JPH02150369A - 走査式描画装置の描画面調整機構 - Google Patents

走査式描画装置の描画面調整機構

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JPH02150369A
JPH02150369A JP63304780A JP30478088A JPH02150369A JP H02150369 A JPH02150369 A JP H02150369A JP 63304780 A JP63304780 A JP 63304780A JP 30478088 A JP30478088 A JP 30478088A JP H02150369 A JPH02150369 A JP H02150369A
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祐二 松井
Takashi Okuyama
隆志 奥山
Toshitaka Yoshimura
吉村 利隆
Hidetaka Yamaguchi
山口 秀孝
Yasushi Ikeda
池田 安
Jun Nonaka
純 野中
Tamihiro Miyoshi
民博 三好
Mitsuo Kakimoto
柿本 光雄
Masatoshi Iwama
正俊 岩間
Hideyuki Morita
森田 英行
Satoru Tachihara
立原 悟
Rei Morimoto
玲 森本
Akira Owaki
大脇 明
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
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  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Variable Magnification In Projection-Type Copying Machines (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、レーザープロッター等のレーザー光走査に
よって描画を行う走査式描画装置の描画面調整機構に関
するものであり、より詳細には光学系に対して描画対象
を離反、接近、あるいは傾動させることができる描画面
調整機構に関するものである。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題]従来の
レーザープロッタは、比較的精度の緩い描画を対象とし
ており、描画の最小線幅を決定するスポット径は30μ
m程度であった。
より高精度微小線幅の描画を実現するためには、スポッ
トを絞るために走査レンズの焦点距離をより短く設定す
る必要がある。
しかし、この場合走査レンズの焦点深度が浅くなるため
、描画対象(ワーク)が光学系に対して上下方向に変位
した場合には描画面全体が焦点深度外となることが考え
られ、また、描画面が傾斜している場合には一走査範囲
内の一部が焦点深度外となる場合も考えられ、何らかの
検出、補正手段が必要となる。
但し、大型の走査式描画装置においては、−走査内で描
画面を上下動して各走査位置での合焦を図ることは困難
であるため、−走査内では一定の位置を保つよう設定す
ることが望ましい。
また、描画面のうねり等がある場合にも、−回の走査幅
内でのワークの高度差が焦点深度内にあれば描画に支障
はないため、描画板部が水平な状態での高度差が範囲外
となる場合であっても、描画板部を傾斜させることによ
り、この走査幅内での高度差を前記の範囲内とできる場
合がある。
[発明の目的] この発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、
描画面の上下方向への変位、あるいは、−走査幅内での
うねりがある場合にも、描画面を走査レンズの焦点深度
内に収めることができる描画面調整装置を提供すること
を目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明は上記の目的を達成させるためになされたもの
であり、光束を一方向に走査させる走査光学系の走査対
象物がa置される描画板部と、描画板部と走査光学系・
とを光束の走査方向に対して直交する方向に相対的にス
ライドさせる搬送手段と、走査方向に離間して設けられ
、それぞれ描画板部の一側を光束の入射方向に沿って移
動させる第1、第2の駆動機構と、第1、第2の駆動手
段の駆動量を異ならせて描画板部を搬送手段に対して傾
斜させる傾動制御手段と、第1、第2の駆動手段の駆動
量を等しくして描画板部を搬送手段に対して平行移動さ
せる平行移動制御手段とを備えることを特徴とする。
[実施例〕 以下、この発明に係る描画面調整機構を、ハロゲン化銀
感光材料に対して精密パターンを描画するレーザーフォ
トプロッタに適用した実施例を説明する。まず、第1図
〜第3図に従って装置全体の概略構成を説明する。
この装置は、Xテーブル100及びYテーブル200が
設けられた本体1と、この本体1の長手方向の両端に設
けられた支柱2,3によってテーブルの上方に固定され
た光学ヘッド部4とから概略構成されている。
Xテーブル100は、本体1のキャビネット部に対して
一方向にスライド自在に設けられ、X方向用DCモータ
101によりボールネジ)02を介して駆動される。
Yテーブル200は、このXテーブル100上に設けら
れたがイドレールに沿ってスライド自在に設けられ、y
方向DCモータ201によりボールネジ202を介して
駆動される。
また、YテーブルLに設けられた描画板部300は、第
3図に示すように3箇所に設けられたAF駆動部310
.320,330により」二下動、傾動可能に支持され
ている。
光学ヘッド部4には、走査光用レーザー400から発す
るビームを偏向させるポリゴンミラー450及びこのポ
リゴンミラー450で反射されたビームを描画面上に収
束させるfθレンズ500等の走査光用の光学素子が設
けられている。
また、テーブルの正確な位置出のため、レーザー測長器
が設けられている。レーザー測長器は、測長用レーザー
