JPH02149258A - 金属偽像等を低減する画像処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はＸ線Ｃ下等において、金属等から発生する偽像
（アーテイファク［・）を低減する画像処理装置に関す
る。

（従来の技術） Ｘ線断層撮影装置（以下ＸＭＣＴという）は各方向でＸ
線源から被検体を曝射して透過したＸ線を検出器で検出
し、そのデータに画像再構成処理を行って画像表示し、
診断の用に供しようとする装置である。

（発明が解決しようとする課題） ところでこのＸ線ＣＴにおいては、金属等高Ｘ線吸収物
質が存在すると画像上にストリーク状偽像等の偽像が現
れて画像の観察１診断を著しく妨げるという大きな技術
的問題を孕んでいる。就中、金歯や補綴金属等被検体内
に存在する金属類から発生する強い偽像の存在はイメー
ジに多大な影響を与え、詳細な観察をできなくするばか
りか、全く観察不能にしてしまうことがあって、歯科や
リハビリテーション等の分野へのＸ線ＣＴの適用を拒ん
でいる。

本発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的は、
被検体内に存在する金属等から発生する偽像を低減する
アルゴリズムを提案し、それに対応する金属偽像等を低
減する画像処理装置を実現することにある。

（課題を解決するための手段） ＸＭＣ王等で使用する画像処理装置において、１又は複
数の偽像発生源の位置に関する情報を入力する入力手段
又は該位置の情報を自動検出する偽像発生源位置検出手
段と、すべての方向又は任意の方向についてすべての偽
像発生源に交わるすべての射影データについて各射影デ
ータをその対向射影データ又は各射影データからその対
向射影データを減算した値をその近傍データの平均値等
と比較し閾値を越える変化がある場合には対向射影デー
タの値により近い値を析しい射影データとし、その他の
場合には元の射影データをそのまま使用して金属等の偽
像を低減した射影データを生成する金属等偽像低減射影
データ生成手段と、前記射影データを画像再構成して金
属等偽像を低減したイメージを得る画像再構成手段と、
少なくとも１個のデータ記憶手段とを具備することを特
徴とするものである。

（作用、） 金属等偽像発生源の画像上の位置、大きさ等の情報に基
づいて金属等偽像低減射影データ生成手段は入力画像射
影データから前記金属等偽像発生源で発生する金属等偽
像を削減する。金属等偽像を削減された射影データは画
像再構成されて出力される。

（実施例） 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。

第１図は本発明の一実施例のブロック図である。

図において、ＤＳｌは実測Ｘ線の生データを格納するデ
ータ記憶装置である。ＰＰＰはデータ記憶装＋１ｏｓｉ
に格納されている実測Ｘ線生データを得て１．データ収
集装ｊｌＤＡｓ　（図示せず）のオフセット補正、Ｘ線
強度補正、検出系の各チャネルの感度補正、対数変換、
Ｘ線線質硬化補正等の各種処理を施す前処理装置で、そ
の出力の射影データはデータ記憶装＠ＤＳ２に格納され
る。

ＧＤＱはＸ、Ｙ方向の格子状の目盛線をイメジ←重ねて
表示できるグリッド付イメージ表示装置である。

Ｍ、Ｍ、Ｉはキーボード等の入力装置と陰極線管表示装
置（ＣＲＴ）等の表示装置等から成り、グリッド付イメ
ージ表示装置ＧＤＣに表示された原イメージから偽像の
発生源である金属等の所在に関する情報（例えば中心の
座標と領域のサイズ等）を操作考が読み取りそれらの情
報を入力するためのマン・マシン・インタフェース装置
である。入力された情報はデータ記憶装置ＤＳ２に格納
される。

Ｍ　Ａ　Ｒはデータ記憶装置ＤＳ２に格納された前処理
装置ＰＰＰによる前処理済みの射影データより、金属等
から発生する偽像成分を削除した射影データを生成する
金属等偽像低減射影データ生成装置である。この出力の
偽像成分削除済射影データはデータ記憶装置ＤＳ３に格
納される。第２図に再構成領域と金属偽像発生源の関係
位置を示し、金属等の偽像を除去するアルゴリズムの一
例を説明する。図において、大円内の領域ＲＡは再構成
領域で、再構成領域ＲＡ内の領域ＭＡ内に金属があるも
のとする。領域ＭＡはその中心がＣ（座標（Ｃｘ、Ｃｙ
＞）で、半径Ｒの小円である。Ｘ。

