JPH02172244A - Apparatus for bonding and curing - Google Patents

Apparatus for bonding and curing

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JPH02172244A
JPH02172244A JP63327322A JP32732288A JPH02172244A JP H02172244 A JPH02172244 A JP H02172244A JP 63327322 A JP63327322 A JP 63327322A JP 32732288 A JP32732288 A JP 32732288A JP H02172244 A JPH02172244 A JP H02172244A
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sample
gas
bonding
transport path
heat block
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Takeshi Hasegawa
猛 長谷川
Minoru Torihata
鳥畑 稔
Masafumi Hisataka
将文 久高
Tsutomu Oda
勉 小田
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Shinkawa Ltd
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Abstract

PURPOSE:To reduce blow-out of gas containing organic component from a bonding window to prevent increase in H2 concentration by providing a gas exhausting means for exhausting from a sample transfer passage gas containing organic component generated from a sample by heating a heat block. CONSTITUTION:Covers 50, 51 are fixed to a top surface of a housing 10 so that a heat block 11 is covered on the left (loader) side and the right (unloader) side of a shielding plate 34. On a lower surface of the cover 50, grooves 50e, 50f are formed perpendicular to a sample transfer passage 53 at an inlet and an outlet of the sample transfer passage 53 formed by the housing 10 and the cover 50. In addition, a groove 50g is also formed at the side of the groove 50e adjacent to the groove 50f, while the groove 50g is provided with a pipe 56 for exhausting gas. At the time of bonding, therefore, most of gas containing organic component generated from the sample is exhausted by the gas exhausting means. This reduces organic component blown out from a bonding window, thereby preventing increase in H2 concentration.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は酸化し易い材料よりなる試ネ4にワイヤポンデ
ィング又はダイポンディングを行うポンディング装置及
びダイかポンディングされた試料をキュアするキュア装
置に関する。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention relates to a bonding device for performing wire bonding or die bonding on a sample 4 made of an easily oxidized material, and a curing device for curing a die-ponded sample. Regarding equipment.

[従来の技術] 以下、−例として、ワイヤポンディングの場合について
説明する。酸化し易い材料1例えば銅系材料を基板(リ
ードフレームも含む)自体又は基板に形成されたリード
に用いた場合には、例えば特公昭53−9838号公報
に示すように、試料の基板を加熱するヒートブロックの
上方をカバーで覆って密封型の試料搬送路を形成し、こ
の試料搬送路内に還元性ガス又は不活性ガス若しくは還
元性ガスと不活性ガスとの混合ガス(以下還元性ガスと
いう)を流し、カバーに形成されたポンディング窓を通
してポンディングを行って試料の醜化防止を図っている
[Prior Art] The case of wire bonding will be described below as an example. Materials that are easily oxidized 1 For example, when a copper-based material is used for the substrate (including lead frame) itself or the leads formed on the substrate, the substrate of the sample is heated as shown in Japanese Patent Publication No. 53-9838. The upper part of the heat block is covered with a cover to form a sealed sample transport path, and a reducing gas, an inert gas, or a mixture of reducing gas and inert gas (hereinafter referred to as reducing gas) is injected into the sample transport path. ), and the sample is pumped through a bonding window formed in the cover to prevent the sample from becoming disfigured.

また特開昭59−25232号公報に示すように、カバ
ーを覆い、かつポンディング窓が形成された遮蔽板を、
ポンディングツールをXY力方向駆動するXY子テーブ
ル連動するように設けたものも知られている。
Furthermore, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-25232, a shielding plate covering the cover and having a bonding window formed thereon is
There is also known a device in which the pounding tool is interlocked with an XY child table that drives the pumping tool in the XY force directions.

[発明が解決しようとする課題] 上記従来技術においては、試料搬送路内に供給された還
元性ガスの大部分はポンディング窓より流出する。
[Problems to be Solved by the Invention] In the prior art described above, most of the reducing gas supplied into the sample transport path flows out through the pumping window.

ところで、基板材に施された有機系樹脂、ダイ上に付さ
れたバッドマーク川インク及びダイ材用接着材中の有機
成分は、ヒートブロックにより加熱されて蒸発する。こ
の有機成分が還元性ガスと共にポンディング窓より吹き
出すので、ポンディング窓の上方にあるカメラ及びポン
ディングツール、クランパー等の構成部品に有機成分が
付着し、カメラの汚れ及びワイヤ経路の汚れとなる。
By the way, the organic resin applied to the substrate material, the Badmark River ink applied to the die, and the organic components in the adhesive for the die material are heated by the heat block and evaporated. As this organic component blows out from the bonding window together with the reducing gas, the organic component adheres to the components above the bonding window, such as the camera, the bonding tool, and the clamper, contaminating the camera and the wire path. .

