の総和を求め、こ
の総和があらかじめ設定された許容限界値F(た
だし、F>0)より小さいか否かを判別すること
によつて行なわれる。即ち、まず、上記総和の最
小値を格納するためのエリアSに許容限界値Fが
セツトされると共に、真の対応傾斜点P′の順番の
値を格納するためのエリアhが値‘0'にセツトさ
れる。また、パラメーターrに−qの値がセツト
されると共に、最大傾斜点Pの前後で出力の傾斜
と、g番目の対応傾斜点の前後での出力の傾斜と
の差の絶対値の総和を格納するためのエリアSg
が初期値‘0'にセツトされる。そして、パラメー
ターrを1ずつカウントアツプしながら、エリア
Sgへの、最大傾斜点Pの前後での出力の傾斜と、
g番目の対応特徴点の前後での出力の傾斜との差
の絶対値の足し込みが順次行なわれ、これが2q
+1回行なわれると、判定‘r>q'によりループ
を抜け、総和がエリアSgに格納されて積算処理
が完了する。次に、エリアSgの値が総和の最小
値を格納するためのエリアSの値と比較され、エ
リアSgの値が小さい場合には、エリアSにエリ
アSgの値が代入されると共に、このときのgの
値がエリアhに格納される。このようなg番目の
対応特徴点についての積算および判定処理は、パ
ラメーターgを1つずつカウントダウンしながら
全ての対応特徴点について行なわれ、‘g=0'の
判定によりループを抜けて終了する。
続いて、‘h=0'の判定により、上記総和が許
容限界値F以下という条件を満足する対応特徴点
P′があつたか否かを判別し、このような対応特徴
点P′が無かつた場合には、焦点状態信号Dの出力
が禁止されると共に、警告信号が出力される。ま
た、対応特徴点P′があつた場合には、‘D=k−
lh'の演算がなされ、この結果、最大傾斜点Pの
第1の受光素子列a1〜ao上でのアドレスkと、真
の対応傾斜点P′の第2の受光素子列b1〜bo上での
アドレスlhとの差、即ち、特徴点同士の相対的な
位置の差を表わすものであるから、これが焦点状
態信号Dとして出力される。
容限界値F以下という条件を満足する対応特徴点
P′があつたか否かを判別し、このような対応特徴
点P′が無かつた場合には、焦点状態信号Dの出力
が禁止されると共に、警告信号が出力される。ま
た、対応特徴点P′があつた場合には、‘D=k−
lh'の演算がなされ、この結果、最大傾斜点Pの
第1の受光素子列a1〜ao上でのアドレスkと、真
の対応傾斜点P′の第2の受光素子列b1〜bo上での
アドレスlhとの差、即ち、特徴点同士の相対的な
位置の差を表わすものであるから、これが焦点状
態信号Dとして出力される。
上記焦点状態信号Dが出力されると、第4図に
おいて、表示駆動回路25を通じて表示装置26
での焦点状態の表示が行なわれると共に、モータ
ー駆動回路27によつて、上記焦点状態信号Dを
‘0'とする方向にモーター28が回転され、撮影
レンズ1が移動して合焦動作が行なわれる。
おいて、表示駆動回路25を通じて表示装置26
での焦点状態の表示が行なわれると共に、モータ
ー駆動回路27によつて、上記焦点状態信号Dを
‘0'とする方向にモーター28が回転され、撮影
レンズ1が移動して合焦動作が行なわれる。
そして、撮影レンズ1の移動が終了すると、モ
ーター28が停止されると共に、再び受光装置
8、走査回路21、A−D変換装置22を通じ
て、被写体像による第1の受光素子列a1〜aoの光
電変換出力Va1〜Vaoおよび第2の受光素子列b1
〜boの光電変換出力Vb1〜Vboがそれぞれ記憶さ
れ、演算回路24は、第5図のフローチヤートに
おいて、−の接続を通じて、再度、合焦確認
のための演算処理を遂行する。この演算処理は、
第5図のフローチヤートに従つて、前回の焦点検
出のための演算処理と同様に行なわれ、この結
果、焦点状態信号Dが‘0'になつた場合には、表
示装置26に合焦状態であることが表示されると
共に、モーター28の回転が行なわれず、合焦動
作が完了する。また、焦点状態信号Dが‘0'にな
らなかつた場合には、再度モーター28が回転さ
れ、合焦動作が行なわれて、繰り返し第5図のフ
ローチヤートに従つて演算処理が行なわれ、焦点
状態信号Dが‘0'になつたときに、合焦動作が完
了する。
ーター28が停止されると共に、再び受光装置
8、走査回路21、A−D変換装置22を通じ
て、被写体像による第1の受光素子列a1〜aoの光
電変換出力Va1〜Vaoおよび第2の受光素子列b1
〜boの光電変換出力Vb1〜Vboがそれぞれ記憶さ
れ、演算回路24は、第5図のフローチヤートに
