JPH02147902A - 光学的探査ヘッドを備えた座標測定機 - Google Patents

光学的探査ヘッドを備えた座標測定機

Info

Publication number
JPH02147902A
JPH02147902A JP1260321A JP26032189A JPH02147902A JP H02147902 A JPH02147902 A JP H02147902A JP 1260321 A JP1260321 A JP 1260321A JP 26032189 A JP26032189 A JP 26032189A JP H02147902 A JPH02147902 A JP H02147902A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
light
optical system
measuring machine
objective lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1260321A
Other languages
English (en)
Inventor
Albrecht Hof
アルブレヒト・ホーフ
Wilhelm Ulrich
ヴイルヘルム・ウルリツヒ
Lothar Ruebl
ロータール・リユープル
Klaus-Peter Koch
クラウス―ペーター・コツホ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH, Carl Zeiss AG filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Publication of JPH02147902A publication Critical patent/JPH02147902A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G01B11/007Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、座標測定機の測定腕に取イ・1けられた光学
的探査ヘッドを備えた座標測定jに閏する。
[従来の技術] Mt%測定機において、測定しようとする工作物に必然
的に接触する、普通に用いられている機械的探査ヘッド
に代えて又はそれに加えて、測定しようとする幾何学的
要素を非接触的に把握することを可能にするいわゆる光
学的探査ヘッドを利用することは既に公知である。この
ために、基本的にいわゆる三角x it法にしたがって
動作して点ごとに測定を行うところの光学的探査ヘッド
、及び、測定しようとする幾何学的要素のある程度完全
な像を記録して、同像をそれ自体公知の画像分析手「党
によって分析するところのいわゆる“ビデオスキャナー
“が組込まれている。
後者の型式のビデオ走査システムにおいて、測定しよう
とする対象物の細部の照射には特別の問題がある。とい
うのは、特に平滑ないし金属的な工作物の表面を十分な
コントラストをもって無反射的に照射するには、照射手
段が光を放射する時の角度を、使用された対物レンズの
焦点距離に適合させなければならないからである。この
ことは、多大なコストを費やして初めて可能である。そ
の上、使用された光源の大部分において、81緘的座t
s測定機の意図せざる変形をもたらすところの損失熱が
発生する。
この【X8′I題を回避するために、ビデオスキャナー
に関連させて光学m 11のリング照明装置を座標測定
機に組込むことが既に提案されている。
例えば、米国特許第4706168号明細書には、この
種のビデオスキャナーを備えた座標測定機が記載されて
いる。しかしながらそこでは、リング照明装置へのエネ
ルギ供給は、不動に設置された光源から柔軟な光導波体
を介して行われている。使用された対物レンズの焦点距
離に照射角度を適合させるには、複イLな調節機構が必
要である。さまざまな注視方向にビデオスキャナーを設
定することは、不可能である。
例えば三角測置スキャナー又はビデオスキャナーのよう
に、さまざまな注視方向を実現するために、光学的探査
ヘッドを、いわゆる回転−旋回−継手を介して、座標測
定機の測定腕に取付けることも既に提案されている。こ
のような探査システムは例えば米国特許第468818
4号明4aI書に記載されている。しかしながら、この
公知の探査システムは非常に高値である。
なぜなら、比較的買置の大きいビデオスキャナーを高精
度に位置決めすることができる回転−族同一継手は、構
造的にも¥A造技術的にも多大の費用を要するからであ
る。
[1il際特許出願WO37101798の明細書には
、ta械内的探査ヘッド光学的探査ヘッドと交換するこ
とを可能にするスキャナー交換手段が記載されている。
しかしながらこの明mWにおいては、光学的スキャナー
用の照射装置の形態に関しては何等言及されていない。
[発明が解決しようとする課題] 本発明の課題は、例えば探査システムのさまざまな動作
間隔又は直径又は注視方向を要件とするさまざまな測定
課題に簡単かつ迅速に適合させることができ、そしてそ
の場合に同測定課題に照射装置が常に最適に適合せしめ
られるところの、測定腕に取付けられた光学的探査ヘッ
ドを備える座a測定機を提供することにある。
[課題を解決するための手段] この課題は、請求項1の上位概念に記載の光学的探査ヘ
ッドを備える座標測定機において、特徴事項に記載の方
策にしたがって、探査ヘッドには、交換可能な前面光学
系が備えられており、該前面光学系は、対物レンズ並び
に該対物レンズに適合せしめられた照射光学系を含み、
光導波体は交換面を越えて案内されていて、該交換面に
よって前面光学系が探査ヘッドに再現可能に保持されて
