JPH02133979A - Semiconductor light-emitting element - Google Patents

Semiconductor light-emitting element

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Publication number
JPH02133979A
JPH02133979A JP63286895A JP28689588A JPH02133979A JP H02133979 A JPH02133979 A JP H02133979A JP 63286895 A JP63286895 A JP 63286895A JP 28689588 A JP28689588 A JP 28689588A JP H02133979 A JPH02133979 A JP H02133979A
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JP
Japan
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active layer
layer
semiconductor light
light emitting
emitting device
Prior art date
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Application number
JP63286895A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Sakai
堺 和夫
Yukitoshi Kushiro
久代 行俊
Kousuke Nishimura
公佐 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KDDI Corp
Original Assignee
Kokusai Denshin Denwa KK
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain a short wave length band semiconductor light-emitting element which emits blue color, green color, etc., by making a II-VI compound semiconductor as an active layer, allowing one part of II element to be substituted for on a clad layer, and constituting a semiconductor which lattice-matches to the active layer. CONSTITUTION:A short wave length band semiconductor light-emitting element consists of an n-side clad layer 2 consisting of n-Zn0.82Mn0.18S0.98Se0.01Te0.01, an active layer 3 consisting of a ZnS0.9Se0.05Te0.05, a p-side clad layer 4 consisting of p-Zn0.82Mn0.18S0.98 Se0.01Te0.01 an insulation film 5, and electrodes 6 and 7, where a substrate 1 consists of n-GaP. Lattice constants of the substrate 1, the clad layers 2 and 4, and the active layer 3 are nearly matched, band connection is made so that entrapment of electrons and positive holes can be performed effectively into the active layer 3 and entrapment of electrons and positive holes is performed fully. Thus, by substituting one part of Zn which is II element using transition metal elements such as Mn, Fe, Co, or Ni, the layers 2 and 4 at both sides of the active layer 3 nearly lattice match to the substrate 1 and a blue wave length band injection type short wave band semiconductor light-emitting element with a sufficient carrier entrapment can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、II−VI族化合物半導体を用いた電流注入
型の半導体発光素子に係わり、特に青色や緑色などを発
光する短波長帯半導体発光素子に関するものである。
Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a current injection type semiconductor light emitting device using a II-VI group compound semiconductor, and in particular to a semiconductor light emitting device in a short wavelength band that emits blue or green light. It is related to the element.

(従来の技術) レーザ・ディスクやレーザ・プリンタなどに見られるよ
うに、近年光情報分野の進展にはめざましいものがある
。こうした分野では、光源として赤色の半導体レーザが
使用されているが、大容量記録、高速読出、高速印刷等
に対応するためには、高出力化に加えてレーザの短波長
化が必要とされている。このため半導体レーザの短波長
化の研究も進んでいるが、現在のところ青色や緑色を発
光する短波長帯(0,3〜0.5μm)の半導体レーザ
は実現に至っていない。
(Prior Art) There has been remarkable progress in the field of optical information in recent years, as seen in laser disks, laser printers, and the like. In these fields, red semiconductor lasers are used as light sources, but in order to support large-capacity recording, high-speed reading, high-speed printing, etc., in addition to higher output, shorter wavelength lasers are required. There is. For this reason, research on shortening the wavelength of semiconductor lasers is progressing, but so far a semiconductor laser in a short wavelength band (0.3 to 0.5 μm) that emits blue or green light has not been realized.

一方、各種表示装置に用いられている発光ダイオードを
フルカラー表示素子として利用するためには、現在実用
となっている赤色に加えて、青色や緑色の発光ダイオー
ドが必要となる。
On the other hand, in order to utilize the light emitting diodes used in various display devices as full-color display elements, blue and green light emitting diodes are required in addition to the red color currently in use.

(発明が解決しようとする課題) 青色や緑色などの短波長帯の発光素子に用いられる半導
体は、禁止帯幅の制約などからZnS。
(Problems to be Solved by the Invention) ZnS is used as a semiconductor for light-emitting elements in short wavelength bands such as blue and green due to restrictions in bandgap width.

ZnSe、 ZnTeなどのII−VT族化合物半導体
が最も有望と考えられる。
II-VT group compound semiconductors such as ZnSe and ZnTe are considered to be the most promising.

第1図は、ZnS、 ZnSe、 ZnTeおよびその
混晶系の禁止帯幅と格子定数の関係を示したものである
。また、基板となりうるGaAs、 GaP、 InP
、 Siについても、参考のため示した。この図かられ
かるように、Zn5SeTe系だけでは、基板に活性層
およびクラッド層が格子整合し、かつ禁止帯幅の差が0
、2eV以上とれる結晶組成は得られない。また、Zn
Se−ZnTe或いはZnS−ZnTeへテロ接合では
、第2図(a)及び(b)のエネルギー・バンド図に示
すように、ZnTeの伝導帯下端(A)がZnS或いは
ZnSeの伝導帯下端(B)より上にくる。従って、ホ
ールは活性層に集まるものの、電子は禁止帯幅の大なる
クラッド層にあつまってしまう。すなわち、ZnS、 
5eTe系では電子の活性層への閉じ込めが有効にでき
ず、発光するための電子とホールとの再結合が行われに
(い。このため安定に動作する2重へテロ構造が得られ
なかった。また、こうしたU−VI族化合物半導体では
結晶のイオン性が強く、このため不純物添加による伝導
度制御が非常に困難である。
FIG. 1 shows the relationship between the forbidden band width and lattice constant of ZnS, ZnSe, ZnTe, and their mixed crystal systems. In addition, GaAs, GaP, InP that can be used as a substrate
, Si are also shown for reference. As can be seen from this figure, with only the Zn5SeTe system, the active layer and cladding layer are lattice matched to the substrate, and the difference in forbidden band width is 0.
, 2 eV or more cannot be obtained. Also, Zn
In the Se-ZnTe or ZnS-ZnTe heterojunction, as shown in the energy band diagrams in Figure 2 (a) and (b), the lower end of the conduction band (A) of ZnTe is the lower end of the conduction band (B) of ZnS or ZnSe. ) comes above. Therefore, although holes gather in the active layer, electrons gather in the cladding layer, which has a large forbidden band width. That is, ZnS,
In the 5eTe system, it is not possible to effectively confine electrons in the active layer, and the recombination of electrons and holes for light emission cannot occur.For this reason, a double heterostructure that operates stably cannot be obtained. In addition, the crystals of such U-VI group compound semiconductors have strong ionicity, which makes it extremely difficult to control conductivity by adding impurities.

