JPH02114160A - 核物質分析装置 - Google Patents
核物質分析装置Info
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- JPH02114160A JPH02114160A JP63267048A JP26704888A JPH02114160A JP H02114160 A JPH02114160 A JP H02114160A JP 63267048 A JP63267048 A JP 63267048A JP 26704888 A JP26704888 A JP 26704888A JP H02114160 A JPH02114160 A JP H02114160A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、核燃料再処理工場にJjける■程管理技術お
よび臨界管理技・術に係り、特に被測定物中のウラン2
35 C235U) l’l縮度を短時間に粘度J9り
求めることができるJ:うにした核物質分析装置に関4
る。
よび臨界管理技・術に係り、特に被測定物中のウラン2
35 C235U) l’l縮度を短時間に粘度J9り
求めることができるJ:うにした核物質分析装置に関4
る。
(従来の技術)
例えば、原子炉で発生した使用済燃料の再処理工場では
、プロヒス制御、安全管理Jjよび保障措置等の観点か
ら、ウラン(U)やプルI・ニウム(Pu)といった核
分裂性物質のIff、瀧縮瓜を正確に測定することが極
めてm要である。このような濃度、濃縮疫の測定り法に
tよ、大別すると非破、I#測測定破壊測定とがあり、
このうら非破壊測定は、燃料再処理工程に組み込まれ、
被測定物を取り出さずにその中に含まれるウランやプル
トニウムの71119を測定することができるという利
点を有Jる。
、プロヒス制御、安全管理Jjよび保障措置等の観点か
ら、ウラン(U)やプルI・ニウム(Pu)といった核
分裂性物質のIff、瀧縮瓜を正確に測定することが極
めてm要である。このような濃度、濃縮疫の測定り法に
tよ、大別すると非破、I#測測定破壊測定とがあり、
このうら非破壊測定は、燃料再処理工程に組み込まれ、
被測定物を取り出さずにその中に含まれるウランやプル
トニウムの71119を測定することができるという利
点を有Jる。
このような非破壊測定法の中で、特に高レベルのIIi
銅性溶性溶液含まれる核分裂付物質の分析法として、ア
クティブ中性子法がある。アクティブ中性子法は、外部
中性子源を用いて試料中の核分裂性物質に核分裂を生じ
さり、その核分裂に伴って放出されるIll光性または
1発性の中性子を測定して、これから核分裂性物質の計
はを11なう方法て゛ある。
銅性溶性溶液含まれる核分裂付物質の分析法として、ア
クティブ中性子法がある。アクティブ中性子法は、外部
中性子源を用いて試料中の核分裂性物質に核分裂を生じ
さり、その核分裂に伴って放出されるIll光性または
1発性の中性子を測定して、これから核分裂性物質の計
はを11なう方法て゛ある。
一方、X線発生装置を用いた方法として、K吸収端分析
法、蛍光X線分析法がある。K−吸収端分析法は、連続
エネルギー・スベク1−ルのxiをal11定試料に照
射し、試f′+1透過後のX線スペクトルを測定し、そ
のスペクトル中に現れるブルトニウムムおよびウランの
に一吸収喘エネルギー位置での段差よりプル1〜ニウム
おJ:びウラン濃度を求める方法である。蛍光X8分析
法は、K−吸収端分析法と同様に連続エネルギー・スペ
クトルのXFI!を測定試料に照射し、その結果放出さ
れるプルトニウム、ウランのKX線を測定することによ
り、ブルトニウム/ウラン比を求める方法である。この
に−吸収端分析法と蛍光X線分析法とを組み合ゼること
により、試料中のブルトニウム、ウラン濃;島を粘度J
:り求めることが℃・さる。
法、蛍光X線分析法がある。K−吸収端分析法は、連続
エネルギー・スベク1−ルのxiをal11定試料に照
射し、試f′+1透過後のX線スペクトルを測定し、そ
のスペクトル中に現れるブルトニウムムおよびウランの
に一吸収喘エネルギー位置での段差よりプル1〜ニウム
おJ:びウラン濃度を求める方法である。蛍光X8分析
法は、K−吸収端分析法と同様に連続エネルギー・スペ
クトルのXFI!を測定試料に照射し、その結果放出さ
れるプルトニウム、ウランのKX線を測定することによ