おり、そして交換面に光導波体の端部を低損失的に接続
するための手段が備えられていること、によって解決さ
れる。
この方策によって、光学的探査ヘッドの前面光学系を、
機械的探査ヘッドの探針と全く同様に、後で目盛定めす
ることなく簡単かつ迅速に自動的に交1負することが可
能となる。この場合照射装置は、同様に一緒に交換され
、したがって使用される対物レンズに常に適合せしめら
れている。照射のために光導波体を使用しているにもか
かわらず、四元導波体は前面光学系と探査ヘッドの残り
の部分との間の分離面を越えて案内されているために、
交換作業を自動化することができる。
それゆえ、探査ヘッドの照射装置は、測定腕の他端部に
有利にも断熱的に取付けられた光源からエネルギの供給
を受けるのであり、しかも光伝導ケーブルが、座標測定
機の測定領域において邪魔になることはない。
多数の種々の測定課題に対処するべく、さまざまな動作
間隔又はさまざまな直径又はさまざまな注視方向を持つ
対物レンズをイrする複数の前面光学系を用意すること
は有利である0粍々の注視方向は、連続的に又は一定の
間隔で回転可能な保持手段を前面光学系のなめに備える
ことによっても、効果的に達成され得る。
さらに、探査ヘッドが、柔軟な屈曲部を介して座標測定
機の測定腕に支承されている場合には有利である。この
屈曲部は、1B突の保護として役立つのであって、例え
ば測定しようとする工作物との衝突によって探査ヘッド
が破壊することを予防する。
探査ヘッドの照射光学系は、さらに、探査ヘッドの対物
レンズの回りに配設された複数のコリメータを含み得る
。このコリメータは、暗領域照射に必要な角度をもって
、対物レンズの光軸線に対して光を放射する。このよう
にして、金属表面の段部を非常に良好に把握することが
できる。ここでは、各々のコリメータが1つの固有の光
導波体から光の供給を受け、そして、該光導波体が個別
に切り替え可能である場合には、特に有利である。なぜ
なら、それによって、一定の表面構造を明瞭にするか、
もしくは比較的鮮明に写し出すところの特定方向が照射
のために設定されるからである。
前面光学系の交換面近傍の光導波体の分かj位置におけ
る光損失を可能な限り小さく維持するには、光導波体の
端部がそこにおいて案内スリーブ内に収容されているこ
とが必要である。前面光学系自体の内部に含まれる光導
波体に対して中実横断面の光伝導棒を使用することも、
この同じ目的に寄与する。このようにして、複数の個別
繊維から成る2つの光導波体が端面側で上下に配置され
ている場合に発生していたくさび損失は回避される。
本発明のその池の利点は、添付図面の第1〜9図に基づ
いて、実施例についての以下の記載から明らかになる。
を実施例] 第1図において、符号(1)で表された部分は5座標測
定機の垂直の主軸の下端部を示している。主軸(1)の
四角形の横断面は、そこにおいて比較的大きな直径を有
する環状の鍔(31)に移行しており、同鍔は、内側に
おいて120”の角度間隔で3個のボール対を支持して
おり、同ボール対の上には、中間部材(2)が、3つの
半径方向に突出するシリンダ(4a〜C)をもって位置
している。第1図の表示においては、前記ボール対の2
1Wのボールだけが示されている。前記3つのシリンダ
(4a〜C)と3つのボール対によって構成された3点
支承部は街突保設に役立つ。
中間部材(2)の中心には、鏡胴管(5)が取付けられ
ており、同鏡胴管上にはビデオカメラ(6)が設置され
ている。このビデオカメラ(6)は、ケーシング部分(
2)及び(10)から成る光学的探査ヘッドのセンサー
であり、同ビデオカメラ(6)の接続線は、中空の主軸
(1)の内側を通して案内されている。同様に主軸を通
して、5本の光導波体(9a〜C)が案内されており、
第1Qの表示においては、その内の3本の光導波体、即
ち光導波体(9a。
9b、9e)が示されている。この光導波体は、柔軟な
ファイバーケーブルから成り、そして第9図に示されて
いるように、主軸(1)の上端部に断熱的に取付けられ
た光源(41)から光の供給を受けている。
光導波体(9e)は、第2図の表示から明らかなように
、中間部材(2)において固定スリーブ(29e)内で
終了している。同光導波体から出る光は、jfl (2
2)において方向転換した後、コレクター(23)を介
して案内され、鏡胴管(5)内の分割鏡(ビームスプリ
ッタ)(7)によって観察光伝送路に内に反射せしめら
れ、そして測定しようとする対象物の明領域照射のため
に利用される。
その他の4つの光導波体(9a〜d)は、中間部材(2
)の底面の軸方向にばね付勢された案内スリーブ(11
a〜d)内において終了している。さらに中間部N(2
)の底面は2そこに交換可能に保持された以下で説明さ
れる前面光学系のための交換面を怠味している。
第1図の表示において中間部材(2)に設置された前面
光学系は、そのゲージング(10)の上面において3個
のボール対(12a〜C)を支持しており、同ボール対
は、中間部材(2)の底面に埋設された3つのシリンダ
(8a。
8b、8c)上にあって、ケーシング(10)を一義的
に位置決めする。ケーシング(10)の内側では、中間
部材(2)内の鏡胴管(5)の延長部において第2のj
A II管(15)が把持されており、同鏡胴管は、そ
の底面において前面光学系の対物レンズ(18)を担持
している。
この対物レンズ(18)の周囲には、90°の角度間隔
において、4つのコリメータレンズ (17a〜d)川
の4つのソケット(20a −(1)が埋設されている
。このコリメータは、その軸線が、対物レンズ(18)
の光軸線と、対象物平面内において、暗fl域照射のた
めに選択された角度αで交差するように方向付番プされ
ている。
コリメータ(17a〜d)は、4つの光導波体(13a