ｙは直交座標軸、Ｘ、Ｙ座標軸はｘ、ｙ座標軸を反時計
方向にθ′だけ回転した座標軸である。実測Ｘ線の射影
データは、Ｓから原点Ｏに向うθ方向の平行ビーム・デ
ータ群（各方向の平行ビームのビュー・データ）として
得られている。点Ａ＋。

ＡＣ，Ａ２は、領域ＭＡに交わる方向θの平行ビーム群
の先頭ビーム、中央ビーム、最終ビームがＸ軸と交わる
点である。このとき次の関係が成り立つ。

Ｎｔ　　Ｉ−ｃｃ ＋（Ｃ）＜−５ｉｎθ−Ｃｙ−ｃｏｓθ−Ｒ）／ｄ・・
・　（１−１） Ｎ２　　＝ＣＣ ＋　　（Ｃｘ　　　−Ｓｊｎ　　θ　−Ｃｙ−ｃｏｓ　
　　θ　−ト　Ｒ）／ｄ・・・　（１−２＞ ここでｄはサンプル間隔、ＣＣは再構成中心０を通る仮
想ビームの番号であり、Ｎｓ　、Ｎ２はそれぞれＭＡと
交わる射影データの開始データ番号。

−７＝ 一８＝ 終了データ番号である。データ番号はＸの増加方向に増
加するのを通常の場合（ｄ＞Ｏ）とする（×の増加方向
にデータ番号が減少する場合には、＜１−１）式、（１
−２＞式でｄ＜Ｑと考え、Ｎ１．Ｎ２はそれぞれ終了デ
ータ番号、開始データ番号となる。）。

実測Ｘ１ｍ射影データは、１　／　４−１　／４オフセ
ット測定されたサンプル間隔ｄである離散データであり
、θ方向の点△１からＡ２までの範囲に入る射影データ
の番号のうち先頭データの番号をＮ５＝Ｎｓ（θ）、最
終データの番号をＮＬ＝ＮＬ　　（θ）とする。

金属等の偽像を除去するアルゴリズムの例は次の通りで
ある。

各方向θに対して、生成される金属等の偽像を除去した
射影データをａ　（Ｘｉ　、θ）とすると、以下余白 ａ（Ｘｔ、　　θ）＝ ・・・　（２−２） ここで、ｒ（ＸＬ、θ）は、方向θ、距離Ｘｉにおける
実測射影データ（前処理等の処理済）であり、ｒ　（Ｘ
ｊ　、θ）′はｒ（Ｘ冒θ）の対向射影データである。

又、δは所謂閾値（Ｔ　ｈｒｅｓｈｏｌｄ　）で、Ｃは
１以下の正の定数である。１／４−１／４オフセツト測
定された平行ビーム・データに対し、ｒ（ＸＬ、θ）の
対向射影データｒ　（ＸＬ。

θ）′は ｒ（Ｘｉ、θ）　’　＝ｒ’　（Ｘｉ　、θ＋π）十　
ｒ（ＸＪ＋１．　０　＋　π　）　）・・・　（３） ここで、ｊ　＝　　ｔｒｕｎｃ（２−ｃｃ−ｉ　）　　
・−（３−１）但し、ＣＣは再構成中心０（アイソ・セ
ンタ）を通る仮想ビームの番号である。ＣＣは実数であ
るが、ｉ、ｊは整数であり、（３−１）式のｊ、は２・
ｃｃ−ｉを超えない最大整数である。１／４−１／４オ
フセツ１〜測定の際には、例えばＣＣ＝Ｎｃ　　　（１
／４）（Ｎｃは整数）では、＝２・Ｎｃ　　：　　１と
なる。（３）式は１／４−１／４オフセツト測定におい
てはｒ　（Ｘ；　、θ）の対向データｒ　（Ｘｉ　、θ
）′は・隣接する２つの射影データｒ　（ＸＪ　、θ＋
π）とｒ（ＸＪ＋１゜θ＋π）の補間により生成される
ことを意味する。

（２−１＞式は金属等の偽像がある場合に、その射影デ
ータｒ（、Ｘｔ、θ）を対向データｒ　（Ｘｉ　。

θ）′を加味して修正する式であり、金属等の変化の激
しい実測データを補間により変化の緩和１されたデータ
に修正して偽像を低減することを意味し、物理的にも重
大な意味を持つ式である。