おいて、−の接続を通じて、再度、合焦確認
のための演算処理を遂行する。この演算処理は、
第5図のフローチヤートに従つて、前回の焦点検
出のための演算処理と同様に行なわれ、この結
果、焦点状態信号Dが‘0'になつた場合には、表
示装置26に合焦状態であることが表示されると
共に、モーター28の回転が行なわれず、合焦動
作が完了する。また、焦点状態信号Dが‘0'にな
らなかつた場合には、再度モーター28が回転さ
れ、合焦動作が行なわれて、繰り返し第5図のフ
ローチヤートに従つて演算処理が行なわれ、焦点
状態信号Dが‘0'になつたときに、合焦動作が完
了する。
なお、上記第5図のフローチヤートに基づく演
算回路24の演算処理動作は、合焦動作の完了、
カメラのシヤツターの走行、電源スイツチの開放
操作等に連動して、演算回路24に動作電圧が供
給されなくなつたときに、その時点で停止する。
また、焦点状態信号Dが出力されず、警告信号が
出力されたときには、表示装置26において、焦
点検出できない旨の表示がなされることは云うま
でもない。
算回路24の演算処理動作は、合焦動作の完了、
カメラのシヤツターの走行、電源スイツチの開放
操作等に連動して、演算回路24に動作電圧が供
給されなくなつたときに、その時点で停止する。
また、焦点状態信号Dが出力されず、警告信号が
出力されたときには、表示装置26において、焦
点検出できない旨の表示がなされることは云うま
でもない。
第7図は、上記第4図中に示した演算回路24
において行なわれる、焦点検出のための演算処理
順序の他の例を示すフローチヤートである。この
フローチヤートは第8図において破線の丸印で囲
んで示すような、光電変換出力分布A(Va1〜
Vao),B(Vb1〜Vbo)中の最大屈曲点Q,Q′を
特徴点として検索して、特徴点の光電変換出力を
発生する受光素子同士の相対的位置関係から焦点
状態を判別するためのものである。
において行なわれる、焦点検出のための演算処理
順序の他の例を示すフローチヤートである。この
フローチヤートは第8図において破線の丸印で囲
んで示すような、光電変換出力分布A(Va1〜
Vao),B(Vb1〜Vbo)中の最大屈曲点Q,Q′を
特徴点として検索して、特徴点の光電変換出力を
発生する受光素子同士の相対的位置関係から焦点
状態を判別するためのものである。
このフローチヤートにおいて、まず、記憶装置
23内に記憶された光電変換出力Va1〜Vao,
Vb1〜Vboを順次演算回路24内に読み込むため
の読込処理が行なわれることは、上記第5図に示
したフローチヤートの場合と同様である。そし
て、次に、第1の受光素子列a1〜aoの光電変換出
力分布Va1〜Vao中の特徴点、本例の場合には、
最大屈曲点Qをサーチするための検索処理が行な
われる。この検索処理は、‘Par=Var−Var+1
’、‘Par+1=Var+1−Var+2’およびQar=Par
−Par+1’の演算が行なわれて、求めた屈曲Qar
の絶対値|Qar|と、最大屈曲の値を格納するエ
リアQaの値の絶対値|Qa|との比較が順次行な
われる以外、上記第5図のフローチヤートにおけ
る最大傾斜点Pの検索処理とほぼ同様に行なわ
れ、‘r>n−2'の判定により、ループを抜けて
終了する。
23内に記憶された光電変換出力Va1〜Vao,
Vb1〜Vboを順次演算回路24内に読み込むため
の読込処理が行なわれることは、上記第5図に示
したフローチヤートの場合と同様である。そし
て、次に、第1の受光素子列a1〜aoの光電変換出
力分布Va1〜Vao中の特徴点、本例の場合には、
最大屈曲点Qをサーチするための検索処理が行な
われる。この検索処理は、‘Par=Var−Var+1
’、‘Par+1=Var+1−Var+2’およびQar=Par
−Par+1’の演算が行なわれて、求めた屈曲Qar
の絶対値|Qar|と、最大屈曲の値を格納するエ
リアQaの値の絶対値|Qa|との比較が順次行な
われる以外、上記第5図のフローチヤートにおけ
る最大傾斜点Pの検索処理とほぼ同様に行なわ
れ、‘r>n−2'の判定により、ループを抜けて
終了する。
続いて、上記検索処理によつて見い出された最
大屈曲点Qに対応する、第2の受光素子列b1〜bo
の光電変換出力分布Vb1〜Vbo中の対応屈曲点
Q′の検索処理が行なわれる。この検索処理も、
‘Pbr=Vbr−Vbr+1’、‘Pbr+1=Pbr+1−Vbr+2
’および‘Qbr=Pbr−Pbr+1’の演算が行なわれ
