JPH02173034A - Epoxy resin - Google Patents

Epoxy resin

Info

Publication number
JPH02173034A
JPH02173034A JP32603988A JP32603988A JPH02173034A JP H02173034 A JPH02173034 A JP H02173034A JP 32603988 A JP32603988 A JP 32603988A JP 32603988 A JP32603988 A JP 32603988A JP H02173034 A JPH02173034 A JP H02173034A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicone
epoxy resin
modified epoxy
weight
standard substance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32603988A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Ota
賢 太田
Kenichi Yanagisawa
健一 柳沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP32603988A priority Critical patent/JPH02173034A/en
Publication of JPH02173034A publication Critical patent/JPH02173034A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Epoxy Resins (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a silicone-modified epoxy resin improved in low-stress properties, toughness, etc., and desirable for semiconductor sealing by modifying an epoxy resin with a silicone in a modification ratio above a specified value. CONSTITUTION:A silicone-modified epoxy resin is produced by modifying an epoxy resin with a silicone so that the ratio of modification with silicone as determined from the equation may fall in the range: 95<=R<=100 (wherein A is a ratio of the peak area S of the silicone compound separated by thin-layer chromatography performed by using an organic solvent of a solvent strength <=0.25 and developing the sample solution by using a silica gel as an adsorbent to the peak area T of the standard substance cholesterol acetate, B is a weight ratio of the silicone-modified epoxy resin in the sample solution to the standard substance, C is the silicone component content in the silicone-modified epoxy resin, K is the weight ratio of the silicone compound corresponding to the unit area of the silicone compound peak to the cholesterol acetate corresponding to the unit area of the standard substance).

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体封止用樹脂組成物に適する高変性率のシ
リコーン変性エポキシ樹脂に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a silicone-modified epoxy resin with a high modification rate suitable for a resin composition for semiconductor encapsulation.

(従来技術) エポキシ樹脂は耐熱性、電気特性、機械強度や接着性に
優れた樹脂であり、塗料、接着剤、電子部品封止用樹脂
、積層板用樹脂やその他多方面にわたって広く用いられ
ている樹脂である。
(Prior art) Epoxy resin is a resin with excellent heat resistance, electrical properties, mechanical strength, and adhesive properties, and is widely used in paints, adhesives, resins for sealing electronic parts, resins for laminates, and many other fields. It is a resin that has

しかしながら未だ解決されていない問題点として硬く脆
いこと、つまり強靭でないことが挙げられている。
However, one problem that has not been solved yet is that it is hard and brittle, that is, it is not strong.

例えはIC,LSI、l−ランシスター、ダイオードな
どの半導体素子や電子回路の樹脂封止には特性、コスト
等の点からエポキシ樹脂組成物が多量にかつ最も一般的
に用いられている。
For example, epoxy resin compositions are most commonly used in large quantities for resin encapsulation of semiconductor elements and electronic circuits such as ICs, LSIs, l-lan sisters, and diodes, from the viewpoint of characteristics, cost, and the like.

しかしこれらの半導体素子は4 MDRAMに代表され
るように高集積化、大チップ化の傾向にあり半導体素子
と封止樹脂組成物の熱膨張係数の差からくる内部応力が
増大し、従来の小チップではあまり見られなかったtc
パッケージのクラック、ICチップの破損そしてこれら
による耐湿性の低下がおこり問題となっている。
However, as these semiconductor devices tend to become highly integrated and large in size, as typified by 4MDRAM, internal stress due to the difference in thermal expansion coefficient between the semiconductor device and the encapsulating resin composition increases. tc which was not seen much in chips
Cracks in the package, damage to the IC chip, and a decrease in moisture resistance due to these have become problems.

これらの不良を改良するためにエポキシ樹脂に要求され
る性能としては■低応力化(低弾性率、低熱膨張係数)
、■強靭化(高強度)が望まれ、前述の未解決の課題が
そのまま欠点として残ってしまっておりこれらを改良す
ることが強く望まれてきている。
In order to improve these defects, the performance required of epoxy resins is ■lower stress (lower modulus of elasticity, lower coefficient of thermal expansion)
, ■ Toughness (high strength) is desired, and the unresolved problems mentioned above remain as drawbacks, and there is a strong desire to improve these.

これらの問題点を改良する方策として従来のエポキシ樹
脂にシリコーンオイル、シリコーンゴム等のシリコーン
化合物、又は合成ゴムなどの熱可塑性樹脂等を添加、分
散させポリマーアロイ化することにより低応力化、強靭
化が図られてきている。
As a measure to improve these problems, we added and dispersed silicone oil, silicone compounds such as silicone rubber, or thermoplastic resins such as synthetic rubber to conventional epoxy resins, and created a polymer alloy to reduce stress and strengthen the resin. is being planned.

これらの方法によって改質剤を添加したものは性能が大
幅に向上し、利用範囲も広がったが、これらの改質剤を
添加すれば成形加工性(型汚れ、樹脂パリの発生、成形
ボイドの発生等)や捺印性の不良発生がより一層悪化す
る方向となってしまう。
The performance of products to which modifiers have been added using these methods has been greatly improved and the range of use has expanded, but the addition of these modifiers also improves molding processability (mold contamination, occurrence of resin flakes, and molding voids). (e.g., the occurrence of printing defects) and the occurrence of poor sealing properties are likely to become even worse.

