JPH02187646A - 密封透明容器内に充填された粉末中の異物検査方法 - Google Patents
密封透明容器内に充填された粉末中の異物検査方法Info
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- JPH02187646A JPH02187646A JP1007259A JP725989A JPH02187646A JP H02187646 A JPH02187646 A JP H02187646A JP 1007259 A JP1007259 A JP 1007259A JP 725989 A JP725989 A JP 725989A JP H02187646 A JPH02187646 A JP H02187646A
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Landscapes
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Filling Of Jars Or Cans And Processes For Cleaning And Sealing Jars (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、バイヤル及びアンプル等の密封透明容器内に
充填された粉末中の異物検査方法に関し、詳しくは、粉
末を充填した密封透明容器を連続的に搬送し、該搬送過
程で容器に振動を与えることにより、粉末中に混入され
ている異物を粉末より分離および浮上させて確認が出来
るようにしたものである。
充填された粉末中の異物検査方法に関し、詳しくは、粉
末を充填した密封透明容器を連続的に搬送し、該搬送過
程で容器に振動を与えることにより、粉末中に混入され
ている異物を粉末より分離および浮上させて確認が出来
るようにしたものである。
従来の技術
従来、バイヤルおよびアンプル等の密封透明容器内に粉
末を充填する製造工程において、空容器内に粉末を充填
し、密封した後、トレーに収納し、このトレーを無菌室
外の検査工程に送り、トレーから容器を取り出して作業
員の手検査を行っていい、異物の確実な排除を図るもの
である。
末を充填する製造工程において、空容器内に粉末を充填
し、密封した後、トレーに収納し、このトレーを無菌室
外の検査工程に送り、トレーから容器を取り出して作業
員の手検査を行っていい、異物の確実な排除を図るもの
である。
課題を解決するための手段
上記目的を達成するため、本発明は、各容器の頭部をチ
ャックで弾性把持して容器を略水平に保持した状態で並
列に搬送し、該搬送工程において、容器下方より振動を
加え、容器の底面側に集まっている粉末より異物を浮遊
させて異物の分離排除を図るもので、特に、粉末より比
重の大きい異物を排除するために、振動を容器底面方向
に傾斜させて加えて、異物を容器頭部側へ飛び出させる
ようし、ついで、粉末より比重の小さい異物を排除する
ために、振動を容器頭部方向に傾斜させて加え、粉末を
容器内に薄く分散させて異物を分離浮上させるようにし
、かつ、上記振動により分離した異物および容器の外観
を各検査ステーションに設置した工業用カメラを通して
或いはルーペを通して目視により検査し判定するように
したものである。
ャックで弾性把持して容器を略水平に保持した状態で並
列に搬送し、該搬送工程において、容器下方より振動を
加え、容器の底面側に集まっている粉末より異物を浮遊
させて異物の分離排除を図るもので、特に、粉末より比
重の大きい異物を排除するために、振動を容器底面方向
に傾斜させて加えて、異物を容器頭部側へ飛び出させる
ようし、ついで、粉末より比重の小さい異物を排除する
ために、振動を容器頭部方向に傾斜させて加え、粉末を
容器内に薄く分散させて異物を分離浮上させるようにし
、かつ、上記振動により分離した異物および容器の外観
を各検査ステーションに設置した工業用カメラを通して
