JPH02141638A - 光ファイバ構造パラメータ測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光ファイバの測定装置に関し、特に光ファイバ
の構造パラメータを計測するための測定装置に関する。

［従来の技術］ 光ファイバのコア径、クラツド径、コア及びクラッドの
非円率、屈折率等の構造パラメータを測定する方法とし
て種々のものがある。クラツド径の測定のみならマイク
ロメータ等の測定器具を用いることができたが、これで
は他の項目を測定することができない。石英製の光ファ
イバの場合は、例えばコア径が５０μｍ１クラツド厚が
３７μｍ程度であるので、顕微鏡の視野の中にコアとク
ラッドを同時に収めつつ所定の目盛を用いて両者の径を
測定することが可能であった。

更に光ファイバの一方の端面から光を入射し、他方の端
面から出射される透過光の強度を観測し、この測定を単
一の視野の中で径方向に掃引して行うことにより透過光
強度の変化を検出して、コア径、クラツド径を測定する
方法があったが、これも石英光ファイバにのみ適用可能
であった。

又、屈折率及び屈折率分布を測定する方法としては端面
での反射率を測定することにより屈折率を求める方法が
知られている。

［発明が解決しようとする課題］ 上記従来の光ファイバ構造パラメータの測定装置及び測
定方法は石英光ファイバのようにコア径とクラッド厚が
同程度のディメンションの場合は顕微鏡の一つの視野内
にて両者を観測できるが、プラスチック光ファイバには
そのまま適用することができない。これはプラスチック
光ファイバのディメンションが例えばコア径１關でクラ
ッド厚１０μｍというように、クラッドの厚さがコア径
に比して極めて小さい値であるので両者を同−視野内に
収めて測定することができないことによる。

更にクラツド径が１２５μｍ程度の石英光ファイバの場
合は端面の凹凸を少なくすることが容易であったが、ク
ラツド径が１　ｍｍ以上のプラスチック光ファイバでは
端面全体にわたって凹凸を少なくすることが必らずしも
容易でなく、又端面が光ファイバの軸に対して傾斜して
いることにより、顕微鏡のフォーカスにずれを生じ、又
反射光が正確に戻ってこなくなるという問題を生じてい
た。

従って本発明はコア径とクラッド厚のディメンションが
大きく異なる光ファイバの構造パラメータを容易に測定
することのできる光ファイバ構造パラメータ測定装置を
提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段及び作用］上記目的を達成
するため、本発明では、光ファイバから試験片を切り出
し端面を研磨し、この端面を十分な倍率の顕微鏡で目視
しつつ、この試験片を載せた台をＸ−Ｙ方向に移動して
レーザ光線のスポットを光ファイバの端面の複数の箇所
に照射し、そのときのＸ−Ｙ座標を読み込み、このデー
タを基にコア径、クラツド径、非円率を演算するもので
ある。又屈折率の測定にはレーザ光線が光ファイバ端面
で反射されて戻ってきた反射光の強度を測定することに
より行われ、端面の中心を通る直径方向にレーザビーム
を掃引することにより、屈折率分布を得ることができる
。上記各測定において、端面の凹凸や傾斜があると顕微
鏡のフォーカスがずれたり、反射光が正確に所定の光路
に戻ってこなくなるので、反射光強度を検出することに
より自動的にフォーカス制御を行うオートフォーカス制
御機構を用いる。

かかる測定を行うため本発明では被測定物の光ファイバ
片を置くための台と、所定のレーザビームを出力するレ
ーザと、前記レーザビームをフォーカス機構を介して前
記光ファイバに照射する手段と、前記光ファイバに前記
レーザビームが照射されている様子を目視観測する手段
と、前記レーザビームの照射方向をＺ軸方向とするとき
、相対的に前記台をＸ軸方向及びＹ軸方向に移動するこ
とのできるＸ−Ｙ方向移動手段と、前記Ｘ−Ｙ方向移動
手段によるＸ−Ｙ方向への基準点からの移動距離を計測
する手段と、前記計測する手段からの出力信号を読み込
むための手動スイッチと、前記手動スイッチと前記計測
する手段に応答し前記手動スイッチの操作された時点に
おける前記移動距離を記憶する手段と、前記記憶する手
段に記憶されたデータを演算する手段からなる光ファイ
バ構造パラメータ測定装置が提供される。