て、求めた屈曲QbrとエリアQaに格納された最
大屈曲点Qの屈曲との比較が行なわれる以外、上
記第5図のフローチヤートにおける対応傾斜点
P′の検索処理とほぼ同様に行なわれ、‘r>n−
2'の判定によりループを抜けて終了する。
大屈曲点Qに対応する、第2の受光素子列b1〜bo
の光電変換出力分布Vb1〜Vbo中の対応屈曲点
Q′の検索処理が行なわれる。この検索処理も、
‘Pbr=Vbr−Vbr+1’、‘Pbr+1=Pbr+1−Vbr+2
’および‘Qbr=Pbr−Pbr+1’の演算が行なわれ
て、求めた屈曲QbrとエリアQaに格納された最
大屈曲点Qの屈曲との比較が行なわれる以外、上
記第5図のフローチヤートにおける対応傾斜点
P′の検索処理とほぼ同様に行なわれ、‘r>n−
2'の判定によりループを抜けて終了する。
なお、対応屈曲点Q′の検索処理以降の処理は、
上記第5図のフローチヤートにおける処理と全く
同様であるので、その詳しい説明を茲に省略す
る。
上記第5図のフローチヤートにおける処理と全く
同様であるので、その詳しい説明を茲に省略す
る。
第9図は、上記第4図中に示した演算回路24
において行なわれる、焦点検出のための演算処理
順序の更に他の例を示すフローチヤートである。
このフローチヤートは、光電変換出力分布A
(Va1〜Vao),B(Vb1〜Vbo)中の最大傾斜点
P,P′(第6図参照)および最大屈曲点Q,Q′(第
8図参照)を、それぞれ特徴点として検索し、最
大傾斜点P,P′同士の相対的位置の差と、最大屈
曲点Q,Q′同士の相対的な位置の差が相等しい
ときに、この相対的な位置の差を焦点状態信号D
として出力するようにしたものである。
において行なわれる、焦点検出のための演算処理
順序の更に他の例を示すフローチヤートである。
このフローチヤートは、光電変換出力分布A
(Va1〜Vao),B(Vb1〜Vbo)中の最大傾斜点
P,P′(第6図参照)および最大屈曲点Q,Q′(第
8図参照)を、それぞれ特徴点として検索し、最
大傾斜点P,P′同士の相対的位置の差と、最大屈
曲点Q,Q′同士の相対的な位置の差が相等しい
ときに、この相対的な位置の差を焦点状態信号D
として出力するようにしたものである。
このフローチヤートにおいても、まず、記憶装
置23内に記憶された光電変換出力Va1〜Vao,
Vb1〜Vboを演算回路24内に読み込む読込処理
が行われることは、上記第5図に示したフローチ
ヤートの場合と同様である。そして、次に、第1
の受光素子列a1〜aoの光電変換出力分布Va1〜
Vao中の特徴点、本例の場合には、最大傾斜点P
および最大屈曲点Qをサーチするための検索処理
が行なわれる。この検索処理は、上記第5図のフ
ローチヤートにおける最大傾斜点Pの検索処理
と、上記第7図のフローチヤートにおける最大屈
曲点Qの検索処理とを一緒に行なう形で遂行さ
れ、エリアPaに最大傾斜、エリアkに最大傾斜
点Pの出力を発生する受光素子のアドレスがそれ
ぞれ格納され、また、エリアQaに最大屈曲、エ
リアmに最大屈曲点Qの出力を発生する受光素子
のアドレスがそれぞれ格納されて、‘r>n−2'
の判定により、ループを抜けて終了する。
置23内に記憶された光電変換出力Va1〜Vao,
Vb1〜Vboを演算回路24内に読み込む読込処理
が行われることは、上記第5図に示したフローチ
ヤートの場合と同様である。そして、次に、第1
の受光素子列a1〜aoの光電変換出力分布Va1〜
Vao中の特徴点、本例の場合には、最大傾斜点P
および最大屈曲点Qをサーチするための検索処理
が行なわれる。この検索処理は、上記第5図のフ
ローチヤートにおける最大傾斜点Pの検索処理
と、上記第7図のフローチヤートにおける最大屈
曲点Qの検索処理とを一緒に行なう形で遂行さ
れ、エリアPaに最大傾斜、エリアkに最大傾斜
点Pの出力を発生する受光素子のアドレスがそれ
ぞれ格納され、また、エリアQaに最大屈曲、エ
リアmに最大屈曲点Qの出力を発生する受光素子
のアドレスがそれぞれ格納されて、‘r>n−2'
の判定により、ループを抜けて終了する。
続いて、上記検索処理によつて見い出された最
大傾斜点Pに対応する、第2の受光素子列b1〜bo
の光電変換出力分布Vb1〜Vbo中の対応傾斜点
P′の検索処理が行なわれる。この検索処理は、上
記第5図のフローチヤートにおける対応傾斜点
P′の検索処理とほぼ同様に行なわれ、‘r>n−
2'の判定によりループを抜けて終了する。
大傾斜点Pに対応する、第2の受光素子列b1〜bo
