JPH0220675Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この考案は、写真焼付装置に取り付けて、写真
焼付装置の光源を印画の反射濃度を測定するため
の光源として利用することが出来るように構成し
た印画測定用キヤリアに関する。

（従来の技術） 写真焼付装置により写真印画の作製を行なう際
には、写真作製に用いるネガフイルム、印画紙、
現像液等のロツトの違いによる特性相違及びこれ
らの経時的特性変化を検知して印画紙への露光条
件及び現像条件の良否を判断し、適切な処置を行
なつて画質の優れた写真印画を作製する必要があ
る。

この目的のため、従来より露光及び現像済みネ
ガフイルム又は写真印画の写真濃度を測定し規準
と比較することによりネガフイルム等の材料の特
性変化を検知すること及び印画紙への露光条件等
の良否を判断することが行なわれている。

この写真濃度測定は、通常は、別途設けた専用
の濃度計により行なつていて、ネガフイルム等の
透過原画の場合には透過濃度計により透過濃度
を、又、印画紙等の印画の場合には反射濃度計に
より反射濃度を測定していた。又、専用の濃度計
を用いずに、写真焼付装置に設けてある光源（ラ
ンプ）、受光器及び露光制御部をそのまま利用し
てネガフイルム等の透過濃度の測定を簡易に行な
うことも出来る。又、写真焼付装置による反射濃
度の測定に関しては、反射用として別途専用の光
源（ランプ）を使用して濃度測定を行う方法もあ
るが、効率の良い濃度測定は困難であつた。

第２図は従来のカラー写真焼付装置（以下、写
真焼付装置と称する）の一例を概略的に示す断面
図である。

この図を参照して写真焼付装置の構造と、写真
焼付装置を用いた透過濃度の測定方法とにつき簡
単に説明する。

同図において、５１は写真焼付用の光源を、５
３は補正フイルターをそれぞれ示し、５５は光源
５１の光をムラのない拡散光とするミラーボツク
スを示す。５７は写真焼付装置のテーブル（以
下、テーブル５７と称する）を示し、このテーブ
ル５７は開口部５９と、この開口部５９の周辺に
設けた位置決め用ピン６１とを具えている。

６３はネガフイルム載置用のネガキヤリアを示
し、このネガキヤリア６３はほぼネガフイルム一
コマ分の大きさの開口部６５と、位置決め用穴６
７を具えている。このネガキヤリア６３は一般的
に、写真焼付の原画として用いるネガフイルムの
サイズに応じて数種類用意されていて、ネガフイ
ルムのサイズに応じて適宜交換される。このた
め、ネガキヤリア６３に設けた位置決め用穴６７
とテーブル５７に設けた位置決め用ピン６１とを
嵌合させて位置決め出来、テーブル５７上に着脱
自在に取り付け出来る。６９はネガキヤリアに載
置したネガフイルム等の透過原画である。

又、このネガキヤリア６３の上方にはレンズユ
ニツト７１とブラツクシヤツタ７３と印画紙７５
をセツトするイーゼルとが設けられ、さらにレン
ズユニツト７１の近傍には、ネガキヤリア６３の
開口部６５に向けて受光素子で構成された受光器
７７が設けてある。

さらに、写真焼付装置には、受光器７７で受光
し光電変換した電気信号を濃度変換しその濃度に
応じた露光時間を算出して、補正フイルタ５３並
びにブラツクシヤツタ７３の駆動を行なうための
露光制御部が設けてある。

このような構成の写真焼付装置のネガキヤリア
に透過原画、例えばネガフイルム６９を載置して
光源５１の光を照射すると、ネガフイルム６９を
透過した光は受光器７７で受光し光電変換され
る。この受光し光電変換した電気信号を露光制御
部７９により演算処理してネガフイルム６９等の
透過原画の露光焼付のための透過濃度を得ること
が出来る。