〜13d)の終端面から出る光で、測定しようとする対
象物を照射する。光線を方向転換させるために、光導波
体の終端面にはそれぞれプリズム(16a〜16d)が
装着されている。光導波体(13a〜13d)は、半硬
質のプラスチック棒であり、その他端部は、それぞれケ
ーシング(10)の上面のソケット (14a −d 
)に通じている。第5a図の拡大された表示から理解さ
れるように、このソケット(14)は内側において(値
かに面取りされており、その結果柔軟な光導波体(9a
〜d)が供給側からその内部に進入するところの案内ス
リーブ(11)の同心状の外表面は、その面取り部にお
いて、交換に際してその都度確実に収容される。ばね(
32a)は、第5a図に示された光導波体連結部の2つ
の止めリング(31a。
30a)と関連して、交換に際しての確実な連結に寄与
する。
ケーシング(10)内の半硬質の光伝導棒(13a)の
コアは、第5C図の断面図において明らかなように中実
材料から成る。これによって、個別の繊維から成る供給
側の柔軟な光導波体(9)(第5b図参+rrl )か
ら出る光線は、弱められることなく光導波体(13a)
内に入るようになる。それゆえくさび損失は発生しない
前面光学系のケーシング(10)を中間部材(2)の底
面の3点支承部(12/8)内に引き込むところの保持
力は、中間部材(2)内の3つの電磁石によって与えら
れる。第2図の表示においては、1つの電磁石(23a
)が示されている。
第9図に示された座標測定機における第1図に示された
前面光学系の注視方向は、測定台の表面に向かって下方
に垂直である。工作物の表面に対して別の注視方向を必
要とするところの測定課題を達成するために、中間部材
(2)の底面の3点支承部(8a)の調節に関連して種
々の角度において、対物レンズがビデオカメラ(6)の
光軸線に対して直角に曲げられているところの複数の前
面光学系が用意されている。
このような前面光学系は第4図に示されている。
ここに、対物レンズ(118)とビデオカメラ(6)間
の光伝送路中の方向転換鏡<121)はaX光伝送路を
方向転換、させるために利用される。その他の構成要素
は、第1図の前面光学系の構成要素と同−又は類似的に
構成されている0分割位置において重なり合っている光
導波体を90°一対称にすることにより、中間部材(2
)の底面に3点支承部川のシリンダを追加的に30°間
隔で設けた場合には、同一の前面光学系(110)が4
つの異なる方向、即ちX。
−X、Y、−Y方向において機能し得ることになる。
前面光学系のケーシング(110)において半硬質の光
伝導棒(113a〜d)に代えて柔軟な光導波体を使用
し、そしてくさび損失の発生を許容するならば1例えば
M線(125)で示された箇所に+ nji面光学系(
110)の下部を限定された角度範囲で回転可能とする
回転軸受を取付けることによって、様々な注視方向を実
現させることができる。
第8図に簡単に示したように交換箇所を構成した場合に
は1回転角度を1t111限しない連続的な回転が可能
である。ここに、前面光学系のケーシングの上面は、2
つの相互に回転可能な部分から成る。外側リング(31
0)は、符号(312a ” c )で表された3点支
承部を担持する。
内側リング(311)には前面光学系が全体として取付
けられている6回転軸受は2重線(314)で示唆され
ている。
内側リング(311)には、光学繊維の光導波体(31
3)の展開された端部が、円形に配置されるとともに、
その端部をもって、同様に円形に配置された1つ又は複
数の供給側光導波体の対応する端部と向き合っている。
このようにして、供給側光導波体から前面光学系への光
の伝送を任意の角度位置において保証する光学的スリー
lブリングが生ずる。ここにおいても、光導波体の端面
により構成される円環の個々の部分は、照射の特定方向
を調節可能とするために、供給側において及び/又は前
面光学系間において、別々に切り替え可能ないし別々に
配設され得る。
第6図には本発明の他の、実施例が示されている。この
実施例は、特に孔又は他の狭い工作物の開口の内部にお
けるビデオ技術的な測定に適している。このために、第
1図の中間部材(2)に対して、そこに示された前面光
学系(10)に代えて内視鏡ないしテクノスコープの形
りの前面光学系(215)が装着されている。このテク
ノスコープ(215)は保持板(210)の中心に取付
けられており、同保持板は、その上面において、第1図
の前面光学系(lO)のように3つのボール対から成る
3点支承部を担持している。内視鏡(215)を中間部
材(2)の内側の鏡胴管に連結せしめる前記板(210
)の鏡胴管内には、補助光学系(216)が取付けられ
ている。この補助光学系は、内視鏡の末端の対物レンズ
(218)によって描かれた像をブレビカメラ(6)の
感光面上に結像させるために寄与する。内視m (21
5)の光伝導接続線(223>は板(210)の上面側
のスリーブ(214)上に設置されている。このスリー
ブ<214)は、第1図のスリーブ(14a)と同様に
して、中間部材く2)内の案内スリーブ(lla)とル
ーするとともに、光導波体(223)を供給側の光導波
体(3a)に低損失的に接続する。様々な軸線方向を有
する孔であっても測定できるようにするために、それぞ
れ対応する別の板(210)に、直線の軸部(217)
の代わりに屈曲した軸部を有する別の内視鏡が備えられ
ている。このような軸部(227)は第7図に例示的に
示されている。
この場合には、ある特定の測定課題のために、調べよう
とする孔に対応して屈曲された複数の内視鏡を備える必
要数の保持板(210)を用意しておいて、同保持板を
、8!誠的な探針と類似の方法で、座6測定機の測定腕
に残された探査ヘッドの一部分に対して自動的に置き換
