JPH02136709A - シャドウマスク開孔部欠陥の検査方法および検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野〕 本発明はカラー受像管に用いられるシャドウマスクの開
孔部欠陥を検査する検査方法および検査装置に関する。

〔従来の技術〕

シャドウマスクの開孔部に欠陥があると、各原色間の重
なり合わせ不良の如く色ずれ現象が生じたりするため、
シャドウマスクの開孔部欠陥を検出し、製品管理を行う
ことはカラー受像管の品質管理の上で重要である。

従来、シャドウマスク４の開孔部欠陥の検査は第６図に
示すような通称ライトテーブル２０と呼ばれる検査台を
用いシャドウマスク後方に配置された光源２１．２１、
・・・　２１より検査光を照射して行っていた。

実際の作業は第７図に示したように、シャドウマスク４
の裏面より検査光を照射し、開孔部の透過光量の変化を
肉眼で捕らえる事により大孔、小孔、ムラ、スジ、シミ
等の開孔部欠陥の検出を行っていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来例においては、シャドウマスク裏面から検査光
を照射していたため、検査光強度が高いため、正常孔と
異常孔の透過光量の差が少なく識別しづらいので個人差
、経験等により、検出精度に差が生じ、特に正常孔の透
過率との差が小さい微欠陥の異常孔の場合には検出が困
難であり、検査のために多大の時間を要していた。また
、検査光強度が高いため、長時間の連続作業が困難とい
う問題点があった。

上記に鑑み、本発明は、個人差、経験等による検出精度
の差を無くし、さらに短時間で欠陥を検出可能とするこ
とにより検査効率を向上させるとともに、検査光の強度
を減少させて長時間作業が行える検査方法および検査装
置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するため、本発明は、カラー受像管に用
いられるシャドウマスクの開孔部欠陥を検査する検査方
法において、検査すべきシャドウマスク後方を暗背景と
し、シャドウマスク後方斜め方向から検査光を照射する
ようにして、シャドウマスクの開孔部欠陥を検査するよ
うにし、また、シャドウマスクの開孔部欠陥を検査する
検査装置において、検査すべきシャドウマスクの後方斜
め方向に設けられ検査光を照射する光源と、検査光のシ
ャドウマスクに対する照射角度を変化させるための照射
角度可変部と、シャドウマスク後方を暗背景とするため
の背景部を有するように構成する。

〔実施例〕

本発明の実施例について、第１図乃至第５図を参照して
説明する。

第１図は本発明の原理説明図である。

光源１は検査光２を検査すべきシャドウマスク４の後方
斜め方向から照射するとともに、光源１からの直接光が
検査者に届かないような位置に設置されている。

また、シャドウマスク４の後方が暗背景となるように光
散乱の少ない背景部３がシャドウマスク４の後方に設け
られている。

光源］から照射された検査光２はシャドウマスク４裏面
に照射され、検査者には間接光として到達される。この
ため、従来の直接光を使用する場合に比較して検査光強
度が低くなるため検査者の目の疲労は少ないものとなる
。

また、シャドウマスク４後方を暗背景としたため検査者
に到達する検査光強度が低くなるにも拘らず、微欠陥の
異常孔の場合でも正常孔とのコントラスト差が従来例に
比較して大きくなるため検出が容易となる。

第２図は本発明の検査装置の一実施例斜視図、第３図は
検査装置本体の側面断面図である。

検査装置５は検査光を照射する光源部６と、シャドウマ
スク４を検査時に取り付け、検査するための検査装置本
体７と、検査装置本体７を角度可変に支持するための支
持台１２より構成されている。

光源部６は光源として昼光色蛍光灯等を使用し、その取
り付は位置をスライドして上下することにより光量調整
を行うことができる。

検査装置本体７は乱反射を防止するため黒色に塗装され
、シャドウマスク４を検査時に取り付けるためのシャド
ウマスク取付部８と、検査時にシャドウマスク４後方を
暗背景とするための背景部３と、検査装置本体７の角度
を調整するための角度調整部１０よりなっている。

シャドウマスク取付部８はラバー磁石１１を用いてシャ
ドウマスク４を着脱自在に取り付けている。さらに、ラ
バー磁石１１にはシャドウマスク４の取り付は時のキズ
およびラバー磁石の磨耗等による異物付着を防止するた
め、その表面には樹脂製のカバーが設けられている。ま
た、シャドウマスク取付部８は検査時にシャドウマスク
４を鉛直方向に垂下するとともに、作業者により手動で
自由にシャドウマスク４の角度を変えることができるよ
うに検査装置本体７に蝶着されている。