カメラのレンズ面に有Ja成分が付着すると、画像認識
不良が発生する。またワイヤ経路の構成部品に有機成分
が付着すると、ワイヤがスムーズに送られなくなり、ワ
イヤループ形状不良を起し、またワイヤ切れが発生した
りする。
If Ja components adhere to the lens surface of a camera, image recognition defects will occur. Furthermore, if organic components adhere to the components of the wire path, the wire will not be fed smoothly, resulting in a defective wire loop shape and wire breakage.

そこで、従来は、カメラ及びワイヤ経路の構成部品のク
リーニングを1日に1回位行う必要があった。
Therefore, in the past, it was necessary to clean the camera and wire path components about once a day.

また還元性ガスとして、例えばN2 H2ガスを使用し
た場合には、ポンディングに必要な大きさを有する小さ
なポンディング窓から試料搬送路内の殆どのガスが吹き
出すので、ポンディング窓付近のH3N2度が高くなり
、危険である。
In addition, when N2 H2 gas is used as the reducing gas, most of the gas in the sample transport path is blown out from a small bonding window that is large enough for bonding, so the H3N2 gas near the bonding window is becomes high and dangerous.

本発明の目的は、ポンディング窓からの有機成分を含ん
だガスの吹き出しを少なくし、かつH2濃度の上昇を防
ぐことができるポンディング装置及びキュア装置を提供
することにある。
An object of the present invention is to provide a pumping device and a curing device that can reduce the blowing out of gas containing organic components from a pumping window and prevent an increase in H2 concentration.

[課題を解決するための手段] 上記目的は、ヒートブロックの加熱によって試料より発
生する有機成分を含んだガスを試料搬送路内より排気す
るガス排気手段を設けることにより達成される。
[Means for Solving the Problems] The above object is achieved by providing a gas exhaust means for exhausting gas containing organic components generated from the sample by heating the heat block from the sample transport path.

[作用] ポンディング装置に適用した場合には、ヒートブロック
の加熱によって試料より発生する有機成分を含んだガス
の殆どはガス排気手段によって排気されるので、ポンデ
ィング窓より吹き出す有機成分は少なくなる。これによ
り、ポンディングに悪影響を及ぼすことがないと共に、
クリーニング回数が激減する。
[Function] When applied to a pumping device, most of the gas containing organic components generated from the sample by heating the heat block is exhausted by the gas exhaust means, so the amount of organic components blown out from the pumping window is reduced. . This will not have a negative effect on ponding, and
The number of cleaning times is drastically reduced.

またキュア装置に適用した場合には、キュア装置の出入
11部より有機成分を含んだガスが大気中に発散しない
ので、周りの環境を悪化させることがない。
Furthermore, when applied to a curing device, the gas containing organic components is not released into the atmosphere from the inlet/outlet portion 11 of the curing device, so that the surrounding environment will not be deteriorated.

[実施例] 以下1本発明の一実施例を第1図乃至第4図により説明
する0本実施例は、第6図に示すように、リード1が形
成された基板2に複数個のダイ3 (3a、3b、3c
、3d、3e)が貼付けられた試料4において、ダイ3
のパッドとリード1とにワイヤを接続するワイヤポンデ
ィング装置に適用した場合を示す。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 4. In this embodiment, as shown in FIG. 3 (3a, 3b, 3c
, 3d, 3e), the die 3
The case is shown in which the present invention is applied to a wire bonding device that connects a wire to a pad and a lead 1.

まず、従来例と同じ部分について説明し、次に従来公知
ではないが、本発明の特徴と関係ない構造について説明
し、最後に本発明の特徴とする構造の一実施例について
説明する。
First, the same parts as in the conventional example will be explained, then a structure that is not conventionally known but has nothing to do with the features of the present invention will be explained, and finally, an embodiment of the structure that is a feature of the present invention will be explained.