り、ブルトニウム/ウラン比を求める方法である。この
に−吸収端分析法と蛍光X線分析法とを組み合ゼること
により、試料中のブルトニウム、ウラン濃;島を粘度J
:り求めることが℃・さる。
また、ウラン235濃縮瓜を測定する方法としては、ウ
ランのみを含有する試料に対して、ウラン235の18
5KeVのγ線ピークに着目し、γ線吸収係数A3よび
ウラン濃度を求め、これらから求まるγ線発([率を換
nする方法がある。
ランのみを含有する試料に対して、ウラン235の18
5KeVのγ線ピークに着目し、γ線吸収係数A3よび
ウラン濃度を求め、これらから求まるγ線発([率を換
nする方法がある。
(発明が解決しようとづ゛る課題)
しかしながら、上記の個々の測定法には神々の問題点が
あった。す゛なわら、試料中のウランプル1−二・クム
等の核物質は、自発核分裂やα崩壊等を起す。α崩壊性
核種から放出されるα粒子は、核物質近傍に存在りる酸
素、フッ素等の軒元素と核反応して中性子を発生し、自
発核分裂性核種からし中性子が発生する。この場合、ア
クティブ中性子法て・は、これらの中性子と、外部中性
r−+IQからの中性子が測定のバックグラ・ランドと
なるため、これらの中性子と求めるべき核分裂中性子信
号とを弁別Jる手段が必要であり、また、この方法では
試vI中の核分裂性物質の総量を求めることはできるが
、ウラン濃度あるいはプル1〜ニウムJl痘を求めるこ
とはr:さイiい。
あった。す゛なわら、試料中のウランプル1−二・クム
等の核物質は、自発核分裂やα崩壊等を起す。α崩壊性
核種から放出されるα粒子は、核物質近傍に存在りる酸
素、フッ素等の軒元素と核反応して中性子を発生し、自
発核分裂性核種からし中性子が発生する。この場合、ア
クティブ中性子法て・は、これらの中性子と、外部中性
r−+IQからの中性子が測定のバックグラ・ランドと
なるため、これらの中性子と求めるべき核分裂中性子信
号とを弁別Jる手段が必要であり、また、この方法では
試vI中の核分裂性物質の総量を求めることはできるが
、ウラン濃度あるいはプル1〜ニウムJl痘を求めるこ
とはr:さイiい。
一方、K−吸収端分析法は、試料容器の厚さの最適化が
必要であり、また、ウランの絶対量は容易に求めること
はできるが、軽水炉燃料のようにブルトニウム/ウラン
比が小さい場合にはプルトニム絶対mの測定をJること
は国5!1である。蛍光XF11分析法は、ブルトニウ
ム/ウラン比が小さい試料に対してb、ブルトニウム/
ウラン比を粘1肛よく求めることができるが、II川の
大きな試料のウランやブルトニウムの濃度の絶対値を粘
度よく測定することは困11 Fある。そこで、K−吸
収端分析法と蛍光X線分析を人とを組み合Cることによ
り、プルトニウムa度およびウラン濃度を求めることが
考えられるが、それでもウラン23582縮1復を求め
ることはできない。
必要であり、また、ウランの絶対量は容易に求めること
はできるが、軽水炉燃料のようにブルトニウム/ウラン
比が小さい場合にはプルトニム絶対mの測定をJること
は国5!1である。蛍光XF11分析法は、ブルトニウ
ム/ウラン比が小さい試料に対してb、ブルトニウム/
ウラン比を粘1肛よく求めることができるが、II川の
大きな試料のウランやブルトニウムの濃度の絶対値を粘
度よく測定することは困11 Fある。そこで、K−吸
収端分析法と蛍光X線分析を人とを組み合Cることによ
り、プルトニウムa度およびウラン濃度を求めることが
考えられるが、それでもウラン23582縮1復を求め
ることはできない。
さらに、γ線ピークによるウラン23511縮度の直接
測定は、プルトニウムJ3よびウランが混在している試
料や核分裂生成物([P)が混入している試料では、プ
ル1〜ニウム239 (P LJ )や核分裂生成物の
妨害γ線があり、検出粘1哀が悲い。
測定は、プルトニウムJ3よびウランが混在している試
料や核分裂生成物([P)が混入している試料では、プ
ル1〜ニウム239 (P LJ )や核分裂生成物の
妨害γ線があり、検出粘1哀が悲い。
本発明は上記の事情を考慮してなされたもの(゛、アク
ティブ中性子法による核分裂付物質合シIP/iの測定
と、K−吸収端分析法による一クラン濃度の測定と、蛍
光X線分析法によるプル1〜ニウム/ウラン比の測定と
を組み合Uることにより、知1、1間に精磨よくウラン
235 fJ縮度を求めることがぐきる核物質分析装j
を提供することを目的とする。