上述のように、従来技術においては、■、■族元素(Z
n、 S、 ’Sex Teなど)だけでは、活性層お
よびクラッド層が基板と格子整合し、かつ活性層−クラ
ッド層間に、電子・正孔に対して十分なエネルギー障壁
を有する短波長帯発光素子用の2重へテロ構造が得られ
なかった。また、クラッド層用に同一組成の半導体でp
、n両方の伝導形をつくることも困難であった。従って
、青色や緑色等の短波長帯半導体発光素子が強(望まれ
ていたが、今まで何ら開示されていなかった。
As mentioned above, in the conventional technology, group ■, ■ group elements (Z
n, S, 'Sex Te, etc.) alone, the active layer and cladding layer are lattice matched with the substrate, and a short wavelength light emitting device having a sufficient energy barrier between the active layer and the cladding layer against electrons and holes. No double heterostructure was obtained. In addition, a semiconductor of the same composition is used for the cladding layer.
It was also difficult to create both conduction types. Therefore, semiconductor light emitting devices in short wavelength bands such as blue and green have been strongly desired, but nothing has been disclosed so far.

本発明の目的は、上述した従来技術の問題点を解決する
ためになされたもので、青色や緑色等を発光する短波長
帯半導体発光素子を提供することにある。
An object of the present invention has been made to solve the problems of the prior art described above, and is to provide a short wavelength band semiconductor light emitting device that emits blue, green, etc. light.

(課題を解決するための手段) 本発明の特徴は、■−vr族化合物半導体を活性層とし
、活性層の両側に接して活性層の禁止帯幅より大なる禁
止帯幅を有する半導体によるクラッド層を形成し、クラ
ッド層はII−VI族化合物半導体の■族元素の一部が
遷移金属で置換され、かつ活性層を構成する半導体とほ
ぼ格子整合する半導体により構成される半導体発光素子
にある。
(Means for Solving the Problems) The present invention is characterized by: (1) A -vr group compound semiconductor is used as an active layer, and a cladding made of a semiconductor having a forbidden band width larger than that of the active layer is provided in contact with both sides of the active layer. In a semiconductor light emitting device, the cladding layer is composed of a semiconductor in which a part of the group II elements of the II-VI compound semiconductor is replaced with a transition metal, and which is substantially lattice-matched with the semiconductor constituting the active layer. .

(実施例1) 第3図は1本発明による第1の実施例であり、短波長帯
半導体発光素子の断面図である。なお、以下の説明では
青色を発光する短波長帯半導体発光素子を例に取り説明
する。
(Example 1) FIG. 3 shows a first example according to the present invention, and is a sectional view of a short wavelength band semiconductor light emitting device. Note that in the following explanation, a short wavelength band semiconductor light emitting element that emits blue light will be taken as an example.

図において、1はn−GaP基板、2はn−Zno、 
82Mno、 1aso、 esseo、 otTea
、 otよりなるn側クラッド層で厚さ約2μm、3は
Zn5o9seo、 o6Teo、 osよりなる活性
層で厚さ約0.2μm、4はp−Zno、 aJno、
 +sSo、 sa Seo、 o+Teo、 olよ
りなるp側りラッド層で厚さ約2μm、5は絶縁膜、6
及び7は電極である。なお、n側クラッド層2はCj 
(塩素)を、p側りラッド層4はLi (リチウム)を
それぞれドープすることにより、10”cm−”以上の
キャリア濃度が得られた。
In the figure, 1 is an n-GaP substrate, 2 is an n-Zno substrate,
82Mno, 1aso, esseo, otTea
, ot is an n-side cladding layer with a thickness of about 2 μm; 3 is an active layer made of Zn5o9seo, o6Teo, and os and has a thickness of about 0.2 μm; 4 is a p-Zno, aJno,
+sSo, saSeo, o+Teo, ol p-side rad layer with a thickness of about 2 μm, 5 is an insulating film, 6
and 7 are electrodes. Note that the n-side cladding layer 2 is Cj
By doping the p-side rad layer 4 with Li (chlorine) and Li (lithium), a carrier concentration of 10"cm-" or more was obtained.

この構造では、基板1、クラッド層2,4、活性層3の
格子定数はほぼ整合しており、また活性層3−クラッド
2,4層間のエネルギー差は、約0、3eVである。更
に、Mnを加えたことによりクラッド2.4層の電子親
和力が小さくなるため、ペテロ界面では第4図に示すご
とく電子・正孔の閉じ込めが活性層3内に有効に行われ
るようなバンド接続となり、伝導帯および価電子帯のエ
ネルギー差は各々0.2および0.1eVである。従っ
て、電子・正孔の閉じ込めは十分に行われる。
In this structure, the lattice constants of the substrate 1, cladding layers 2 and 4, and active layer 3 are almost matched, and the energy difference between the active layer 3 and the cladding 2 and 4 layers is about 0.3 eV. Furthermore, since the addition of Mn reduces the electron affinity of the cladding 2.4 layer, a band connection is established at the Peter interface where electrons and holes are effectively confined within the active layer 3, as shown in Figure 4. The energy difference between the conduction band and the valence band is 0.2 and 0.1 eV, respectively. Therefore, electrons and holes are sufficiently confined.