（考案が解決しようとする問題点） しかしながら、前述したような別途設けた専用
の濃度計により写真濃度の測定を行う方法は、こ
の濃度計の光学系の分光特性及び測定系の電気特
性と、写真焼付装置の光学系の分光特性及び測定
系の電気特性とは異なるため、この濃度計で得た
濃度情報に基ずいて、印画紙への露光条件や現像
処理条件等の良否を正確に判断することは困難で
あつた。又、別途設けた装置で濃度測定を行なう
ため、作業が煩雑になるばかりでなく濃度計を購
入する費用がかかるという問題があつた。

又、写真焼付装置の光源、受光器及び露光制御
部を用いて透過濃度を測定することは透過原画に
関しては比較的正確な透過濃度測定が出来る。現
像された写真印画紙等の印画を便宜的に透過濃度
で測定することも提案されてはいるが、印画紙の
紙質や厚みの違いや印画紙製造時に裏面に印刷さ
れた文字や焼付時に裏面に印字された英数字等の
影響により光源からの光が吸収又は散乱され正確
な透過光が得られない。これがため、その濃度情
報の測定精度が著しく低下してしまい、従つて、
実用性に欠けるという問題があつた。

又、写真焼付装置の受光器の周辺に反射濃度測
定専用の光源ランプを設けこの光源からの光で印
画を照明して反射濃度測定を行う方法もあるが、
写真焼付装置の光源とこの専用光源の分光特性の
違いにより、この濃度情報に基ずいて、印画紙へ
の露光条件や現像処理条件等の良否を正確に判断
することは困難であつた。さらに、構造が複雑で
効率も悪く、取扱も煩雑であつた。

この考案の目的は、これらの問題点を解決し、
従来の写真焼付装置で印画の反射濃度測定が行な
えるよう写真焼付装置に取り付けて用い、写真焼
付装置の光源を印画の反射濃度を測定するための
光源として簡易な構成で効率良く用いることが出
来、作業性も良く測定精度も高い印画測定用キヤ
リアを提供することにある。

（問題点を解決するための手段） この目的の達成を図るため、この考案によれ
ば、写真焼付装置にネガキヤリアの代りとして着
脱可能な印画測定用キヤリアを用意する。このキ
ヤリアには印画紙等による印画が載置され、この
印画の写真焼付及び現像処理状態を知るため当該
印画の反射濃度が測定される。

この印画測定用キヤリアを、台板と、光案内手
段とで構成する。この光案内手段は光源からの光
を、台板の、この光源とは反対側の面に載置され
る印画に、案内するように構成する。

この考案の実施に当つては、光案内手段を、台
板に設けられ光源からの光を通過させる開口部
と、この開口部を通過した光を印画に向けて反射
させる反射面とを以つて、構成するのが好適であ
る。

この考案の実施に当つて光案内手段を、台板を
貫通して設けられ一端を光源に対向させ他端を印
画に対向させた光フアイバを以つて、構成するの
が好適である。

この考案の実施に当つて光案内手段の、印画と
対向する位置に集光手段を設けるのが好適であ
る。

（作用） このような構成によれば、写真焼付装置に設け
た光源の光を光案内手段によつて台板の光源とは
反対側の面に載置される印画を照射するように導
くことが出来る。

このため、印画を透過用光源とは反対側から照
射する特別な光源（ランプ）を用意せずに、写真
焼付装置の光源をそのまま利用して印画に光を照
射出来、よつて印画から濃度測定用の反射光が得
られる。

（実施例） 以下、図面を参照して、この考案の実施例につ
き説明する。尚、これら図において同一の構成成
分については同一の符号を付して示す。又、従来
と同一の構成成分については同一の符号を付して
示す。

又、これらの図はこの考案が理解出来る程度に
概略的に示してある。

第１実施例 第１図Ａ及びＢはこの考案の印画測定用キヤリ
アの一実施例を説明するための斜視図及び断面図
である。

先ず、この印画測定用キヤリアの構造について
説明する。

図において５は台板を示し、この台板５を例え
ば、写真焼付装置で用いるネガキヤリアの台板と
同じ大きさで四角形状に形成する。

この台板５には、写真焼付装置のテーブル５７
に設けてあるネガキヤリア位置決め用ピン６１に
嵌合させてこの印画測定用キヤリアをテーブル５
７に搭載するための、位置決め用穴６７が設けて
ある。

