JPH0212745A - X線発生装置の冷却装置 - Google Patents
X線発生装置の冷却装置Info
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- JPH0212745A JPH0212745A JP1084167A JP8416789A JPH0212745A JP H0212745 A JPH0212745 A JP H0212745A JP 1084167 A JP1084167 A JP 1084167A JP 8416789 A JP8416789 A JP 8416789A JP H0212745 A JPH0212745 A JP H0212745A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/10—Rotary anodes; Arrangements for rotating anodes; Cooling rotary anodes
- H01J35/105—Cooling of rotating anodes, e.g. heat emitting layers or structures
- H01J35/107—Cooling of the bearing assemblies
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、−膜内にはX線発生装置に関し、更に詳しく
は、コンピュータ断層撮影(CT)スキャナのX線管の
ようなX線発生装置を冷却する装置に関する。
は、コンピュータ断層撮影(CT)スキャナのX線管の
ようなX線発生装置を冷却する装置に関する。
発明の背景
医学診断およびX線結晶学のような分野に使用される高
出力X線装置は比較的大量の熱を放散することができる
アノードを必要とする。この熱を放散する主なモードは
アノードからの放射による熱伝達であるので、放射表面
積を増大することによって熱の放散を大きくすることで
ある。アノードを回転させることによって、カソードか
ら発生する電子ビームが当たるターゲット表面中の領域
が連続的に変化し、これによりX線放射の際に発生する
熱を更に広い面積に有効に拡げることができる。従って
、アノードを回転させることによって、アノードを静止
させた装置の場合よりも一般に高い出力レベルでX線装
置を作動させることができ、またターゲット表面の材料
の温度限界を超えない限り、静止アノードを使用する装
置において遭遇するターゲット表面の劣化問題が避けら
れる。
出力X線装置は比較的大量の熱を放散することができる
アノードを必要とする。この熱を放散する主なモードは
アノードからの放射による熱伝達であるので、放射表面
積を増大することによって熱の放散を大きくすることで
ある。アノードを回転させることによって、カソードか
ら発生する電子ビームが当たるターゲット表面中の領域
が連続的に変化し、これによりX線放射の際に発生する
熱を更に広い面積に有効に拡げることができる。従って
、アノードを回転させることによって、アノードを静止
させた装置の場合よりも一般に高い出力レベルでX線装
置を作動させることができ、またターゲット表面の材料
の温度限界を超えない限り、静止アノードを使用する装
置において遭遇するターゲット表面の劣化問題が避けら
れる。
X線装置によって発生される熱量およびX線装置が達す
る温度は相当なものである。電子ビームのエネルギの0
. 5%以下がX線に変換され、残りのエネルギの大部
分が熱になるので、回転型アノードのターゲット表面の
平均温度は1200℃を超え、ピークのホットスポット
の温度はそれよりかなり高くなる。これらの温度の低減
および熱の放散は出力を増大するのに重要な問題である
。
る温度は相当なものである。電子ビームのエネルギの0
. 5%以下がX線に変換され、残りのエネルギの大部
分が熱になるので、回転型アノードのターゲット表面の
平均温度は1200℃を超え、ピークのホットスポット
の温度はそれよりかなり高くなる。これらの温度の低減
および熱の放散は出力を増大するのに重要な問題である
。
しかしながら、アノードの回転だけで発生熱を放散する
能力には限界がある。その結果、回転型アノードが最初
に開発されてから出力を更に高くした装置に対する需要
があったけれども、このような装置に対する開発が遅れ
ている。
能力には限界がある。その結果、回転型アノードが最初