まず、公知の構造について説明する。試料4はキャリア
5に等間隔に位置決め載置されており、キャリア5の両
側をガイドするガイド溝10aが、形成されたハウジン
グ10内には、図示しない上下駆動手段で上下駆動され
るヒートブロック11が配設されている。前記キャリア
5は送り爪12が挿入されてピッチ送りされる。この送
り爪12は図示しない駆動手段で上下及びX方向に駆動
される爪レバー13に固定されている。またポンディン
グ部に位置する試料4の両側を前記ヒートブロック11
に押付ける試料押え部14aを有する試料押え板14が
配設されており、この試料押え板14は図示しない駆動
手段で上下動させられる。
First, a known structure will be explained. The samples 4 are positioned and mounted on a carrier 5 at equal intervals, and in the housing 10 in which guide grooves 10a are formed to guide both sides of the carrier 5, there is a heat block 11 that is driven vertically by a vertical driving means (not shown). is installed. The carrier 5 is pitch-fed by inserting the feed pawl 12 therein. This feed claw 12 is fixed to a claw lever 13 that is driven vertically and in the X direction by a drive means (not shown). In addition, the heat block 11
A sample holding plate 14 having a sample holding part 14a to be pressed is provided, and this sample holding plate 14 is moved up and down by a driving means (not shown).

前記試料押え板14に対応したハウジング10の側方に
は、ポンディングヘッド20が配設されており、ポンデ
ィングヘッド20には一端にポンディングツール21が
固定されたポンディングアーム22が図示しない上下駆
動手段で上下駆動させられるように設けられている。ま
たポンディングヘッド20にはカメラ支持アーム23が
固定されており、カメラ支持アーム23には前記ポンデ
ィングツール21よりX方向に一定距離オフセットされ
て配設されたテレビカメラ24が固定されている。前記
ボンディングヘッド20は、周知の構造のXY子テーブ
ル5上に固定されている。XY子テーブル5は、下段が
Y方向に駆動されるYテーブル26となっており、上段
がX方向に駆動されるXテーブル27となっている。
A pumping head 20 is disposed on the side of the housing 10 corresponding to the sample holding plate 14, and a pumping arm 22 (not shown) to which a pumping tool 21 is fixed to one end is attached to the pumping head 20. It is provided so that it can be driven up and down by a vertical drive means. Further, a camera support arm 23 is fixed to the pounding head 20, and a television camera 24 is fixed to the camera support arm 23, which is offset from the pounding tool 21 by a certain distance in the X direction. The bonding head 20 is fixed on an XY child table 5 having a well-known structure. In the XY child table 5, the lower stage is a Y table 26 that is driven in the Y direction, and the upper stage is an X table 27 that is driven in the X direction.

次に従来公知ではないが1本発明の特徴と関係ない構造
について説明する。前記試料押え板14に対応したハウ
ジング10の両側には、ローラ30.31が配設されて
おり、ローラ30.31の両側はハウジング10に固定
されたローラ支持板32.33に回転自在に支承されて
いる。ここで、前記ローラ30.31は、上面が前記試
料押え板14の上面と一致又は試料押え板14の上面よ
りわずかに下方に位置するように配設されている。前記
ローラ30.31には折曲げ可能な薄板よりなる遮蔽板
34が掛けられている。遮蔽板34の一端は、前記ロー
ラ支持板33に回転自在に支承されたローラ35を通し
て前記xYテーブル25のYテーブル26に固定されて
いる。遮蔽板34の他端にばばね36の一端が掛けられ
、ばね36の他端は装置の固定部に固定されたばね掛は
ビン37に掛けられている。前記遮蔽板34にはポンデ
ィングツール21に対応した部分に1個のダイ3のワイ
ヤポンディング作業に必要な小さなポンディング窓34
aが形成されている。
Next, a structure which is not conventionally known but is not related to the features of the present invention will be explained. Rollers 30.31 are disposed on both sides of the housing 10 corresponding to the sample holding plate 14, and both sides of the rollers 30.31 are rotatably supported by roller support plates 32.33 fixed to the housing 10. has been done. Here, the rollers 30 and 31 are disposed such that their upper surfaces match the upper surface of the sample holding plate 14 or are located slightly below the upper surface of the sample holding plate 14. A shielding plate 34 made of a bendable thin plate is hung over the rollers 30,31. One end of the shielding plate 34 is fixed to the Y table 26 of the xY table 25 through a roller 35 rotatably supported by the roller support plate 33. One end of a spring 36 is hung on the other end of the shielding plate 34, and the other end of the spring 36 is fixed to a fixed part of the device, and the spring hook is hung on a bottle 37. A small bonding window 34 necessary for wire bonding of one die 3 is provided in the shielding plate 34 at a portion corresponding to the bonding tool 21.
a is formed.