ティブ中性子法による核分裂付物質合シIP/iの測定
と、K−吸収端分析法による一クラン濃度の測定と、蛍
光X線分析法によるプル1〜ニウム/ウラン比の測定と
を組み合Uることにより、知1、1間に精磨よくウラン
235 fJ縮度を求めることがぐきる核物質分析装j
を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明に係る核物質分析装百は、中性子nQから発生す
る中性子を被測定物中の核物質に照04 L、その照射
により起こる核分裂で発生する二次中性子を測定するこ
とにより、核物質中の核分裂付物質問を測定する核分裂
中性子検出装置と、肢測定物中の核物質にX線を照射す
るX線発生装置と、このX線の照射による透過X8!1
1を測定して核物質中のウラン濃度を測定する透過X線
検出装置と、上記X線の照射による蛍光xr!を測定す
ることにより核物質中のブルトニウム/ウラン比を測定
する蛍光X線検出装置と、上記核分裂性物質量、ウラン
漠1良およびブルトニウム/ウラン比からウラン235
8A縮度を演iする計算機とを備えたものである。
る中性子を被測定物中の核物質に照04 L、その照射
により起こる核分裂で発生する二次中性子を測定するこ
とにより、核物質中の核分裂付物質問を測定する核分裂
中性子検出装置と、肢測定物中の核物質にX線を照射す
るX線発生装置と、このX線の照射による透過X8!1
1を測定して核物質中のウラン濃度を測定する透過X線
検出装置と、上記X線の照射による蛍光xr!を測定す
ることにより核物質中のブルトニウム/ウラン比を測定
する蛍光X線検出装置と、上記核分裂性物質量、ウラン
漠1良およびブルトニウム/ウラン比からウラン235
8A縮度を演iする計算機とを備えたものである。
(作用)
、にrt!核物質分析装置によれば、アクティブ即発中
性子法により得られる核分裂性物質合計濃瓜〈 PU
I PUI U)の値からプルトニウム同位体比情
報と、K−吸収端分析法・蛍光X線分析法によりiIら
れるプルトニウム濃度とから求められるプルトニウム2
3911+ffおよびプルトニウム24111度の値を
差し引いて得られるウラン235i1度と、K−吸収端
分析法・蛍光X線分析法から得られるウラン濃度との比
を求めることにより、ウラン235111縮度を比較的
短時間の測定で、しかも精1復よく求めることができる
。
性子法により得られる核分裂性物質合計濃瓜〈 PU
I PUI U)の値からプルトニウム同位体比情
報と、K−吸収端分析法・蛍光X線分析法によりiIら
れるプルトニウム濃度とから求められるプルトニウム2
3911+ffおよびプルトニウム24111度の値を
差し引いて得られるウラン235i1度と、K−吸収端
分析法・蛍光X線分析法から得られるウラン濃度との比
を求めることにより、ウラン235111縮度を比較的
短時間の測定で、しかも精1復よく求めることができる
。
(丈副例)
本発明の一実施例を添付図面を参照して説明する。
ml[!lは本発明に係る植物n分析装置の一実施例の
全体構成を示す構成図である。この実tS例は、再処理
工場主:[稈のラインから隔壁を通してバイパスライン
1を設け、核物質分析装置2をそのバイパスライン1に
設置したものである。核物質分析装置?12にはバイパ
スライン1内を通過する試F1に含まれる核物質中の核
分裂性物質量を測定する核分裂中性子検出装置3と、試
料溶液に含まれる核物質にX線を照04するX線発生装
置4と、そのXaの照射による透過X線を測定して核物
質中のウラン濃度を測定する透過Xa検出装置?75と
、上記xiの照射による蛍光X線を測定り′ることにに
り核物質中のプルトニウム/ウラン比を測定する蛍光X
線検出装置6と、上記核分裂性物質h1、ウラン11度
−3よびプルトニウム/ウラン比からウラ>235ma
B度1rPAn#ルHInIa (図示1! =f )
、!:が備えられる。これら各1i1i1fi3.4
.5.6おJ:び計算機は、図示しない測定回路により
接続される。
全体構成を示す構成図である。この実tS例は、再処理
工場主:[稈のラインから隔壁を通してバイパスライン
1を設け、核物質分析装置2をそのバイパスライン1に
設置したものである。核物質分析装置?12にはバイパ
スライン1内を通過する試F1に含まれる核物質中の核
分裂性物質量を測定する核分裂中性子検出装置3と、試
料溶液に含まれる核物質にX線を照04するX線発生装