に開発されてから出力を更に高くした装置に対する需要
があったけれども、このような装置に対する開発が遅れ
ている。
従来の装置の別の欠点は寿命が限られていることであり
、これは部分的には熱を放散する能力によって決められ
る。X線装置は比較的高価であるので、このような装置
の寿命を延ばすことは実質的に価格を低減することにあ
る。
、これは部分的には熱を放散する能力によって決められ
る。X線装置は比較的高価であるので、このような装置
の寿命を延ばすことは実質的に価格を低減することにあ
る。
X線装置において、装置の寿命を決定する主なものはア
ノードのシャフトが回転するベアリングである。回転型
アノードに使用されるベアリングは典型的には回転真空
シールの必要性を避けるために真空ガラス・エンベロー
プ内に配置されている。しかしながら、この真空中にベ
アリングを置くことは、特別な潤滑手段、例えばベアリ
ングに銀のコーティングを行なうようなことを必要とす
るが、これ自身は感熱性である。ベアリングの温度は主
にアノードのシャフトを介してのアノードからベアリン
グへの熱伝導により時には400℃を超えることがある
。このように熱が集中する不利な環境では、ベアリング
の腐食が急速に生じて、シャフトの膠着ひいては装置の
故障を招くことがある。
ノードのシャフトが回転するベアリングである。回転型
アノードに使用されるベアリングは典型的には回転真空
シールの必要性を避けるために真空ガラス・エンベロー
プ内に配置されている。しかしながら、この真空中にベ
アリングを置くことは、特別な潤滑手段、例えばベアリ
ングに銀のコーティングを行なうようなことを必要とす
るが、これ自身は感熱性である。ベアリングの温度は主
にアノードのシャフトを介してのアノードからベアリン
グへの熱伝導により時には400℃を超えることがある
。このように熱が集中する不利な環境では、ベアリング
の腐食が急速に生じて、シャフトの膠着ひいては装置の
故障を招くことがある。
X線装置のベアリングを約400℃の臨界温度以下に維
持するように適切な冷却を行えば、ベアリングの寿命、
従って装置自身の寿命が有効に延びることになる。この
ような冷却はピークおよび平均出力レベルを既存のX線
装置のものよりも増大させることを可能にするので更に
好ましく、現在の用途におけるものよりもこのような装
置の性能および有用性を伸ばすことができる。
持するように適切な冷却を行えば、ベアリングの寿命、
従って装置自身の寿命が有効に延びることになる。この
ような冷却はピークおよび平均出力レベルを既存のX線
装置のものよりも増大させることを可能にするので更に
好ましく、現在の用途におけるものよりもこのような装
置の性能および有用性を伸ばすことができる。
CTスキャナに使用されているX線管の時間平均熱放散
量は患者のスルーブツトを決定する。パルス式電子ビー
ムの必要な平均エネルギ出力は12kWであることが算
出されている。現在、CTスキャナ用のX線管は約3k
Wを放散する。患者のスループットを増大させた場合に
起こるようなX線管のターゲットの過熱が生じたとき、
装置の次の使用までの時間をターゲットの冷却のために
増大しなければならない。このため、より高い熱放散能
力を有するX線管が得られれば機械の利用性を改良する
ことができることになる。
量は患者のスルーブツトを決定する。パルス式電子ビー
ムの必要な平均エネルギ出力は12kWであることが算
出されている。現在、CTスキャナ用のX線管は約3k
Wを放散する。患者のスループットを増大させた場合に
起こるようなX線管のターゲットの過熱が生じたとき、
装置の次の使用までの時間をターゲットの冷却のために
増大しなければならない。このため、より高い熱放散能
力を有するX線管が得られれば機械の利用性を改良する
ことができることになる。
X線装置を冷却する従来の典型的な試みは米国特許筒4
.455,504号に記載されている。
.455,504号に記載されている。
この特許に開示されているように、アノードの内部表面
に直接接触するように冷却流体をアノードの内部に循環
させることによって冷却を行っている。このような装置
は冷却を増進するが、回転流体シールを必要とする。シ
ールは漏洩しやすいので、このような装置の信頼性は低
く、漏洩が発生した場合に装置が有効に動作し続ける保
証はない。
に直接接触するように冷却流体をアノードの内部に循環
させることによって冷却を行っている。このような装置