次に本発明の特徴とする構造の一実施例について説明す
る。前記ハウジングlOの上面には、前記遮蔽板34の
左側(ローダ側)及び右側(アンローダ側)にヒートブ
ロック11を覆うようにカバー50.51が固定されて
いる。カバー50.51の前記遮蔽板34側には、遮蔽
板34の下面がスライドするスライド面50a、5La
が設けられ、このスライド面50a、51aの先端部に
はひさし部50b、51bが設けられている。またカバ
ー50.51には前記送り爪12が挿入される爪逃げ穴
50c、51cが形成されている。
Next, an embodiment of the structure which is a feature of the present invention will be described. Covers 50 and 51 are fixed to the upper surface of the housing IO so as to cover the heat block 11 on the left side (loader side) and the right side (unloader side) of the shielding plate 34. The cover 50.51 has sliding surfaces 50a and 5La on which the lower surface of the shielding plate 34 slides.
are provided, and eaves portions 50b, 51b are provided at the tips of the slide surfaces 50a, 51a. Further, the cover 50, 51 is formed with claw relief holes 50c, 51c into which the feed claws 12 are inserted.

カバー50には前記爪逃げ穴50cに沿ってスライド溝
50dが形成されており、このスライド溝50dにはス
ライド板52が摺動自在に配設されている。またスライ
ド板52には前記送りrL t 2が挿入される爪挿入
穴52aが形成されており、送り爪12はこの爪挿入穴
52aを通して爪逃げ穴50cに挿入されている。
A slide groove 50d is formed in the cover 50 along the pawl escape hole 50c, and a slide plate 52 is slidably disposed in the slide groove 50d. Further, a pawl insertion hole 52a into which the feed rL t 2 is inserted is formed in the slide plate 52, and the feed pawl 12 is inserted into the pawl escape hole 50c through this pawl insertion hole 52a.

前記カバー50の下面には、ハウジング10とカバー5
0とで形成される試料搬送路53の入口側及び出口側に
試料搬送路53に直交して溝50e、50fが形成され
、この溝50e、50fには、ガス供給用パイプ54.
55が配設されている。また溝50fに隣接して溝50
e側にも溝50gが形成されており、この溝50gには
ガス排気用パイプ56が配設されている。ガス供給用パ
イプ54には、真下及び入口側方向斜め下方にガス噴出
穴54aが形成され、ガス供給用パイプ55も同様に、
真下及び出口側方向側め下方にガス噴出穴55aが形成
され、ガス排気用パイプ56には、真下及び入口側方向
斜め下方にガス吸引穴56aが形成されている。
The lower surface of the cover 50 includes the housing 10 and the cover 5.
Grooves 50e and 50f are formed perpendicularly to the sample transport path 53 on the inlet and exit sides of the sample transport path 53 formed by the gas supply pipes 54 and 50, respectively.
55 are arranged. Further, the groove 50f is adjacent to the groove 50f.
A groove 50g is also formed on the e side, and a gas exhaust pipe 56 is disposed in this groove 50g. The gas supply pipe 54 is formed with a gas ejection hole 54a directly below and diagonally downward in the inlet side direction, and the gas supply pipe 55 is similarly formed with a gas ejection hole 54a.
Gas ejection holes 55a are formed directly below and laterally downward in the direction toward the outlet, and gas suction holes 56a are formed in the gas exhaust pipe 56 directly below and diagonally downward in the direction toward the inlet.

前記ガス供給用パイプ54とガス排気用パイプ56間に
おけるカバー50の上面には、凹状のガス溜め室50h
が形成されており、このガス溜め室50hには前記試料
搬送路53に貫通したガス噴出穴50iが多数形成され
ている。またガス溜め室50hを覆うように、カバー5
0にはカバー57が固定されており、カバー57にはガ
ス溜め室50hに還元性ガスを供給するガス供給用パイ
プ58が固定されている。
A concave gas reservoir chamber 50h is provided on the upper surface of the cover 50 between the gas supply pipe 54 and the gas exhaust pipe 56.
A large number of gas ejection holes 50i penetrating the sample transport path 53 are formed in this gas reservoir chamber 50h. In addition, a cover 5 is installed so as to cover the gas reservoir chamber 50h.
A cover 57 is fixed to the cover 57, and a gas supply pipe 58 for supplying reducing gas to the gas reservoir chamber 50h is fixed to the cover 57.

次にかかる構成よりなるポンディング装置の作動を第5
図を参照しながら説明する。
Next, the operation of the pounding device having the above configuration is performed in the fifth step.
This will be explained with reference to the figures.

