JPH02122512A - 電解コンデンサのエージング方法 - Google Patents
電解コンデンサのエージング方法Info
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- JPH02122512A JPH02122512A JP27652688A JP27652688A JPH02122512A JP H02122512 A JPH02122512 A JP H02122512A JP 27652688 A JP27652688 A JP 27652688A JP 27652688 A JP27652688 A JP 27652688A JP H02122512 A JPH02122512 A JP H02122512A
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- Japan
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- constant current
- oxide film
- electrolytic capacitors
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- 230000032683 aging Effects 0.000 title abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 11
- 238000004880 explosion Methods 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、電解コンデンサのエージング方法に関するも
のである。
のである。
（従来の技術）
従来、電解コンデンサのエージングは、第４図に示すよ
うにコンデンサＣのそれぞれに１個の抵抗Ｒを通じ分割
し、直流電源ＤＣより直流電圧を印加して行われている
。
うにコンデンサＣのそれぞれに１個の抵抗Ｒを通じ分割
し、直流電源ＤＣより直流電圧を印加して行われている
。
このエージング操作は、電解コンデンサの素子製造中に
生じた誘電体酸化皮膜の部分的破壊を修復するために行
われるものであるが、コンデンサの酸化皮膜の破損度合
には差があるので、分割抵抗Ｒ（第４図Ｒ，Ｒ，Ｒ−Ｒ
） １ ２ ３ ｎ を通じてコンデンサに直流電圧を印加するとコンデンサ
の酸化皮膜破損度合が大きいほど大きな電流が流れ、小
さいほど小さい電流が流れることとなる。したがって、
コンデンサの酸化皮膜破損の大きいコンデンサはどエー
ジング電流が増大し素子が発熱し、酸化皮膜の破壊が進
みバンクにいたる現象を生ずる。
生じた誘電体酸化皮膜の部分的破壊を修復するために行
われるものであるが、コンデンサの酸化皮膜の破損度合
には差があるので、分割抵抗Ｒ（第４図Ｒ，Ｒ，Ｒ−Ｒ
） １ ２ ３ ｎ を通じてコンデンサに直流電圧を印加するとコンデンサ
の酸化皮膜破損度合が大きいほど大きな電流が流れ、小
さいほど小さい電流が流れることとなる。したがって、
コンデンサの酸化皮膜破損の大きいコンデンサはどエー
ジング電流が増大し素子が発熱し、酸化皮膜の破壊が進
みバンクにいたる現象を生ずる。
（発明が解決しようとする課題）
前記のようなエージング方法では、電解コンデンサの酸
化皮膜破壊度合の大きいコンデンサ素子はどトータルエ
ージング電流が流れやずく、エージングの目的である酸
化皮膜の修復作用が困難となり、逆に発熱及びバンクを
生ずることとなっていた。
化皮膜破壊度合の大きいコンデンサ素子はどトータルエ
ージング電流が流れやずく、エージングの目的である酸
化皮膜の修復作用が困難となり、逆に発熱及びバンクを
生ずることとなっていた。
本発明は、それぞれの電解コンデンサのエージング電流
を制限して印加することによって、パンクなどを生じさ
せないようにしたことを特徴とするエージング方法を提
供しようとするものである。
を制限して印加することによって、パンクなどを生じさ
せないようにしたことを特徴とするエージング方法を提
供しようとするものである。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
本発明は、直流電圧電源から複数個の電解コンデンサそ
れぞれに１個の定電流ダイオードを通じて又は電解コン
デンサ数個毎に１個の定電流ダイオードを通じてエージ
ング電流の供給を行うものであるから、電解コンデンサ
の酸化皮膜破壊度合に関係することなく、それぞれの電
解コンデンサには一定電流密度に制限された状態の中で
エージング、すなわち誘電体酸化皮膜破壊部の修復作業
を行うことができる電解コンデンサのエージング方法で
ある。
れぞれに１個の定電流ダイオードを通じて又は電解コン
デンサ数個毎に１個の定電流ダイオードを通じてエージ
ング電流の供給を行うものであるから、電解コンデンサ
の酸化皮膜破壊度合に関係することなく、それぞれの電
解コンデンサには一定電流密度に制限された状態の中で
エージング、すなわち誘電体酸化皮膜破壊部の修復作業
を行うことができる電解コンデンサのエージング方法で
ある。