は冷却を増進するが、回転流体シールを必要とする。シ
ールは漏洩しやすいので、このような装置の信頼性は低
く、漏洩が発生した場合に装置が有効に動作し続ける保
証はない。
本発明の目的は、上述した欠点のない新規な改良された
X線発生装置を提供することにある。
X線発生装置を提供することにある。
本発明の他の目的は従来の装置よりも長い有効寿命を有
する新規な改良された高出力X線装置を提供することに
ある。
する新規な改良された高出力X線装置を提供することに
ある。
本発明の更に他の目的は放熱率が高く、連続動作を行な
うことができる新規な改良されたX線装置を提供するこ
とにある。
うことができる新規な改良されたX線装置を提供するこ
とにある。
発明の要約
本発明によれば、電子ビームを放出することができるカ
ソードおよびカソードから間隔をあけて配設されている
中空の回転型アノードを取り囲んだ真空エンクロージャ
手段を有するX線装置が提供される。アノードはリング
状ターゲット拳トラックを有する中空の円盤形部分を含
む。円盤形部分はそれから軸方向に延在する第1の管体
に取り付けられている。中空の円盤形部分の内部および
第1の管体の内部は互いに連通している。アノードは電
子ビームに対するターゲット表面を構成する。円盤形部
分を有する静止挿入体が中空の回転型アノード構造の中
に該アノード構造から間隔をあけて配設されている。更
に、静止挿入体は第2および第3の管体を有し、この管
体の各々は静止円盤形部分に取り付けられ、該静止円盤
形部分から同軸に延在している。第2の管体は第1の管
体から間隔をあけて配設されて、第1の管体によって取
り囲まれている。第3の管体は第2の管体から間隔をあ
けて配設されて、第2の管体によって取り囲まれている
。静止円盤形部分は一端が第3の管体の内部と連通して
、静止円盤形部分の表面の下側に延在し、かつ他端が第
2および第3の管体の間に形成された環状空間と連通ず
る通路を画成している。ベアリング手段が第1の管体を
第2の管体上に回転自在に取り付けている。真空エンク
ロージャを取り囲むケーシング手段が真空エンクロージ
ャを覆うように液体を流れさせる通路を画成する。
ソードおよびカソードから間隔をあけて配設されている
中空の回転型アノードを取り囲んだ真空エンクロージャ
手段を有するX線装置が提供される。アノードはリング
状ターゲット拳トラックを有する中空の円盤形部分を含
む。円盤形部分はそれから軸方向に延在する第1の管体
に取り付けられている。中空の円盤形部分の内部および
第1の管体の内部は互いに連通している。アノードは電
子ビームに対するターゲット表面を構成する。円盤形部
分を有する静止挿入体が中空の回転型アノード構造の中
に該アノード構造から間隔をあけて配設されている。更
に、静止挿入体は第2および第3の管体を有し、この管
体の各々は静止円盤形部分に取り付けられ、該静止円盤
形部分から同軸に延在している。第2の管体は第1の管
体から間隔をあけて配設されて、第1の管体によって取
り囲まれている。第3の管体は第2の管体から間隔をあ
けて配設されて、第2の管体によって取り囲まれている
。静止円盤形部分は一端が第3の管体の内部と連通して
、静止円盤形部分の表面の下側に延在し、かつ他端が第
2および第3の管体の間に形成された環状空間と連通ず
る通路を画成している。ベアリング手段が第1の管体を
第2の管体上に回転自在に取り付けている。真空エンク
ロージャを取り囲むケーシング手段が真空エンクロージ
ャを覆うように液体を流れさせる通路を画成する。
このようにして、静止挿入体は連続的な内部流路を画成
し、この流路を通して流体を循環させることにより、X
線の発生の副産物としてアノードに発生する熱を除去す
ることができる。
し、この流路を通して流体を循環させることにより、X
線の発生の副産物としてアノードに発生する熱を除去す
ることができる。
本発明の主mは特許請求の範囲に記載されているが、本
発明の構成および実施の方法ならびに本発明の他の目的
および利点は添付の図面を参照した以下の説明からより
よく理解されよう。
発明の構成および実施の方法ならびに本発明の他の目的
および利点は添付の図面を参照した以下の説明からより
よく理解されよう。
図面を参照した発明の詳細な説明
第1図には回転型アノードを有する従来の典型的なX線
発生装置11の断面図が示されている。
発生装置11の断面図が示されている。