或いはルーペを通して目視により検査し判定するように
したものである。
詳しくは、内部に充填した粉末を底面側に集めた状態で
順次搬送されてくる容器を、その頭部（枝る。該手検査
は、通常、作業員がアンプルを手に持って目視により容
器の外観検査をして後、２個の容器を相互に軽く打ち合
わせて粉末を分散させ、目視により粉末内に異物が混入
しているか否かを検査している。
順次搬送されてくる容器を、その頭部（枝る。該手検査
は、通常、作業員がアンプルを手に持って目視により容
器の外観検査をして後、２個の容器を相互に軽く打ち合
わせて粉末を分散させ、目視により粉末内に異物が混入
しているか否かを検査している。
発明が解決しようとする課題
上記従来の手検査による場合、ガラス片、金属片、炭化
物等の比重の大きな異物の確認は容易であるが、繊維等
の粉末より比重の軽い異物については粉末との分離、浮
上が困難で、偶然に粉面上や底面のものが確認出来る程
度であった。
物等の比重の大きな異物の確認は容易であるが、繊維等
の粉末より比重の軽い異物については粉末との分離、浮
上が困難で、偶然に粉面上や底面のものが確認出来る程
度であった。
このように、従来の作業員による目視手検査では、検査
精度に問題があると共に、効率が悪く生産性が低く、人
件費によりコストアップが避けられない等の種々の問題
があった。
精度に問題があると共に、効率が悪く生産性が低く、人
件費によりコストアップが避けられない等の種々の問題
があった。
従って、本発明は、上記した問題を解消せんとするもの
で、作業員による手検査に変えて、自動的かつ連続的に
容器の外観検査、粉末内の異物の検査を行い得るように
し、特に、粉末より比重の重い異物と軽い異物とに夫々
適した分離方法を用先部）にウレタンゴム等からなるチ
ャックをして弾性把持して容器全体を略水平に保持した
状態で順次並列に搬送する搬送機を設け、該搬送機の搬
送途中の第１検査ステーシヨンで、上方に設置した工業
用カメラあるいはルーペ等を通して容器の主として頭部
側の外観検査を行い、ついで、該第２検査ステーシヨン
で、搬送されてくる容器の下方位置に振動器を配置し、
粉末が集められている容器底面側に近接した位置で、容
器の底面方向に向けて２５−３５”の傾斜角度で、４０
〜６０Ｈ２の高周波振動を、２〜３秒程度加えることに
より、主として粉末より比重の重い異物を容器頭部側へ
飛び出させ、これを上方に設置したカメラあるいは検査
員の目視によりルーペを介して検査し、ついで、第３検
査ステーシヨンにも、搬送されてくる容器の下方位置に
振動器を配置し、容器底面側の粉末に近接した位置で、
容器の頭部方向に向けて２５〜３５６の傾斜角度で、４
０〜６０Ｈ２の高周波振動を２〜５秒程度与え、粉末を
頭部側へ薄く分散させ、粉末より比重の軽い異物を分離
浮止させ、第１および第２ステーノヨンと同様に工業用
カメラあるいは目視により検査し、さらに、第４検査ス
テーンヨノにおいて容器の底部側を外観検査することを
特徴とする高精度の異物検査方法を提供するものである
。
で、作業員による手検査に変えて、自動的かつ連続的に
容器の外観検査、粉末内の異物の検査を行い得るように
し、特に、粉末より比重の重い異物と軽い異物とに夫々
適した分離方法を用先部）にウレタンゴム等からなるチ
ャックをして弾性把持して容器全体を略水平に保持した
状態で順次並列に搬送する搬送機を設け、該搬送機の搬
送途中の第１検査ステーシヨンで、上方に設置した工業
用カメラあるいはルーペ等を通して容器の主として頭部
側の外観検査を行い、ついで、該第２検査ステーシヨン
で、搬送されてくる容器の下方位置に振動器を配置し、
粉末が集められている容器底面側に近接した位置で、容
器の底面方向に向けて２５−３５”の傾斜角度で、４０
〜６０Ｈ２の高周波振動を、２〜３秒程度加えることに
より、主として粉末より比重の重い異物を容器頭部側へ
飛び出させ、これを上方に設置したカメラあるいは検査