460からの光束を2分してYテーブル200に固定さ
れたX軸ミラ一部470、y軸ミラ一部480で反射さ
せ、この反射光を受光して各テーブルの移動量を測定す
る公知の構造である。
ポリゴンミラー450は、光学ヘッド部4の端部に設け
られたスピンドル部451に固定され、描画板部300
に対して垂直な面内で回転自在とされている。
従来のベクター描画装置においても、上記と同様にx−
yテーブルを用いて描画を行っていたが、ビームの方向
が固定されていたため2軸の動作が全て機械的であり、
描画スピードが遅かった。
この改良としてテーブルを1@駆動として一方向のみに
スライドさせ、光学ヘッドを走査式光学系としてラスタ
ースキャンによる描画を行うシステムが存在する。
しかし、従来のラスタースキャン装置は比較的精度の緩
い描画を対象としており、描画の最小線幅を決定するス
ポット径は30μm程度であった。より高精度の描画を
目的とする場合には、スポットを絞るために走査レンズ
の焦点孔間を短く設定し、Fナンバーを明るくする必要
がある。
但し、この場合走査角度が従来と同一であれば走査幅は
小さくなり、焦点深度も浅くなる。
そこで、この実施例の装置では描画面の主走査方向の幅
を一回の走査でカバーせずにこれを複数のレーンに分割
し、複数回の走査によって主走査方向の幅全体に描画で
きるようテーブルの駆動方式を2軸としている。但し、
基本的にはラスタースキャン方式であるため従来のベク
タースキャン装置のような、テーブルの両方向の駆動は
必要なく、描画時の駆動は両軸とも一方向のみとしてロ
ストモーションの影響を除去している。
また、焦点深度が浅くなる問題は、AF機構を設けて描
画板部300を光学ヘッド部4に対して上下動作せて常
に適切な位置となるようft制御することで解決してい
る。
基本的な動作としては、固定された光学ヘッド部4に対
し、Xテーブル100を移動させつつスポットを走査し
て描画を行い、所定の走査幅でX方向の走査が終了する
と、Yテーブル200を走査幅分移動すると共にXテー
ブル100を書き切砕と同一位置に戻し、再びXテーブ
ル100を移動させつつ描画を行う。
ここでX、Yテーブルの構成について詳細な説明を行う
Xテーブル100は、第4図〜第6図に示したように、
中央に設けられてX軸モータ101の駆動力が直接伝達
されるマスターテーブル110と、その周囲にマスター
テーブルと同一方向にスライド自在に設けられ、かつ4
枚の板バネ130,131,132.133(第5図参
照)により連結されたワークテーブル150とから二重
構造として構成されている。
マスターテーブル110には、第4図及び第5図に示す
ように本体1上に設けられたメインレール1aに側方か
ら当接してテーブルのスライド方向を規定する4つの水
平ローラ111,112,113,114と、メインレ
ールlaに上方から当接してマスターテーブル110の
自重を受ける垂直ローラ115.11[1,117,1
18とが設けられている。また、マスターテーブル11
0には、ボールネジ102が螺合するナツト120が固
定されており、X軸モータ101の回転に伴ってマスタ
ーテーブル110にX軸方向への駆動力を発生させる。
各水平ローラは、マスターテーブル110の4隅に固定
された支持板121,122,123,124によって
支持されており、メインレール1aを挟んで対向する支
持板どうしは、第5図に示した板状の補強部材125に
よって連結されている。
他方、ワークテーブル150には、メインレール1aに
側方から当接してテーブルのスライド方向を規定する4
つの水平ローラ151,152,153,154と、本
体lにメインレールを挟んで両側に設けられたサブレー
ルlb、 lcに上方から当接してワークテーブル15
0の自重を受ける垂直ローラ155,156,157,
158とが設けられている。
ワークテーブル150の各水平ローラは、三角形の補強
板が設けられたアングル160,161,162,1f
13によって支持されている。
更に、ワークテーブル150上には、Yテーブル200
を支持するためのメインレール170及びサブレール1
71,172が、本体1上の各レールとは直交する方向
に設けられている。
上記のような構成によれば、マスターテーブル110に
対して加えられたX軸モータ201の駆動力が、4枚の
板バネ130,131,132,133を介してワーク
テーブル150に伝達され、ワークテーブル150がス
ライドすることとなる。
板バネは、スライド方向には剛性を有するよう配置され
ているため、マスターテーブル110が受けるスラスト
方向の力はワークテーブル150にそのまま伝達される
。しかしながら、スライド方向と直交する方向には弾性
を有しているため、マスターテーブル110がラジアル
方向の分力によってヨーイングを起した場合にも、板バ
ネがこのヨーイングを吸収し、ワークテーブル150に
はスラスト方向の力のみが伝達されることとなる。
従って、電気的な補正手段等を用いなくともワークテー
ブル150のヨーイングを効果的に抑制することができ
、精密描画を行なう場合のテーブルの移動誤差に基づく
影響を簡単な構成で除去することができる。
第7図は、Yテーブル200を示したものである。Yテ
ーブル200の構成も、上記のXテーブル100と基本
的に同様であり、マスターテーブル210とワークテー
ブル250とが4枚の板バネ230,231,232,
233を介して連結されている。
マスターテーブル210には、Xテーブル100のワー
クテーブルt50kに設けられたメインレール170に
側方から当接してテーブルのスライド方向を規定する4
つの水平ローラ211.212,213,214と、メ
インレール170に」:方から当接してマスターテーブ
ル210の自重を受ける垂直ローラ215,216,2
17,218とが設けられている。また、マスターテー
ブル210には、ボールネジ202が螺合するナツト2
20が固定されており、Y軸モータ201の回転に伴っ
てマスターテーブル210にY軸方向への駆動力を発生
させる。
他方、マスターテーブル210を囲んで設けられたワー
クテーブル250には、Xデープル100のメインレー
