JPH0216843B2 - - Google Patents

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JPH0216843B2
JPH0216843B2 JP56216194A JP21619481A JPH0216843B2 JP H0216843 B2 JPH0216843 B2 JP H0216843B2 JP 56216194 A JP56216194 A JP 56216194A JP 21619481 A JP21619481 A JP 21619481A JP H0216843 B2 JPH0216843 B2 JP H0216843B2
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JP
Japan
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strip
reciprocating
coating
shuttle
measuring
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JP56216194A
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English (en)
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JPS57137806A (en
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Ei Hora Jeimuzu
Bii Sutanton Uiriamu
Jei Suhonguru Jeri
Bii Jofu Borisu
Daburyu Rafueruzubaaga Piita
Ii Teiiboa Jon
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOIN SHITEI INTERN Inc
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TOIN SHITEI INTERN Inc
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Publication date
Application filed by TOIN SHITEI INTERN Inc filed Critical TOIN SHITEI INTERN Inc
Publication of JPS57137806A publication Critical patent/JPS57137806A/ja
Publication of JPH0216843B2 publication Critical patent/JPH0216843B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は測定技術、特に連続的に移動する帯状
体、バンドおよび同様の物体の被膜ないしコーテ
イングの厚さを自動的に測定するために、放射線
例えばベータ線の後方散乱(beta backscatter)
を用いて新規で有用なシステムに関するものであ
る。
超薄層被膜の厚さを測定するためにベータ線の
後方散乱を利用することは公知であり、この技術
は例えば米国特許第3132248号に開示されており、
またこのために使用される種々の装置が開発され
ている。
これらの装置では被測定物は測定台に載置さ
れ、この測定台に設けた穴によつて被測定物を放
射線源と検出器に対して一直線上に配置するよう
に構成されている場合が多い。このような構成の
一例として米国特許第3115577号がある。
被測定物を上記のような支持台に載置すること
が実際的でなくあるいは不可能な場合は、携帯用
探測機ないしプローブ(probe)が使用される。
このプローブは被測定物上に直接載置されるか、
あるいは被測定物のための別の支持面上に載置さ
れる。米国特許第3529158号にはこの種の携帯用
プローブが開示されている。
連続的に移動している帯状体ないしバンドの被
膜ないしコーテイングを、例えばこの帯状体が被
膜形成装置から引き出されるのに応じて測定した
い場合がしばしばある。このような測定を行なう
ことにより被覆された物体が製造されている間に
被覆工程および装置に適当な調節を行なうことが
できる。
しかし、移動中の物体を測定する場合には種々
の問題があり、特に被測定物体が連続しているも
の、例えば半導体接点の帯状体のような場合には
測定が一層困難である。これは正確な測定結果を
得ようとすると、測定下にある区分された物体に
対してプローブを正確に位置付けする必要がある
からである。このことを可能にするために種々の
システムが提案されている。
この種のシステムの一つにおいては、被膜を形