の光電変換出力分布Vb1〜Vbo中の対応傾斜点
P′の検索処理が行なわれる。この検索処理は、上
記第5図のフローチヤートにおける対応傾斜点
P′の検索処理とほぼ同様に行なわれ、‘r>n−
2'の判定によりループを抜けて終了する。
次に、まず、対応傾斜点P′が存在したか否かの
判定がパラメーターgの値が‘0'であるか否かを
見ることによつて行なわれ、パラメーターgが‘
0'である場合には、上記第5図に示したフローチ
ヤートの場合と同様に、焦点状態信号Dの出力が
禁止されると共に、焦点検出できない旨の警告信
号が出力される。また、パラメーターgが‘0'で
ない場合には、続いて、既に検索した最大屈曲点
Qに対応する、第2の受光素子列b1〜boの光電変
換出力分布Vb1〜Vbo中の対応屈曲点Q′の検索処
理、およびこれと同時に、最大傾斜点Pと対応傾
斜点P′との相対的位置の差と、最大屈曲点Qと対
応屈曲点Q′との相対的位置の差とのマツチング
処理が行なわれる。
判定がパラメーターgの値が‘0'であるか否かを
見ることによつて行なわれ、パラメーターgが‘
0'である場合には、上記第5図に示したフローチ
ヤートの場合と同様に、焦点状態信号Dの出力が
禁止されると共に、焦点検出できない旨の警告信
号が出力される。また、パラメーターgが‘0'で
ない場合には、続いて、既に検索した最大屈曲点
Qに対応する、第2の受光素子列b1〜boの光電変
換出力分布Vb1〜Vbo中の対応屈曲点Q′の検索処
理、およびこれと同時に、最大傾斜点Pと対応傾
斜点P′との相対的位置の差と、最大屈曲点Qと対
応屈曲点Q′との相対的位置の差とのマツチング
処理が行なわれる。
まず、対応傾斜点の数をカウントするパラメー
ターgの値が、他のエリアGに代入されて保存さ
れると共に、パラメーターrが値‘1'にリセツト
される。次に、パラメーターrを1ずつカウント
アツプしながら、‘Qbr=Pbr−Pbr+1’の演算が
行なわれ、求めた屈曲Qbrが最大屈曲Qamを格納
するエリアQaの値と等しいか、また、等しいと
きには対応する受光素子br、amの出力Vbr,
Vbmが等しいかの判定が行なわれて、‘Qa=
Qbr'かつ‘Vam=Vbr'の場合には、このときの
パラメーターrの値が、一応正しい対応屈曲点
Q′のアドレスを示していると考えられるので、
最大傾斜点Pと対応傾斜点P′との相対的位置の差
と、最大屈曲点Qと対応屈曲点Q′との相対的位
置の差とのマツチング処理が行なわれる。このマ
ツチング処理では、まず、エリアGに保存してお
いた対応傾斜点の数を再びパラメーターgに代入
して元の状態に戻すと共に、最大屈曲点Qのアド
レスmと一応正しいと考えられる対応屈曲点のア
ドレスrとの差が算出されてエリアi1に代入され
る。次に、パラメーターgを順次1ずつカウント
ダウンしながら、最大傾斜点Pのアドレスkと、
複数の対応傾斜点のアドレスlgとの差を算出して
エリアi2に代入し、上記エリアi1とエリアi2との
値を比較して、両者が等しくなつたときには、傾
斜点P,P′同士の相対的位置の差と屈曲点Q,
Q′同士の相対的位置の差が等しいのであるから、
この差を光電変換出力分布Va1〜Vao,Vb1〜
Vbo全体の相対的位置と見做すことができ、この
差を焦点状態信号Dとして出力する。
ターgの値が、他のエリアGに代入されて保存さ
れると共に、パラメーターrが値‘1'にリセツト
される。次に、パラメーターrを1ずつカウント
アツプしながら、‘Qbr=Pbr−Pbr+1’の演算が
行なわれ、求めた屈曲Qbrが最大屈曲Qamを格納
するエリアQaの値と等しいか、また、等しいと
きには対応する受光素子br、amの出力Vbr,
Vbmが等しいかの判定が行なわれて、‘Qa=
Qbr'かつ‘Vam=Vbr'の場合には、このときの
パラメーターrの値が、一応正しい対応屈曲点
Q′のアドレスを示していると考えられるので、
最大傾斜点Pと対応傾斜点P′との相対的位置の差
と、最大屈曲点Qと対応屈曲点Q′との相対的位
置の差とのマツチング処理が行なわれる。このマ
ツチング処理では、まず、エリアGに保存してお
いた対応傾斜点の数を再びパラメーターgに代入
して元の状態に戻すと共に、最大屈曲点Qのアド
レスmと一応正しいと考えられる対応屈曲点のア
ドレスrとの差が算出されてエリアi1に代入され
る。次に、パラメーターgを順次1ずつカウント
ダウンしながら、最大傾斜点Pのアドレスkと、
複数の対応傾斜点のアドレスlgとの差を算出して
エリアi2に代入し、上記エリアi1とエリアi2との