まず1本発明の特徴とする構成の作用について説明する
。ガス供給用パイプ54.55.58には外部より還元
性ガスが供給されている。またガス排気用パイプ56に
は、外部より吸引する吸引手段が接続されている。ガス
供給用パイプ54に供給された還元性ガスはガス噴出穴
54aより試料搬送路53内に噴出し、一部は試料搬送
路53の入口側に流れて入口側からの空気流入を防止し
、一部は試料搬送路53内をガス雰囲気にする。ガス供
給用パイプ55に供給された還元性ガスも同様に、ガス
噴出穴55aより試料搬送路53内に噴出し、一部はポ
ンディング窓34aに流れてポンディング窓34aから
の空気流入を防止し、一部は試料搬送路53内をガス雰
囲気にする。ガス供給用パイプ58に供給された還元性
ガスはガス溜め室50hに入り、ガス噴出穴50tより
試料搬送路53に噴出し、試料搬送路53内をガス雰囲
気にする。
First, the operation of the configuration, which is a feature of the present invention, will be explained. Reducing gas is supplied to the gas supply pipes 54, 55, 58 from the outside. Further, a suction means for sucking from the outside is connected to the gas exhaust pipe 56. The reducing gas supplied to the gas supply pipe 54 is ejected into the sample transport path 53 from the gas ejection hole 54a, and a portion flows to the inlet side of the sample transport path 53 to prevent air from entering from the inlet side. A part of the sample transport path 53 is made into a gas atmosphere. Similarly, the reducing gas supplied to the gas supply pipe 55 is ejected into the sample transport path 53 from the gas ejection hole 55a, and a portion flows into the pumping window 34a to prevent air from entering through the pumping window 34a. However, a part of the sample transport path 53 is made into a gas atmosphere. The reducing gas supplied to the gas supply pipe 58 enters the gas reservoir chamber 50h and is ejected from the gas ejection hole 50t to the sample transport path 53, creating a gas atmosphere inside the sample transport path 53.

ところで、発明が解決しようとする課題の項で説明した
ように、試料4が加熱されて発生した有機成分は、試料
搬送路53内の還元性ガスと共にポンディング窓34a
の方に流れるが、その前にガス排気用パイプ56のガス
吸引穴56aより排気される。このため、ポンディング
窓34aからの有機成分の吹き出しは少なくなる。
By the way, as explained in the section on problems to be solved by the invention, the organic components generated when the sample 4 is heated are transferred to the bonding window 34a together with the reducing gas in the sample transport path 53.
However, before that, it is exhausted from the gas suction hole 56a of the gas exhaust pipe 56. Therefore, the amount of organic components blown out from the pumping window 34a is reduced.

これにより、カメラ24の先端のレンズ及びワイヤクラ
ンパー等に有機成分が殆ど付着しないので、鮮明に検出
できると共に、クランプ面の汚れによるワイヤ切れ及び
ワイヤルーズの異常がなく、良好なワイヤポンディング
ができる。またメンテナンス的に汚れに対するクリーニ
ングの回数が月に1度でよくなり、激減する。
As a result, almost no organic components adhere to the lens at the tip of the camera 24, the wire clamper, etc., allowing clear detection, and there is no wire breakage or wire looseness caused by dirt on the clamp surface, and good wire bonding is possible. . In addition, the number of times cleaning for dirt can be done once a month is greatly reduced.

次に、本発明の特徴と関係ない構成の作動について説明
する。テレビカメラ24が第5図に示すポンディングセ
ンターライン60の上方に位置した状態より説明する。
Next, the operation of configurations unrelated to the features of the present invention will be explained. The explanation will be made starting from a state in which the television camera 24 is positioned above the bonding center line 60 shown in FIG.

即ち、テレビカメラ24はポンディングツール21とX
方向に一定距離オフセットされているので、第1図に示
す状態よりXテーブル27が前記オフセット距離移動す
ることにより、テレビカメラ24はポンディング窓34
aの上方に位置させられる。
That is, the television camera 24 is connected to the bonding tool 21 and
Since the TV camera 24 is offset by a certain distance in the direction shown in FIG.
It is located above a.