［実施例］ 以下図面と共に本発明の実施例について説明する。被測
定物である光ファイバ片を含む試料１０を置く台６２は
黒板からなり、この黒板６２は手動のゴニオステージ６
３の上に固定されることにより２軸方向にあおり角調整
が可能である。ゴニオステージ６３は手動のＸ軸ステー
ジ５６上に置かれており、このＸ軸ステージ５６はモー
タドライブのＹ軸ステージ５８上に置かれている。６０
はＹ軸ステージ５８が置かれているシャーシであり、６
４はＹ軸ステージ５８を駆動するモータである。なおＹ
軸ステージ５８は手動操作も可能である。　図中Ｙ軸は
矢印で示される左右方向の軸であり、Ｘ軸は紙面に垂直
な方向である。ゴニオステージ６３の上方には鏡筒１２
が図中上下方向、すなわちＺ軸方向に伸長するように設
けられている。この鏡筒１２の内部にはハーフミラ−１
６゜１８．２０．対物レンズ群１４、結像レンズ２２、
光検出器２４が設けられている。ハーフミラ−１８には
操作部１９が設けられており、使用者が鏡筒１２の外部
から操作して図中上下方向に伸長する光路からこのハー
フミラ−１８を除くことができるようになっている。

３０はＨｅ−Ｎｅレーザであり発光されたレーザビーム
は１／４λ板３２、レンズ３４、ビームスプリッタ３６
を介して前述の／−一フミラー２０に導びかれ、対物レ
ンズ群１４を介して試料１０の端面に照射される。図中
２８．３８，４２゜５２はレンズであり、２６．４０は
反射鏡である。

４４は試料１０の端面にて反射したレーザビームを検出
するフォーカス検出用光検出器であり、４６は光検出器
４４からの検出信号を用いて制御信号を作る制御回路で
ある。この制御信号はモータ４８に与えられ、鏡筒１２
を２軸方向に移動制御して自動フォーカスが行われる。

５０は照明用光源であり、その出射光はレンズ５２、ノ
＼−フミラー１６、対物レンズ群１４を介して試料１０
に照射され、レンズ２８を介しての光ファイバの目視を
容易にしている。５４はレーザ３０からのレーザビーム
をビームスプリッタ３６を介して受光する光検出器であ
り、前述の光検出器２４と同規格のものが用いられるこ
とが好ましい。この光検出器５４はモニタ用であり、光
検出器２４での受光量の変化に対する基準を与えるもの
である。

７８Ａ、８０Ａ、８２Ａはリニアエンコーダであり、そ
れぞれＺ軸、Ｘ軸、Ｙ軸方向の動きを基準点に対する座
標にて示すデジタル信号を発生するものである。すなわ
ち、Ｚ軸周すニアエンコーダ７８Ａは鏡筒１２の２軸方
向の移動に対して、Ｘ軸周リニアエンコーダ８０ＡはＸ
輪ステージ５６のＸ軸方向の移動に対して、Ｙ軸周リニ
アエンコーダ８２ＡはＹ軸ステージ５８のＹ軸方向の移
動に対して動作するものである。

第２図は第１図の測定装置の電気回路部分のみを示した
ブロック図である。上記リニアエンコーダ７８Ａ、８０
Ａ、８２Ａの出力信号は各々デジタルパネルメータ７８
Ｂ、８０Ｂ、８２Ｂとインターフェース８４を介してコ
ンピュータ７２に入力されている。各デジタルパネルメ
ータ７８Ｂ。

８０Ｂ、８２Ｂはカウンタ７８Ｃ，８０Ｃ。

８２Ｃと表示部７８Ｄ、８０Ｄ、８２Ｄを有している。

８８はフットスイッチであり、後述するように測定者が
レンズ２８を介して光ファイバ１０を目視しつつ必要な
データを読み込むために用いられる。７０は光検出器２
４．５４の出力信号を各々増幅した２つの信号間で除算
して得られる商信号をデジタル信号に変換して出力する
２チヤンネルパワーメータであり、このデジタル信号は
コンピュータ７２に入力される。７４はコンピュータ７
２に接続されたＣＲＴ、７６は同様に接続されたキーボ
ードである。このコンピュータ７２、ＣＲＴ７４、キー
ボード７６はパーソナルコンピュータとして汎用されて
いるものを用いることができる。

次に上記測定装置を用いた光ファイバ構造パラメータの
測定について説明する。

測定に先立って被測定物たる試料１０を準備すると共に
、できた試料１０を台６３の上に置き所定の準備作業を
行う必要がある。

試料１０に含まれるべき光ファイバをエボキシ樹脂接着
剤にて抱み固化する。具体的にはポリエチレン製シリン
ダの中心に光ファイバを通し、エポキシ樹脂を注入した
後、室温にて放置し固化させる。固化した後、適当な長
さ、例えば５〜１０龍、の試料片となるよう切断する。

