JPH02136722A - 高速光周波数変調器 - Google Patents

高速光周波数変調器

Info

Publication number
JPH02136722A
JPH02136722A JP29202488A JP29202488A JPH02136722A JP H02136722 A JPH02136722 A JP H02136722A JP 29202488 A JP29202488 A JP 29202488A JP 29202488 A JP29202488 A JP 29202488A JP H02136722 A JPH02136722 A JP H02136722A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
plane mirrors
changing
elements
interval
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP29202488A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyuki Hiraoka
和志 平岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Zosen Corp
Original Assignee
Hitachi Zosen Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Zosen Corp filed Critical Hitachi Zosen Corp
Priority to JP29202488A priority Critical patent/JPH02136722A/ja
Publication of JPH02136722A publication Critical patent/JPH02136722A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、ファプリー・ベロー干渉計を使用した高速
光周波数変調器に関する。
従来の技術および発明の課題 ファブリー・ペロー干渉計を使用した分光器として、2
つの半透明平面鏡が剛体的に固定されたファプリー・ベ
ロー・エタロンと呼ぶものが知られている。
これは、平面鏡を剛体的に固定することにより、波長選
択精度が高く、機械的安定性も高いものになっているが
、透過光の波長は固定されて変化させることができず、
素材の熱膨張による透過光の波長ドリフトも避けられな
い。
この発明の目的は、上記の問題を解決し、光の周波数変
調器として使用でき、機械的安定性および波長選択精度
が高く、熱膨張による波長ドリフトも補正できる高速光
周波数変調器を提供することにある。
課題を解決するための手段 この発明による高速光周波数変調器は、ファブリー・ペ
ロー干渉計を構成する2つの半透明平面鏡が、これらの
間に挾まれた圧電素子により固定されており、圧電素子
の印加電圧を変化させることにより平面鏡の間隔が変化
させられるようになされているものである。
作   用 2つの平面鏡が圧電素子により固定されているので、機
械的安定性が高く、波長選択精度も高い。
圧電素子の印加電圧を変化させて平面鏡の間隔を変化さ
せることにより、透過光の波長を高速にかつ広範囲に変
化させることができる。
また、圧電素子の印加電圧を変化させて平面鏡の間隔を
調整することにより、熱膨張による波長ドリフトを補正
することができる。
実  施  例 以下、図面を参照して、この発明の1実施例を説明する
第1図は、この発明による光の周波数変調を高速で行な
う高速光周波数変調器を示す。
分光器(10)は、ファプリー・ベロー干渉計の原理を
利用したファブリー・ペロー・エタロンと呼ばれるもの
であり、その詳細が第2図〜第4図に示されている。
分光器(lO)は、2つの半透明平面鏡(11)(12
)と、これらの間に挾まれた3つの圧電素子(13)(
14)(15)と、各圧電素子(13) (14) (
15)の近くに配置された3つの距離センサー(1B)
 (17) (1g)とから構成されている。圧電素子
(13) (14) (15)と距離センサー(1G)
 (17) (18)は駆動回路(19)に接続されて
おり、圧電素子(13) (14) (15)の電圧を
制御することにより、それらの長さを変化させて、平面
鏡(11)(12)の平行を保ったままこれらの間隔を
変化させる。なお、平面鏡(11)(12)の平行を保
ったまま間隔を変化させるために、圧電素子(13) 
(14) (15)は3つ設けられている。また、圧電
素子(13) (14) (15)の電圧と長さの間の
関係にはヒステリシスが存在し、電圧で1義的に長さを
決定できないので、次に詳細に説明するように、平面鏡
(11)(12)間の距離を距離センサー(1B) (
17) (18)を使用してUl定し、そのA11J定
量が一定になるように圧電素子(13)(14) (1
5)にかかる電圧を制御することにより、平面鏡(11
)(I2)間の間隔を正確に制御している。すなわち、
まず、第1距離センサー(16)の測定量に基づいて第
1圧電素子(13)の長さを決定する。次に、第2圧電
索子(14)および第3圧電素子(15)について、そ
れぞれの近くに配置した第2距離センサー(17)およ
び第3距離センサー(18)の測定量が第1距離センサ
ー(16)の測定量と一致するように、これらの圧電素
子(14)(15)にかかる電圧を制御する。
分光器(lO)に゛入射した光は、2つの平面鏡(11
)(12>の間で多重反射を起こし、波長選択精度の良
い透過光が得られる。透過光の一部は/% −フミラー
(20)で反射して回折格子(21)に入射する。回折
格子(21)の1次光の出射方向に、PSDやCCDを
使用したポジションセンサー(22)か設置されており
、これにより1次光が受けられる。そして、ポジション
センサー(22)の出力信号と図示しない制御装置など
からの選択波長指令値Iが駆動装置(19)に入力する
回折格子(21)における0次光に対する1次光の角度
θは、次の式り1)で表わされる。
θ−5ln−’(λ/d)  ・−・−(1)λ:回折
格子に入射する光の波長 d:回折格子の格子間隔 角度θは入射光の波長λの関数となっており、ポジショ
ンセンサー(22)上のスポットの位置は波長λにより
一義的に決まるので、ポジションセンサー(22)の出
力から透過光の波長がわかる。
ファプリm−ペロー・エタロンからの透過光の波長λは
、次の式(2)で表わされる。
λ−2//m ・・・・・・・・・ (2)e二手面鏡
間の間隔 m:整数 したがって、前述のように平面鏡間の距離を変化させる
ことにより、透過光の波長を高速にかつ広範囲に変化さ
せることが可能である。また、透過光の波長と選択波長
指令値Iとが等しくなるように圧電素子(13) (1
4) (15)の印加電圧を制御して平面鏡(11)(
12)の間隔を調整することにより、指令値Iに対応し
た波長の透過光が得られる。そして、このように透過光
を直接モニターしてフィードバック制御を行なうことに
より、分光器(lO)を構成する素材の温度変化に伴う
膨張、収縮による透過光の波長ドリフトが起こらないよ
うにすることができる。
発明の効果 この発明の光周波数変調器によれば、上述のように、機
械的安定性および波長選択精度が高く、透過光の波長を
高速にかつ広範囲に変化させることができ、かつ熱膨張
による波長ドリフトを補正することができる。また、光
周波数変調器を通しても波長により進行方向の変化がな
いので、光学系および周辺機械の構成が簡単となり、ビ
ームの変形も少ない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の1実施例を示す高速光周波数変調器
の概略構成図、第2図は第1図の分光器の部分を拡大し
て示す斜視図、第3図は第2図■−■線の断面図、第4
図は第3図rV−IV線の矢視図である。 (10)・・・分光器、(11X12)・・・半透明平
面鏡、(13) (14) (15)・・・圧電素子。 以  上 特許出願人  日立造船株式会社 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ファブリー・ペロー干渉計を構成する2つの半透明平面
    鏡が、これらの間に挾まれた圧電素子により固定されて
    おり、圧電素子の印加電圧を変化させることにより平面
    鏡の間隔が変化させられるようになされている高速光周
    波数変調器。
JP29202488A 1988-11-17 1988-11-17 高速光周波数変調器 Pending JPH02136722A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29202488A JPH02136722A (ja) 1988-11-17 1988-11-17 高速光周波数変調器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29202488A JPH02136722A (ja) 1988-11-17 1988-11-17 高速光周波数変調器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02136722A true JPH02136722A (ja) 1990-05-25