値を比較して、両者が等しくなつたときには、傾
斜点P,P′同士の相対的位置の差と屈曲点Q,
Q′同士の相対的位置の差が等しいのであるから、
この差を光電変換出力分布Va1〜Vao,Vb1〜
Vbo全体の相対的位置と見做すことができ、この
差を焦点状態信号Dとして出力する。
また、パラメーターgを順次1ずつカウントダ
ウンしながらエリアi1とエリアi2との値が一致し
なかつた場合には、このときのパラメーターrの
値は真の対応屈曲点Q′のアドレスを示している
とは言えないので、再びパラメーターrを1ずつ
カウントアツプしながら、‘Qa=Qbr'かつ‘
Vam=Vbr'の判定が行なわれ、真の対応屈曲点
Q′のサーチが繰り返される。そして、真の対応
屈曲点Q′が見つかつた場合には、前述した‘i1=
i2'の判定を抜けて焦点状態信号Dが出力され、
また、結局、真の対応屈曲点Q′が見い出されな
かつた場合には、‘r>n−2'の判定によつてル
ープを抜けて、焦点状態信号Dの出力が禁止され
ると共に、焦点状態の検出ができない旨の警告信
号が出力される。
ウンしながらエリアi1とエリアi2との値が一致し
なかつた場合には、このときのパラメーターrの
値は真の対応屈曲点Q′のアドレスを示している
とは言えないので、再びパラメーターrを1ずつ
カウントアツプしながら、‘Qa=Qbr'かつ‘
Vam=Vbr'の判定が行なわれ、真の対応屈曲点
Q′のサーチが繰り返される。そして、真の対応
屈曲点Q′が見つかつた場合には、前述した‘i1=
i2'の判定を抜けて焦点状態信号Dが出力され、
また、結局、真の対応屈曲点Q′が見い出されな
かつた場合には、‘r>n−2'の判定によつてル
ープを抜けて、焦点状態信号Dの出力が禁止され
ると共に、焦点状態の検出ができない旨の警告信
号が出力される。
以上述べたように、本発明によれば、いわゆる
像相関式の焦点検出装置において、第1の受光素
子列の光電変換出力分布中から特徴点を検索し、
第2の受光素子列の光電変換出力分布中から対応
特徴点を検索して、両特徴点の光電変換出力を発
生する受光素子の相対的な位置関係から、焦点状
態を検出するようにしたので、従来に較べて演算
回数が格段的に少なくてすむ、使用上甚だ便利な
焦点検出装置を提供することができる。
像相関式の焦点検出装置において、第1の受光素
子列の光電変換出力分布中から特徴点を検索し、
第2の受光素子列の光電変換出力分布中から対応
特徴点を検索して、両特徴点の光電変換出力を発
生する受光素子の相対的な位置関係から、焦点状
態を検出するようにしたので、従来に較べて演算
回数が格段的に少なくてすむ、使用上甚だ便利な
焦点検出装置を提供することができる。
第1図は、本発明の焦点検出装置が適用される
光学系の一例を示す概要図、第2図は、上記第1
図中に示した受光装置を示す拡大平面図、第3図
は、本発明の焦点検出装置が適用される光学系の
他の例を示す概要図、第4図は、本発明の一実施
例を示す焦点検出装置の構成の概要を示すブロツ
ク図、第5図は、上記第4図に示した焦点検出装
置の演算回路で行なわれる演算処理順序の一例を
示すフローチヤート、第6図は、上記第5図に示
したフローチヤートにおいて検索される、光電変
換出力分布中の特徴点としての最大傾斜点を示す
線図、第7図は、上記第4図に示した焦点検出装
置の演算回路で行なわれる演算処理順序の他の例
を示すフローチヤート、第8図は、上記第7図に
示したフローチヤートにおいて検索される、光電
変換出力分布中の特徴点としての最大屈曲点を示
す線図、第9図は、上記第4図に示した焦点検出
装置の演算回路で行なわれる演算処理順序の更に
他の例を示すフローチヤートである。 1……撮影レンズ(合焦光学系)、8……受光
装置、24……演算回路、a1〜ao……第1の受光
素子列、b1〜bo……第2の受光素子列、D……焦
点状態信号、k,m……特徴点のアドレスを格納
するエリア、lg……対応特徴点のアドレスを格納
するエリア、P……最大傾斜点(特徴点)、P′…
…対応傾斜点(対応特徴点)、Pa……最大傾斜を
格納するエリア、Q……最大屈曲点(特徴点)、
Q′……対応屈曲点(対応特徴点)、Qa……最大屈
曲を格納するエリア、Va1〜Vao……第1の受光
素子列の光電変換出力、Vb1〜Vbo……第2の受
光素子列の光電変換出力。
光学系の一例を示す概要図、第2図は、上記第1
図中に示した受光装置を示す拡大平面図、第3図
は、本発明の焦点検出装置が適用される光学系の
他の例を示す概要図、第4図は、本発明の一実施
