JPH02132338A - 光線路監視方法 - Google Patents

光線路監視方法

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JPH02132338A
JPH02132338A JP28728988A JP28728988A JPH02132338A JP H02132338 A JPH02132338 A JP H02132338A JP 28728988 A JP28728988 A JP 28728988A JP 28728988 A JP28728988 A JP 28728988A JP H02132338 A JPH02132338 A JP H02132338A
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    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光線路監視方法に関し、特に詳細には、光ファ
イバパルス試験器を用いた光線路監視方法に関する。
〔従来技術〕
近年、光通信技術の発達にともない光ファイバケーブル
線路(以下光線路という)を敷設し、その光線路を通し
て光通信を行うようになってきている。
そして、光線路に万一破断あるいは異状な光損失の増加
等の障害が発生した場合には、その位置を確認し光線路
を修復しなければならない。このような障害点探索用測
定器の一例として光ファイバパルス試験器(以下OTD
Rという)がある。
第5図に示すように、OTDR1は、光線路2に接続さ
れ、所定のパルス間隔を有する光パルス信号を光線路2
に導入する。そしてその光パルス信号の反射光の光強度
を検知して光線路の長手方向の状態をオシロスコープ等
の表示管1aを用いで観察するようになっている。この
第5図に示すグラフの横軸は信号の伝搬時間を示し、こ
の伝搬時間は実際にはOTDRIからの光ファイバの距
離に比例している。一方縦軸は検知された反射光の光強
度をデシベル表示したものである。そして光ファイバの
長手方向の特性が均一な部分Aでは反射光の光強度は図
に示すように伝搬時間に対して直線的に減少し、その傾
きが光線路の光損失に対応する。一方接続点又は障害点
Bでは、そこでのフレネル反射により、Cで示すような
パルス状の波形が観測され、接続点又は障害点Bを容易
に見つけることができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記光線路の監視システムを光ファイバ通信網に適用す
る場合には、複数の光ファイバケーブルを一つのOTD
R1で監視するために1×N光スイッチをOTDRIの
先端部に接続し、択一的に光ファイバケーブルを選択で
きるようにしている。
この場合のOTDRIで観察される反射光の光強度の時
間変化プロファイルを第5図に示す。この第5図におい
てEで示す部分は光パルス信号が、IXN光スイッチ1
1の光ファイバ切替え部でフレネル反射を起こしている
ことにより生じる現象である。そして、この反射光の時
間変化プロファイルの波形の乱れ幅D(以下デッドゾー
ンという)内では、光線路の障害等があったとしても、
その障害点等の位置ばかりか障害が存在するかどうかす
ら見つけることができなかった。このデッドゾーンは、
第4図の表で示すように、OTDR1が発する光パルス
の波長、パルス間隔等により異なる。
そのため、光ファイバ線路の監視を十分に行うことが難
しかった。
そこで本発明では、光ファイバ線路の全範囲にわたって
光ファイバ線路に障害点が存在するかどうかの監視を可
能にする光線路監視方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を達成するため、本発明の光線路監視方法は、
光ファイバパルス試験器から光線路に光パルス信号を導
入し、その反射光の光強度の時間変化プロファイルを観
察することにより光ファイバ線路の監視を行う光線路監
視方法であって、前記時間変化プロファイルのデータを
サンプリングするデータサンプリング工程と、前記デー
タサンプリング工程で得られたサンプリングデータから
前記時間変化プロファイルの平坦部分の傾斜を求める傾
斜算出工程と、前記傾斜算出工程で得られた傾斜と前記
時間変化プロファイルの平坦部分の少なくとも一点のデ
ータとより、光線路に設けられた光ファイバ接続部にフ
レネル反射が発生しなかったと仮定した場合の推定時間
変化プロファイルを推定する推定工程と、前記推定工程
で得られた推定時間変化プロファイルの光ファイバ接続
部位置直前における推定接続損失と、予め測定されてい
る光ファイバ接続部の接続損失とを比較し、比較結果に
基づき光線路の状態を監視する工程とを含むことを特徴
とする。
〔作用〕
