JPH0216442B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0216442B2
JPH0216442B2 JP56050436A JP5043681A JPH0216442B2 JP H0216442 B2 JPH0216442 B2 JP H0216442B2 JP 56050436 A JP56050436 A JP 56050436A JP 5043681 A JP5043681 A JP 5043681A JP H0216442 B2 JPH0216442 B2 JP H0216442B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
prism
laser
wavelength
stationary
correction device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP56050436A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5710403A (en
Inventor
Uesuteruberugu Geruharudo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GERUHARUDO UERUTERUBERUGU
Original Assignee
GERUHARUDO UERUTERUBERUGU
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GERUHARUDO UERUTERUBERUGU filed Critical GERUHARUDO UERUTERUBERUGU
Publication of JPS5710403A publication Critical patent/JPS5710403A/ja
Publication of JPH0216442B2 publication Critical patent/JPH0216442B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/02062Active error reduction, i.e. varying with time
    • G01B9/02067Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は例えば距離測定に用いられるレーザ干
渉計用の補正装置に関する。
レーザ干渉計が、工作機械や精密計測器での位
置決定を目的として精密距離測定に応用されてか
ら久しい。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、レーザ波長が気圧や温度やまた
ある程度湿度に依存するので測定精度はその影響
を受けてしまう。つまり、これら気象要素が測定
精度に影響する。
(問題点を解決するための手段) したがつて、本発明の目的はレーザと、移動可
能な物体に固定されたプリズムと、ビーム分割プ
リズムと、静止プリズムとを備えて例えば距離測
定に用いられるレーザ干渉計用の補正装置であつ
て、外部因子に起因する波長変動に対して、干渉
縞の発生条件を左右する光路長の補正を行うこと
ができる補正装置を提供することにある本発明の
補正装置は前記静止プリズムを有し、ユニツトか
ら該補正装置へ送出される電気信号に応答しかつ
この電気信号によつて前記静止プリズムの位置を
変化させ得る装置を具備し、前記電気信号がレー
ザ干渉計の波長変動に対応して、干渉縞の発生条
件を左右する光路長の補正量を出力することを特
徴とする。
(実施例) 以下実施例により本発明を詳細に説明する。
図面において、レーザ1は波長λのレーザビー
ム20を送出する。レーザビーム20はビーム分
割プリズム2で互に垂直な2個のビームに分割さ
れる。分割ビームの一方21は移動可能な物体1
2に固定されたプリズム6に入射しこれによつて
反射される。分割ビームの他方22は参照ミラー
をなす静止プリズム3に入射しこれによつて反射
される。したがつて、反射ビーム23,24はビ
ーム分割プリズム2の干渉点7に入射し重畳され
るので両ビーム間で干渉が得られる。干渉点7に
おいて、ビームは2個の重畳ビーム8,9′に分
割されこれら分割ビームは互に垂直である。図示
のように一方のビーム8あるいは両重畳分割ビー
ムは増幅され検出される。検出器10は重畳ビー
ム8を検出する。重畳ビーム8,9′は、移動物
体12がλ/2だけ移動するごとに周期的に増減す
る。したがつて、検出器10および位置記録計1
1での周期的変化を検出、計算することによつて
移動物体の位置変化が精密に知れる。
上述のレーザ干渉計は公知のものであつてその
構成要素も公知である。
本発明によると、静止プリズム3の所に補正装
置4,5が設けられ、これによつて静止プリズム
3はビーム分割プリズム2に近ずいたり逆に遠ざ
かつたりすることができるようになつている。補
正装置4,5は電気信号に応答して上記方向で静
止プリズム3を移動させるよう構成されている。
このように静止プリズム3を移動させることによ
つて、例えばレーザビーム波長の変動に起因する
干渉縞の発生条件の変化を補正し、したがつて、
レーザ干渉計を例えば気象要素に起因する波長変
動と無関係にすることができる。
すなわち実施例では、プリズム2から出て静止
プリズム3を介して再度プリズム2の点7迄のビ
ーム22,24の光路長は、レーザ光線の波長λ
の偶数倍に設定されている。その結果、点7の箇
所で、移動可能な物体12がλ/2動く毎に光りの
増幅と減衰が周期的に行われる。つまり、光路長
22,23,24は光路長21,6,23にたい
し基準長となつている。もし、周囲気圧、温度、
湿度等の環境条件の変化によつてレーザ光線の波