ル170に側方から当接して自身のスライド方向を規定
する4つの水平ローラ251,252,253,254
と、Xテーブル100上に設けられたサブレール171
.1’72に上方から当接してワークテーブル250の
自重を受ける垂直ローラ255,256,257,25
8とが設けられている。
また、ワークテーブル250は中央に開[−1260を
有するフレーム状であ・す、スライド方向と直交する方
向に沿う一側には第1AF駆動部310が設けられ、開
口260を隔てて反対側には、第2、第3AF駆動部3
20.330が設けられている。
描画板部300は、第8図に示したように一端側では第
1^F駆動部310のボールネジ311の先端に円柱形
の付当部材340を介して一点で当接すると共に、他端
側では同一信号で制御される第2、第3AF駆動部32
0.330により平行な状態で上下駆動される垂直移動
片350に対して2つの軸受は部材360を介して揺動
自在に取り付けられている。
なお、第2、第3AF駆動部を同一信号で制御すること
として描画板部の傾動方向を1軸のみとしたのは、光束
の走査方向に関しては描画面の傾きがfθレンズの焦点
深度との関係で問題となるが、副走査方向に関しては多
少傾斜しCいたとしても一走査内では問題とならず、描
画面のスライドに伴って描画面全体を上下動させること
により解決できるからである。
第1AF駆動部310は、第7図及びそのIX−IX腺
断面図である第9図に示したように、第1ACモータ3
12と、このモータの回転軸にカップリング312aを
介して接続されてギアボックス313内に設けられたウ
オームギア314と、ギアボックス313内に同軸で設
けられたウオームホイール315及び第1平ギア316
と、この第1平ギア316に螺合して回転可能な第2I
Pギア317とを備えている。ウオームホイール315
及び第1平ギア316が固定された回転軸315aは、
両端の単列玉軸受315b、315cを介してギアボッ
クス313に取り付けられている。
なお、第2平ギア317の回転軸は前述したようにボー
ルネジ311となっており、ワークテーブル250に固
定されたナツト318に螺合している。また、第1平ギ
アの厚さは、ボールネジの作用番ごよって第2平ギア3
17が−L下勤した場合にも噛合が外れないように上下
方向に余裕を持って設定されている。
ボールネジ311の先端にはクリップ311aが設けら
れており、当て付は部材340にはこのクリップ331
aが当接する球面部材341が単列玉軸受342により
回転自在に設けられでいる。
上記のような構成・によれば、第1ACモータ312を
駆動することによ−)てギアタリを介してボールネジ3
11を回転させ、モータ駆動量に応じて描画板部300
の一側の4−下動を行わせることができる。
さて、第3AP駆動部330は、第7図及びそのX−X
線断面図である第10図に示すとおり、第3ACモータ
331からの駆動力をカップリング331aを経てギア
ボックス333内のウオームギア334に伝達し、この
ギアに噛合するウオームホイール335及びこれと同軸
で設けられたml平ギア336を回転させる。そして、
この第1平ギア336に噛合する第2平ギア337を回
転させることにより、ナツト339と螺合するボールネ
ジ338を上下動させる。ボールネジ゛338の先端に
設けられたクリップ338aは、垂直移動片350に固
定された当て付は部材351の球面部材351aに当接
している。
また、ワークテーブル250からは、円柱状のリニアブ
ツシュ280が2本上方に突出して設けられており、こ
のリニアブツシュ280が垂直・移動片350の両端部
に固定されたシリンダ351内に摺動自在に嵌挿されて
いる。そして、上記の構成は第2^F駆動部320につ
いても全く同様であり、第2、第3ACモータの駆動に
より垂直移動片350がリニアブツシュにガイドされて
上下動することとなる。
更に、垂直移動片350と描画板部300とを接続する
軸受は部材360は、第7図の)iff−XI線断面図
である第11図及びその側面図である第12図に示した
通り、垂直移動片350に固定される固定板部361と
、この固定板部から垂直に立ち上げられた支持腕部36
1aと、回動軸362を保持して支持腕部361aに嵌
合するソケット部363と、回転軸に対して組合せアン
ギュラ軸受364を介して回動自在に設けられた回動部
材365と、この回動部材365と一体に取付けられて
描画板部350が固定される描画板支持部366とから
構成されている。なお、回動軸362は、両端からロッ
クナツト367により固定されている。
上述したような構成により、垂直移動片350と描画板
部300とが傾動可能に連結される。  次に、第3図
及び第13図に基づいて各光学素子の配列を説明する。
なお、第13図は第3図中の光学素子のみを抜き出して
概略的に示′した斜視図であり、付された符号は両図共
通である。
このフォトプロッタは、走査充用レーザー400から出
射するレーザー光を3本に分割し、その内の2本によっ
て描画面上に2つのスポットを形成し、残りの1本をス
ポットの正確な位置を検出するためのモニター光として
用いている。描画面上のスポットは、ポリゴンミラー4
50の回転によって隣接する走査ライン上を主走査方向
に所定間隔をおいて同時に走査する。
主走査方向の間隔を設けた理由は、@接する走査ライン
の間隔が精密描画を行うためにスポット径より小さく設
定されており、間隔を設けないと2つのスポットが端部
オーバーラップして干渉により描画性能を不安定なもの
とする虞があるからである。
なお、2つの光束を同一光路に合成するためには、2本
の光束の偏光方向を互いに直交させ、偏光ビームスプリ
ッタ−を用いて合成する構成が一般的であるが、上記の
ように1つの光源から発する光束を3つに分割し、再び
合成して同一の偏向器によって走査させるためには偏光
方向のみによる分割、合成では実現できない。
そこで、この光学系においては、描画用の光束とモニタ
ー用光束とを偏光を利用して区別し、2本の描画用光束
どうしは同一のレンズに対して異なる方向から入射させ
ることによって同一光路上に合成している。このような