これらの成形加工性(型汚れ、樹脂パリ、成形ボイド、
離型性)、捺印性不良が発生するのは、成形加工時にこ
れらの改質剤成分が成形品表面に浮き出すためであり、
これらの改質剤成分とエポキシ樹脂との相溶性が悪く、
しかも表面張力の低いものであることに起因している。
These molding processability (mold stains, resin cracks, molding voids,
The reason why poor mold releasability and marking properties occur is that these modifier components stand out on the surface of the molded product during the molding process.
These modifier components have poor compatibility with the epoxy resin,
Moreover, this is due to the fact that it has a low surface tension.

これらを改良するためにシリコーン化合物とエポキシ樹
脂をあらかじめ反応させたものを用いるということが提
案されている(例えば特開昭62−212417号公報
等)。
In order to improve these problems, it has been proposed to use a silicone compound and an epoxy resin reacted in advance (for example, JP-A-62-212417, etc.).

これらのシリコーン変性エポキシ樹脂を用いることによ
り、シリコーン化合物の浮き出しがある程度抑えられる
ために成形加工性、捺印性が向上し低応力性、強靭性が
ある程度改良されたエポキシ樹脂が得られるがいまだ満
足出来うるものではなかった〇 この理由はシリコーン化合物とエポキシ樹脂とは互いに
相溶性の悪い化合物どうしであるため反応性が悪く高反
応率のシリコーン変性エポキシ樹脂が得られていなかっ
たことによる。
By using these silicone-modified epoxy resins, the embossment of the silicone compound can be suppressed to some extent, resulting in improved molding processability and imprintability, as well as epoxy resins with low stress properties and improved toughness to some extent, but they are still not satisfactory. The reason for this is that silicone compounds and epoxy resins are compounds that are poorly compatible with each other, so their reactivity is poor and a silicone-modified epoxy resin with a high reaction rate cannot be obtained.

このため従来得られているシリコーン変性エポキシ樹脂
中には未反応シリコーン化合物が多量に含有されていた
ために成形加工性、捺印性を満足するものが得られず、
更に低応力性、強靭性の改良効果も不十分であった。
For this reason, conventionally available silicone-modified epoxy resins contained a large amount of unreacted silicone compounds, making it impossible to obtain one that satisfied moldability and stampability.
Furthermore, the effects of improving low stress properties and toughness were also insufficient.

これらの点について鋭意研究した結果、シリコーン変性
エポキシ樹脂のもたらす利点を最大限に引き出す為には
シリコーン化合物とエポキシ樹脂との反応率がある一定
値以上の高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂とするこ
とが必須であり、これを用いることによって非常に優れ
た、従来では得られなかった半導体封止用のエポキシ樹
脂が得られることを見いだしてなされたものである。
As a result of intensive research on these points, we have found that in order to maximize the benefits of silicone-modified epoxy resin, it is necessary to use a silicone-modified epoxy resin with a high modification rate where the reaction rate between the silicone compound and the epoxy resin is above a certain value. It was discovered that by using this resin, an extremely superior epoxy resin for semiconductor encapsulation, which could not be obtained in the past, could be obtained.

(発明が解決しようとする課題) 本願発明の目的とするところは半導体封止用エポキシ樹
脂組成物に好適に使用される高変性率のシリコーン変性
エポキシ樹脂を提供することにある。
(Problems to be Solved by the Invention) An object of the present invention is to provide a silicone-modified epoxy resin with a high modification rate that is suitably used in an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation.

(課題を解決するだめの手段) 本発明者らは、これらの問題を解決するため、鋭意研究
を進め、溶媒強度0.25以下の有機溶媒を用いシリカ
ゲルを吸着剤として展開するクロマトグラフィーにより
下記式(1)で求められるシリコーン変性率が95≦R
≦100であるシリコーン変性エポキシ樹脂が半導体封
止用エポキシ樹脂として最適であることを見い出して本
願発明を完成するに至ったものである。
(Means for Solving the Problems) In order to solve these problems, the present inventors have carried out intensive research and conducted the following chromatography using an organic solvent with a solvent strength of 0.25 or less and developing silica gel as an adsorbent. The silicone modification rate determined by formula (1) is 95≦R
The present invention was completed by discovering that a silicone-modified epoxy resin having a molecular weight of 100% or less is most suitable as an epoxy resin for semiconductor encapsulation.