えることができる0時として、内視鏡ないしテクノスコ
ープの対物レンズは、末端部において交換可能であるた
めに、この場合は池の焦点距離ないし他の注視方向を有
する対物レンズとの交換も更に追加的に可能である。。
【図面の簡単な説明】
第1図は、座標測定機の測定腕における光学的探査ヘッ
ドの第1の実施例の断面図、第2図は、第112のホル
ダー(2)の別の面における断面図、第3図は、第1図
の線III−II+に沿った前面光学系(10)の断面
図、第4図は、屈曲された注視方向を持つ前面光学系を
備えた第1図の探査ヘッドの図、第5a図は、第1図に
記載の探査ヘッドの1つの光導波体の、交換面の領域に
おける拡大断面図、第5b、5c図は、第5a図の光等
波体(9a)ないしく13a)の断面図、第6図は、座
標測定機の測定腕における本発明の光学的探査ヘッドの
別の実施例の図、第7図は、第6図の前面光学系の1部
分の択一的な実施形IBの図、第8図は、本発明の別の
実施例における探査ヘッドの交換面の゛ド面図、第9図
は、第1図に示された探査ヘッドを備える座標測定機の
簡単な原理略図である。 9 a 〜9 b ; 13 a 〜13 (1−光導
波体。 10; 110;215;225・・・前面光学系、1
1a〜lid・・・案内スリーブ、14・・・ソケット
、 l 7a 〜11d−コリメータ、18:118 
; 2 ]、 8 : 228・・・対1勿レンズ日9
,2 】b Fig、3 Fig、9

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、座標測定機の測定腕に取付けられた光学的探査ヘッ
    ドを備えた座標測定機であって、前記探査ヘッドは、光
    導波体を通じて光の供給を受ける照射装置を有するもの
    において、前記探査ヘッドには、交換可能な前面光学系
    (10)が備えられており、該前面光学系は、対物レン
    ズ(18)並びに該対物レンズに適合せしめられた照射
    光学系(17)を含み、前記光導波体(9a〜d、13
    a〜d)は交換面を越えて案内されていて、該交換面に
    よって前記前面光学系が前記探査ヘッドに再現可能に保
    持されており、そして前記交換面に前記光導波体の端部
    を低損失的に接続するための手段(11/14)が備え
    られていることを特徴とする、光学的探査ヘッドを備え
    た座標測定機。 2、相互に交換可能な複数の前面光学系(10;110
    ;215;225)が用意されていて、該前面光学系は
    、異なる動作間隔又は異なる直径又は異なる注視方向を
    備える対物レンズ(18;118;218;228)を
    有する、請求項1記載の座標測定機。 3、前記前面光学系(10)のために、連続的に又は一
    定の間隔で回転可能な保持手段が備えられている、請求
    項1記載の座標測定機。 4、前記照射光学系は、前記前面光学系(10)の前記
    対物レンズ(18)の回りに配設された複数のコリメー
    タ(17a〜d)を含んでおり、該コリメータは、暗領
    域照射に必要な角度をもって前記対物レンズの光軸線に
    対して光を放射し、該コリメータ(17a〜d)の各々
    は1つの固有の光導波体(9a〜d)から光の供給を受
    けるのであって、該光導波体は個別に切り替え可能であ
    り、そして該光導波体(9a〜d)の端部は前記交換面
    において案内スリーブ(11a〜d)内に収容されてい
    る、請求項1記載の座標測定機。
JP1260321A 1988-10-07 1989-10-06 光学的探査ヘッドを備えた座標測定機 Pending JPH02147902A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3834117.4 1988-10-07
DE3834117A DE3834117A1 (de) 1988-10-07 1988-10-07 Koordinatenmessgeraet mit einem optischen tastkopf

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02147902A true JPH02147902A (ja) 1990-06-06

Family

ID=6364576

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1260321A Pending JPH02147902A (ja) 1988-10-07 1989-10-06 光学的探査ヘッドを備えた座標測定機

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4963728A (ja)
EP (1) EP0362625B1 (ja)
JP (1) JPH02147902A (ja)
DE (2) DE3834117A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014181974A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Nidec Tosok Corp 測定装置

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5212647A (en) * 1991-07-15 1993-05-18 Preco Industries, Inc. Die stamping press having ccd camera system for automatic 3-axis die registration