図示のように、X線発生装置11は真空ガラス・エンベ
ロープ13を有し、このエンベロープ13は回転する円
盤形アノード21を取り囲んでいる。
ロープ13を有し、このエンベロープ13は回転する円
盤形アノード21を取り囲んでいる。
アノード21はその前壁の周辺部に、前壁に対して若干
角度をもった環状ターゲツト面23を有している。環状
ターゲツト面は、グラファイトまたはモリブデンで作ら
れた車輪状部材上に設けられたタングステン合金で構成
されている。更に、ガラス争エンベロープ13内にはカ
ソード27が配設されている。アノード21に対するカ
ソードの位置は両者間の電子ビームがアノードの回転軸
29に対してほぼ平行になるように定められている。
角度をもった環状ターゲツト面23を有している。環状
ターゲツト面は、グラファイトまたはモリブデンで作ら
れた車輪状部材上に設けられたタングステン合金で構成
されている。更に、ガラス争エンベロープ13内にはカ
ソード27が配設されている。アノード21に対するカ
ソードの位置は両者間の電子ビームがアノードの回転軸
29に対してほぼ平行になるように定められている。
アノード21はシャフト19に取り付けられ、このシャ
フト19はベアリング25によって回転自在に支持され
ている。アノードおよびシャフトは固定子15および回
転子17間の電磁反作用によって回転軸29を中心とし
て回転する。回転子17はシャフト19に取り付けられ
ている。
フト19はベアリング25によって回転自在に支持され
ている。アノードおよびシャフトは固定子15および回
転子17間の電磁反作用によって回転軸29を中心とし
て回転する。回転子17はシャフト19に取り付けられ
ている。
ターゲットにあたる電子ビームのエネルギの一部はX線
に変換されるc、X線はガラス・エンベロープを通過し
てX線管から出力される。残りのエネルギは熱になり、
この熱はターゲットから放射されるとともに、ガラス・
エンベロープおよび冷却油によって吸収される。この冷
却油は外側のケーシング31内に収容されているガラス
ψエンベロープの外面に沿って流れる。冷却油は熱を熱
交換器(図示せず)に運ぶ。
に変換されるc、X線はガラス・エンベロープを通過し
てX線管から出力される。残りのエネルギは熱になり、
この熱はターゲットから放射されるとともに、ガラス・
エンベロープおよび冷却油によって吸収される。この冷
却油は外側のケーシング31内に収容されているガラス
ψエンベロープの外面に沿って流れる。冷却油は熱を熱
交換器(図示せず)に運ぶ。
次に、第2図および第3図を参照すると、本発明の実施
例が示されているが、これらの図において同じ構成要素
は同じ符号で示されている。これらの図では、簡単化の
ため、アノードを回転させるための第1図に示す装置に
ような本発明にとって重要でない要素は省略されている
。第2図はX線管の断面を示しており、このX線管にお
いて真空エンベロープ35が中空の回転型アノード37
を取り囲んでいる。アノード37は中空の円盤形部分3
9を有し、この円盤形部分39はモリブデンのような高
い温度に耐え得る高伝導性材料で形成されている。円盤
形部分はろう付は等によって第1の管体41に取り付け
られ、この管体41は円盤形部分から軸方向に延在して
いる。第1の管体41はステンレス鋼のような強度の高
い材料で形成される。円盤形部分39は管体41に面し
ていないその外側表面である前面上に面取り縁部43を
有している。この面取り縁部はターゲットとして作用す
るタングステン・レニウム合金のトラックで覆われてい
る。カソード45は、記号で示されているが、小さな直
径の高エネルギ電子ビームを発生する。この電子ビーム
は円盤形部分の回転する縁部に当り、そのエネルギの一
部がX線に変換されて、真空ハウジングの石英窓47か
ら出力される。中空の回転型アノード内にはそれと同心
に静止挿入体51が配置されている。この静止挿入体5
1は円盤形部分53ならびに2つの管体55および57
を有する。管体55は管体57の内部に配設され、両者
は円盤形部分53に取り付けられ、かつ該円盤形部分5
3から軸方向に延在している。静止円盤形部分53およ
び管体57はそれぞれ回転型アノードの円盤形部分39
および管体41から間隔をあけて配設されている。アノ
ードは管体41と57との間に設けられているベアリン
グ61により挿入体の周りに回転自在に取り付けられて
いる。ベアリング61は銀でコーティングされて、真空