例を示す焦点検出装置の構成の概要を示すブロツ
ク図、第5図は、上記第4図に示した焦点検出装
置の演算回路で行なわれる演算処理順序の一例を
示すフローチヤート、第6図は、上記第5図に示
したフローチヤートにおいて検索される、光電変
換出力分布中の特徴点としての最大傾斜点を示す
線図、第7図は、上記第4図に示した焦点検出装
置の演算回路で行なわれる演算処理順序の他の例
を示すフローチヤート、第8図は、上記第7図に
示したフローチヤートにおいて検索される、光電
変換出力分布中の特徴点としての最大屈曲点を示
す線図、第9図は、上記第4図に示した焦点検出
装置の演算回路で行なわれる演算処理順序の更に
他の例を示すフローチヤートである。 1……撮影レンズ(合焦光学系)、8……受光
装置、24……演算回路、a1〜ao……第1の受光
素子列、b1〜bo……第2の受光素子列、D……焦
点状態信号、k,m……特徴点のアドレスを格納
するエリア、lg……対応特徴点のアドレスを格納
するエリア、P……最大傾斜点(特徴点)、P′…
…対応傾斜点(対応特徴点)、Pa……最大傾斜を
格納するエリア、Q……最大屈曲点(特徴点)、
Q′……対応屈曲点(対応特徴点)、Qa……最大屈
曲を格納するエリア、Va1〜Vao……第1の受光
素子列の光電変換出力、Vb1〜Vbo……第2の受
光素子列の光電変換出力。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 合焦光学系による被写体の像の予定焦点面に
おける焦点状態に応じて、上記予定焦点面と光学
的に共役な位置に置かれた第1および第2の受光
素子列上に、上記被写体の像を相対的な位置を変
位させて投影し、両受光素子列の光電変換出力分
布に基づいて、上記焦点状態を検出するようにし
た焦点検出装置において、 上記第1の受光素子列の光電変換出力分布中か
ら被写体像の一部を特定するための最大傾斜等の
第1の種類の特徴点を検索する演算を行う第1演
算手段と、 上記特徴点に対応する、上記第2の受光素子列
の光電変換出力分布中の上記特徴点に対応する対
応特徴点を検索する演算を行う第2演算手段と、 上記対応特徴点が真の対応特徴点であるか否か
を第1の種類の特徴点とは異なる第2の種類の特
徴点に基づいて検証する検証手段と、 上記第1演算手段によつて検索された特徴点
と、上記検証手段によつて検証された真の対応特
徴点との相対的な位置関係から、上記焦点状態を
検出する検出する手段と、 を具備したことを特徴とする焦点検出装置。 2 上記特徴点が、上記第1の受光素子列の光電
変換出力分布中の最大傾斜点であることを特徴と
する、特許請求の範囲第1項記載の焦点検出装
置。 3 上記特徴点が、上記第1の受光素子列の光電
変換出力分布中の最大屈曲点であることを特徴と
する、特許請求の範囲第1項記載の焦点検出装
置。 4 上記検証手段は上記特徴点に対応する上記対
応特徴点が複数検索されたときに、各対応特徴点
の近傍の光電変換出力分布と、上記特徴点の近傍
の光電変換出力分布とを比較し、その差が最小と
なる対応特徴点を真の対応特徴点とすることを特
徴とする、特許請求の範囲第1項記載の焦点検出
装置。 5 上記検証手段は上記特徴点に対応する上記対
応特徴点が複数検索されたときに、上記特徴点の
光電変換出力と、各対応特徴点の光電変換出力と
を比較し、上記特徴点の光電変換出力と等しい光
電変換出力の対応特徴点を真の対応特徴点とする
ことを特徴とする、特許請求の範囲第1項記載の
焦点検出装置。 6 上記第1演算手段は上記第1の受光素子列の
光電変換出力分布中より、最大傾斜点、最大屈曲
点等の複数種類の特徴点を検索し、上記第2演算
手段はこれら複数種類の特徴点に対応する、上記
第2の受光素子列の光電変換出力分布中の複数種
類の対応特徴点をそれぞれ検索して、上記検証手
段は各種類の特徴点と対応特徴点との相対的位置
の差に基づいて真の対応特徴点を検証するように
したことを特徴とする、特許請求の範囲第1項記
載の焦点検出装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56198130A JPS58100109A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 焦点検出装置 |
US06/432,318 US4532420A (en) | 1981-12-09 | 1982-10-01 | Focus detector with characteristic point detection |