JPH05133721A (ja) * 1991-10-18 1993-05-28 Carl Zeiss:Fa 光学式プローブヘツド
DE59406961D1 (de) * 1993-07-20 1998-10-29 Raff Helmut Dipl Betriebsw Messeinrichtung
DE4325744C1 (de) * 1993-07-31 1994-12-15 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-Tastkopf
US7640836B1 (en) 1997-03-28 2010-01-05 Preco Industries, Inc. Method for simultaneous x, y and θ registration of segment of continuous web with a processing station
WO1998043788A1 (en) * 1997-03-28 1998-10-08 Preco Industries, Inc. Web or sheet-fed apparatus having high-speed positioning mechanism
GB9907643D0 (en) 1999-04-06 1999-05-26 Renishaw Plc Measuring probe
DE10057540A1 (de) 2000-11-20 2002-06-06 Bosch Gmbh Robert Interferometrische Messvorrichtung
US20050122509A1 (en) * 2002-07-18 2005-06-09 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Apparatus for wafer inspection
DE102004014153A1 (de) 2004-03-23 2005-10-13 IBTL - Ing. Büro Lang & Armlich GmbH Koordinatenmessgerät mit Wechseloptik
US7268871B2 (en) * 2004-08-12 2007-09-11 Datacolor Holding Ag Measuring head for planar measurement of a sample
CN100376863C (zh) * 2004-12-17 2008-03-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 散热器段差影像量测系统及方法
US7387605B2 (en) * 2005-04-08 2008-06-17 Linvatec Corporation Rotatable coupler for endoscopic camera
DE102007008361B3 (de) * 2007-02-16 2008-04-03 Isis Sentronics Gmbh Abtastsensorsystem zum berührungslosen optischen Abtasten von Objektoberflächen
DE102007054915A1 (de) * 2007-11-15 2009-05-20 Precitec Optronik Gmbh Messvorrichtung, Messkopf und Messkopfhalter
EP2161536A1 (de) * 2008-09-05 2010-03-10 Leica Geosystems AG Optischer Sensor mit Kollisionsschutz für eine Messmaschine
EP2194357A1 (de) * 2008-12-03 2010-06-09 Leica Geosystems AG Optisches Sensorelement für eine Messmaschine, und messmaschinenseitiges Kupplungselement hierfür
EP2795244B1 (de) 2011-12-21 2018-02-07 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Verfahren zum koppeln zweier systemkomponenten eines messgeräts, insbesondere eines koordinatenmessgeräts
EP2795243B1 (de) 2011-12-21 2016-04-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Koordinatenmessgerät mit verbesserter schnittstellenanordnung
WO2013167168A1 (de) 2012-05-07 2013-11-14 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verbessertes beleuchtungsmodul für ein koordinatenmessgerät
WO2013167167A1 (de) 2012-05-07 2013-11-14 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Wechselbares beleuchtungsmodul für ein koordinatenmessgerät