員の目視によりルーペを介して検査し、ついで、第３検
査ステーシヨンにも、搬送されてくる容器の下方位置に
振動器を配置し、容器底面側の粉末に近接した位置で、
容器の頭部方向に向けて２５〜３５６の傾斜角度で、４
０〜６０Ｈ２の高周波振動を２〜５秒程度与え、粉末を
頭部側へ薄く分散させ、粉末より比重の軽い異物を分離
浮止させ、第１および第２ステーノヨンと同様に工業用
カメラあるいは目視により検査し、さらに、第４検査ス
テーンヨノにおいて容器の底部側を外観検査することを
特徴とする高精度の異物検査方法を提供するものである
。
Ｘ敷敗
以下、本発明を図面に示す実施例により詳細に説明する
。
。
アンプルからなる透明容器−・粉末を充填後、密封する
粉末充填機（図示せず）を設（うだ無菌室より容器を順
次スクリュー搬送機により第１図に示す検査工程に搬送
し、上記スクリュー搬送機により、容器を起立状態より
水平状態に倒伏して容器底面側に粉末を集めるようにし
、該状態で検査工程に搬入している。
粉末充填機（図示せず）を設（うだ無菌室より容器を順
次スクリュー搬送機により第１図に示す検査工程に搬送
し、上記スクリュー搬送機により、容器を起立状態より
水平状態に倒伏して容器底面側に粉末を集めるようにし
、該状態で検査工程に搬入している。
検査工程においては、第１図及び第２図で示すように、
各アンプルｌを略水平状態で並列して搬送するため、ヂ
エンコンベヤ２を配置しており、該チェノコンベヤ２の
スプロケット３に巻掛けしたアタッチメント・チェノ４
にチャック保持具５ずにチェノコンベヤ２に沿って搬送
され、下流端において、チャック６の真空穴６ｂよりエ
アを噴出することにより、アンプル頭部をチャック６よ
り抜き出すようにしている。
各アンプルｌを略水平状態で並列して搬送するため、ヂ
エンコンベヤ２を配置しており、該チェノコンベヤ２の
スプロケット３に巻掛けしたアタッチメント・チェノ４
にチャック保持具５ずにチェノコンベヤ２に沿って搬送
され、下流端において、チャック６の真空穴６ｂよりエ
アを噴出することにより、アンプル頭部をチャック６よ
り抜き出すようにしている。
上記チェノコンベヤ２に沿う搬送過程には、第１図に示
すように、上流側より第１検査ステーションＳｌ、第２
検査ステーシヨンｓ２、第３検査ステーシヨンＳ３、第
４検査ステーンヨンｓ４を設けている。各検査ステーシ
ョン８１〜ｓ４には上方に照度の大きな（例えば、１万
ルクス程度）の蛍光灯およびルーペ（図示せず）を取り
付け、さらに、下方にアンプル１の下面側を映す鏡を設
置すると共に、さらに、下方には青色、ツヤなしの下地
材（バックグランド）を用いている。これらの各検査ス
テーション５ｌ−８４においては、検査員がルーペを見
ながら異物の有無等を検査するようにしている。しかし
ながら、検査員の代わりに、工業用のカメラを用いて検
査判定するようにしてもよい 上記第１検査ステーシヨンｓ１においては、主を取り付
けている。該チャック保持具５の先端には、第２図に示
すように、ウレタンゴムからなるチャック６を取り付け
ている。該チャック６には、アンプル１の頭部を内嵌す
る湾曲状の凹部６ａを設けると共に、該凹部６ａの底面
に真空穴６ｂを連通して形成している。各チャック６は
スプロケット３の回転によりヂエン４と共に矢印方向に
連動して移動し、検査工程に搬入されてきたアンプル１
の頭部を順次弾性保持し、アンプルｌを略水平状態に保
持しながら並列に矢印方向へ搬送している。
すように、上流側より第１検査ステーションＳｌ、第２
検査ステーシヨンｓ２、第３検査ステーシヨンＳ３、第
４検査ステーンヨンｓ４を設けている。各検査ステーシ
ョン８１〜ｓ４には上方に照度の大きな（例えば、１万
ルクス程度）の蛍光灯およびルーペ（図示せず）を取り
付け、さらに、下方にアンプル１の下面側を映す鏡を設
置すると共に、さらに、下方には青色、ツヤなしの下地
材（バックグランド）を用いている。これらの各検査ス
テーション５ｌ−８４においては、検査員がルーペを見