動作用の乾式潤滑が行われる。
例が示されているが、これらの図において同じ構成要素
は同じ符号で示されている。これらの図では、簡単化の
ため、アノードを回転させるための第1図に示す装置に
ような本発明にとって重要でない要素は省略されている
。第2図はX線管の断面を示しており、このX線管にお
いて真空エンベロープ35が中空の回転型アノード37
を取り囲んでいる。アノード37は中空の円盤形部分3
9を有し、この円盤形部分39はモリブデンのような高
い温度に耐え得る高伝導性材料で形成されている。円盤
形部分はろう付は等によって第1の管体41に取り付け
られ、この管体41は円盤形部分から軸方向に延在して
いる。第1の管体41はステンレス鋼のような強度の高
い材料で形成される。円盤形部分39は管体41に面し
ていないその外側表面である前面上に面取り縁部43を
有している。この面取り縁部はターゲットとして作用す
るタングステン・レニウム合金のトラックで覆われてい
る。カソード45は、記号で示されているが、小さな直
径の高エネルギ電子ビームを発生する。この電子ビーム
は円盤形部分の回転する縁部に当り、そのエネルギの一
部がX線に変換されて、真空ハウジングの石英窓47か
ら出力される。中空の回転型アノード内にはそれと同心
に静止挿入体51が配置されている。この静止挿入体5
1は円盤形部分53ならびに2つの管体55および57
を有する。管体55は管体57の内部に配設され、両者
は円盤形部分53に取り付けられ、かつ該円盤形部分5
3から軸方向に延在している。静止円盤形部分53およ
び管体57はそれぞれ回転型アノードの円盤形部分39
および管体41から間隔をあけて配設されている。アノ
ードは管体41と57との間に設けられているベアリン
グ61により挿入体の周りに回転自在に取り付けられて
いる。ベアリング61は銀でコーティングされて、真空
動作用の乾式潤滑が行われる。
円盤形部分39および53ならびに管体41および57
の間の空間は真空エンベロープ35の内部と連通して、
エンベロープが排気されている場合、アノード39が真
空中で完全に回転できるようになっている。また、ベア
リング61は真空の空間内に位置している。
の間の空間は真空エンベロープ35の内部と連通して、
エンベロープが排気されている場合、アノード39が真
空中で完全に回転できるようになっている。また、ベア
リング61は真空の空間内に位置している。
次に、第2図およびm3図を参照すると、静止円盤形部
分53はその前面のすぐ下側までその中央に延在して、
管体55の内部と連通ずる通路を画成している。円盤形
部分の前面の下側の中央通路は複数の半径方向に延在す
るチャンネル63に接続されている。この複数のチャン
ネル63は円盤形部分の前面の下側をその周辺部に向か
って延在して、挿入体の該円盤形部分の周辺部の下側の
マニホールド領域に到り、それから円盤形部分の後面の
下側の半径方向のチャンネルを介して、管体55および
57の間に形成された環状通路に連結されている。
分53はその前面のすぐ下側までその中央に延在して、
管体55の内部と連通ずる通路を画成している。円盤形
部分の前面の下側の中央通路は複数の半径方向に延在す
るチャンネル63に接続されている。この複数のチャン
ネル63は円盤形部分の前面の下側をその周辺部に向か
って延在して、挿入体の該円盤形部分の周辺部の下側の
マニホールド領域に到り、それから円盤形部分の後面の
下側の半径方向のチャンネルを介して、管体55および
57の間に形成された環状通路に連結されている。
真空ハウジング35は管体57の外面に取り付けられて
いる。ケーシング65が真空ハウジングから間隔をあけ
て該ハウジングを取り囲む。ケーシングは誘電体の冷却
流体を導入する入口および排出する出口を有している。
いる。ケーシング65が真空ハウジングから間隔をあけ
て該ハウジングを取り囲む。ケーシングは誘電体の冷却
流体を導入する入口および排出する出口を有している。
ハウジング35の石英窓47に整列して配置されている
ケーシングの石英窓67はX線が管体から出力されるこ
とを可能にしている。静止挿入体、ならびに真空ハウジ
ング35およびケーシング65もステンレス鋼で形成す
ることができる。
ケーシングの石英窓67はX線が管体から出力されるこ
とを可能にしている。静止挿入体、ならびに真空ハウジ
ング35およびケーシング65もステンレス鋼で形成す
ることができる。