成された帯状体を測定ホイール上に案内し、この
ホイールを帯状体と共に連続的に回転させるよう
になつている。そしてこのホイールにはこのホイ
ール上の帯状体の被膜に作用接触する一つまたは
それ以上の測定プローブが装備されている。しか
し、このシステムにはホイールの直径、移動する
試料の速度およびプローブに対する正確な位置付
けの点で制限がある。
この種の他のシステムにおいては、測定プロー
ブが静止配置され、摺動ブロツクの一方側に配備
されている。帯状体はブロツクの反対側をよこぎ
つて動かされ、連続回転する押えホイールによつ
てブロツクと接触状態に維持される。
このシステムでは、測定に要求される時間の間
の一定長さの帯状体の被膜の平均厚さが測定され
る。帯状体が被膜を形成された多数区画からなる
バンドのようにとぎれがある場合は、測定装置は
帯状体と各区画の中間で測定が中断されるので、
帯状体の送り速度の点で装置の性能ないし効率が
制限される。
本発明の主たる目的は、区画された帯状体を含
む連続的に移動する帯状体の被膜の厚さを測定す
るシステムであつて、測定プローブが連続移動す
る帯状体にその長さ方向に一定間隔おいて個所で
選択的に係合し、この係合状態を予め定められた
時間の間維持することにより、前述した従来技術
における欠点を回避して、帯状体の移動径路を変
えることなく高速で動作することができるシステ
ムを提供するにある。
本発明の測定システムは測定されるべき物体な
いし素材の移動径路に沿つて、この物の移動速度
よりも遅い速度で前進する往復可動体ないしシヤ
ツトル(shuttle)を有する。
このシヤツトルはその測定ストローク中は帯状
体と係合させられてこの帯状体によつて動かされ
復帰ストローク中は帯状体との係合から解除され
るように構成されている。
さらに、このシヤツトルは測定プローブを備え
このプローブは測定されるべき個所と正確に一致
させられるために選択的に調整可能であり、かつ
シヤツトルの測定ストローク中に測定されるべき
個所と作用接触させられるように構成されてい
る。
以下図面を参照して詳細に説明する。
第1図において、10は測定装置を示し、12
は連続移動される帯状体で、その被膜の厚さが測
定される。被膜はどんな物質でもよく、また被膜
の形成方法としては例えば電着、真空蒸着及び自
触媒付着(autocatalytic deposition)などがあ
る。
装置10は帯状体12の移動路のどの場所にで
も配備できる。
とぎれのないあるいは区分されていない帯状体1
2を測定するには、装置は固定機構ないしクラン
プ14によつて帯状体12に間欠的に固定され
る。区分された帯状体、または割出し穴を有する
帯状体を測定するには、例えばピンまたは位置合
わせ用支受部材を使用できる。
装置10は一対のガイドレール18によつて摺
動可能に支持された往復可動体ないしシヤツトル
16を備えている。シヤツトル16は、クランプ
14のほかに帯状体12を測定中に支持案内する
案内板22を備えた基板20と、この基板20上
で案内板22を位置付ける手段、例えば調節ねじ
24とを有する。
測定ヘツド集合体(以下単にヘツドという)2
5がシヤツトル16に取付けられており、このヘ
ツドは取付部材28を有するホルダーアーム26
(第7図)を備え、この取付部材28には適当な
位置合わせ手段、例えば十字線投影ユニツト
(crosshair projection unit)(図示略)、または
ガイガー・ミユラー計数管および放射性同位体源
(図示略)を含む測定プローブ30が取り外し可
能に取付けられる。この位置合わせ手段やプロー
ブは公知のタイプのものを使用できるから詳細な
説明は省略する。
ヘツド25はさらにガイド32を有しており、
このガイド32に沿つてホルダーアーム26がモ
ータ27によつて動かされ、プローブ30を帯状
体12に対して垂直方向に位置付ける。
ヘツド25はまた一対の校正手段34,35を
備えている。後述のように校正手段34は手動操
作され、校正手段35は自動的に動作する。なお
場合によつて校正手段を備えなくてもよい。
持上げローラ37を有する持上げローラ機構3
6がシヤツトル16に装備されており、シヤツト
ル16と帯状体12の係合を解除すべきときにロ
ーラ37が帯状体12を案内板22の上方へ予め
定められた距離だけ持ち上げて支持する。もう一
つの持上げローラ(図示略)を基板20の反対側
においてシヤツトルに配備してもよい。
帯状体12の移動路を横切つてヘツド取付板2
9を前進または後退させることにより、帯状体1
2に対するプローブ30の位置を調節するための
操作輪38とねじ棒40を含む粗調節機構から設
けられている。
シヤツトル16は普通のエンドレスベルト駆動
装置によつてレール18に沿つて往復移動させら
れる。エンドレスベルト42は一対のプーリ4
4、45に掛け回わされている。プーリ44,4
5はそれぞれブロツク48,49に支承されたシ
ヤフト46,47に取付けられている。プーリ4