ながら異物の有無等を検査するようにしている。しかし
ながら、検査員の代わりに、工業用のカメラを用いて検
査判定するようにしてもよい 上記第１検査ステーシヨンｓ１においては、主を取り付
けている。該チャック保持具５の先端には、第２図に示
すように、ウレタンゴムからなるチャック６を取り付け
ている。該チャック６には、アンプル１の頭部を内嵌す
る湾曲状の凹部６ａを設けると共に、該凹部６ａの底面
に真空穴６ｂを連通して形成している。各チャック６は
スプロケット３の回転によりヂエン４と共に矢印方向に
連動して移動し、検査工程に搬入されてきたアンプル１
の頭部を順次弾性保持し、アンプルｌを略水平状態に保
持しながら並列に矢印方向へ搬送している。
チャック６へのアンプル１の嵌め込みは、チェノコンベ
ヤ２の上流端側に設けた押込板（図示せず）によりアン
プルｌの底面１ａを押圧し、反対側の頭部１ｂをチャッ
ク６の凹部６ａに押し込み、よって、アンプルｌを弾性
把持し、アンプル全体を略水平に保持している。なお、
該押し込み速度は２６ｍｍ／秒程度の速度である。
ヤ２の上流端側に設けた押込板（図示せず）によりアン
プルｌの底面１ａを押圧し、反対側の頭部１ｂをチャッ
ク６の凹部６ａに押し込み、よって、アンプルｌを弾性
把持し、アンプル全体を略水平に保持している。なお、
該押し込み速度は２６ｍｍ／秒程度の速度である。
上記したように、アンプルｌをチャック６で保持して搬
送することにより、アンプルｌは回転せとしてアンプル
ｌの頭部側の外観検査、例えば、容器に歪等がないか検
査し、また、第４検査ステーシヨンＳ４においてはアン
プル１の底部側のが外観検査している。中間の第２検査
ステーシヨンＳ２においては、主として比重の重い異物
の検査をし、また、第３検査ステーシヨンＳ３において
は主として比重の軽い異物の検査をするようにしている
。
送することにより、アンプルｌは回転せとしてアンプル
ｌの頭部側の外観検査、例えば、容器に歪等がないか検
査し、また、第４検査ステーシヨンＳ４においてはアン
プル１の底部側のが外観検査している。中間の第２検査
ステーシヨンＳ２においては、主として比重の重い異物
の検査をし、また、第３検査ステーシヨンＳ３において
は主として比重の軽い異物の検査をするようにしている
。
即ち、第２検査ステーシヨンＳ２において、チャック６
に保持されて搬送されてくるアンプル１の下方位置に振
動器１０の振動板ＩＩを設置している。該振動板１１は
第２図および第３図に示すように、高周波振動が発生し
やすい金属板、例えば、アルミ等からなり、振動機１０
により適宜なヘルツ、本実施例では５０〜６０Ｈｚの高
周波振動を発生させるようにしている。また、該第２検
査ステーシヨンＳ２の振動板１１は第４図に示すように
、その先端がアンプル１の底面１ａから距離Ｌ（約２０
ｍｍの位置）に当接し、かつ、水平なアンプル下面に対
する垂直線Ｔに対してアンプル底面１ａ側に角度α（２
５〜３５°）傾斜させている。さらに、アンプルｌに当
接する振動板ＩＩの先端の大きさは、１つのアンプルに
対して２〜３秒程度の振動を与える大きさに設定してい
る。従って、第３図に示すように、並列して搬送される
複数個のアンプル１に対して、振動板１１は同時に振動
を与えることとなる。
に保持されて搬送されてくるアンプル１の下方位置に振
動器１０の振動板ＩＩを設置している。該振動板１１は
第２図および第３図に示すように、高周波振動が発生し
やすい金属板、例えば、アルミ等からなり、振動機１０
により適宜なヘルツ、本実施例では５０〜６０Ｈｚの高
周波振動を発生させるようにしている。また、該第２検
査ステーシヨンＳ２の振動板１１は第４図に示すように
、その先端がアンプル１の底面１ａから距離Ｌ（約２０
ｍｍの位置）に当接し、かつ、水平なアンプル下面に対
する垂直線Ｔに対してアンプル底面１ａ側に角度α（２
５〜３５°）傾斜させている。さらに、アンプルｌに当
接する振動板ＩＩの先端の大きさは、１つのアンプルに