ＲＥＣＯＮはデータ記憶装置０８３に格納された射影デ
ータに、画像再構成処理を施Ｊ装置である。画像再構成
されたイメージ・データはデータ記憶装置ＤＳ４に格納
される。画像再構成のアルゴリズムと装置は公知のもの
で良く、ここでは説明を省略する。

上記のように構成された装置の動作を第３図のフローチ
ャートを参照しながら説明する。この装置の動作におい
ては、スキャンは既に終了し、実測Ｘ線生データは収集
されてデータ記憶装置ＤＳ１に収納されており、画像は
再構成されてデータ記憶装置ＤＳ４に格納されている。

そして操作者が表示画面を観察しながら金属等偽像の所
在に関する情報を読み取りその情報を処理系に人力し、
金属等偽像の低減を行う場合の例を示している。

画像再構成された金属等偽像を含むイメージをグリッド
付イメージ表示装置ＧＤＣに表示する（ステップ１）。

表示されたイメージを見ながら、金属等偽像発生源に関
する情報、即ち、偽像発生源の数、各偽像発生源の中心
のｘ、ｙ座標９各偽像発生源を含む領域ＭＡの半径Ｒ等
を読み取る（ステップ２）。

グリッド付イメージ表示装置ＧＤＣから読み取った金属
等偽像に関する情報を、マン・マシン・インタフェース
装置ＭＭＩにより画像処理装置に入力する。入力データ
はデータ記憶装置ＤＳ２に格納される（ステップ３）。

前処理装置ＰＰＰはデータ記憶装置ＤＳ１に格納されて
いるデータ収集装置ＤＡＳからの生データの各ビューデ
ータに、オフセット補正、Ｘ線強反補正、チルネル感度
補正、対数変換、Ｘ線線賀硬化補正等の前処理を施すく
ステップ４）。全ビュー、全方向のデータに対してこの
前処理を行う（ステップ５）。

各ビュー（各方向）毎、且つ各偽像発生源毎に（１−１
）式、（１，、−２，）式によりこの偽像発生源と交わ
る射影データ番号の範囲を求めるくステップ６）。

金属等偽像低減射影データ生成装置ＭＡＲにより、デー
タ記憶装［、ＤＳ２に格納されている各方向の射影デー
タに対して、（２−１）式、（２２）式に従うデータ比
較と条件判定を行い（ステップ７）、次に金属等の偽像
を除去した射影データ生成を行い、その結果の射影デー
タをデータ記憶装置り、、Ｓ３に格納する（ステップ８
）。これをこの偽像発生源と交わるすべてのｔＡ彰デー
タに対して行う（ステップ９）。次にすべての偽像発生
源についてステップ６〜ステツプ９を行う（ステップ１
０’）。次にずべてのビュー（９へての方向）について
ステップ６〜ステツプ１ｏを行う（ステップ１１）。

画像再構成装置ＲＥＣＯＮにより、データ記憶装置ＤＳ
３に格納された金属等偽像低減演射影データに画像再構
成処理を施して、出力のイメージ・データをデータ記憶
装置ＤＳ４に格納する（ステップ１２）。以上の動作に
より金属等偽像低減処理は終了する。

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、第
４図に示す偽像位置自動検出型の金属等偽像低減用画像
処理装置ＤＰＳを実現することができる。第１図に示し
た実施例の装置は、偽像の発生位置を操作者が表示され
たイメージにより判断し、操作者が位置情報を読み取り
これを入力して処理する方式であるが、第４図の実施例
は原イメージの再構成後に偽像発生源の位置を自動検出
し、これに基づいて金属等偽像の低減を行う例である。

図において、第１図と同等の部分には同の記号を付しで
ある。図中、ＭＤＥＴはデータ記憶装置ＤＳ４に格納さ
れている原イメージ・データをサーチし、１または複数
の金属等偽像の発生源の位置を求めてその結果をデータ
記憶装ＷＤＳ２に格納する偽像発生源位置検出装置であ
る。上記のサーチは、画像データの８値の閾値との比較
（必要に応じて更に閉領域化や領域内の画像データの標
準偏差値の比較等を加味）により、偽像発生源の中心座
標と領域＋Ｊイズ等の情報を求める。

その他の装置は第１図の同名の装置と同じである。

この動作のフローチャ−トを第５図に示す。このフロー
チャートはステップ１からステップ３で実測データの前
処理と画像再構成を行った後ステップ４で金属等偽像発
生源の位置のサーチ（検出）を行っている点が第３図の
フローチャートとは異なっているが、その他は同じであ
る。