本発明の光線路監視方法では、上記のように構成し、フ
レネル反射の影響を受けた時間変化プロファイルの部分
を、他の部分の状態よりフレネル反射がなかった場合を
推定し、その推定値から障害点の有無を判断しフレネル
反射の影響を受けている部分における光線路の監視を可
能にしている。
〔実施例〕
以下図面を参照しつつ本発明に従う実施例について説明
する。
同一符号を付した要素は同一機能を有するため重複する
説明は省略する。
第1図は本発明の光線路監視方法の概略工程を示し、第
2図は本発明に従う光線路監視方法により監視を行うこ
とができる光ファイバ通信網システムの一例を示す。
まず、第2図に示す光ファイバ通信網システムから説明
していく。
第2図に示す光ファイバ通信網システムでは、電話局1
0aに交換機11aが設けられ、ビル10bには構内交
換機1lbが、また別の電話局10cには交換機110
等が設けられている。そして、電話局10aの交換機1
1aには光線路20が接続され、光線路20は中継器2
1を介してビル10b等の構内交換機1lb及び別の電
話局10cの交換機11cへ接続され、各電話機12a
,12b等の通信機器へと接続される。そして、この光
線路20の状態を監視するため、電話局10a内にはO
TDR13が設けられている。
このOTDR13は光ファイバを介してIXN光スイッ
チ14に接続され、この1×N光スイッチ14の各出力
用光ファイバケーブルは光信号合波・分離器16に接続
されている。この出力用光ファイバケーブルはそれぞれ
光線路2oの複数の光ファイバケーブルに対応して設け
られている。
そして光信号合波・分離器16は光線路2oに接続され
、光パルス信号を1×N光スイッチ14で選択された対
応する光ファイバケーブルに導入したり、また光ファイ
バケーブルからの反射光をOTDR3に分離伝送する。
また更にOTDR13には検知したデータを信号処理す
る信号処理装置15が接続されている。この信号処理装
置15は、データを処理し光線路内に障害があるかどう
かを監視する。
以下、上記光ファイバ通信網システムの光線路の障害点
の有無を監視する方法について説明する。
この監視方法は、第1図に示すように大きく分けてサン
プリング工程30、移動平均工程31、傾斜算出工程3
2、時間変化プロファイル推定工程33、損失推定工程
34及び比較判断工程35より構成される。
本発明に従う光線路監視方法の原理について説明する。
OTDRを用いて第2図に示す光ファイバ通信網システ
ムの光線路を監視すると、第3図(. a )に示す時
間変化プロファイルを得ることができる。
この第3図(a)において横軸は信号の伝搬時間に対応
し、実際にはOTDRからの距離に対応している。縦軸
は光パルス信号の反射光の光強度をdB表示したもので
ある。
この様に得られた時間変化プロファイルでEの部分が光
スイッチ中に生じるフレネル反射の影響を受けている部
分である。ここでもしフレネル反射が生じなかったとす
ると、このフレネル反射の影響部分Eにおける時間変化
プロファイルはこの時間変化プロファイルの平坦部分F
の延長線G(以下この延長線Gを推定時間変化プロファ
イル直線Gという)となることが推定される。これは第
5図を用いて先に説明したように、長手方向に均一な特
性を有する光ファイバでは、時間変化プロファイルが直
線上になるという性質を利用している。そして、フレネ
ル反射の影響が開始する位置Eaにおける推定時間変化
プロファイル直線Gの反射光の光強度の値Gsと、実際
の時間変化プロファイルのこの位置における反射光の光
強度の値Esとの差しをもとめる。このLがこのフレネ
ル反射による光損失の相当する。したがって、光線路敷
設時に光スイッチの接続損失Sρを測定し、L>SJ7
となっている場合には、このフレネル反射の影響部分E
において光線路に何等かの障害点が存在していると推定
され、これにより、このフレネル反射の影響部分におい
ても光線路の監視が可能になる。一方、上記推定時間変
化プロファイル直線Gを求めるためには、まずこの時間
変化プロファイルを時間(横軸の変数)で微分する。こ
の微分した値をグラフにすると第3図(b)のようにな
る。次にこの第3図(b)で、その微分値が一定となっ
ている部分Fの微分値Kを求め、この一定となっている
部分の任意の位置の時間変化プロファイルの値(d(t
k),tk,)と微分値Kとを用いて推定時間変化プロ
ファイル直線G (G (t)−Kt+β}を求め、こ
の推定時間変化プロファイル直線GのEaの位置の値(
G(Ea))を求めることによりEsを求めることがで
きる。このEaは第3図(b)に示した微分値の急激な
変化を生じる位置を求めることにより求めることもでき
るし、また光線路敷設時に予めOTDRから光スイッチ
等までの距離を測定しておき逆算して求めることもでき