対して２〜３秒程度の振動を与える大きさに設定してい
る。従って、第３図に示すように、並列して搬送される
複数個のアンプル１に対して、振動板１１は同時に振動
を与えることとなる。
第３検査ステーシヨンＳ３にも、同様に、振動器を配置
しており、該振動器の振動板１２は第５図に示すように
、アンプル底面１ａからＬ′の位置（約１５ｎ＋＋ｎの
位置）に先端が当接し、かっ、垂直線Ｔ′に対してアン
プル頭部Ｉｂ側に向けて角度α（２５〜３５°）傾斜さ
せている。かっ、該振動板１２には電磁パイブレークに
より５０〜６０Ｈｚの高周波振動を与え、１つのアンプ
ルに対して２〜５秒の間にわたり上記振動が与えられる
大きさに設定している。
しており、該振動器の振動板１２は第５図に示すように
、アンプル底面１ａからＬ′の位置（約１５ｎ＋＋ｎの
位置）に先端が当接し、かっ、垂直線Ｔ′に対してアン
プル頭部Ｉｂ側に向けて角度α（２５〜３５°）傾斜さ
せている。かっ、該振動板１２には電磁パイブレークに
より５０〜６０Ｈｚの高周波振動を与え、１つのアンプ
ルに対して２〜５秒の間にわたり上記振動が与えられる
大きさに設定している。
また、上記振動器により振動を与える場合に、アンプル
ｌが傾斜するのを防止するため、アンプル頭部１ｂの基
部側上面を弾性的に押圧支持する４図中に矢印で示すよ
うに底面側に向けて移動され、粉末Ｆより比重の大きい
異物Ｘが頭部Ｉｂ側へ飛び出ることとなる。このアンプ
ル１内の粉末Ｆの状態を上方へ設置したルーペを介して
拡大して見ることにより、粉末Ｆから分離して頭部側へ
飛散する異物Ｘを容易に確認することが出来る。
ｌが傾斜するのを防止するため、アンプル頭部１ｂの基
部側上面を弾性的に押圧支持する４図中に矢印で示すよ
うに底面側に向けて移動され、粉末Ｆより比重の大きい
異物Ｘが頭部Ｉｂ側へ飛び出ることとなる。このアンプ
ル１内の粉末Ｆの状態を上方へ設置したルーペを介して
拡大して見ることにより、粉末Ｆから分離して頭部側へ
飛散する異物Ｘを容易に確認することが出来る。
ついで、第３検査ステーシヨンＳ３において、振動器の
振動板１２により、アンプル頭部１ｂ方向に向けて５０
〜６０Ｈｚの高周波振動を加える。
振動板１２により、アンプル頭部１ｂ方向に向けて５０
〜６０Ｈｚの高周波振動を加える。
該振動により第５図に示すように、アンプル内の粉末Ｆ
は頭部側に向けて延びるように広がり、アンプルの下部
１ｃの全体に渡って薄く分散されることとなる。よって
、粉末Ｆより比重の軽い繊維等の異物Ｘ°が、粉末Ｆの
表面に分離浮上される。
は頭部側に向けて延びるように広がり、アンプルの下部
１ｃの全体に渡って薄く分散されることとなる。よって
、粉末Ｆより比重の軽い繊維等の異物Ｘ°が、粉末Ｆの
表面に分離浮上される。
この分離浮上した異物Ｘ″は上方からルーペにより拡大
して目視出来ると共に、下面側の異物Ｘ′もアンプルの
下方に配置する鏡により目視することが出来る。
して目視出来ると共に、下面側の異物Ｘ′もアンプルの
下方に配置する鏡により目視することが出来る。
」−記第２および第３検査ステーシヨンＳ２、Ｓ３によ
り異物の混入が認められたアンプルはう傾斜防止板９を
設置している。
り異物の混入が認められたアンプルはう傾斜防止板９を
設置している。
次に、上記検査装置によるアンプルの異物検査方法につ
いて説明する。
いて説明する。
粉末Ｆが充填され密封された透明アンプルｌは水平方向
に倒伏した状態となって、検査工程のチェンコンベヤ２
へ順次送られる。該チェンコンベヤ２でチャック６によ
り各アンプルｌの頭部１ｂを弾性把持し、アンプル１の
軸芯を略水平に保持した状態で並列に搬送才る。
に倒伏した状態となって、検査工程のチェンコンベヤ２
へ順次送られる。該チェンコンベヤ２でチャック６によ
り各アンプルｌの頭部１ｂを弾性把持し、アンプル１の
軸芯を略水平に保持した状態で並列に搬送才る。
このように搬送するアンプル１をまず、第１検査ステー