置4と、そのXaの照射による透過X線を測定して核物
質中のウラン濃度を測定する透過Xa検出装置?75と
、上記xiの照射による蛍光X線を測定り′ることにに
り核物質中のプルトニウム/ウラン比を測定する蛍光X
線検出装置6と、上記核分裂性物質h1、ウラン11度
−3よびプルトニウム/ウラン比からウラ>235ma
B度1rPAn#ルHInIa (図示1! =f )
、!:が備えられる。これら各1i1i1fi3.4
.5.6おJ:び計算機は、図示しない測定回路により
接続される。
核分裂中性子検出装置3は、バイパスラインコの一部に
形成された核分裂中性子測定用試料溶液セルフを1&り
囲んで設けられ、カリホルニウム252(Cf)等のf
i射牲同位元素から成る中性子源8と、この中性子′&
8から発生した高速中性子が中性子減速材9中で充分減
速され、熱中性子となって試料溶液セルフ内の試料溶液
に照射し、その試#溶液中に含まれるウラン235やプ
ルトニウム239等の核分裂性物質が核分裂を起して発
生する二次中性子を検出する熱中性予検JH!!!10
とが備えられる。
形成された核分裂中性子測定用試料溶液セルフを1&り
囲んで設けられ、カリホルニウム252(Cf)等のf
i射牲同位元素から成る中性子源8と、この中性子′&
8から発生した高速中性子が中性子減速材9中で充分減
速され、熱中性子となって試料溶液セルフ内の試料溶液
に照射し、その試#溶液中に含まれるウラン235やプ
ルトニウム239等の核分裂性物質が核分裂を起して発
生する二次中性子を検出する熱中性予検JH!!!10
とが備えられる。
中性子減速449としては例えば重水、ベリリウム、酸
化ベリリウム、グラフフィト等が用いられ、その中性子
減速材9は収納タンク11内に収納される。収納タンク
11と試料溶液セルフとの間には試F1wI液中に含ま
れる核分裂生成物(FP)から発生ずるγ線を遮蔽し1
重水中での(γ・n)反応にJ:って生じるバックグラ
ウンドの上昇を防止するγ線遮蔽材12(減速材が重水
の場合)と、カドミウム(Cd)等の熱中性子吸収材で
できたバックグラウンド中性子測定用のシレッタ13と
が設けられる。
化ベリリウム、グラフフィト等が用いられ、その中性子
減速材9は収納タンク11内に収納される。収納タンク
11と試料溶液セルフとの間には試F1wI液中に含ま
れる核分裂生成物(FP)から発生ずるγ線を遮蔽し1
重水中での(γ・n)反応にJ:って生じるバックグラ
ウンドの上昇を防止するγ線遮蔽材12(減速材が重水
の場合)と、カドミウム(Cd)等の熱中性子吸収材で
できたバックグラウンド中性子測定用のシレッタ13と
が設けられる。
また、試料溶液ヒル7と熱中性子検出器10との間には
、試料溶液中に含まれる核分裂生成物(FP)から発生
するγ線を遮蔽して、熱中竹子検出器10のγ線ノイズ
を抑えるγ線mM材14と、カドミウム等の熱中性子吸
収板15とが段重」られる。γ線遮蔽材12.14とし
ては例えば釦が用いられる。熱中竹子検出器10はポリ
1ヂレン等の減速材31で囲まれている。<ヌお、符号
16.17は照射熱中性子束強度補正用のフラックスモ
ニタを示す。
、試料溶液中に含まれる核分裂生成物(FP)から発生
するγ線を遮蔽して、熱中竹子検出器10のγ線ノイズ
を抑えるγ線mM材14と、カドミウム等の熱中性子吸
収板15とが段重」られる。γ線遮蔽材12.14とし
ては例えば釦が用いられる。熱中竹子検出器10はポリ
1ヂレン等の減速材31で囲まれている。<ヌお、符号
16.17は照射熱中性子束強度補正用のフラックスモ
ニタを示す。
前i![!XI9X線発生装置4X線検出装置5および
蛍光X線検出装置6は、試料溶液セル18を取り囲Iυ
で段重)られる。X線発生装置t!74は試料溶液セル
18内の試料溶液にX線を照1ff−dるように設けら
れる。透過X線検出装M5には、X線′R,1装N4か
ら試料溶液へのX線照射による透過X線をフィルタ19
およびコリメータ20を介して検出する透過X線検出用
ゲルマニウム(Ge)検出器21が備えられる。
蛍光X線検出装置6は、試料溶液セル18を取り囲Iυ
で段重)られる。X線発生装置t!74は試料溶液セル
18内の試料溶液にX線を照1ff−dるように設けら
れる。透過X線検出装M5には、X線′R,1装N4か
ら試料溶液へのX線照射による透過X線をフィルタ19
およびコリメータ20を介して検出する透過X線検出用