上述のように、本発明は■族元素であるZn (亜鉛)
の一部を118n、 Fe、 CoあるいはNi等の遷
移金属元素で置換することにより、活性層3とその両側
の層が共に基板1とほぼ格子整合し、かつ活性層3への
キャリア閉じ込めも十分である青色波長帯(この例では
波長0.37μm帯)の注入形短波長帯半導体発光素子
が実現できる。
As mentioned above, the present invention uses Zn (zinc), which is a group Ⅰ element.
By replacing a part of the active layer 3 with a transition metal element such as 118n, Fe, Co, or Ni, the active layer 3 and the layers on both sides of the active layer 3 are substantially lattice matched with the substrate 1, and carriers are sufficiently confined in the active layer 3. An injection type short wavelength band semiconductor light emitting device in the blue wavelength band (wavelength band of 0.37 μm in this example) can be realized.

なお、緑色を発光させる場合は、基板をGaPにすると
共に、活性層3を構成する半導体層であるzns+−x
−ySexTey (o≦x≦1.0≦y≦1)の組成
比率yを多くして0.5μm付近の波長にし、クラッド
層2.4を構成する半導体層であるZn+−wMnwS
+−p−qSepTeq  (0≦p≦1.0≦q≦1
゜0.05≦w≦0.5)の組成比率qも多(すればよ
い。
In addition, in the case of emitting green light, the substrate is made of GaP and the semiconductor layer composing the active layer 3 is zns+-x.
-ySexTey (o≦x≦1.0≦y≦1) by increasing the composition ratio y to make the wavelength around 0.5 μm, and Zn+-wMnwS, which is the semiconductor layer constituting the cladding layer 2.4.
+-p-qSepTeq (0≦p≦1.0≦q≦1
The composition ratio q of ゜0.05≦w≦0.5 may also be large.

(実施例2) 実施例1では、 GaPを基板1とし、活性層3・クラ
ッド2,4層に関し、1組の組成について示したが、本
発明はこの組成だけに限らない。基板lをGaP又はS
iとした場合は、活性層3の組成をZn5t−x−yS
exTe、 (o≦x≦1.0≦y≦1.0.07≦x
+2.6y≦0.2)とし、クラッド層2及び4の組成
をZr++−wMnws+ −p−qSepTeq (
0≦p≦1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.5.  
O≦p+2.6q≦0.06)とすることにより、基板
lとほぼ格子整合し、キャリア閉じ込めが十分で、伝導
形制御の容易な層構造を持つ短波長帯半導体発光素子が
実現できる。
(Example 2) In Example 1, GaP is used as the substrate 1 and one set of compositions is shown for the active layer 3 and cladding 2 and 4 layers, but the present invention is not limited to this composition. The substrate l is GaP or S
i, the composition of the active layer 3 is Zn5t-x-yS
exTe, (o≦x≦1.0≦y≦1.0.07≦x
+2.6y≦0.2), and the composition of the cladding layers 2 and 4 is Zr++−wMnws+ −p−qSepTeq (
0≦p≦1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.5.
O≦p+2.6q≦0.06), it is possible to realize a short-wavelength semiconductor light-emitting device having a layer structure that is substantially lattice-matched to the substrate l, has sufficient carrier confinement, and can easily control the conduction type.

(実施例3) 実施例1および実施例2では通常の2重へテロ構造であ
ったが、活性層3またはクラッド層2゜4もしくはその
両方とも、厚さ300オングストローム以下の組成の異
なる超薄膜を多層積層した膜(以下、「超格子構造」と
称す)であってもよい。こうした超格子構造を採用した
場合、バルクに比べてMnを多(含む組成でも、ジンク
ブレンド(Zincblende)構造が保たれ易いと
いう傾向があり、このためバルクよりMn組成を多くし
易く、したがってキャリア閉じ込めがより十分にできる
(Example 3) In Examples 1 and 2, the normal double heterostructure was used, but the active layer 3 or the cladding layer 2゜4 or both were ultra-thin films with a thickness of 300 angstroms or less and different compositions. It may be a film in which multiple layers are stacked (hereinafter referred to as a "superlattice structure"). When such a superlattice structure is adopted, there is a tendency for a zinc blend structure to be maintained even if the composition contains more Mn than in the bulk. can be done more fully.

更に、クラッド層2及び4を超格子層とした場合、基板
1との界面の超格子層が基板1からの不純物原子の拡散
を防ぐ機能を果たすことが期待される。例えば、Si、
 Ga或いはPの拡散が防止される。また活性層3が量
子井戸構造のような超格子層の場合、量子井戸レーザと
しての特性を示すことは言うまでもなく、ZnS、 5
eTe系バルクな活性層3とするレーザより短波長で動
作させることが可能となるなど、利点は多い。
Furthermore, when the cladding layers 2 and 4 are superlattice layers, the superlattice layer at the interface with the substrate 1 is expected to function to prevent impurity atoms from diffusing from the substrate 1. For example, Si,
Diffusion of Ga or P is prevented. Furthermore, when the active layer 3 is a superlattice layer such as a quantum well structure, it goes without saying that it exhibits characteristics as a quantum well laser.
It has many advantages, such as being able to operate at a shorter wavelength than a laser with an eTe-based bulk active layer 3.