又、台板５の中央部には印画紙等の印画（図示
せず）を載置するための領域１０（以下、載置領
域１０とする）を設ける。その載置領域１０の近
傍に、例えばこの載置領域１０を挾む相対向する
位置に一対の光案内手段１を設ける。これら光案
内手段１は台板５の裏面側の光源５１からの光を
載置領域１０の斜め上方に導きそこから載置領域
１０を照射するように構成する。

又、台板５の表面中央部には、印画を位置決め
固定するためのフレーム７をヒンジ手段８を用い
て装着する。フレーム７は測光領域を限定するマ
スクとして使用しても良い。

この場合、台板５の光案内手段１を設ける位置
に四角形状の開口部３を設ける。この開口部３
は、台板５の裏面からの光の集光効率を高めるた
め、台板５の表面から裏面に行くに従い開口面積
が順次大きくなるように、構成する。

又、開口部３の周囲の台板５の表面に、この開
口部３を覆うように、反射箱２を設ける。この反
射箱２の内部には、台板５の開口部３を経て入射
する光の光路上でかつこの光を反射させて載置領
域１０にその反射光を照射出来る位置に反射面、
例えば反射鏡１ａを設け、さらに反射箱２の壁に
は反射鏡１ａからの反射光が通過出来る照射窓４
を設ける。

第３図はこの考案の印画測定用キヤリアを従来
の写真焼付装置に搭載した状態を示す断面図であ
る。

この図を用いて、この考案の印画測定用キヤリ
アにより印画の反射濃度を測定する方法について
説明する。

先ず、写真焼付装置に搭載されていたネガキヤ
リア６３（第２図参照）を取りはずす。次に、こ
のネガキヤリア６３の代りに、テーブル５７に設
けてある位置決め用ピン６１と印画測定用キヤリ
アの位置決め用穴６７とを嵌合させて印画測定用
キヤリアを写真焼付装置の所定の位置に搭載す
る。この時、テーブル５７の開口部５９を通過し
ていた光源５１からの光は台板５の開口部３へ入
射する部分のみが台板５の表側へ案内され、他の
部分は台板５により遮断されることになる。

この開口部３に入つた光は、反射箱２の内部を
通り反射鏡１ａにより反射されて台板５の光源５
１とは反対側の面に載置された印画８０を斜め上
方から照射する。さらに、この印画８０からの反
射光を、従来から写真焼付時に露光制御のため透
過濃度測定に用いていた受光器７７で受光し光電
変換した電気信号を、同様に用いられていた露光
制御部７９によつて演算処理して印画８０の反射
濃度を得る。

第二実施例 第４図Ａ及びＢはこの考案の印画測定用キヤリ
アの第二実施例を説明するための斜視図及び一部
分を省略して示した側面図である。

この場合、光案内手段１を光フアイバ束１ｂで
構成し、載置領域１０の近傍の相対向する二ケ所
に設けたものである。各々の光フアイバ束１ｂ
は、台板５を貫通して設けてあり、その一端は領
域１０に対向して他の一端は光源５１に対向して
設ける。さらに、この光フアイバ束１ｂの光源５
１に対向させた一端を斜に切断することにより光
源５１に対する光フアイバ束１ｂの断面積を大き
くして、集光効率を高めるようにしてある（第４
図Ｂ）。又、台板５には、第一実施例と同様に、
位置決め用穴６７と、ヒンジ手段８を介してフレ
ーム７とが設けてある。

尚、この印画測定用キヤリアの写真焼付装置へ
の取付け及び使用方法は第一実施例と同様に行な
えることは云うまでもない。

第三実施例 第５図はこの考案の印画測定用キヤリアの第三
実施例を説明するための斜視図である。

この場合、光案内手段１を、台板５を貫通して
設けた光フアイバ束１ｂと、この光フアイバ束１
ｂの印画８０と対向する一端に設けた例えば光学
レンズから成る集光手段６とで構成したものであ
る。尚、この光フアイバ束１ｂの集光手段６の設
けてない一端を光源５１に対向して設ける。