DE3245675A DE3245675C2 (de) | 1981-12-09 | 1982-12-09 | Mit Bildkorrelation arbeitender Fokusdetektor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56198130A JPS58100109A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 焦点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58100109A JPS58100109A (ja) | 1983-06-14 |
JPH022131B2 true JPH022131B2 (ja) | 1990-01-17 |
Family
ID=16385943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56198130A Granted JPS58100109A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 焦点検出装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4532420A (ja) |
JP (1) | JPS58100109A (ja) |
DE (1) | DE3245675C2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS595211A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-12 | Fuji Photo Optical Co Ltd | オ−トフオ−カス装置 |
DE3406578C2 (de) * | 1983-02-24 | 1985-09-05 | Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo | Automatische Brennpunktermittlungsvorrichtung |
US5191201A (en) * | 1983-10-19 | 1993-03-02 | Nikon Corporation | Camera with focus detecting device for removing vignetting effects |
US5523553A (en) * | 1983-10-19 | 1996-06-04 | Nikon Corporation | Camera with focus detecting device for removing vignetting effects |
JPS6188212A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-06 | Canon Inc | 物体情報処理装置 |
DE3510066C1 (de) * | 1985-03-20 | 1986-05-07 | Will Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren zur Fokussierung eines optischen Abbildungssystems sowie Einrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens |
JPS6318313A (ja) * | 1986-07-10 | 1988-01-26 | Canon Inc | 焦点検出装置 |
JP3414500B2 (ja) * | 1994-06-30 | 2003-06-09 | オリンパス光学工業株式会社 | 焦点検出装置 |
US6483091B1 (en) * | 1999-10-27 | 2002-11-19 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for dynamic focus control with error rejection |
CN101334277B (zh) * | 2007-06-28 | 2010-12-08 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 点镭射自动对焦扫描影像量测系统及方法 |