例えば、活性層3が単層で、クラッド層2.44が超格
子構造の場合には、例えば、活性層3はZnS+−++
−ySexTey (0≦x≦1.0≦y≦1.0.0
7≦x+2.6y≦0.2)で、クラッド2.4層はZ
nl−wMnwS+−p−qSepTeq  (Q≦p
≦1.0≦q≦10.05≦w≦0.8.  O≦p+
2.6q≦0.06)およびZn+−w’ Mnw′5
l−p’ −ct’ Sep゛Teq°(0≦p’≦1
.0≦q≦1.0.05≦w゛≦ 0.8.  O≦p
’+2.6q’ ≦0.06)よりなる超格子多層膜で
ある層構造にすればよい。
For example, when the active layer 3 is a single layer and the cladding layer 2.44 has a superlattice structure, the active layer 3 is made of, for example, ZnS+-++
−ySexTey (0≦x≦1.0≦y≦1.0.0
7≦x+2.6y≦0.2), and the cladding 2.4 layer is Z
nl-wMnwS+-p-qSepTeq (Q≦p
≦1.0≦q≦10.05≦w≦0.8. O≦p+
2.6q≦0.06) and Zn+-w'Mnw'5
l-p'-ct'Sep゛Teq°(0≦p'≦1
.. 0≦q≦1.0.05≦w゛≦ 0.8. O≦p
'+2.6q' ≦0.06).

逆に、活性層3が量子井戸構造からなる超格子構造で、
クラッド層2.4が単層の場合には、活性層3はZnS
+−x−ySexTey (o≦x≦1.0≦y≦1.
0.07≦x+2.6y≦0.2)を量子井戸層、Zn
+−z・Mnz’ S+−11’−y・Sex・Te、
・(o≦x’≦1、0≦y≦1 、0.05≦z’≦0
.8.  O≦x’+2.6y’ ≦0.06)を障壁
層とする量子井戸構造であり、クラッド2,4層はZn
 + −wMnwS l −p −qSepTeq (
0≦p≦1゜0≦q≦1.0.05≦w≦0.5. O
≦p+2.6q≦0、06)で構成すれば良い。
On the contrary, the active layer 3 has a superlattice structure consisting of a quantum well structure,
When the cladding layer 2.4 is a single layer, the active layer 3 is made of ZnS.
+−x−ySexTey (o≦x≦1.0≦y≦1.
0.07≦x+2.6y≦0.2) as a quantum well layer, Zn
+-z・Mnz'S+-11'-y・Sex・Te,
・(o≦x'≦1, 0≦y≦1, 0.05≦z'≦0
.. 8. It is a quantum well structure with a barrier layer of O≦x'+2.6y'≦0.06), and the 2nd and 4th cladding layers are Zn.
+ -wMnwS l -p -qSepTeq (
0≦p≦1゜0≦q≦1.0.05≦w≦0.5. O
≦p+2.6q≦0,06).

更に、双方が共に超格子構造にする場合には、SLまた
はGaPを基板1とし、活性層3は、ZnS r −x
−、’SexTey (OS x≦1.0≦y≦1.0
.07≦x+2.6y≦0.2)を量子井戸層、Zn1
−*’ Mnz’ 5l−11’ −ySex・Tey
・(O≦x’≦1、0≦y’≦1、0.05≦z’≦0
.8.  O≦x’ + 2.6y’≦0.06)を障
壁層とする量子井戸構造であり、クラッド2.4層は、
Zn+−wMnwS+−p−qSepTeq (0≦p
≦1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.8. O≦p 
+ 2.6q≦0.06)およびZn、−。
Furthermore, when both have a superlattice structure, the substrate 1 is SL or GaP, and the active layer 3 is ZnS r -x
-, 'SexTey (OS x≦1.0≦y≦1.0
.. 07≦x+2.6y≦0.2) as a quantum well layer, Zn1
-*'Mnz'5l-11'-ySex・Tey
・(O≦x'≦1,0≦y'≦1,0.05≦z'≦0
.. 8. It is a quantum well structure with a barrier layer of O≦x' + 2.6y'≦0.06), and the 2.4 cladding layer is
Zn+-wMnwS+-p-qSepTeq (0≦p
≦1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.8. O≦p
+2.6q≦0.06) and Zn, -.

Mnw’S+−p・−Q’Sep’Teq’ (0≦p
゛≦1,0≦q°≦1゜0.05≦w°≦0.8. O
≦p’+2.6q’≦0.06)よりなる超格子多層膜
である層構造とすることにより、基板1とほぼ格子整合
し、キャリア閉じ込めが十分で、伝導形制御の容易な層
構造を持つ短波長帯半導体発光素子が実現できる。
Mnw'S+-p・-Q'Sep'Teq' (0≦p
゛≦1,0≦q°≦1゜0.05≦w°≦0.8. O
≦p'+2.6q'≦0.06), the layer structure is almost lattice matched with the substrate 1, has sufficient carrier confinement, and can easily control the conduction type. It is possible to realize a short wavelength semiconductor light emitting device with the same characteristics.

(実施例4) 基板1がGaAs、 GeまたはZnSeの場合には、
活性層3組成をZnS + −X −ySexTey 
(0≦x≦1,0≦y≦1.0.8≦x + 2.6y
≦1.0)とし、クラッド2゜4層組成をZn+−wM
nws+−p−qSepTeq (o≦p≦1゜0≦q
≦1.0.05≦w≦0.5.0.5≦p+2.6q≦
0.8)とすることにより、基板lとほぼ格子整合し、
キャリア閉じ込めが十分で、伝導形制御の容易な層構造
を持つ短波長帯半導体発光素子が実現できる。
(Example 4) When the substrate 1 is made of GaAs, Ge or ZnSe,
The active layer 3 composition is ZnS + -X -ySexTey
(0≦x≦1, 0≦y≦1.0.8≦x + 2.6y
≦1.0), and the cladding 2゜4 layer composition is Zn+-wM
nws+-p-qSepTeq (o≦p≦1゜0≦q
≦1.0.05≦w≦0.5.0.5≦p+2.6q≦
0.8), it is almost lattice matched with the substrate l,
A short-wavelength semiconductor light-emitting device with sufficient carrier confinement and a layered structure whose conduction type can be easily controlled can be realized.