5は一方向クラツチを構成している。安全スリツ
プクラツチまたはオーバーライド(override)機
構52を備えて普通の駆動モータ50がシヤフト
47、従つてベルト42を駆動する。
第2図に示すように、ベルト42にはローラ5
4が取付けられており、このローラ54は案内ブ
ラケツト59の一端に設けられた垂直案内スロツ
ト57に係合されており、ブラケツト59の他端
は基板20に固定されている。ベルト42が駆動
されるにつれて、ローラ54がその往復動サイク
ルを通してシヤツトル16を引き動かし、シヤツ
トル16はそれぞれの前進および後退行程の終り
においてローラ54がそれぞれ垂直下方および上
方に移動してシヤツトルの移動方向を変える間は
一時的に移動を停止する。
シヤツトルは運動する帯状体12の速度よりも
僅かに遅い速度でベルト42によつて駆動され、
帯状体12とシヤツトル16がシヤツトルの前進
中に係合されているとき、一方向クラツチをなす
プーリ45によつて移動する帯状体12がエンド
レスベルト駆動機構に打勝つて(override)移動
する帯状体12の速度でシヤツトル16を前方へ
引き動かす。
エンドレスベルト42の代りに、第20図、第
21図に示すような普通のチエン駆動機構55ま
たは他の適当な機構を使用することもできる。
シヤツトル16はベアリングブロツク62(第
7図)によつてレール18に摺動可能に支持され
るとともに基板20に垂設された案内ローラ機構
56(第10図)によつてレール18に正確に一
致して案内されるようになつている。この案内ロ
ーラ機構56はレール18の上側に転接する固定
ローラ58と、レール18の下側に転接する中心
を異にして取付けられた調節可能なローラ60と
を有している。
帯状体の案内板22はシヤツトル16に支持さ
れ、特定のタイプの帯状体12に対して使用する
のに適合させることができる。案内板22の上面
はどんな帯状体にでも(帯状体が区分されていて
も区分されていなくても)その形態に一致する形
状に形成され、測定されるべき個所を支持できる
ようになつている。
第12図に示す案内板22は区分ないし区画さ
れていない連続した帯状体12に使用するように
設計されている。
案内板22は一対の側縁(エツジ)ガイド6
4,64′を備えており、これらのエツジガイド
は帯状体の進行方向を横切る方向に選択的に調節
可能である。この調節によつて帯状体の幅が種々
異なつても帯状体が帯状体牽引機構(図示略)の
方向へシヤツトル16上を越えて動かされると
き、異なる幅の帯状体を測定装置に一致させるこ
とができる。
このために、エツジガイド64,64′にはそ
れぞれ一対のスロツト65が設けられていて、各
スロツトに挿通されたねじ65′によつてエツジ
ガイド64,64′を案内板22上の調節された
位置に固定する。エツジガイド64,64′は帯
状体の両側縁に係合するようになつており、案内
板22の上面の横断方向溝に取外し可能にねじ7
1によつて固定されたブロツク70に支持されて
いる。
取外し可能な一対の摩擦パツド68がブロツク
70の前後側に配置され、案内板22の上面7
0″と実質上面一になるように案内板22の凹所
に嵌め込まれている(第12図,第13図)。ク
ランプ14は第12図に鎖線で示すように摩擦パ
ツド68と一致する一対の間隔をおいて配置され
たクランプパツド72を有している。
帯状体12がエツジガイド64と64′の間を
案内板22を越えて動かされるとき、帯状体12
をクランプパツド72と摩擦パツド68の間で挾
持することによつて案内板22、従つてシヤツト
ル16を帯状体12と係合状態に保持し、運動す
る帯状体12によつてシヤツトル16を動かすこ
とができる。この点については後に詳述する。
測定中、プローブ30はクランプパツド72の
内縁74とガイド64,64′の内縁とによつて
区画された帯状体12の区域に接触する。
第14図の案内板22は区画された帯状体に対
して使用するように構成されている。第14図に
示される特定の帯状体12aは連続したバンドの
両側に突出する一連の多数の指状片ないし他の区
分75を有している。この実施例においても、ガ
イド64,64′と同様の一対のガイド76が使
用されガイド76は異なる幅の帯状体に適合でき
るように帯状体の進行路を横切る方向に調節可能
である。このためガイド76はそれぞれスロツト
77を有し、各スロツトにはガイド76を帯状体
12aの両側でブロツク70′に固定するための
ねじ77′が挿通されている。
駆動ピン78と互いに間隔をおいて配置された
一対の位置決めピン80とがエツジガイド76の
間でブロツク70′に直立して設けられている。
これらのピンはこの案内板が使用される特定の帯
状体12aの指状片ないしセグメント75と係合
するのに適したパターンで互いに間隔をおいて配
備されている。
第17図、第18図および第19図にそれぞれ
示す異なる形状の区分された帯状体12b,12