ゲルマニウム(Ge)検出器21が備えられる。
イ12光X*検出装置6にはX線発生装置4がら試Fl
溶液へのX線照射にJ、る蛍光X線を、フィルタ22J
3よびコリメータ23を介し−で検出する蛍光X線検出
用ゲルマニウム検出器24が備えられる。
溶液へのX線照射にJ、る蛍光X線を、フィルタ22J
3よびコリメータ23を介し−で検出する蛍光X線検出
用ゲルマニウム検出器24が備えられる。
ノイルタ゛19.22は、低エネルギ側のX線や鉛から
定住するKX線を遮蔽し、1(−吸収端や蛍光X線γ)
域のX線を効率よく検出するだめのものである。これら
のに−吸収すさ分析法と蛍光X線分析ンムとを組み合(
!るイニと1こより、1゛llランI!J、とブルマ\
−−ツム・′ウ−〉ン比を精度よく求めることがでさる
1 第2図、(t、図示し5イjい810機に’ J、す(
−Jなわれるルi ii O)流れをボー・tノF、1
− ’7ヤー1へである。十記核介裂中性子検出装ri
“;3を用い、アクティブ111発中性了?人にJ−リ
、小み付きの核分裂付物質合計濃度、Mhわら、 ri・[U1度]+−b−[Pu1rJ度]+C・CP
IJilf211’ri か(!)りれる(ステップ■)。こJで、Ei、b、c
は!1ツカであり、装fiff (1)楔止あるいはh
loに上りf)易に求められる、一方、透過X線検tJ
J装置5を用い、K−吸収端5ン析ン人にJ、リウラン
1lJI旦が(!Iられ(ステップQ)、蛍光Xa検出
装置6を用い、蛍光X線分析法にJ:す、ゾル1〜ニウ
ム/ウラン比が(:1らねろくステップ■)。そして、
K−吸収端分析法にJ、すr7られノ;ウラン濃度と、
蛍光X線分析法にJ、り得られIこ7 /l/ l=ニ
ウム2・′ウラン比ど4東わすることt、’ にす、プ
ルー・−ラム濃度が求められ、る(メチツノ′■)1よ
との!ル1〜ニウムWA 、Q、 #1 +うノ゛ル1
−−ウム回イ介体比情報を基にして、プルトニウム23
9jルff a li 、よびブルトニウム241淵I
Q 4求l〕るLとが1ごる(スj″f)゛(止)。こ
L’ll−、ノ゛ルトニウムの、−i1位体比とじτす
2、平均的(1軽水炉の使用済燃j’ii ’(”口、 23!J (し PUI+[241PuJ )、、′[1゛りさ
らに(3j1 23g。
定住するKX線を遮蔽し、1(−吸収端や蛍光X線γ)
域のX線を効率よく検出するだめのものである。これら
のに−吸収すさ分析法と蛍光X線分析ンムとを組み合(
!るイニと1こより、1゛llランI!J、とブルマ\
−−ツム・′ウ−〉ン比を精度よく求めることがでさる
1 第2図、(t、図示し5イjい810機に’ J、す(
−Jなわれるルi ii O)流れをボー・tノF、1
− ’7ヤー1へである。十記核介裂中性子検出装ri
“;3を用い、アクティブ111発中性了?人にJ−リ
、小み付きの核分裂付物質合計濃度、Mhわら、 ri・[U1度]+−b−[Pu1rJ度]+C・CP
IJilf211’ri か(!)りれる(ステップ■)。こJで、Ei、b、c
は!1ツカであり、装fiff (1)楔止あるいはh
loに上りf)易に求められる、一方、透過X線検tJ
J装置5を用い、K−吸収端5ン析ン人にJ、リウラン
1lJI旦が(!Iられ(ステップQ)、蛍光Xa検出
装置6を用い、蛍光X線分析法にJ:す、ゾル1〜ニウ
ム/ウラン比が(:1らねろくステップ■)。そして、
K−吸収端分析法にJ、すr7られノ;ウラン濃度と、
蛍光X線分析法にJ、り得られIこ7 /l/ l=ニ
ウム2・′ウラン比ど4東わすることt、’ にす、プ
ルー・−ラム濃度が求められ、る(メチツノ′■)1よ
との!ル1〜ニウムWA 、Q、 #1 +うノ゛ル1
−−ウム回イ介体比情報を基にして、プルトニウム23
9jルff a li 、よびブルトニウム241淵I
Q 4求l〕るLとが1ごる(スj″f)゛(止)。こ
L’ll−、ノ゛ルトニウムの、−i1位体比とじτす
2、平均的(1軽水炉の使用済燃j’ii ’(”口、 23!J (し PUI+[241PuJ )、、′[1゛りさ
らに(3j1 23g。
(f PLIJ −1−−−−−−−−[2”Pu
])月1−’ LJ lといった1、li大きく変化し
ないため、平均的<i−1+(iを用いても大きな誤差
tよ牛じない3.そこC、プル1−ニウム同位体比は燃
料の燃焼履歴に基づいたhILン(/+を用いればよい
。
])月1−’ LJ lといった1、li大きく変化し