(実施例5) 基板1がGaAs、 GeまたはZnSeの場合でも、
活性層3またはクラッド層2.4もしくはその両方とも
超格子多層膜構造であってもよい。たとえば活性層3は
、ZnS+−x−ySeJey (0≦x≦1.0≦y
≦1.0.8≦x + 2.6y≦1.0)を量子井戸
層、Zn+−z’Mnz・s+−x’−y’sex’T
ey’ (0≦x’≦1、0≦y≦1 、0.05≦z
’≦0.8.0.5≦x’+2.6y’≦0.8)を障
壁層とする量子井戸構造であり、クラッド層2及び4は
Zn+−wMnws、−p、’SexTeq(0≦p≦
1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.8.0.5≦p+
2.6q≦0.8)およびZn+ −sw’ Mnw’
 S+−p’ −q’ Sep’ TeQ・(0≦p°
≦l。
(Example 5) Even if the substrate 1 is made of GaAs, Ge or ZnSe,
The active layer 3 and/or the cladding layer 2.4 may have a superlattice multilayer structure. For example, the active layer 3 is ZnS+−x−ySeJey (0≦x≦1.0≦y
≦1.0.8≦x + 2.6y≦1.0) as a quantum well layer, Zn+-z'Mnz・s+-x'-y'sex'T
ey'(0≦x'≦1, 0≦y≦1, 0.05≦z
'≦0.8. p≦
1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.8.0.5≦p+
2.6q≦0.8) and Zn+ -sw'Mnw'
S+-p'-q'Sep' TeQ・(0≦p°
≦l.

O≦q’≦1、0.05≦w°≦0.8. 0.5≦p
’+2.6q’  ≦0.8)よりなる超格子多層膜で
ある層構造とすることにより、基板lとほぼ格子整合し
、キャリア閉じ込めが十分で、伝導形制御の容易な層構
造を持つ短波長帯半導体発光素子が実現できる。
O≦q'≦1, 0.05≦w°≦0.8. 0.5≦p
'+2.6q' ≦0.8), the short film has a layer structure that is almost lattice-matched to the substrate l, has sufficient carrier confinement, and can easily control the conduction type. A wavelength band semiconductor light emitting device can be realized.

こうした超格子構造の利点は、実施例3に述べたのと同
様である。
The advantages of such a superlattice structure are similar to those described in the third embodiment.

(実施例6) 基板lがGaAsP混晶の場合、組成比により格子定数
は5.45〜5.54オングストロームの値をとる。
(Example 6) When the substrate 1 is a GaAsP mixed crystal, the lattice constant takes a value of 5.45 to 5.54 angstroms depending on the composition ratio.

この場合、活性層3組成をZnS+−x−ySexTe
y (o≦x≦1,0≦y≦1)、クラッド層2及び4
組成をZn+−wMnwS+−p−qsepTecl 
(0≦p≦1,0≦q≦1.0.05≦w≦0.5)と
し、組成比はこの範囲で基板1とほぼ格子整合するよう
な値を選べばよ(、こうすることにより、キャリア閉じ
込めが十分で、伝導形制御の容易な層構造を持つ短波長
帯半導体発光素子が実現できる。
In this case, the composition of the active layer 3 is ZnS+-x-ySexTe
y (o≦x≦1, 0≦y≦1), cladding layers 2 and 4
The composition is Zn+-wMnwS+-p-qsepTecl
(0≦p≦1, 0≦q≦1.0.05≦w≦0.5), and the composition ratio should be selected to have a value that almost lattice matches with the substrate 1 within this range. As a result, a short-wavelength semiconductor light-emitting device with sufficient carrier confinement and a layered structure whose conduction type can be easily controlled can be realized.

(実施例7) 基板1がGaAsP混晶の場合でも、活性層3またはク
ラッド層2.4もしくはその両方とも超格子多層膜構造
であってもよい。たとえば活性層3は、ZnS+−x−
ySeJey (0≦x≦1,0≦y≦1)を量子井戸
層、Zn+−i・Mnz’ 5l−X’ −11’ S
ex’ Tey’ (0≦x゛≦1.0≦y’≦1、0
.05≦z’≦0.8)を障壁層とする量子井戸構造で
あり、クラッド2.4層は、Zn+−JnwS+−p−
qSepTeq (0≦p≦1.0≦q≦1.0.05
≦w≦0.8)およびZn l −W’ Mnw’ S
 l−pSep・Te、・(O≦p゛≦1.0≦q゛≦
1.0.05≦w°≦0.8)よりなる超格子多層膜で
ある層構造とし、組成比はこの範囲で基板1とほぼ格子
整合するような値を選べばよい。こうすることにより、
キャリア閉じ込めが十分で、伝導形制御の容易な層構造
を持つ短波長帯半導体発光素子が実現できる。
(Example 7) Even when the substrate 1 is made of GaAsP mixed crystal, the active layer 3 and/or the cladding layer 2.4 may have a superlattice multilayer structure. For example, the active layer 3 is made of ZnS+-x-
ySeJey (0≦x≦1, 0≦y≦1) as a quantum well layer, Zn+-i・Mnz'5l-X'-11' S
ex'Tey'(0≦x゛≦1.0≦y'≦1, 0
.. 05≦z'≦0.8) as a barrier layer, and the cladding 2.4 layer is Zn+-JnwS+-p-
qSepTeq (0≦p≦1.0≦q≦1.0.05
≦w≦0.8) and Zn l −W'Mnw' S
l-pSep・Te,・(O≦p゛≦1.0≦q゛≦
The layer structure is a superlattice multilayer film having the following relationship: 1.0.05≦w°≦0.8), and the composition ratio may be selected within this range so as to be substantially lattice matched with the substrate 1. By doing this,
A short-wavelength semiconductor light-emitting device with sufficient carrier confinement and a layered structure whose conduction type can be easily controlled can be realized.

こうした超格子構造の利点は、実施例3に述べたのと同
様である。
The advantages of such a superlattice structure are similar to those described in the third embodiment.