R= (1−KA/BC)XI 00・・・ CI)A
 : S/T (溶媒強度0.25以下の有機溶媒を用
いシリカゲルを吸着剤にして展開する 薄層クロマトグ
ラフィーによりRf[0,7〜0.9の範囲に分離され
るシリコーン化合物のピーク面積SとRf値0.4〜0
.6の範囲に分離される標準物質コレステロールアセテ
ートのピーク面積Tとの比) B:試料溶液中のシリコーン変性エポキシ樹脂の重量/
試料溶液中の標準物質の重量 C:シリコーン変性エポキシ樹脂中のシリコーン成分含
有率(シリコーン変性エポキシ樹脂生成反応時における
シリコーン化合物の添加重量%)K:シリコーン化合物
ピークの単位面積に対応するシリコーン化合物重量/標
準物質の単位面積に対するコレステロールアセテート重
量本願発明の高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂は、
シリコーン変性率Rが95≦R≦100であることが必
要であり、これらのシリコーン変性エポキシ樹脂は、未
反応シリコーン化合物が少ないI;めに、半導体封止用
エポキシ樹脂組成物に用いた場合、これらの未反応シリ
コーン化合物の成形品表面への浮き出しが少なく、成形
加工性や捺印性を悪化させることがなく、その上に殆ど
のシリコーン化合物がエポキシ樹脂の三次元架橋構造に
取り込まれているためにシリコーンの粒径は極めて小さ
くなり、耐熱衝撃性、半田耐熱性が向上するという効果
を示す。
R= (1-KA/BC)XI 00... CI)A
: S/T (Peak area S of a silicone compound separated into Rf [0.7 to 0.9 range) by thin layer chromatography developed using an organic solvent with a solvent strength of 0.25 or less and using silica gel as an adsorbent. and Rf value 0.4~0
.. Ratio to peak area T of standard substance cholesterol acetate separated into a range of 6) B: Weight of silicone-modified epoxy resin in sample solution/
Weight of standard substance in sample solution C: Silicone component content in silicone-modified epoxy resin (wt% of silicone compound added during silicone-modified epoxy resin production reaction) K: Weight of silicone compound corresponding to unit area of silicone compound peak / Weight of cholesterol acetate per unit area of standard substance The high modification rate silicone-modified epoxy resin of the present invention is:
It is necessary that the silicone modification rate R is 95≦R≦100, and these silicone-modified epoxy resins have less unreacted silicone compounds, so when used in an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation, These unreacted silicone compounds do not protrude onto the surface of the molded product and do not deteriorate molding processability or stamping properties, and most of the silicone compounds are incorporated into the three-dimensional crosslinked structure of the epoxy resin. The particle size of the silicone becomes extremely small, resulting in improved thermal shock resistance and soldering heat resistance.

又未反応シリコーン化合物が少ないためシリコーン化合
物の鎖長、構造によりシリコーンの粒径を非常に正確に
コントロールすることができるため材料設計が極めて容
易で正確に出来るという非常に優れた特徴がある。
In addition, since there is little unreacted silicone compound, the particle size of silicone can be controlled very accurately depending on the chain length and structure of the silicone compound, so it has an extremely excellent feature that material design can be done extremely easily and accurately.

以下発明の詳細な説明する。The invention will be explained in detail below.

■(シリコーン変性率Rの測定) 薄層クロマトグラフィーとしてダイアトロン(株)製薄
層クロマトグラフ自動検出装置TH−10を用い、TL
Cとしてはシリカゲル、展開溶媒としはベンゼン、トル
エン、ヘキサン等の溶媒強度0.25以下の非極性有機
溶媒を用いた。未反応のシリコーン化合物は非極性であ
るため非極性の溶媒で展開分離で謝るのである。
(Measurement of silicone modification rate R) Using a thin layer chromatography automatic detection device TH-10 manufactured by Diatron Co., Ltd. as thin layer chromatography, TL
Silica gel was used as C, and a nonpolar organic solvent with a solvent strength of 0.25 or less, such as benzene, toluene, hexane, etc., was used as the developing solvent. Since unreacted silicone compounds are non-polar, they are developed and separated using a non-polar solvent.

標準物質としてコレステロールアセテートを加えたシリ
コーン変性エポキシ樹脂の有機溶媒溶液をTLCに数μ
g−100μgをスポットし、それを上記の展開溶媒で
5〜15cmはど展開する。
A solution of a silicone-modified epoxy resin in an organic solvent to which cholesterol acetate was added as a standard substance was added to TLC in a few microns.
g-100 μg was spotted and developed with the above developing solvent over a distance of 5 to 15 cm.

展開溶媒を乾燥除去したあと、薄層クロマトグラフ自動
検出装置により、未反応シリコーン化合物のピーク面積
、コレステロールアセテートのピーク面積を得る。
After drying and removing the developing solvent, the peak area of unreacted silicone compound and the peak area of cholesterol acetate are obtained using a thin layer chromatograph automatic detection device.

これらの面積比を用いて式(1)によりシリコーン変性
エポキシ樹脂の変性率Rを算出する。
Using these area ratios, the modification rate R of the silicone-modified epoxy resin is calculated by formula (1).

尚、従来の文献等により得られる一般のシリコーン変性
エポキシ樹脂の変性率Rをこれらの方法で測定すれば、
変性率Rは5〜80%であった。
In addition, if the modification rate R of a general silicone-modified epoxy resin obtained from conventional literature etc. is measured by these methods,
The modification rate R was 5 to 80%.