（作 用）
本発明は、電解コンデンサのエージングにおいて、複数
個のコンデンサそれぞれに直流電源より供給されるエー
ジング電流が定電流ダイオードの定格値以下の電流に制
限されるので、前記電解コンデンサそれぞれの酸化皮膜
破壊度合の大小にかかわらずエージング電流密度が制限
される。したがって、酸化皮膜破壊度合の大小によらず
、エージング電流が一定以下となるのでパンクを生じる
ことはなく、かつ破壊された酸化皮膜の修復も徐々に行
われ、パンクに至らず修復できる特徴を有するものであ
る。
個のコンデンサそれぞれに直流電源より供給されるエー
ジング電流が定電流ダイオードの定格値以下の電流に制
限されるので、前記電解コンデンサそれぞれの酸化皮膜
破壊度合の大小にかかわらずエージング電流密度が制限
される。したがって、酸化皮膜破壊度合の大小によらず
、エージング電流が一定以下となるのでパンクを生じる
ことはなく、かつ破壊された酸化皮膜の修復も徐々に行
われ、パンクに至らず修復できる特徴を有するものであ
る。
（実施例）
第１図は本発明に係る電解コンデンサのエージング方法
の実施例を示す回路図である。第１図において直流電源
ＤＣに少なくとも１ＷＡ以上の電解コンデンサ０１〜ｃ
ｏを定電流ダイオードＣＲＤ（定格制限電流２ｍＡ）を
直列に接続し、かつ定電流ダイオードにツェナダイオー
ドを並列に接続することにより（耐圧保護用）、直流電
源ＤＣから電解コンデンサ０１〜ｃｏへ直流電圧を印加
するように構成する。
の実施例を示す回路図である。第１図において直流電源
ＤＣに少なくとも１ＷＡ以上の電解コンデンサ０１〜ｃ
ｏを定電流ダイオードＣＲＤ（定格制限電流２ｍＡ）を
直列に接続し、かつ定電流ダイオードにツェナダイオー
ドを並列に接続することにより（耐圧保護用）、直流電
源ＤＣから電解コンデンサ０１〜ｃｏへ直流電圧を印加
するように構成する。
この実施例において、直流電１１１Ｄｃより流れる電流
は、定電流ダイオードＣＲＤそれぞれに分割された電流
２ｍＡ以内に制限される中で、電解コンデンサＣ１〜ｃ
ｏの複数個にエージング電流が供給され連続的にエージ
ングされる。
は、定電流ダイオードＣＲＤそれぞれに分割された電流
２ｍＡ以内に制限される中で、電解コンデンサＣ１〜ｃ
ｏの複数個にエージング電流が供給され連続的にエージ
ングされる。
以上述べたように本発明によれば、電解コンデンサ複数
個それぞれに流れるエージング電流が定電流ダイオード
によって２ｍＡ以内に制限されることにより、酸化皮膜
破壊度合の大きいコンデンサであってもバンクに至らず
酸化皮膜の修復が成され、後述するが第３図に示すよう
に漏れ電流のバラツキを著しく減少させることができた
。また、これによって酸化皮膜の修復作用が効果的に行
われ、歩留向上をはかることができるものである。
個それぞれに流れるエージング電流が定電流ダイオード
によって２ｍＡ以内に制限されることにより、酸化皮膜
破壊度合の大きいコンデンサであってもバンクに至らず
酸化皮膜の修復が成され、後述するが第３図に示すよう
に漏れ電流のバラツキを著しく減少させることができた
。また、これによって酸化皮膜の修復作用が効果的に行
われ、歩留向上をはかることができるものである。
第２図は他の実施例を示す回路図である。本回路は経済
的効果を目的に構成されたもので、直流電源より流れる
電流は定電流ダイオードＣＲＤ（定格制限電流１０７Ｆ
ＬＡ）によってそれぞれに分割され、電解コンデンサ複
数１ｆ！（５個）を並列に接続しており、前記直流電源
より工ジング電流が供給されるものである。この実施例
においても第１図の回路と同様の効果を得ることができ
た。
的効果を目的に構成されたもので、直流電源より流れる
電流は定電流ダイオードＣＲＤ（定格制限電流１０７Ｆ
ＬＡ）によってそれぞれに分割され、電解コンデンサ複
数１ｆ！（５個）を並列に接続しており、前記直流電源
より工ジング電流が供給されるものである。この実施例
においても第１図の回路と同様の効果を得ることができ
た。
マタ、定格２００Ｖ−１００ＣＩＦを用イタ量産での実
施結果は、第３図に示すようにエジングした電解コンデ
ンサの漏れ電流が従来方法と比較しバラツキが著しく減
少していることが確認された。
施結果は、第３図に示すようにエジングした電解コンデ
ンサの漏れ電流が従来方法と比較しバラツキが著しく減
少していることが確認された。
なお、エージング条件は本発明の場合、試料５個毎に１
０ｍＡを印加したものであり、従来例は１個２ＴｒＬＡ
として計算されるトータル電流を試料全数に印加したも
のである。
０ｍＡを印加したものであり、従来例は１個２ＴｒＬＡ
として計算されるトータル電流を試料全数に印加したも
のである。
この結果によれば、従来方法のように電解コンデンサの
発熱、バンクは皆無であるとともに、バンク不良がなく
なるので歩留向上が実証され、エージング方法としては
極めて有効である。
発熱、バンクは皆無であるとともに、バンク不良がなく
なるので歩留向上が実証され、エージング方法としては
極めて有効である。
［発明の効果］
この発明になる電解コンデンサのエージング方法によれ
ば、エージング後の漏れ電流の１ｆらつきが小さく、発