(実施例8) 基板1をInPとした場合、これに格子整合するバルク
のZnS、 5eTe系では、赤色の発光しか得られな
いが、量子井戸構造にすれば青色発光素子が実現できる
。この場合、活性層3は、ZnS l−x−うSex 
Tey(0≦x≦1.0≦y≦1.0.85≦0.6x
+1.6y≦1.15)を量子井戸層、Zn1−z’ 
Mnz’ S+−x’ −ySex’ Te、・(0≦
x’≦1、0≦y’≦1、0.05≦z’≦0.8.0
.85≦0.6x’ +1.6y’≦1.15)を障壁
層とする量子井戸構造とし、井戸層の厚さは100オン
グストローム以下とする。一方、クラッド層2及び4は
、Zn+−wMnws+−p−JepTeq (0≦p
≦1,0≦q≦1.0.05≦w≦0.8.0.85≦
0.6p+1.6q≦1、15)よりなるバルクか、も
しくはZrl+−wMnws−p−qSepTeq(0
≦p≦1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.8.0.8
5≦0.6p+ 1.6q≦1.15)およびZn+ 
−w’ Mnw’ S+ −p’ −q’ Sep・丁
e、・ (O≦p°≦ 1 、0≦q≦1.0.05≦
w゛≦0.8.0.85≦0.6p’ +1.6q’≦
1、15)よりなる超格子多層膜である層構造とするこ
とにより、基板1とほぼ格子整合し、キャリア閉じ込め
が十分で、伝導形制御の容易な層構造を持つ、青色波長
域の短波長帯半導体発光素子が実現できる。
(Embodiment 8) When the substrate 1 is made of InP, bulk ZnS and 5eTe systems that are lattice-matched to the substrate can only emit red light, but if a quantum well structure is used, a blue light emitting device can be realized. In this case, the active layer 3 is ZnS l-x-Sex
Tey(0≦x≦1.0≦y≦1.0.85≦0.6x
+1.6y≦1.15) as the quantum well layer, Zn1-z'
Mnz'S+-x'-ySex' Te, ・(0≦
x'≦1, 0≦y'≦1, 0.05≦z'≦0.8.0
.. 85≦0.6x'+1.6y'≦1.15) as a barrier layer, and the thickness of the well layer is 100 angstroms or less. On the other hand, the cladding layers 2 and 4 are Zn+-wMnws+-p-JepTeq (0≦p
≦1,0≦q≦1.0.05≦w≦0.8.0.85≦
0.6p+1.6q≦1,15) or Zrl+-wMnws-p-qSepTeq(0
≦p≦1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.8.0.8
5≦0.6p+ 1.6q≦1.15) and Zn+
-w'Mnw' S+ -p'-q' Sep・Dinge,・ (O≦p°≦ 1, 0≦q≦1.0.05≦
w゛≦0.8.0.85≦0.6p'+1.6q'≦
1, 15) has a layer structure that is a superlattice multilayer film that is almost lattice-matched to the substrate 1, has sufficient carrier confinement, and has a layer structure that allows easy control of conduction type, and short wavelengths in the blue wavelength range. A band semiconductor light emitting device can be realized.

こうした超格子構造の利点は、実施例3に述べたのと同
様である。
The advantages of such a superlattice structure are similar to those described in the third embodiment.

以上の説明では、n形基板1を想定しているが、もちろ
んp形基板1を使用し、クラッド層2及び4の伝導形を
逆にした構造でも良い。n形ドーパントとしては、Br
、 AI、 Ga、 Inなどを用いてもよく、p形ド
ーパントとしては、Na、 K、  P。
In the above description, the n-type substrate 1 is assumed, but of course a structure in which the p-type substrate 1 is used and the conduction types of the cladding layers 2 and 4 are reversed may also be used. As the n-type dopant, Br
, AI, Ga, In, etc. may be used, and as the p-type dopant, Na, K, P.

As、 Sbなどを用いてもよい。また、Mnの代わり
に、Fe、 Co、或いはNi等の遷移金属元素を用い
てもかまわない。基板1についても、CuGaSeやC
uAlSeなどのカルコパイライト系半導体を使用して
も良い。
As, Sb, etc. may also be used. Moreover, a transition metal element such as Fe, Co, or Ni may be used instead of Mn. Regarding the substrate 1, CuGaSe and C
A chalcopyrite semiconductor such as uAlSe may also be used.

本発明はレーザでも発光ダイオードでも適用可能である
。レーザの場合には、埋め込み構造を始め各種の横モー
ド制御構造に適用可能である。分布帰還形または分布ブ
ラッグ反射形のレーザにも応用できる。
The present invention is applicable to both lasers and light emitting diodes. In the case of a laser, it is applicable to various transverse mode control structures including a buried structure. It can also be applied to distributed feedback type or distributed Bragg reflection type lasers.

(発明の効果) 以上のべたように、本発明によれば、II−VI族化合
物半導体、特にZn5SeTe系を用いた2重ヘテロ構
造を有する発光素子において、II族元素の一部を遷移
金属で置換した組成をクラッド層2及び4に用いること
により、基板1−活性層3−クラッド2.4層がほぼ格
子整合し、活性層3にキャリアが十分に閉じ込められる
ようなエネルギー障壁が形成され、かつp、n両方の伝
導形制御が容易な、短波長帯半導体発光素子が提供され
る。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, in a light emitting element having a double heterostructure using a II-VI group compound semiconductor, particularly a Zn5SeTe system, a part of the group II element is replaced with a transition metal. By using the substituted compositions for the cladding layers 2 and 4, the substrate 1 - active layer 3 - cladding 2.4 layer is almost lattice matched, and an energy barrier is formed such that carriers are sufficiently confined in the active layer 3. In addition, a short wavelength band semiconductor light emitting device is provided in which both p and n conduction types can be easily controlled.