■(高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂の合成)本発
明の高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂の原料として
用いるエポキシ樹脂は1分子中に2個以上のエポキシ基
を有するものであればいかなるものでも良く、例えばビ
スフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エ
ポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、タ
レゾールノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹
脂およびこれらの変性樹脂等が挙げられ、これらのエポ
キシ樹脂は1種又は2種以上混合して用いることが出来
る。これらのエポキシ樹脂の中でもエポキシ当量150
〜250、軟化点60〜130°CでNa”、CI−等
のイオン性不純物を出来る限り除いたものが好ましい。
(Synthesis of high modification rate silicone-modified epoxy resin) The epoxy resin used as a raw material for the high modification rate silicone-modified epoxy resin of the present invention may be any resin as long as it has two or more epoxy groups in one molecule. Examples include bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, phenol novolak epoxy resin, Talezol novolak epoxy resin, alicyclic epoxy resin, and modified resins thereof, and these epoxy resins may be used in combination of one or two types. It is possible to use a mixture of more than one species. Among these epoxy resins, the epoxy equivalent is 150
~250°C, a softening point of 60°C to 130°C, and preferably free of ionic impurities such as Na'' and CI- as much as possible.

又本発明の高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂の一方
の原料として用いられるオルガノシロキサンは上述のエ
ポキシ樹脂と反応しうる官能基を有するもので、官能基
としては例えばエポキシ基、アルコキシ基、水酸基、ア
ミノ基、ヒドロシル基等か挙げられ、分子構造は直鎖状
、分枝鎖状のいずれであっても良い。
Furthermore, the organosiloxane used as one of the raw materials for the high modification rate silicone-modified epoxy resin of the present invention has a functional group that can react with the above-mentioned epoxy resin, and examples of the functional group include an epoxy group, an alkoxy group, a hydroxyl group, and an amino group. group, hydroxyl group, etc., and the molecular structure may be either linear or branched.

又本発明における高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂
の合成方法は特に限定されるものではないが、例として
挙げれば2ヶ以上のアミン基を有するオルガノポリシロ
キサンとエポキシ樹脂の一部のエポキシ基を反応せしめ
てブロック付加体となすとか、アルケニル基含有エポキ
シ樹脂と2ヶ以上のハイドロシリル基を有するオルガノ
ポリシロキサンを塩化白金酸触媒下、溶媒存在下でハイ
ドロシリル化反応によりブロック付加体を得るなどの合
成方法がある。要はいずれの方法を用いても未反応オル
ガノポリシロキサンの少ないものとすることが本発明に
おいては肝要であり、必要に応じて得られた反応物から
洗浄、抽出等の方法でこれらの未反応オルガノポリシロ
キサンを除去する等の方法も適宜可能である。
Furthermore, the method for synthesizing the highly modified silicone-modified epoxy resin in the present invention is not particularly limited, but as an example, an organopolysiloxane having two or more amine groups may be reacted with some epoxy groups of an epoxy resin. At least a block adduct can be obtained, or a block adduct can be obtained by a hydrosilylation reaction of an alkenyl group-containing epoxy resin and an organopolysiloxane having two or more hydrosilyl groups under a chloroplatinic acid catalyst in the presence of a solvent. There is a synthesis method. In short, no matter which method is used, it is important in the present invention to minimize the amount of unreacted organopolysiloxane, and if necessary, remove these unreacted organopolysiloxanes by washing, extraction, etc. from the obtained reactant. Methods such as removing organopolysiloxane can also be used as appropriate.

(作用) これらの高変性率シリコーン変性エポキシ樹脂は反応率
Rが95≦R≦100であることが必要であり、変性率
Rが95未満の場合、未反応オルガノシロキサン成分は
、エポキシ樹脂中のシリコーンのドメイン部にも集中し
て集まるため、シリコーンドメインの径が大きくなって
しまう。
(Function) These high modification rate silicone-modified epoxy resins must have a reaction rate R of 95≦R≦100, and if the modification rate R is less than 95, the unreacted organosiloxane component in the epoxy resin Since it also concentrates in the silicone domain, the diameter of the silicone domain becomes large.

一般にハードポリマーの海にソフトポリマーの島という
モルホロジーを有する樹脂系においては、ソフトポリマ
ーの島の粒径が小さいほど系の弾性率は低下し低応力効
果は大となるが、未反応オルガノシロキサンのためシリ
コーン粒径が大きくなることにより、シリコーン変性エ
ポキシ樹脂を用いる目的である低応力効果は小さくなり
強靭性にも欠けるものになる。
In general, in a resin system that has a morphology of soft polymer islands in a sea of hard polymers, the smaller the particle size of the soft polymer islands, the lower the elastic modulus of the system and the greater the stress reduction effect. Therefore, as the silicone particle size increases, the low stress effect, which is the purpose of using the silicone-modified epoxy resin, becomes smaller and the resin also lacks toughness.

