JPH02163660A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPH02163660A
JPH02163660A JP31839888A JP31839888A JPH02163660A JP H02163660 A JPH02163660 A JP H02163660A JP 31839888 A JP31839888 A JP 31839888A JP 31839888 A JP31839888 A JP 31839888A JP H02163660 A JPH02163660 A JP H02163660A
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JP
Japan
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sample
analysis
module
analysis module
items
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Pending
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JP31839888A
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English (en)
Inventor
Nobuchika Ishibashi
養親 石橋
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Priority to DE3934890A priority patent/DE3934890A1/de
Publication of JPH02163660A publication Critical patent/JPH02163660A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自動分析装置、特に各々が1つまたは複数の項
目を分析することができる自動分析モジュールを複数配
置し、順次の試料をこれら自動分析モジュールを経て搬
送する間に自動分析モジュールが試料を選択的に採取す
るようにした自動分析装置に関するものである。
〔従来の技術〕
上述した形式の自動分析装置は、例えば、実公昭53−
8544号公報に開示されており、既知である。
この既知の自動分析装置においては、2〜8台の分析モ
ジュールを直列的に配列し、分析すべき試料を収容した
試料容器を順次試料通過径路を経て搬送し、各試料に対
して予め指定された項目を分析し得る分析モジュールが
試料の1部を採取し、分析が開始されてから、試料容器
は次の分析モジュールへ移される。試料容器の搬送には
通常コンベアベルトが用いられている。1つの分析モジ
ュールは一般に4〜12項目の分析を行なうことができ
るので、自動分析装置全体としては20〜30項目の分
析を行えるようにしたものが一般的である。
一方、各試料に対する分析要求項目は試料毎に異なるが
、一般に全分析可能項目数の50〜60%である。換言
すると、分析可能項目の50〜40%は分析されないた
め、ある分析モジュールでは分析する必要のない試料も
出てくるが、これら分析を要求しない試料も、分析を要
する試料と同じように順次分析モジュールを通過させる
ようにしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述したように、従来の自動分析装置においては、ある
分析モジュールでは分析の必要がない試料であるにも拘
らず、順次分析モジュールを通過させているので、この
試料が通過している間は、その分析モジュールは分析を
休んでいることになり、その結果全体として見た場合に
、1項目当りの処理時間が長くなる欠点があった。特に
、1項目等少数の項目しか分析しない試料が多い場合に
は上述した欠点は顕著に現れることになる。
本発明は、自動分析装置の処理能力の向上を図ることを
目的としたものである。
(課題を解決するための手段および作用〕本発明は、上
記問題点を解決するために各々が1つまたは複数の項目
を分析する自動分析モジュールを複数台配置し、これら
自動分析モジュールを経て通過する試料容器から試料の
一部を選択的に採取して分析を行なうようにした自動分
析装置において、各分析モジュールを並列的に設け、試
料容器を所要の分析モジュールに送り込む試料分配手段
と1つの分析モジュールから試料採取後に送り出された
試料容器を他の分析モジュールに送り込む試料循環手段
を設けたものである。
本発明の自動分析装置においては、分析の必要のない試
料は分析対象外試料通過径路を搬送されるので分析モジ
ュールが休止しているようなことばなく、その後に続く
分析の必要のある試料を分析対象試料通過径路に送り込
んで分析を行なうことができる。さらに、一つの試料を
複数の分析モジュールで分析する必要がある場合は、試
料循環手段を介して所要の他の分析モジュールに送り込
んだことにより必要な項目の全てを効率よく分析できる
。このような本発明の自動分析装置においては、分析モ
ジュールで分析される試料の順番は試料送出装置から送
出される試料の順番とは異なる場合もあるが、各試料容
器がどの位置にあり、どの試料がどの分析モジュールで
分析されているのかを制御装置は知ることができるので
、分析結果と試料との対応関係を付けることができる。
〔実施例〕
第1図は本発明による自動分析装置の一実施例の原理的
構成を示す線図である。本実施例では2台の自動分析モ
ジュール1および2を試料の搬送方向に見て並列的に配
置しである。今、第1の分析モジュール1は項目A−D
を分析できるものとし、第2の分析モジュール2は項目
E−Hを分析できるものとする。それぞれ分析すべき試
料を収容した多数の試料容器を保持し、これらの試料容
器を1個づつ共通径路6に送出することができる試料送