合成方法が許容されるのは、前述したように描画用のス
ポットを主走査方向にずらして形成する構成を採用して
いるからである。
走査充用レーザー400から発したレーザー光は、シャ
ッター401を介して5%反射のハーフミラ−402に
より二分される。このハーフミラ−402で反射された
レーザー光はモニタ用光束LOとして利用される。
一方、ハーフミラ−402を透過したレーザー光はAO
変調器(超音波光学変調器)に対してS偏光として入射
するよう第1の1/2波長板403で偏光方向を901
回転され、50%0%反射0%透過の第1のビームスプ
リッタ−404で更に二分される。そして、分割された
2本の光束は、描画面上で離間する2つのスポットを形
成する描画用光束として用いられる。
第1のビームスプリッタ−404で反射された第1描画
用光束L1は、ビームベンダー405で反射され、レン
ズ406を介して第1描画用AO変調器407の位置に
集光する。
このAO変調器407は、ブラッグ条件を満たす方向か
ら入射するレーザー光をトランスデユーサ−への超音波
の入力により回折させるもので、入力される超音波を0
N10FFすること、により、し7ザー光を0次光と1
次光とに切り換えることができ、1次光を描画光束とし
て利用する。  AO変調器407は、描画面に対する
ドツト単位の露光情報である古き込み信号により制御さ
れる。
変調されたON光である1次光は、AO変調器407の
後方に設けられたレンズ408によって再び平行光束と
され、それぞれ2個のプリズムからなる第1、第2の光
軸微調部410,420により所定角度偏向され、ビー
ムベンダ−409の端部を僅かに外れて第ルンズ系43
0に入射する。
他方、第1のビームスプリッタ−404を透過した第2
描曲1用光束L2は、レンズ406°を介して収束光と
され、第2jlδ画用AO変調器407′に入射する。
  AO変調器407°の機能は、前記の第1描画用A
O変調器407と同様である。但し、この第2描画用A
O変調器407°を駆動する信号は、前記の第1描画用
AO変調器407に人力される信(Jとは1ライン分ず
れたラインを走査するための信号である。
第2描画用AO変調器407′を出射した1次光は、レ
ンズ408゛を通して2個のプリズムからなる第3光軸
微調部410°、ビームベンダー431、そして第4光
軸徹調部420°を介して所定角度偏向され、ビームベ
ンダー409の端部で反射されて第ルンズ系430に入
射する。
像面上で複数のスポットを微小量分離し、かつ各スポッ
トの収束性能を高く保つためには、各光束が微小角度を
有するように偏向器上で同一位置に合成される必要があ
る。
これを達成するため、角度、位置の微小設定、調整が必
要となるが−特に角度方向に対する誤差は像面上で倍増
されるため、厳しい精度が要求され、ミラーによる調整
では満足する精度を得ることができない。
そこで、この装置においては、光束の方向、シフト量を
微小なピッチで調整するために一部述したように1つの
光路につき2組の光軸微調部を設けている。同様の理由
から、モニター光LOに関しても第5、第6光軸微調部
410” 、420″″が設けられている。
そしてこの例では、第1、第2の描画用光束[,1,L
2は、その中心軸がfj−いに主走査方向に0.27”
  副走査方向に0.034″′の角度をもち、主走査
方向に3.8m、副走査方向に0.48mm離れた位置
から第ルンズ系430に入射するよう構成されている。
さて、上記の光束方向調整装置17420.420°を
出射した光束が入射する第ルンズ系430は、 r+−
4」の3枚構成による正レンズであり、入射するレーザ
ー光を収束させる。そして、この第ルンズ系430によ
る集光点より手前側に、ポリゴンミラー450の而倒れ
齋こよる影響を補正するための補正用AO変flll器
432が設けられている。
補正用AO変調器432を出射した描画用のレーザー光
は、 「+−」の2枚構成のリレーレンズ系433を透
過し、 「−町の2枚構成の第2レンズ系434に入射
する。
第2レンズ系434により再び平行光束とされた描画用
のレーザー光は、光量調整用のバリアプルフィルタ一部
435を透過すると共に、ビームベンダー436で反射
されて第1偏光ビームスプリッタ−437においてモニ
ター光と合成される。すなわち、ハーフミラ−402で
分割されたモニタ光LOは、ビームベン’/  438
 テ反M サh、第5、第6光軸ravI4部410”
420”によって所定角度偏向されると共に、ビームベ
ンダー439.440で反射されて第1偏光ビームスプ
リッタ−437にS偏光として入射し、反射される。
一方、2本の描画用光束は第1の172波長板403に
よりモニター光とは偏光方向がy4なるものとされてい
るため、P偏光として入射してそのまま透過することと
なる。
2本の描画用光束とモニター用光束とは、第2の1)2
波長板441により・それぞれ偏光方向が90@回転さ
せられ、 r−+−+」の4枚構成による第3レンズ系
442、ビームベンダー443を介して「++」の2枚
構成の第4レンズ系444に入射する。そして、第4レ
ンズ系444を出射した光束は、3つのビームベンダー
445.446,447を介してポリゴンミラー450
に向けられ、このポリゴンミラー450によって反射偏
向される。
第ルンズ系430と第2レンズ系434とは、倍率1゜
67倍の第1のビームエクスパンダ−系を構成しており
、0.7φのビームを1.17φに拡大する。そして、
第3レンズ系442と第4レンズ系444とは、倍率2
1.4倍の第2のビームエクスパンダ−系を構成してお
り、2本の描画用光束は1.17φから25φに拡大さ
れる。
リレーレンズ系433は、これらのビームエクスパンダ
−系の倍率に関与せずに、補正用AO変調器432とポ
リゴンミラー450の反射面とを共役とし、ポリゴンミ
ラーの面倒れ補正、及びこの補正に伴うポリゴンミラー
上での光束のずれを補正する機能を有している。
ポリゴンミラー450の反射面は、加工誤差等の問題か
ら回転軸に対する傾き、すなわち而倒れ誤差が発生し、
反射面毎に走査ラインがスポットの走査方向に対して垂
直な副走査方向にずれることとなる。