Family

ID=17776547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29202488A Pending JPH02136722A (ja) 1988-11-17 1988-11-17 高速光周波数変調器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02136722A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0460428A (ja) * 1990-06-28 1992-02-26 Shimadzu Corp 相対平面板の駆動機構
JP2009244498A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Seiko Epson Corp 光学フィルタ装置
JP2011242345A (ja) * 2010-05-21 2011-12-01 National Institute Of Advanced Industrial & Technology スペクトル測定装置及び測定方法
US10247608B2 (en) 2015-04-28 2019-04-02 Panasonic Corporation Spectroscopic module control method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0460428A (ja) * 1990-06-28 1992-02-26 Shimadzu Corp 相対平面板の駆動機構
JP2009244498A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Seiko Epson Corp 光学フィルタ装置
JP2011242345A (ja) * 2010-05-21 2011-12-01 National Institute Of Advanced Industrial & Technology スペクトル測定装置及び測定方法
US10247608B2 (en) 2015-04-28 2019-04-02 Panasonic Corporation Spectroscopic module control method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5541730A (en) Interferometric measuring apparatus for making absolute measurements of distance or refractive index
US5798859A (en) Method and device for wavelength locking
JP2524445B2 (ja) 干渉計
US11215440B2 (en) Interferometry assembly for use in an optical locker
JP2002517768A (ja) ブラッグ回折格子のファブリケーションを行なうための電子光学的、磁気光学的または音響光学的に制御されたuvライティング装置
US5508804A (en) Laser interferometer strain sensor with adjustable feedback amplification in the form of a saw-tooth pattern
JP2001075040A (ja) レーザ走査システム
US6992774B2 (en) Wavelength determining apparatus and method
JPH02136722A (ja) 高速光周波数変調器
EP0364984B1 (en) Interferometer using multi-mode semiconductor laser
JPH04269883A (ja) 2波長光の発生用の2つのレーザダイオードを有する装置
JP2725434B2 (ja) Fmヘテロダイン法を用いたアブソリュート測長方法およびアブソリュート測長器
US4149118A (en) Electronic control and regulation system
US6894789B2 (en) Method of extending the capture range of a wavelength monitor and a wavelength monitor and laser system therefor
JPH11274643A (ja) 可変波長半導体レーザ光源
US9596526B2 (en) Wavelength selective switch
JPH04298708A (ja) 光伝送用レーザダイオード・モジュール
JP2898720B2 (ja) 光非線形性発生装置
JPH0239582A (ja) 狭帯域化レーザ装置
JP2908010B2 (ja) サーボ機構
JPH10107370A (ja) 外部共振器型波長可変半導体レーザ光源の位相調整装置
JPH03150889A (ja) 波長可変型レーザ装置
JPH0595154A (ja) 狭帯域レーザ装置
SU781562A1 (ru) Привод подвижного зеркала интерферометра
JP2006170696A (ja) 光電式エンコーダ