長が幾らか長くなり、λ1となつたと仮定する
と、光路長22,3,24は波長の偶数倍となる
ために幾らか長く設定されなければならない。こ
のように、レーザ光線の波長が変化した時でも常
に波長の1/2の移動毎に光りの増減が行われる様
にするため、波長変動に応じて基準となる光路長
の調整を行うというのが本発明の要旨である。本
発明によると、長くなつた波長λ1に対応して光
路長22,3,24が波長λ1の偶数倍に調整さ
れるので、移動物体12のλ1/2の移動毎に光り
の増幅と減衰が周期的に行われる。制御ユニツト
9には実際の波長の情報が入力されているので、
光りの増減の回数をカウントすることにより、波
長変動にかかわりなく移動物体12の移動量が正
確に測定される。
もし、レーザ光の波長が、移動物体12が移動
途中の位置に有る時変化した場合、静止プリズム
3による光路長の補正が行われないとすると、光
路長22,3,24はもはやレーザ光の半波長の
整数倍とはならない。従つて、干渉点7での光の
増減の周期は移動物体12とプリズム2との間の
距離、即ち光路長21,6,23が波長の整数倍
でないときに発生することになる。このような場
合、干渉点7での光の増減を検出して波長の整数
倍として表されるプリズム2から移動物体12ま
での絶対距離を正確に決定することは不可能とな
る。補正を行わない場合は、移動物体12が途中
から移動した相対距離しか求めることができな
い。
このような問題を解決するために、本発明では
レーザ光の波長に変化が発生した時点で光路長2
2,3,24をレーザ光の半波長の整数倍に補正
するものである。この補正は移動物体12が静止
している時実行される。つまり、波長の変化量と
補正量との関係は予め電子ユニツト9に記憶され
ているので、環境変化から波長変化を検出した時
点で静止プリズム3の位置を波長変化量に対応し
た補正量で補正し、光路長22,3,24をレー
ザ光の半波長の整数倍になるように再調整すれ
ば、干渉点7での光の増加や減少を検出する度に
移動物体12とプリズム2との正確な距離を半波
長の整数倍として計算でき、移動物体12の定め
られたスタート位置からの正確な絶対距離を求め
ることが可能となる。
また、本発明はレーザ光を利用した距離測定装
置の較正装置として用いることもできる。
移動物体12が定められたスタート位置に有
り、レーザ光の波長が公称値に有る時、光路長2
1,6,23が半波長の整数倍となり、同時に光
路長22,3,24も半波長の整数倍となるよう
に各部の位置が定められている。このため、光路
長21,6,23と光路長22,3,24との光
路差が半波長の整数倍となり、干渉点7での光の
輝度は最大または最小になる。ここで波長が変化
すると干渉点7での光の輝度が変化するので、計
測の際の原点での輝度条件が変わり、干渉点7で
の光の増減を単純にカウントするだけでは正確な
絶対距離測定が行えなくなる。
従つて、移動物体12が定められたスタート位
置に有る時、静止プリズム3の位置を調整して波
長変化に対応して光路長22,3,24の補正を
行い、干渉点7での光の輝度を再度、波長が変化
する前と同じにすれば計測の原点条件は同じにな
るので、移動物体12が移動する時、干渉点7で
の光の増減をカウントし、予め判つている1波長
の長さを乗じれば正確な絶対移動距離を測定でき
ることになる。
以上説明したように、本発明による静止プリズ
ム3位置を変化させて波長変化に応じて光路長の
補正を行う機構は、簡単な調整機構にもかかわら
ず、レーザ光線の波長が変化しても常に精密な測
定を可能とする点において極めて大きな効果をも
たらすものである。
図面はこのような補正装置の一実施例を示して
いる。
この実施例では、静止プリズム3が静止電磁石
5と協働するアームチユア4に取り付けられてい
る。かかる静止プリズム3の移動量は極めて小さ
く1ないし数ミクロンあれば波長変化に対応して
光路長を充分補正できる。したがつて、アームチ
ユア4の一端4aは締結され他端4bは自由端を
なし、この自由端に電磁石5が作用する。上記両
端のほぼ中央に静止プリズム3が取り付けられ
る。アームチユア4は弾性金属シートからなる。
したがつて、電磁石5の巻線5′に流す電流を調
整することによつてアーマチユア自由端4bの電
磁石5に対する距離が調整されて静止プリズム3
のビーム分割プリズム2に対する距離が調整され
る。
制御ユニツト9は公知の種類のもので、その出
力25に、レーザ波長変化に相当する出力信号を
送出する。次にこの信号は増幅器26で増幅され
電磁石5の巻線5′に供給される。
気圧や温度や湿度のような気象要素に応じて光
路長補正を行う場合、制御ユニツト9の各入力2
7,28,29にはこれらの要素のそれぞれを表
わす電気信号が供給される。これらの要素を表わ
す信号を発生する変換器30,31,32は公知
の種類のものでよく、各変換器は前記要素の一つ
を表わす電気信号を送出する。制御ユニツト9は
公知の適当なマイクロコンピユータ(図示せず)
のようなメモリおよび計算ユニツトを含む。メモ
リには各気象要素のレーザ波長に与える影響の程
度に関する情報が記憶されている。変換器30,
31,32が制御ユニツト9へ信号を送出する
と、該ユニツトはこれらの信号とメモリに記憶さ
れている各要素の波長への影響の値とを比較して
から計算を行つて、その出力25に気象要素のレ
ーザ波長への影響を反映した補正信号を出力す
る。
上述のように出力25の信号は増幅されこれに
伴い電磁石5はアームチユア4の位置と一緒に静
止プリズム3の位置に影響を与えるので補正を行
うことができる。
このように本発明の補正装置は極めて簡易であ
るがその闇易性にかかわらず静止プリズム3をか
なり精密に移動できる。もちろん、アームチユア
に影響する信号を発生するために制御ユニツト9
は上記とは異なる構造、機能を有するようにでき
る。
制御ユニツト9をどのような構造とするかは本