る。そして上記のことを自動的に実施する方法の一例と
して第1図に示す工程がある。
以下、第1図に示す各工程について具体的に説明する。
まず、サンプリング工程31では、OTDRを作動させ
、光線路に導入した光パルス信号の反射光の光強度を検
知する。そして検知された光強度7のdB値を所定の時
間間隔Δt毎にサンプリングして検知時間t   (p
=1、2、・・・n}におけるp 時間変化プロファイルのデータd(t)を測定p し、検知時間t とデータd(t)とを対にしpp て(t  ,d(t  )) (p=1、2、−n 1
pp (以下サンプリングデータ群という)として記憶してお
く。
次の移動平均工程31では、サンプリングされたデータ
の雑音等による変動やサンプリング時の検知精度の変動
のサンプリングデータへの影響を取り除く。この移動平
均工程31では、先のサンプリング工程30で得られた
サンプリングデータ群のデータ値それぞれに以下の平均
化処理を施す。
・・・■ ここでkは移動平均を取る範囲であり、得られた時間変
化プロファイルの状態のより選択される。
またa pは重み付け係数であり、この重み付け係数a
 は通常1に固定されているが、検知精度、p または雑音等が変動したりする際、この変動の影響を取
り除くためサンプリングデータに所定の重み付け係数を
掛ける。
上記式■の演算処理にて得られた平均化データをそれぞ
れ検知時間t と対にして(t,App (t )}として記憶する。
p 次の傾斜算出工程32では先の移動平均工程31で得ら
れた平均化データ{t  ,A(t  )1pp に、以下の式■の演算を施すことにより時間変化プロフ
ァイルの各時間t における傾きα(1  )pp を求める。
・・・■ 次に上記式■で得られた傾きα(1  )のそれp ぞれ隣り合う傾きの差分Δ(1  )を以下の式■p で求める。
Δ (t  )=α (1    )  一α (1 
  )  ・・・■1)          pal 
         pそしてΔ(1  )の値が零に近
似される範囲をp 求め、その時のα(t)=Kを求める。
p このKが時間変化プロファイルの平坦部分(第33図(
a)においてFの部分に対応)の傾き推定される。
次にプロファイル推定工程33を実施する。このプロフ
ァイル推定工程33では、先の傾斜算出工程32で得ら
れた時間変化プロファイルの平坦部分(第3図(a)に
おいてFの部分に対応)の傾きKとこの平坦部分の任意
の一点、例えば(t  ,d(ti)l とよりこの平
坦部分の直線k の関数d(t  )一Kt(t  )十βを求める。
pp そしてこの直線の関数はフレネル反射の影響が現れてい
る部分(第3図(a)のEの部分に対応)でのフレネル
反射がなかったとした場合の推定時間変化プロファイル
直線Gに一致している。
次に損失推定工程34を実施する。この損失推定工程3
4では時間変化プロファイルにフレネル反射の影響が現
れる直前の時間変化プロファイルの位置(第3図(a)
においてEaの位置)における先のプロファイル推定工
程33で推定された推定時間変化プロファイル直線Gの
関数の値(第3図(a)においてEsに対応)を求める
。一方、実際に時間変化プロファイルの時刻Eaでの値
Gsを予め記憶しておき、損失L=G s−E sを求
める。
次に、比較・判断工程35を実施する。この比較・判断
工程35では、先の損失推定工程34で求められた推定
損失Lと光線路敷設時に予め測定しておいた光スイッチ
等の接続損失sgとの差を演算し、その差分が所定の範
囲内にあるがどぅがを判断し、所定の範囲内に入ってい
るときは、このフレネル反射の影響を受けている時間変
化プロファイルに相当する部分の光線路内に障害点等が
ないと判断し、所定の範囲外にあるときは何等かの障害
点が存在していると判断する。
このようにして、フレネル反射の影響を受けている部分
の時間変化プロファイルに相当する部分の光線路であっ
ても、その部分に障害点等が存在するかどうか調べるこ
とができる。
本発明は上記実施例に限定されるものでなく、種々の変
形例が考えられ得る。
具体的には、上記実施例では光ファイバ通信網システム
の光スイッチ部分でのフレネル反射の影響を受けている
部分の障害点検知について説明してきたが、この場合に
限定されず、光線路の中継接続部に生じるフレネル反射
の影響を受けている部分の障害点検知についても同様に
適用できる。
この場合には、その中継接続部を中心に所定の範囲に限
定して先に説明したように時間変化プロファイルを求め
上記方法を実施すればよい。この中継接続部の位置は光
線路敷設時に予め定められるので、この所定の範囲を限
定することは容易である。
更に上記実施例では、移動平均工程を実施しているが、
この移動平均工程を実施せずサンプリングデータを直接