第６図はＸｍＣＴ装置と本実施例の画像処理装置ＤＰＳ
とを接続して、オンライン動作とした場合の応用例のブ
ロック図である。Ｘ線ＣＴ装置はガントリＧ、テーブル
ＴＡをテーブルガントリ制御装［ＴＧＣで制御して断層
撮影部の位置決めを行い、Ｘ線発生制御装Ｐ？ＸＧＣの
制御により高圧。

Ｘ線管制御部ＸＲはＸ線管Ｘに高圧を供給して再構成領
域ＰＡをスキャンする。前記のガントリＧは再構成領域
ＰＡを含む円で示しである。検出器群Ｓは被検体Ｂを透
過したＸ線を検出してデータ収集装置ＤＡＳにデータを
送る。データ収集装置ＤＡＳはデータを増幅し、ディジ
タルデータに変換する等の処理を行った後、画像処理装
置Ｄ　Ｐ　Ｓにデータを送り、データ記憶装置ＤＳ１に
書き込む。以後の動作は既に説明した通りである。デー
タ記憶装置ＤＳ４に格納されたストリークを除去された
イメージデータを画像表示装置ＧＤＣ及び必要に応じて
像写輿撮影装置ＭＦＣに送る。撮影制御装置ＳＣＣは各
装置の動作を制ｔＩｌ！′？１′る。

第７図は上記応用例の動作のフローチャートである。先
ずスキャンを行ってデータ収集装置ＤＡＳはデータを収
集し、増幅、△Ｄ変換等の処理を行い、出力データをデ
ータ記憶装置ＤＳ１に格納する。こうして全方向につい
てＸ線生データを測定する。以後の動作は第５図のフロ
ーチャートと同じである。

第８図に示す装置は、第１．第４図等と異なり、偽像を
低減したイメージを直接再構成する代りに偽像のみから
成るイメージを再構成し、原イメージからこれを減棹し
偽像を低減したイメージを得る装置である。第８図の装
置は、スキャンは既に終了しており、このスキャン・デ
ータを使用して原イメージの再構成を行い、偽像発生源
の位置を自動検出し、これより金属偽像等の低減を行う
例である。ＤＳ４は再構成されたイメージ、偽像を低減
したイメージ等を格納するデータ記憶装置であり、ＤＳ
５は偽像のみから成るイメージを格納するデータ記憶装
置である。金属等偽像低減射影データ生成装置ＭＡＲで
のストリーク偽像の識別とストリーク生成射影データｂ
　（ＸＬ　、θ）の生成は次式に従う（ｃ　ｌ　は定数
）。

ｂ（ＸＬ、θ）− ＮＳ≦ｉ≦ＮＬで且つ ｒ　　（Ｘｉ　　、　　θ） ｒ（Ｘｉ、θ）′　１〈δの時 （２−２−１＞ データ記憶装置１Ｄｓ２からの入力データに処理を施し
、出力データをデータ記憶装置ＤＳ３に格納する。イメ
ージ減算処理装置Ｓ■ＭＡＧは、データ記憶装置ＤＳ４
に格納された原イメージの対応するデータからデータ記
憶装置ＤＳ５に格納された偽像のみから成るイメージの
対応するデータを減綽し結果をデータ記憶装置ＤＳ４へ
格納する。

この装置の動作のフローチャートを第９図に示す。ステ
ップ７ａ、７ｂｒ各々（２＝　１’−’１　）式。

（’２−２−１）式に従う射影データを生成し、ステッ
プ１１でストリーク・イメージの再構成を行い、ステッ
プ１２でイメージ減緯処理装置、ｓ　ｒＭ△Ｇにより原
イメージからストリーク成分の除去を行う他は第５図に
同じである。

又、本発明による各種の装置を他のストリーク等を低減
する画像処理装置と合体統合して用いれば金属ス［−リ
ーク等偽像のより完全な低減を可能とする処理装置を構
成できる。

更に次のような変形が可能である。

〈ｉ）アルゴリズムの変形 （イ）金属等偽像低減のアルゴリズム アルゴリズムとして、＜２−１）式、（２−２）式に限
定されず、各種の変形が考えられる。例えば、（２−１
）式、（２−２）式中のａ　（Ｘｊ　、θ）は、ｒ（Ｘ
ｉ、θ）、ｒ（Ｘｉ　、θ）′のみの関数でなく、 ｒ（Ｘｉ＋員、θ）、ｒ（Ｘｉ＋）、θ）′　の関数で
あってもよい。ここに、ｋ＝−に＋。

