JPH02124536U - - Google Patents
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- JPH02124536U JPH02124536U JP3245089U JP3245089U JPH02124536U JP H02124536 U JPH02124536 U JP H02124536U JP 3245089 U JP3245089 U JP 3245089U JP 3245089 U JP3245089 U JP 3245089U JP H02124536 U JPH02124536 U JP H02124536U
- Authority
- JP
- Japan
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- light
- receiving element
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- detection section
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第１図は、本考案に係る光学式計測機器の一実
施例である濁度自動計測器の概略構成図である。
第２図は、従来の濁度自動計測器の概略構成図で
ある。第３図は、検出部調整手段の一実施例を示
す概略構成図である。第４図は、デイジタル演算
手段の一実施例を示すブロツク図である。 ４……光源部、６……検出部、８……指示記録
部、１２……光量補正手段、Ｐ１，Ｐ２……受光
素子、Ｌ１……測定用光源、Ｌ２……温度補償用
光源、ＶＲ……調整手段、４０……デイジタル演
算手段。
施例である濁度自動計測器の概略構成図である。
第２図は、従来の濁度自動計測器の概略構成図で
ある。第３図は、検出部調整手段の一実施例を示
す概略構成図である。第４図は、デイジタル演算
手段の一実施例を示すブロツク図である。 ４……光源部、６……検出部、８……指示記録
部、１２……光量補正手段、Ｐ１，Ｐ２……受光
素子、Ｌ１……測定用光源、Ｌ２……温度補償用
光源、ＶＲ……調整手段、４０……デイジタル演
算手段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 被測定物を照射するために一定光量の光を発
する光源と、該光源の変動を補償するために、光
源からの光を受光し光の強度を電気信号に変換す
る受光素子を備えた光量補正手段と、被測定物か
ら入射光の強度を電気信号に変換する受光素子を
備えた検出部とを有する光学式計測機器において
、前記光量補正手段の受光素子及び前記検出部の
受光素子を同時に照射する温度補償用光源と、前
記温度補償用光源を前記光量補正手段の受光素子
及び前記検出部の受光素子に照射したとき、前記
光量補正手段の受光素子及び前記検出部の受光素
子の出力電圧の比が所定の値となるように、前記
検出部の出力電圧を調整する前記検出部に設けら
れた調整手段とを具備することを特徴とする光学
式計測機器。 ２ 前記光源部の光量補正手段は、該光量補正手
段の受光素子からの出力信号を増幅する増幅器と
、該増幅器からの信号を所定の設定電圧と比較す
る比較器とを有し、前記検出部は、該検出部の受
光素子からの出力信号を増幅する増幅器と、該増
幅器の出力端に一端が接続され、他端は指示記録
部に接続された可変抵抗器とを有し、前記光量補
正手段の増幅器の出力電圧と、前記検出部の増幅
器の出力電圧との比が所定の値となるように、前
記検出部に設けられた可変抵抗器から成る調整手
段を調整するようにしたことを特徴とする請求項
１記載の光学式計測機器。 ３ 被測定物を照射するために一定光量の光を発
する光源と、該光源の変動を補償するために、光
源からの光を受光し光の強度を電気信号に変換す
る受光素子を備えた光量補正手段と、被測定物か
らの入射光の強度を電気信号に変換する受光素子
を備えた検出部とを有する光学式計測機器におい
て、前記光量補正手段の受光素子及び前記検出部
の受光素子を同時に照射する温度補償用光源と、
補償モードにおいて前記温度補償用光源を前記光
量補正手段の受光素子及び前記検出部の受光素子
に照射したときの、前記光量補正手段の受光素子
と前記検出部の受光素子の出力電圧の比αを計算
し、測定モードにおいて該値αを、前記検出部の
受光素子の出力電圧に掛けて、この値を検出部の
出力信号とするデイジタル演算手段とを具備する
ことを特徴とする光学式計測機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3245089U JPH02124536U (ja) | 1989-03-22 | 1989-03-22 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3245089U JPH02124536U (ja) | 1989-03-22 | 1989-03-22 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02124536U true JPH02124536U (ja) | 1990-10-15 |
Family
ID=31535436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3245089U Pending JPH02124536U (ja) | 1989-03-22 | 1989-03-22 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02124536U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009150666A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Kenek Co Ltd | 光測定装置 |
| JP2016008889A (ja) * | 2014-06-24 | 2016-01-18 | 日本精工株式会社 | 検出回路、力覚センサ、キャリブレーション装置およびキャリブレーション方法 |
-
1989
- 1989-03-22 JP JP3245089U patent/JPH02124536U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009150666A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Kenek Co Ltd | 光測定装置 |
| JP2016008889A (ja) * | 2014-06-24 | 2016-01-18 | 日本精工株式会社 | 検出回路、力覚センサ、キャリブレーション装置およびキャリブレーション方法 |
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