遷移金属元素としてMn、 Fe、 CoまたはNiを
用いることにより、クラッド層2及び4の禁止帯幅を大
きくして活性層3にキャリアを閉じ込めることが可能と
なる。
By using Mn, Fe, Co, or Ni as the transition metal element, it becomes possible to increase the forbidden band width of the cladding layers 2 and 4 and confine carriers in the active layer 3.

活性層3及びクラッド層(2,4)がそれぞれ単層の半
導体層で構成することにより、作製が容易な短波長帯半
導体発光素子を実現することができる。
By forming the active layer 3 and the cladding layers (2, 4) each with a single semiconductor layer, it is possible to realize a short wavelength band semiconductor light emitting device that is easy to manufacture.

活性層3及びクラッド層(2,4)のうち少なくとも一
方が超薄膜を複数積層した量子井戸構造もしくは超格子
構造で構成することにより、Mnの組成比を大きくする
ことが可能となるため、活性層3でのキャリア閉じ込め
がより容易となり、かつ基板1からの不純物原子の拡散
を防止した短波長帯半導体発光素子を実現できる。
By configuring at least one of the active layer 3 and the cladding layers (2, 4) with a quantum well structure or a superlattice structure in which a plurality of ultra-thin films are laminated, it is possible to increase the Mn composition ratio. It is possible to realize a short wavelength band semiconductor light emitting device in which carrier confinement in the layer 3 is made easier and diffusion of impurity atoms from the substrate 1 is prevented.

活性H3がZnS+−x−ySexTey (0≦x≦
1.0≦y≦1)で、クラッド層2及び4はZn + 
−WMnwSl−9−9’SexTea  (0≦p≦
1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.5)でそれぞれ構
成することにより、活性層3、クラッド層2及び4が基
板1と格子整合し、かつキャリア閉じ込めが可能な短波
長帯半導体発光素子を実現できる。
Active H3 is ZnS+−x−ySexTey (0≦x≦
1.0≦y≦1), and cladding layers 2 and 4 are Zn +
-WMnwSl-9-9'SexTea (0≦p≦
1.0≦q≦1.0.05≦w≦0.5), the active layer 3 and cladding layers 2 and 4 are lattice-matched to the substrate 1 and have a short wavelength that allows carrier confinement. A band semiconductor light emitting device can be realized.

活性層3は、ZnS+−IK−,5eKTe、 (o≦
x≦1.0≦y≦1)を量子井戸層、Zn+−z’ M
nz’ 5l−X・−y’Sex・Te、s (0≦x
°≦1,0≦y’≦1、0.05≦Z≦0.8)を障壁
層とする量子井戸構造で、クラッド層2及び4はZn+
−wMnws+−9−qSel、Teq(o≦p≦1゜
0≦q≦1.0.05≦w≦0.8)およびZn+−i
’MnzSl−X−y’ 5eX−Te、・(0≦p’
≦1、0≦q°≦10.05≦w°≦0.8)よりなる
超格子多層膜でそれぞれ構成することにより、Mnの組
成比を大きくすることが可能となるため、活性層3での
キャリア閉じ込めがより容易となり、かつ基板1からの
不純物原子の拡散を防止した短波長帯半導体発光素子を
実現できる。
The active layer 3 is made of ZnS+-IK-,5eKTe, (o≦
x≦1.0≦y≦1) as a quantum well layer, Zn+−z' M
nz'5l-X・-y'Sex・Te,s (0≦x
It has a quantum well structure with barrier layers of °≦1, 0≦y'≦1, 0.05≦Z≦0.8), and cladding layers 2 and 4 are Zn+
-wMnws+-9-qSel, Teq (o≦p≦1゜0≦q≦1.0.05≦w≦0.8) and Zn+-i
'MnzSl-X-y' 5eX-Te, ・(0≦p'
≦1, 0≦q°≦10.05≦w°≦0.8), it is possible to increase the Mn composition ratio. It is possible to realize a short wavelength band semiconductor light emitting device in which carrier confinement becomes easier and diffusion of impurity atoms from the substrate 1 is prevented.

基板1がGaAs、 Gap、 InP、 Si、 G
e、 ZnSeまたはGaAsP混晶で構成することに
より、活性層3が基板1と格子整合することが容易とな
る。
Substrate 1 is GaAs, Gap, InP, Si, G
By forming the active layer 3 with ZnSe or GaAsP mixed crystal, it becomes easy to lattice match the active layer 3 with the substrate 1.

このため、従来、半導体レーザ・ダイオードではできな
かった、青色や緑色等の短波長域の動作が実現されるよ
うになり、民生用或いは情報処理用に広く利用され、そ
の効果が極めて大である。
For this reason, it has become possible to operate in short wavelength ranges such as blue and green, which was previously not possible with semiconductor laser diodes, and it has been widely used in consumer and information processing applications, and its effects are extremely large. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はZnS、 ZnSe、 ZnTeおよびその混
晶系、ならびにGaAs、 GaP、 InP、 Si
の禁止帯幅と格子定数の関係を示す特性図、第2図(a
)及び(b)は従来のZnSe−ZnTeおよびZnS
−ZnTeヘテロ接合におけるエネルギー・バンド接続
を示す模式図、第3図は本発明による層構造を有する発
光素子の断面図、第4図は本発明による短波長帯短波長
帯半導体発光素子のエネルギー・バンド接続を示す模式
図である。 1・・・n−GaP基板、 ・n側クラッド層(n−Zno、 aJno、 +aS
。 Seo、otTea、o+)  % ・活性層(ZnSo、 eseo、 osTeo、 o
s)、’p側ツクラッド層p−Zno。62Mno、 
+sS。 Seo、otTea、o+) s ・絶縁膜、 6.7・ ・電極。 3 ・ 5 ・ 2 ・ 4 ・
Figure 1 shows ZnS, ZnSe, ZnTe and their mixed crystal systems, as well as GaAs, GaP, InP, and Si.
Figure 2 (a) is a characteristic diagram showing the relationship between the forbidden band width and lattice constant of
) and (b) are conventional ZnSe-ZnTe and ZnS
-A schematic diagram showing energy band connection in a ZnTe heterojunction, FIG. 3 is a cross-sectional view of a light emitting device having a layered structure according to the present invention, and FIG. FIG. 3 is a schematic diagram showing band connections. 1... n-GaP substrate, n-side cladding layer (n-Zno, aJno, +aS
. Seo, otTea, o+) % ・Active layer (ZnSo, eseo, osTeo, o
s), 'p-side cladding layer p-Zno. 62Mno,
+sS. Seo, otTea, o+) s - Insulating film, 6.7 - Electrode. 3 ・ 5 ・ 2 ・ 4 ・