Ｋｌ＋１−．０．１、−、に２　： （！＝　　Ｌｔ　、−Ｌｔ　＋１．−．０，１．−１２
　：Ｋｔ、に２．Ｌｔ、Ｌ２は正の整数である。又、そ
の関数の形は滑らかに変化する関数等である。

（ロ）平行ビームに限定されず、ファン・ピムにも適用
できる。ファン・ビームの場合には（３）式等が変化す
る。

（ハ）金属等偽像発生源の形状は実施例に示したように
円に限定されない。形状決定のアルゴリズムも（１−１
）弐〜（１−２）式に限定されない。

（ニ）（２−１）式、（２−２＞式の偽像識別条件を変
更した次のものもある（δは閾値）。

ａ（ＸＬ　、　　θ）− 偽像識別条件を変更した次のものもある（δ′は閾値）
。

・・・　（２−３−２＞ （ホ）（２−１−１）式、（２−２−１）式の（へ）（
２−１）式、（２−２）式； ＜２−１−１）式、（２−２−１＞式等でのδ、（２−
１−２）式、（２−２−２）式：（２−１−３）式、（
１２−３＞式等でのδ′は通常定数であるが、条件に応
じて計舜＝２１ 時に動的に選ぶこともできる。

（１１）装置の変形例 （イ）データ記憶装置の分割、統合、付加（ａ）１つの
記憶装置を複数に分割して構成したもの。例えばデータ
記憶装置ＤＳ２を偽像発生位置情報の格納用メモリと画
像再構成装置ＲＦＣＯＮ用メモリのそれぞれ複数に分割
構成したもの。

（ｂ）データ配憶装置をスピード、経済性等の見地から
階層構成にしたもの。

（Ｃ）データ記憶装置を統合して構成したもの。例えば
データ記憶装置ＤＳ２．ＤＳ３を統合した１つの記憶装
置としたもの。

（ｄ）バッファ・メモリ、キャッシュ・メモリ等を適宜
付加して構成したもの。

（ロ）装置の分割、統合及び並列化 （ａ）各装置を例えば機能別に分割して構成する。即ち
、画像再構成装置ＲＥＣＯＮをフーリエ変換装置、極座
票−直交座標変換装置、フーリエ逆変換装置等に分割し
、各装置間の並列処理性を付与した構成にしたもの。

（ｂ）複数の装置を統合して構成したもの。

例えば前処理装置ＰＰＲと金属等偽像低減射影データ生
成装置ＭＡＲを統合して構成したもの。又、画像再構成
装置ＲＥ　（、ＯＮをフーリエ変換型の画像処理装置と
して構成し、フーリエ変換装置とフーリエ逆変換装置を
同一の装置として橘或し、これを時分割使用するもの。

（Ｃ）装置の多重並列化を計った構成にしたもの。

（ｄ）統一制御装置を用意し、それをマイクロ・プロセ
ッサ、マイクロ・プログラム・メモリ、デコーダ等で構
成したもの。

（ｅ）金属等偽像低減射影データ生成装置ＭＡＲを、偽
像識別装置ＡＤＥＴと金属等偽像低減射影データ生成装
置Ｍ　Ａ　ＲＰに分け、偽像識別装置へＤＥＴは（２−
１＞式。

（２−２，）式等の偽像識別（条件判別）のみを行い、
金属等偽像低減射影データ生成装置ＭＡＲＰは（２−１
＞式、（２−２）式等の偽像低減射影生成演樟を行う構
成にしたもの。

（ハ）装置の付加 （ａ）磁気ディスク等人容間記憶装置の付加。

（ｂ）磁気テープ装置ＭＴ、プロ・シビー・ディスク装
置ＦＤＤ等外部記憶装置の付加。

（Ｃ）専用オペレータ・コンソー゛ル、ＣＲＴ。

専用図形表示装置、専用診断装置等の付加。

（ニ）グリッド付イメージ表示装置ＧＤＣグリッド付イ
メージ表示装置１ＧＤｃを、イメージ（画像）の表示、
表示イメ、−ジ中に関心領域（ＲＯＩ）設定、イメージ
中の点等の座標読み取り、２点間の距離計算等の機能を
もつ装置として構成したもの。