まず、ヒートブロック11が下降状態で、送り爪1zに
よってキャリア5が1ピツチづつ送られ、第5図(a)
に示すように試料4の最初にポンディングするダイ3a
がポンディングセンターライン60上に位置すると、Y
テーブル26がY方向に移動させられて最初にポンディ
ングするダイ3aの上方にテレビカメラ24は位置させ
られる。この場合、遮蔽板34はYテーブル26に一端
が固定されているので、前記のようにYテーブル26が
Y方向に移動すると一緒に移動する。即ち、遮蔽板34
のポンディング窓34aも最初にポンディングされるダ
イ3aの上方に位置する。
First, while the heat block 11 is in a lowered state, the carrier 5 is fed one pitch at a time by the feeding claw 1z, and as shown in FIG. 5(a).
As shown in FIG.
When is located on the pounding center line 60, Y
As the table 26 is moved in the Y direction, the television camera 24 is positioned above the die 3a that will be pounded first. In this case, since one end of the shielding plate 34 is fixed to the Y table 26, it moves together with the movement of the Y table 26 in the Y direction as described above. That is, the shielding plate 34
The bonding window 34a is also located above the die 3a to be bonded first.

また前記のようにキャリア5が送られてきて最初にポン
ディングされるダイ3aがポンディングセンターライン
60に位nすると、ヒートブロック11が上昇し、試料
4は試料押え板14に押付けられてクランプされる。試
料4がクランプされ、かつ前記のようにテレビカメラ2
4が最初のポンディングされるダイ3a上の上方に位置
した後、テレビカメラ24によって該ダイ3a部分のパ
ターンがポンディング窓34aを通して検出され。
Further, as described above, when the carrier 5 is sent and the first die 3a to be pounded is positioned at the pounding center line 60, the heat block 11 is raised and the sample 4 is pressed against the sample holding plate 14 and clamped. be done. The sample 4 is clamped and the television camera 2 is
4 is positioned above the first die 3a to be bonded, the pattern of the die 3a portion is detected by the television camera 24 through the bonding window 34a.

図示しない演算装置によってポンディング点の位置が補
正される。
The position of the pounding point is corrected by a calculation device (not shown).

次にポンディングツール21が前記ダイ3a。Next, the pounding tool 21 is attached to the die 3a.

即ちポンディング窓34aの上方に位置するように、ポ
ンディングツール21とテレビカメラ24とのオフセッ
ト距離だけXテーブル27が駆動される。そして、ポン
ディングツール21は前記ダイ3a部分の補正され−た
ポンディングデータに従ってXY子テーブル5が駆動さ
れてダイ3aのパッドとリード1とにワイヤが接続され
る。このワイヤの接続方法は周知であるので、その詳細
説明は省略する。
That is, the X table 27 is driven by the offset distance between the pounding tool 21 and the television camera 24 so as to be located above the pounding window 34a. Then, in the bonding tool 21, the XY child table 5 is driven according to the corrected bonding data of the die 3a portion, and wires are connected to the pads of the die 3a and the leads 1. Since this wire connection method is well known, detailed explanation thereof will be omitted.

ダイ3a部分のワイヤポンディングが全て終了すると、
次に第5図(b)に示すように、2番目のダイ3bの上
方にテレビカメラ24及びポンディング窓34aが位置
するように、Yテーブル26がY方向に駆動される。前
記したと同様に該ダイ3b部分のパターンがポンディン
グ窓34aを通して検出され、図示しない演算装置によ
ってポンディング点の位置が補正される。その後、前記
したと同様にポンディングツール21が前記ダイ3、即
ちポンディング窓34aの上方に位置するように、ポン
ディングツール21とテレビカメラ24とのオフセット
距離だけXテーブル27が駆動される。そして、ポンデ
ィングツール21は前記ダイ3b部分の補正されたポン
ディングデータに従ってXYテーブル25が駆動されて
ダイ3b部分のワイヤポンディングが行われる。
When the wire bonding of the die 3a part is completed,
Next, as shown in FIG. 5(b), the Y table 26 is driven in the Y direction so that the television camera 24 and the bonding window 34a are positioned above the second die 3b. As described above, the pattern of the die 3b portion is detected through the bonding window 34a, and the position of the bonding point is corrected by an arithmetic unit (not shown). Thereafter, as described above, the X table 27 is driven by the offset distance between the pounding tool 21 and the television camera 24 so that the pounding tool 21 is positioned above the die 3, that is, the pounding window 34a. Then, in the bonding tool 21, the XY table 25 is driven according to the corrected bonding data for the die 3b portion, and wire bonding is performed for the die 3b portion.