次に測定用端面を研磨する。研磨条件としては＃１５０
０耐水研磨紙、１μｍアルミナ、０．０５μｍアルミナ
の順とする。研磨終了後超音波洗浄により研磨粒を完全
に除去し、次に圧縮空気を送り測定端面の水滴を吹きと
ばす。その後試料片１０を真空乾燥して試料片が完成す
る。この試料片１０はマツチングオイルとして用いられ
るグリセリン（ｎ　−１，４７５）をゴニオステージ６
２の上部に置かれるべき台、すなわち黒板６３の表面に
滴下し、研磨した端面を上方にして、マツチングオイル
滴下部に置かれる。第３図はこの様子を示す図であり、
９０がエポキシ樹脂、９２が光ファイバ、９４はマツチ
ングオイルである。

このようにしてできた試料片１０を載せた黒板６３をゴ
ニオステージ６２の上に置き黒板６３をゴニオステージ
６２に対して固定する。この状態で目視観察用の白色照
明光源５０に通電し、又Ｈｅ−Ｎｅレーザ３０にも通電
し白色光とレーザビームを鏡筒１２を介して試料１０の
端面に照射する。次にＸ軸ステージ５６とＹ軸ステージ
５８を各々手動にて操作し、レーザビームが試料１０中
の光ファイバ９２の中心付近を通ってそれぞれＸ軸方向
、Ｙ軸方向に掃引されるようにする。このＸ軸及びＹ軸
方向の掃引中、光検出器４４、制御回路４６、モータ４
８からなるオートフォーカス機構が動作し、鏡筒１２を
常に最適なフォーカスが得られる位置に２軸に沿って移
動させる。試料１０の端面がＺ軸に対して垂直でなく、
傾いていると、照射されたレーザビームが正確に所定の
光路に戻ってこなくなるので、２軸ゴニオステージ６２
のあおり角を手動調整する必要がある。このため、上記
掃引中のＺ軸周リニアエンコーダ７８Ａの出力に応答す
るデジタルパネルメータ７８Ｂの表示部７８Ｄに表示さ
れる値が常に一定となるように手動で２種類のあおり角
を調整する。

これで試料１０の端面がＺ軸に対して垂直になったこと
になる。

次に光ファイバ９２のコアとクラッドの境界をレンズ２
８を介して目視しながらＸ軸ステージ５６とＹ軸ステー
ジ５８を手動操作して、レーザビームスポットがコアと
クラッドの境界に位置するようにし、ここでフットスイ
ッチ８８を踏む。

従ってこのときの各リニアエンコーダ７８Ａ。

８０Ａ、８２Ａの出力値、すなわち各座標値がコンピュ
ータ７２に読み込まれ記憶される。次にＸ軸ステージ５
６とＹ軸ステージ５８を手動操作し、先の１点と共に略
正三角形を形作る他の２点をクラッドとコアの境界上に
求めて同様にフットスイッチ８８により各座標値を読み
込む。第４図は光ファイバのコアとクラッドの境界上に
３点を設定した様子を示す図である。この３点のＸ−Ｙ
座標（ｘ　　、　　ｙ　　）＋　　（ｘ　　＊　　ｙ　
　）、　　（ｘ３．ｙ３）ｌ　　１　　　２　２ から３点を通る円の方程式を求め、次に中心座標ａ、ｂ
と半径Ｒを次の式（１）〜（３）から求める。

から３点を通る円の方程式を求め、次に中心座標ａ、ｂ
と半径Ｒを次の式（１）〜（３）から求める。

−（ｙ　−ｙ　　）　ｌｘ、２＋ｙ１２−ｘ２−ｙ２）
１／２　　（（ｙ　　−ｙ　　）　　・（ｘ　　−ｘ　
　）−（ｙ２−ｙｌ）・（Ｘ２−Ｘ３　）ｌ　　　　　
　　　　　　・・（１）−ｂ−（−２・（ｘ２−Ｘ３　
）　・（−ａ）Ｘ　　２−ｙ　　２＋ｘ　　２−ｙ　　
２１これらの演算結果はＣＲＴ７４に表示される。