シヨンＳｌにおいてアンプル頭部側の外観検査を行い、
歪や割れが発生している場合は不良品として作業員の手
によってラインより取り出す。
シヨンＳｌにおいてアンプル頭部側の外観検査を行い、
歪や割れが発生している場合は不良品として作業員の手
によってラインより取り出す。
第１検査ステーンコンＳｌを通過したアンプルｌは、第
２検査ステーノヨンＳ２において振動器１０の振動板１
１により、下面となっているアンプルｌの外周面１ｃに
対して、アンプル底面ｌａ側に向けて５０〜６０Ｈｚの
高周波振動を与えている。この振動によりアンプルｌ内
の粉末Ｆは、第インより取り除かれる。
２検査ステーノヨンＳ２において振動器１０の振動板１
１により、下面となっているアンプルｌの外周面１ｃに
対して、アンプル底面ｌａ側に向けて５０〜６０Ｈｚの
高周波振動を与えている。この振動によりアンプルｌ内
の粉末Ｆは、第インより取り除かれる。
以下に、上記本発明の検査装置と同様の構造とした実験
機によりアンプルの異物を検査した場合の実験結果と、
従来の作業員の手作業によりアンプルに振動を加えて異
物の検査を行った場合（アンプルハンドリング検査実験
）の実験結果とを下記に示す。
機によりアンプルの異物を検査した場合の実験結果と、
従来の作業員の手作業によりアンプルに振動を加えて異
物の検査を行った場合（アンプルハンドリング検査実験
）の実験結果とを下記に示す。
下記の表１は、粉末Ｆより比重の大きな異物、例えば、
金属異物４００〜５００μの出現を実験機により実験し
た結果を示すものである。検査は検査員により上側は拡
大鏡、下側は鏡を使用して目視している。表中、目視箇
所の１，５．６・・はアンプルのサンプル番号を現して
いる。
金属異物４００〜５００μの出現を実験機により実験し
た結果を示すものである。検査は検査員により上側は拡
大鏡、下側は鏡を使用して目視している。表中、目視箇
所の１，５．６・・はアンプルのサンプル番号を現して
いる。
（以下余白）
上記表１より明らかなように、粉末より比重の大きな異
物の検出率は９６％の効率に達している。
物の検出率は９６％の効率に達している。
表２は粉末Ｆより比重の小さい異物、例えば、炭化物、
樹脂の小片等の出現を実験機により実験した結果を示す
ものである。表中、上側とはアンプル内で上面に浮上し
て上側より目視できた物、下側とはアンプル内で下面側
に位置し下方の鏡を介して目視出来たものである。
樹脂の小片等の出現を実験機により実験した結果を示す
ものである。表中、上側とはアンプル内で上面に浮上し
て上側より目視できた物、下側とはアンプル内で下面側
に位置し下方の鏡を介して目視出来たものである。
（以下余白）
上記表２より明らかなように、上側出現率平均は３２％
、下側出現率平均は６６％であり、両方を合わせると異
物出現率平均は９８％となっている。
、下側出現率平均は６６％であり、両方を合わせると異
物出現率平均は９８％となっている。
表３は従来のハンドリング方法による実験結果を示すも
のである。
のである。
（以下余白）
上記表３より明らかなように、８００〜１０００μ程度
の大きなガラス片はほぼ１００％検出することが出来る
が、６００μ以下の異物の検出率は非常に悪くなってい
る。
の大きなガラス片はほぼ１００％検出することが出来る
が、６００μ以下の異物の検出率は非常に悪くなってい
る。
下記の表４は実験機により、主として粉末より比重が重
い異物を検出すべく、アンプルに対して底面側に向けて
振動を与えた場合の実験結果を示すものである。
い異物を検出すべく、アンプルに対して底面側に向けて
振動を与えた場合の実験結果を示すものである。
（以下余白）
下記の表５は実験機により、主として粉末より比重の軽
い異物を検出すべく、アンプルに対して頭部側に向けて
振動を与えた場合の実験結果を示すものである。
い異物を検出すべく、アンプルに対して頭部側に向けて
振動を与えた場合の実験結果を示すものである。
（以下余白）
灸吸例塾果
以上の説明より明らかなように、本発明に係わる異物の