出装置4を設ける。この共通径路6上に送出された試料
容器は第1の試料分配装置7に送られる。この第1の試
料分配装置7は、試料について予め指定された分析項目
が第1分析モジュール1において分析するものである場
合には当該試料容器を第1分析モジュール試料通過径路
8に送出し、この試料についての分析項目が第1分析モ
ジュール1で分析する項目を含んでいない場合及び分析
項目が第1.第2両方の分析モジュールに含まれ、かつ
第1分析モジュールが試料処理中で第2分析モジュール
が試料待ちの場合には第2分析モジュール試料通過径路
9に送出する。
第1分析モジュール試料通過径路8に送出された試料容
器は第1分析モジュール1の試料採取位置P1に送られ
、ここで−旦停止される。第1分析モジュール1に設け
られた試料採取装置によって当該試料の一部が採取され
、反応容器に分注され、分析が開始される。分析が開始
されると試料容器は採取位置P、からさらに前進させら
れ、共通径路13、試料整列装置11を経て第2の試料
分配装置12に供給される。一方、第2分析モジュール
試料通過径路9を経て搬送される試料は第1分析モジュ
ール1で分析する必要がないものは直ちに試料分配装置
12へ送られる。
第1分析モジュール1を経て第2の試料分配装置へ送ら
れてきた試料がさらに第2分析モジュール2で分析する
項目も含んでいる場合には、試料一 循環径路15を通り前記試料整列装置5を経て、再び前
記第1の試料分配装置7に送られここから第2分析モジ
ュール2に送られる。
一方、第2の試料分配装置12へ送られてきた試料が第
2分析モジュール2で分析する項目を含んでいない場合
には、共通径路13を通り試料受取装置14へ送られる
。このように第2の試料分配装置12は、通過する試料
を分析完了試料と分析未完了試料とに選別し、分析未完
了試料は試料循環径路15を介して試料整列装置5に送
り返す分配作業を行なうのである。
先に第2分析モジュール試料通過径路9に送られた試料
容器は第2分析モジュール2の試料採取位置P2に位置
出しされ、ここで所定量の試料が採取され、分析が開始
される。第2の試料分配装置12に送られ、全分析項目
の完了か否かによって次の径路を決められる。上述した
総ての装置の動作を制御する制御装置16を設ける。こ
の制御装置16には各試料について予め指定された分析
項目を記憶しておくとともに各試料容器が現在どの位置
にあるのかを知ることができるようになっている。
これは、各試料容器にIDマークを設けておき、これを
読取るようにしてもよいし、予め試料送出装置4にセッ
トされている試料の順番を記憶しておくようにしてもよ
い。また、第1および第2の分析モジュール1および2
で得られた分析結果は制御装置16に供給し、制御装置
ではこれらの分析結果がどの試料のものであるかを対応
付けして記憶し、適当なタイミングで出力するようにす
る。
次に、第1図に示した自動分析装置の試料送出装置4に
セットされた試料がどのように処理されるのかを説明す
る。今、試料送出装置4にセットされた試料には次の表
に示すような分析項目が指定されているものとする。
先ず第1の試料が試料送出装置4から共通径路6に送り
出され、試料分配装置7に供給される。
この第1試料に指定された分析項目はA、  C,Dで
あり、これらは第1分析モジュール1の分析項目である
から、第1試料は第1分析モジュール試料通過径路8に
送り込まれ、試料採取値?ic p +に位置決めされ
、ここで項目A、C,Dを分析するための試料分注が行
なわれる。この間に第2の試料が試料分配装置7に供給
されるが、この第2試料に指定された分析項目はF、 
Gであり、これは第2分析モジュール2での分析項目で
あるので第2分析モジュール試料通過径路9に送り込ま
れ、試料採取位置P2に位置決めされ項目F、Gを分析
するための試料が採取される。この間に第1分析モジュ
ール1における第1試料の採取は終了し、第1試料は直
ちに第2の試料分配装置12に送られる。第1試料のう
ち分析に指定された試料は全て採取完了であるので、共
通径路13を経て試料受取装置14に供給される。第1
試料が第1分析モジュール1で採取され、第2試料が第
2分析モジュール2で採取されているとき、第3試料が
試料送出装置4から送り出され、第1の試料分配装置7
に供給される。この第3試料の分析項目はA、 B。
Eとなっているので、第1分析モジュール試料通過径路
8に送り込まれ、試料採取値WPIに位置決めされ、項
目A、Bを分析するための試料が採取される。この間分
析モジュール2における第2試料の採取は完了し、第2
試料は第2の試料整列装置11および試料分配装置12
を経て試料受取装置14に供給され、ここに収納される
第1分析モジュール1において項目A、Bの分析に必要
な第3試料が採取された後、この第3試料は第2の試料
分配装置12に供給される。この第3試料に指定された
分析項目は第2分析モジュール2での分析項目Eを含ん
でいるので、この第3試料は第2の試料分配装置12に
より試料循環径路15を通り、第1の試料整列装置5に
戻され次の試料列に入った後、第1の試料分配装置7に
より第2分析モジュール試料通過径路9に送り込まれる
試料採取位置P2において項目Eを分析するのに必要な
試料が採取された後、第2の試料整列装置11および共
通径路12を経て試料受取装置14に供給され、ここに
収納保持される。
このようにして、順次の試料を予め指定された分析項目
に応じて必要な分析モジュールにのみ送り、不要な分析
モジプ、−ルには送らないことにより、各分析モジュー
ルでの待ち時間を極力減らすことができ、処理能力を大
幅に向上することができる。
第2図は、本発明の第2実施例にかかるもので、第1実
施例と対応する個所には同一符号を付した(以下の実施
例についても同し)。本実施例では分析モジュールを3
台としたもので、試料分配装置7で試料容器を第1分析
モジュール通過径路8、第2分析モジュール通過径路9
、第3分析モジュール通過径路10へ切換えて試料の分