次に中心座標（ａ、ｂ）にレーザビームスポットが位置
するようにデジタルパネルメータ８０Ｂ。

８２Ｂを見ながらＸ軸ステージ５６を手動操作し、Ｙ軸
ステージ５８を自動操作する。中心座標にレーザビーム
スポットが照射される状態となるとＸ軸とＹ軸のデジタ
ルパネルメータ８０Ｂ、８２Ｂが中心座標（ａ、ｂ）を
示すので、ここで停止し、デジタルパネルメータ８０Ｂ
、８２Ｂのカウンタ８０Ｃ，８２Ｃを０にリセットする
。従って各表次に試料１０の端面の凹凸量が所定許容量
（例えば１μｍ）以内か否かの検査を行う。これはＹ軸
方向に掃引しつつ、１μｍステップで２軸のカウンタ７
８Ｃの値を次々と自動的にコンピュータ７２に読み込み
、オートフォーカスによる鏡筒１２の２軸方向移動量の
変化をＣＲＴ７４の画面上に作図することにより行う。

すなわちＹ軸を横軸に、Ｚ軸を縦軸にして端面の平坦の
度合を作図し、Ｚ軸移動量、すなわち凹凸差が許容量を
超えているときは、その試料は不適当であると判断し除
外する。このようにして選択された試料１０を用いて以
下の測定が行われる。

まずコア径、コア非円率、クラツド径、クラッド非円率
、コア／クラッド偏心率の測定について説明する。上記
測定項目中、コア径とクラツド径以外の項目は、複数の
コア径とクラツド径のデータを用いて演算により求める
ことができる。従ってコア径とクラツド径の複数のデー
タを取り込む必要がある。

第５図は上記データを取り込み各測定を行うフローを示
すフローチャートであり、ステップＡ。

Ｂ、Ｃの詳細は第６図〜第８図に示されている。

第５図の実施例ではコア径を先に測定しているが、クラ
ツド径を先に測定してもよく、この場合は第８図のフロ
ー中のコア／クラッド偏心率を演算するステップを第７
図のフローに移せばよい。第５図のステップＡはレーザ
ビームスポットを光ファイバの中心に位置させるための
処理であり、第６図に示されているように、コア又はク
ラッドの円周上の任意の３点の座標を取り込み、前述の
準備作業同様の計算で中心座標（ａ、ｂ）と半径Ｒを求
め、ＣＲＴ７４に表示する。この表示を見て、Ｘ軸ステ
ージ５６を手動操作してレーザビームスポットがＸ軸座
標のａに位置するようにし、次にＹ軸ステージ５８を自
動操作し、レーザビームスポットがＹ軸座標のｂに位置
するようにする。こうしてレーザビームスポットは光フ
ァイバの中心座標（ａ、ｂ）に位置することとなる。な
おこの中心座標（ａ、ｂ）は上記のように円周上の任意
の３点の座標から求めたものであり、光ファイバが真円
であるとは限らないから、真の中心点から多少ずれてい
ることもありうる。この中心座標（ａ、ｂ）を原点（０
，Ｏ）とおき、ＣＲＴ７４の画面には座標の原点を中心
とし、半径Ｒの円を描く。

次にコア径等の測定フローＢについて第７図により説明
する。測定者はデータの取り込み数を決めキーボード７
６から入力する。データは３点で１セツトとなるので必
ずデータ数は３の倍数でなくてはならない。コア外周に
沿ってレーザビームスポットを照射し、フットスイッチ
８８を踏むことにより、データを次々と取り込んでゆく
。データ数が予め入力した数に達すると、前述同様の方
法で３点の座標から中心座標を求め、複数の中心座標を
平均して真の中心座標を求める。次に真の中心に極座標
を適用して各測定点までの半径を求め、このデータから
コア径とコア非円率を求める。

なおコア径は複数の半径の値を平均して２倍したもので
ある。又コア非円率（Ｎ　ｃｏ）は次の式による。

Ｎｅｏ（％）−＋　（ＲｏｏＭ＾Ｘ　　　ｃｏＭＩＮ　
）　Ｒ ／Ｒ）Ｘ１００　　　　　　・　赤　・　（４）Ｏ ここでＲ８ｏＭＡＸはコア半径の最大値’　ＲｃｏＭＩ
Ｎは同最小値、Ｒは同平均値である。

Ｏ 上記計算結果はＣＲＴ７４に表示されると共に、測定さ
れたコア径を用いて円を描き直す。

第８図はクラツド径等の測定フローＣを示すもので、基
本的に第７図のフローと同様であるが、最後にコア／ク
ラッド偏心率を求める処理が加っている点が異る。第８
図中クラッドの非円率（Ｎ　ｃｌ）は次の式により求め
られる。

