JPH02115707A - 放射線厚み計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、放射線を照射して板材の厚さを測る放射線厚
み計に関する。

（従来の技術） 放射線を被測定物に照射して、その透過量で板材の厚さ
を測る放射線厚み計は、被測定物に非接触で且つ高精度
に測定できるので、鉄・非鉄を問わず圧延ラインなどで
使われている。

そして、放射線にはＸ線やγ線が使われているが、Ｘ線
を使った厚み計には特開昭５０−１４５２５４号がある
。

又、放射線厚み計の測定データには、一般に、放射線の
放射・吸収時に発生する現象に起因する統計雑音が含ま
れているが、この雑音はデータの処理上水さい方が望ま
しいので、見かけ上の統計雑音を小さくするために一般
に平均化処理やフィルタリング処理などの平準化処理が
施されている。

（発明が解決しようとする課題） 一方、被測定物の先端が厚み計の放射線に突入したとき
の先端応答と、被測定物の目標厚さが連続的に変化した
ときの応答速度は、速い方が望ましいが、上記平準化処
理は応答を遅らせる。

ところが、従来の厚み計は、平準化処理のための平均化
処理回数やフィルタリング定数が装置で一定に固定され
ているので、統計雑音を小さくすると応答時間が遅くな
り、反対に応答時間を速くすると統計雑音が大きくなる
。

そこで、本発明の目的は、被測定物の厚さの変化量や変
化形態が違っても１Ｍ計雑音を小さくでき、応答時間を
速くすることのできる放射線厚み計を得ることである。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段と作用） 本発明は、被測定物に放射線を照射し、透過した放射線
を検出し対応した信号に変換して連続的に被測定物の厚
さを測る放射線厚み計において、入力された上記信号の
演算装置に、前の演算結果と後の演算結果から後の演算
結果を平準化する定数を決める手段と、算出された前記
板材の厚さの変化に対応して前記平準化の度合いを調節
する手段を設けることで、算出された厚さの変化量や変
化形態が違っても統計雑音を小さくでき、応答時間を速
くすることのできる放射線厚み計である。

（実施例） 以下１本発明の放射線厚み計の一実施例を図面を参照し
て説明する。

第１図は、本発明の放射線厚み計の一実施例を示すブロ
ック図である。

第１図において、材料の被測定物１２の片側には、被測
定物１２に放射線１ａを照射する厚み計の放射源１が設
けられ、被測定物１２の他側には、被測定物１２を透過
した放射線１ｂを受けてその量に対応したアナログの電
気信号に変換して出力する放射線検出器２が設けられ、
放射線検出器２の出力側には、放射線検出器２の出力が
入力されて増幅するプリアンプ３が接続され、このプリ
アンプ３の出力側には、プリアンプ３で増幅された放射
線検出器２のアナログ信号をデジタル信号に変換して出
力するアナログ−デジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器
という）４が接続されている。

更に、このＡ／Ｄ変換器４の出力側には、このＡ、　／
　Ｄ変換器４からのデジタル信号を受けて被測定物１２
の厚さを演算して、この結果と前回までに送られてきた
信号の演算結果にもとづいて今回の演算結果を平準化す
る定数を決めて演算結果を平準化し出力する演算処理装
置５が接続され、この演算処理装置５の出力側には、演
算処理装置５のデジタル出力信号をアナログ値に変えて
放射線厚み計の図示しない表示部へ出力するデジタル−
アナログ変換器（以下、Ｄ／Ａ変換器という）が接続さ
れている。

次に、このように構成された厚み計の作用を説明する。

まず、演算処理装置５にはＡ／Ｄ変換器４から出力され
たデジタル信号がある抽出周期Ｔで入力されて被測定物
１２の厚さを演算する。そして、ある抽出時点Ｎの演算
結果をＹ。（Ｎｌとすると、演算処理装置１ｉ５は、こ
のＹｏ（Ｎ）を平準化してその値Ｙ　（Ｎ）をＤ／Ａ変
換器６に出力する。

こ二で、平準化として時定数τの一次遅れを適用すると
、このＹ　ＩＮ）は、 Ｙ（Ｎ）　　　Ｙ（Ｎ−ｘ）　　＝　　［Ｙｌｌ（Ｎ）
　　　Ｙ＜Ｎ−ｘ＞１　　（１ｅ”　　　）　　　−■
従って、 Ｙ（Ｎ）　”　Ｙ。（Ｎ）　［１ｅ”　］　＋Ｙ（Ｎ−
ｉ）８”　　　−＠二こで、式■のτは、演算処理装置
５で抽出毎に決められる定数で、第２図のように被測定
物１２の厚さ変化が小さいときほど大で、厚さ変化が大
きくなると小さくなっている。第２図では、厚さ変化Δ
ＹがΔＹ□以下で時定数τはで、となり、厚さ変化ΔＹ
が６７１以上では比例して小さくなり、ΔＹ２でτ２と
なる。

なお、ここで示したτ１．τ２とΔＹ工、ΔＹ２の具体
的関係は、放射線厚み計の仕様に応じて最適な値に決め
ればよい。

〔発明の効果〕

以上、本発明によれば、被測定物１２を透過した放射線
を検出して被測定物の厚さを連続的に測る放射線厚み計
において、検出された放射線に対応した信号が入力され
て被測定物の厚みを演算する演算装置に、前の演算結果
と後の演算結果から後の演算結果を平準化する定数を決
める手段と、算出された厚さの変化に対応して平準化の
度合いを調節する手段を設けたので、被測定材の厚さの
変化量や変化形態が違っても統計雑音を小さくでき、応
答時間を速くできる放射線厚み計を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の放射線厚み計の一実施例を示すブロッ
ク図、第２図は本発明の放射線厚み計の作用を示すグラ
フである。 １・・・放射線源 １ａ・・・放射線 ２・・・放射線検出器 ５・・・演算処理装置 １２・・・被測定物 （８７３３）代理人弁理士　猪　股　祥　晃（ほか１名
）−４τ支４ヒΔＹ（＝Ｙｏ（ｓ）−Ｙ（Ｎ−１））第
２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被測定板材に放射線を照射し、この透過放射線を検出し
   対応した電気信号に変換して連続的に前記被測定物の厚
   さを測る放射線厚み計において、前記電気信号が入力さ
   れた演算装置に、前後の演算結果から後の演算結果を平
   準化する定数を決める手段と、算出された前記板材の厚
   さの変化に対応して前記平準化の度合いを調節する手段
   とを設けたことを特徴とする放射線厚み計。