cおよび12dに対しては第14図に示したもの
とは異なるピンの配置パターンまたは係合ガイド
が使用される。
第16図に示すように駆動ピン78は直立面8
4に隣接するカム面82を有し、直立面84は帯
状体12aの指状片75の片側が係合して帯状体
12aの進行方向にシヤツトル16を引き動かす
肩部となつている。カム面82によつて帯状体1
2aの前方側の指状片75は駆動ピン78をすべ
つて越えることができ、駆動ピンが指状片の間に
位置して後に詳述するように後方側の指状片によ
つて駆動ピンが動かされることができる。
帯状体12aと駆動ピン78が第14図,第1
6図に示すように駆動係合状態にあるとき、整合
ピン80が帯状体12aの他方側で指状片75と
係合して帯状体12aとプローブを装備したシヤ
ツトルとの正確な一致状態を維持する。
区分されていない連続帯状体12に対する上記
装置の動作を説明すると、シヤツトル16のブロ
ツク70上でエツジガイド64,64′を調節し
て帯状体12がこれらのエツジガイドの間を進行
するようにする。進行する帯状体12のどの部分
もまず第3図〜第5図に詳細に示す速度および欠
陥検出部(以下センサという)88を通過する。
センサ88において、帯状体12はばねで付勢
されたセンサホイール90と通常の回転速度計
(タコメータ)100のセンサ筒98との間を通
過する。センサホイール90はピボツトアーム9
2に取付けられ、このアームの一端にはマイクロ
スイツチ96を動作させる加圧脚ローラ機構94
が設けられている。
センサホイール90はばね91によつて帯状体
12に転圧され、帯状体12をセンサ筒98に押
し付けている。センサホイール90、センサ筒9
8およびこれらに関連する部材は適当な架台に取
付けられている。
センサ筒98は帯状体12によつて回転させら
れ、帯状体の走行速度に応じた信号を発信する。
この信号は公知のタイプの速度制御機構97に送
られ、この制御機構が線67′を介してエンドレ
スベルト駆動モータ50の速度を調節し、ベルト
42とシヤツトル16の速度を走行する帯状体1
2の速度以下の予め定めた速度レベルに維持す
る。速度制御機構67は帯状体12とモータ50
の間の所望の速度差を設定すべく調節可能であ
り、自動的に動作して設定された速度差を維持す
る。
センサホイール90は帯状体12の重ね継ぎ、
留め金(ステーブル)、その他の異常状態による
異常な厚みを検出してスイツチ96を動作させク
ランプ作動用ソレノイド86(第6図、第7図)
の付勢回路を開く。これによつて、帯状体の欠陥
部がセンサホイール90を通過してから予め定め
られた時間の間シヤツトル16が帯状体に係合さ
れるのを阻止する。従つて測定プローブ30が帯
状体の留め金、重ね継ぎ、その他の異常な個所と
係合して傷付けられたり異常な測定結果を生じる
おそれがなくなる。
正常な動作中は、エンドレスベルト駆動機構が
帯状体12の速度よりも僅かに遅い速度でシヤツ
トル16を移動させ、帯状体とシヤツトルとが互
いに結合されるときに両者のスムーズな係合を可
能にし、急激な引張り運動を回避する。このこと
を可能にするために、エンドレスベルト駆動機構
の速度を適当な手段によつて自動調整して、セン
サ98によつて検知される帯状体の速度変化に対
処している。
シヤツトル16はエンドレスベルト駆動機構の
プーリ44と45の間隔によつて規定されたレー
ル18の一定距離部分に沿つて連続して前後に往
復移動する。測定はシヤツトル16の前進移動
(往動)中にのみ、かつセンサホイール90が異
常検出しなかつたときにのみ行なわれる。
ローラ54のシヤフトはエンドレスベルト42
に固定されたブラケツト55に支受されている。
ブラケツト55のローラ54側とは反対側には反
射面を有する金属片55′が設けられ、この反射
面がシヤツトル16の往動最前進位置の手前で光
電素子61(第2図)を動作させ、ソレノイド8
6を動作させてクランプ14を引き上げシヤツト
ル16を帯状体12との係合から解放するととも
にソレノイド87を動作させてローラ37を持ち
上げ帯状体12をシヤツトルから浮上させる。ロ
ーラ37はブラケツト69に支受され、このブラ
ケツトはクランクアーム69′を介してソレノイ
ド87によつてピボツト軸のまわりを回動させら
れる。
クランプ14はクランプパツド72を備えた一
対のアームを有する揺動プレート15を含んでい
る。このプレート15はソレノイド86によつて
ピボツト軸のまわりを揺動可能である。
クランプ14をクランプ動作およびクランプ解
除動作さて、またローラ37を上下させるために
それぞれソレノイド86,87に代えて液圧また
は空気圧アクチユエータを用いることもできる。
ブラケツト59にも光電素子61′を動作させ
るための反射面58′が設けられている。光電素
子61′はソレノイド87を動作させてローラ3
7と帯状体12を降下させるとともに、ソレノイ
ド86を動作させてクランプ14を降下させクラ