この面倒れ誤差を補正するため、単に光源と偏向器との
間にAO変調器を設けて副走査方向への入射角度を微小
偏向する場合には、面倒れによる反射光束の角度ずれは
補正できるが、この補正に伴って反射光束に平行なシフ
トが発生する。そして、このシフトによりfθレンズへ
の入射光束が副走査方向にずれ、レンズ性能の悪化や走
査ラインの湾曲、場合によっては枠によるケラレを生じ
て問題となる。
そこでこの装置では、補正用AO変調器432と、ポリ
ゴンミラー450とを光学的にほぼ共役な状態としてい
る。光学的に共役であるとは、必ずしも結像関係にある
ことを意味しないが、主光線のみを考えると光束の角度
ずれがあっても位置ずれが生じないことが理解できる。
ポリゴンミラー450による反射光束は、焦点距離15
1mmのfθレンズ500によって収束され、描画光束
は第2の偏光ビームスプリッタ−448を透過して描画
面に直径5μmの2つのスポットを形成する。
描画面上に形成される2つのスポットは、主走査方向に
対しては20μm、副走査方向に対しては1ライン間隔
分の2.5μm離間して形成される。
他方、モニター光はこのビームスプリッタ−448に対
してS偏光で入射するためここで反射され、走査方向に
直交する縞状のパターンが形成された走査補正用スケー
ル801を有するモニター検出系800に入射する。こ
のモニター検出系800は、後述するようにスケール8
01上を走査するビームの透過光量の変化から走査速度
に比例する周波数のパルスを出力する。
なお、符号900は3対の発光部及び受光部から成る焦
点検出機構であり、後述するように描画面からの反射光
により描画面がfθレンズの焦点深度内にあるか否かを
判断する。
さて、次にfθレンズ500の光学ヘッド部4への固定
と、fθレンズ500に隣接して設けられたモニター検
出系8oo、焦点検出系900についての説明を行う。
この例で示したfθレンズ500はFナンバーがl二〇
と大変明るく高精度であるため、面の偏心公差が非常に
厳しく、面の倒れの許容量は秒オーダーである。
但し、1次元走査に利用するfθレンズでは、実際にレ
ンズとして機能するのはその走査ラインに沿う一部のみ
である。
そこで、この実施例の装置ではfθレンズ500に回転
機構を設け、組み付は後の回転調整によりレンズの最も
性能の良い位置を定めて固定することができるように構
成している。  調整機構は、第14図に示す通りであ
る。
第ルンズ501から第5レンズ505は、主枠510の
段部とリングネジ501a〜505aとによって端部を
挟持されると共に、各々のコバ面に当接する埋め込みボ
ルト501b〜505bにより固定されている。なお・
第ルンズ501は図中上方から、他のレンズは図中下方
から挿入される。
第6レンズ506は、・副枠520の段部とリングネジ
506aとによって端部を挟持されると共に、コバ面に
当接する埋め込みボルト506bにより固定されている
副枠520は、主枠510に対してねじ込みによって取
り付けられ、更に主枠510はこれを外側から囲む円筒
状のホルダ一部530の下端に形成された内方フランジ
によって支持されており、上方からはリングネジ531
が螺合してこれを抑えている。このホルダ一部530は
、光学ヘッド部4に支持固定されている。
調整に当たっては、主枠510を持ってこれを回動させ
ることにより、レンズ全体を光軸口りに回転させる。そ
して、最も性能のよい位置を定めた後、埋め込みボルト
532を締め付けてホルダ一部530に対して主枠51
0を固定する。
上記のホルダ一部530には、第15図に示すようにそ
の下側に副枠520の下端を覆う段付き有底円筒状のレ
ンズカバー540が取り付けられている。
第2の偏光ビームスプリッタ−448は、このレンズカ
バー540の底壁5411ご走査方向に沿って穿設され
た長孔542を覆う形で載置されている。また、このL
/ンズカバー540の側壁には、第2の偏光ビームスプ
リッタ−448で反射さ旬たモニター光をレンズカバー
外に導くための透孔543が光束の走査幅に対応して穿
設されている。モニター検出系800は、ホルダ一部5
30に固定されたアーム850により透孔543に臨ん
で支持されている。
史に、レンズカバー540の下方には、光束を透過させ
る長孔951が穿設された円盤状の支持板950を介し
て焦点検出系900の発光部910と受光部920とが
固定されている。
発光部910は、支持板950にネジ止めされた中空の
保持部材911と、この保持部材911内に嵌合して発
光ダイオード912及び投光レンズ913を保持する筒
状のブツシュ914と、投光レンズ913を出射した描
画面と平行な方向への光束を描画面へ向けて反射させる
プリズム515と、保持部材511の一端側に設けられ
てプリズム515を固定するプリズムベース516とか
ら構成されている。プリズムベース516には、プリズ
ムからの・反射光を透過させる光路孔518aが形成さ
れている。
発光部910からの光束は11図示したように描画面上
で描画光束の収束位置に向けて収束するよう設定されて
いる。また、LED912の発光波長は860nmであ
り、描画対象となるフィルム、感材等の感光感度外とさ
れている。
受光部920は、支持板950にネジd−めされた中空
の保持部材921と、この保持部材921の発光部91
0側に設けられて集光レンズ922を保持するレンズ枠
923と、集光レンズ922による収束光を再び描画面
と平行な方向への光束とするプリズム924及びこのプ
リズムを保持するプリズムベース925と、保持部材9
211内に嵌合して赤外透過フィルター926及びポジ
ションセンサー(PSD)927を保持する筒状のブツ
シュ928とから構成されている。
PSD927は、描画面との離反接近に基づく発光部9
10からの光束の集光位置の差を18号として出力する
一次元のセンサーであり、PSDの他、CCD等の素子
を用いることも可能である。また、この例ではPSD9
21上での集光位置の差を拡大するために集光レンズ9
22の後方の間隔を長くとっている。なお、赤外透過フ
ィルター926は、このセンサー出力のSlN比を向上
させる機能を果たしている。