さらに未反応オルガノシロキサン成分はエポキシ樹脂と
相溶性が悪く、しかも表面張力が低く、般に粘度も低い
ために、シリコーン変性エポキシ樹脂を用いた組成物を
高温・高圧で成形すると成形品表面から未反応オルガノ
シロキサン成分かにじみだし、成形品の油汚れ、型汚れ
、捺印性の不良、樹脂パリ等の不良モードを発生させて
しまう。
Furthermore, unreacted organosiloxane components have poor compatibility with epoxy resins, have low surface tension, and generally have low viscosity, so when a composition using a silicone-modified epoxy resin is molded at high temperature and pressure, unreacted components are removed from the surface of the molded product. The reactive organosiloxane component oozes out, causing failure modes such as oil stains on the molded product, mold stains, poor marking performance, and resin flakes.

反応率Rが95≦R≦lOOの範囲内であるならば、こ
れらの欠点は改善され低応力性、強靭性が大幅に向上す
る。
If the reaction rate R is within the range of 95≦R≦lOO, these drawbacks will be improved and low stress properties and toughness will be significantly improved.

又エポキシ/シリコーンの界面の結合力が向上している
ために耐湿性も向上する。
Furthermore, moisture resistance is also improved due to improved bonding strength at the epoxy/silicone interface.

さらにエポキシ樹脂の組成、オルガノシロキサンの組成
(特に分子鎖長)をコントロールすることによりエポキ
シとシリコーンの相溶性をコントロールしてシリコーン
粒径をかなり正確にコントロールすることが可能となる
ため、製品のばらつきは最小限に押さえられる。
Furthermore, by controlling the composition of the epoxy resin and the composition of the organosiloxane (particularly the molecular chain length), it is possible to control the compatibility between the epoxy and silicone, and to control the silicone particle size fairly accurately, resulting in product variations. is kept to a minimum.

(実施例) シリコーン変性エポキシ樹脂(1) フェノールノボラックエポキシ樹脂とO−アリルフェノ
ールの反応物に両末端H−5i基を有するシリコーン化
合物を反応させて得られた構造式(1)で示されるシリ
コーン変性工両末端に−NH,基を有するシリコーン化
合物と、フェノールノボラックエポキシ樹脂を反応して
得られた構造式〔2〕で示されるシリコーン変性エポキ
シ樹脂。
(Example) Silicone-modified epoxy resin (1) Silicone represented by structural formula (1) obtained by reacting a reaction product of phenol novolak epoxy resin and O-allylphenol with a silicone compound having H-5i groups at both ends. A silicone-modified epoxy resin represented by the structural formula [2] obtained by reacting a silicone compound having -NH groups at both terminals with a phenol novolak epoxy resin.

”!/mrn−o、oos 、 k+++90 、 j
Ll。
”!/mrn-o, oos, k+++90, j
Ll.

実施例1 シリコーン変性エポキシ樹脂(1)の合成を以下の要領
で行った。
Example 1 Silicone-modified epoxy resin (1) was synthesized in the following manner.

撹拌機、熱交換器、匣度計のついた反応装置にフェノー
ルノボラックエポキシ樹脂(エポキシ当量190、軟化
点70°Cり100重量部を入れ、100℃に加熱、撹
拌しながら3QTorrの減圧下で1時間保持してエポ
キシ樹脂中の水分をo、o1wt%(カールフィッシャ
ー法)以下とした。
100 parts by weight of a phenol novolac epoxy resin (epoxy equivalent: 190, softening point 70°C) was placed in a reaction apparatus equipped with a stirrer, heat exchanger, and swell meter, heated to 100°C, and heated under a reduced pressure of 3 Q Torr while stirring. The water content in the epoxy resin was kept at 1 wt% (Karl Fischer method) or less by holding for 1 hour.

次いで常圧に戻し、同温度で一アリルフェノール3重量
部と触媒として1.8−ジアザビシクロ(5,4,0)
ウンデセン−7(DBU)1重量部の混合物を滴下時間
10分にて滴下し、さらに110℃にて4時間撹拌しア
リル化エポキシを得た。
Next, the pressure was returned to normal, and at the same temperature, 3 parts by weight of monoallylphenol and 1,8-diazabicyclo(5,4,0) were added as a catalyst.
A mixture of 1 part by weight of undecene-7 (DBU) was added dropwise over a period of 10 minutes, and the mixture was further stirred at 110°C for 4 hours to obtain an allylated epoxy.

アリル化エポキシのアリル化率をガスクロマトグラフを
用いて測定したところアリル化反応率はほぼ100%で
あった。
When the allylation rate of the allylated epoxy was measured using a gas chromatograph, the allylation reaction rate was approximately 100%.

さらに上記と同様の反応容器に得られたアリル化エポキ
シlOO重量部、溶媒としてトルエン100重量部0両
末端にH−5i基を有するジメチルシリコーン化合物(
平均重合度185.側鎖にエチルフェニル基を10個、
γ−グリシドキシプロビル基を5個有するもの)25重
量部を混合し共沸脱水を1時間行い、その後触媒として
塩化白金酸のイソプロピルアルコール溶液(1wt%)
0.1重置部を滴下時間10分にて滴下し、さらに還流
温度にて6時間反応を行った。
Further, in a reaction vessel similar to the above, 100 parts by weight of the allylated epoxy obtained, 100 parts by weight of toluene as a solvent, 0 dimethyl silicone compounds having H-5i groups at both ends (
Average degree of polymerization: 185. 10 ethylphenyl groups in the side chain,
25 parts by weight of those having 5 γ-glycidoxyprobyl groups were mixed and subjected to azeotropic dehydration for 1 hour, followed by isopropyl alcohol solution of chloroplatinic acid (1 wt%) as a catalyst.
0.1 overlapping portions were added dropwise over a dropping time of 10 minutes, and the reaction was further carried out at reflux temperature for 6 hours.