発明の主要部ではないのでその詳細な説明は省略
する。
補正装置が上記とは異る種類の制御ユニツトに
より制御してもよいことはもちろんである。例え
ば機械系への熱的影響あるいは電子回路での遅れ
の影響のような他の要素を制御ユニツトが走査
し、その出力に静止プリズム3を移動させるため
の信号を発生して測定精度への前記要素の影響を
補正するようにすることができる。
補正装置4,5は電気信号に応答して補正を行
うよう構成される。
補正装置の他の実施例では、電磁石5とアーマ
チユア4を公知の圧電装置に代え、この電圧装置
に電圧を印加することによつて静止プリズム3の
位置を変化させる。
このような変更例も本発明に含まれるものであ
る。
本発明は上述のような実施例に限定されず本発
明の請求の範囲を逸脱しない範囲で種々と変更し
得る。
【図面の簡単な説明】
図は本発明が適用されたレーザ干渉計の構成図
である。 1…レーザ、2…ビーム分割プリズム、3…静
止プリズム、4…アーマチユア、5…電磁石、
5′…巻線、6…プリズム、7…干渉点、8,
9′…分割重畳ビーム、9…制御ユニツト、10
…検出器、11…位置記録計、12…移動物体、
21…分割ビーム、22…分割ビーム、23,2
4…反射ビーム、25…出力、26…増幅器、2
7,28,29…入力、30,31,32…変換
器、4a…一端、4b…他端。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 レーザ1と、移動可能な物体に固定されたプ
    リズム6と、ビーム分割プリズム2と、静止プリ
    ズム3を備えて距離測定等に用いられるレーザ干
    渉計用補正装置であつて、該補正装置には前記静
    止プリズム3が固定され、且つ該補正装置には、
    制御ユニツト9から該補正装置へ送出される電気
    信号に応答し、前記レーザの波長変動に対応して
    前記静止プリズム3の位置を変化させ得る装置
    4,5を具備したことを特徴とするレーザ干渉計
    用補正装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
    て、前記静止プリズム3の位置を変化させ得る装
    置は一端4aが締結され他方の自由端4bに電磁
    石5が作用する構成の弾性アーマチユアを備え、
    前記静止プリズム3がこのアーマチユア4に取り
    付けられ、該電磁石5に前記電気信号が供給され
    てなることを特徴とするレーザ干渉計用補正装
    置。 3 特許請求の範囲第1項または第2項に記載の
    装置において、前記制御ユニツト9は周囲気圧、
    温度および湿度のレーザ光波長への影響に応答し
    て前記電気信号を発生して気象要素に起因するレ
    ーザ光波長の変動に対応して前記静止プリズム3
    の位置を補正することを特徴とするレーザ干渉計
    用補正装置。
JP5043681A 1980-04-03 1981-04-03 Compensator Granted JPS5710403A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8002604A SE445778B (sv) 1980-04-03 1980-04-03 Kompensationsanordning vid en laserinterferometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5710403A JPS5710403A (en) 1982-01-20
JPH0216442B2 true JPH0216442B2 (ja) 1990-04-17

Family

ID=20340687

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5043681A Granted JPS5710403A (en) 1980-04-03 1981-04-03 Compensator

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4385835A (ja)
JP (1) JPS5710403A (ja)
FR (1) FR2479974B1 (ja)
GB (1) GB2073414B (ja)
SE (1) SE445778B (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2558598B1 (fr) * 1984-01-20 1986-06-20 Commissariat Energie Atomique Interferometre de vitesse a sensibilite continument variable
JPS60253945A (ja) * 1984-05-31 1985-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 形状測定装置
US4884697A (en) * 1988-06-21 1989-12-05 Takacs Peter Z Surface profiling interferometer
US5239366A (en) * 1992-02-12 1993-08-24 Huges Aircraft Company Compact laser probe for profilometry
JP4032841B2 (ja) * 2002-06-21 2008-01-16 株式会社島津製作所 二光束干渉計の固定鏡調整方法
DE102005046605A1 (de) * 2005-09-29 2007-04-05 Robert Bosch Gmbh Interferometrische Messeinrichtung