ンプパツド72と摩擦パツド78の間に帯状体1
2を挾持させる。
光電素子61,61′は、また、モータ27を
制御して測定プローブ30を上下させる。プロー
ブ30はクランプが行なわれると降下させられて
その穴あきプラテン103を帯状体12に接触さ
せ、クランプが解除されると上昇させられて帯状
体12との接触を断たれる。
光電素子61,61′の制御の下にソレノイド
86,87およびモータ27を動作させる回路は
公知のものを使用できるから説明は省略する。別
のタイプの光電装置を使用してもよいし、実施例
の光電式以外のセンサーを用いることもできる。
プラテン103は帯状体に接合する面を有し、
この面に測定されるべき区域を規定する適当な穴
があけられている。また、プラテン103はねじ
付きカラー103′によつてプローブ30の下端
に取り外し可能に固定されている。これらの構成
については公知である。
帯状体12をクランプする動作とプローブ30
が帯状体に係合する動作との間に僅かな時間的遅
れを設けることにより、プローブ30が帯状体1
2と係合する以前にシヤツトル16と帯状体が係
合することが保証される。
被覆ないしコーテイングの厚さの測定は、シヤ
ツトル16とプローブ30が帯状体12に係合し
ている間に行なわれる。シヤツトル16は、セン
サホイール90が帯状体12の欠陥を検出し続け
ている限り、帯状体とは係合せずに往復動を続け
る。
プローブ30による測定結果は第7図にブロツ
クで示された適当な装置107に送られ、ここで
分折、記憶および表示が行なわれる。
シヤツトル16と帯状体12との最初の設定時
に、ブラケツト119の突出部118に連結され
た手動ねじ102からなる微調整機構によつて、
取付部材28を帯状体の進路に対して横方向に進
退させる。ブラケツト119はホルダーアーム2
6に設けた適当な軸受内で摺動可能なガイドシヤ
フト120を有している。
十字線投影ユニツトないし他の位置合わせ装置
(図示略)をまず取付部材28に挿入し、ねじ1
02を回わして取付部材28を帯状体12に位置
合わせする。このようにして取付部材28に保持
されたプローブ30と帯状体12上の測定される
べき区域との正確な位置合わせがなされる。
次いで、位置合わせ装置を取付部材28から取
外し、プローブ30を挿入すると、帯状体12上
の測定されるべき区域に位置付けられる。
区分された帯状体12aに対する装置の動作を
次に説明する。設定、センサ88の動作およびエ
ンドレスベルト駆動機構によるシヤツトル16の
駆動については前述の実施例におけると同様であ
る。しかし、本実施例においては、クランプ14
は基板20から外されており、前述の区分されて
いない連続帯状体に使用した案内板に代えて、適
当な駆動および位置ぎめピンまたは他の位置合わ
せ機構を有する案内板、例えば第14図に示す案
内板が使用される。
シヤツトル16が前進を始めると、光電素子6
1′が動作され、ローラ37を第2図に示す下方
位置に降下させる。帯状体12aが案内板22に
接近するにつれて帯状体のレベルは案内板22の
上面よりわずかに下になる。従つて、帯状体12
aには張力が加えられており、帯状体は駆動ピン
78の直立縁84に結合する最初の指状片ないし
セグメントによつて案内板22上に載置される。
これと同時に他のセグメントも位置ぎめピン80
と係合する。
この帯状体12aと駆動ピン78の係合により
シヤツトル16は帯状体によつて前方へ引き動か
され、一方向クラツチ45の存在によつてエンド
レスベルト機構をオーバーライドすることができ
るので、シヤツトルはエンドレスベルトよりも早
い帯状体12aの移行速度で、すなわち、帯状体
12aと同期して動かされる。
位置ぎめピン80は駆動ピン78よりも小さく
かつ短かくすることができ、そして一旦駆動ピン
78が係合すると帯状体の位置ずれまたははね上
りを防止するためにのみ作用する。
ローラ37が下方位置に降下する動作とプロー
ブ30が帯状体12aと係合する動作との間に時
間遅れを設定しておくことによつて、プローブ3
0が帯状体12aと係合する以前に、帯状体と駆
動ピン78とが係合することが保証される。
シヤツトル16が往行程の最前端(前進限度)
に近づいたとき、光電素子61がこれを検知し、
モータ27がプローブ30を上昇させ、ソレノイ
ド87がローラ37を持ち上げ、ローラ37が帯
状体12aを駆動ピン78と位置ぎめピン80か
ら持ち上げてこの帯状体とピンの隔離した位置関
係をシヤツトル16の復帰行程中維持する。
モータ50はシヤツトル16をその前進行程を
通して帯状体の移動速度よりも遅い速度で駆動す
るように構成されているが、モータ50およびそ
の制御装置はシヤツトルをその復帰行程ではより
早い速度で駆動して、与えられた時間内において
可能な測定回数を増加させるように構成すること
もできる。
駆動ピン78にカム面82が形成してあるので
正常動作中帯状体12aがローラ37によつて案
内板22上に降下させられるとき、カム面82に