ないため、平均的<i−1+(iを用いても大きな誤差
tよ牛じない3.そこC、プル1−ニウム同位体比は燃
料の燃焼履歴に基づいたhILン(/+を用いればよい
。
それから、アクティブL11発中性子法によって冑られ
た核分裂性物質合計濃度から、上記プル1〜ニウム23
911哀JjJ、びプル1−ニウム241瀾度を;ζ(
、引くことにJ、す、ウラン235濶度が求められる(
ステップ■)。そしC,I’d 40にそのウラン23
5澗度と、既kK−吸収端分析法により盲らねCいるウ
シン溌mとからウラン235fJ縮度が;にめられる(
ステップ■)。
た核分裂性物質合計濃度から、上記プル1〜ニウム23
911哀JjJ、びプル1−ニウム241瀾度を;ζ(
、引くことにJ、す、ウラン235濶度が求められる(
ステップ■)。そしC,I’d 40にそのウラン23
5澗度と、既kK−吸収端分析法により盲らねCいるウ
シン溌mとからウラン235fJ縮度が;にめられる(
ステップ■)。
このように上記実施例によれば、従来長[,5間を要し
ていたウラン2351MIQの分析を比較的短「、1間
でta Inよ< t>なうことがでさる。したがって
、番■l処即主工程にJ3ける安全管1!l! J3よ
び臨界管理等を能率よくかつ正確に行4rうことができ
る。
ていたウラン2351MIQの分析を比較的短「、1間
でta Inよ< t>なうことがでさる。したがって
、番■l処即主工程にJ3ける安全管1!l! J3よ
び臨界管理等を能率よくかつ正確に行4rうことができ
る。
(発明の効果]
本発明に係る核物質分析装置は、中性子源から発生する
中性子を被測定物中の核物質に照射し、その照射にJ、
り起こる核分裂で発生ずる二次中性子を測定することに
より、核物質中の核力5A刊物質吊を測定づる核分裂中
性子検出装置と、被測定物rpの核物質にX線を照射J
るX線発生装置と、このX線の照射による透過X線を測
定して核物質中のウラン濃度を測定−4る透過X線検出
装置と、上記X線の照射による蛍光X線を測定力ること
により核物質中のブルトニウム/ウラン比を測定する蛍
光X線検出装置と、上記核分裂性物″ヒ′1足、ウラン
m Iff a3よびプルトニウム/ウラン比からウラ
ン235濃縮瓜を洟pするBt n機とをufrえたか
ら、アクデイプ即発中性子仏により1りられる核分裂1
fI239 24123!+ 物質合泪a度< Pu+ pu+ LJ)
の(心から、プル1〜ニウム同位体比情報と、K−吸収
端分析法・蛍光xi分析法により4!Iられるゾル1−
ニウム1lifl Ifとから求められるブルト−ウム
239)濃度およびプルトニウム241濃Juの伯を差
し引いて得られるウラン235濶度と、K−吸収端分析
法・蛍光X線分析法から得られるウラン−度との比を求
めることにより、ウラン235 m縮度を比較的短時間
の測定で、しかも精度よく求めることがて゛きる。
中性子を被測定物中の核物質に照射し、その照射にJ、
り起こる核分裂で発生ずる二次中性子を測定することに
より、核物質中の核力5A刊物質吊を測定づる核分裂中
性子検出装置と、被測定物rpの核物質にX線を照射J
るX線発生装置と、このX線の照射による透過X線を測
定して核物質中のウラン濃度を測定−4る透過X線検出
装置と、上記X線の照射による蛍光X線を測定力ること
により核物質中のブルトニウム/ウラン比を測定する蛍
光X線検出装置と、上記核分裂性物″ヒ′1足、ウラン
m Iff a3よびプルトニウム/ウラン比からウラ
ン235濃縮瓜を洟pするBt n機とをufrえたか
ら、アクデイプ即発中性子仏により1りられる核分裂1
fI239 24123!+ 物質合泪a度< Pu+ pu+ LJ)
の(心から、プル1〜ニウム同位体比情報と、K−吸収
端分析法・蛍光xi分析法により4!Iられるゾル1−
ニウム1lifl Ifとから求められるブルト−ウム
239)濃度およびプルトニウム241濃Juの伯を差
し引いて得られるウラン235濶度と、K−吸収端分析
法・蛍光X線分析法から得られるウラン−度との比を求
めることにより、ウラン235 m縮度を比較的短時間
の測定で、しかも精度よく求めることがて゛きる。
第1図は本発明に係る核物質分析装置の一実施例を示″
rJ4f4成図、第2図は上記実施例に備えられた計算
機内で行なわれる演算の流れを示1フローチャートであ
る。 2・・・核物質分析装置、3・・・核分裂中性子検出装
置、4・・・X10発生装置、5・・・透過X線検出装