検査方法によれば、アンプルの頭部をチャックにより弾
性把持して、アンプルの軸芯を略水平に保持しながら順
次並列に搬送し、該搬送過程でアンプルの下方より、ア
ンプル底面側に向けて振動を加えることにより粉末より
比重の重い異物をアンプル頭部側に飛び出させる−・方
、アンプル頭部側に向けて振動を加える二とにより容器
内の粉末を容器頭部側に薄く分散させ、よって、粉末よ
り比重の重い異物を分離浮上させ、この状態をルーペに
より拡大して目視あるいは工業用カメラで見るようにし
ているため、異物を簡単に確認することが出来る。
検査方法によれば、アンプルの頭部をチャックにより弾
性把持して、アンプルの軸芯を略水平に保持しながら順
次並列に搬送し、該搬送過程でアンプルの下方より、ア
ンプル底面側に向けて振動を加えることにより粉末より
比重の重い異物をアンプル頭部側に飛び出させる−・方
、アンプル頭部側に向けて振動を加える二とにより容器
内の粉末を容器頭部側に薄く分散させ、よって、粉末よ
り比重の重い異物を分離浮上させ、この状態をルーペに
より拡大して目視あるいは工業用カメラで見るようにし
ているため、異物を簡単に確認することが出来る。
よって、高精度の異物検査が出来ると共に、該異物検査
の前にアンプルの外観形状も自動的に検査でき、かつ、
これら検査を自動的に連続して出来るため、検査過程の
効率が」１昇し、生産性を高めると共に、コスト低下を
図ることが出来る等の種々の利点を有するものである。
の前にアンプルの外観形状も自動的に検査でき、かつ、
これら検査を自動的に連続して出来るため、検査過程の
効率が」１昇し、生産性を高めると共に、コスト低下を
図ることが出来る等の種々の利点を有するものである。
第１図は検査装置の全体を示す概略平面図、第２図は第
１図の要部拡大正面図、第３図は振動板の拡大図、第４
図は第２検査ステーシヨンにおける粉末より比重の重い
異物の検査方法を示す拡大図、第５図は第３検査ステー
シヨンにおける粉末より比重の軽い異物の検査方法を示
す拡大図である。 ｌ・・アンプル、 ２・・チェンコンベヤ、 ６・・チャック・ 夏０・・振動器、 １夏、１２・・振動板。 特許出願人 武田薬品工業株式会社 代理人 弁理士 青 山 葆ほか２名 第３図 第５図
１図の要部拡大正面図、第３図は振動板の拡大図、第４
図は第２検査ステーシヨンにおける粉末より比重の重い
異物の検査方法を示す拡大図、第５図は第３検査ステー
シヨンにおける粉末より比重の軽い異物の検査方法を示
す拡大図である。 ｌ・・アンプル、 ２・・チェンコンベヤ、 ６・・チャック・ 夏０・・振動器、 １夏、１２・・振動板。 特許出願人 武田薬品工業株式会社 代理人 弁理士 青 山 葆ほか２名 第３図 第５図
Claims (5)
- （１）バイヤル及びアンプル等の密封透明容器内に微量
充填した粉末中の異物を検査する方法であって、 上記容器の頭部をチャックで略水平に弾性保持し、該保
持状態において容器の下方より、容器底面側に集まって
いる粉末に近接した位置で、振動器で容器底面方向に向
けて振動を加え、粉末より比重の重い異物を頭部側へ飛
び出させることを特徴とする密封透明容器内に充填され
た粉末中の異物検査方法。 - （２）上記振動器の容器底面方向への傾斜角度を２５〜
３５°とすると共に、４０〜６０Ｈｚの高周波振動を、
２〜３秒程度与えることを特徴とする請求項（１）記載
の方法。 - （３）バイヤル及びアンプル等の密封透明容器内に微量
充填した粉末中の異物を検査する方法であって、 上記容器の頭部をチャックで略水平に弾性保持し、該保
持状態において容器の下方より、容器底面側に集まって
いる粉末に近接した位置で、振動器で容器頭部方向に向
けて振動を加え、粉末を頭部側へ薄く分散させ、粉末よ
り比重の軽い異物を分離浮上させることを特徴とする密
封透明容器内に充填された粉末中の異物検査方法。 - （４）上記振動器の容器頭部方向への傾斜角度を２５〜
３５°とすると共に、４０〜６０Ｈｚの高周波振動を、