接触する指状片ないしセグメントがこのカム面を
すべつてピン78を越え、次に続く指状片ないし
セグメントがこのピンに係合することができる。
区分された帯状体には上記以外の駆動および位
置ぎめ機構を使用することができる。その一例を
第18図に示す。
この実施例においては、案内板22、特にその
ブロツク70′には指状片と互いにはまり合つて
マトリツクスを形成するように一定のパターンに
配置された多数の突起部ないしエンボス81が設
けられている。
装置10の校正は、測定操作のための最初の設
定時およびその後適宜行なわれる。この校正は第
6図、第7図に示す手動校正手段(スライド)3
4または自動校正手段(スライド)35のいずれ
かを用いて行なわれる。
これらのスライドは測定ヘツド取付板29上に
互いに一定角度をなすように水平方向に往復摺動
可能に取付けられている。両スライドは互いに斜
交する通路に沿つて各別に進退し、これらの通路
の交差点はプローブ30の穴103と同一垂直線
上に配置されている。
スライド35にはその前端に一対の標準試料1
04,106が並べて配備されている。標準試料
104は帯状体の基材であり、標準試料106は
被膜ないしコーテイングの材料である。
リミツトスイツチ108がスライド35の近傍
に配備され、スライド35の一側縁に適当な間隔
をおいて設けられた二つのノツチ110と協同動
作しスライドがモータ114によつて前進させら
れるとき標準試料104,106のプローブ30
に対する位置合わせを制御し、校正完了後にはモ
ータ114によるスライドの後退限度を規制す
る。
スライド34は実際の厚さ標準試料104′,
106′を保持し、その一方側の縁に沿つて設け
たノツチ110に係合する位置ぎめラツチ109
が配備されている。
プローブ30は標準試料が位置付けされた後そ
の上に降下させられる。この操作はスイツチ10
8の制御下で自動的に行なうことができる。
スライド34はノブ112を手動操作して摺動
路に沿つて進退させる。この動作は自動的に行な
うようにしてもよい。スライド35は第6図に示
す同期電動機114とこれに連結したラツク・ピ
ニオン機構116によつて自動的に進退させられ
る。
スライド35は装置10の正常な測定操作中に
自動校正に使用され、予め選定された回数の測定
終了後必要に応じてコンピユータで制御された定
期検査と校正が行なわれる。温度、塵埃、汚れの
付着、アイソトープの壊変、その他の原因がプロ
ーブの読みに影響を与えるから、測定の精度と信
頼性を確保するためにこのような定期検査と校正
が必要である。
帯状体12,12a,12b,12cの運動お
よびシヤツトル16の運動はこの自動検査および
校正操作中も中断されない。
第6図においてはスライド34,35は装置1
0の連続操作中の平常後退位置において示されて
いる。この位置においては、スライド34,35
はプローブ30から外えた位置にあり、プローブ
30の垂直移動ないし測定動作を妨害しない。
測定操作中帯状体12,12a,12bまたは
12cに対するプローブ30の位置を変えたいと
き、例えばある一つの位置で一連の測定を行なつ
てから続いて横方向の他の位置で一連の測定を行
ないたい場合は、第1図に示すように、ステツプ
モータ105をねじ棒40に作用連結し、適当に
プログラムされたコンピユータ106の制御下で
プローブ30の位置を自動的に周期的に変えるよ
うにすればよい。コンピユータ106は読み出し
装置107の一部として組込むこともでき、装置
の他の機能を制御することもできる。
以上のように、本発明によれば、直線路に沿つ
て往復移動する往復可動体を用いるようにしたの
で、被測定帯状体の進路方向を変える必要がな
く、高速の測定操作が可能である。被膜を形成す
る沿から連続的に引き出される帯状体の場合、進
行方向を変えずに測定できることは特に有利であ
る。また、プローブ30が測定サイクル中帯状体
12,12a,12b,12cに係合するため
に、プローブが帯状体から離れている構成におけ
るよりもより正確な測定が可能である。シヤツト
ルの移動距離も利用可能な空間内で最大の測定精
度を達成できるように選定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例にかかる装置の平面
図で、装置の左右側の矢印は移動する帯状体の移
動方向を、また図の下側の双頭矢印は往復可動体
の行程をそれぞれ示し、第2図は第1図の正面
図、第3図は帯状体の異常を検出して測定を中断
するための検出器と、往復可動体の駆動速度を決
定するための帯状体の速度検出器との平面図、第
4図は第3図の正面図、第5図は第2図の5−5
線からみた拡大端面図、第6図は測定ヘツド集合
体と手動および自動校正手段とを備えた往復可動
体の平面図、第7図は第6図の7−7線からみた
立面図、第8図は区分された帯状体と往復可動体
を駆動係合解除状態に保持する持ち上げローラ機
構の平面図、第9図は第8図の正面図、第10図