熱やバンクの発生もない。よって、歩留の向上をはかれ
る効果を有するものである。
ば、エージング後の漏れ電流の１ｆらつきが小さく、発
熱やバンクの発生もない。よって、歩留の向上をはかれ
る効果を有するものである。
第１図は本発明の一実施例になるエージング回路を示す
回路図、第２図は同じく他の実施例を示す回路図、第３
図はエージング後の漏れ電流特性を示す分布図、第４図
は従来のエージング回路を示す回路図である。 特 許 出 願 人 マルコン電子株式会社 第 図 第 図 第 図
回路図、第２図は同じく他の実施例を示す回路図、第３
図はエージング後の漏れ電流特性を示す分布図、第４図
は従来のエージング回路を示す回路図である。 特 許 出 願 人 マルコン電子株式会社 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- （１）複数個の電解コンデンサのそれぞれに１個の定電
流ダイオードを接続して又は前記電解コンデンサの数個
毎に１個の定電流ダイオードを接続して直流電圧源より
直流電圧を印加し、電解コンデンサへの印加電流を分割
又は制限することを特徴とする電解コンデンサのエージ
ング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27652688A JPH02122512A (ja) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | 電解コンデンサのエージング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27652688A JPH02122512A (ja) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | 電解コンデンサのエージング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02122512A true JPH02122512A (ja) | 1990-05-10 |
Family
ID=17570704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27652688A Pending JPH02122512A (ja) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | 電解コンデンサのエージング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02122512A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010107011A1 (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-23 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ素子、その製造方法及びその製造用冶具 |
| KR20150041012A (ko) * | 2012-08-02 | 2015-04-15 | 텔레폰악티에볼라겟엘엠에릭슨(펍) | 과잉 송신기 시그널링을 블록킹하기 위한 시스템 및 방법 |
-
1988
- 1988-10-31 JP JP27652688A patent/JPH02122512A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010107011A1 (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-23 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ素子、その製造方法及びその製造用冶具 |
| JP4620184B2 (ja) * | 2009-03-17 | 2011-01-26 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ素子、その製造方法及びその製造用冶具 |
| JPWO2010107011A1 (ja) * | 2009-03-17 | 2012-09-20 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ素子、その製造方法及びその製造用冶具 |
| US8847437B2 (en) | 2009-03-17 | 2014-09-30 | Showa Denko K.K. | Solid electrolytic capacitor element, method for manufacturing same, and jig for manufacturing same |
| KR20150041012A (ko) * | 2012-08-02 | 2015-04-15 | 텔레폰악티에볼라겟엘엠에릭슨(펍) | 과잉 송신기 시그널링을 블록킹하기 위한 시스템 및 방법 |
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