この光案内手段１の構造によれば、光源５１の
光は、光フアイバ束１ｂにより導かれた後、集光
手段６により絞られて収束光となつて印画を照射
する。

又、台板５には、第一実施例と同様に、位置決
め用穴６７と、ヒンジ手段８を介してフレーム７
とが設けてある。

尚、この印画測定用キヤリアの写真焼付装置へ
の取付け及び使用方法は第一実施例と同様に行な
えることは云うまでもない。

上述した各実施例で述べた、台板５に設ける光
案内手段１の数及びその位置は、これらの実施例
に限定されるものではなく、印画の大きさ及び印
画を照射する光の必要光量に応じて変更されるこ
とは云うまでもない。

（考案の効果） 上述したことから明らかなように、この考案の
印画測定用キヤリアをネガキヤリアの代りに写真
焼付装置に搭載すると、写真焼付装置の光源を印
画測定用キヤリアの光案内手段により光源と反対
側の印画測定用キヤリアの台板の面に載置した印
画上に導くことが出来る。

このため特別な光源（ランプ）を用意せずに、
写真焼付装置の光源からの光で印画を上方から照
射することが出来、印画からの反射光が得られ
る。さらに写真焼付装置に設けてある受光器及び
露光制御部を用いて、前述した印画からの反射光
を受光しかつ処理することが出来、印画の反射濃
度の測定が簡易な構成で効率良く出来る。

又、この印画測定用キヤリアは、写真焼付装置
のネガキヤリアを取りはずした位置に簡単に着脱
出来るため、容易に、写真焼付装置を簡易濃度計
として切換えて利用出来る。このため別途に濃度
計を用意する必要がない。

又、写真焼付を行なう光学系及び測電気系をそ
のまま用いて印画の反射濃度測定が行なえるの
で、ここで得た濃度情報は、分光特性の異なる光
学測定系及び電気特性の異なる電気測定系を有し
た他の濃度計で得る濃度情報に対し、露光制御系
を調整する際の基準原画と焼付用原画を比較する
と、相対的な測定精度が高くなる。

【図面の簡単な説明】

第１図Ａ及びＢはこの考案の印画測定用キヤリ
アの第一実施例を説明するための斜視図及び断面
図、第２図は従来のカラー写真焼付装置の一例を
概略的に示す断面図、第３図はこの考案の印画測
定用キヤリアを従来のカラー写真焼付装置に搭載
した状態を示す断面図、第４図Ａ及びＢはこの考
案の印画測定用キヤリアの第二実施例を説明する
ための斜視図及び要部側面図、第５図はこの考案
の印画測定用キヤリアの第三実施例を説明するた
めの斜視図である。 １……光案内手段、１ａ……反射鏡、１ｂ……
光フアイバ束、２……反射箱、３……開口部、４
……照明窓、５……台板、６……集光手段、７…
…フレーム、８……ヒンジ手段、１０……印画載
置領域、６７……位置決め用穴、８０……印画。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 写真焼付装置に取り付けられて、写真焼付現
   像処理後の印画の反射濃度が測定される当該印
   画を載置するために用いられ、 台板と、光源からの光を該光源とは反対側の
   前記台板の面に載置される印画に案内する光案
   内手段と を具えることを特徴とする印画測定用キヤリ
   ア。 (2) 光案内手段を、台板に設け光源からの光を通
   過させる開口部と、該開口部を通過した光を印
   画に向けて反射させる反射面とを以つて、構成
   したことを特徴とする実用新案登録請求の範囲
   第１項記載の印画測定用キヤリア。 (3) 光案内手段を、台板を貫通して設けられ一端
   を光源に対向させ他端を印画に対向させた光フ
   アイバを以つて、構成したことを特徴とする実
   用新案登録請求の範囲第１項記載の印画測定用
   キヤリア。 (4) 光案内手段の印画と対向する位置に集光手段
   を設けたことを特徴とする実用新案登録請求の
   範囲第１項記載の印画測定用キヤリア。