傾斜算出工程で使用するようにしてもよい。
〔効果〕
本発明の光線路監視方法では、先に説明したように、た
とえ光線路上にフレネル反射を生じる接続部材等が存在
しても、光線路上の障害点等を容易に見つけることがで
き、光線路の全範囲にわたって監視をすることができる
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に従う光線路監視方法の一実施例の工
程図、第2図は、第1図に示す光線路監視方法を適用す
る光線路通信網システムの構成を示す図、第3図は、本
発明に従う光線路監視方法の原理を説明するための図、
第4図は、OTDRによる試験方法でのフレネル反射に
よる光パルス信号のパルス幅、光パルス信号の波長を変
えたときのデッドゾーンの値の表を示す図、第5図は、
OTDRによる光線路の監視状態を示す図、及び第6図
は、OTDRに光線路監視におけるフレネル反射の影響
を示す図である。 13・・・OTDR,14・・・IXN光スイッチ、1
5・・・信号処理装置、16・・・光信号合波・分離器
、20・・・光線路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光ファイバパルス試験器から光線路に光パルス信号
    を導入し、その反射光の光強度の時間変化プロファイル
    を観察することにより光線路の監視を行う光線路監視方
    法において、 前記時間変化プロファイルのデータをサンプリングする
    データサンプリング工程と、 前記データサンプリング工程で得られたサンプリングデ
    ータから前記時間変化プロファイルの平坦部分の傾斜を
    求める傾斜算出工程と、 前記傾斜算出工程で得られた傾斜と前記時間変化プロフ
    ァイルの平坦部分の少なくとも一点のデータとより、光
    線路に設けられた光ファイバ接続部にフレネル反射が発
    生しなかったと仮定した場合の推定時間変化プロファイ
    ルを推定する推定工程と、 前記推定工程で得られた推定時間変化プロファイルの光
    ファイバ接続部位置直前における推定接続損失と、予め
    測定されている光ファイバ接続部の接続損失とを比較し
    、比較結果に基づき光線路の状態を監視する工程とを含
    む光線路監視方法。 2、前記データサンプリング工程で得られサンプリング
    データの移動平均を求め、この移動平均されたサンプリ
    ングデータに基づき傾斜算出工程を実施する請求項1記
    載の光線路監視方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1998004895A1 (fr) * 1996-07-25 1998-02-05 Anritsu Corporation Appareil de controle de fibres optiques faisant appel a un reflectometre optique temporel et procede de controle
US7738787B2 (en) 2006-07-18 2010-06-15 Fujikura Ltd. Optical transmission line monitoring device, optical transmission line monitoring method, and computer program

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998004895A1 (fr) * 1996-07-25 1998-02-05 Anritsu Corporation Appareil de controle de fibres optiques faisant appel a un reflectometre optique temporel et procede de controle
US5943123A (en) * 1996-07-25 1999-08-24 Anritsu Corporation Optical fiber monitor using optical time domain reflectometer and monitoring method
US7738787B2 (en) 2006-07-18 2010-06-15 Fujikura Ltd. Optical transmission line monitoring device, optical transmission line monitoring method, and computer program

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