次にヒートブロックitが下降して試料4のクランプを
解除する。その後、キャリア5が1ピッチ送られ、3番
目のダイ3Cがポンディングセンターライン60上に送
られ、続いて前記したと同様にヒートブロック11が上
昇、テレビカメラ24及びポンディング窓34aがY方
向に駆動されて該ダイ3cの上方に位置され、ダイ3c
のパターンが検出される。その後、前記したと同様にポ
ンディングツール21がX方向に駆動されてダイ3Cの
上方に位置され、ダイ3Cの部分のワイヤポンディング
が行われる。これにより、1個の試料4のワイヤポンデ
ィングが完了する。以後、前記したと同様な動作を綴返
して次の試料4のワイヤポンディングが行われる。
Next, the heat block it is lowered to release the clamp on the sample 4. After that, the carrier 5 is sent one pitch, the third die 3C is sent onto the bonding center line 60, and then the heat block 11 is raised in the same way as described above, and the television camera 24 and the bonding window 34a are moved in the Y direction. The die 3c is positioned above the die 3c.
patterns are detected. Thereafter, the bonding tool 21 is driven in the X direction and positioned above the die 3C in the same manner as described above, and wire bonding is performed on the die 3C. This completes the wire bonding of one sample 4. Thereafter, wire bonding of the next sample 4 is performed by repeating the same operation as described above.

なお、上記実施例においては、ワイヤポンディング装置
に適用した場合について説明したが、基板2にダイ3を
ポンディングするダイポンデイン゛グ装置にも適用でき
る。この場合には、ポンディングツール21は真空装置
でダイ3を吸着するように構成する必要があることはい
うまでもない。
In the above embodiment, a case where the present invention is applied to a wire bonding device has been described, but the present invention can also be applied to a die bonding device for bonding a die 3 onto a substrate 2. In this case, it goes without saying that the pounding tool 21 needs to be configured to attract the die 3 using a vacuum device.

またダイポンディング装置に適用した場合には。Also when applied to die-ponding equipment.

カメラの汚れ及びポンディングツールの吸着部の汚れが
防止される。
This prevents the camera from getting dirty and the suction part of the pounding tool from getting dirty.

また試料4をキャリア5に載置してキャリア5を送る場
合について説明したが、基板2がリードフレーム等のよ
うに長いものであり、キャリア5に取付ける必要がない
ものは、基板2自体を送るようにしてもよい。
In addition, although the case where the sample 4 is placed on the carrier 5 and the carrier 5 is sent has been explained, if the substrate 2 is long, such as a lead frame, and does not need to be attached to the carrier 5, the substrate 2 itself may be sent. You may also do so.

また試料押え板14を設けた場合について説明したが、
試料4の種類によっては試料押え板14はなくてもよい
In addition, although the case where the sample holding plate 14 is provided has been explained,
Depending on the type of sample 4, the sample holding plate 14 may not be provided.

またハウジング10にカバー50.51を固定した構造
について説明したが5例えば特開昭59−25232号
公報に示すようにヒートブロック11にカバー50.5
1を固定してもよい。
Furthermore, a structure in which the cover 50.51 is fixed to the housing 10 has been described.
1 may be fixed.

また遮蔽板34を設けた場合について説明したが、遮蔽
板34は設けなく、カバー50.51にポンディングに
必要な大きさのポンディング窓を設けてもよい、勿論、
カバー50と51は一つの部材であってもよいことは言
うまでもない。
Furthermore, although the case where the shielding plate 34 is provided has been described, the shielding plate 34 may not be provided and a bonding window of a size necessary for bonding may be provided in the cover 50, 51.
It goes without saying that the covers 50 and 51 may be a single member.

また試料搬送路53内の大部分をガス雰囲気にさせるガ
ス供給手段として、ガス溜め室50hに供給し、ガス噴
出穴50iより噴出させるようにしたが、ガス供給用パ
イプ54又は55と同様なMIJ成よりなるガス供給用
パイプを多数配設してもよい。
Further, as a gas supply means for creating a gas atmosphere in most of the sample transport path 53, the gas is supplied to the gas reservoir chamber 50h and is ejected from the gas ejection hole 50i. A large number of gas supply pipes may be provided.

基板2にダイ3が貼付けられた試料4をキュアさせるキ
ュア装置にも、またキュア装置とワイヤポンディング装
置とがライン状に組合せられたキュア装置付きのワイヤ
ポンディング装置にも適用できる。
The present invention can be applied to a curing device for curing a sample 4 having a die 3 attached to a substrate 2, and also to a wire bonding device with a curing device in which a curing device and a wire bonding device are combined in a line.