２〜５秒程度与えることを特徴とする請求項（３）記載
の方法。 - （５）バイヤル及びアンプル等の密封透明容器内に微量
充填した粉末中の異物を検査する方法であって、 上記容器の頭部をチャックで略水平に弾性保持し、該保
持状態において容器の下方より、容器底面側に集まって
いる粉末に近接した位置で、容器底面方向に向けて振動
を加え、粉末より比重の重い異物を頭部側へ飛び出させ
、ついで、容器頭部方向に向けて振動を加え、粉末を頭
部側へ薄く分散させ、粉末より比重の軽い異物を分離浮
上させることを特徴とする密封透明容器内に充填された
粉末中の異物検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1007259A JP2711123B2 (ja) | 1989-01-13 | 1989-01-13 | 密封透明容器内に充填された粉末中の異物検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1007259A JP2711123B2 (ja) | 1989-01-13 | 1989-01-13 | 密封透明容器内に充填された粉末中の異物検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02187646A true JPH02187646A (ja) | 1990-07-23 |
| JP2711123B2 JP2711123B2 (ja) | 1998-02-10 |
Family
ID=11661030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1007259A Expired - Lifetime JP2711123B2 (ja) | 1989-01-13 | 1989-01-13 | 密封透明容器内に充填された粉末中の異物検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2711123B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012220453A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Eisai Machinery Co Ltd | 異物検出装置 |
| JP2014006186A (ja) * | 2012-06-26 | 2014-01-16 | Fuji Electric Co Ltd | 異物検査装置 |
| JP2020085604A (ja) * | 2018-11-21 | 2020-06-04 | 株式会社 デクシス | 透明容器内充填物中の異物検査装置及び異物検査方法 |
-
1989
- 1989-01-13 JP JP1007259A patent/JP2711123B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012220453A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Eisai Machinery Co Ltd | 異物検出装置 |
| JP2014006186A (ja) * | 2012-06-26 | 2014-01-16 | Fuji Electric Co Ltd | 異物検査装置 |
| JP2020085604A (ja) * | 2018-11-21 | 2020-06-04 | 株式会社 デクシス | 透明容器内充填物中の異物検査装置及び異物検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2711123B2 (ja) | 1998-02-10 |
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