その後常圧で溶媒を流出させながら反応液を110°C
まで昇温させl 30Torrの減圧で1時間保持しシ
リコーン変性エポキシ樹脂を得た。
After that, the reaction solution was heated to 110°C while the solvent was flowing out at normal pressure.
The temperature was raised to 130 Torr and maintained for 1 hour under a reduced pressure of 30 Torr to obtain a silicone-modified epoxy resin.

得られたシリコーン変性エポキシ樹脂のエボキン当量、
変性率R1軟化点を測定した。
Evoquine equivalent of the obtained silicone-modified epoxy resin,
Modification rate R1 softening point was measured.

さらに得られたシリコーン変性エポキシ樹脂100重i
部に当量を合わせた分量の7エノールノポラツク樹脂(
軟化点110°C!、OH当量105)と触媒としてD
BtJ1重量部を混合微粉砕して粉末樹脂成形材料とし
、タブレット化しt;後トランスファー成形を行った。
Further obtained silicone modified epoxy resin 100w
7 enol nopolac resin (
Softening point 110°C! , OH equivalent 105) and D as catalyst
1 part by weight of BtJ was mixed and finely pulverized to obtain a powder resin molding material, which was then formed into tablets and then subjected to transfer molding.

成形時のスリントバリの長さ、成形品の弾性率及び成形
品の室温での熱膨張係数を測定した。
The length of the slint burr during molding, the elastic modulus of the molded product, and the thermal expansion coefficient of the molded product at room temperature were measured.

結果を第1表に示す。The results are shown in Table 1.

実施例2 シリコーン変性エポキシ樹脂(2)の合成を以下の要領
で行った。
Example 2 Silicone-modified epoxy resin (2) was synthesized in the following manner.

撹拌機、熱交換器、温度計のついた反応装置にフェノー
ルノボランクエポキシ樹脂(エポキシ当2190、軟化
点70°C)100重量部、両末端に1級アミノ基を有
するジメチルシリコーン化合物(平均重合度200.側
鎖にエチルフェニル基を10個有するもの)25重量部
、ブタノール100重量部を入れ、110°Cに加熱し
溶解し、撹拌を4時間行い反応させた。
In a reaction apparatus equipped with a stirrer, a heat exchanger, and a thermometer, 100 parts by weight of a phenol novolane epoxy resin (epoxy weight 2190, softening point 70°C) and a dimethyl silicone compound having primary amino groups at both ends (average polymerization 200° C.) and 100 parts by weight of butanol were added, heated to 110° C. to dissolve, and stirred for 4 hours to react.

その後3 Q Torrの減圧下で1時間保持してブタ
ノールを完全に除去してノ・リコーン変性エポキシ樹脂
を得た。
Thereafter, the mixture was maintained under a reduced pressure of 3 Q Torr for 1 hour to completely remove butanol to obtain a non-recone modified epoxy resin.

得られたシリコーン変性エポキシ樹脂にたいして実施例
1と同様の評価を行い結果を第1表に示す。
The obtained silicone-modified epoxy resin was evaluated in the same manner as in Example 1, and the results are shown in Table 1.

比較例1 実施例1において、■段階反応の脱水操作を除いた以外
は同様の操作を行い、予備乾燥をしないエポキシ樹脂(
カールフィッシャー法での水分0゜4%)をもちいシリ
コーン変性エポキシ樹脂を得tこ。
Comparative Example 1 The same operation as in Example 1 was carried out except that the dehydration operation in step ① reaction was omitted, and an epoxy resin without pre-drying (
A silicone-modified epoxy resin was obtained using the Karl Fischer method with a water content of 0°4%.

尚1段目の反応で得られたアリル化エポキシ樹脂の未反
応の0−アリルフェノール量をガスクロマトグラフによ
り定量したところ、投入量の30〜35%は未反応であ
ることが判明した。この理由として触媒として用いてい
るDBUが加水分解し触媒活性が低下したためと考えら
れる。これらのフリーの0−アリルフェノールは両末端
にH−3i基を有するジメチルシリコーン化合物と反応
し易いため、フリコーン変性率Rが低下した。
When the amount of unreacted 0-allylphenol in the allylated epoxy resin obtained in the first stage reaction was determined by gas chromatography, it was found that 30 to 35% of the input amount was unreacted. The reason for this is thought to be that DBU used as a catalyst was hydrolyzed and the catalytic activity decreased. Since these free 0-allylphenols easily reacted with the dimethyl silicone compound having H-3i groups at both ends, the free corn modification rate R decreased.

得られた樹脂の特性を実施例1と同様の評価を行いその
結果を第1表に示す。
The properties of the obtained resin were evaluated in the same manner as in Example 1, and the results are shown in Table 1.