背景部３として乱反射率をさらに低く押さえ、シャドウ
マスク４後方を暗背景に保つため、黒色のビロード布の
ような反射率の少ない材質のものが貼着されている。

角度調整部１０は検査時に検査装置本体の角度を垂直か
ら４５度まで無段階に調整可能として、最適な検査光照
射角度を選択することができる（第３図）。

支持台１２は乱反射防止のため黒色とし、作業者、シャ
ドウマスクサイズに合わせ上下動可能としている。

次に実際の検査工程について第４図乃至第６図を参照し
て説明する。

光源位置の調整 光量不足の場合には、コントラストがつかず欠陥を検出
することができず、また、光量が過大な場合には異常孔
の欠陥が微小であると正常孔との区別がつかず検出する
ことができないので、光量の調整は重要である。

検査光２の光量を適正量に設定するため第４図に示すよ
うに光源部６をスライドさせて上下することにより、光
源位置を調整する。

シャドウマスクの取付 シャドウマスク４に無用な傷等を与えないように注意し
ながら、ラバー磁石により、シャドウマスク４の一辺を
シャドウマスク取付部８に固定する。

検査装置本体の角度調整 検査すべきシャドウマスクの形態に応じ、シャドウマス
クを垂下させたときに最もコントラストがつき、検査し
やすい角度に角度調整部１０により検査装置本体７の傾
斜角度を調整する。

欠陥検査 第５図に検査作業状況の概要図を示す。

検査者はシャドウマスク４の開孔部の検査光の透過量の
変化を肉眼で捕らえて欠陥を検出する。

また、シャドウマスク４を垂下状態で欠陥検出が難しい
場合は必要に応じてシャドウマスク４の角度を手動で変
化させることにより、より精度良く開孔部の欠陥を検出
することができる。

表１に本発明の検査方法および検査装置にてシャドウマ
スクの検査を行い検出試験を行った結果を示す。

表１ ここで、不良数とは試験のために準備した試料数であり
発見数とは試験試料中で発見された枚数を示している。

なお、発見率は次式のようにして求めている。

発見率−発見数／不良数Ｘ１００　（％）以上の結果は
従来例に比較して、約１．６倍の検出力を示しており、
非常に高効率で開孔部欠陥を検出することができる。

なお、シャドウマスク取付部を回転可能として、必要に
応じてシャドウマスクを回転させて検査するようにする
ことも可能である。

〔発明の効果〕

本発明は、以上の様に構成したので、カラー受像管に用
いられるシャドウマスクの開孔部の正常孔と異常孔との
検査光の透過率差を大きくして開孔部欠陥を検出し易く
することにより、個人差、経験に関わり無く欠陥の検出
率を高くすることができ、また、検査者に到達する検査
光強度を低くすることができるので、目の負担を少なく
することができ、長時間連続して作業を行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、第２図は本発明の実施例
概要図、第３図は検査装置本体の側面断面図、第４図は
光源部の光ｆｔ、Ｍ整説明図、第５図は実際の検査状況
概要図、第６図は従来の検査装置の概要図、第７図は従
来の検査状況概要図である。 １・・・光源、２・・・検査光、３・・・背景部、４・
・・シャドウマスク、５・・・検査装置、６・・・光源
部、７・・・検査装置本体、 ８・・・シャ ドウマスク取付部、 ０　・・・ 角度調整部、 １・・・ラバー磁石、 ２・・・支持台。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、カラー受像管に用いられるシャドウマスクの開孔部
   欠陥を検査する検査方法において、検査すべきシャドウ
   マスクの後方を暗背景とし、シャドウマスク後方斜め方
   向から検査光を照射するようにして、シャドウマスクの
   開孔部欠陥を検査することを特徴とするシャドウマスク
   開孔部欠陥の検査方法。 ２、カラー受像管に用いられるシャドウマスクの開孔部
   欠陥を検査する検査装置において、検査すべきシャドウ
   マスクの後方斜め方向に設けられ検査光を照射する光源
   と、検査光のシャドウマスクに対する照射角度を変化さ
   せるための照射角度可変部と、シャドウマスク後方を暗
   背景とするための背景部を有することを特徴とするシャ
   ドウマスク開孔部欠陥の検査装置。