CN101387492B (zh) * | 2007-09-14 | 2011-07-27 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 单点对焦影像量测系统及方法 |
CN118264891A (zh) * | 2020-09-15 | 2024-06-28 | 上海传英信息技术有限公司 | 图像处理方法、终端及计算机存储介质 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51150330A (en) * | 1975-06-18 | 1976-12-23 | Fuji Photo Optical Co Ltd | Automatic focusing adjustable device |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5451556A (en) * | 1977-09-29 | 1979-04-23 | Canon Inc | Distance measuring apparatus |
JPS5529878A (en) * | 1978-08-24 | 1980-03-03 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector of camera |
US4217043A (en) * | 1978-09-07 | 1980-08-12 | Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. | Camera having an automatic focus control apparatus |
US4336450A (en) * | 1979-01-20 | 1982-06-22 | Nippon Kogaku K.K. | Focus detecting apparatus |
JPS55110231A (en) * | 1979-02-19 | 1980-08-25 | Asahi Optical Co Ltd | Automatic focus indicator of camera |
JPS5632126A (en) * | 1979-08-24 | 1981-04-01 | Canon Inc | Ttl type focus detector for lens interchangeable type camera |
JPS5650315A (en) * | 1979-10-01 | 1981-05-07 | Canon Inc | Focus detecting method and device |
JPS5697325A (en) * | 1979-12-29 | 1981-08-06 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detecting method of camera |
-
1981
- 1981-12-09 JP JP56198130A patent/JPS58100109A/ja active Granted
-
1982
- 1982-10-01 US US06/432,318 patent/US4532420A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-12-09 DE DE3245675A patent/DE3245675C2/de not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51150330A (en) * | 1975-06-18 | 1976-12-23 | Fuji Photo Optical Co Ltd | Automatic focusing adjustable device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3245675C2 (de) | 1985-10-03 |
DE3245675A1 (de) | 1983-06-16 |
US4532420A (en) | 1985-07-30 |
JPS58100109A (ja) | 1983-06-14 |
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