発光部910ど受光部920との下側には、更にカバー
930が設けられており、このカバー930は光学ヘッ
ド部4に固定されている。カバー930には描画光束及
び焦点検出用の光束を透過させる開口931が設けられ
ている。
なお、上記の発光部910と受光部920とは、第16
図(第15図を描画1m側からみた図)に示す通り、長
孔951の長手方向となる描画光束の走査方向に離間し
て3組設けられている。これにより、描画面と焦点検出
機構どの図中上下方向の間隔を走査ライン上の3点くこ
の例では描画光の走査範囲のほぼ両端の2点とその中心
の1点)で検出することができ、間隔及び傾斜を判断す
ることができる。そして、この判断に基づいて描画板部
300の上下動、あるいは傾動させ、描画光束のビーム
ウェスト位置を描画面と一致させるように制御すること
ができる。
第15図に二点鎖線・で示したモニタ検出系800は、
第17図に示したように光入射側の端面に縞状のスリッ
トが160μmピッチで形成されたガラス製のスケール
801と、蛍光ファイバーが複数本束ねられたファイバ
ー束802と、このファイバー束802の両端に設けら
れた2つのビンフォトダイオード803,804とを有
するユニットとして一体に構成されている。
モニター光は、スケール801を介して蛍光ファイバー
束802に側方から入射し、ファイバーを伝播して両端
のビンフォトダイオード803,804に到達する。
モニター光がスケール801上を走査すると、ビンフォ
トダイオードからは正弦波が出力される。この正弦波は
整形されて矩形波として制御系に入力され、第1第2描
画用AO索子407 、407°のルリ御タイミングを
とるため、モして面倒れ補正用AO索子432のポリゴ
ン1面内での回転による反射光方向の変化を補正するた
めの制御に利用される。但し、スリットのピッチは16
0μmであるため、このままではスポット径の5μmと
比較して1パルスの幅が大きすぎる。
そこで、1パルスを1764に電気的に分割し、2.5
μmの走査に対応して1パルスが出力されるようにして
いる。
ここで通常の光ファイバを用いると、モニター光はファ
イバーを透過してしまう、しかし、蛍光ファイバーを用
いると、光の照射によって蛍光が発生し、この蛍光がフ
ァイバー内を伝搬して両端のビンフォトダイオードに達
する。原理的には、ビンフォトダイオードは一端側にの
み設ければよいが、モニター光の照射する位置に拘らず
一定光量を得るためには、実施例のように両端に設ける
ことが望ましい。
そして、モニター検出系800は、第18tA(第17
図のA方向からの矢祝図)に示すように、このユニット
としてアーム850の下端に形成されたL字状の載置部
851に載置されると共に、アーム850の両端部にモ
ニター検出系800を挟んで固定されたマイクロメータ
ーヘッド860,861とスプリングプランジャー86
2.863との間に挟持されて位置決めされている。
なお、第17図の中央線より下側は第18図のX■−X
■線に沿う断面図、中央線より」二側番オ第18図のX
■−X■線に沿う断面図である。
マイクロメーターヘッド860,861は、アーム85
0の側壁部分にネジ止めされた取付は金具870,87
1によって固定されており、マイクロメーターヘッド8
60のスピンドル860aはアーム850の側壁部分に
穿設された貫通孔852を通してモニター検出系800
に当て付けられている。他方、スプリングプランジャー
862,863は、載置部851から」二方に立ち上げ
られた支持壁853,854によって固定されており、
モニター検出系800をマイクロメーターヘッド側に押
圧付勢している。このような構成により、マイクロメー
ターヘッド860.1381の調整によってモニター検
出系800の光束入射方向に対する前後位置調整、及び
走査方向に沿う傾き調整を行うことができ、スケール8
01の入射端面を描画面と等価な位置に設定する盲の微
調整を行うことができる。
なお、モニター検出系800は、レンズカバー540の
下段側面に穿設された透孔543から出射するモニター
光を受光するようこの透孔543に対向して配置されて
いるが、レンズカバー540とモニター検出系800と
の間には、第19図に示すように一辺側がレンズカバー
540に沿う円弧で他辺側が直線となるような開口端形
状の枠部材880が介在している。そしてこの枠部材8
80の両開口縁部には、側壁に切込みを有するシリコン
チューブ881,882がそれぞれ装着されており、各
々の開口端縁がレンズカバー540及びアーム850に
密着する構成となっている。
ユニット化されたモニター検出系800は、より詳細に
は、第20.21図に示すように正面にモニター光束を
透過させる矩形孔805aが穿設されると共に、マイク
ロメーターヘッド及びスプリングプランジャーに直接当
接する基部805と、スピンドル860aの当接部分に
固定された板バネ806の付勢力によりスケール801
を基部805に対して押し付ける押圧板807とを備え
ている。なお、第20図は第17図の一部を拡大したも
のであり、第21図は第17図のXX[−XXI線に沿
う断面図である。
また、押圧板807は第21図に示すとおりスケール8
01に臨む側に段状の切り欠き807aが形成され、そ
のスケール801側の角にはファイバー束802のスペ
ースを確保するため)こスケール801側へ向けて下方
へ傾斜する傾斜面807bが形成されている。更に、こ
の切り欠き807aには先端に抑圧板805の傾斜面8
07bと対称形の形斜面808aが形成されてファイバ
ー束802を図中上方から抑える固定片808が挿入さ
れている。そしてファイバー束802は、両傾斜面とス
ケールとの間に形成される断面三角形のスペース内に固
定される。
なお、ポリゴンミラーの反射面上での光束の位置が回転
に伴って変化すると、rθレンズへの入射位置が変化し
て周辺部でテレセントリック性が崩れる。
従って、描画面とスケール801との位置とが光学的に
完全に等価でないと、実際の描画位置に対応したモニタ
ー信号が得られないこととなる0通常このズレは僅かで
あり、あ鴇り問題とならないが、この装置では前述した