比較例2 実施例2の反応において反応条件の溶媒をメチルイソブ
チルケトンに変えた以外は同様の反応を行いシリコーン
変性エポキシ樹脂を得た。
Comparative Example 2 A silicone-modified epoxy resin was obtained by carrying out the same reaction as in Example 2 except that the solvent in the reaction conditions was changed to methyl isobutyl ketone.

シリコーン化合物、エポキシ樹脂の溶解度はブタノール
よりもメチルイソブチルケトンの方が低いために十分に
混合できず、反応も十分でないためフリコーン変性率R
が低下した。
The solubility of silicone compounds and epoxy resins is lower in methyl isobutyl ketone than in butanol, so they cannot be mixed well and the reaction is not sufficient, so the free corn modification rate R
decreased.

得られた樹脂の特性を実施例1と同様の評価を行いその
結果を第1表に示す。
The properties of the obtained resin were evaluated in the same manner as in Example 1, and the results are shown in Table 1.

比較例3 実施例2の反応において、溶媒のブタノールを用いずエ
ポキシ樹脂とシリコーン化合物を溶融混合状態で反応さ
せシリコーン変性エポキシ樹脂を得た。
Comparative Example 3 In the reaction of Example 2, an epoxy resin and a silicone compound were reacted in a molten mixed state without using butanol as a solvent to obtain a silicone-modified epoxy resin.

無溶剤反応ではシリコーン化合物はエポキシ樹脂に均一
に分散出来ず、粒径数十〜数百μmの不均一分散状態と
なるために反応は不十分でありシリコーン変性率Rは低
下する。
In a solvent-free reaction, the silicone compound cannot be uniformly dispersed in the epoxy resin, resulting in a non-uniformly dispersed state with particle diameters of several tens to several hundreds of micrometers, so that the reaction is insufficient and the silicone modification rate R decreases.

得られた樹脂の特性を実施例1と同様の評価を行いその
結果を第1表に示す。
The properties of the obtained resin were evaluated in the same manner as in Example 1, and the results are shown in Table 1.

比較例4 シリコーン変性していないフェノールノボラックエポキ
シ樹脂(エポキシ当it 90. 軟化点70’C)を
用い、実施例1と全く同様にして粉末樹脂を得、同様の
評価を行いその結果を第1表に示す。
Comparative Example 4 A powdered resin was obtained in exactly the same manner as in Example 1 using a phenol novolak epoxy resin (epoxy weight: 90, softening point: 70'C) that was not modified with silicone, and the same evaluation was performed. Shown in the table.

(以 下 余 白) 本1 *2 R= (1−KA/BC)X I OO・ ・ ・ C
I)A:S/T  (ベンゼンを展開溶媒に用いシリカ
ゲルを吸着剤にして展開する薄層クロマトグラフィーに
よりRf値0.7〜0.9の範囲に分離されるシリコー
ン化合物のピーク面積SとRf値0.4〜0.6の範囲
に分離される標準物質コレステロールアセテートのピー
ク面積Tとの比) B:試料溶液中のシリコーン変性エポキシ樹脂の重1/
試料溶液中の標準物質の重量 C:シリコーン変性エポキシ樹脂中のシリコーン成分含
有率(シリコーン変性エポキシ樹脂生成反応時における
シリコーン化合物の添加重量%) K:シリコーン化合物ピークの単位面積に対応するシリ
コーン化合物重量/標準物質の単位面積に対するコレス
テロールアセテート重量 幅10μlのベント部から出I;樹脂パリの長さ。
(Margin below) Book 1 *2 R= (1-KA/BC)X I OO・ ・ ・ C
I) A: S/T (Peak area S and Rf of silicone compounds separated into Rf values in the range of 0.7 to 0.9 by thin layer chromatography developed using benzene as a developing solvent and silica gel as an adsorbent) Ratio to the peak area T of the standard substance cholesterol acetate separated into a value range of 0.4 to 0.6) B: Weight 1/of silicone-modified epoxy resin in the sample solution
Weight of standard substance in sample solution C: Silicone component content in silicone-modified epoxy resin (wt% of silicone compound added during silicone-modified epoxy resin production reaction) K: Weight of silicone compound corresponding to unit area of silicone compound peak / Cholesterol acetate weight per unit area of standard substance Width 10 μl from the vent part I; Length of resin Paris.

成形条件:金型温度175℃。Molding conditions: mold temperature 175°C.

注入圧力80 kgf/cm”とする。The injection pressure is 80 kgf/cm.