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板と、その上にもうけられる活性層とクラッド
層とを有する半導体発光素子において、活性層がII−V
I族化合物半導体層から成り、クラッド層が、前記活性
層の禁止帯幅より大なる禁止帯幅を有するII−VI族化合
物半導体で、そのII族元素の一部を遷移金属元素で置換
し、かつ前記活性層とほゞ格子整合する半導体で構成さ
れることを特徴とする半導体発光素子。
(1) In a semiconductor light emitting device having a substrate, an active layer and a cladding layer formed on the substrate, the active layer is II-V
a group I compound semiconductor layer, the cladding layer is a group II-VI compound semiconductor having a band gap larger than the band gap of the active layer, and a part of the group II element is replaced with a transition metal element; A semiconductor light emitting device comprising a semiconductor that is substantially lattice matched with the active layer.
(2)前記活性層のII族元素の一部が遷移金属元素で置
換されることを特徴とする請求項1記載の半導体発光素
子。
(2) The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein a part of the group II elements in the active layer are replaced with a transition metal element.
(3)前記遷移金属元素はMn、Fe、CoまたはNi
から選択されるひとつであることを特徴とする請求項1
記載の半導体発光素子。
(3) The transition metal element is Mn, Fe, Co or Ni.
Claim 1 characterized in that it is one selected from
The semiconductor light emitting device described above.
(4)前記活性層及び前記クラッド層がそれぞれ単層の
半導体層で構成されていることを特徴とする請求項1記
載の半導体発光素子。
(4) The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the active layer and the cladding layer are each composed of a single semiconductor layer.
(5)前記活性層及び前記クラッド層のうち少なくとも
一方が超薄膜を複数積層した超格子構造で構成されてい
ることを特徴とする請求項1記載の半導体発光素子。
(5) The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein at least one of the active layer and the cladding layer has a superlattice structure in which a plurality of ultra-thin films are laminated.
(6)前記活性層がZnS_1_−_x_−_ySe_
xTe_y(0≦x≦1、0≦y≦1)であり、前記ク
ラッド層はZn_1_−_wMn_wS_1_−_p_
−_qSe_pTe_q(0≦p≦1、0≦q≦1、0
.05≦w≦0.5)構成されていることを特徴とする
請求項1記載の半導体発光素子。
(6) The active layer is ZnS_1_-_x_-_ySe_
xTe_y (0≦x≦1, 0≦y≦1), and the cladding layer is Zn_1_−_wMn_wS_1_−_p_
−_qSe_pTe_q(0≦p≦1, 0≦q≦1, 0
.. 05≦w≦0.5). The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein:
(7)前記活性層はZnS_1_−_x_−_ySe_
xTe_y(0≦x≦1、0≦y≦1)を量子井戸層、
Zn_1_−_z_’Mn_z_’S_1_−_x_’
_−_y_’Se_x_−_’Te_y_’(0≦x’
≦1、0≦y’≦1、0.05≦z’≦0.8)を障壁
層とする量子井戸構造であり、前記クラッド層はZn_
1_−_wMn_wS_1_−_p_−_qSe_pT
e_q(0≦p≦1、0≦q≦1、0.05≦w≦0.
8)およびZn_1_−_w_’Mn_w_’S_1_
−_p_’_−_q_’Sc_p_’Te_q_’(0
≦p’≦1、0≦q’≦1、0.05≦w’≦0.8)
よりなる超格子多層膜で構成したことを特徴とする請求
項1記載の半導体発光素子。
(7) The active layer is ZnS_1_-_x_-_ySe_
xTe_y (0≦x≦1, 0≦y≦1) as a quantum well layer,
Zn_1_-_z_'Mn_z_'S_1_-_x_'
____y_'Se_x_-_'Te_y_'(0≦x'
≦1, 0≦y'≦1, 0.05≦z'≦0.8) as a barrier layer, and the cladding layer is Zn_
1_-_wMn_wS_1_-_p_-_qSe_pT
e_q(0≦p≦1, 0≦q≦1, 0.05≦w≦0.
8) and Zn_1_−_w_'Mn_w_'S_1_
−_p_'_-_q_'Sc_p_'Te_q_'(0
≦p'≦1, 0≦q'≦1, 0.05≦w'≦0.8)
2. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the semiconductor light emitting device is constructed of a superlattice multilayer film consisting of the following.
(8)前記基板が前記活性層及びクラッド層とほぼ格子
整合するGaAs、GaP、InP、Si、Ge、Zn
SeおよびGaAsP混晶から選択されるひとつで構成
されていることを特徴とする請求項1記載の半導体発光
素子。
(8) The substrate is made of GaAs, GaP, InP, Si, Ge, or Zn that is substantially lattice matched to the active layer and the cladding layer.
2. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the semiconductor light emitting device is made of one selected from Se and GaAsP mixed crystal.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05226769A (en) * 1992-02-13 1993-09-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manganese zinc selenide sulfide laser diode
JP2007036300A (en) * 2006-11-13 2007-02-08 Sumitomo Electric Ind Ltd Semiconductor optical element, and method for forming contact

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