ように1画面を複数のレーンに分割して露光するため、
周辺部にズレが生じると隣接するレーンどうしの境界部
分で描画パターンが不連続となることとなって好ましく
ない。
そこで、この装置では、ポリゴンミラーの位置iA整の
際に中心部のテレセントリック性を多少落としても、有
効走査幅の周辺部におけるテレセントリック性を確保す
るように偏向点変化を考慮して設定している。
次に、上述したフォトプロッタのt+制御について説明
する。
制御系は、第22図に示した通り、ホストCPUと接続
されて描画データをラスタースキャン用のデータに変換
するラスターエンジンと、このラスターエンジンを介し
てデータが一走査うイン分を単位として書き込み、吐き
出しが行われるラインバッファと、各種のコマンドの入
出力を行いつつ、ラインバッファあるいはl10(入出
力)コントローラを制御するCPUとを備えている。
ラインバッファは、モニター検出系800から入力され
るモニター信号のタイミングに基づき、各オシレータを
介して第1、第2描画用AO木子、面倒れ補正用AOi
子を駆動する。
I10コントローラは、CPUからのコマンドに基づい
て描画用レーザー ポリゴンミラーを駆動する。
また、I10コントローラは焦点検出系900の3つの
LEDを駆動すると共に、このLEDからの光束を受光
したPSDからの出力がそれぞれのPSDにつき2つ設
けられたオペアンプを介して入力される。一方のオペア
ンプからの出力VLはPSD上に集光した光束の光量信
号であり、他方のオペアンプからの出力vPは光束の収
束位置に対応する位ru信号である9位置信号を光量信
号で割ることにより、光量の全体的な変動による影響を
相殺して各点での検出機構と描画面との位置関係を検知
することができる。
I10コントローラは、入力された上記の焦点検出系か
らの信号をCPUに送り、CPUはこの信号に基づいて
各APモータの駆動量を決定してこれを再び!10コン
トローラ番二返す、I10コントローラはこの馬匹動量
に基づいてAFモータドライバを介して各AFモータを
制御し、描画面がfθレンズ500の焦点深度±15μ
mの範囲内となるよう描画板部300の上下位置、傾斜
角度を調整する。
更に、I10コントローラは、ヘテロダイン計測を行な
うために測長用レーザー460を制御すると共に、この
測長用レーザーの光束を利用したX、Y測長器からのフ
ィードバックを安けつつX軸モータ101、Y軸モータ
201を駆動するhサーボ回路を制御している。
次に、焦点検出系の検出11i(理と、描画板部の駆動
jJ法について説明する。
]−記のような大型の走査式光学装置においては、−走
査内で描画面を1−駆動じて各走査位置での合焦を図る
ことは困難である。但し、tiM画面の表面の凹凸は走
査幅と比較して緩やかなうねりであるため、比較的反応
速度が遅い駆動1段によって描画面の上FIノを行い、
−走査内では一定の位置を保つよう設定した場合にも目
的を達成することはできる。
このとき、描画面と光学系との位置関係の検出を一点の
みで行う構成であると、合に(iを図れない可能性が高
くなる。すなわち、例えば走査幅の中央−点で検出を行
う場合、描画面が走査幅の全域にV(つで水平であるか
、あるいは傾きがリニアである場合には問題はないが、
第23図に示すように傾きがリニアでない・場合には、
中央B点のみで検出した結果に基づいて描画面を上下に
駆動すると、破線で示したラインに合焦してfθレンズ
の焦点深度が一方側のみで利用されることとなるため、
A点が焦点深度外となってしまう可能性がある。ここで
A点と0点との2箇所で検出してその平均に基づいて描
画面をム上下に駆動すると、−点鎖線で示したラインに
合焦することとなり、焦点深度の両側を有効に利用して
各点が合焦範囲内に入る可能性が前記の例より高くなる
但し、描画面の形状が第24図に示したような山形であ
る場合には、両端の2点で検出した結果に基づいて描画
面を上下動させたのではB点が範囲外となる可能性が強
く、この場合にはA、B、Cの3点で検出してこれらの
平均によって描画面を上下動させることが望ましい。
このことから、検出点が多いほど、描画面の上下動のみ
による合焦動作を考えた場合にも精度向上の可能性が高
いことが理解できる。しかも、この例で示したように走
査方向に離間する複数点で検出した場合には、描画面の
傾斜をも検出することができ、検出された角度に基づい
て描画面を傾動させることにより、描画面のうねり等に
対してより柔軟な対応をとることができる。すなわち、
第25図の左側に示したように一回の走査幅内でのワー
クの高度差が焦点深度内にあれば描画に支障はないが、
同図右側に示したように描画板部が水平な状態での高度
差が範囲外となる場合であっても、描画板部を破線で示
したラインが水平となるように傾斜させることにより、
この走査幅内での高度差を前記の範囲内とできる場合が
ある。
第26図は、上記実施例における描画板部300の駆動
機構を簡略化して示したものである。実際には3つの駆
動部による3点支持が行われているが、走査方向の一側
に設けられた2つの駆動部は前述したように同一の信号
によって駆動されるため、2つの駆動部310,320
に代表させて表示している。
図示したA、B、Cの3点で検出を行った結果、各点に
おける基準合焦ラインからのズレを示す出力電圧を第2
7図に示すようにVqa、Vqb、Vqaトすると、A
、Bの中点Mlに対応する電圧Va、  B、Cの中点
M2に対応する電圧vbは、 Va:(Vqa+Vqb)/2 Vb=(Vqb+Vqc)/2 で表すことができる。この中点M1.82を通る直線が
、A、B、Cの3点からの距離が平均して最小となる仮
想描画面を示している。この仮想描画面を基準合焦ライ
ンと一致させるよう各AF駆動部を制御することにより
、通電は走査範囲内の各点を合焦範囲内に収めることが
できる。
この際のモータ駆動量に対応する電圧di、d2は、中
点Ml、82間の水平距離をW、各支点と中点Ml、8
2間の水平距離をLl、L2とすると、 dl=Va−V1=Va−(Ll/W)(Vb−Va)
d2=Va−V2:Va+((W+L2)/1v)(V
b−Va):Vb−(L2/W)(Va−Vb) で求めることができる。