US8817240B2 (en) 2012-05-25 2014-08-26 Mitutoyo Corporation Interchangeable optics configuration for a chromatic range sensor optical pen
DE102013105753B3 (de) * 2013-06-04 2014-10-02 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum automatischen Aufnehmen eines Sensorkopfs und Koordinatenmessgerät
DE102013112186A1 (de) 2013-11-06 2015-05-07 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verbessertes Beleuchtungsmodul für einen Metrologiesensor, insbesondere ein Koordinatenmessgerät
DE102013113407B4 (de) * 2013-12-03 2022-08-18 Hexagon Metrology Gmbh Koordinatenmessgerät
US9429416B2 (en) * 2013-12-06 2016-08-30 Tesa Sa Accessory for coordinate measuring machine
DE102015105613B4 (de) 2015-04-13 2023-08-31 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Auflicht-Beleuchtung für variablen Arbeitsabstand
EP3184957B1 (en) * 2015-12-23 2021-07-14 Hexagon Technology Center GmbH Modular micro optics for optical probes
DE102016102971B4 (de) 2016-02-19 2021-02-11 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Linseneinrichtung für variablen Arbeitsabstand, Beleuchtungsbaugruppe, Koordinatenmessgerät und Verfahren
DE102017203044B3 (de) 2017-02-24 2018-05-24 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät mit einer Wechselschnittstelle zur Änderung von Abbildungsmaßstäben und / oder von Arbeitsabständen von Abbildungsoptiken
DE202017107827U1 (de) * 2017-06-12 2018-01-12 Tesa Sa Dreh /Schwenkkopf für optische Messtaster, Koordinatenmesssystem und Werkzeughalter
DE102017113411B4 (de) 2017-06-19 2019-08-01 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Beleuchtungssystem für ein Koordinatenmessgerät, Koordinatenmessgerät und Verfahren
DE102019129707A1 (de) * 2019-11-05 2021-05-06 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Koordinatenmessgerät mit optischer sensor- und/oder beleuchtungsvorrichtung, optische sensor- und/oder beleuchtungsvorrichtung für ein koordinatenmessgerät und verfahren zur nachrüstung eines koordinatenmessgeräts mit einer optischen sensor- und/oder beleuchtungsvorrichtung
DE102021101749A1 (de) 2021-01-27 2022-07-28 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Schnittstellenanordnung zur kopplung von systemkomponenten einer messvorrichtung

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL186353C (nl) * 1979-06-12 1990-11-01 Philips Nv Inrichting voor het afbeelden van een maskerpatroon op een substraat voorzien van een opto-elektronisch detektiestelsel voor het bepalen van een afwijking tussen het beeldvlak van een projektielenzenstelsel en het substraatvlak.