Ｎｃｌ（Ｘ）”　’　（ＲｃｌＭＡＸ　　　ｃｌＭＩＮ
　）　Ｒ ／ＲｌＸ１００　　　　　−　　−（５）ｃｌ ここでＲはクラッド半径の最大値、 １ＭＡＸ ＲｃｌＭＩＮは同最小値、Ｒｃｌは同平均値である。

コア／クラッド偏心率（Ｅ　　　　’）はコアの中ｃｏ
／ｃｌ 心座標とクラッドの中心座標の相互間の距離Ｘを求め次
の式により計算する。

Ｅｃｏ／ｃｌ　（％）”　（Ｘ／２Ｒ）Ｘ１００・・・
（６）Ｏ 次に屈折率と屈折率分布、更に理論最大ＮＡを求めるフ
ローについて第９図に従って説明する。

本発明の装置では屈折率等を求めるためにコア及びクラ
ッドの反射率を求めているが、反射率と屈折率及び理論
最大ＮＡの関係についてまず説明する。

物質の屈折率ｎと反射率Ｒには次の関係がある。

コアの反射率をＲクラッドの反射率をＲ２とし、その比
をＲとするとき、ＲＫは実測により得られる反射光強度
比Ｒ’　　／　Ｒ’　ｔにより測定できる。

Ｒ−Ｒ／Ｒ−Ｒ’２／Ｒ’ｌ コアの屈折率を０１とすれば であり、ｎ１アツベ屈折率計などで、予めバルク材料を
用いて実測でき、Ｒ１は（７）式で計算でき、（８）式
より Ｒ−Ｒ’　　／Ｒ’　　を測定すれば、ｎ２が計算Ｋ　
　　　　　　２　　　　　　１ できる。

ＮＡ　−（ｎ　　２−　　２）　１１２−（１１）１　
　　°２ により理論最大ＮＡが計算できる。

第９図のフローではＹ軸ステージ５８を自動操作してク
ラッドの直径に沿ってＹ軸方向の掃引を行い、クラッド
部分では１μｍ毎に、又コア部分では１０μｍ毎に反射
レーザビームの強度を測定してゆく。最初のステップで
コア径＋２０μｍの位置までＹ軸ステージ５８を移動す
るのは、クラッド厚が１０μｍ程度であるので、クラッ
ドの外周より更に外側から測定を開始するためである。

光ファイバの直径に沿って反射強度データを取り込むと
、このデータを用いて屈折率、屈折率分布、理論最大Ｎ
Ａを計算し、ＣＲＴ７４に表示する。

第１表は種類の異なるシート状光ファイバ材料を用いて
測定した屈折率、理論最大ＮＡ等をまとめたものである
。表中「ブランク」とは試料を置かず無反射状態での測
定を示す。「ＰＭＭＡＪはコア材として用いられるポリ
メチルメタクリレート、試料（１）〜（３）はクラツド
材として用いられる異なる種類の合成樹脂からなるもの
である。ＮＡ理論値はアツベの屈折計を用いて測定した
第１行目の測定値から計算したものである。反射光強度
は「ブランク」以外については３回測定し平均値又を求
めた。この反射光強度は第１図の光検出器２４の出力を
モニター用光検出器５４の出力で除算して補正したもの
である。

この第１表から明らかなように本発明の測定装置で得ら
れた屈折率及びＮＡ計算値はそれぞれアツベの屈折計か
ら得られた屈折率とＮＡ理論値とほぼ等しく、測定精度
が極めて高いことがわかる。

第１０図は上記測定で得られた屈折率の分布の一例を示
すグラフ、第１１図はその部分拡大図である。

第２表は２種類のプラスチック光ファイバを用いて各項
目を測定した結果をまとめたものである。

使用した光ファイバは三菱レイヨン■製のエスカ（商標
）の２種類である。

上記実施例では試料１０を載せたＸ軸ステージ５６及び
Ｙ軸ステージ５８を移動する構成となっているが、試料
を固定して鏡筒１２をＸ−Ｙ方向に移動するようにして
もよい。又Ｚ軸についても実施例では鏡筒１２を移動し
たが、試料１０を移動してもよい。すなわち鏡筒１２と
試料１０が相対的にｘ、ｙ、ｚの３方向に移動する構成
となっていればよいのである。