動作においては、カソード45からの電子ビームが回転
型アノード37に衝突してX線を発生させ、X線は石英
窓47および67を介して出力される。衝突した電子ビ
ームはアノード37を加熱する。熱は回転型アノードの
内部および外部を取り囲んでいる真空の空間を介して放
射によって、回転するターゲットから伝達される。この
熱は円盤形部分39の前部および後部からハウジング3
5に伝達されると共に、回転する円盤形部分39の内部
表面から静止円盤形部分53に内向きに伝達される。放
射による熱伝達を促進するために、高い温度で高い熱放
射率を有するコーティングが円盤形部分39のうちのタ
ーゲットを形成していない表面上に設けられ、また高い
熱吸収率を有するコーティングが静止円盤形部分の外面
上に設けられる。更に、放射を受ける内側の表面には熱
伝達を増大させるために適当なフィン(ひれ状部材)が
設けられる。静止円盤形部分は誘電体の冷却液の強制対
流によって冷却される。挿入体内の通路の複数のチャン
ネルは静止円盤形部分と冷却液との間の熱伝達を増大す
る。限定されたチャンネル内での流れが層流である場合
、冷却される面と冷却液との間の熱伝達係数はチャンネ
ルの幅に逆比例して変化するので、微細なチャンネルを
作るのが好ましい。冷却剤の粘性により実際の最小チャ
ンネル幅が決定される。更に、高いアスペクト比を有す
るチャンネル断面では熱抵抗が低減する。
型アノード37に衝突してX線を発生させ、X線は石英
窓47および67を介して出力される。衝突した電子ビ
ームはアノード37を加熱する。熱は回転型アノードの
内部および外部を取り囲んでいる真空の空間を介して放
射によって、回転するターゲットから伝達される。この
熱は円盤形部分39の前部および後部からハウジング3
5に伝達されると共に、回転する円盤形部分39の内部
表面から静止円盤形部分53に内向きに伝達される。放
射による熱伝達を促進するために、高い温度で高い熱放
射率を有するコーティングが円盤形部分39のうちのタ
ーゲットを形成していない表面上に設けられ、また高い
熱吸収率を有するコーティングが静止円盤形部分の外面
上に設けられる。更に、放射を受ける内側の表面には熱
伝達を増大させるために適当なフィン(ひれ状部材)が
設けられる。静止円盤形部分は誘電体の冷却液の強制対
流によって冷却される。挿入体内の通路の複数のチャン
ネルは静止円盤形部分と冷却液との間の熱伝達を増大す
る。限定されたチャンネル内での流れが層流である場合
、冷却される面と冷却液との間の熱伝達係数はチャンネ
ルの幅に逆比例して変化するので、微細なチャンネルを
作るのが好ましい。冷却剤の粘性により実際の最小チャ
ンネル幅が決定される。更に、高いアスペクト比を有す
るチャンネル断面では熱抵抗が低減する。
これについては、IEEEエレクトロン・デバイスφレ
ターズ(IEEE Electron Device
Letters)、第EDL−2巻、第5号、1981
年5月号に所載のり、 B、 タッカ−マン(Tuc
kerman)およびR2F、W、 ビーズ(Pea
se)による論文rVLSI用の高性能放熱(lllg
h−Perl’ormance Heat Slnkl
ngfor VLSI) Jを参照されたい。冷却流体
の流れの方向は図示のように管体55から入ってベアリ
ング61の傍を通って流れ、それから静止円盤形部分の
前面の下側のチャンネルを半径方向外向きに通過してマ
ニホールド領域に至る。それから、流れは静止円盤形部
分の後面の下側のチャンネルを通って、管体55および
57の間に形成された環状空間に進む。以上の代わりに
、流れの方向は逆にすることもできる。すなわち、管体
55および57の間に形成された環状空間に流体を供給
して、静止円盤形部分を通して循環させた後、管体55
の内部から排出する。
ターズ(IEEE Electron Device
Letters)、第EDL−2巻、第5号、1981
年5月号に所載のり、 B、 タッカ−マン(Tuc
kerman)およびR2F、W、 ビーズ(Pea
se)による論文rVLSI用の高性能放熱(lllg
h−Perl’ormance Heat Slnkl
ngfor VLSI) Jを参照されたい。冷却流体
の流れの方向は図示のように管体55から入ってベアリ
ング61の傍を通って流れ、それから静止円盤形部分の
前面の下側のチャンネルを半径方向外向きに通過してマ
ニホールド領域に至る。それから、流れは静止円盤形部