（ホ）マン・マレ“ン・イレターフェース装置ＭＭｌと
グリッド付イメージ表示装置ＧＤＣの統合。

両者を統合した図形表示、測定１診断、操作卓として構
成したもの。

（へ）画像再構成装置ＲＥＣＯＮ この装置をフーリエ変換形の画像処理装置として実現す
る場合には、各種の変形が考えられる。

（ト）バス、制御ライン、信号ライン等の分前、統合。

（チ）データ処理用に汎用の情報処理装置ＣＰＵや専用
のアレ４イ・プロセッサＡＰ等を用い１＝もの。

（す）同一の演算処理を別の構成（例えば情報処理装置
Ｃ’ＰＵ、ＡＰ等の装置、ソフトウェア、ファームウェ
ア）で実現したもの。

（発明の効果） ゛以上、詳細に説明：したように本発明によれば次のよ
うな効果がある。

（′１）金属等高放射線吸収物質により生ずる各種形状
（ストリーク状、モアレ状、直線状９円形等）の偽像の
低減に極めて有効である。

（２）シンプルなアルゴリズムなので、非常に高速処理
が可能であり、且つ経済性の高い金属偽像等の低減処理
装置が構成できる。

（３）本発明の装置と伯のストリーク等を低減する画像
処理装置との有機的な結合により、より強力でより適応
性の高い金属偽像等の低減処理装置が構成できる。

（４）Ｘ線ＣＴを、金属偽像等の存在により従来適用不
可能であった歯科、リハビリテーション等の分野にも適
応可能にする。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は再構
成領域と金属偽像発生源の関係の説明図、第３図は第１
図の実施例の動作のフローチャート、第４図は本発明の
他の実施例のブロック図、第５図は第４図の実施例の動
作のフローチャート、第６図は本発明の装置の応用例の
ブロック図、第７図は第６図の応用例の動作のフローチ
ャート、第８図は本発明の他の実施例のブロック図、第
９図は第８図の実施例の動作のフローチャートである。 ＤＳｌ、ＤＳ２．ＤＳ３．ＤＳ４・・・データ記憶装置 ＭＭＩ・・・マン・マシン・インタフェース装置ＰＰＰ
・・・前処理装置 ＭＡＲ・・・金属等偽像低減射影データ生成装置ＲＥＣ
ＯＮ・・・画像再構成装置

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ｘ線ＣＴ等で使用する画像処理装置において、１
   又は複数の偽像発生源の位置に関する情報を入力する入
   力手段又は該位置の情報を自動検出する偽像発生源位置
   検出手段と、すべての方向又は任意の方向についてすべ
   ての偽像発生源に交わるすべての射影データについて各
   射影データをその対向射影データ又は各射影データから
   その対向射影データを減算した値をその近傍データの平
   均値等と比較し閾値を越える変化がある場合には対向射
   影データの値により近い値を新しい射影データとし、そ
   の他の場合には元の射影データをそのまま使用して金属
   等の偽像を低減した射影データを生成する金属等偽像低
   減射影データ生成手段と、前記射影データを画像再構成
   して金属等偽像を低減したイメージを得る画像再構成手
   段と、少なくとも１個のデータ記憶手段とを具備するこ
   とを特徴とする金属偽像等を低減する画像処理装置。
2. （２）Ｘ線ＣＴ等で使用する画像処理装置において、１
   又は複数の偽像発生源の位置に関する情報を入力する入
   力手段又は該位置の情報を自動検出する偽像発生源位置
   検出手段と、すべての方向又は任意の方向についてすべ
   ての偽像発生源に交わるすべての射影データについて各
   射影データをその対向射影データ又は各射影データから
   その対向射影データを減算した値をその近傍データの平
   均値等と比較し閾値を越える変化がある場合には該射影
   データからその対向射影データを減算した値に比例する
   値を新しい射影データとし、その他の場合には値零を新
   しい射影データとする金属等偽像低減射影データ生成手
   段と、前記射影データを画像再構成して金属等偽像のみ
   のイメージを得る画像再構成手段と、原イメージから金
   属等偽像のみのイメージを減算し金属等偽像を低減した
   イメージを得るイメージ減算処理手段と、少なくとも１
   個のデータ記憶手段とを具備することを特徴とする金属
   偽像等を低減する画像処理装置。
3. （３）金属等偽像低減射影データ生成手段の入力射影デ
   ータは、検出位置をオフセットさせた状態で測定された
   データであり、対向射影データは補間計算により得られ
   るデータであることを特徴とする請求項１又は２記載の
   金属偽像等を低減する画像処理装置。
4. （４）金属等偽像低減射影データ生成手段の入力射影デ
   ータは、平行ビーム又はファン・ビームとして得られる
   請求項１又は２記載の金属偽像等を低減する画像処理装
   置。