置、6・・・蛍光X線検出装置、8・・・中性子源。
rJ4f4成図、第2図は上記実施例に備えられた計算
機内で行なわれる演算の流れを示1フローチャートであ
る。 2・・・核物質分析装置、3・・・核分裂中性子検出装
置、4・・・X10発生装置、5・・・透過X線検出装
置、6・・・蛍光X線検出装置、8・・・中性子源。
Claims (1)
- 中性子源から発生する中性子を被測定物中の核物質に照
射し、その照射により起こる核分裂で発生する二次中性
子を測定することにより、核物質中の核分裂性物質量を
測定する核分裂中性子検出装置と、被測定物中の核物質
にX線を照射するX線発生装置と、このX線の照射によ
る透過X線を測定して核物質中のウラン濃度を測定する
透過X線検出装置と、上記X線の照射による蛍光X線を
測定することにより核物質中のプルトニウム/ウラン比
を測定する蛍光X線検出装置と、上記核分裂性物質量、
ウラン濃度およびプルトニウム/ウラン比からウラン2
35濃縮度を演算する計算機とを備えたことを特徴とす
る核物質分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63267048A JPH02114160A (ja) | 1988-10-25 | 1988-10-25 | 核物質分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63267048A JPH02114160A (ja) | 1988-10-25 | 1988-10-25 | 核物質分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02114160A true JPH02114160A (ja) | 1990-04-26 |
Family
ID=17439316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63267048A Pending JPH02114160A (ja) | 1988-10-25 | 1988-10-25 | 核物質分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02114160A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009137985A1 (zh) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | 清华大学 | 一种检测特殊核材料的方法和系统 |
US8436315B1 (en) * | 2003-06-05 | 2013-05-07 | Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. | Compact thermal neutron monitor |
-
1988
- 1988-10-25 JP JP63267048A patent/JPH02114160A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8436315B1 (en) * | 2003-06-05 | 2013-05-07 | Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. | Compact thermal neutron monitor |
WO2009137985A1 (zh) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | 清华大学 | 一种检测特殊核材料的方法和系统 |
US9081099B2 (en) | 2008-05-12 | 2015-07-14 | Nuctech Company Limited | Method and system for detecting special nuclear materials |
US9268027B2 (en) | 2008-05-12 | 2016-02-23 | Nuctech Company Ltd. | Method and system for detecting special nuclear materials |
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