DE102006001732A1 (de) * 2006-01-13 2007-07-19 Robert Bosch Gmbh Interferometrische Messvorrichtung
US20100020331A1 (en) * 2008-07-25 2010-01-28 Micronic Laser Systems Ab Laser interferometer systems and methods with suppressed error and pattern generators having the same
US10545016B2 (en) * 2016-08-18 2020-01-28 Nec Corporation Light measurement device and optical axis adjustment method
WO2019098005A1 (ja) * 2017-11-16 2019-05-23 日本電気株式会社 光測定装置及び光測定方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3520613A (en) * 1966-11-14 1970-07-14 Optomechanisms Inc Interferometer with environmental correction computer
US3809481A (en) * 1972-12-01 1974-05-07 Nasa Single reflector interference spectrometer and drive system therefor
US4053231A (en) * 1975-12-18 1977-10-11 Nasa Interferometer mirror tilt correcting system

Also Published As

Publication number Publication date
US4385835A (en) 1983-05-31
FR2479974A1 (fr) 1981-10-09
FR2479974B1 (fr) 1986-08-08
GB2073414A (en) 1981-10-14
GB2073414B (en) 1984-02-15
SE445778B (sv) 1986-07-14
SE8002604L (sv) 1981-10-04
JPS5710403A (en) 1982-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5657405A (en) Optical fiber sensor for measuring pressure or displacement
US5541730A (en) Interferometric measuring apparatus for making absolute measurements of distance or refractive index
KR940006316A (ko) 파장측정장치 및 이를 탑재한 레지어장치
US5276501A (en) Fabry-Perot readout technique using wavelength tuning
JPH0216442B2 (ja)
JPH01502296A (ja) 干渉計方式で長さを測定するレーザ干渉測距計
US4488813A (en) Reflectivity compensating system for fiber optic sensor employing dual probes at a fixed gap differential
JP2561861B2 (ja) 組合わされたスケールと干渉計
US4655597A (en) Micro-displacement measuring apparatus using a semiconductor laser
US5929989A (en) Optical pressure detection method and apparatus
US5392120A (en) Dual interferometer measuring system including a wavelength correction resulting from a variation in the refractive index
US5793487A (en) Optical interference system for performing interference measurement using wavelength
JPH0781884B2 (ja) 光学式変位測定装置
US3520613A (en) Interferometer with environmental correction computer
JPH04366711A (ja) 変位検出装置
RU45528U1 (ru) Оптический измеритель давления
US3658425A (en) Electromechanical feedback device for fine control of a platform position
EP4242577A1 (en) Optical interference range sensor
JPH0342401B2 (ja)
JPH0244219A (ja) 波長検出装置
SU376653A1 (ru) Устройство для измерения перемещения объекта
JPH07270114A (ja) 光路長変動測定装置
JP2810194B2 (ja) 干渉光学系及びそれを備えた露光装置
SU1010459A1 (ru) Устройство дл измерени малых длин и перемещений
JPS63131004A (ja) レ−ザ測長装置