分の後面の下側のチャンネルを通って、管体55および
57の間に形成された環状空間に進む。以上の代わりに
、流れの方向は逆にすることもできる。すなわち、管体
55および57の間に形成された環状空間に流体を供給
して、静止円盤形部分を通して循環させた後、管体55
の内部から排出する。
計算によると、4インチの直径のアノードを有し、エン
ベロープおよび静止挿入体が誘電体の冷却液で冷却され
るX線管の場合、平均12kWの熱を放熱することがで
きる。この計算において挿入体はその前面および後面の
各々の下に168個のテーパの付けられたチャンネルを
有するものとした。これらのチャンネルは0.5インチ
の直径から2.5インチの直径まで延在し、断面は中央
部における12X150ミルから周辺部における52X
200ミルまで拡大し、矩形チャンネルは挿入体の面に
直角で大きな寸法のものである。必要な流量は、3M社
から入手し得るフルオロイナート(Pluorolne
rt :登録商標)EC−75のような過フッ素化フル
オロカーボンのような高い温度において高い絶縁耐力お
よび熱安定性を有する液体を静止挿入体に通す場合、4
気圧で19ガロン/分である。アノードの直径を増大す
ることによって、静止挿入体を大きくして、ターゲット
の冷却を促進することができる。
ベロープおよび静止挿入体が誘電体の冷却液で冷却され
るX線管の場合、平均12kWの熱を放熱することがで
きる。この計算において挿入体はその前面および後面の
各々の下に168個のテーパの付けられたチャンネルを
有するものとした。これらのチャンネルは0.5インチ
の直径から2.5インチの直径まで延在し、断面は中央
部における12X150ミルから周辺部における52X
200ミルまで拡大し、矩形チャンネルは挿入体の面に
直角で大きな寸法のものである。必要な流量は、3M社
から入手し得るフルオロイナート(Pluorolne
rt :登録商標)EC−75のような過フッ素化フル
オロカーボンのような高い温度において高い絶縁耐力お
よび熱安定性を有する液体を静止挿入体に通す場合、4
気圧で19ガロン/分である。アノードの直径を増大す
ることによって、静止挿入体を大きくして、ターゲット
の冷却を促進することができる。
以上、回転する真空シールを必要とせずに放熱率を増大
したX線発生装置について説明した。
したX線発生装置について説明した。
本発明を好適実施例について図示し説明したが、本技術
分野に専門知識を有する者にとっては、本発明の精神お
よび範囲から逸脱することなく形状および詳細において
種々の変更を行ない得ることは明らかであろう。
分野に専門知識を有する者にとっては、本発明の精神お
よび範囲から逸脱することなく形状および詳細において
種々の変更を行ない得ることは明らかであろう。
第1図は中実の回転型アノードを有する従来のX線発生
装置の断面図である。 第2図は本発明のX線発生装置管の断面図である。 第3図は本発明の中空の回転型アノードの部分破断斜視
図である。 35・・・真空エンベロープ、37・・・中空の回転型
アノード、39・・・アノードの中空の円盤形部分、4
1・・・第1の管体、43・・・面取り縁部(ターゲッ
ト)、45・・・カソード、51・・・静止挿入体、5
3・・・静止円盤形部分、55・・・第3の管体、57
・・・第2のW体、61・・・ベアリング、63・・・
チャンネル、65・・・ケーシング。
装置の断面図である。 第2図は本発明のX線発生装置管の断面図である。 第3図は本発明の中空の回転型アノードの部分破断斜視
図である。 35・・・真空エンベロープ、37・・・中空の回転型
アノード、39・・・アノードの中空の円盤形部分、4
1・・・第1の管体、43・・・面取り縁部(ターゲッ
ト)、45・・・カソード、51・・・静止挿入体、5
3・・・静止円盤形部分、55・・・第3の管体、57
・・・第2のW体、61・・・ベアリング、63・・・
チャンネル、65・・・ケーシング。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、リング状ターゲット・トラックを有する中空の円盤
形部分を含み、該円盤形部分はそれから同軸に延在する
第1の管体に取り付けられており、前記中空の円盤形部
分の内部および前記第1の管体の内部が互いに連通して
いる中空の回転型アノードと、 前記アノードの前記中空の円盤形部分の中にそれから間
隔をあけて配設されている静止円盤形部分を含む静止挿