以下の要領で測定 試験片:寸法1 oxa OX5 (+n+u)硬化1
75℃5分 後硬化175℃16時間 測定:テンシロン曲げ強さ測定機 スパン40mm クロスヘツド降下速度20 mn+/n+in以下の要
領で測定 試験片:寸法5x5x l 5 (mm)硬化175°
C5分 後硬化175℃16時間 測定:TMA (熱膨張分析装置i) 昇温速度lO℃/ll1in
Test piece measured as follows: Dimension 1 oxa OX5 (+n+u) hardening 1
Cured at 75°C for 5 minutes, then cured at 175°C for 16 hours. Measurement: Tensilon bending strength measuring machine, span 40mm, crosshead descending speed 20 mn+/n+in. Test piece: Dimensions: 5 x 5 x 15 (mm), cured at 175°.
Curing after C5 minutes at 175°C 16 hours measurement: TMA (Thermal Expansion Analyzer I) Temperature increase rate lO°C/ll1in

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)下記式〔I〕から求められるシリコーン変性率R
が95≦R≦100であるシリコーン変性エポキシ樹脂 R=(1−KA/BC)×100・・・〔I〕 A:S/T(溶媒強度0.25以下の有機溶媒を用いシ
リカゲルを吸着剤にして展開する薄層クロマトグラフィ
ーによりRf値0.7〜0.9の範囲に分離されるシリ
コーン化合物のピーク面積SとRf値0.4〜0.6の
範囲に分離される標準物質コレステロールアセテートの
ピーク面積Tとの比) B:試料溶液中のシリコーン変性エポキシ樹脂の重量/
試料溶液中の標準物質の重量 C:シリコーン変性エポキシ樹脂中のシリコーン成分含
有率(シリコーン変性エポキシ樹脂生成反応時における
シリコーン化合物の添加重量%) K:シリコーン化合物ピークの単位面積に対応するシリ
コーン化合物重量/標準物質の単位面積に対するコレス
テロールアセテート重量
(1) Silicone modification rate R determined from the following formula [I]
is 95≦R≦100. Silicone-modified epoxy resin R = (1-KA/BC) The peak area S of silicone compounds separated into Rf values in the range of 0.7 to 0.9 and the standard substance cholesterol acetate separated into Rf values in the range of 0.4 to 0.6 by thin layer chromatography developed using (ratio to peak area T) B: Weight of silicone-modified epoxy resin in sample solution/
Weight of standard substance in sample solution C: Silicone component content in silicone-modified epoxy resin (wt% of silicone compound added during silicone-modified epoxy resin production reaction) K: Weight of silicone compound corresponding to unit area of silicone compound peak /Cholesterol acetate weight per unit area of standard material
JP32603988A 1988-12-26 1988-12-26 Epoxy resin Pending JPH02173034A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32603988A JPH02173034A (en) 1988-12-26 1988-12-26 Epoxy resin

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32603988A JPH02173034A (en) 1988-12-26 1988-12-26 Epoxy resin

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02173034A true JPH02173034A (en) 1990-07-04

Family

ID=18183420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32603988A Pending JPH02173034A (en) 1988-12-26 1988-12-26 Epoxy resin

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02173034A (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63238125A (en) * 1987-03-26 1988-10-04 Shin Etsu Chem Co Ltd Epoxy resin composition
JPH01249825A (en) * 1988-03-31 1989-10-05 Toshiba Chem Corp Resin composition for sealing and production thereof
JPH02127417A (en) * 1988-11-08 1990-05-16 Sumitomo Bakelite Co Ltd Epoxy resin composition

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63238125A (en) * 1987-03-26 1988-10-04 Shin Etsu Chem Co Ltd Epoxy resin composition
JPH01249825A (en) * 1988-03-31 1989-10-05 Toshiba Chem Corp Resin composition for sealing and production thereof
JPH02127417A (en) * 1988-11-08 1990-05-16 Sumitomo Bakelite Co Ltd Epoxy resin composition

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4793565B2 (en) Epoxy resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor device
KR100900863B1 (en) Epoxy resin composition and die bonding material comprising the composition
EP3453730B1 (en) Resin composition, resin film, semiconductor laminate, method for manufacturing semiconductor laminate, and method for manufacturing seminconductor device
TW452584B (en) Epoxy resin composition and semiconductor devices using it as encapsulant
KR100235164B1 (en) Thermosetting resin composition and semiconductor device
JPH02173034A (en) Epoxy resin
JPH02302421A (en) Epoxy resin composition
JP2000044774A (en) Epoxy resin composition for sealing semiconductor and semiconductor device
JP2809885B2 (en) Resin composition for semiconductor encapsulation
JPH06256364A (en) Organic silicon compound, its production and resin composition containing the same
JP3479815B2 (en) Epoxy resin composition and semiconductor device
JP2785553B2 (en) Tab-type semiconductor device sealing material and tab-type semiconductor device
JPH02127417A (en) Epoxy resin composition
JP2843247B2 (en) Epoxy resin composition
JP2825572B2 (en) Resin composition for semiconductor encapsulation
JPH03210325A (en) Semiconductor sealing epoxy resin molding material
JPH03177415A (en) Epoxy resin composition for semiconductor sealing use
JPH02173025A (en) Silicone-modified phenolic resin
JP2703045B2 (en) Epoxy resin composition
JPH02140227A (en) Epoxy resin composition for sealing semiconductors
JPH0395214A (en) Epoxy resin composition for semiconductor sealing
JPH05175373A (en) Epoxy resin composition
JPH05105739A (en) Resin composition for sealing semiconductor
JPH06240111A (en) Epoxy resin composition for sealing electronic part
JPH02140226A (en) Epoxy resin composition for sealing semiconductors