は第2図の10−10線における断面図で往復可
動体の基板と案内ローラ機構を示し、第11図は
第10図の11−11線における断面図、第12
図は帯状体が区分されていない場合に使用される
ガイド機構の平面図、第13図は第12図の13
−13線における断面図、第14図は第12図と
同様の図で区分された帯状体に使用する駆動およ
び位置ぎめピン機構を示す図、第15図は図示を
容易にするために区分された帯状体を除いた第1
4図の15−15線における断面図、第16図は
区分された帯状体に係合した駆動ピンの詳細図、
第17図、第18図および第19図はそれぞれ区
分された帯状体の異なる形態を示すとともに、第
18図はさらに他の形態の駆動、および位置合わ
せ機構も示し、第20図は往復可動体のチエイン
駆動機構の詳細図、第21図は第20図の21−
21線における断面図である。 10……測定装置、12,12a,12b,1
2c,12d……帯状体、14……クランプ、1
6……往復可動体(シヤツトル)、18……案内
レール、20……基板、22……案内板、25…
…測定ヘツド集合体、30……測定プローブ、3
4,35……校正手段(スライド)、36……持
ち上げローラ機構、42……エンドレスベルト、
61,61′……光電素子、64,64′……エツ
ジガイド、68……摩擦パツド、78……駆動ピ
ン、80……位置ぎめピン、88……速度および
欠陥検出部(センサ)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 厚さが測定されるべき被膜を有する帯状体を
    直線路上の第1位置と第2位置とを順次通過移動
    させ、前記直線路上の第1位置と第2位置の間を
    往復移動可能であり、かつ、被膜厚測定手段を備
    えた往復可動体を前記第1位置において前記帯状
    体に係合させ前記帯状体によつて前記往復可動体
    を牽引させて前記第1位置から第2位置へ往動さ
    せ、この往動中に前記被膜厚測定手段によつて前
    記帯状体の被膜の厚さを測定し、測定後前記往復
    可動体と前記帯状体の係合を前記第2位置におい
    て解除して前記往復可動体を前記第2位置から第
    1位置へ復動させることを特徴とする被膜の厚さ
    を測定する方法。 2 厚さが測定されるべき被膜を有する帯状体が
    連続的に移動せしめられる直線路に沿つて延長配
    備された直線状枠と; 前記直線路に所定間隔をおいて設けた第1位置
    と第2位置の間を移動可能に前記枠に配備された
    往復可動体と; 前記往復可動体に担われ、移動する前記帯状体
    に選択的に係合分離可能な係合手段と; 前記係合手段を前記第1位置において前記移動
    する帯状体に係合させてこの帯状体により前記往
    復可動体を前記直線路上を前記第1位置から第2
    位置へ牽引移動させ、前記係合手段を前記第2位
    置において前記帯状体より分離する係合手段制御
    手段と; 前記係合手段が前記帯状体から分離されたとき
    前記往復可動体を前記第2位置から前記第1位置
    へ復動させる駆動手段と; 前記往復可動体に少なくとも一部が取り付けら
    れ、前記往復可動体が前記第1位置から第2位置
    に移動させられるときに前記帯状体の被膜の厚さ
    を測定する測定手段と; からなることを特徴とする被膜の厚さを測定する
    装置。
JP56216194A 1981-01-23 1981-12-30 Method of and apparatus for measuring thickness of film Granted JPS57137806A (en)

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JPS57137806A JPS57137806A (en) 1982-08-25
JPH0216843B2 true JPH0216843B2 (ja) 1990-04-18

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DE (1) DE3143454A1 (ja)
GB (1) GB2091872B (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4451732A (en) * 1982-05-20 1984-05-29 Twin City International, Inc. Apparatus for measuring thickness of coating on continuously moving material