入体であって、更に、第2および第3の管体を有し、こ
れらの管体の各々は前記静止円盤形部分から同軸に延在
して前記静止円盤形部分に取り付けられており、前記第
2の管体が前記第1の管体から間隔をあけて配設されて
、該第1の管体によって取り囲まれており、前記第3の
管体が前記第2の管体から間隔をあけて配設されて、該
第2の管体によって取り囲まれており、前記静止円盤形
部分が、一端において前記第3の管体の内部と連通して
、前記静止円盤形部分の表面の下側を延在し、かつ他端
において前記第2および第3の管体の間に形成された環
状空間と連通している通路を画成している当該静止挿入
体と、 前記第1の管体を前記第2の管体のまわりに回転自在に
取り付けるベアリング手段と、 前記リング状ターゲット・トラックに向けて電子ビーム
を発生するカソード手段と、 前記アノードおよび前記カソード手段を取り囲み、内部
が前記アノードの内部と連通している真空エンクロージ
ャ手段と、を備えていることを特徴とするX線発生装置
。 2、前記真空エンクロージャ手段を取り囲んで、冷却液
を前記真空エンクロージャ手段に沿って流す通路を画成
するケーシング手段を更に含んでいる請求項1記載のX
線発生装置。 3、前記静止円盤形部分の前記通路が前記静止円盤形部
分の中心部から周辺部に向かって前記静止円盤形部分の
表面の下側を延在する複数のチャンネルを有する請求項
1記載のX線発生装置。 4、前記チャンネルが前記静止円盤形部分の両方の円形
表面の下側を中心部から周辺部に向かって半径方向に延
在し、前記両表面の下側のこれらのチャンネルが互いに
連通している請求項3記載のX線発生装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US177,234 | 1988-04-04 | ||
US07/177,234 US4928296A (en) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | Apparatus for cooling an X-ray device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0212745A true JPH0212745A (ja) | 1990-01-17 |
JP2726093B2 JP2726093B2 (ja) | 1998-03-11 |
Family
ID=22647763
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1084167A Expired - Fee Related JP2726093B2 (ja) | 1988-04-04 | 1989-04-04 | X線発生装置の冷却装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4928296A (ja) |
JP (1) | JP2726093B2 (ja) |
AT (1) | AT397319B (ja) |
DE (1) | DE3910224C2 (ja) |
NL (1) | NL194180C (ja) |
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- 1988-04-04 US US07/177,234 patent/US4928296A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-03-29 AT AT0072489A patent/AT397319B/de not_active IP Right Cessation
- 1989-03-30 DE DE3910224A patent/DE3910224C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-04-04 NL NL8900830A patent/NL194180C/nl not_active IP Right Cessation
- 1989-04-04 JP JP1084167A patent/JP2726093B2/ja not_active Expired - Fee Related
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