析を行なえるようにしている。このようにすることによ
り、分析項目を3台の分析モジュールに分散させること
ができ、試料循環径路15を通ってきた試料、試料送出
装置4から送り出され試料分配装置7に供給された試料
を選択的に送り込むことができ試料の分析を同時に効率
的に分析でき、処理能力をより向上できる。
第3図は、本発明の第3実施例を示したもので、本実施
例では共通径路6を通ってきた試料容器を試料分配装置
で各分析モジュールへ切換える場合、それぞれ専用の試
料分配装置を用いるようにしている。すなわち、第1分
析モジュール1への切換えは試料分配装置7で、第2分
析モジュール2への切換えは試料分配装置18で行なう
のである。
他の分析項目を含んでいる場合に試料循環径路15を通
るように試料容器を送り込むのは前記試料分配装置12
であり、11.、17は試料の分析後、試料を試料分配
装置12へ送り込む際に通過する試料整列装置である。
本実施例のように分析モジュールを配設すると、スペー
ス利用の効率がよく自動分析装置の大型化を避けるため
に有利となろう。
〔発明の効果〕
上述したように本発明によれば一つまたは複数の項目を
分析する分析モジュールを複数有する自動分析装置にお
いて、各分析モジュールを並列的に配置するとともに試
料容器を所要の分析モジュールに送り込む試料分配手段
と一つの分析モジュールから試料採取後、送り出された
試料容器を他の分析モジュールに送り込めるようにした
試料循環手段を設け、各試料容器をその試料について予
め指定されている分析項目を分析できる分析モジュール
に選択的に送り込み、指定された分析項目を分析できな
い分析モジュールには送り込まないことによって、処理
能力を向上することができる。
この場合、全ての試料について全項目を分析するように
指定するときは処理能力の向上は得られないが、上述し
たように実際の分析においては各試料について指定され
る分析項目は平均的に見て全分析項目の50〜60%程
度であるから、本発明により相当大巾な効率化が期待で
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による自動分析装置の第1実施例の構成
を示す線図、 第2図は同じく第2実施例の構成を示す線図、第3図は
同じく第3実施例の構成を示す線図である。 1.2・・・分析モジュール 4・・・試料送出装置   5,11・・・試料整列装
置8.9・・・分析モジュール試料通過径路7.12・
・・試料分配装置 14・・・試料受取装置15・・・
試料循環径路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、各々が1つまたは複数の項目を分析する自動分析モ
    ジュールを複数台配置し、これら自動分析モジュールを
    経て通過する試料容器から試料の一部を選択的に採取し
    て分析を行なうようにした自動分析装置において、 各分析モジュールを並列的に設け、試料容 器を所要の分析モジュールに送り込む試料分配手段と1
    つの分析モジュールから試料採取後に送り出された試料
    容器を他の分析モジュールに送り込む試料循環手段を設
    けたことを特徴とする自動分析装置。
JP31839888A 1988-10-20 1988-12-19 自動分析装置 Pending JPH02163660A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31839888A JPH02163660A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 自動分析装置
US07/422,597 US5087423A (en) 1988-10-20 1989-10-17 Automatic analyzing apparatus comprising a plurality of analyzing modules
DE3934890A DE3934890A1 (de) 1988-10-20 1989-10-19 Automatisches analysegeraet

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31839888A JPH02163660A (ja) 1988-12-19 1988-12-19 自動分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02163660A true JPH02163660A (ja) 1990-06-22

Family

ID=18098712

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31839888A Pending JPH02163660A (ja) 1988-10-20 1988-12-19 自動分析装置

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JP (1) JPH02163660A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0399269A (ja) * 1989-09-13 1991-04-24 Shimadzu Corp 自動分析装置
JP4828021B2 (ja) * 1998-03-12 2011-11-30 アボット・ラボラトリーズ 配分方法
JP2013068453A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Tosoh Corp 自動分析装置
WO2023042721A1 (ja) * 2021-09-15 2023-03-23 株式会社日立ハイテク 自動分析装置および自動分析システム

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