なお、描画板部の最大移動逍はワークとしてガラス板が
載置された場合とフィルムが載置された場合との両方を
考慮に入れて1101I1としである。
ここで描画板部300の駆動につき基本的な動作を説明
する。
電源が投入されると、CPuは描画板部を最下位の位置
まで降下させるよう!10コントローラに信号を出力す
る。描画板部が下降して、Yテーブルに設けられたリミ
ットスイッチにより最下位であることが検出されると、
モータを切り替えて上界を開始させる。従って、IW述
した焦点検出系900には、当初信号は発生しない、焦
点検出系900の信号を検出しつつ描画板部300を徐
々に上昇させ、信号が出力され始めた時点から上述した
原理に基づいて焦点検出、描画板部の駆動制御がなされ
る。
描画板部のfθレンズに対する合焦位置は、予めテスト
描画によって実際に最適な描画が可能な位置、すなわち
スポット径が最小となる位置を捜し、その際出力される
焦点検出系900の3つのPSDの信号として記憶され
ている。従って、描画面が合焦位置にある場合の3つの
PSDの出力が全て同一であるとは限らない、制御系は
この合焦位置における出力信号と現在の信号との差を0
とするよう3つのモータを駆動する。
制御の際の方法としては、駆動量が決定された際にその
駆動量の全てを一度に駆動するのではなく、ある程度駆
動した時点で再度焦点検出系からの信号を入力し、今度
はこの入力に基づく駆動量を決定して駆動を続行する。
この制御方法は、第28図のフローチャートに示すとお
りである。すなわち、A F 48号が入り始めてAF
が許可されると、ステップ(以下、単にS、とする)l
を抜け、3.2で光!■倍信号Lを入力すると共に、8
.3で位置信号vPを入力する。そして3.4で位置信
号を光量信号で割って光用変化による影響を除去した純
粋位置信号VRを得る。8.5ではこの純粋位置18号
VRと予め定められた描画板部の合焦位置における信号
とを比較して各モータの駆&tfflと駆動方向とを演
算する。演算により求めた駆動量が0でない場合には、
3.6から3.7に進んでモータの駆動を開始し、8.
8において求められた駆動量分の移動が完了したか否か
を判断する。完了していなければ再び3.2に戻って信
号を入力する。8.6で駆動fioと判断された場合と
、3.8で駆動が完了したと判断された場合とには、3
.9へ進んでモータを停止し、S・1に戻って処理が続
けられる。
なお、このブロックでは、前述したようにガラス板等の
厚い部材からフィルム等の薄い部材まで種々のワークを
想定しているため、描画板部の高さはワークの厚さによ
って異なることとなる。倶し、を記の方式によれば、描
画板部はワークを載置した状態で最ド位から上界するた
め、焦点検出系が最初に検知するのはワークの−L表面
に対する光学ヘッドの位置情報である。従って、厚さの
異なるワークがセットされた場合にも、その表面をfθ
レンズの合焦位置とすることができる。
[効果] 以上説明してきたように、この発明に係る走査式描画装
置の描画面機構によれば、描画板部を上下動のみでなく
傾斜させることもできるため、−走査範囲内での描画面
のうねり等があった場合にも、描画面を走査レンズの焦
点深度内に収めることができる可能性が高くなる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図はこの発明に係る走査式描画装置の一実
施例であるレーザーフォトプロッタを示したものであり
、第1図は側面図、第2図は正面図、第3図は平面図で
ある。 ?Pi4図〜第12図はテーブルの説明図であり、第4
図はXテーブルの■qfii図、第6図は第4図のv−
v線断面図、策6図は第4図のVl−Vl線断面図、第
7図はYテーブルの平面図、第8図は第7図の側面図、
第9図は第7図のIX−IX線断面図、第10図は第7
図のX−X線断面図、第11図は第7図のX[−>C線
断面図、第12図は第11図の側面図である。 第13図は光学素子の配置を示す概略斜視図である。 第14図はfθレンズの支持構造を示す断面図である。 第15図及び第16図は上記実施例に係るAP検出系を
示したものであり、第15図は一部破断した側面図、第
16図は第15図を描画面側からみた平面図である。 第17図〜第21図は上記実施例に係るモニター検出系
を示したものであり、第17図は一部破断した平面図、
第18図は第17図のへ方向からの矢視図、第19図は
枠部材の斜視図、第20図は第17図の一部拡大図、第
21図は第17図のXXI−X)4線断面図である。 第22図は制御系のブロック図、第23図〜第25図は
描画面の傾斜あるいはうねりの説明図、第26図はAF
駆fIJ機構の概略図、第27図はAF検出及び駆動の
原理を示す説明図、第28図はAPの手順を示すフロー
チャートである。 101.201・・・X軸、Y軸モータ(搬送手段)3
00・・・描画板部 310.320.330・・・AF駆動機横第19図 第21 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光束を一方向に走査させる走査光学系の走査対象物が載
    置される描画板部と、 該描画板部と前記走査光学系とを光束の走査方向に対し
    て直交する方向に相対的にスライドさせる搬送手段と、 前記走査方向に離間して設けられ、それぞれ前記描画板
    部の一側を光束の入射方向に沿つて移動させる第1、第
    2の駆動機構と、 該第1、第2の駆動手段の駆動量を異ならせて前記描画
    板部を前記搬送手段に対して傾斜させる傾動制御手段と
    、 前記第1、第2の駆動手段の駆動量を等しくして前記描
    画板部を前記搬送手段に対して平行移動させる平行移動
    制御手段とを備えることを特徴とする走査式描画装置の
    描画面調整機構。
JP63304780A 1988-12-01 1988-12-01 走査式描画装置の描画面調整機構 Expired - Fee Related JP2709949B2 (ja)

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