[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明になるポンディ
ング装置によれば、試料搬送路内で発生した有機成分は
ポンディング窓から吹き出すことなく排気されるので、
カメラ及びポンディング構成部品に付着することが防止
され、安定したポンディングが行えると共に5クリ一ニ
ング回数が減少する。また還元性ガスにN2 H2ガス
を使用した場合でも、ポンディング窓より吹き出すN2
H2ガスの量は少なく、またH2濃度が高くならないの
で、安全性が向上する。
[Effects of the Invention] As is clear from the above explanation, according to the pumping device of the present invention, organic components generated in the sample transport path are exhausted without blowing out from the pumping window.
Adhesion to the camera and bonding components is prevented, stable bonding is possible, and the number of cleanings is reduced. Also, even if N2 H2 gas is used as the reducing gas, the N2 gas blown out from the pumping window
Since the amount of H2 gas is small and the H2 concentration does not become high, safety is improved.

またキュア装置の場合には、キュア装置の出入口部より
有機成分を含んだガスが大気中に発散しないので、岡り
の環境を悪化させることがない。
Furthermore, in the case of a curing device, the gas containing organic components is not released into the atmosphere from the inlet/outlet portion of the curing device, so that the environment of the hill is not deteriorated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は第1
図のA−A線要部断面図、第3図はカバ一部分の拡大断
面図、第4図は第1図のB−B線断面図、wSS図(a
)(b)(c)は遮蔽板ノホンデイング窓の位置を示す
平面図、第6図は試料の一例を示す平面図である。 4:試料、     10:ハウジング、11:ヒート
ブロック。 zl:ポンディングツール。 34a:ポンディング窓、 50.51:カバー、  50h:ガス溜め室、50i
:ガス噴出穴、   53:試料搬送路、54.55:
ガス供給用パイプ、 54a、55a:ガス噴出穴 56:ガス排気用パイプ、 56a:ガス吸引穴、  57:カバー58:ガス供給
用パイプ。
Fig. 1 is a plan view showing one embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a plan view showing an embodiment of the present invention.
Figure 3 is an enlarged cross-sectional view of a portion of the cover, Figure 4 is a cross-sectional view taken along line B-B in Figure 1, and wSS diagram (a
), (b), and (c) are plan views showing the position of the shielding plate nohonding window, and FIG. 6 is a plan view showing an example of the sample. 4: Sample, 10: Housing, 11: Heat block. zl: Ponding tool. 34a: Ponding window, 50.51: Cover, 50h: Gas storage chamber, 50i
: Gas ejection hole, 53: Sample transport path, 54.55:
Gas supply pipe, 54a, 55a: Gas ejection hole 56: Gas exhaust pipe, 56a: Gas suction hole, 57: Cover 58: Gas supply pipe.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)試料を搬送する密封型の試料搬送路と、前記試料
を加熱するヒートブロックと、前記試料搬送路内を還元
性ガス雰囲気にするガス供給手段と、上方より前記試料
搬送路に通じるように設けられたボンディング窓を通し
てボンディングを施すボンディングツールとを備えたボ
ンディング装置において、前記ヒートブロックの加熱に
よって前記試料より発生する有機成分を含んだガスを前
記試料搬送路内より排気するガス排気手段を設けたこと
を特徴とするボンディング装置。
(1) A sealed sample transport path that transports the sample, a heat block that heats the sample, a gas supply means that creates a reducing gas atmosphere in the sample transport path, and a gas supply means that communicates with the sample transport path from above. a bonding tool that performs bonding through a bonding window provided in the bonding apparatus, further comprising a gas exhaust means for exhausting a gas containing an organic component generated from the sample by heating the heat block from the sample transport path. A bonding device characterized in that:
(2)試料を搬送する密封型の試料搬送路と、前記試料
を加熱するヒートブロックと、前記試料搬送路内を還元
性ガス雰囲気にするガス供給手段とを備えたキユア装置
において、前記ヒートブロックの加熱によって前記試料
より発生する有機成分を含んだガスを前記試料搬送路内
より排気するガス排気手段を設けたことを特徴とするキ
ユア装置。
(2) In a curing apparatus comprising a sealed sample transport path for transporting a sample, a heat block for heating the sample, and a gas supply means for creating a reducing gas atmosphere in the sample transport path, the heat block A curing device comprising a gas exhaust means for exhausting a gas containing an organic component generated from the sample by heating the sample from the sample transport path.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5923534A (en) * 1982-07-30 1984-02-07 Hitachi Ltd Manufacture of semiconductor device
JPS5992539A (en) * 1982-11-19 1984-05-28 Hitachi Ltd Wire bonding process

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