［発明の効果コ 以上詳細に説明したところから明らかなように、本発明
の光ファイバ構造パラメータ測定装置は上記構成となっ
ているので、光ファイバのレーザビームの照射状況を目
視しつつフットスイッチ等の手動スイッチを用いてＸ−
Ｙ座標を取り込むことができ、取り込んだ複数のデータ
を用いてコア径、クラツド径、コア非円率、クラッド非
円率を容易かつ正確に測定することができる。又レーザ
ビームの反射光強度を測定することにより屈折率とその
分布、理論最大ＮＡを容易かつ正確に測定することがで
きる。

第１図は本発明の光ファイバ構造パラメータ測定装置の
模式図、第２図は同装置の電気回路部分のブロック図、
第３図は光ファイバを含む試料を黒板上に置いた状態を
示す図、第４図は光ファイバのコアとクラッドの境界上
にレーザビームスポットを３点設定した状況を示す図、
第５図〜第９図は第２図に示したコンビ二一夕の処理フ
ローを示す図、第１０図、第１１図は測定した屈折率の
分布を示すグラフである。

１０・・・試料、１２・・・鏡筒、１４・・・対物レン
ズ群、１６．１８．２０・・・ハーフミラ−１９・・・
操作部、２２．２８，３４，３８，４２．５２・・・レ
ンズ、２４．５４・・・光検出器、２６．４０・・・鏡
、３０・・・レーザ、３２・・・　１／４λ板、３６・
・・ビームスプリッタ、４４・・・フォーカス検出用光
検出器、４６・・・制御回路、４８．６４・・・モータ
、５０・・・照明用白色光源、５６・・・Ｘ軸ステージ
、５８・・・Ｙ軸ステージ、６０・・・シャーシ、６２
・・・台（黒板）、６３・・・ゴニオステージ、７０・
・・２−チャンネルパワメ−夕、７２・・・コンピュー
タ、７４・・・ＣＲＴ、７６・・・キーボード、７８Ａ
、８０Ａ、８２Ａ・・・リニアエンコーダ、７８Ｂ、８
０Ｂ、８２Ｂ・・・デジタルパネルメータ、７８Ｃ，８
０Ｃ，８２Ｃ・・・カウンタ、７８Ｄ、８０Ｄ、８２Ｄ
・・・表示部、８４・・・インターフェース、８８・・
・フットスイッチ、９０・・・エポキシ樹脂、９２・・
・光ファイバ、９４・・・マツチングオイル。

発　　明　　者　　伊　　　藤　　　英　　　昭特許出
願人　三菱レイヨン株式会社 代　理　人　弁理士　二　瓶　正　散 策 図 第３ 第 図 第 図 第 図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）被測定物の光ファイバ片を置くための台と、所定
   のレーザビームを出力するレーザと、前記レーザビーム
   をフォーカス機構を介して前記光ファイバに照射する手
   段と、前記光ファイバに前記レーザビームが照射されて
   いる様子を目視観測する手段と、前記レーザビームの照
   射方向をＺ軸方向とするとき、相対的に前記台をＸ軸方
   向及びＹ軸方向に移動することのできるＸ−Ｙ方向移動
   手段と、前記Ｘ−Ｙ方向移動手段によるＸ−Ｙ方向への
   基準点からの移動距離を計測する手段と、前記計測する
   手段からの出力信号を読み込むための手動スイッチと、
   前記手動スイッチと前記計測する手段に応答し前記手動
   スイッチの操作された時点における前記移動距離を記憶
   する手段と、前記記憶する手段に記憶されたデータを演
   算する手段からなる光ファイバ構造パラメータ測定装置
   。
2. （２）前記光ファイバの端面に照射された前記レーザビ
   ームの反射光を検出する手段と、前記反射光を検出する
   手段の出力信号に応答し前記照射する手段の前記フォー
   カス機構を制御する手段とを有する請求項１記載の光フ
   ァイバ構造パラメータ測定装置。
3. （３）前記光ファイバの端面にて反射された前記レーザ
   ビームの反射光の強度を測定する手段と、前記光ファイ
   バのコア部からの反射光の強度とクラッド部からの反射
   光の強度を用いて前記光ファイバの屈折率を演算する手
   段とを有する請求項１又は２記載の光ファイバ構造パラ
   メータ測定装置。
4. （４）前記Ｘ−Ｙ方向移動手段を制御して前記台を所定
   距離ずつ一つの方向に移動せしめる手段と、前記所定距
   離の移動のあったときに前記反射光の強度を読み込む手
   段を有する請求項３記載の光ファイバ構造パラメータ測
   定装置。