DE3440197A1 (de) * 1984-11-03 1986-05-07 Hoechst Ag, 6230 Frankfurt Verfahren fuer die kontinuierliche, kontaktlose schichtdickenbestimmung sowie anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
US4656357A (en) * 1985-04-16 1987-04-07 Twin City International, Inc. Apparatus for measuring coating thickness
US4643063A (en) * 1985-08-01 1987-02-17 Mckenica Inc. Tube cutoff machine
US5103471A (en) * 1991-01-17 1992-04-07 Spongr Jerry J Apparatus for measuring the thickness of a coating
KR19980037982A (ko) * 1996-11-22 1998-08-05 손욱 패널 내면의 금속막 두께 측정방법
EP3348961A4 (en) * 2015-09-07 2018-08-22 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. In-vehicle stereo camera device and method for correcting same

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS542768A (en) * 1977-06-03 1979-01-10 Unit Process Assemblies Device of measuring thickness of backward scattering
JPS5482259A (en) * 1977-11-15 1979-06-30 Unit Process Assemblies Back scattering measuring device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL131712C (ja) * 1961-11-20
US3115577A (en) * 1962-05-03 1963-12-24 Twin City Testing Corp Measuring table for use in coating thickness measuring
GB1084180A (ja) * 1965-07-30 1900-01-01
US3529158A (en) * 1966-12-02 1970-09-15 Twin City Testing Corp Interchangeable fixed and portable coating thickness measuring apparatus
US3474668A (en) * 1967-10-12 1969-10-28 Bethlehem Steel Corp Noncontacting gauges for automatically measuring the profile of moving strip
US3832550A (en) * 1972-06-22 1974-08-27 Bethlehem Steel Corp Wide-range radiation gage for determining deviation of a material property with a controlled-gain detector in an interruptable self-balancing measuring loop

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS542768A (en) * 1977-06-03 1979-01-10 Unit Process Assemblies Device of measuring thickness of backward scattering
JPS5482259A (en) * 1977-11-15 1979-06-30 Unit Process Assemblies Back scattering measuring device

Also Published As

Publication number Publication date
DE3143454C2 (ja) 1989-11-16
DE3143454A1 (de) 1983-02-03
GB2091872B (en) 1984-10-17
JPS57137806A (en) 1982-08-25
GB2091872A (en) 1982-08-04
US4383172A (en) 1983-05-10

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