US4561776A (en) * 1981-03-25 1985-12-31 Diffracto Ltd. Electro-optical sensors for tool and robotic inspection
DE3279731D1 (en) * 1981-07-07 1989-07-06 Renishaw Plc Device for measuring dimensions
US4570065A (en) * 1983-01-28 1986-02-11 Pryor Timothy R Robotic compensation systems
US4688184A (en) * 1984-03-29 1987-08-18 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha System for measuring three-dimensional coordinates
GB8522984D0 (en) * 1985-09-17 1985-10-23 Renishaw Plc Tool change apparatus
US4706168A (en) * 1985-11-15 1987-11-10 View Engineering, Inc. Systems and methods for illuminating objects for vision systems
GB2200357B (en) 1987-01-27 1990-10-10 Thorn Emi Electronics Ltd Epoxy foams
US4887883A (en) * 1988-06-20 1989-12-19 Honeywell Inc. Undersea wet-mateable fiber optic connector

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014181974A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Nidec Tosok Corp 測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0362625B1 (de) 1992-11-04
DE3834117A1 (de) 1990-04-12
US4963728A (en) 1990-10-16
EP0362625A2 (de) 1990-04-11
EP0362625A3 (en) 1990-05-30
DE58902612D1 (de) 1992-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02147902A (ja) 光学的探査ヘッドを備えた座標測定機
US10612907B2 (en) Device and method for measuring workpieces
US10371500B2 (en) Incident-light illumination for a variable working distance
CN101833130B (zh) 光导、光源装置以及内窥镜系统
CN104395689B (zh) 用于坐标测量机的改进的照明模块
US10641602B2 (en) Probe system for measuring at least one measurement object in optical and tactile fashion
DE102014117978A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung von Werkstücken
AU2009202383A1 (en) Apparatus for low coherence ranging
CN102914861A (zh) 扫描共焦显微术中的改进以及与之相关的改进
JP2008175625A (ja) 三次元測定装置及び携帯型計測器
JP2006208681A (ja) 接続ユニットおよび光走査型蛍光観察装置
US10551176B2 (en) Sensor device and method of inspecting the surface of a cylindrical hollow enclosure
JP2020042016A (ja) 光学測定装置を有する測定デバイス及びそのような測定装置を用いて光学的に距離測定を行う方法
US6441910B1 (en) System for measuring structures of an object
US9398935B2 (en) Robotic imaging system
US9857164B2 (en) Lens device for a variable working distance, illumination assembly, coordinate measuring machine and method
US10845182B2 (en) Modular micro optics for optical probes
JP3999726B2 (ja) 手術用顕微鏡
US20170280972A1 (en) Set of connectors, flange, manufacturing method of set of connectors, and endoscope
WO2019186718A1 (ja) 光ファイババンドル、内視鏡用スコープ、及び、内視鏡
JPH08201026A (ja) 寸法計測機能付き内視鏡
JP7064625B2 (ja) 内視鏡装置
JP7244954B2 (ja) 位置測定方法及び部品
DE3611030A1 (de) Optisch positionierbare einrichtung
DE102017113411B4 (de) Beleuchtungssystem für ein Koordinatenmessgerät, Koordinatenmessgerät und Verfahren